Polytec激光测振仪将测量数据转化为可靠的决策
从研发到生产，Polytec宝利泰助力工程师与制造商们通过非接触测量获取可靠洞察。我们的光学技术可提供精准且可重复的测量数据，帮助您更快验证设计、更高效管控质量，并自信地优化工艺流程。
无论您是振动分析、表面形貌、速度还是材料特性，我们都将先进测试系统与专业应用经验、灵活的服务模式及长期技术支持相结合，为您解决实际应用中的各类测试难题。
我们的测量技术
振动测试
Polytec激光测振仪可快速、可靠地应对各类振动测试挑战—— 覆盖从前期研究、生产测试到长期状态监测的全流程。作为全球公认的行业标杆，产品凭借出色的精度与清晰数据，助力您果断决策、提升产品品质、加速研发进程。
Polytec激光多普勒测振仪采用光学非接触测量，可分析几乎任意尺寸的被测对象，无附加质量影响、无损伤风险，能够快速、无损地获取精准测量结果。
速度測量
在连续材料和单件产品的生产过程中，精确掌握长度和速度是优化成本和工艺的关键。非接触式激光表面测速仪可在严苛的环境条件下，实现对长度和速度的高精度测量，从而确保稳定、可靠的制程控制。其设计注重坚固性、可靠性，并将维护需求降至最低。
表面形貌测量
TopMap是Polytec旗下光学表面计量系统品牌，采用非接触、高速、表面测量技术，对精密制造表面进行精准表征。TopMap Polytec白光干涉仪可实现形状参数、粗糙度、微观结构等关键指标的高重复性、高再现性测量。
凭借4 年质保与全方位的服务支持，TopMap表面计量系统持续推动工业制造与质量控制的升级变革。
我们与您携手，将三维形貌数据转化为真正的制造与工艺智慧。
光学光源
在Polytec，光学光源涵盖了极为广泛的技术与产品组合——从实验室、现场到生产应用的光学、电光及电学测量技术，到覆盖全光谱范围的光学光源。我们的应用工程师和服务团队将基于具体测量任务，为客户量身定制完美的定制化测试解决方案。
流程分析
Polytec为各类工业和常规分析应用提供光谱测量解决方案，帮助客户在降低成本的同时提升质量、效率和产量。近红外光谱测量系统可对材料的化学成分和浓度进行非破坏、实时分析，广泛应用于从原材料检测到生产过程及最终质量控制的各个环节。
预算无忧，随心测量
您可以租用 Polytec 的振动测试、速度测试及表面形貌测量系统，或直接委托我们为您完成测试任务。
通过 PolyFlex，您无需牺牲时间或预算，即可获得可靠的测量结果。
Polytec学术分享
探索专业文章、科研见解与技术潮流，多角度体验测量技术，洞悉关键数据
实验室中的重力
任何想要测量G值的人，都需要一套能够实现看似不可能之事的实验装置——即探测由纯粹的“超距作用”引发的、小于原子直径的微小位移。苏黎世联邦理工学院（ETH Zurich）的Jürg Dual领导的研究团队多年来一直致力于应对这一挑战，他们利用最先进的激光测量技术和巧妙的实验设计，树立了国际标杆。
CSI 技术如何获取更优质的地形、形状和粗糙度测量数据
了解相干扫描干涉测量（CSI）光学技术如何分析表面形貌、形状和粗糙度，其优势所在，以及与相关光学表面检测方法相比的优势和应用场景。
利用3D激光多普勒振动计解析机械物理特性
送料技术是自动化生产中的关键环节。为了利用仿真技术开发送料系统，必须了解设备的物理特性。作为送料技术领域的专家，RNA集团借助Polytec 的测量技术，解析所有相关的物理现象，并通过分析模型将其引入数字世界。
