UNIVERSIDADE FEDERAL DE ALFENAS CAMPUS POOS DE CALDAS ICT 210

ANLISE MICROESTRUTURAL E CARACTERIZAO DE AMOSTRAS METLICAS

Orientador: Prof. Dr. Neide Aparecido Mariano Alessandra Fanger 2010.2.25.067 Brbara Castro 2010.2.25.076 Felipe Elisei Tomaz 2011.1.25.083 Luiz Paulo Alves Pinto 2009.2.25.112 Natalia Vicentino 2010.2.25.115

METALOGRAFIA
Objetivo: Estudar a morfologia e a estrutura cristalina dos metais, relacionando a estrutura ntima do material com suas propriedades fsicas e qumicas; Ensaio metalogrfico: Ensaio macrogrfico e microgrfico.

ENSAIO MACROGRFICO
Ensaio feito com pouca ampliao da amostra ou mesmo a olho nu, realizado aps o lixamento ou ataque qumico adequado; Objetivo: Identificar a natureza e distribuio das falhas do material, estudo da homogeneidade do material, impurezas, qualidade da solda e qualidade e profundidade do tratamento trmico.
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ENSAIO MICROGRFICO
Ensaio feito com uma grande ampliao da amostra, feito geralmente em microscpio; Objetivo: Observar as fases presentes no material, sua granulometria, o teor aproximado de carbono, a distribuio dos constituintes do metal,o tamanho e o contorno do gro, a forma e a quantidade presente na amostra.

Figura X Macrografia solda. Fonte: ROHDE, 2010.

Figura X Metalografia ao 1045. Fonte: ROHDE, 2010.

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ENSAIO METALOGRFICO
Para o ensaio so feitas diversas etapas, sendo elas: corte, embutimento, lixamento, polimento, ataque qumico e tratamento trmico; Aps todas essas etapas feito o ensaio macrogrfico e microgrfico.

DIAGRAMA FERRO-CARBONO

CORTE
Finalidade: Corte de um corpo de prova para obter amostras menores, facilitando durante a anlise; Corte abrasivo: Tipo de corte mais favorvel, caso tenha operaes mecnicas a frio ele elimina por completo essa etapa. Alm disso, resulta em superfcies planas com baixa rugosidade; Equipamento: Cortadora Fortel II; Policorte: Equipamento com discos abrasivos refrigerados para evitar deformaes pelo aquecimento. Disco de Corte: A escolha do disco depende da dureza do material a ser cortado.
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Figura X - Cortadora Fortel II.

PROCEDIMENTO DE CORTE
1) 2) 3) 4) 5) 6) 7) 8) Escolhe-se o disco de acordo com a amostra; Colocar a amostra no centro da mesa de fixao e deixa-se firme a amostra; Verificar se o disco encontra-se na posio de descanso; Posicionar a torneira do fluido de resfriamento em cima da amostra e lig-la; Fecha-se a tampa de segurana do equipamento e coloca-se o culos de proteo; Liga-se a cortadeira e aproxima-se o disco na amostra (aplicar uma carga moderada na alavanca para evitar solavancos); Aps cortada a amostra, retorna-se o disco para a posio inicial e desliga-se o equipamento; Tendo equipamento desligado por completo (disco e torneira do fluido) retira-se a amostra da mesa de fixao. 10

EMBUTIMENTO
Finalidade: Facilitar o manuseio durante a anlise, a fim de no danificar a lixa ou o pano de polimento e dificulta o abaulamento na superfcie da amostra; A amostra envolvida por um material, escolhido de acordo com a finalidade, para assim formar uma nica pea; Tipos: Frio e quente; Equipamento: AROTEC, PRE 30 MI.
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Figura X - AROTEC, PRE 30 MI.

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EMBUTIMENTO A FRIO
Material de embutimento: resinas sintticas auto polimerizveis. A amostra colocada em um molde plstico junto a resina que, posteriormente, polimerizase; Tempo de endurecimento: 0,2 a 24 hrs; Temperatura de trabalho: entre 50 e 120C.

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EMBUTIMENTO A QUENTE
Material de embutimento: materiais termoplsticos; Funcionamento: Atravs de presso e aquecimento polimeriza-se o material de embutimento junta a amostra; Tipos de materiais termoplsticos para o embutimento (tabela X).

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Tabela X - Parmetros dos tipos de materiais para embutimento a quente.

TIPO DE PLSTICO BAQUELITE LUCITE FONTE: COR N DE MEDIDAS 2a5 2a5 PRESSO (kgf /mm) 125 a 150 125 a 150 TEMPO DE AQUECIMENT O (min) 10 8 TEMPO DE RESFRIAMENT O (min) 5 4

Preta Transparente

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PROCEDIMENTO DE EMBUTIMENTO
1) Colocar a amostra dentro do embolo inferior; 2) Colocar o desmoldante no embolo (superior e inferior), a fim de garantir que a pea final se desprenda do equipamento; 3) Adicionar baquelite ao redor e em cima da amostra; 4) Fechar o equipamento; 5) A baquelite precisa de 100 150 kgf e 160C para gerar o bloquinho, com isso a presso aplicada manualmente e controlada por um manmetro. Aps atingir 160C, iniciase o resfriamento, dentro da embutidora, atravs de gua; 6) Tendo o resfriamento finalizado, retira-se a amostra embutida do equipamento.

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LIXAMENTO
Finalidade: Eliminar riscos da superfcie, preparando o corpo de prova para o polimento; Equipamentos: Lixadeira e Politriz Fortel Modelo PLF, Lixadeira Manual Arotec e Lixas 3M ns: 120, 200, 320, 400e 600; necessria cautela nas etapas de preparao da amostra, pois todas as etapas influenciam na visualizao do corpo de prova no microscpio.
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Figura X - Lixadeira e Politriz Fortel Modelo PLF.

Figura X - Lixadeira Manual Arotec.

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PROCEDIMENTO DE LIXAMENTO
1) Utilizou-se as amostras embutidas na politriz, ligando o equipamento e a gua com fluxo baixo, depois colocou-se a amostra sobre a lixa sem solt-la e sem apert-la contra a lixa. 2) Com todos os riscos gerados na mesma direo, lavar a amostra com lcool e passar algodo (secar a amostra com secador se necessrio). 3) Lixar a amostra (de cima para baixo) com lixadeira manual (lixa n 200), porm virar a amostra num ngulo de 90 dos riscos; 4) Aps retirar os riscos da lixa anterior, lavar e secar a amostra; 5) Repetir as etapas 3 e 4 com as lixas de n 320, 400 e 600.

Figura X Mtodo de usar o secador na amostra.

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POLIMENTO
Finalidade: Procedimento ps lixamento, obtendo um acabamento superficial polido sem marcas, atravs de abrasivos como a alumina Equipamento: Lixadeira e Politriz Fortel Modelo PLF 4 velocidades, alumina lquida Fortel 1 e 0,5 diluda 1:3.

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Figura X - Lixadeira e Politriz Fortel Modelo PLF.

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PROCEDIMENTO DE POLIMENTO
1) Para o primeiro polimento utiliza-se alumina de 1 micro (poucas gotas, pois em excesso risca a amostra); 2) Passar a amostra foi passada sobre o equipamento aleatoriamente durante 10 minutos, com a gua ligada em pouca quantidade; 3) Lavar a amostra com lcool, enxugar com algodo e secar com o secador; 4) Repetir as etapas anteriores, porm com alumina 0,5 micro.
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MICROSCPIO
Finalidade: Comodidade do operador, assim como, tornar mais fcil e ntida a observao da microestrutura; Diviso do equipamento: elementos mecnicos e ticos e iluminador; Equipamento: Pantec.

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Figura X - Pantec.

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ELEMENTOS MECNICOS
Compe-se de um conjunto de peas mecnicas de preciso com finalidade de posicionamento, deslocamento e focalizao da amostra; Quanto ao movimento, existem estgios imveis, outros com movimentos nas direes x e y, alm de movimentos rotacionais (inclusive movimentos em x e y).
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ELEMENTOS TICOS
Sistemas de focalizao da amostra: comum e fina.

Figura X - Microscpio tico Objetivas. Fonte: [Link]

Figura X - Microscpio tico Revlver. Fonte: [Link]

Figura X - Microscpio tico Oculares. Fonte: [Link]

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ILUMINADOR
Lmpada, duto de iluminao e condensador (embutido ou externo).

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PROCEDIMENTO DE MICROSCOPIA

Figura X - Microscpio ptico Composto Binocular. Fonte: Disponvel em : [Link] 28

ATAQUE QUMICO
Objetivo: Revelar a microestrutura e os constituintes de amostras de ferro carbono, ferro fundido e ao inoxidvel, possibilitando maior entendimento das suas propriedades; Equipamentos: capela de exausto, secador.

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Tabela X Tipos de ataque qumico. TIPO Nital COMPOSIO cido ntrico e lcool TEMPO DE AO De alguns segundos at 1 minuto dependendo do teor de carbono no ao De alguns segundos at 1 minuto dependendo do tratamento trmico recebido pelo ao

Picral

cido prico e lcool

Marble

cido clordrico, sulfato de 10 segundos cobre e gua destilada

Ao da soluo depende: -Da natureza qumica e estrutural do corpo de prova; -Da natureza qumica do reagente; -Do modo de aplicao do reagente; -Do tempo de ataque; -Das temperaturas do reagente; -Da agitao do reagente durante o processo.
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Figura X Equipamentos utilizados no ataque qumico.

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PROCEDIMENTO DE ATAQUE QUMICO

Agita-se a superfcie polida mergulhada no reativo posto numa pequena cuba; A durao depende da concentrao de reativo e da natureza e textura da amostra; Lava-se imediatamente a superfcie atacada com lcool e em seguida efetua-se a secagem; Reao onde tem maior energia = contorno do gro; no pode demorar muito para no queimar a amostra = no tenha tempo suficiente de reagir no interior do gro. Tambm se for um tempo muito pequeno, a microestrutura no completamente revelada.
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DUREZA
Definio: Propriedade que nos diz a resistncia que um material tem ao ser riscado; Escalas: Para poder identificar o material (desconhecido), utiliza-se escalas convencionais. Entre vrias escalas temos: Rockwell : mtodo de obteno direta de dureza, na qual utiliza-se de mtodos simples para a medio. Alm disso, tem-se diversas escalas com combinaes diferentes de penetradores e cargas (o que facilita a utilizao em quase todas as ligas metlicas). Vickers: mtodo de obteno de dureza atravs de ensaios laboratoriais, onde utiliza-se uma pirmide de diamante com ngulo de diedro de 136 na superfcie do material com uma fora arbritria. Para se obter a dureza (HV) faz-se a razo da carga aplicada pela rea superficial a impresso. Brinell: mtodo de obteno de medio de dureza (principalmente em materiais metlicos) utilizando um penetrador de formato esfrico com 10 mm de dimetro (feito de ao de elevada dureza ou carbeto de tungstnio). Equipamento: Pantec.
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Figura X - Pantec.
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PROCEDIMENTO DE MEDIO DE DUREZA

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Figura X Penetrador Rockwell. Figura X Leitura de escala.

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PROCEDIMENTO DE TRATAMENTO TRMICO

Os tratamentos trmicos dos metais e das ligas tm por fim modificar as propriedades dos corpos, unicamente pela variao de temperatura. As categorias dos tratamentos so:
A tmpera O revenido Os recozimentos
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A tmpera
A tmpera uma operao que consiste em esfriar bruscamente um produto metalrgico levado a uma temperatura bem definida, a fim de lhe modificar as propriedades.

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O revenido
O objetivo do revenido diminuir aos efeitos da tmpera, e atenuar ou fazer desaparecer as tenses internas pelos tratamentos trmicos seguintes :
um aquecimento entre 100 a 650 Manter essa temperatura Um arrefecimento, em geral ao ar

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Recozimento

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Recozimento - Normalizao

Figura X Forno mufla utilizada no tratamento trmico.

Figura X Forno mufla utilizada no tratamento trmico .

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Figura X Equipamentos utilizados no tratamento trmico.

Figura X Equipamentos utilizados no tratamento trmico.

Figura X Desecador.

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Amostras
Foram realizadas 3 ensaios metalogrficos a partir das amostras (sem tratamento trmico na transversal, sem tratamento trmico na longitudinal e com tratamento trmico na transversal ). Depois de analisar macrogrficamente observou-se microgrficamente onde podemos estudar sua microestrutura e supor o tipo de ao em questo.
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Amostra 1
A primeira amostra foi a STT. Ela sofreu dois ataques qumicos em dias diferentes e com tempos diferentes. No primeiro ataque, que ocorreu no dia X foi de 10 segundos no reagente de Nital 3% (3% de cido ntrico e 97% de lcool etlico). Como no dia X o microscpio no conseguia enviar as imagens para o programa Scape Image, no dia Y teve que lixar, polir e atacar novamente a amostra.
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Figura X: microestrutura da amostra sem tratamento trmico em seu primeiro ataque qumico realizado no dia X e visualizado no dia Y com uma ampliao de 400 vezes .

Figura X: microestrutura da amostra sem tratamento trmico em seu segundo ataque qumico realizado no dia Y com uma ampliao de 400 vezes . 48

Figura X: microestrutura da amostra sem tratamento trmico em seu segundo ataque qumico realizado no dia Y com uma ampliao de 400 vezes, destacando seus gros49 de perlita e ferrita .

 A partir dessas fotos nota-se que existe mais gros de ferrita do que de perlita, portanto estimamos que se trata de uma amostra de ao 1020.

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Amostra 2
A amostra dois com tratamento trmico na transversal. Antes de atacar foi tirada uma foto de sua microestrutura.

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Figura x: Microestrutura da amostra antes de sofrer o ataque qumico.

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 O ataque qumico durou 5 segundos. Analisou-se no microscpio sua microestrutura com diversas ampliaes .

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Figura x: Microestrutura com o ataque qumico e ampliada em 400 vezes.

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Figura x: Microestrutura com o ataque qumico e ampliada em 1000 vezes

Figura x: Microestrutura aps o ataque qumico destacando o seu gro de perlita.

Figura x: Microestrutura com o ataque qumico e ampliada em 200 vezes

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 Aps observar sua microestrutura ampliada 200 vezes, verificou-se a existncia de mais gros de perlita do que ferrita, ou seja maior quantidade de carbono. Foi feita uma estimativa que estipulamos se tratar de um ao 1060.

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Amostra 3
Consiste em uma amostra sem tratamento trmico na longitudinal. Aps passar por todos os procedimentos que as outras amostras passaram ela foi atacada quimicamente por 4 segundos no entanto no se mostrou-se suficiente e foi atacada novamente por mais 3 segundos.

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 Ao analisar microscopicamente sua microestrutura, observou se a existncia mais gros de ferrita do que perlita, no entanto aparenta ter menos ferrita do que a amostra um, devido a este fato estipulamos que se tratava de um ao 1030.

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Figura x: Microestrutura da amostra 3 aps o ataque qumico e com uma ampliao de 100 vezes 61

Figura x: Microestrutura da amostra 3 aps o ataque qumico e com uma ampliao de 1000 62 vezes

Concluses

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