O efeito da preparação de amostras para análise de textura por difração de raios-X foi avaliado n... more O efeito da preparação de amostras para análise de textura por difração de raios-X foi avaliado neste trabalho. Foram encontradas diferenças significativas entre ODF de amostras de chapas de aço elétrico semiprocessado submetidas a diferentes tipos de preparação. Os resultados indicam que o lixamento das chapas causa modificação da ODF obtida e um ataque químico com nital 10% elimina esse efeito. O gradiente de textura entre superfície e centro da chapa também foi avaliado e as análises de textura da superfície e da meia espessura da chapa não são suficientes para avaliar a textura média do material.
O efeito da preparação de amostras para análise de textura por difração de raios-X foi avaliado n... more O efeito da preparação de amostras para análise de textura por difração de raios-X foi avaliado neste trabalho. Foram encontradas diferenças significativas entre ODF de amostras de chapas de aço elétrico semiprocessado submetidas a diferentes tipos de preparação. Os resultados indicam que o lixamento das chapas causa modificação da ODF obtida e um ataque químico com nital 10% elimina esse efeito. O gradiente de textura entre superfície e centro da chapa também foi avaliado e as análises de textura da superfície e da meia espessura da chapa não são suficientes para avaliar a textura média do material.
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