Méthode de

diffraction des
rayons x sur
poudre
 Introduction
La diffraction des rayons X est une méthode universellement utilisée pour:

identifier la nature et la structure des produits cristallisés En effet cette méthode

ne s'applique qu'à des milieux cristallins, (cristaux, minéraux, métaux, céramiques)

présentant les caractéristiques de l'état cristallin, c'est-à-dire un arrangement

périodique ordonné et dans des plans réticulaires tridimensionnels des atomes

constitutifs, Les atomes s'organisent donc en plans réticulaires plus ou moins

denses qui sont désignés par leurs coordonnées(h k l) dans un système de repérage

de l'espace

la méthode permet ainsi clairement de distinguer les produits

amorphes (verres) des produits cristallisés.

 LES RAYONS X:
On appelle rayons X les radiations comprises entre ( 0,02 et 50Å) Les
rayons X sont comme la lumière une forme de rayonnement électromagnétique
Ils se déplacent dans le vide à la vitesse de la lumière c.
Un rayonnement électromagnétique consiste en la propagation dʼun
champ électrique E et dʼun Champ magnétique B perpendiculaires .
Ces champs oscillent en phase et son eux-mêmes Perpendiculaires
à la direction de propagation.
Une onde électromagnétique
Sinusoïdale est caractérisée par
sa fréquence de vibration ν
La longueur dʼonde λ
 PRODUCTION DES RAYONS X:

Fig. 1: schéma d’un tube à rayons X

Les tubes à rayons X fonctionnent de la manière suivante:
Dans une enceinte de verre où règne un vide poussé, des électrons sont émis par
un filament dans lequel circule un courant électrique. Ceux-ci sont accélérés en
direction dʼun anode par un champ électrique créé par une différence de
potentiel élevée (généralement de 10 à 150 kV) entre le filament qui sert de
cathode et lʼanode.
 Ces électrons entrent en collision avec la cible que constitue le métal de l'anode,
Des rayons X sont alors produits par deux mécanismes distincts:

les électrons, se déplaçant à une vitesse

très élevée, ont une énergie cinétique
suffisante pour perturber les couches
électroniques internes des atomes de la cible

ralentissement des électrons dans la

matière produit un rayonnement de freinage
comportant des rayons X

FIG2 :Mécanisme: bombardement d’atome par

un faisceau d’électron
 PRINCIPE DE LA METHODE :
La méthode générale consiste à bombarder l'échantillon avec des
rayons X, et à regarder l'intensité de rayons X qui est diffusée selon
l'orientation dans l'espace.
Les rayons X diffusés interfèrent entre eux, l'intensité présente donc
des maxima dans certaines directions ; on parle de phénomène de
«diffraction». en registre l'intensité détectée en fonction de l'angle de déviation
2θ du faisceau , la courbe obtenue s'appelle le «diffractogramme»
 Condition de BRAGG
deux ondes arrivant sur
deux plans réticulaires sous un
angle d'incidence θ et Diffusées
sous le même angle.

La différence de marche entre

les ondes, entre les plans (P) et (P’) est
donnée par :

δ= HO+O'H'= 2d (h k l) sinθ

FIG2 : Principe de la loi

deWulff-Bragg
La diffraction aura lieu quand la
condition d'interférence constructive est
vérifiée, à savoir :

δ=nλ

La condition de diffraction, dite de Bragg

est alors :

2d (hkl) sin θ =n λ

Cette équation représente la relation

fondamentale qui régie la diffraction.

FIG2 : Principe de la loi

deWulff-Bragg
 LES APPLICATION TECHNIQUE DE
DIFFRACTION DES
RAYONS X
Nous venons de mettre en place les outils théoriques de description

cristal et de ses interactions avec les rayons X.

Nous allons maintenant montrer en détail la mise en œuvre expérimentale par

deux méthodes différentes, selon la nature de l'échantillon à analyser :

soit un monocristal (dimension de l'ordre de 0,1 mm)

Figure 3. Image obtenue lors d'une exposition d'une

 soit une poudre cristalline (ensemble de cristaux microscopiques).
L'exposition d'un monocristal à un faisceau de rayons X produit une
image constituée de taches de diffraction bien définies. produisent un
très grand nombre de taches groupées en cercles concentriques autour
du point θ = 0, du fait de la symétrie de révolution autour de la direction
du faisceau incident

Figure 4. Image obtenue lors d'une exposition d'une

poudre cristalline à un faisceau de rayons X
Méthode de diffraction en
poudres
 on a intéressons dans ce cours la méthode de diffraction des RX car
cette méthode permet d’analyse de phases non destructive et elle peut
permettre d'identifier rapidement les phases cristallisées présentes dans
l'échantillon étudié .
Le composé fritté est broyé dans un mortier en agate jusqu’à obtenir
une poudre assez fine que l’on grille à travers un tamis 63µm sur le support
d’échantillon pour obtenir un échantillon sous forme
de disque d’environ 15mm que l’on évite de lisser
en surface pour ne pas créer d’orientation
préférentielle des grains qui conduirait alors
à favoriser certains plans de diffraction
On pose cette poudre sur une lame en introduisant
cette lame dans la chambre d’un générateur de rayons X .
Figure 6: Échantillon
de poudres
 La poudre est bombardée par un faisceau de rayons X
monochromatiques et parallèles de longueur d’onde connue
Le rayonnement émis est défini par un système de fentes et de
fenêtres situées avant et après l’échantillon.
l’échantillon tourner d’un mouvement uniforme autour d’un axe
situé dans son plan, permettant ainsi d’augmenter le nombre
d’orientations possibles des plans réticulaires.
L’enregistrement réalisé est la courbe de l’intensité des rayons X
diffractés en fonction des angles de diffraction.
l’un des principaux intérêts de cette méthode est la mesure précise
d’intensité et la possibilité d’effectuer des estimations semi-quantitatives,
en considérant que le pourcentage d’une espèce minérale est
proportionnel à l’aire des pics enregistrés sur le diffractogramme
LES APPLICATION DE LA METHODE
DE DIFFRACTION DES RX:
On présente ici des exemples d'utilisation assez courants de la

diffraction X sur poudre:

- Analyses quantitatives

- Identification de phases

- Réflexion ou transmission

- Détermination des paramètres de maille

- Raffinement de structure

- Micro diffraction

- Degré de cristallinité

- Contrôle industriel
 Identification de phases
C'est l'application la plus courante de la
diffraction des rayons X sur poudre. Une
fois le diagramme obtenu, on compare
les positions et les intensités des pics
observés avec ceux de la base de données
PDF (Powder Diffraction File) de l'ICDD
(International Centre for Diffraction
Data) qui contient plus de 600.000
diagrammes de référence. On peut ainsi
rapidement vérifier un résultat de
synthèse (bonne phase cristalline,
présence d'impuretés) ou confirmer que
Exemple de fiche identitaire d’un produit
l'on a obtenu un nouveau composé
 Figure 8. Diffractogramme sur
Figure7 . Diffractogramme sur poudre d'un mélange
poudre d’un composée pure

En noir la mesure et en couleur

l'association de plusieurs diagrammes
En noir la mesure et en rouge de référence (rouge : quartz SiO2 ;
l'indexation par le composé de violet :Muscovite(K,Na)
référence LaB6 qui permet d'identifier (Al,Mg,Fe)2(Si3.1Al0.9)10(OH)2
tous les pics bleu : Illite (K,H3O)Al2Si2Al10(OH)2
marron : albite NaAlSi3O8
ETUDE DES PARAMÈTRES DE MAILLE

La position des pics observés est uniquement reliée aux paramètres de

maille de la phase cristalline. Il est alors possible de suivre l'évolution de la
phase en fonction de divers paramètres tels que la pression ou la température

ou encore de caractériser une transition de phase.

 CONCLUSION

La diffraction des rayons X sur poudre est une méthode d’analyse

de phases nom destructive.
Elle est donc très largement utilisée dans de nombreux domaines
tels que la physique , la chimie, la minéralogie, la biologie.
Grâce à l'avancée technologique moderne, qui a introduit la
diffractométrie, la diffraction permet la détermination des structures
nouvellement élaborées, et d'identifier en quelques minutes les phases
cristallisées présentes dans tout matériau.