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II. Diffraction Des RX

Le document traite de la diffraction des rayons X (RX) et de la structure cristalline de la matière, en expliquant les états cristallin et amorphe, ainsi que les caractéristiques des cristaux. Il aborde les réseaux de Bravais, les indices de Miller, et la condition de Bragg pour la diffraction des RX, tout en présentant des applications pratiques pour analyser les matériaux cristallins. Enfin, il mentionne des méthodes pour déterminer la taille des cristallites et effectuer une analyse quantitative des constituants.

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II. Diffraction Des RX

Le document traite de la diffraction des rayons X (RX) et de la structure cristalline de la matière, en expliquant les états cristallin et amorphe, ainsi que les caractéristiques des cristaux. Il aborde les réseaux de Bravais, les indices de Miller, et la condition de Bragg pour la diffraction des RX, tout en présentant des applications pratiques pour analyser les matériaux cristallins. Enfin, il mentionne des méthodes pour déterminer la taille des cristallites et effectuer une analyse quantitative des constituants.

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II.

Diffraction des RX
II.1 Etat cristallin de la matière
La matière solide existe sous deux
états, de point de vue ordre :
- Cristallin (ordre à grande distance)
- Amorphe (verre) (désordre à grande distance)
II.2 Les cristaux
• Les cristaux sont les structures
solides les plus répandues dans la
nature
• Les métaux, les composés
minéraux, géologiques sont, dans
leur grande majorité, des cristaux
• Les aspects polyédraux avec des
arêtes vives et des facettes
définies ont suscité la curiosité et
l’admiration des hommes depuis Quartz
l’antiquité. On y voyait une forme
d’harmonie et de perfection
géométrique.
II.3 Tailles et échelles
II.4 Structure périodique des cristaux
Définition d’un cristal

• La structure cristalline est une distribution périodique infinie, d’un


objet quelconque, dans les trois directions de l’espace. L’objet peut
être un atome, une molécule, un groupement d’atomes ou de
molécules, etc.
• Le cristal (3D) peut être décrit par un élément de volume élémentaire
appelé maille.
Paramètres cristallographiques
A 3D, 3 vecteurs et 3 angles sont nécessaires pour caractériser un réseau

Paramètres linéaires

a, b, c, les modules des vecteurs translations


élémentaires sont appelés les paramètres
linéaires

Paramètres angulaires
angles respectifs α, β et g des directions des
vecteurs, sont appelés les paramètres angulaires.
Les 7 systèmes cristallins

La maille hexagonale est constitué de 3


prismes droits
II.4 Réseaux de Bravais
Exemples de structures cristallines métalliques
• Structures compactes (cfc et hc) :

A
C
B
A

Empilement des atomes dans cfc : ABC- ABC- ABC Empilement des atomes dans hc : AB- AB- AB

Exemples : Cuivre, Cobalt, Al, … Exemples : Zinc, Titane,…


Structures non compactes :
Structure cc :

Exemples : Fera, Na,…


Exemples de structures cristallines ioniques :

Chlorure de sodium NaCl Blende : ZnS Structure fluorine : CaF2

CsCl
Exemple de structure cristalline covalente :

Structure diamant (C)


II.5 Plans réticulaires et indices de Miller (hkl)

A 3D un plan qui passe par trois nœuds non


colinéaires du réseau direct, et donc par un
nombre infini de nœuds, est appelé plan
réticulaire.

Tous les nœuds du réseau sont coupés


par une infinité de familles de plans
réticulaires

Chaque famille de plans réticulaires est repérée


par trois nombres entiers, premiers entre eux,
appelés indices de Miller et notés (h k l)
II.6.a Détermination pratique des indices de Miller des plans réticulaires
Z
1 – A partir de l’origine chercher les
c intersections avec les axes X Y Z
x1 y1 z1

2- Inverser le nombre obtenu


h = 1/x1 k = 1/y1 l = 1/z1
O
Y
b 3- Ecrire les indices entre
a
parenthèses ( h k l )
X
II.6.b Exemples de plans (h k l)

c c

O O

b b
a a

Il s’agit donc du plan: (1 1 1) Parallèle à Y Z (1 0 0)


II.6.C Distance réticulaire

La distance qui sépare deux plans réticulaires consécutifs d’une même famille est notée: d hkl
Dans le cas général (a, b, c, α, β et g quelconques) l’expression de la distance inter-
réticulaire et donnée par :

1- cos2 a - cos2 b - cos2 g + 2cosa cosb cosg


dhkl = 2
h 2 k2 2 l 2 2 2kl 2lh 2hk
2
sin a + 2 sin b + 2 sin g + (cosb cosg - cosa )+ (cosg cosa - cosb )+ (cosa cosb - cosg )
a b c bc ca ab

Cas du Réseau cubique a = b = c et a = β = g = 90°


II.7 Diffraction des rayons X par la matière
cristalline
L’interaction des RX (l0) avec la matière engendre plusieurs
phénomènes:

- Le phénomène de diffusion élastique (l0),


- Le phénomène de diffusion inélastique (l),
Cible - Emission de RX caractéristiques
(fluorescence X),
- Emission de photoélectrons,
- Emission d’électrons Auger,
- …
II.7.a La diffraction des RX par les cristaux

• Lors d’une diffusion élastique, le phénomène de diffraction peut


apparaitre chaque fois la condition géométrique est satisfaite :

Approche géométrique.
II.7.b Condition de Bragg :

Où :
- d h k l est la distance réticulaire

2 d h k l .sin   n l de la famille ( h k l),


  est l’angle d’incidence,
- n : ordre de diffraction (1,2,…),
 l : la longueur des RX utilisés

La condition de Bragg ou la loi de Bragg exprime la condition géométrique


nécessaire pour que les rayons diffractés soient en phase.
II.7.c Application de la diffraction des RX pour
analyser les matériaux cristallins :
Chaque substance cristalline possède un spectre de diffraction
caractéristique. En pratique, on réalise une expérience de diffraction
sur poudres :

Diffractogramme de RX sur poudres (NaCl)


Base de données de tous les composés cristallins (JC PDS)

Exemple de carte JCPDS de DRX (NaCl)


Maintenant tout est numérisé
: ICDD

L’identification des phases peut


se faire automatiquement par
la machine!

Bodrun Nahar et al. (Journal of


Nanomaterials
Volume 2023, doi.org/10.1155/2023/2892081)
Exemple d’application : analyse qualitative des
constituants d’un ciment ordinaire après durcissement

DRX de la pâte du ciment ordinaire (P-CEM I 42,5N) après 2, 7 et 28 jours de durcissement


(MAZOUZI Wafaa et al. )
Détermination de la taille des cristallites : Loi de
Scherrer

𝑲𝝀
𝑫=
𝑯 𝐜𝐨𝐬 𝜽

• où k est un facteur de forme qui vaut1 si l'on utilise la largeur intégrale


et 0,89 si l'on utilise la largeur à mi-hauteur,
• H la largeur intégrale ou la largeur à mi-hauteur,
• l est la longueur d’onde utilisée,
•  est la position du pic (angle de Bragg),
• D est la taille des cristallites (valable pour D inférieur au micron)
Analyse quantitative des constituants
Le rapport des intensités peut être utilisé pour estimer la constitution
quantitative de l’échantillon (Il faut tenir compte de la cristallinité, des
coefficients d’absorption, …)

D’après M. A. Boussetta (Reminex-Groupe Managem)

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