Chapitre2 : LA MÉTHODE S.P.C.

(STATISTICAL PROCESS CONTROL)

Leçon N°1: Carte de contrôle

1- Historique
Née aux USA, la méthode S. P. C. est traduite le plus souvent par : Surveillance des Procédés en Continu.
C’est un véritable système d’information appliqué au procédé de fabrication soit directement (contrôle de ses
paramètres), soit indirectement (contrôle des caractéristiques du produit).
La méthode S. P. C. entre dans les démarches d’auto-contrôle dont elle est la technique la plus évoluée.
Elle repose sur trois principes fondamentaux :

- La priorité donnée à la prévention (intervention avant de produire des rebuts).

- La référence au procédé tel qu’il fonctionne (qualification machine).
- La responsabilisation de la production et la participation active des opérateurs.

2- MÉTHODOLOGIE DE MISE EN PLACE DU CONTRÔLE

STATISTIQUE DU PROCESSUS

Il est indispensable de suivre une démarche rigoureuse pour mettre en place le S. P. C.

Remarque: Le contrôle statistique a ses limites, il ne faut pas considérer cette technique comme un remède
miracle pouvant être utilisé quelles que soient les conditions.

3- LES TYPES DE CONTRÔLE :

Les différents types de contrôle peuvent être résumés dans le tableau ci-dessous :

CONTRÔLE PAR
CONTRÔLE À 100%
ÉCHANTILLONNAGE

MÉTHODE Tous les contrôles

Tous les contrôles
nécessaires sont effectués
nécessaires sont effectués
sur un échantillon
sur la totalité des pièces
représentatif de pièces
produites
prélevées.
Permet l’acceptation ou le
Permet d’effectuer un
contrôler

À LA RECEPTION refus d’un lot de pièces

Quand

contrôle statistique.
produites ou achetées.
?

EN COURS DE Permet de surveiller le Permet d’effectuer un

FABRICATION processus de fabrication. contrôle statistique.

Remarque : Le contrôle à 100% entraîne une augmentation très importante du prix de revient d’une pièce.

Dans la suite du cours, nous nous intéresserons uniquement aux contrôles par échantillonnage en cours de
fabrication.
4- PRINCIPES UTILISÉS POUR LE CONTRÔLE : NF X 06 - 031
Le contrôle en cours de fabrication de la qualité des éléments produits se fait généralement à partir de
prélèvements dont chacun est soumis à un essai.
L’ensemble des résultats obtenus sur un même prélèvement donne lieu au calcul d’une statistique (moyenne ...).
Les valeurs en sont reportées, dans l’ordre chronologique, sur une carte dite « carte de contrôle », et
interprétées d’après leur position par rapport à des limites tracées à l’avance sur la carte.
Nous nous intéresserons aux types de contrôle suivant :
- contrôle par mesures,
- contrôle par attributs.
 4-1 : CONTRÔLE PAR MESURE

La spécification contrôlée est une grandeur chiffrable par un appareil de mesure.

Les cartes de contrôles permettent de surveiller deux paramètres :

- La tendance de la fabrication (moyenne).

- La variabilité du processus (étendue).
4-2 : CONTRÔLE PAR ATTRIBUTS

Si à la suite d’un contrôle les produits sont classés en « bon » ou « défectueux », la carte de contrôle
correspondante est :
La carte de contrôle du nombre ou de la proportion de défectueux.
Si le nombre de défauts constatés sur chaque pièce caractérise la qualité du produit, la carte de contrôle
est :
La carte de contrôle du nombre de défauts par unité de contrôle.

5- OBJECTIF DES CARTES DE CONTRÔLE

Le suivi et la maîtrise des dispersions disposent donc d’un outil : les cartes de contrôle.

Elles permettent d’avoir une image du déroulement du processus de fabrication et d’intervenir rapidement
et à bon escient sur celui-ci.

5-1 : LES CARTES DE CONTRÔLE PAR MESURE

Pour suivre l’évolution du procédé, des prélèvements d’échantillons sont effectués toutes les heures (5
pièces par exemple).
Pour chaque échantillon, la moyenne et l’étendue sont calculées sur la caractéristique à contrôler.
Ces valeurs sont portées sur un graphique.
Au fur et à mesure qu’elle se remplit, la carte de contrôle permet la visualisation de l’évolution du
processus.
A partir de la valeur moyenne sont définis les différentes limites :

- les limites inférieures et supérieures de contrôle : Lc1 et Lc2.

- les limites inférieures et supérieures de surveillance : Ls1 et Ls2.

Moyenne de la caractéristique sur un échantillon

de n pièce sur le 3ème prélèvement.
Refus
Lc2 Surveillance
Ls2

X Acceptation

Ls
1 Surveillance
Lc Refus
1
1 2 3 4
 5-2 : ÉTABLIR UNE CARTE DE CONTRÔLE

Nous allons étudier les cartes de contrôle de la moyenne et de l’étendue à partir d’un exemple.
Vous devrez, tout en suivant la procédure donnée, compléter la carte de contrôle. Cette étude portera sur le
contrôle de la fabrication d’un axe de diamètre maxi 20,1 et de diamètre mini 19,9. La vérification de cette
spécification est faite à l’aide d’un appareil de mesure au 1/100 de millimètre.
Compte tenu de la cadence de production, du coût et des possibilités de contrôle, on décide d’établir une carte
de contrôle de la moyenne et de l’étendue en prélevant un échantillon de 5 pièces toutes les heures.
Notre étude se limitera aux 8 premiers échantillons.

N° PIÈCE
N° ÉCHANTILLON
1 2 3 4 5
1 19,9 19,9 19,9 19,9 19,9
1 3 6 3 4
2 19,9 19,9 19,9 19,9 19,9
0 3 1 2 2
3 19,9 19,9 19,9 19,9 19,9
3 1 6 0 7
4 19,9 19,9 19,9 19,9 19,9
6 4 6 1 3
5 19,9 19,9 19,9 19,9 19,9
5 2 3 1 2
6 19,9 19,9 19,9 19,9 19,9
2 4 7 3 3
7 19,9 19,9 19,8 19,9 19,9
0 2 8 3 2
8 19,9 19,9 19,9 19,9 19,9
7 4 7 3 3

- Calculer pour chaque échantillon sa moyenne ( X ) et son étendue ( R ).

X1 19.91 19.90 19.93 19.96 19.95 19.92 19.90 19.97

X2 19.93 19.93 19.91 19.94 19.92 19.94 19.92 19.94
Xi X3 19.96 19.91 19.96 19.96 19.93 19.97 19.88 19.97
X4 19.93 19.92 19.90 19.91 19.91 19.93 19.93 19.93
X5 19.94 19.92 19.97 19.93 19.92 19.93 19.92 19.93
 des Xi 99.67 99.58 99.67 99.70 99.63 99.69 99.55 99.74
X
R

- Calculer la moyenne des moyennes ( X ) et la moyenne des étendues ( R ).

Avec N : Nombres de mesure,

X : Variable mesurée
-
 R= valeur Max- Valeur min R= moyenne de R

- A l’aide du tableau des valeurs des constantes Ac et As ci-dessous, déterminer les moyennes des coefficients : Ac et
As.
Effectif de
Ac As
chaque
échantillon
2 4,12 2,81
3 2,99 2,17
4 2,58 1,93
5 2,36 1,81
6 2,22 1,72
7 2,12 1,66
8 2,04 1,62
9 1,99 1,58
10 1,94 1,56
11 1,90 1,53
12 1,87 1,51

Ac = As =
- La limite supérieure de contrôle :

- La limite inférieure de contrôle :

Lcs = X + ( Ac * R )
Lci = X - ( Ac * R )
La limite supérieure de surveillance :

- La limite inférieure de surveillance :

Lss = X + ( As * R )

- A l’aide du tableau des valeurs des constantes DcLsi

et Ds
= Xci-dessous,
- ( As * R )déterminer les moyennes des coefficients : Dc et
Ds.
Effectif de Dc = Ds =
D3 D4
chaque
échantillon
2 4,12 2,81
3 2,99 2,17
4 2,58 1,93
5 2,36 1,81
6 2,22 1,72
7 2,12 1,66
8 2,04 1,62
9 1,99 1,58
10 1,94 1,56
11 1,90 1,53
12 1,87 1,51
 CARTE DE CONTRÔLE X –
R
1 Lc2

1 Ls2

1 X

1 Ls1

1 Lc1

1
 0

0 Lc

0 Ls

0 R

X1 19.91 19.90 19.93 19.96 19.95 19.92 19.90

X2 19.93 19.93 19.91 19.94 19.92 19.94 19.92
Xi X3 19.96 19.91 19.96 19.96 19.93 19.97 19.88
X4 19.93 19.92 19.90 19.91 19.91 19.93 19.93
X5 19.94 19.92 19.97 19.93 19.92 19.93 19.92
 des Xi 99.67 99.58 99.67 99.70 99.63 99.69 99.55
X
R
SOLUTION :
- La limite supérieure de surveillance :

- La limite inférieure de surveillance : Ls2 = X + ( As * R )

Ls2 = 19,931 + ( 0,377 * 0,047
)
- A l’aide du tableau des valeurs des constantes DcLs1 et Ds
= Xci-dessous,
- ( As * R déterminer
) les moyennes des coefficients : Dc et
Ds. Ls1 = 19,931 - ( 0,377 *
0,047 )
Effectif de
Dc Ds
chaque
échantillon
2 4,12 2,81
3 2,99 2,17
4 2,58 1,93
5 2,36 1,81
6 2,22 1,72
7 2,12 1,66
8 2,04 1,62
9 1,99 1,58
10 1,94 1,56
11 1,90 1,53
12 1,87 1,51

Dc = 2,36 Ds = 1,81

- Calculer les limites de la carte de contrôle de l’étendue :

- La limite supérieure de contrôle :

- La limite supérieure de surveillance : Lc = Dc * R

Lc = 2,36 * 0,047
Lc = 0,11
- Tracer (page suivante) les cartes de contrôle de l’étendue * Rla moyenne
et de
Ls = Ds
Ls = 1,81 * 0,047
Ls = 0,08
- Calculer pour chaque échantillon sa moyenne ( X ) et son étendue ( R ).

- Calculer la moyenne des moyennes ( X ) et la moyenne

R = dimension des étendues
maxi échantillon ( R ).
- dimension mini

X = 19,936 R = 0,047
- A l’aide du tableau des valeurs des constantes A’c et A’s ci-dessous, déterminer les moyennes des coefficients : Ac et
As.

Effectif de
Ac As
chaque
échantillon
2 1,93 0,229
7
3 1,05 0,668
4
4 0,75 0,476
 0
5 0,59 0,377
4
6 0,49 0,316
8
7 0,43 0,274
2
8 0,38 0,244
4
9 0,34 0,220
7
10 0,31 0,202
7
11 0,29 0,186
5
12 0,27 0,174
4

Ac = 0,594 As = 0,377
- Calculer les différentes limites de la carte de la moyenne.

- La limite supérieure de contrôle :

- La limite inférieure de contrôle : LcS = X + ( A’c * R )

Lc2 = 19,931 + ( 0,594 * 0,047
)
LCi = X - ( Ac * R )
Lc1 = 19,931 - ( 0,594 *
0,047 )

La limite supérieure de surveillance :

- La limite inférieure de surveillance : Lss = X + ( As * R )

Ls2 = 19,931 + ( 0,377 * 0,047
)
Lsi = X - ( As * R )
Ls1 = 19,931 - ( 0,377 *
0,047 )
- A l’aide du tableau des valeurs des constantes Dc et Ds ci-dessous, déterminer les moyennes des coefficients : Dc et
Ds.

Effectif de
D3 D4
chaque
échantillon
2 4,12 2,81
3 2,99 2,17
4 2,58 1,93
5 2,36 1,81
6 2,22 1,72
7 2,12 1,66
8 2,04 1,62
9 1,99 1,58
10 1,94 1,56
11 1,90 1,53
12 1,87 1,51

Dc = 2,36 Ds = 1,81

- Calculer les limites de la carte de contrôle de l’étendue :

- La limite supérieure de contrôle :

- La limite supérieure de surveillance : Lc = Dc * R

Lc = 2,36 * 0,047
Lc = 0,11
Ls = Ds * R
Ls = 1,81 * 0,047
Ls = 0,08

- Tracer (page suivante) les cartes de contrôle de l’étendue et de la moyenne.

 CARTE DE CONTRÔLE X –
R
19.959 Lc2
19.957
19.955
19.953
19.951
19.949
19.947 Ls2
19.945
19.943
19.941
19.939
19.937
19.935 X
19.933
19.931
19.929
19.927
19.925
19.923
19.921
19.919
19.917
19.915
19.913 Ls1
19.911
19.909
19.907
19.905
19.903 Lc1
19.901

0.11
0.10 Lc
0.09
0.08
0.07 Ls
0.06
0.05
0.04 R
0.03
0.02
0.01
0.00

X1 19.91 19.90 19.93 19.96 19.95 19.92 19.90 19.97

X2 19.93 19.93 19.91 19.94 19.92 19.94 19.92 19.94
Xi X3 19.96 19.91 19.96 19.96 19.93 19.97 19.88 19.97
X4 19.93 19.92 19.90 19.91 19.91 19.93 19.93 19.93
X5 19.94 19.92 19.97 19.93 19.92 19.93 19.92 19.93
 des Xi 99.67 99.58 99.67 99.70 99.63 99.69 99.55 99.74
X 19.934 19.91 19.934 19.94 19.92 19.938 19.91 19.948
6 0 6 0
R 0.05 0.03 0.07 0.05 0.04 0.05 0.05 0.04