Maîtrise Statistique des Procédés

(MSP)

[Link]
 Contexte

INPUT : OUPUT :

• Matières • Produits
premières PROCEDE
• En-cours
• Energie
Analyse du procédé • ...
• ...

Détermination des
paramètres à maîtriser

MSP

[Link]
 causes MSP
assignables

Main Matières Machines

d’œuvre premières

Production

Méthodes Milieu

causes
aléatoires

Surveillance
Amélioration

Traitement
Procédé Informations
statistique

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 Définition et objectifs

MSP :
technique de pilotage des procédés associant
outils statistiques et la manière de les mettre
en œuvre

Maîtrise de l’ensemble des facteurs composant un

procédé de fabrication

Suppression des causes assignables et réduction

des causes aléatoires

S’assurer que la qualité est conforme et reproductible

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 Descriptif
• Histogramme
• Cartes de contrôle
• Journal de bord
• Capabilités
MSP

Résolution
de problèmes = Préventif
• Analyse de Pareto
• Ishikawa
• AMDEC
• Plans d’expériences
• Corrélation
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 Objectifs
• Etudier les dispersions des mesures

• Diminuer les rebuts en fabrication

• Mieux adapter le process aux programmes de production

• Mieux définir les cartes de contrôle

ZERO DEFAUT

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 Statistiques élémentaires
Paramètres de position
(tendance centrale)
Moyenne Mode Médiane
n Valeur la plus Valeur qui sépare l’ensemble des
x =  xi n
i=1 / fréquente individus en 2 groupes représentant
50 % des effectifs chacun
(n : nombre de mesures)

Paramètres de dispersion

Variance Ecart-type (s)

n
s2
s ²=  (xi -x )²/ (n-1)
i=1

[Link]
Statistiques élémentaires

Etendue

E = Max – Min

‘’Range‘’ (R)

[Link]
 Histogramme de distribution

Mat. grasses (%) Teneur en protéines

Fréquence
(effectif)

Modalité
(classe)

Mode

[Link]
 Terminologie

Poplulation : l’ensemble des mesures (observations)

Echantillon : une partie de la population

Individu : la mesure (observation)

Echantillon représentatif :
obtenu par désignation aléatoire
(estimation correcte des paramètres
de la population)

[Link]
 Normalité
Aspect sableux : [9, 5, 7, 12, 8, 9, 8, 11, 9, 9, 7, 8, 9, 10, 7, 8, 8, 9]
Aspect sableux
6

4
Effectif

0
5 6 7 8 9 10 11 12
Notes

: distribution normale (Gaussienne)

[Link]
Propriétés de la courbe de Gauss
Proba.

6.8%

-s x. +s
Proba. (x  x .) 2
1 
f(x) = e 2σ2

95%
σ 2π
Loi normale (Gauss)
-2s x. +2s
Proba.

99.8%

-3s x. +3s
[Link]
 Cartes de contrôle

Technique graphique de surveillance et de diagnostic

permettant d’observer les variations d’un procédé
dans le temps et de juger statistiquement si un
déréglage s’est produit (s’il est raisonnable ou pas).

Juger la stabilité d’un procédé de fabrication

1. Cartes de contrôle pour grandeurs mesurables

(ex : diamètre d’un biscuit, poids d’une conserve, …)

2. Cartes de contrôle pour attributs (qualitatifs)

(conforme ou non conforme)

[Link]
Taille de l’échantillon (sous-groupe) :

• Un échantillon de taille 5 est courant en milieu industriel

• Taille doit être constante pour chaque échantillonnage

Fréquence d’échantillonnage :

Toutes les 2 heures, à toutes les heures, à toutes les 20 min

(selon la complexité du process)

Ne pas entraîner une intervention inutile

! (coût du contrôle)

[Link]
Bon échantillonnage
(optimal)

[Link]
 Carte de contrôle typique
Mesure
statistique
(poids)
... . . . LSC

. ...
.. .. . MG

LIC

1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12 13 14 15

N° de l’échantillon

[Link]
... . . . Limite
LSC supérieure
de contrôle

. ...
.. .. .
Moyenne
MG générale

Limite
LIC inférieure
de contrôle

1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12 13 14 15
N° de l’échantillon
(ordre chronologique)

[Link]
 Principales cartes utilisées en industrie

1• Cartes X et R : moyenne ( X) et l’étendue (R) d’un échantillon

2 • Cartes X et s : moyenne ( X) et l’écart-type (s) d’un échantillon

~
~ et R : médiane (X ) et l’étendue (R) d’un échantillon
3 • Cartes X

• Taille du sous-groupe entre 2 et 9 unités : cartes 1 ou 3

• Taille du sous-groupe >= 10 : cartes 2

[Link]
 Procédé stable
Comportement
prévisible
La tendance centrale
et la dispersion ne sont
affectées dans le temps

temps

Grandeur
mesurable
[Link]
 Procédé instable
Comportement
imprévisible
La tendance centrale
et la dispersion sont
affectées indiquant
la présence de causes
spéciales

Modification de
temps la dispersion

Modification de la
Grandeur la tendance centrale
mesurable
[Link]
Mise en œuvre des cartes X et R
Prélèvement des échantillons
(Enregistrement des données)

Calcul des moyennes et

étendues

Calcul des limites de contrôle

Diagnostics

[Link]
 Calculs
X1  X 2  ...  X n R = Xmax  Xmin
X=
n
n : taille de chaque sous-groupe (échantillon)
X1, X2,…., Xn : valeurs observées du sous-groupe

X1  X2  ...  Xk R 1  R 2  ...  R k
X= R=
k k

Moyenne générale

Pour k sous-groupes

[Link]
 Limites de contrôle

Pour la carte X (tendance centrale de la caractéristique)

LSC X = X  A 2 R (Limite supérieure de contrôle)

LIC X = X  A 2 R (Limite inférieure de contrôle)

Pour la carte R (dispersion de la caractéristique)

LSCR = D4 R (Limite supérieure de contrôle)

LIC R = D3 R (Limite inférieure de contrôle)

[Link]
 Valeurs des coefficients A2, D3 et D4
en fonction de n

Taille de 2 3 4 5 6 7 8 9 10
l’échantillon

A2 1,880 1,023 0,729 0,577 0,483 0,419 0,373 0,337 0,308

D3 0 0 0 0 0 0,076 0,136 0,184 0,223

D4 3,267 2,575 2,282 2,115 2,004 1,924 1,864 1,816 1,777

[Link]
N° X1 X2 X3 X4 X5 X R

1 80 86 88 83 82 83.8 8
2 85 83 81 82 83 82.8 4
3 87 87 87 88 82 86.2 6
4 84 85 84 85 87 85.0 3
5 87 84 89 83 87 86.0 6
6 85 81 78 80 86 82.0 8
7 85 89 84 82 84 84.8 7
8 84 85 85 88 87 85.8 4
9 78 87 82 82 87 83.2 9
10 86 84 83 84 85 84.4 3
11 82 88 85 81 88 84.8 7
12 79 84 81 79 87 82.0 8
13 85 85 82 85 85 84.4 3
14 85 84 88 86 83 85.2 5
15 88 83 80 85 88 84.8 8
16 89 83 85 84 85 85.2 6
17 83 90 87 86 84 86.0 7
18 84 84 82 86 83 83.8 4
19 81 82 85 87 87 84.4 6
20 84 86 85 85 87 85.4 3
[Link]
 Calcul des limites de contrôle
Moyenne générale : Etendue moyenne :

X=
 X
=
1690
j
= 84.5 R=
 R j
=
115
= 5.75
20 20 20 20
n=5
A2 = 0.577
D3 = 0
D4 = 2.115

LSC X = X  A 2 R = 84.5  0.577  5.75 = 87.82

carte X
LIC X = X  A 2 R = 84.5 - 0.577  5.75 = 81.18

LSCR = D4 R = 2.115  5.75 = 12.16

carte R
LIC R = D3 R = 0  5.75 = 0

[Link]
 Carte X
89
Mesure
88
LSC = 87.8
87

86

85
MG = 84.5
84

83

82
LIC = 81.2
81

80
0 2 4 6 8 10 12 14 16 18 20

N° de l’échantillon
[Link]
 Carte R
18
Mesure
16

14
LSC = 12.2
12

10

6
R = 5.75
4

0 LIC = 0
0 2 4 6 8 10 12 14 16 18 20

N° de l’échantillon
[Link]
 Diagnostics

Aucun point n’apparaît en dehors des limites de

contrôle.

Il n’y a pas de comportement particulier

Il n’y a donc pas lieu d’intervenir, le procédé

semble stable

[Link]
 Que recherche-t-on avec
une carte de contrôle ?

• Cause communes : (aléatoires)

Causes inhérentes au processus de fabrication et qui

produisent une fluctuation naturelle

• Cause spéciales : (assignables)

Causes affectant brusquement ou progressivement

une caractéristique de qualité ou toutes causes qui
perturbent de façon anormale celle-ci

[Link]
 Diagnostics

Une caractéristique de qualité est maîtrisée :

• Les points des différents échantillons dans le temps se

situent à l’intérieur des limites de contrôle

• La carte ne présente pas une suite de points disposés

de façon anormale

Tests (L. Nelson, Journal of Quality Technology)

 Zones de test

LSC

...
A . . . + 3s

+ 2s
B
. ... + 1s

.. .. .
C
Ligne centrale
C - 1s
B - 2s
A
- 3s
LIC
 Test 1

LSC . . .
A
B
.. .
C

C
B . . Ligne centrale

LIC
A
.
[Link]
 Test 2

LSC

A
B
C
.. . . . ... Ligne centrale

.
C
B
A
LIC

[Link]
 Test 8

LSC

A
B
C
... .
C
B . .. . Ligne centrale

A
LIC

[Link]