1.
Définition des résidus pour chaque défaut : On construit un tableau en supposant différents
types de défauts possibles, et on étudie comment chaque défaut influence les résidus
ri(t)r_i(t)ri(t) (pour chaque résidu, r1r_1r1, r2r_2r2, etc.). Par exemple :
Défaut r1r_1r1 r2r_2r2 r3r_3r3
Défaut A 1 0 1
Défaut B 0 1 1
Défaut C 1 1 0
Dans ce tableau, une valeur de 1 signifie que le résidu est significativement affecté, et une valeur
de 0 signifie qu’il n’est pas affecté par le défaut en question.
2. Utilisation de la table de signature : En comparant les résidus mesurés avec les signatures
de la table, on peut identifier le défaut. Par exemple, si les résidus mesurés sont r1=1r_1 =
1r1=1, r2=0r_2 = 0r2=0, r3=1r_3 = 1r3=1, cela correspond au défaut A dans le tableau.
Cette méthode est efficace pour des systèmes simples et pour des défauts avec des signatures de
résidus distinctes, mais elle peut devenir complexe pour des systèmes plus grands avec des
interactions croisées entre les composants.
b. Observateurs dédiés aux défauts (observers spécifiques)
Les observateurs spécifiques de défaut sont des modèles spécifiques créés pour détecter et isoler
certains types de défauts dans le système. Ces observateurs sont sensibles à certains types de
défauts et insensibles aux autres. Cela permet de filtrer les résidus générés par chaque observateur
pour isoler le type de défaut.
1. Création d'observateurs spécifiques : Chaque observateur est conçu pour détecter un
défaut précis. Par exemple, un observateur pourrait être conçu pour être sensible à une
perte de gain dans un capteur, tandis qu’un autre serait sensible à un frottement anormal
dans un actionneur.
2. Génération de résidus dédiés : Chaque observateur produit un résidu qui est activé
seulement si le défaut associé est présent. En analysant quel observateur génère un résidu
significatif, on peut localiser et identifier le défaut.
3. Exemple d'application : Supposons qu'un observateur dédié détecte une perte de gain d'un
capteur. Si ce défaut apparaît dans un capteur spécifique, alors l'observateur dédié à ce
capteur générera un résidu, tandis que les autres resteront à zéro, isolant ainsi le défaut.
c. Méthodes basées sur la décomposition de la dynamique du système (décomposition structurée)
La décomposition structurée est une approche où le modèle du système est décomposé en sous-
modèles représentant des parties spécifiques du système (capteurs, actionneurs, sous-systèmes,
etc.). Chaque sous-modèle produit des résidus spécifiques qui permettent de localiser les défauts.
1. Modélisation par sous-systèmes : Le modèle global est divisé en sous-modèles distincts
pour chaque composant ou sous-système important. Chaque sous-système est ainsi
modélisé individuellement.
2. Génération de résidus locaux : Chaque sous-système produit un résidu indépendant. En
analysant les résidus de chaque sous-système, on peut identifier le sous-système ou le
composant qui présente une anomalie.
3. Identification des défauts spécifiques : En analysant les caractéristiques des résidus d'un
sous-système défectueux (par exemple, si le résidu est un bruit ou un décalage constant),
on peut identifier le type de défaut.
