CEM Normes et Mesures

Chapitre 3

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3.1 Introduction

Depuis ces dernières années, la compatibilité électromagnétique est devenue réglementaire

avec l'apparition de nombreuses normes nationales et internationales qui fixent les niveaux
d'émission et de susceptibilité que doit respecter un appareil électrique.
Au niveau de la Communauté Economique Européenne (CEE), la réglementation est
élaborée par les différents Comités Techniques (TC) du Comité Européen de Normalisation
en électrotechnique (CENELEC).

3.2 Définitions et objectifs des normes CEM

La CEM concerne tous les secteurs de l’électronique et de l’électricité Elle est concernée
par toutes les fréquences, du continu au GHz.
Tous les dispositifs électroniques, équipement ou système, exemple dans un PC, il faut
rappeler que chaque composant devra être compatible au niveau CEM, que le PC en soit
devra être compatible et que, dans un réseau constitué de plusieurs PC et plusieurs
équipements électroniques, l’ensemble devra satisfaire aux normes de CEM.
L'objectif principal des normes est de caractériser aussi précisément que possible
l'environnement de mesure en conduit et en rayonné, les conditions de mesure (longueur des
câbles, distance des antennes, hauteur, angle, etc..), la calibration et le réglage des appareils de
mesure utilisés, ceci dans le but d'effectuer des mesures reproductibles et fiables. Nous
distinguons ainsi, deux principales catégories de normes existent : celles qui définissent les
niveaux tolérés d'émission conduite ou rayonnée, et celles qui définissent la susceptibilité
électromagnétique d'un équipement, à savoir sa tolérance aux agressions électromagnétiques.

3.3 Les Normes

Les exigences sur la limite des perturbations provoquées par un équipement électrique sont
représentées par les normes CEM. Ces normes sont, au plan international, formulées par le
Comité International Spécial des Perturbations Radioélectriques (CISPR).

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3.3.1 Définitions
Une norme est un recueil de règles, de descriptions, de méthodologies qu’un constructeur
peut utiliser comme référence lorsqu’il définit et teste un de ses produits.
Il existe 3 types de normes CEM:
1) Les normes fondamentales,
2) Les normes génériques, donnant les limites et méthodes de base applicable de manière
générale à tous les équipements,
3) Les normes de produits ou de familles de produits.

Les normes génériques: Ce sont des normes ou guides définissant de manière générale les
prescriptions relatives à la CEM (phénomènes, essais ...). Elles sont applicables à tous les
produits et servent de référence, notamment aux comités devant élaborer des normes
spécifiques. Les normes fondamentales ne seront pas harmonisées au niveau Européen.

Les normes génériques: Ces normes définissent les exigences essentielles en terme de
niveau à tenir par type d’essai empruntés aux normes fondamentales. En l’absence de norme
de produits ou famille de produits, elles s’appliquent à tout produit installé dans un
environnement défini.

Les normes de produits ou de familles de produits: Ces normes définissent, pour des
produits ou familles de produits donnés, les dispositions constructives, caractéristiques,
méthodes et niveaux d’essais applicables. Lorsqu’elles existent, ces normes ont préséance sur
les normes génériques.

3.3.2 Les organismes normalisateurs

Au niveau de la Communauté Economique Européenne (CEE), la réglementation est

élaborée par les différents Comités Techniques (TC) du Comité Européen de Normalisation
en Electrotechnique (CENELEC). La Directive européenne n°89/336/CEE stipule que dans
tous les états membres de la CEE, les appareils susceptibles de générer des perturbations
électromagnétiques ou dont le fonctionnement peut être affecté par ces perturbations ne
peuvent être commercialisés dans les pays de la CEE que s'ils sont conformes aux
spécifications en matière de CEM. Cette directive est rentrée en application le 28 octobre

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1992. Au plan international, la Commission Electrotechnique Internationale (CEI) a créé un

comité spécial, le Comité International Spécial des Perturbations Radioélectriques (CISPR) en
vue de formuler les normes CEM. Les publications du CISPR sont généralement utilisées par
les différents pays comme document de base pour l'établissement de leurs propres normes.
CISPR : Comité International Spécial des Perturbations Radioélectriques,
CEI : Commission Electrotechnique Internationale à Genève,
CENELEC : Comité Européen de Normalisation Electrotechnique à Bruxelles.

3.3.3 Exemples de publications CISPR

CISPR 11-1990 Limites et méthodes de mesure des caractéristiques de perturbations

électromagnétiques des appareils industriels, scientifiques et médicaux
(ISM) à fréquence radioélectrique.
CISPR 14-1993 Limites et méthodes de mesure des perturbations radioélectriques
produites par les appareils électrodomestiques ou analogues comportant des moteurs ou des
dispositifs thermiques, par les outils portatifs électriques et par les appareils électriques
analogues.
CISPR 16-1993 Spécifications des méthodes et des appareils de mesure des perturbations
radioélectriques et de l’immunité aux perturbations radioélectriques, pour la première partie
appareils de mesure des perturbations radioélectriques et de l’immunité aux perturbations
radioélectriques.

3.4 Exemples de normes CEM

D’une manière générale, la caractérisation d’une émission électromagnétique rayonnée

consiste à mesurer le niveau de champ électrique et/ou de champ magnétique généré par un
dispositif. Elle consiste aussi à identifier le composant le plus perturbateur (rayonnant) sur
une victime (circuit imprimé par exemple).
Les moyens et méthodes de caractérisation en CEM sont les outils et les démarches à
suivre qui permettent de réaliser une caractérisation en émission et en susceptibilité d’un
système ou d’un composant en mode rayonnée ou conduit.
Il existe trois approches dans la littérature pour caractériser une émission
électromagnétique rayonnée par un circuit ou un composant électronique intégré [6, 9, 11] :

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 La première consiste à réaliser des calculs numériques sur le composant en utilisant un

logiciel de simulation approprié,
 La seconde, conduit à réaliser des mesures expérimentales sur un dispositif réel,
 La troisième consiste à modéliser analytiquement le champ électromagnétique rayonné
par le dispositif à tester.
Dans cette section, nous verrons l’exemple de la description des méthodes de mesure pour
certaines normes. Considérons la norme 55022 qui concerne une catégorie importante
d'appareils électriques, les appareils de traitement de l'information. Cette norme est
directement dérivée de la publication n°22 du CISPR et distingue deux classes d'appareils :
 Les appareils de classe A qui sont destinés a être utilisés en milieu industriel,
commercial ou d'affaires ;
 Les appareils de classe B qui sont destinés à être utilisés dans des locaux d'habitation.
Les niveaux de perturbation sont donnés sur une échelle logarithmique en dBμV.
V
Comme suivant : dBV (V )  20log( ) (3.1)
106
La figure 3.1 [5,7] ci-après présente l'exemple de la norme EN 55022, nous observons ici
la Classe B possède un gabarit nettement plus contraignant que celui de la Classe A. Les
concepteurs des équipements électriques cherchent à répondre aux critères de la Classe B,
ceci leur permettant de couvrir un marché plus vaste, en allégeant les moyens de filtrage, de
ne répondre qu’à la classe A.

Figure3.1: Niveaux des perturbations conduites fixés par la norme EN 55022

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3.5 Instrumentation et moyens en CEM

Le respect des réglementations impose des mesures et des essais, eux-mêmes définis par
des normes. Le but est de tester un matériel en immunité et en émission dans les modes
conduits et rayonnés. Dans ce contexte un certain nombre d’instruments ou moyens s’avèrent
nécessaires parmi lesquels on peut citer :
 Les dispositifs d’environnement (champ libre, cage de Faraday, chambre anéchoïque,
chambre à brassage de modes, plateaux tournants, …)
 Le matériel de mesure (analyseur de spectre, wattmètre HF, RSIL, antennes et mesureurs
de champ…).
 Les générateurs de perturbations (pistolet à DES, pince capacitive, amplificateur de
puissance HF).
En outre Il faut distinguer deux types d’essais que l’on peut réaliser sur un produit à l’aide
d’un moyen approprié [12,21].
a) Les essais de type: Ce sont des essais que le constructeur réalise pour la qualification de
ses produits avant leur commercialisation
b) Les essais sur site: Ce sont des essais qui sont réalisés sur l’équipement qui intègre le
produit. Ils sont faits sous la responsabilité de l’incorporateur et ont pour but de valider une
installation, un équipement ou une machine.
c) Les moyens d’essais: Les moyens et les modalités d’application de ces essais sont décrits
précisément dans les normes.

3.5.1 Réseau Stabilisateur d’Impédance de Ligne (RSIL)

Le Réseau Stabilisateur d’Impédance de Ligne (RSIL) est un filtre qui est inséré entre le
dispositif sous test et le réseau fournissant l'énergie. Son rôle est double. Il doit isoler le
réseau, sur lequel peuvent exister des perturbations de mode commun et de mode différentiel,
de l'équipement sous test. Cependant, il doit présenter à la fréquence du réseau une chute de
tension sortie/entrée inférieure à 5% de la tension nominale lorsqu'il est parcouru par le
courant nominal. Cet équipement, quasi-incontournable en CEM, permet une reproductibilité
des mesures et de fixer, en partie, les conditions de mesure sur la plage normative de
fréquences (150kHz-30MHz). Plusieurs structures de RSIL existent suivant les spécifications
des normes [7, 23] La figure 3.2 représente un schéma de principe d’un RSIL monophasé.

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Figure. 3.2. Schéma de principe d’un RSIL monophasé.

Enfin, il doit présenter une impédance de fermeture constante vis-à-vis des perturbations à
haute fréquence émises par le dispositif sous test, tant en mode commun que différentiel, et
ceci indépendamment de l'impédance présentée par le réseau d'énergie. Cette impédance est
normalisée par le CISPR. La norme définit les limites de variation de cette impédance,
mesurée entre une borne de sortie et la terre dans la gamme de fréquence 10 kHz-100 MHz.
Cette gamme est divisée en trois bandes (A, B, C). Le schéma équivalent relatif à chaque
bande est indiqué la figure 3.3 [15, 42, 43]. Cependant, il existe trois approches

Figure3.3: Impédance de RSIL monophasé de la figure précédente.

Dans la littérature, il existe plusieurs méthodes et moyens (matériel de mesure) de

caractérisation expérimentale, comme: Séparateur de MC/MD, Capteurs de courant, Sondes
isotropiques, Analyseur de spectre, Antennes, Cellule TEM, Cellule GTEM : Variante Haute
Fréquence de la Cellule TEM

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La majorité de ces méthodes sont normalisées par le Comité Electrotechnique International

(CEI). Dans ce polycopié, nous nous intéressons précisément aux moyens et méthodes de
caractérisation d’émission pour illustrer les mécanismes d’émissions conduites dans les
structures électroniques de conversion d’énergie, le cas étudié, qu’on va citer comme un
exemple une sources de perturbations conduites en électronique de puissance avec ces
troubles liés à la forme d’onde (commutation, synchronisation, etc), qui fait l'objet da la
section qui suit.

3.6 Electronique de puissance et CEM

Les structures électroniques de conversion d’énergie sont tout à fait adaptées pour illustrer
les mécanismes d’émissions conduites. La CEM tend à montrer qu’il est nécessaire de limiter
les variations rapides des grandeurs électriques (tension, courant) et électromagnétiques
(champs) alors que les structures à découpage génèrent des variations brutales, pour gérer le
transfert d’énergie souhaitée à moindre pertes [10, 12, 14, 16, 38,41].
Dans cet exemple nous avons proposé une analyse CEM des structures statiques de
puissance, suivant le triptyque classique source-chemin-victime.
Comme le montre la figure 3.4 [10,12], le schéma reflète la richesse spectrale des
structures de puissance, des harmoniques de la fréquence du réseau d’alimentation aux
fréquences équivalentes des fronts de tensions et de courants engendrés par les commutions.
La cellule de commutation, brique élémentaire des convertisseurs statiques [10], joue le
rôle de générateurs. En effet, la cellule de commutation, facilement identifiable dans les
structures non isolées, représente l’association de deux interrupteurs commandés ou non. Elle
est le siège de forts gradients de tension et de courant. Les formes d’ondes idéalisées, comme
le montre la figure 3.5 [10], rendent compte de ces variations brutales.
Les phases de commutation n’auraient qu’un faible impact voire aucun, si il n’existait pas
de couplage entre les interrupteurs et l’environnement proche de ces derniers. L’un des
couplages les plus néfastes est défini par la capacité parasite reliant le potentiel du dissipateur
généralement fixé à la terre au potentiel variable des transistors de la cellule.
L’exemple des transistors MOSFET de puissance présenté dans la figure 3.6 [10], en
boîtier TO220 est caractéristique puisque la face arrière métallique de ces derniers est au
potentiel du drain du composant. L’épaisseur et la permittivité du film isolant
(exemple:Mylar, r  2.5 ) entre ce substrat métallique et le radiateur détermine alors cette
capacité parasite qui offre un couplage privilégié en mode commun.

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Figure 3.4: Plage spectrale usuelle associée aux structures électroniques de puissance.

Figure 3.5 : Cellule de commutation et formes d’ondes théoriques associées.

Figure 3.6: Couplage capacitif transistor - radiateur.

3.6.1 Analyse d’une cellule de commutation en mode commun

Pour estimer les émissions conduites, nous nous assurons un passage par une
représentation particulière, pour laquelle les interrupteurs en commutation sont remplacés par
des générateurs localisés [1, 10, 12], dont les tensions et courants produits se propagent par
différents chemins de mode commun et/ou de mode différentiel.
L’étude du schéma générique d’une structure non isolée avec une cellule de commutation,
présenté à la figure 3.7.

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L’étage d’entrée est volontairement non défini, seul le fonctionnement de la cellule de

commutation et la tension de mode commun qu’elle génère nous intéresse. Pour simplifier son
étude et déterminer le générateur équivalent de mode commun quelques hypothèses sont
nécessaires [10, 12, 14,28, 29, 30]:

 Les modes différentiel et commun sont totalement découplés, il n’y a pas de conversion
de l’un vers l’autre,
 Le couplage principal en mode commun est uniquement défini par une impédance ZMC
entre le point milieu de la cellule de commutation et la terre (la charge du convertisseur
ne propose pas de chemin de propagation plus simple au courant de mode commun),
 Les tensions v1 et v2 entre le bus continu et la terre sont défini indirectement par l’étage
d’entrée de la structure, elles sont liées à la topologie de cette partie du système.
Comme le montre le schéma général de la figure 3.7. Les courants et tensions notés (ik1, ik2)
et (vk1, vk2) décrivent l’état électrique des deux interrupteurs quelle que soit leur technologie
(diode, transistor). Cette représentation volontairement idéalisée permet une mise en équation
simple et abordable [10, 25, 26, 27].

Figure3.7: Cellule de commutation en mode commun.

La première étape consiste à exprimer la tension entre le point milieu de la cellule dont le
potentiel est fortement variable et la terre en fonction des autres tensions de la cellule. Cette
expression de tension entre le point milieu de la cellule lors de la commutation du MOSFET
donnée par l'équation (3.2):

v v v v
v  1 2  k1 K 2 (3.2)
M 2 2
MC

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Les différentes tensions découpées présentent aux bornes des interrupteurs, sont définies
par la tension de mode différentiel vdiff. Cette dernière correspond par définition à la tension
du bus continu toutefois prise aux bornes de la cellule. La prédétermination rigoureuse de
cette tension n’est pas aisée puisqu’elle dépend des chutes de tension liées aux courants
parasites circulant dans les impédances du bus d’alimentation. Cette interaction, qualifiée en
générale du second ordre, ne peut être prise en compte en utilisant le modèle simplifié
proposé dans cette ressource ; seul un modèle mettant en œuvre une résolution itérative
permet d’en tenir compte.
v v 2.v  v
1 2 k 2 diff
v   (3.3)
M 2 2
MC
Avec: v  v v (3.4)
diff 1 2
Nous savons aussi que vk2 est définie en fonction de la stratégie de commande de la
structure représentée par la fonction de modulation fsw comme l'indique l'équation (3.5) et de
la tension aux bornes des deux interrupteurs vdiff comme présenté par l'équation (3.6).
1 Pour k1 fermé, k2 ouvert (3.5)
f  
SW 0 Pour k1 ouvert, k2 fermé

v f .v (3.6)
k2 SW diff

Le courant de mode commun iMC exprimé aisément en fonction de l'admittance relative à

ZMC notée YMC, comme l'indique l'équation (3.7), est issu de la contribution de deux tensions
particulières : la première représente, par définition, la tension de mode commun du bus
continu au plus près de la cellule, et la seconde fait clairement apparaître le découpage
puisqu’elle dépend directement de la loi de commande des interrupteurs.
v v 
i Y  1 2f .v (3.7)
MC MC  2 MC diff 


En suivant une démarche similaire, l’analyse des courants sur le bus continu en amont de la
cellule, permet d’identifier un courant circulant en mode différentiel (figure 3.8).
Pour cela l’hypothèse de découplage de ce mode est encore nécessaire et suppose que seuls
les courants de mode différentiel existent.
Sachant que:
i i
i 1 2 (3.8)
MD 2

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Figure 3.8: Cellule de commutation en mode différentiel.

En appliquant l'équation (3.8) le courant iMD est donné par la relation (3.9).

I /  i/ i  i
i  1 2  k1 k 2 (3.9)
MD 2 2

Les courants des interrupteurs sont naturellement complémentaires et s’expriment en

fonction du courant iCH. L’expression du courant iMD s’écrit, de ce fait, en fonction de iCH par:
l'expression de l'équation :

I /  i / 2.i  iCH
i  1 2  k1 (3.10)
MD 2 2
Cette démonstration permet de donner des conclusions similaires au courant de mode
différentiel circulant sur le bus continu à l’instar de la tension de mode commun.
Il se caractérise par la contribution de deux termes : l’un représente le courant de mode
différentiel en aval de la cellule et le second est défini par le courant commuté puisqu’il
s’écrit à l’aide du courant d’un interrupteur. Pour simplifier cette expression, et obtenir une
relation finalement évidente, on remarque que le terme en aval de la cellule peut également
s’écrire en fonction du courant de charge iCH, comme montre l'équation (3.11).
L’expression (3.10) se simplifie considérablement par l'équation (3.12).

I /  i /  i (3.11)
1 2 CH

i  i/  I (3.12)
MD 1 K1
Le courant dans l’interrupteur est directement lié au courant de charge iCH par
l’intermédiaire de la fonction de modulation fSW.
L’équation (3.13) donne finalement la relation entre le courant recherché et le découpage
du courant de charge:

i  i/  f i (3.13)
MD 1 SW CH

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3.6.2 Modélisation d’une cellule de commutation*

Comme montre les expressions principales (3.7) et (3.13), l’étude des émissions conduites
d’une structure dans laquelle la cellule de commutation est clairement définie peut être
abordée de manière relativement simple. Il s’agit finalement d’établir un schéma linéaire
équivalent sur lequel les interrupteurs n’apparaissent plus. Ces derniers sont tout simplement
remplacés par des sources localisées permettant de vérifier sur ce schéma les courants iMD et
iMC.
L’équation (3.7) est relativement simple à interpréter et à retranscrire par un schéma
équivalent comme montre, la figure (3.9). En s’imposant aux bornes de YMC, la différence
entre la tension de mode commun en amont de la cellule et la tension produite par un
générateur équivalent se substituant à la cellule, engendre le courant iMC. Ce schéma
équivalent bien qu’extrêmement simple impose que le reste de la structure soit également
modélisé en mode commun et ne laisse pas la possibilité d’intégrer facilement le mode
différentiel. Pour résoudre ce problème, il s’agit d’écrire différemment l’équation donnant le
courant de mode commun, comme le montre l'équation (3.14).

Y Y Y
i  MC v  MC v  2. MC v (3.14)
MC 2 1 2 2 2 gMC
Avec: v f .v
gMC MC diff

Figure 3.9: Schéma équivalent en mode commun.

Le schéma équivalent qui résulte de cette écriture fait de nouveau apparaitre le bus continu
et le reste de la structure sans modification, comme illustré dans la figure (3.10).

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Figure 3.10: Schéma équivalent en mode commun distribué.

La définition retenue pour la fonction de modulation implique que l’interrupteur k1 est

commandé et que la charge se reboucle sur k2.

Le courant i / est par définition nul. L’interprétation de l’équation (3.12) relative au courant
de mode différentiel devient encore plus simple puisque le générateur équivalent de mode
différentiel est égal au courant de charge commuté selon l'équation (3.15).

i f .i (3.15)
gMC MC CH

La superposition des deux modes, rendue possible par l’hypothèse du découplage des
sources de perturbations, permet d’obtenir le schéma CEM équivalent de la cellule de
commutation est représentée dans la figure (3.11).

Figure3.11: Modèle équivalent de la cellule de commutation.

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3.7 Conclusion

Dans ce chapitre nous avons proposé des rappelles et quelques multiples normes
européennes et internationales imposées pour la commercialisation d'un équipement
électrique, ainsi les tests et les moyens d’essais appliqués CEM dans le cadre de mesures
normalisées.
Nous avons ensuite détaillé d’une manière générale, la caractérisation d’une émission
électromagnétique rayonnée consiste à mesurer le niveau de champ électrique et/ou de champ
magnétique généré par un dispositif.
Les structures électroniques de conversion d’énergie sont tout à fait adaptées pour illustrer
les mécanismes d’émissions conduites et apporter les briques élémentaires de la modélisation
de ces phénomènes. Nous avons également effectué, lors de cet analyse en exemple
(électronique de puissance et CEM) pour, la maîtrise de la compatibilité électromagnétique
des convertisseurs électroniques de puissance comme un réel enjeu, ces dispositifs s’incérant
dans la majeure partie des systèmes électriques.
Les performances CEM doivent être anticipées et réfléchies dès la phase de conception. Le
détail les techniques de protection en CEM et les moyenne de réduire les perturbations
électromagnétiques, fait l'objet du chapitre suivant.

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