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Diffraction à l'infini: Concepts et Calculs

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Imane DARBAOUI
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Diffraction à l’infini

Diffraction à l’infini, transparents de cours, MP, Lycée Montesquieu (Le Mans), Olivier Granier
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Chapitre 3
Diffraction à l’infini

I) Principe d’Huygens - Fresnel :


1 – Présentation du phénomène de diffraction :

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L’expérience suivante montre la diffraction d’un rayon laser par une fente de largeur variable a et
de « grande » hauteur.

Sur un écran de projection située à quelques mètres, on constate que la tâche quasi-ponctuelle
formée par le faisceau, en l’absence d’obstacle, s’élargit perpendiculairement à la fente lorsque
celle-ci se rétrécit.
De plus, l’éclairement de l’écran n’est pas uniforme : autour de la tâche centrale existent des
tâches secondaires, moins larges et moins lumineuses.
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Des mesures expérimentales relient d (distance entre la fente et l’écran), l (largeur de la tâche
centrale), λ (longueur d’onde) et a (largeur de la fente) :

λd
l≈2
a
Ce qui correspond à une tâche de demi-largeur angulaire :

λ
α≈
a

Si les lois de propagation rectiligne étaient vérifiées, la tâche serait plus fine dans la direction
perpendiculaire à la fente : la tentative de limitation du faisceau a en fait abouti à un résultat
opposé.
En revanche, dans la direction de la fente, on n’observe aucun élargissement.

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2 - Enoncé du principe de Huygens-Fresnel :
Soit (Σ) une ouverture plane éclairée par une source ponctuelle (S) monochromatique de longueur
d’onde λ0. Soit un découpage de (Σ) en éléments de surface dσ(P) centrés en P. Alors, pour le
calcul de l’éclairement en un point M :
• Chaque élément de surface se comporte comme une source ponctuelle fictive, émettant une
ondelette dont l’amplitude complexe instantanée en P est proportionnelle à l’amplitude
complexe instantanée aS(P,t) de l’onde émise par S en P et à l’élément de surface dσ(P).

P
S dσ
Σ

• Les sources fictives sont cohérentes : les ondes émises par ces sources secondaires
interfèrent donc entre elles.
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3 – Expression mathématique du principe :
Dans le cas où S et M sont à distance finie de (Σ) dans un milieu homogène, les ondes
correspondantes sont sphériques. Si l’ensemble du dispositif est plongé dans l’air d’indice 1,

k =
l’amplitude complexe instantanée reçue en P s’écrit, avec 0 λ 0 :

A0
a S ( P, t ) = exp[i (ωt − k 0 SP )]
SP
(Le terme 1 / SP peut s’expliquer par des considérations énergétiques : le flux du vecteur de
Poynting à travers toute sphère centrée sur S est constant).
L’amplitude complexe émise en M par la source élémentaire centrée en P s’écrit donc :
exp[− ik 0 PM ]
d a P ( M , t ) = K a S ( P, t ) dσ ( P )
PM

(Le terme 1 / PM traduit la nature sphérique de l’onde et le terme en exp[− ik 0 PM ] traduit la


propagation de P à M).
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Soit :

A0 exp[i (ωt − k 0 SP )] exp[−ik 0 PM ]


d a P (M , t ) = K dσ ( P )
SP PM

Les sources fictives étant cohérentes, leurs amplitudes complexes instantanées sont additives :

A0 1
a(M , t ) = K ∫∫ (Σ ) SP PM
exp[iωt ] exp[− ik 0 SP ] exp[− ik 0 PM ]dσ ( P )

L’amplitude complexe vaut alors (en simplifiant par exp(iωt)) :

A0 1
a(M ) = K ∫∫ (Σ ) SP PM
exp[− ik 0 SP ] exp[− ik 0 PM ]dσ ( P )

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4 – Distinction « diffraction à distance finie » et « diffraction à l’infini » :
Lorsque la distance entre la pupille de diffraction et l’écran d’observation est finie, on parle de
diffraction à distance finie ou « diffraction de Fresnel ».
Dans le cas contraire, on parle de diffraction à l’infini ou encore « diffraction de Fraunhofer ».
Les calculs sont plus simples et l’on étudiera le phénomène de diffraction dans une direction
définie par le vecteur unitaire ur ; en pratique, les observations se feront dans le plan focal d’une
lentille convergente.

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Lorsque les points S et M sont très éloignés, les variations de 1 / SP et 1 / PM intervenant dans
l’expression complexe de l’amplitude sont négligeables et ces termes peuvent être considérés
comme des constantes qui peuvent être incluses dans la constante K. En regroupant par ailleurs
les termes de phase selon :
(SPM) = (SP) + (PM)
Il vient :

a( M ) = K ∫∫ (Σ)
A0 exp[− ik 0 ( SPM )]dσ ( P )

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Recherche du chemin optique (SPM) :
On détermine la différence de marche entre deux rayons : l’un qui tombe sur l’origine O de la
pupille et l’autre qui tombe en un point P quelconque.

S∞ M∞

r r
u P
u'

r r
On note u la direction de l’onde initiale et u ' la direction de l’onde diffractée.
On a alors :
r r
u .OP = − HO et u '.OP' = OH '
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M∞
S∞ (2)

P
r r
u u'
(1)

H H’
O

La différence de marche entre le rayon (2) et le rayon (1) est :


r r r r
δ = S ∞ PM ∞ − S ∞ OM ∞ = − HO − OH ' = u .OP − u '.OP = OP.(u − u ' )
Soit :
r r
S ∞ PM ∞ = S ∞ OM ∞ + OP.(u − u ' )

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Le principe d’Huygens-Fresnel devient :

a ( M ) = KA0 exp[− ik 0 ( S ∞ OM ∞ )] ∫∫ (Σ)


[ r r
exp ik 0 (u '−u ).OP dσ ( P ) ]
Réalisation pratique des conditions de Fraunhofer :
La source S à l’infini peut être obtenue à l’aide d’un laser et l’observation à l’infini peut être
approchée par l’observation sur un écran éloigné.
r r
Si l’on note : u (α , β , γ ) et u ' (α ' , β ' , γ ' )

k0 =
Alors, avec λ 0 et OP ( X , Y ) :

 2π 
a( M ) = KA0 exp[− ik 0 ( S ∞ OM ∞ )] ∫∫ (Σ)
exp i
 λ0
((α '−α ) X + ( β '− β ) Y ) dX dY

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5 – Diffraction à l’infini d’une onde plane par un diaphragme plan :
On peut aussi réaliser un collimateur en plaçant une source ponctuelle S dans le plan focal objet
d’une lentille mince convergente (L1) et en plaçant l’écran d’observation dans le plan focal image
r r
u
d’une lentille mince convergente (L2). Les directions et u ' s’obtiennent dans ce cas en utilisant
les rayons non déviés, passant par les centres des lentilles :
r SO1 SO1 r OM OM
u= ≈ et u' = 2 ≈ 2
SO1 f '1 O2 M f '2

L1 L2

F1 O1 O2
O F’2
r
S u r M
u'

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Si on note ( x S , y S , z S ) les coordonnées de S et (x,y,z) celles de M :


 xS   x 
−   
 f '1   f '2 
r  yS  r  y 
u ≈ −  et u' ≈  
 f '1   f '2 
  
 1  1 
 
 
   
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II) Exemple d’une ouverture rectangulaire :
1 – Expression de l’éclairement :

On choisit l’origine O au centre de l’ouverture rectangulaire ; alors, en notant X et Y les


coordonnées du point P :
r r
(u '−u ).OP = (α '−α ) X + ( β '− β ) Y
L’intégrale se factorise :
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+a / 2  2π  +b / 2  2π 

a( M ) = KA0 exp[− ik 0 ( S ∞ OM ∞ )]
−a / 2
exp i
 λ0
((α '−α ) X ) dX

∫ −b / 2
exp i
 λ0
(( β '−β ) Y ) dY

sin u
sin c(u ) =
Après calculs (en définissant la fonction sinus-cardinal ( u )) :

 π (α '−α )a   π ( β '− β )b 
a ( M ) = KA0 ab exp[− ik 0 ( S ∞ OM ∞ )] sin c  sin c
 


 λ0   λ0 
2 2 2 2
E
L’éclairement vaut, en notant 0 = K A0 a b :

2  π (α '−α ) a  2  π ( β '− β )b 
E ( M ) = E 0 sin c   sin c 
 


 λ0   λ0 

Le graphe de la fonction sinc2(u) est donné ci-dessous. On constate que :


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• sinc2(u) présente un maximum absolu, appelé maximum principal, égal à 1 en u = 0.

• sinc2(u) s’annule pour u = nπ, avec n entier non nul.

• Entre deux zéros successifs, sinc2(u) présente un maximum secondaire situé pratiquement au
milieu de deux zéros successifs. On peut ainsi évaluer :

 3π   5π 
sin c 2   = 0,04 et sin c 2   = 0,016
 2   2 

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sinc2(u) sinc2(u)

−2π −π π 2π u −2π −π π 2π u

Graphe de la fonction sinc2(u)

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Représentation graphique de l’éclairement :
L’éclairement :

2  π (α '−α ) a  2  π ( β '− β )b 
E ( M ) = E 0 sin c   sin c 
 


 λ0   λ 0 
est donné sur les figures suivantes (à α ou β fixés, en choisissant b = 2a).

En fonction de x et y, l’éclairement devient (en supposant f '1 = f ' 2 = f ' ) :

2  π (x − x S )a  2  π ( y − y S )b 
E ( M ) = E 0 sin c   sin c 
 


 λ0 f '   λ 0 f ' 

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Eclairements pour β ou α fixés (par exemple, , β = β’ et α = α’)

Eclairements pour x ou y fixés.


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b = 2a

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Conclusions :
r r
• L’éclairement est maximum pour α = α’ et β’ = β, c’est-à-dire pour = u ' , soit au point M
u
situé sur le rayon lumineux non dévié. M est l’image géométrique de la source S à travers les
deux lentilles.
Ce résultat est général :
« Dans un phénomène de diffraction à l’infini, l’éclairement est maximal sur l’image
géométrique de la source ».

• L’essentiel de l’énergie lumineuse est concentrée dans la frange centrale de diffraction,


centrée sur l’image géométrique S’ de la source S et de demi-largeurs angulaires :
λ0 λ0
α '−α = et β '− β =
a b

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On retrouve dans la figure de diffraction les dimensions caractéristiques de la pupille
diffractante. « Dans une figure de diffraction à l’infini, les dimensions caractéristiques de la
pupille diffractante δ interviennent par leurs inverses 1 / δ ».
Ainsi, dans le cas ou b = 2a, les franges sont deux fois plus longues selon (Ox) que selon
(Oy). On peut aussi dire que le phénomène de diffraction est le plus marqué dans la
direction où la fente est la plus étroite.

• Les franges secondaires de diffraction sont deux fois moins larges que la frange centrale et
beaucoup moins lumineuses.
On peut calculer l’intensité des taches relativement à celle de la tache centrale ; pour les 4
taches les plus voisines, cette intensité relative est de 4,7% et elle tombe à 1,6% pour les 4
suivantes.

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Animation [Link]

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2 – Cas limite d’une fente fine :
On s’intéresse au cas fréquent où l’une des dimensions de l’ouverture est très inférieure à l’autre.
Ici, on considère que a << b.
La diffraction s’effectue alors dans la direction verticale (Ox) ; le point P de la pupille diffractante
est alors définie uniquement par sa coordonnée X et l’expression de l’amplitude diffractée se
simplifie :

a/2  2π 
a ( M ) = KA0 exp[− ik 0 ( S ∞ OM ∞ )]∫ exp i ((θ '−θ ) X ) dX
−a / 2
 λ0 
où θ et θ’ désignent les angles d’inclinaison des rayons incident et diffracté par rapport à l’axe
optique.
L’éclairement est ensuite :

 π (θ '−θ ) a 
E ( M ) = E 0 sin c  2

 λ0 
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Calcul direct de l’intensité diffractée dans le cas d’une incidence normale :
On se place dans le cas de la figure ci-dessous :

L’amplitude diffractée en un point M d’un écran situé dans le plan focal d’une lentille CV est :
a a
 2π 
a(M ) = K ∫ 2
a exp(ik 0 .OH ) bdX = K ∫ 2
a exp i . Xθ  bdX

2

2  λ0 
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Avec θ = x / f ' , il vient :

a/2  2π x   πxa 
a( M ) = K ∫ 
exp i X  bdX = Kab sin c
 
−a / 2
 λ0 f '   λ0 f ' 
On en déduit ensuite l’éclairement :

 πxa 
I ( M ) = I 0 sin c  2

 λ0 f ' 
La largeur de la tâche centrale est donc :
2λ 0 f '
d=
a
Si on considère que le phénomène de diffraction n’est plus visible si d devient inférieure à 1 mm,
alors, avec f’ = 20 cm par exemple :
a > 400 λ0
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III) Cas d’une ouverture circulaire :

On peut évaluer le rayon du 1er anneau noir, obtenu quand θ = θ L ; alors :


λ0 f '
r = f ' θ L = 1,22
D
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IV) Diagramme de phase, diagramme d’amplitude :
Exercice d’application ; apodisation

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V) Diffraction par les fentes d’Young :

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On peut faire le calcul complètement dans le cas d’une incidence normale et pour deux
fentes d’Young infiniment fines dans une direction :
Le schéma expérimental est le suivant :

f’1 f’2 x
S1
M(x)
S F’1 θ θ
F’2
S2 H
L1 L2 Ecran

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L’amplitude diffractée par les deux fentes S1 et S2 est : (a désigne ici la largeur d’une fente)

 2π 
(θ X ) dX = KA0 exp[− ik 0 ( SO1 M )] sin c( πθa )
a/2
a1 ( M ) = KA0 exp[− ik 0 ( SO1 M )]∫ exp i
−a / 2
 λ0  λ0

Et :

πθa
a 2 ( M ) = KA0 exp[− ik 0 ( SO 2 M ) ] sin c ( )
λ0
L’amplitude résultante en M est ensuite :
πθa
a ( M ) = a 1 ( M ) + a 2 ( M ) = KA0 sin c ( )(exp[− ik 0 ( SO1 M )] + exp[− ik 0 ( SO 2 M )])
λ0
Or :

( SO2 M ) = (SO1M ) + (S 2 H ) = ( SO1M ) + dθ


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d’où : (attention, ici d désigne la distance entre les milieux des fentes et a la largeur des fentes !)

πθa
a ( M ) = a 1 ( M ) + a 2 ( M ) = KA0 sin c ( )(1 + exp[− ik 0 dθ ]) exp[− ik 0 ( SO1 M )]
λ0

L’intensité résultante en M est alors :

1 2 πθa
)(1 + cos( k 0 dθ ) )
*
I ( M ) = k Re( a a ) = I 0 sin c (
2 λ0
'
Soit, avec θ = x / f 2 :

πxa   dx  
I ( M ) = I 0 sin c ( 2
) 1 + cos 2π
' 

' 
λ0 f 2   λ0 f 2  

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On retrouve bien l’expression du terme d’interférences, modulé par un terme dû à la diffraction
par une fente.

Les courbes suivantes ont été tracées avec regressi.


On a choisi : f’2 = 20 cm, λ0 = 0,5 µm, d = 1 mm.

Pour le 1er graphe, a = 0,1 mm.

Pour le 2nd, a = 0,2 mm (le pic de diffraction est alors moins étalé).

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I (10²- mª®) diffr (10²- mª®)
20

15

10

-1 -0.5 0 0.5 1
x (mm)

I (10²- mª®) diffr (10²- mª®)


20

15

10

-1 -0.5 0 0.5 1
x (mm)

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Remarque :
Pour retrouver l’image d’interférences décrite dans le chapitre sur les « Interférences », il faut que
la diffraction soit suffisamment importante, de façon à ce que la fonction sinus cardinal ait ses
premiers zéros rejetés très loin de O. Dans ce cas, on reste dans le pic central (qui est très étalé) et
on ne voit pas la décroissance lente de l’enveloppe. On considère ainsi que l’épaisseur e des fentes
tend vers zéro.

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VI) Diffractions et limitations d’un système optique :

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