Température de surface

Mesure par contact

par Jean-Pierre BARDON
Professeur à l’Institut des sciences de l’ingénieur en thermique, énergétique et matériaux
(ISITEM)
Université de Nantes
et Bernard CASSAGNE
Docteur ès sciences
Maître de conférence à la faculté des sciences et des techniques, université de Nantes

1. Notions fondamentales........................................................................... R 2 730 - 3

1.1 Complexité de la surface ............................................................................. — 3
1.2 Notion de température de surface .............................................................. — 3
1.3 Principe de la mesure d’une température de surface ............................... — 3
1.4 Sensibilité, inertie......................................................................................... — 3
1.5 Principaux phénomènes thermométriques................................................ — 4
1.6 Interaction avec l’environnement ............................................................... — 5
1.7 Impératifs conditionnant le choix d’une méthode..................................... — 5
2. Différents types de mesure par contact ............................................ — 6
3. Sources d’erreur dans les mesures par contact .............................. — 7
4. Erreurs liées aux transferts parasites dans les mesures
directes ........................................................................................................ — 7
4.1 Position du problème................................................................................... — 7
4.2 Description du modèle................................................................................. — 8
4.3 Modélisation de l’erreur en régime permanent......................................... — 9
4.4 Transposition à des configurations courantes ........................................... — 13
4.5 Modélisation de l’erreur en régime variable.............................................. — 16
4.6 Évaluation du coefficient d’erreur K ........................................................... — 19
4.7 Méthode thermoélectrique semi-intrinsèque ............................................ — 20
4.8 Paroi semi-transparente en présence de rayonnement
à courte longueur d’onde ............................................................................ — 22
5. Techniques de mise en œuvre des dispositifs courants ................ — 23
5.1 Systèmes fixes ou semi-fixes ...................................................................... — 23
5.2 Systèmes amovibles et appliqués par simple pression............................ — 26
5.3 Conclusion .................................................................................................... — 27
Pour en savoir plus ........................................................................................... Doc. R 2 730

esurer une température de surface est une opération difficile, sujette à de

M nombreuses erreurs et qui nécessite beaucoup de précautions. La con-
naissance de cette température de surface est pourtant indispensable, tant dans
le domaine de la recherche (dans le secteur des transferts thermiques, notam-
ment, la détermination correcte des températures de surface est cruciale), que
dans celui de nombreuses applications industrielles (fabrication de produits
divers, contrôle d’un traitement, détection de points chauds, etc.).
L’objectif de cette étude est de faire le point de l’état actuel des connaissances,
tant sur le principe des méthodes envisageables que sur les principales causes
d’erreur et les techniques de mise en œuvre. Mais, au préalable, il nous a paru

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indispensable de rappeler un certain nombre de notions fondamentales concer-

nant ces différentes méthodes et les impératifs qui conditionnent leur choix.
Les principales difficultés rencontrées lors de la mesure d’une température de
surface sont liées à la complexité géométrique ou physico-chimique de la sur-
face, à la notion même de température, au principe de sa mesure, enfin aux inte-
ractions de la surface avec l’environnement. Examinons successivement chacun
de ces points.

Notations et symboles
Symbole Unité Désignation Symbole Unité Désignation
E W.m-2 éclairement énergétique , m dimension
F, F’ .................. facteurs de forme rc, r c¢ K.W-1 résistances thermiques de contact
K, KJ, K J¢ .................. coefficients d’erreur rB K.W-1 résistance thermique de la barre
K (t) .................. erreur relative en régime transitoire rE K.W-1 résistance thermique globale de la
liaison
K (0) .................. erreur relative à t = 0 ri K.W-1 résistance thermique
K (¥) .................. erreur relative en régime permanent rM, rS, r S¢ K.W-1 résistances thermiques de constriction
L m dimension t s temps
Rc K.m2.W -1 résistance thermique de contact par t0, tr s temps de réponse
unité de surface
RS K.m2.W -1 résistance de contact (constriction) x m abscisse
Rf K.m2.W -1 résistance thermique de la couche fluide y m rayon du cercle de contact
interstitielle
S m2 surface apparente de contact yB m rayon de la barre thermométrique
T, T (t) K températures de surface exactes a ................... absorptivité de la surface
TE, T0 K températures extérieures équivalentes dq = T - q K erreur de mesure
Tf K température du fluide de l’enceinte e , ei ................... émissivités
TL K température finale du milieu q, q(t) K températures de surface mesurées
Tp K température perturbée qM K température de l’élément sensible
T p K température intermédiaire entre T et Tp l, lB, lc, W.m-1.K-1 conductivités thermiques du milieu, de
lD, lE la barre, de la couche, du disque, de la
liaison extérieure
TES K température de la source extérieure lJ, l J¢ W.m-1.K-1 conductivités thermiques
thermostatée
Tpe K température de la paroi de l’enceinte l W.m-1.K-1 moyenne harmonique des
conductivités
¢
T pe K température d’un élément de la paroi de lcr , W.s1/2.m-2.K-1 effusivités thermiques du milieu,
l’enceinte de la barre
lB cB rB
Tm K température mesurée par méthode r, rB kg.m-3 masses volumiques du milieu,
semi-intrinsèque de la barre
c, cB [Link]-1.K-1 capacités thermiques massiques s W.m-2.K-4 constante de Stefan
du milieu, de la barre
dS m2 élément de surface j’, jE W.m-2 densités de flux absorbé, dissipé
e, ec, ei, e i¢ m épaisseurs du capteur, de la couche Q, QA, K températures mesurées (conducteurs
interstitielle, des supports isolants QB séparés)
f V, W, W.m-2... grandeur thermométrique F W flux de chaleur total transféré
h, h’, h0 W.m-2.K-1 coefficients globaux de transfert F c , Fr W flux de chaleur transférés par
convection, par rayonnement
hc, hr W.m-2.K-1 coefficients de transfert par convection, FE W flux dissipé
par rayonnement

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1. Notions fondamentales 1.3 Principe de la mesure

d’une température de surface

L’importance de la mesure des températures de surface expli- ■ Différents types de méthodes

que les nombreux travaux et mises au point qui sont faits à son
sujet. On peut citer notamment, dans notre pays, les comptes Comme nous venons de le souligner, il s’agit de déterminer la
rendus des Journées sur les températures de surface, organi- température du petit élément de matière infiniment mince sous-
sées par la Société française des thermiciens [1] [2] et, plus jacent à l’élément dS. On utilise pour cela un capteur thermométri-
récemment, le numéro hors série de la Revue Générale de Ther- que en interaction thermique avec cet élément. C’est-à-dire que la
mique sur les mesures de température [3]. grandeur physique f qu’il mesure (grandeur thermométrique) doit
dépendre de la température de l’élément. On peut classer les diffé-
rentes méthodes de mesure selon la nature de cette interaction.
● Si l’interaction se fait par contact direct capteur-surface, on dit
que l’on a affaire à une méthode par contact. Dans ce type de
1.1 Complexité de la surface méthode, le capteur tend à se mettre en équilibre thermique local
avec l’élément. S’il y a adiabaticité du capteur avec l’extérieur, sa
température d’équilibre est égale à celle de la surface avec laquelle
il est en contact. C’est le principe de l’équilibre thermique, ou prin-
Elle est multiple. Tout d’abord, la microgéométrie de la surface est
cipe n° 0 de la thermodynamique. Le plus souvent, pour permettre
souvent très tourmentée (rugosités plus ou moins importantes et de
la lecture de f, il est nécessaire de prévoir une liaison matérielle
pente plus ou moins abrupte par rapport à la ligne moyenne). Elle ne
entre le capteur et l’extérieur (fils métalliques ou fibre optique pour
coïncide jamais rigoureusement avec la surface géométrique régu-
le raccordement à l’appareil de mesure). Cette liaison matérielle
lière qui nous sert schématiquement à la décrire et qui en constitue
pourra être la cause d’erreurs importantes dans ce type de métho-
l’enveloppe moyenne. Les propriétés physiques, chimiques, méca-
des qui restent toutefois parmi les plus employées.
niques, etc., de la surface sont souvent très différentes de celles d’un
élément de matière au sein du milieu. De plus, la surface présente Parfois, cependant, la lecture de f s’effectue par voie optique, sans
parfois des couches d’oxydes, des dépôts, des salissures qui peu- liaison matérielle avec l’extérieur. C’est le cas de méthodes qui utili-
vent encore affecter les mesures (notamment par rayonnement). sent des éléments thermosensibles déposés sur la surface et jouant
le rôle de capteur. Il s’agit bien de méthodes par contact puisque ces
Pour des solides non homogènes, tels que matériaux poreux (iso- éléments étrangers se mettent en équilibre thermique avec la sur-
lants, bois, oxydes réfractaires, etc.), la complexité de la surface est face, mais la manière dont s’effectue la mesure du paramètre ther-
encore plus grande et celle-ci plus mal définie. mosensible f les rapproche des méthodes par rayonnement, aussi
les classerons-nous à part.
● Si l’interaction se fait sans contact direct, le capteur pouvant
être très éloigné de la surface (capteur de rayonnement par exem-
1.2 Notion de température de surface ple), on dit qu’il s’agit d’une méthode sans contact. Tout en restant
en interaction avec l’élément de surface dS, le capteur n’est plus en
équilibre thermique avec lui, mais la grandeur physique qu’il
mesure dépend de son état thermique. Les techniques de mesure de
Elle se déduit de la notion importante de température dont nous température de surface, fondées sur l’analyse énergétique du rayon-
rappelons très brièvement quelques traits essentiels, renvoyant nement thermique émis ou réfléchi sur la surface, en constituent
pour plus de détail aux traités de thermodynamique [4] et aux arti- l’exemple le plus important. Elles ne seront pas considérées ici.
cles Thermodynamique, rubrique Physique du traité Sciences fon- ● Enfin, il existe un certain nombre de méthodes pour lesquelles
damentales. On sait qu’elle est proportionnelle à l’énergie l’interaction thermique est encore plus particulière. C’est, par exem-
d’agitation moyenne des particules qui constituent la matière, à ple, le couplage entre un champ magnétique créé par une bobine
l’équilibre thermodynamique. C’est donc une notion indissociable extérieure et les courants de Foucault qu’elle engendre dans la cou-
de celle de matière (il n’y a pas de température du vide). Parler de che superficielle. Leur intensité dépend de la résistivité de celle-ci,
température en un point d’un milieu matériel signifie, en fait, qu’il donc de sa température.
s’agit de la température d’un petit élément de volume entourant ce
point, suffisamment petit à l’échelle de notre observation pour être
considéré comme ponctuel, mais encore suffisamment grand pour
contenir un grand nombre de particules afin que la notion de 1.4 Sensibilité, inertie
moyenne ait un sens. Lorsque ce milieu est le siège de gradients de
température importants, on suppose l’élément de volume suffisam-
ment petit pour que l’équilibre thermodynamique y soit pratique- Quel que soit le type de méthode, le choix du capteur et, en parti-
ment réalisé. culier, de la grandeur thermométrique f doit être judicieux. La
méthode sera d’autant plus sensible que la variation de la grandeur
Parler, dans ces conditions, de température en un point de la sur- thermométrique avec la température T de la surface sera grande. On
face, si l’on considère celle-ci comme une entité géométrique sans caractérise la sensibilité de la méthode par le paramètre :
épaisseur, donc immatérielle, n’a pas de sens. La température de
surface ne peut représenter en fait que celle d’un petit élément de 1 df
matière immédiatement sous-jacent à l’élément d’aire dS centré en s = --- -------
f dT
ce point et appartenant à la frontière immatérielle milieu-extérieur.
Son épaisseur, très mince devant dS, doit rester suffisante pour que Si l’on veut, par ailleurs, effectuer des mesures de températures
la notion de température garde son sens (de l’ordre de 0,1 mm pour variables, le capteur devra présenter des caractéristiques telles que
des solides homogènes, à plusieurs micromètres, voire plus pour l’interaction capteur Û élément de surface atteigne l’équilibre en un
des milieux hétérogènes tels que isolants fibreux ou cellulaires). temps suffisamment petit pour que les variations de température du
Souvent, la dimension de dS est importante (très supérieure à la dis- milieu pendant ce même temps soient négligeables. On caractérise
tance séparant les rugosités) ; il s’agit alors d’une température ainsi l’inertie du dispositif par un temps caractéristique t* qui est
moyenne pour l’étendue de cet élément. soit sa constante de temps t, soit son temps de réponse tr. Pour le

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Ces dernières sont plus sensibles mais peuvent être un peu moins
Température T stables que les premiers. L’ensemble de ces thermomètres permet
d’explorer un domaine de température très étendu (- 200 à
+ 1 000 °C).
T (¥)
X ● Ils concernent ensuite les effets thermoélectriques qui pren-
T (t*) nent naissance dans un circuit électrique constitué de deux conduc-
teurs de type différent lorsque les températures T0 et T de leurs
jonctions sont différentes (couples thermoélectriques métalliques
ou à semi-conducteurs). La force électromotrice e résultante (f.é.m.
Seebeck) dépend, selon une loi non linéaire, de l’écart q = T - T0 et
T (0) de la température T0 de la jonction prise pour référence. On utilise
souvent une loi approchée de la forme :
0 t* Temps t 2
e=aq+bq
Figure 1 – Réponse du système à un échelon de température
Le domaine d’utilisation des différents couples thermoélectriques
couvre une gamme étendue qui va des très basses températures
(quelques kelvins) aux températures élevées (1 500, voire 2 500 °C
définir, on analyse la réponse du système à un échelon de tempéra- avec des métaux réfractaires ou des couples thermoélectriques non
ture (figure 1). métalliques). Leur sensibilité est plus faible que celle des thermomè-
Si T (0), T (t*), T(¥) désignent respectivement les températures tres à résistance, mais ils permettent des mesures plus ponctuelles.
mesurées à l’instant initial où débute l’interaction, à l’instant ● Ils concernent enfin des phénomènes thermosensibles variés
t*(t* = t ou tr) et lorsque l’interaction a atteint son équilibre (t ® ¥), mis en œuvre dans les capteurs de température à fibre optique.
t* est alors défini par la relation : L’élément sensible (microcavité corps noir, miroir bilame, pastille
semi-conductrice, éléments phospholuminescents...) est situé à
T(t*) Ð T(¥) l’extrémité de la fibre et délivre un signal optique qui est conduit le
---------------------------------- = X
long de la fibre jusqu’à l’appareil de mesure.
T(0) Ð T(¥)
● Parmi ces procédés qui nécessitent une liaison matérielle avec
Pour définir la constante de temps (t* = t), la valeur de ce rapport l’extérieur, d’autres procédés moins courants peuvent également
1 être envisagés. C’est le cas, par exemple, du niveau de bruit thermi-
est X = --- (e = 2,718..).
e que d’une résistance métallique pour des mesures à très basse tem-
Pour définir le temps de réponse à k x 10-n près (t* = tr), la valeur pérature, ou de la fréquence de résonance d’un cristal piézo-
de ce rapport est X = k x 10-n. électrique, phénomènes qui varient tous deux avec la température.

Cette constante de temps ou ce temps de réponse dépend non ■ Enfin, parmi les procédés moins classiques qui utilisent le dépôt
seulement du capteur et de la chaîne thermométrique, mais de ses sur la surface d’éléments thermosensibles et qui ne nécessitent pas
liaisons thermiques avec la surface et l’environnement. de liaisons matérielles avec l’extérieur, il faut rappeler les phénomè-
nes de base concernant les produits photoluminescents, les cristaux
liquides de type cholestériques, les peintures thermosensibles et,
enfin, les éléments fusibles ou ceux subissant un changement
1.5 Principaux phénomènes d’état.
thermométriques
● Phénomènes de luminescence

On donne (tableau 1) les principaux phénomènes thermométri- Certaines substances telles que des sulfures (ZnS), lorsqu’elles
ques pouvant être utilisés lors de la mesure d’une température de sont excitées par un rayonnement ultraviolet, sont capables d’émet-
surface, par contact ainsi que le domaine de température où ils peu- tre un rayonnement visible. Cette émission s’effectue simultané-
vent être envisagés. ment par fluorescence (émission spontanée) et par phospho-
rescence (émission retardée). Cette dernière subsiste longtemps
Les phénomènes envisageables comprennent tous ceux qui sont après l’excitation et la température a une action importante sur elle :
utilisés pour mesurer des températures au sein du milieu et tous l’émission s’affaiblit lorsque T augmente (phénomène d’extinction
ceux qui peuvent être mis en œuvre en raison de l’accessibilité de la thermique). Les sulfures ont un spectre d’émission qui comprend
surface à une observation directe. Nous ne les décrirons pas de une, deux, voire trois bandes et l’affaiblissement dépend de manière
manière détaillée ici, renvoyant pour une description complète aux très marquée de la longueur d’onde de la lumière émise. On observe
références [38] [39] [40] [41] dans ce traité. une modification de la couleur de la lumière émise avec la tempéra-
ture.
■ Parmi les procédés les plus classiques qui nécessitent une liaison
matérielle avec l’extérieur, il faut rappeler en premier ceux qui utili- Une première méthode, dite méthode de couleur, consiste donc à
sent les phénomènes électriques et qui trouvent leur fondement considérer comme paramètre thermosensible f le rapport des lumi-
dans la physique du solide. Ils sont bien connus. nances spectriques relatives à deux longueurs d’onde fixées l1 et l2.
● Ils concernent d’abord les variations, avec la température, de la Le domaine d’utilisation de cette méthode est compris entre - 240 et
résistivité électrique d’éléments conducteurs de l’électricité, tels + 200 °C. En raison de son principe même (extinction thermique),
que métaux ou semi-conducteurs. Le paramètre thermosensible est elle ne peut être utilisée à haute température.
la résistance électrique. Celle-ci varie selon les lois empiriques (T en Une seconde méthode, dite de phosphorescence, consiste à pro-
kelvins) : voquer une modulation de l’excitation UV du sulfure ; l’émission est
alors modulée, le taux de modulation de celle-ci ou son déphasage
R = R0 + a (T - T0) + b (T - T0)2 par rapport à l’excitation peut être choisi comme paramètre thermo-
sensible. Le nombre de sulfures envisageables est plus grand et le
pour les thermomètres à résistance métallique,
domaine d’application de cette méthode plus large (- 240 à
et R = a exp (b /T ) + 400 °C). On trouvera une documentation détaillée sur cette techni-
pour les thermistances. que de mesure très particulière en [5] [6] [7].

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Tableau 1 – Principaux phénomènes thermométriques

Domaine de température
Type de méthode Phénomène physique Nature
(°C)
Métaux - 260 à + 1 500
Par contact Force thermoélectrique
avec liaison matérielle pour Semi-conducteurs - 200 à + 600
la lecture du phénomène Métaux - 200 à + 1 000
(cf. § 2) Résistance électrique
Semi-conducteurs - 50 à + 500
Infrarouge - 40 à + 700
Sans contact (total ou spectral
[28] Rayonnement thermique
Pyrométrie optique 700 à 3 000
(total ou spectral)
Par contact
sans liaison matérielle pour Fluorescence - 240 à + 200
la lecture du phénomène Photoluminescence
ou avec liaison matérielle Phosphorescence - 240 à + 400
par fibre optique
Cristaux liquides 10 à 330
Couleur
(Cf § 1.5 du présent article) Peintures, papiers 40 à 1 400
Changements d’état Fusion, vaporisation 40 à 1 500

● Cristaux liquides gouttelettes (en régime de caléfaction) : le temps de vaporisation

d’une gouttelette dépend de la température de la surface.
On sait que ces substances possèdent des propriétés intermédiai-
res entre celles des solides cristallins et celles des liquides. Ils sont Enfin, en métallurgie, la modification de la dureté de certains allia-
fluides mais optiquement anisotropes. Parmi les trois grandes ges permet de connaître, par mesure de dureté après traitement, la
familles de cristaux liquides, les cristaux de type cholestériques peu- température maximale atteinte. On utilise pour cela des petits
vent être utilisés pour l’analyse des températures de surface ou, témoins implantés superficiellement sur la pièce à traiter.
plus exactement, des gradients superficiels. On sait en effet que,
dans ces cristaux, les molécules, qui ont une forme allongée, sont
réparties en strates équidistantes. Dans chaque couche, leurs
grands axes sont tous parallèles à une direction fixe. Mais cette 1.6 Interaction avec l’environnement
direction tourne d’un certain angle lorsque l’on passe d’une strate à
l’autre. L’axe d’orientation des molécules décrit donc, selon l’épais-
seur, une hélice. Cette structure hélicoïdale confère aux cristaux La surface est en général soumise à différentes interactions avec
cholestériques, lorsqu’ils sont éclairés en lumière blanche, la pro- le milieu qui l’environne. Ces interactions, de nature thermique,
priété de réfléchir les radiations lumineuses centrées sur une lon- électrique, chimique, mécanique, etc., peuvent être modifiées par la
gueur d’onde particulière l0 et dans une bande étroite de largeur mise en œuvre du capteur.
Dl » 20 nm. C’est ainsi que l’application d’un capteur sur la surface peut modi-
fier les transferts thermiques, par convection ou par rayonnement,
Cette longueur d’onde l0 varie avec la température et aussi avec
que l’élément dS avait avec l’extérieur ; la température superficielle
l’angle d’incidence. Sous une incidence donnée, on observe une
s’en trouve modifiée d’autant. Il en est de même du dépôt d’un film
modification de la couleur de la lumière réfléchie avec la tempéra-
liquide ou d’un revêtement qui modifie l’émissivité de la surface et
ture. C’est cette modification de couleur qui est choisie comme phé-
les échanges par rayonnement. Le capteur lui-même, soumis aux
nomène thermosensible. On trouvera tous les détails concernant
actions diverses du milieu extérieur, peut prendre une température
l’utilisation de ces cristaux dans les références [7] et [42].
d’équilibre très différente de celle de la surface qu’il est censé mesu-
● Peintures ou papiers thermosensibles rer. C’est le cas d’un capteur exposé à un rayonnement extérieur et
Ils changent de couleur à une température donnée (température qui ne présente pas les mêmes caractéristiques radiatives que la
de virage) ; la ligne de virage matérialise cette isotherme qu’il suffit surface.
d’observer ou de filmer lors d’un échauffement. Certaines peintures Enfin, l’action d’un champ électrique ou magnétique externe ou
utilisées en aéronautique peuvent présenter plusieurs températures interne, d’un rayonnement neutronique, une attaque chimique, une
successives de virage. action mécanique (accélérations), etc., peuvent provoquer une
modification de la réponse du capteur et une dégradation de celui-
La peinture Thermocolor 9150934 [8] possède trois virages
ci.
successifs : du vert au bleu vers 100 °C, puis du bleu au jaune vers
200 °C, enfin du jaune au noir vers 300 °C).

Contrairement à ce qui se produit pour les cristaux liquides, les

modifications de couleur sont le plus souvent, ici, irréversibles. Ils
1.7 Impératifs conditionnant le choix
existe cependant quelques peintures réversibles. d’une méthode
● Produits changeant d’état
Les plus utilisés sont des produits fusibles (crayons). Leur Ceux-ci sont liés à la nature du champ thermique à observer, au
domaine d’utilisation va de la température ambiante à 1 500 °C. type et au but de la mesure, à l’accessibilité de la surface, enfin à
Mais on a songé à utiliser le phénomène de vaporisation de fines l’agressivité de l’environnement.

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■ Nature du champ thermique

Il s’agit du domaine de température (basse, moyenne, haute), du
type de régime (champ permanent, variable, rapidement variable),
a b
de l’importance des gradients superficiels et sous-jacents (le signe
de ce dernier selon la direction normale revêt parfois une grande
importance). Figure 2 – Procédés de mesure directe

■ Type et but de la mesure

Ils peuvent être très divers selon qu’il s’agit d’une mesure ponc-
tuelle, ou moyenne sur une grande étendue, selon que cette mesure n n TS
est permanente, intermittente ou occasionnelle, selon enfin le but
assigné à la mesure : s’agit-il d’une simple mesure de contrôle,
d’une mesure comparative pour laquelle seule la reproductibilité a
une importance, ou bien d’une mesure de précision ? T3

■ Accessibilité de la surface
La surface n’est pas toujours accessible à une observation T2
directe ; la fixation ou l’insertion d’un capteur superficiel n’est pas
toujours envisageable. Le choix de la méthode dépend donc de ces
contraintes. T1

■ Agressivité de l’environnement
Température T
Nous avons déjà indiqué (§ 1.6) les diverses interactions avec le
milieu extérieur. Certaines de celles-ci, d’origine thermique
Figure 3 – Procédés de mesure indirecte
(influence d’un rayonnement extérieur), mécanique (accélération,
vibrations), chimique (corrosion), électrique, peuvent avoir une
influence si néfaste sur certaines méthodes qu’elles conduisent à les
éliminer. éléments thermométriques au sein du milieu et à différentes profon-
deurs de manière à connaître l’évolution du champ de température
Quelle que soit la méthode retenue, il faut savoir qu’elle s’accom-
pagne d’effets parasites qui doivent être bien connus. Les erreurs selon la normale n à la surface. L’extrapolation de ce champ
qui en résultent peuvent être classées en deux catégories : (figure 3) donne en principe la température TS de la surface. Cette
— les unes sont liées directement au phénomène thermométri- extrapolation est délicate. Elle est très sensible aux erreurs sur la
que choisi ; elles correspondent à l’imprécision sur la mesure du position des capteurs et sur la mesure des températures. Elle sup-
paramètre thermosensible et aux effets parasites attachés à ce pose aussi que l’on connaisse localement la forme de la loi théori-
phénomène ; que d’évolution de la température dans la couche sous-jacente ou
— les autres sont liées au fait que l’interaction thermomètre- que l’on sache la déterminer de manière approchée.
surface provoque une perturbation locale du champ de température
que l’on souhaitait mesurer ; la température de la surface n’est plus En régime permanent, cette extrapolation est assez facile, notam-
celle qui y régnait avant la mise en œuvre du thermomètre. ment dans le cas de champs unidirectionnels pour lesquels la loi de
température est linéaire, logarithmique ou hyperbolique selon qu’il
s’agit d’un problème plan, à symétrie cylindrique ou sphérique.
En régime transitoire, cette extrapolation est beaucoup plus déli-
2. Différents types de mesure cate en raison du processus même de conduction de la chaleur, qui
fait qu’un signal thermique se déforme et s’amortit en progressant.
par contact (Les composantes de haute fréquence du spectre de Fourier se pro-
pagent, s’amortissent et se déphasent plus vite que celles de basse
fréquence.) Il en résulte que le sens dans lequel le phénomène ther-
Deux types de procédés peuvent être envisagés selon que cette mique progresse de l’intérieur vers la surface ou de la surface vers
détermination de la température de surface est directe ou indirecte. l’intérieur est très important pour une bonne détermination de la
température de surface. Dans le cas où le phénomène thermique
■ Procédés de mesure directe
progresse de l’intérieur vers la surface, l’extrapolation du champ
Ils consistent à déterminer la température de la surface en appli- interne jusqu’à la surface est relativement sûre.
quant directement l’élément thermométrique sur celle-ci
(figure 2 a) ou bien en insérant, lorsque cela est possible, le capteur Par contre, dans le cas contraire, cette extrapolation est à décon-
thermométrique de faible épaisseur dans la couche superficielle seiller car elle devient d’autant plus « scabreuse » que le capteur est
(figure 2 b). Les capteurs peuvent être de formes variées (disque ou éloigné de la surface et que le phénomène transitoire est rapide. En
plaque mince, cylindre, etc.), ou encore être déposés en couche effet, une partie plus ou moins importante du signal a été définitive-
mince sur la surface. Il est nécessaire qu’ils soient en contact le plus ment perdue au cours de sa progression de la surface jusqu’au cap-
intime possible avec le milieu et qu’ils perturbent le moins possible teur le plus proche et il est illusoire de penser pouvoir le
les transferts de chaleur superficiels (cela n’est pas toujours bien reconstituer. De plus, pour déterminer la température à l’instant t,
réalisé). on a besoin de connaître les températures au sein du milieu à des
instants t ’ supérieurs à t. (Le signal met un certain temps avant
■ Les techniques de mise en œuvre seront décrites au d’arriver au droit du capteur.)
paragraphe 5.
Malgré cette restriction, cette technique d’extrapolation, quand
■ Procédés de mesure indirecte. Mesures inverses elle peut être mise en œuvre, présente un avantage considérable sur
● Ces procédés consistent à déterminer la température de surface les mesures directes car les capteurs ainsi implantés ne perturbent
à partir de mesures de températures effectuées au sein du milieu, pas la température superficielle et, si la position de ces capteurs est
dans la couche subsurfacique et le plus près de la surface possible. connue avec une grande précision, elle conduit à une détermination
La technique la plus simple et la plus ancienne consiste à placer des beaucoup plus précise.

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● Depuis quelques années, de grands progrès ont été effectués

dans le domaine des méthodes de conduction inverse et ont permis
d’élargir le champ d’application de la méthode de mesure indirecte Convection + rayonnement
à des phénomènes transitoires variés, notamment ceux se dévelop-
pant de la surface vers l’intérieur du milieu. Dans celles-ci, la tempé- q Convection + rayonnement
rature de surface est encore déterminée à partir de mesures (une ou
plusieurs) effectuées au sein du milieu, mais l’avantage considéra- Conduction
ble qu’elles présentent, par rapport aux simples techniques d’extra-
polation précédentes, est qu’elles permettent de minimiser Conduction
Lecture de f
l’amplification catastrophique des erreurs. Il n’est pas possible, dans
le cadre de cet article, de décrire ces méthodes inverses en détail. Le
lecteur pourra se reporter à [9] [10] [11] qui constituent des référen-
ces dans le domaine, ainsi qu’aux comptes rendus de l’École de
Printemps du GUT organisée en 1995 intitulée « Métrologie thermi-
que et techniques inverses » où l’on trouvera de nombreux exem-
ples d’application [12].
Figure 4 – Transferts de chaleur parasites du milieu
Nous donnons simplement ici leur principe. Ces méthodes relè-
vers le thermomètre, et du thermomètre vers l’extérieur
vent d’une classe de problèmes mathématiques dits mal posés ou
inverses car on ne peut être assuré, pour chacun d’eux, de l’exis-
tence d’une solution, de son unicité ou de sa stabilité. La technique
consiste à remplacer le problème mal posé par un problème appro- Nota : à ce propos, on pourra consulter la référence [13] qui traite des circuits thermo-
électriques métalliques et de certains de ces effets.
ché mais bien posé. L’existence d’une solution à ce problème appro-
ché est assurée en imposant à la solution de minimiser une norme ■ Parmi les techniques moins classiques mettant en œuvre des élé-
au moindre carré plutôt que de l’annuler strictement. Cette norme, ments thermosensibles déposés sur la surface, on peut signaler très
qui fait apparaître les écarts quadratiques entre solution estimée et brièvement :
mesures, comporte un terme de régularisation destiné à réduire les
oscillations ou instabilités du calcul. L’écriture de cette norme impli- — pour les techniques par photoluminescence, la sensibilité de
que que l’on dispose d’une solution exacte (analytique ou numéri- certains sulfures à l’humidité, leur vieillissement ;
que) du problème direct (c’est-à-dire celui consistant à calculer le — pour les techniques par cristaux liquides, les variations de sen-
champ de température interne à partir de la donnée de la tempéra- sibilité dues à la non-linéarité de la relation température-couleur ;
ture de surface supposée a priori connue). La minimisation de la — pour les peintures thermosensibles, le flou de la ligne de
norme fait apparaître aux points de mesure internes les dérivées de virage et, pour certaines peintures, la dérive dans le temps de cette
la solution estimée par rapport à la température de surface à déter- température de virage.
miner et que l’on appelle les coefficients de sensibilité. Une grande Pour plus de détails concernant ces causes d’erreurs, on consultera les références [13]
valeur de ceux-ci est à rechercher car elle signifie une faible sensibi- [14] [5] [6] [8].
lité aux erreurs et une estimation plus sûre de TS. Une fois celle-ci Les erreurs de la seconde catégorie, liées à la perturbation du
faite, le calcul des résidus entre solution trouvée et mesures est par- champ thermique que provoque l’application du capteur, consti-
ticulièrement précieux car il constitue la signature du modèle direct tuent souvent, dans les méthodes par contact, les erreurs les plus
et permet de tester sa validité. Si ces résidus se distribuent de importantes. Aussi allons-nous les analyser plus finement.
manière purement aléatoire (valeur moyenne nulle), le modèle
direct est correct, sinon le modèle direct est biaisé et doit être amé-
lioré.
4. Erreurs liées
aux transferts parasites
3. Sources d’erreur dans dans les mesures directes
les mesures par contact
Nous avons déjà précisé (cf. § 1) qu’elles pouvaient être classées 4.1 Position du problème
en deux catégories :
— les erreurs liées à la mesure du phénomène thermométrique ;
Les transferts de chaleur qui se produisaient par convection et
— les erreurs liées à la perturbation du champ thermique que rayonnement à la surface du solide sont modifiés par l’application
provoque l’application du thermomètre. du capteur thermosensible. Tout d’abord sa surface n’a pas les
Les premières sont identiques à celles que l’on rencontre dans les mêmes propriétés radiatives et, s’il fait saillie sur la surface, la
techniques de mesure de température au sein d’un milieu. Elles sont convection peut y être plus intense. Il en résulte un transfert de cha-
liées à l’imprécision sur la mesure du paramètre thermosensible f, et leur parasite du milieu vers le capteur et du capteur vers l’extérieur.
aux effets parasites inhérents au phénomène thermométrique Ce transfert parasite est encore accru s’il existe une liaison maté-
choisi. Il n’est pas de notre propos de les décrire ici en détail. rielle qui relie le capteur à l’extérieur. Il s’effectue par conduction au
■ Parmi les procédés classiques, nous citerons simplement, pour sein du milieu vers l’élément thermosensible, puis par convection et
mémoire, les singularités rencontrées dans les lois de variation de la rayonnement vers le milieu extérieur ou par conduction, convection
résistance électrique dues à des modifications de structure (trans- et rayonnement le long de la liaison matérielle lorsque celle-ci existe
formations allotropiques, etc.), à des attaques chimiques, et, pour (figure 4).
les circuits thermoélectriques, les nombreux effets parasites tels Enfin, une génération de chaleur au niveau de l’élément sensible
que force électromotrice induite, effet de pile pour des soudures non peut également se produire : c’est, par exemple, le cas de l’effet
neutres, modifications de la force thermoélectrique dues à des hété- Joule dans une résistance ou de l’effet Peltier dans un couple ther-
rogénéités, des modifications de structure, des jonctions non ponc- moélectrique parcouru par un courant, mais l’importance de ces
tuelles et non isothermes. deux effets est souvent négligeable devant le flux parasite transféré

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[14]. Par contre, la dissipation en chaleur de rayonnements divers

(faisceau de neutrons, rayonnement haute fréquence, etc.) au sein T pe
'
du capteur peut provoquer des effets beaucoup plus importants sur
son équilibre thermique.

Tous ces transferts parasites provoquent, à l’endroit même de la

mesure, une perturbation locale du champ de température, positive
ou négative selon qu’il y a diminution ou accroissement des trans-
ferts de la surface vers l’extérieur. La température de surface n’est
plus T mais Tp. De plus, la température du thermomètre, q, n’est en
général pas égale à cette température perturbée Tp, car les condi- T hTE
tions de contact du thermomètre avec la surface, toujours imparfai- Milieu 2yB
tes, font que sa température q diffère d’autant plus de Tp que la l y
x
résistance thermique de contact rc est grande, et que le flux de cha-
leur traversant l’interface capteur-surface est grand. Tp q (élément sensible)

Pour des mesures en régime variable s’ajoutent les influences des

différences de capacité thermique entre le thermomètre et le milieu,
et des températures initiales. Milieu extérieur

L’étude des erreurs qui résultent de ces transferts parasites néces-

site donc la résolution de problèmes de transferts thermiques com-
plexes toujours variés en raison de la diversité des configurations et Tf
des conditions liées à l’environnement. Elle suppose l’élaboration
de modèles mathématiques adaptés à chaque cas. Nous nous pro- Tpe
posons ici de présenter un modèle très schématique mais typique
qui va permettre de bien mettre en lumière le rôle respectif de la Figure 5 – Description du modèle
conduction au sein du milieu, de l’imperfection du contact entre le
thermomètre et la surface, enfin des échanges avec l’environne-
ment. La plupart des conclusions de cette étude [15] [16] pourront
être transposées à un certain nombre de configurations couram- Tpe
ment utilisées dans la pratique. Nous considérerons successive-
ment les mesures en régime permanent et en régime transitoire.
Mais, auparavant, il nous faut décrire le modèle sur lequel nous T 'pe
allons travailler. Fc Fr
Fluide Tf

4.2 Description du modèle dS

Figure 6 – Stylisation des transferts superficiels

On considère un milieu opaque au rayonnement, de grande
dimension, limité d’un côté par une surface plane à température uni-
forme T (figure 5). L’élément sensible, que nous supposons infini- Le flux transféré par rayonnement dépend de l’émissivité e et de
ment mince, est en contact imparfait (résistance de contact Rc par l’absorptivité a de la surface : c’est la différence entre les flux de
unité de surface apparente) avec la face plane selon un cercle de rayonnement émis et absorbés par la surface dS :
rayon y. La liaison avec l’extérieur est schématisée par une barre de
caractéristiques connues, de rayon yB excepté au niveau de la sec- Fr = es T 4 dS - a E dS
tion x = 0, supposée circulaire et de rayon y. Le milieu extérieur est
assimilé à une enceinte fermée contenant un fluide à température Tf E étant l’éclairement énergétique et s la constante de Stefan.
que nous supposons, pour simplifier, transparent aux radiations
thermiques. Dans un but de simplification, on suppose aussi que la Dans notre stylisation, nous supposerons que la surface est grise,
paroi de l’enceinte est assimilable à une surface noire (émissivité à émission et réflexion diffuse isotropes, de sorte que a = e.
e » 1) à température Tpe voisine de T, excepté un élément à tempé-
¢ >> T .
rature T pe Le flux de chaleur transféré par rayonnement est alors proportion-
nel à l’émissivité e de la surface, et il peut se mettre sous la forme :
■ Stylisation des transferts superficiels
F r = es F ¢ ( T 4 Ð T pe
¢4 ) + F ( T 4 Ð T 4 ) d S
pe
Les transferts de chaleur entre un élément de surface dS (apparte-
nant au milieu ou au capteur ou à la liaison) et l’environnement exté-
rieur s’effectuent par convection avec le fluide et par rayonnement F et F ’ sont les facteurs de forme des différents éléments de parois
avec les parois directement visibles (figure 6). Dans le cadre de vus de l’élément dS. Compte tenu des hypothèses faites dans notre
notre modèle, il est possible de les styliser simplement en introdui- modèle, il est possible de donner une expression approchée de Fr.
sant les notions classiques de coefficient global de transfert et de ¢
température équivalente. Tout d’abord, T pe étant très supérieur à T, on peut négliger T4
devant T ¢4
pe et poser :
Le flux transféré par convection est :
¢4 dS
j’ dS = e s F ’ T pe
Fc = hc (T - Tf ) dS
j’ représente la densité de flux absorbé par dS et provenant de l’élé-
hc étant le coefficient local de convection. ment à haute température qui rayonne sur lui.

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Par ailleurs, Tpe étant voisin de T, on peut linéariser le second

terme en introduisant la notion classique de coefficient de rayonne-
ment hr :

e s F ( T 4 Ð T pe
4 ) d S » h ( T Ð T )d S
r pe

avec h r = 4 e s F T pe
3
T y
T pe est une température intermédiaire entre T et Tpe que nous 0
supposerons constante. On voit que le coefficient de rayonnement
est proportionnel à l’émissivité de la surface.
Le flux de chaleur total transféré de l’élément dS vers l’extérieur
peut alors s’écrire : 10y

F = Fc + Fr = [hc (T - Tf) + hr (T - Tpe) - j’] dS

soit encore, en posant h = hc + hr : Figure 7 – Effet de macroconstriction au sein du milieu
h c T f + h r T pe + j ¢
F = h (T - TE) dS avec T E = ---------------------------------------------
h
■ Effet de macroconstriction au sein du milieu
h est le coefficient global de transfert de la surface vers l’environ-
nement, TE un paramètre qui a la dimension d’une température et Il est provoqué (figure 7) par la convergence des lignes de courant
qu’on appelle température équivalente. Elle dépend de hc, hr, Tf, Tpe thermique vers la zone de mesure (p y2). Il en résulte que, au niveau
et j’. En particulier, TE croît avec le flux j’ absorbé par l’élément dS de cette zone, la température perturbée Tp est reliée à la tempéra-
et provenant de l’élément extérieur à température T pe ¢ >> T . Il ture au loin T, c’est-à-dire à la température exacte qu’il y avait en
pourra même arriver, si j’ est assez grand, que TE devienne supé- surface avant d’y appliquer le thermomètre, par la relation :
rieur à T et que les transferts de chaleur soit inversés. T - Tp = rM F (1)
On peut noter aussi que si Tpe = Tf, l’expression de TE se simplifie :
rM étant la résistance de macroconstriction ; elle est due à la conver-
j¢ gence des lignes de flux vers le cercle de contact. Son calcul, dans
T E = T f + -----
h l’hypothèse d’un milieu semi-infini, est classique [17] ; on obtient les
deux expressions :
avec, encore, h = hc + hr
1 8
Par ailleurs, lorsque l’élément dS est le siège d’une dissipation r M = ---------- ou r M = ----------------- (2)
d’énergie FE = jE dS par effet Joule, effet Peltier ou absorption de 4 yl 3p 2 yl
rayonnements divers autres que thermique (flux neutronique,
rayonnement haute fréquence, etc.), le bilan du flux total transféré selon que l’on suppose le cercle de contact isotherme ou traversé
s’écrit : par un flux de densité uniforme (l est la conductivité thermique du
milieu).
F = Fc + Fr - FE = h (T - TE) dS Le calcul montre également que l’essentiel de la perturbation de
température est localisé au voisinage immédiat du cercle de contact
h c T f + h r T pe + j ¢ + j
avec T E = ----------------------------------------------------------E (94 % de la chute T - Tp s’effectuent à l’intérieur de la sphère de cen-
h tre O et de rayon 10 y).
et h = hc + hr inchangé. ■ Effet de résistance de contact à l’interface milieu-thermomètre
Il est responsable de la chute de température Tp - q entre tempé-
rature perturbée et température mesurée. On a :
4.3 Modélisation de l’erreur en régime Tp - q = rc F (3)
permanent
où rc représente la résistance thermique de contact pour l’aire p y 2 :
rc = Rc/(p y 2). Cet effet est lié à l’imperfection du contact, qui résulte
On considérera successivement les cas où les transferts superfi- des irrégularités des surfaces.
ciels sur la surface dont on veut mesurer la température sont ou ne Le contact entre deux milieux solides ne s’effectue qu’en un cer-
sont pas négligeables. tain nombre de zones de faible surface (» 1 %) entre lesquelles sub-
siste un milieu interstitiel (figure 8).
● Lorsque la conductivité du milieu interstitiel est petite devant
4.3.1 Transferts superficiels négligeables
celle des milieux en contact (cas des milieux conducteurs), il se pro-
duit une convergence des lignes de flux vers les zones de contact,
En l’absence du capteur, le milieu est alors à une température uni- qui provoque un effet de microconstriction analogue à celui décrit
forme T que nous supposerons supérieure à la température équiva- précédemment mais à l’échelle microscopique des aspérités. La
lente TE caractérisant les transferts entre la liaison thermométrique résistance de contact par unité de surface Rc peut être considérée,
et l’extérieur. L’application du capteur thermométrique provoque en première approximation, comme la résultante de deux résistan-
une perturbation locale du champ thermique, car un flux de chaleur ces RS et Rf en parallèle. L’une, RS, représente les effets de micro-
F est transféré par le capteur vers l’extérieur (si TE > T, le flux serait constriction et caractérise les transferts de chaleur par contact
inversé). Soit q la température du capteur situé en x = 0, c’est-à-dire solide - solide. L’autre, Rf, représente la résistance thermique de la
la température mesurée. L’erreur de mesure d q = T - q résulte de la couche fluide interstitielle.
conjonction de trois effets.
● Lorsque la conductivité du milieu interstitiel est voisine de
Bien qu’il serait plus logique de définir l’erreur par dT = q - T, la définition d q = T - q a été
choisie car elle représente la correction que l’on devrait ajouter à la mesure q pour obtenir celle des milieux en contact, l’effet de microconstriction devient très
T. faible et la résistance de contact se réduit pratiquement à celle de la

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lE

lD

Figure 9 – Utilisation d’un disque de contact de bonne conductivité

thermique

ses pour la mise en œuvre des différentes techniques de mesure par

contact. Nous verrons aussi qu’il pourra être encore utilisé pour
l’évaluation des erreurs en régime transitoire, à condition de ne pas
Figure 8 – Effet de résistance de contact à l’interface considérer celles-ci dans les premiers instants. Il faut noter, cepen-
milieu-thermomètre dant, qu’il n’est valable que tant que les hypothèses qui ont permis
de linéariser les échanges radiatifs restent vérifiées (§ 4.2). En parti-
culier, la température mesurée q doit rester très inférieure à celle,
lame interstitielle. Elle peut être parfois négligée car elle est souvent T p¢ , des sources à haute température.
petite devant celle des milieux eux-mêmes. ■ Conséquences importantes pour les techniques de mesure par
■ Effet d’ailette contact en régime permanent
Il est responsable des échanges de chaleur entre la partie exté- De l’expression de l’erreur ainsi établie pour cette configuration
rieure du thermomètre et le milieu ambiant : quelle que soit la forme simple, on peut dégager un certain nombre de conséquences impor-
de cette partie (barre à section uniforme ou à section variable), le tantes dont la plupart seront valables pour d’autres configurations.
flux de chaleur F transféré entre la face x = 0 et le milieu extérieur ● Tout d’abord, même pour des conditions de contact parfaites
est relié à l’écart entre la température q sur la face x = 0 et la tempé- rc = 0, il y a une erreur qui dépend du rapport rE/rM.
rature extérieure équivalente TE par : ● Si la mesure est effectuée sur un bon conducteur de la chaleur
(l grand), la résistance de macroconstriction rM = 1/(4yl) va être en
q - TE = rE F (4)
général petite devant rc et l’erreur sera surtout déterminée par rc. Il
faudra donc veiller à ce que rc soit le plus faible possible et reste sta-
rE représentant la résistance thermique globale entre la face x = 0 et
ble. La pression de contact devra être forte (on pourra utiliser un res-
le milieu extérieur. Elle fixe globalement les échanges avec le milieu
sort) et constante, la surface devra être plane, sans ondulation, le
extérieur. Elle dépend en particulier de la géométrie, du coefficient
milieu interstitiel le plus conducteur possible (soudure, graisse) ; on
global de transfert superficiel h et de la conductivité thermique lE de
évitera les films d’oxydes ainsi que les chocs et les vibrations méca-
cette liaison extérieur.
niques qui peuvent modifier considérablement rc et, par consé-
■ Conjonction des trois effets quent, l’erreur de mesure.
Des relations (1), (3) et (4) on déduit : ● Pour des mesures sur un isolant (l faible), rM est grande et, en
général, très supérieure à rc. L’effet de macroconvergence va avoir
T Ð TE un rôle prépondérant sur l’erreur. On pourra le réduire en augmen-
F = ----------------------------
- tant le rayon y de l’élément sensible, sans pour autant augmenter
rM + rc + rE les sections ultérieures de la liaison extérieure. On utilisera à cet
effet un disque de contact de bonne conductivité thermique lD
et l’erreur de mesure : (figure 9).
d q = K ( T Ð TE ) ● Quel que soit le type de mesure, la résistance rE de la liaison
extérieure devra être maximale. La section, la conductivité lE et le
coefficient latéral global de transfert h de cette liaison seront choisis
1 le plus faibles possible : faible émissivité de la surface, liaison à
avec K = ---------------------------- (5)
rE l’abri des mouvements fluides importants ou des rayonnements
1 + ----------------- -
rc + rM issus de sources à haute température. On voit en particulier que, si
le flux j' absorbé par la liaison est important, TE peut devenir supé-
rieur à T, les transferts parasites sont inversés, et l’erreur devient
négative. Ces rayonnements de sources à haute température sur les
L’erreur commise est donc proportionnelle à l’écart entre la
fils de jonction ou sur la surface du capteur constituent l’une des
température à mesurer et la température extérieure équiva-
causes principales d’erreur à haute température ; ils doivent être
lente, le coefficient d’erreur K étant d’autant plus faible que la
évités. On peut noter que, lorsque la liaison est faite par un fil fin
somme des résistances de macroconstriction rM et de contact rc
(couple thermoélectrique), l’adjonction d’une gaine isolante a sou-
seront faibles devant la résistance de la liaison extérieure rE.
vent pour effet d’augmenter les échanges latéraux et, par consé-
quent, l’erreur.
Ce modèle très simple, que nous avons proposé il y a quelques ● Enfin, l’erreur est d’autant plus faible que TE est proche de la
années [18], permet de bien expliquer les erreurs de mesure en température à mesurer T. Elle varie avec TE. On pourra, au prix
régime permanent. En particulier, il fournit des indications précieu- d’une complication technologique, remplacer la liaison entre le ther-

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momètre et le milieu ambiant extérieur, par une liaison entre le ther-

momètre et une source extérieure thermostatée. On s’affranchit
ainsi des variations éventuelles de température du milieu ambiant. j
Couche
■ En réglant la température TES de cette source, la plus proche pos- T limite
sible de T, on réduit considérablement les échanges de chaleur et,
par conséquent, l’erreur de mesure. C’est le principe des sondes l h0
dites à compensation de flux. Toutefois, pour que la mesure soit cor- T0
recte, il faut que la résistance rE de la liaison entre le thermomètre et
la source extérieure thermostatée reste grande. Cela n’est malheu-
reusement pas toujours respecté dans certaines réalisations, et le
champ de température local se trouve perturbé par le système de
compensation. Cette condition TES = T n’est, en fait, rigoureuse que Figure 10 – Surface plane présentant des échanges avec l’extérieur
lorsque les transferts superficiels sont négligeables.

Exemple : applications numériques.

4.3.2 Transferts superficiels non négligeables
x Mesure par couple thermoélectrique avec et sans disque de
contact (tableau 2). Nous considérons ici la mesure de la température de surface d’un
L’ensemble des deux fils du couple thermoélectrique est assimilé à milieu de grande dimension limité par une surface plane mais sur
une barre de section circulaire uniforme, de rayon yB = 0,5 mm, de lon- laquelle les échanges par convection et rayonnement avec l’exté-
gueur infinie, de conductivité moyenne lB = 25 W.m-1.K-1 et de coef- rieur ne sont plus négligeables. Nous supposerons qu’ils peuvent
ficient de transfert h = 10 W.m-2.K-1. La résistance de cette barre est : être caractérisés localement par un coefficient global de transfert h0
et une température extérieure équivalente T0 (pas forcément identi-
1 ques à ceux, h et TE, qui caractérisent les transferts le long de la
r B = ----------------------------------- (solution de la barre) (6)
p y B 2 hy B l B barre thermométrique, car le coefficient local de convection et
l’émissivité de cette surface n’ont aucune raison d’être les mêmes
que sur la barre). Le milieu est le siège d’un gradient de température
La résistance de la liaison extérieure est donc :
normal à cette face et la température superficielle est T (figure 10).
rE = rB lorsqu’il n’y a pas de disque de contact. L’application du thermomètre perturbe en général les transferts
1 superficiels et la couche limite qu’il traverse. Les transferts superfi-
r E = r B + -------------------- avec disque de contact. ciels peuvent être alors soit accrus, soit réduits, soit inversés.
4 yB lD
L’analyse qui a été faite précédemment pour une surface isolée
1/4yBlD représentant la résistance due à la convergence des lignes de
doit être corrigée pour tenir compte de la présence du flux de con-
flux de y à yB au sein du disque.
vection. Si le flux F évacué par le capteur et sa liaison vers l’exté-
On voit clairement, dans le tableau, les influences prépondérantes rieur est différent du flux de convection F0 = h0 (T - T0) py2 qui
de rM pour les mesures sur l’isolant et de rc pour les mesures sur le préexistait avant l’application du capteur sur la même aire py2, le
conducteur. champ de température superficiel T est perturbé. Une analyse fon-
dée sur le principe de superposition montre que l’écart T - Tp doit
x Influence du rayonnement absorbé par le fil de liaison et pro-
¢ être proportionnel à F - F0 et à la même résistance de macrocons-
venant d’une source à haute température ( T pe = 1 300 K )
triction que celle établie pour une surface isolée.
Cet exemple très simple concerne la mesure sur un milieu conduc-
teur (l = 100 W.m-1.K-1) au moyen d’un couple thermoélectrique sans On a donc les relations :
disque de contact ayant les mêmes caractéristiques que celles du cou-
ple thermoélectrique de l’application précédente (en particulier, même T - Tp = rM (F - F0)
coefficient de transfert superficiel h = 10 W.m-2.K-1, même coefficient
d’erreur K = 0,094). La température de la surface à mesurer est Tp - q = rc F
T = 40 °C. Le milieu extérieur est de l’air (Tf = 20 °C) et est limité par
des parois à la même température Tpe = 20 °C. On suppose que q - TE = rE F
l’émissivité du fil est e = 1 et que le facteur de forme de la source à
haute température, vue d’un point du fil, est F = 5 x 10-3. Le flux On en déduit :
absorbé par unité de surface est donné par la relation :
T Ð TE + rM F0
¢4
j¢ = sFT pe F = ------------------------------------
-
rM + rc + rE
s = 5,72 x 10-8 W.m-2.K-4 étant la constante de Stefan.
et l’erreur de mesure dq = T - q :
Il en résulte que :

¢4 rM rE
j¢ sFT pe d q = K ( T Ð T E ) Ð ----------------------------- F 0
T E = T f + ------ = T f + -------------------- rM + rc + rE
h h

soit TE = 20 + 81,7 = 101,7 °C rM + rc

Dans cette expression, K = ----------------------------
- est le même coefficient
L’écart T - TE = - 61,7 est négatif ainsi que l’erreur de mesure rM + rc + rE
que celui caractérisant l’erreur sur une surface isolée. On voit donc
d q = K (T - TE) = - 5,8 °C
ici que l’erreur dq n'est pas la même en raison de la présence du
En l’absence de source à haute température, l’écart second terme lié à l’existence d’un flux de convection.
T - TE = T-Tr = 20 °C serait positif, ainsi que l’erreur :
Selon l’intensité de celui-ci, l’erreur peut être positive ou négative
d q = 1,9 °C ou nulle.

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Tableau 2 – Valeurs des résistances

Nature Disque rM Rc rc rE
K
de la paroi (1) (K.W-1) (K.m2.W-1) (K.W-1) (K.W-1)

Conductrice sans 5 10-4 127 1 273 0,094

(l = 100 W.m-1.K-1) avec 0,25 10-4 0,32 1 293 0,0004

Isolante sans 5 000 10-3 1 270 1 273 0,831

(l = 0,1 W.m-1.K-1) avec 250 10-3 3,20 1 293 0,164
(1) y = 10 mm, lD = lB.

■ L’erreur est nulle pour la valeur critique F0c telle que :

rM rE
K ( T Ð T E ) = ----------------------------- F 0c
rM + rc + rE
rM + rc x
soit F 0c = p y 2 h 0 ( T Ð T 0 ) = ------------------ ( T Ð T E )
rM rE
rM + rc T Ð TE
ou encore pour p y 2 h 0 = ------------------ ----------------
rM rE T Ð T0
Température
■ Pour F0 < F0c, l’erreur est positive et
Tp
pour F0 > F0c, l’erreur est négative. T

q
■ Enfin, lorsque le flux F évacué par le capteur est égal à F0, T - Tp T0
est nul et : TE

TÐT 0 x
h 0 p y 2 ( T Ð T 0 ) = ---------------E-
rc + rE Figure 12 – Cas où l’application du thermomètre réduit les échanges
superficiels
Le champ de température initial n’est pas perturbé par la présence
du capteur, mais il n’en demeure pas moins une erreur de mesure
en raison de la résistance de contact.

Les figures 11, 12 et 13 illustrent ces différentes situations.

F F
x x

Température Température
Température
T T0
TE
q T
T0
Tp Tp Tp
q q
T
TE TE
T0
0 x 0 x 0 x
a TE > T b TE < T
T0 < T T0 > T

Figure 11 – Cas où un flux de chaleur important traverse l’aire Figure 13 – Cas où l’application du thermomètre inverse
de mesure les échanges superficiels

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Rayonnement
A B A B
Rayonnement

qM

ri
qM
Figure 14 – Échanges le long de la liaison extérieure ri q q

4.4 Transposition à des configurations Tp Tp

courantes a élément thermosensible en bon b élément thermosensible
contact avec la gaine (soudure) isolé de la gaine
A, B éléments du couple thermoélectrique gainé
Les résultats précédents peuvent se transposer, à quelques nuan-
ces près, à un certain nombre de configurations courantes. Quelle Figure 15 – Sondes aiguilles thermométriques gainées
que soit la forme de ces dispositifs, des transferts de chaleur parasi-
tes plus ou moins importants subsistent et les trois effets :
— de convergence des lignes de flux au sein du milieu ; Examinons plus particulièrement quelques configurations typi-
— de résistance de contact entre le thermomètre et la surface ; ques.
— d’échange entre le capteur et l’extérieur,
se retrouvent.
■ Effet de convergence 4.4.1 Sondes thermométriques gainées ou sondes
Il peut encore être caractérisé par une résistance rM dont l’expres-
aiguilles (figure 15)
sion analytique est liée à la forme du dispositif. Il est surtout impor-
tant pour des mesures sur des milieux isolants. L’analyse faite (§ 4.3.1) se transpose intégralement, rc étant rem-
■ Effet de résistance de contact placé ici par r c¢ = r c + r i . Le coefficient d’erreur peut être très impor-
tant dans ce second cas.
Il reste surtout important pour des dispositifs non soudés sur la
surface (dispositif semi-fixe ou amovible) et dans le cas de mesures Exemple : calcul des différentes résistances et du coefficient
sur des milieux conducteurs. Le dispositif doit être conçu de d’erreur pour les deux sondes de la figure 15 (tableau 3).
manière que la pression de contact soit le plus constante et le plus Il s’agit de sondes aiguilles par ailleurs identiques. Elles sont consti-
forte possible. tuées par une gaine en acier inoxydable (Ø = 3 mm, épaisseur
Très souvent, dans la plupart des dispositifs, le détecteur n’a pas 0,3 mm), de deux fils de couple thermoélectrique chromel-alumel
une épaisseur nulle et la température qM de l’élément sensible, qui (Ø = 0,5 mm), isolés par de la poudre (conductivité l = 0,6 W.m-1.K-1).
est la température mesurée, diffère assez notablement de la tempé- Le calcul de la conductivité axiale moyenne de ce type de sonde con-
rature superficielle q du thermomètre. L’erreur est plus importante. duit à lB = 7,14 W.m-1.K-1.
Pour l’analyse de l’erreur, il faut substituer à la résistance de contact La résistance rE de ces sondes est calculée par la formule de la barre
rc la résistance r c¢ = r c + r i somme des résistances de contact et de [équation (6)], le coefficient global de transfert superficiel étant
l’élément du thermomètre compris entre l’isotherme de surface q et h = 10 W.m-2.K-1. Pour chacune, on considère les cas de la mesure
l’isotherme qM. sur un conducteur et sur un isolant. Le contact apparent est censé se
faire sur un cercle de rayon y = 0,5 mm ; la résistance de contact cor-
■ Effet d’ailette
respondante, ainsi que les valeurs de rM, ont été prises identiques à
Les transferts du capteur vers l’extérieur doivent être le plus fai- celles utilisées dans le tableau 2.
bles possible. Lorsqu’il existe une liaison matérielle extérieure, elle Les valeurs des coefficients d’erreurs sont catastrophiques, la seule
devra suivre un chemin le plus long possible sur l’isotherme de sur- mesure envisageable étant celle effectuée avec une sonde dont la sou-
face. Cependant, cela n’est pas toujours réalisable ; en particulier dure est en bon contact avec la gaine et dans le cas d’un milieu conduc-
lorsque la surface reçoit un rayonnement important, il vaut mieux teur.
que la liaison suive un chemin à l’abri de ce rayonnement
(figure 14).

Tableau 3 – Sondes aiguilles

Jonction rM rc ri r c¢ rE
Nature
avec K
de la paroi
la gaine (K.W-1) (K.W-1) (K.W-1) (K.W-1) (K.W-1)

contact
Conductrice direct 5 127 0 127 459 0,223
(l = 100 W.m-1.K-1)
isolée 5 127 2 333 2 460 459 0,843
contact
Isolante direct 5 000 1 270 0 1 270 459 0,932
(l = 0,1 W.m-1.K-1)
isolée 5 000 1 270 2 333 3 603 459 0,949

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l rM
A B 1 + ------ -------------------------
lJ rM + ( rc )J 1
avec K J¢ = K J ------------------------------------------ et K J = -----------------------------------
1 + ----- l- ( rE )J
T 1 + ------------------------ -
lJ rM + ( rc )J
Tp
Erreur
Pour chaque conducteur, K J¢ < K , l’égalité ayant lieu lorsque
qA qB Q r M >> ( r c ) J (cas d’un milieu isolant thermique). Le coefficient
d’erreur relatif à la mesure est donc intermédiaire entre, K A¢ et K B¢
q
T pA TpB Exemple : valeurs de K A¢ , K B¢ et de la valeur moyenne
K ¢ = ( K A¢ + K B¢ )/2 pour une sonde à conducteurs séparés assez
classique (tableau 4).
Celle-ci est constituée par deux fils (Ø = 0,5 mm), l’un en chromel
(conducteur A), l’autre en alumel (conducteur B), maintenus dans deux
tubes isolants (Øext = 2 mm ; Øint = 0,8 mm ; conductivité
Figure 16 – Sonde thermoélectrique dite à conducteurs séparés l = 1 W.m-1.K-1). Le coefficient global de transfert superficiel sur ces
-2 -1
tubes est h = 10 W.m .K . La conductivité axiale moyenne de cha-
que élément (fil + gaine) est ú Ð1 .K Ð1 ,
l A¢ = 2,09 W.m
l B¢ = 2, 71W.mú Ð 1 .K Ð 1 . Les résultats concernent trois mesures
4.4.2 Sondes thermoélectriques dites typiques : sur un très bon conducteur, sur un conducteur moyen et sur
à conducteurs séparés (figure 16) un isolant. On suppose que ce dernier a subi une métallisation de sur-
face de très faible épaisseur pour assurer la liaison électrique entre A
Dans ce type de dispositif, assez utilisé, les conducteurs A et B et B.
constituant les deux éléments du couple sont appliqués séparément On constate que le coefficient K’ est nettement plus petit que K pour
sur la surface. La jonction est effectuée par le milieu (M), lui-même les mesures sur les conducteurs ( r M << r c ) et pratiquement identique
supposé conducteur de l’électricité. Le principe de la mesure est à K pour la mesure sur l’isolant. Cette technique de mesure ne pré-
beaucoup plus séduisant. Il suppose cependant l’égalité des tempé- sente donc pas, dans ce cas, d’avantage particulier.
ratures au niveau des jonctions (A) « (M) et (M) « (B). Cette tempé-
rature commune Q est alors la température mesurée. Mais celle-ci Cette modélisation de l’erreur, que nous avons proposée [15], a
ne coïncide pas avec la température de surface. Chaque élément A fait l’objet d’une étude approfondie de la part de A. Gery et coll. [18].
ou B crée une perturbation locale du champ de température, analo- Ces auteurs utilisent des éléments A et B semi-conducteurs (Bi2Te3
gue à celle déjà décrite (§ 4.3.1). Le contact est encore imparfait et la dopés N ou P). L’accord entre le modèle théorique et l’expérience est
température moyenne du contact Q est située entre les températu- très satisfaisant. A. Gery a étudié aussi l’influence de la couche de
res Tp et q de part et d’autre de l’interface. L’erreur T - Q est plus fai- métallisation déposée sur des surfaces isolantes [19].
ble qu’avec les autres dispositifs, mais elle n’est pas nulle. Pour des
éléments métalliques, on a approximativement :
l (Tp - Q) = lJ (Q - q) 4.4.3 Sondes à compensation de flux (figure 17)
lJ étant la conductivité du conducteur (J º A ou B) et l celle du
milieu. Il en résulte que Q est d’autant plus proche de Tp que lJ/l est Le principe de ces sondes, que nous avons déjà indiqué (§ 4.3.1),
faible. Cependant, lA étant différent de lB, l’égalité des températu- consiste à annuler le flux transféré de la surface vers l’extérieur à
res QA et QB n’est, en général, pas vérifiée, et l’indication du thermo- travers le capteur et à s’affranchir ainsi de la résistance de contact
mètre correspond à une température intermédiaire à ces deux capteur-surface. Pour cela, on substitue à la liaison entre le capteur
valeurs. et l’extérieur une liaison entre le capteur et une source thermostatée
On peut calculer T - QJ pour chaque conducteur (J º A ou B). à TES le plus proche possible de q. Pour un réglage parfait :
On trouve encore :
TES = q = Tp
T Ð Q J = K J¢ ( T Ð T E )

Tableau 4 – Sonde à conducteurs séparés

Élément rM rc rE
Nature
thermo- K K’ K¢
de la paroi
sensible (K.W-1) (K.W-1) (K.W-1)

Très conductrice A 5 127 1 757 0,070 0,014

0,019
(l = 100 W.m-1.K-1) B 5 127 1 367 0,088 0,023

Conductrice A 25 127 1 757 0,080 0,047

0,057
(l = 20 W.m-1.K-1) B 25 127 1 367 0,100 0,067

Isolante A 5 000 1 270 1 757 0,780 0,779

0,800
(l = 0,1 W.m-1.K-1) B 5 000 1 270 1 367 0,821 0,820

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TES L
l
Surface
rES

Lignes de flux au sein du milieu

Figure 19 – Effet de convergence

Figure 17 – Sonde à compensation de flux

l étant la conductivité du milieu. La résistance r c¢ élément sensible

L
- surface est pratiquement, dans ces dispositifs, celle de la couche
isolante (film + colle) interposée entre cet élément et la surface :
l
Élément
e'i l'i sensible ei
e r c¢ = -----------
-
ei li li L ,

Figure 18 – Sonde timbre ou élément thermosensible déposé

La résistance rE élément sensible - extérieur est la somme des
en surface
résistances de la couche isolante externe et de la résistance superfi-
cielle, inverse du coefficient global de transfert h’ à la surface du
Tp est la température locale de la surface au contact du capteur. Si capteur et pour l’aire L , . On a :
les transferts superficiels entre la surface et l’extérieur sont négli-
geables, alors Tp = T et l’erreur est nulle. Dans le cas contraire d’une e i¢ 1
surface avec un coefficient de transfert superficiel h0 important, Tp r E = -----------
- + ------------
n’est pas égal à T mais lui est légèrement supérieur. Le plus souvent l i¢ L , h ¢ L ,
cependant, cette différence est négligeable. Si le réglage n’est pas
parfait, il subsiste une erreur : De ces trois expressions, on déduit le coefficient d’erreur de la
dq = KS (T - TES) sonde timbre :
1
avec K S = ----------------------------
r ES 1
1 + ----------------- - K = ----------------------------
rM + rc rE
1 + ----------------- -
r c¢ + r M
rES est la résistance capteur - source thermostatée. Cette résis-
tance doit rester grande pour éviter une interaction du système de Exemple : mesure de la température d’une paroi au moyen
compensation sur la température de la surface. Si cette condition est d’une sonde timbre ayant les caractéristiques suivantes : émissivité
réalisée, l’erreur de mesure est beaucoup plus faible qu’avec des ei = 1 ; e i = e i¢ = 0,1mm ; li = 0,3 W.m-1.K-1 ; , = 10 mm
dispositifs non compensés. (tableau 5).
On suppose que cette paroi a une émissivité faible e = 0,1 (paroi
4.4.4 Sondes timbres ou éléments métallique polie ou paroi isolante ayant reçu une métallisation superfi-
thermosensibles déposés en surface cielle de très faible épaisseur afin de réduire son émissivité). Cette
(figure 18) paroi est placée dans une enceinte à vide. Les seuls échanges avec
l’environnement, c’est-à-dire les parois de l’enceinte, s’effectuent par
L’élément sensible (résistance ou couple thermoélectrique), dans rayonnement (coefficient de rayonnement hr = 0,5 W.m-2.K-1). Ils sont
ces dispositifs, est en général très mince. Il est appliqué sur la sur- donc très faibles et on peut considérer la paroi comme isotherme. Puis-
face entre deux supports isolants (protection contre l’environne- que l’émissivité de la sonde est 10 fois supérieure à celle de la paroi, le
ment, isolation électrique, etc.), également très minces (épaisseurs coefficient de rayonnement sur la sonde est h r¢ = 10 hr = 5 W.m-2.K-1.
ei et e i¢ , conductivités li et l i¢ ). Leur forme est, en général, rectangu- Le tableau donne les valeurs de rE, r c¢ , rM et de K pour cette sonde
laire (longueur L, largeur , ). Deux fils de jonction les réunissent à appliquée soit sur une paroi conductrice, soit sur une paroi isolante.
l’appareil de mesure. Si ceux-ci sont bien disposés selon l’isotherme On constate que, sur un conducteur, le coefficient d’erreur est très
de surface, et s’ils sont à l’abri de rayonnements importants, on peut faible alors que sur un isolant il est déjà trop important.
considérer qu’aucun flux de chaleur parasite ne les traverse. Il Le tableau 5 donne aussi le coefficient d’erreur pour des mesures
n’empêche que la couche isolante externe du détecteur a une émis- effectuées dans les mêmes conditions, avec un élément thermosensi-
sivité e voisine de 1, valeur parfois assez différente de celle de la sur- ble sans liaison matérielle avec l’extérieur. Il s’agit d’une tache circu-
face sur laquelle il est placé (cas d’une surface métallique). Les laire (rayon y = 0,5 mm, épaisseur ei = 0,07 mm, conductivité
transferts superficiels par rayonnement sont alors localement li = 0,22 W.m-1.K-1, émissivité ei = 1) d’un produit photoluminescent.
accrus, et un flux de chaleur parasite, en général faible, s’établit Le coefficient de rayonnement est encore h r¢ = 5 W.m Ð2 .K Ð1 .
entre le milieu et l’environnement externe, directement à travers le
capteur. Essayons d’évaluer, dans le cas de transferts superficiels Les différentes résistances se calculent de façon identique par les
négligeables, le coefficient d’erreur K. relations :

La résistance de constriction (figure 19) qui se développe dans le 1 ei 1

r M = ----------------- ; r c¢ = -------------------- ; r E = -----------------------
milieu pour un détecteur de forme rectangulaire se calcule par la 4 y l li p y 2 h ¢ p y2
relation [20] :
On constate que, dans ce cas, le coefficient d’erreur est très faible,
1 4L même pour la plaque isolante où la mesure est encore très satisfai-
r M = ---------- In -------
p lL , sante.

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Tableau 5 – Sonde timbre et élément photoluminescent déposé en surface

Sonde ou rM r c¢ rE
Nature
élément K
de la paroi
photoluminescent (K.W-1) (K.W-1) (K.W-1)

Conductrice sonde 0,44 3,3 2 003 0,002

(l = 100 W.m-1.K-1) élément 5 405 255 000 0,002
Isolante (1) sonde 440 3,3 2 003 0,181
(l = 0,1 W.m-1.K-1) élément 5 000 405 255 000 0,021
(1) avec revêtement réfléchissant

Les différents exemples que nous venons d’étudier montrent que,

pour les configurations les plus courantes, le modèle très schémati-
que de l’erreur de mesure en régime permanent est transposable. TE h
En particulier, pour des surfaces avec transferts superficiels négli-
geables, l’erreur est proportionnelle à l’écart T - TE. Le coefficient T
d’erreur K peut être très différent selon le type de méthode et le type Tp q yB
de mesure. Nous avons pu préciser, dans différentes situations typi- x
ques, son ordre de grandeur. Nous voudrions souligner cependant l B, cB r B
que, pour une évaluation correcte de l’erreur de mesure, le calcul de l, cr
K ne suffit pas ; il faut aussi une évaluation correcte de la tempéra-
ture équivalente TE très dépendante des rayonnements provenant
de sources à haute température ou de rayonnements divers absor-
bés par le capteur ou sa liaison :
Figure 20 – Modèle dans le cas de la brusque mise en contact
j¢ du capteur sur la surface
T E = T f + -----
h
Exemple : pour illustrer ce point, on peut reprendre le cas de la
mesure d’une température de surface d’un conducteur T = 40 °C 4.5.1 Capteur mis brusquement en contact avec
par la sonde timbre précédemment étudiée (K = 0,002) mais absor- la surface
bant le rayonnement d’une source à haute température
¢ = 1 300 K dont le facteur de forme, vu de la sonde, est F = 0,1, la
T pe
Le modèle est identique à celui décrit au paragraphe 4.2. Le cap-
température des autres parois de l’enceinte à vide étant Tpe = 20 °C.
teur thermométrique, initialement à la température uniforme équi-
La température équivalente est : valente TE de l’environnement, est mis brusquement en contact
¢4 avec le milieu supposé à température uniforme T. Les transferts
sT pe
superficiels sont supposés négligeables. On désignera respective-
T E = T pe + F --------------- = 3 288 °C
h ment par cr et cB rB les capacités thermiques volumiques du milieu
et de la barre (figure 20).
L’erreur de mesure dq = K (T - TE) est négative : dq = - 6,5 °C. Mal-
gré une très faible valeur de K, on commet une erreur considérable. Sur le cercle de contact, la température du milieu est Tp (t) au lieu
de T. En raison de l’imperfection du contact, la température mesurée
q (t), qui est celle de la section x = 0 de la barre, est différente de Tp.
4.5 Modélisation de l’erreur en régime On suppose qu’elle est encore reliée à Tp par la condition classique :
variable
¶q
T p ( t ) Ð q ( t ) = R c æè Ð l B ------ öø
¶x x = 0
La notion de résistance thermique, si commode pour l’expression
analytique de l’erreur en régime permanent, n’a, a priori, plus aucun
sens en régime transitoire et doit être abandonnée. Il en résulte que
Rc étant la résistance par unité d’aire (Rc = rc p y2).
la forme analytique de l’erreur sera plus compliquée. Elle sera très Nous donnons (figure 21) l’évolution, en fonction du temps, de
spécifique, car elle va dépendre énormément de la configuration l’erreur relative K (t) définie par :
particulière du système thermométrique, de ses caractéristiques
thermiques (conductivité, capacité thermique, coefficient de trans-
T Ð q (t)
fert extérieur), des conditions de contact entre le thermomètre et le K ( t ) = ----------------------
milieu (surface de contact et résistance thermique de contact), enfin T Ð TE
des différences de répartition de températures initiales. Il faudra
donc être très prudent pour généraliser certains résultats. dans le cas de trois milieux de caractéristiques thermiques différen-
Pour avoir une idée assez claire de l’influence des caractéristiques tes et pour plusieurs valeurs de la résistance de contact Rc entre le
thermiques du milieu et du thermomètre, et souligner le rôle des thermomètre et le milieu.
conditions de contact entre le thermomètre et le milieu, nous consi-
dérerons les deux situations typiques suivantes [16] : ■ Importance de l’erreur
— le capteur et le milieu, à températures différentes, sont mis a) Elle est proportionnelle à l’écart T - TE.
brusquement en contact ;
— le capteur, préalablement appliqué sur une face du milieu, suit b) Elle est décroissante avec le temps, le maximum ayant lieu à
l’évolution transitoire dont le milieu est le siège. l’instant initial.

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c) Les conditions de contact entre le thermomètre et le milieu

K (t )
jouent un rôle important sur la valeur de l’erreur :
1,00
— à l’instant initial t = 0, si le contact est parfait, l’erreur ne
VII
dépend que des effusivités du milieu et de la barre :
V VI
0,80 lB cB rB
K ( 0 ) = --------------------------------------------
- (7)
IV
lcr + l B c B r B

alors que, si le contact est imparfait (Rc ¹ 0), K est égal à 100 %, quels
0,60 que soient le milieu et le thermomètre ;
— pour les faibles valeurs de t (figure 21), on a l’expression
asymptotique :

0,40
2 t
III K ( t ) = 1 Ð -----------------------------------------
II
p Rc lB cB rB
I
L’erreur décroît d’autant plus vite dans les premiers instants que
0,20
le contact thermique entre le capteur et la surface est bon et que son
effusivité est petite ;
— pour t ® ¥, on retrouve l’expression de l’erreur obtenue en
0
régime permanent [équation (5), § 4.3.1].
10 – 4 10 –2 1 102 104
Ces résultats font encore apparaître des différences fondamenta-
Temps (s)
les entre les mesures sur un milieu conducteur et sur un milieu
Conducteur I Rc = 0 isolant :
l = 100 W. m–1. K–1 II Rc = 0,25 x 10 –4 K. m2. W –1
c r = 3,1 x 106 J. m–3. K–1 III Rc = 10 –4 K. m2. W –1 — pour un milieu isolant, l’erreur reste très importante, même
lorsque t ® ¥ ; elle dépend peu de la résistance de contact ;
Isolant à forte capacité
thermique volumique — pour un milieu conducteur, l’erreur commise dépend surtout
IV Rc = 0
l = 0,19 W. m–1. K–1 de la valeur de Rc et elle décroît avec t d’autant plus vite et sa valeur
V Rc = 5 x 10– 4 K. m2. W –1 est d’autant plus petite que Rc est faible.
c r = 1,7 x 106 J. m– 3. K–1

Isolant à faible capacité ■ Inertie de la mesure

thermique volumique VI Rc = 0
l = 0,05 W. m–1. K–1 VII Rc = 5 x 10 – 4 K. m2. W –1
On la caractérise par l’évaluation du temps de réponse tr
cr = 8,4 x 103 J. m–3. K–1 (tableau 6) défini par :

Caractéristiques thermométriques de la barre : K ( tr ) Ð K ( ¥ )

y = yB = 0,5 mm l B = 17 W. m–1. K–1 --------------------------------- = 0,05 (8)
cB r B = 3,4 x 106 J. m– 3. K–1 h = 15 W. m–2. K–1
K(0) Ð K(¥)

Figure 21 – Évolution de l’erreur relative K (t) (brusque mise K(¥) s’identifiant au coefficient d’erreur en régime permanent.
en contact)

Tableau 6 – Temps de réponse tr (en secondes) (capteur mis brusquement en contact avec la surface)
yB Rc/yB =
Nature de la paroi
(m) 0 0,05 K.m.W-1 0,20 K.m.W-1 1 K.m.W-1

5 x 10-5 0,012 0,038 0,25 1

Conductrice (1)
5 x 10-4 1,8 3,6 20 56

Isolante à forte capacité 5 x 10-5 1,3 1,32 1,35 1,4

thermique (2) 5x 10-4 91 94 101 110
Isolante à faible capacité 5 x 10-5 2,5 2,54 2,63 2,8
thermique (3)
5 x 10-4 298 302 307 316
(1) l = 100 W.m-1.K-1 ; cr = 3,1 x 106 J.m-3.K-1
(2) l = 0,19 W.m-1.K-1 ; cr = 1,7 x 106 J.m-3.K-1
(3) l = 0,05 W.m-1.K-1 ; cr = 8,4 x 103 J.m-3.K-1

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et l’erreur relative est :

Température
en x = –L T (t) Ð q (t)
K ( t ) = -------------------------------
T ( t ) Ð TE

TL l , cr TE On donne, à titre d’exemple, les résultats des calculs effectués

pour deux matériaux déjà considérés (§ 4.5.1) :
h lB, cB r B
— un conducteur dont l’épaisseur est L = 5,5 x 10-2 m ;
TE yB — un isolant à fort cr d’épaisseur L = 10-2 m.
0 x Les caractéristiques thermiques et géométriques du capteur ther-
0 t
mométrique sont également les mêmes.
L ■ Évolution de l’erreur absolue (figure 23 a et b)
On remarque trois choses.
Figure 22 – Modèle de capteur préalablement appliqué sur la surface a) L’erreur absolue de mesure est croissante avec le temps, le
maximum de cette erreur se produisant en régime permanent.
b) Les conditions de contact jouent un rôle très important sur
On constate dans le tableau que, pour un même thermomètre, ce l’erreur absolue de mesure :
temps de réponse dépend beaucoup des caractéristiques du milieu. — lorsque le contact est parfait, l’erreur commise sur un conduc-
De plus, pour une mesure sur un conducteur, il dépend énormé- teur est très inférieure à celle commise sur un isolant ;
ment des conditions de contact. Il croît très rapidement avec Rc, qui — dès que le contact est imparfait, l’erreur absolue devient plus
apparaît comme le principal responsable de l’inertie du thermomè- importante, quelle que soit la nature du corps sur lequel on effectue
tre. la mesure, et augmente avec l’imperfection du contact.

Pour une mesure sur un isolant, les temps de réponse sont beau- Cependant, des différences fondamentales apparaissent encore
coup plus grands mais pratiquement indépendants des conditions entre les mesures sur milieux conducteurs et sur milieux isolants :
de contact considérées. — pour un milieu isolant (figure 23 b), l’erreur absolue, qui était
déjà très importante avec un contact parfait, n’augmente que faible-
Tout cela montre que le temps de réponse n’est pas une caracté- ment avec l’imperfection du contact (de 0,69 à 0,73) ; cette erreur
ristique spécifique du capteur mais de l’ensemble milieu - capteur - dépend donc relativement peu de la résistance de contact, mais
environnement. principalement de la convergence des lignes de flux vers le capteur
Par ailleurs, des calculs effectués pour d’autres rayons yB [16] et (macroconstriction) ;
dont certains résultats sont donnés dans le tableau 6, montrent que, — pour un milieu conducteur (figure 23 a), par contre, l’erreur
quels que soient le milieu considéré et la nature du contact, l’erreur commise dépend essentiellement de la résistance thermique de
de mesure et, surtout, le temps de réponse diminuent avec le rayon contact, l’erreur absolue croissant d’autant plus vite que le contact
yB de la barre. est imparfait (de 0,004 à 0,337).
c) Par ailleurs, les calculs effectués pour d’autres rayons yB de la
barre montrent que, quels que soient le corps considéré et la résis-
4.5.2 Capteur préalablement appliqué sur tance de contact, l’erreur absolue de mesure augmente avec le
la surface rayon yB.
■ Évolution de l’erreur relative (figure 23 c et d )
Le modèle est semblable à celui décrit (§ 4.2) avec les différences
Elle est très différente. On constate qu’elle décroît rapidement au
suivantes (figure 22) :
cours du temps. Pour Rc ¹ 0, sa valeur initiale est de 100 %, alors
— le milieu dont on veut mesurer la température est une paroi que, pour Rc = 0, sa valeur initiale est [relation (7)] :
plane, d’épaisseur L ;
— les répartitions initiales de température dans le milieu et le lB cB rB
capteur sont identiques et égales à la température équivalente de K ( 0 ) = --------------------------------------------
-
l’environnement TE ;
l B c B r B + lcr
— les échanges superficiels sont supposés négligeables sur la
face x = 0 sur laquelle est appliqué le capteur ; [Link] Validité, en régime transitoire, du schéma simple
établi pour le calcul de l’erreur en régime permanent
— enfin, à l’instant initial, l’autre face x = - L est portée à la tem-
pérature TL constante. Les courbes donnant l’évolution de l’erreur relative K(t) (figure 23
Un phénomène transitoire se développe dans la plaque de la face c et d) montrent que celle-ci varie énormément dans les tout pre-
x = - L vers la face x = 0. Au bout d’un temps suffisamment long, on miers instants, mais que, rapidement, elle devient constante, alors
atteint un nouveau régime permanent. La température dans la pla- que les températures exactes mesurées et l’erreur absolue conti-
que est uniforme et égale à TL, sauf au voisinage du capteur où le nuent à évoluer pendant un temps beaucoup plus long. Par ailleurs,
champ est perturbé. la valeur constante de cette erreur relative est égale à celle trouvée
en régime permanent. Cela montre que le schéma simple établi en
La température de la face x = 0 qu’il s’agit de mesurer évolue de régime permanent peut être utilisé en régime transitoire. Pour chif-
TE à TL. On désigne par T(t) cette température qui est, en fait, celle frer ce résultat, on introduit un temps de réponse tr défini par [rela-
qu’il y aurait à l’instant t sur la face x = 0 en l’absence du capteur tion (8)] :
thermométrique. On désigne encore par q (t) la température mesu-
rée par le capteur. K ( tr ) Ð K ( ¥ )
--------------------------------- = 0,05
L’erreur absolue de mesure est alors : K(0) Ð K(¥)
d q (t) = T (t) - q (t) K (¥) s’identifiant au coefficient d’erreur en régime permanent.

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Il est, enfin, intéressant de comparer ces temps de réponse calcu-

d q (t ) d q (t ) lés pour l’erreur relative à la durée t0 de l’évolution transitoire étu-
TL — TE TL — TE diée T (t), cette durée t0 étant définie par la relation :
1 1
T ( ¥ ) Ð T ( t0 )
I - = 0,05
--------------------------------
0,8
I T(¥) Ð T(0)
10 –1 II II
0,6 soit, pour le conducteur, t0 = 123 s et, pour l’isolant à fort cr,
t0 = 1 170 s.
0,4 On constate donc que les temps de réponse tr correspondant à
10 –2
III une erreur relative constante à 5 % près sont, dans tous les cas, infé-
0,2 rieurs, et souvent de beaucoup, à la durée du phénomène thermique
étudié. Cela montre quantitativement que le schéma très simple éta-
10 –3 bli en régime permanent peut donner de très bons résultats en
0 100 200 0 1 000 2 000 régime transitoire, à condition de considérer des temps supérieurs
Temps (s) Temps (s) à tr.
a b

K (t ) K (t )
4.6 Évaluation du coefficient d’erreur K
1 1
I Nous avons vu [relations (5), § 4.3.1] que le coefficient d’erreur K
0,9 s’exprime par les relations suivantes :
10 –1 II
TÐq 1
K = ---------------- = ----------------------------
0,8 T Ð TE rE
1 + ----------------- -
10 –2
I rc + rM
III 0,7 II
Il y a donc deux façons d’évaluer K :
— soit à l’aide de la première relation, par mesure des températu-
10 –3 0,6 res sur un montage annexe (mesure directe) ;
0 100 200 0 1 000 2 000 — soit à l’aide de la seconde relation, en estimant les différentes
Temps (s) Temps (s) résistances rE, rM et rc.
c d
a c conducteur b d isolant
4.6.1 Évaluation sur un montage annexe :
I R c /y B = 1 II Rc /y B = 0,2 III Rc /y B = 0
mesure directe de K
Figure 23 – Évolution des erreurs absolue d q (t) et relative K (t)
(capteur préalablement appliqué sur la surface) Chaque fois que cela est possible, il faut utiliser cette méthode.
En effet, l’évaluation se fait directement par des mesures, sans
modélisation ni approximation des diverses caractéristiques. Pour
Le tableau 7 donne les différentes valeurs de ces temps de cela, il suffit d’utiliser une paroi étalon de même nature que la sur-
réponse pour les deux exemples considérés. On constate d’abord face étudiée, et de fixer le capteur de surface qui sera employé de la
que, pour un même corps, le temps de réponse tr est d’autant plus même manière que sur le montage principal. La température vraie
grand que la résistance de contact par unité de surface Rc est grande de la surface T est alors donnée par extrapolation du champ de tem-
et que le rayon de la barre yB est grand. De plus, ce temps de pérature dans la paroi étalon. Ce champ de température est obtenu
réponse croît très rapidement avec Rc dans le cas d’un conducteur, au moyen de capteurs implantés dans la paroi étalon. La tempéra-
alors qu’il varie très peu pour l’isolant. Cela montre encore ture de surface mesurée q est donnée directement par le capteur de
l’influence prédominante, dans le cas de milieux isolants, de l’effet surface. Enfin, la température équivalente TE est égale à la tempéra-
de convergence des lignes de flux (macroconstriction) sur l’effet de ture ambiante Tf s’il n’y a pas de sources de chaleur à haute tempé-
résistance de contact. Par contre, pour des milieux conducteurs, le rature. On en déduit alors la valeur du coefficient d’erreur K.
temps de réponse dépend essentiellement de la résistance de con-
tact Rc.
4.6.2 Évaluation de K par calcul des résistances rE,
rM et rc
Tableau 7 – Temps de réponse tr (en secondes)
(capteur préalablement appliqué sur la surface) Si l’on ne peut mesurer K directement, il faut estimer les différen-
tes résistances rE, rM et rc qui interviennent dans son expression.
yB Rc/yB =
Nature ■ La résistance de macroconstriction rM est donnée, selon que le
de la paroi contact entre le capteur et la surface se fait suivant un cercle ou un
(m) 0 0,20 K.m.W-1 1 K.m.W-1
rectangle, pour un milieu de conductivité thermique l, par les
5 x 10-5 1,2 4,7 9,2 formules :
Conductrice (1) 1
5 x 10-4 9,2 46 98 — pour un cercle : r M = ---------------
4 y l
Isolante à 5 x 10-5 106 110 116 avec y (m) rayon du cercle de contact ;
forte capacité
thermique (2) 5 x 10-4 377 381 384 1 4L
— pour un rectangle : r M = ---------- In -------
p lL ,
(1) l = 100 W.m-1.K-1 ; cr = 3,1 x 106 J.m-3.K-1
(2) l = 0,19 W.m-1.K-1 ; cr = 1,7 x 106 J.m-3.K-1 avec L (m), , (m) longueur et largeur du rectangle de contact.

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■ De même, la résistance de liaison avec l’extérieur rE, pour un fil et

une sonde timbre, s’exprime par les relations suivantes :
1
— pour un fil : r E = ----------------------------------------------
p yB 2 h lB yB
h TE
P
avec yB (m) rayon du fil, T¥ M A
lB (W.m-1.K-1) conductivité thermique du fil,
h (W.m-2.K-1) coefficient global de transfert entre la
sonde et le milieu extérieur ;
l M , aM
e i¢ 1
— pour une sonde timbre : r E = ---------------
- + -----------------
l i¢ L , h ¢ L ,
avec e i¢ (m) épaisseur de la couche isolante externe, M
L (m), , (m) longueur et largeur de la sonde, T¥
l i¢ (W.m-1.K-1) conductivité thermique de la couche
isolante externe, T
h’ (W.m-2.K-1) coefficient global de transfert entre la Macroconstriction
sonde et le milieu extérieur. Tp

■ Enfin, l’évaluation de la résistance de contact rc implique une Tm

Résistance
estimation de la résistance de contact Rc par unité de surface. On a de contact
en effet rc = Rc/S. S est la surface apparente de contact entre le cap-
teur et la surface (S = p y2 ou L , ). L’estimation précise de Rc est q
impossible. On peut cependant en avoir un ordre de grandeur dans
Ailette TE
les situations suivantes.
● Pour un contact métal-isolant ou un contact métal-métal lors-
M milieu de conductivité thermique l M et de diffusivité
que le milieu interstitiel est relativement conducteur (colle, mastic, thermique aM
huile, etc.), les effets de microconstriction sont négligeables et on h coefficient global d'échange
peut considérer que la résistance de contact est égale à la résistance T température vraie de la surface
thermique de la couche interstitielle, soit : Tp température perturbée
Tm température mesurée
e Tp — q discontinuité de température introduite par la résistance
R c = -----c
lc de contact
TE température extérieure équivalente (définie au paragraphe
ec et lc étant l’épaisseur et la conductivité de cette couche ; cette for- 4.2)
mule peut également être utilisée pour une sonde timbre, ec et lc
Figure 24 – Dispositif semi-intrinsèque
étant, dans ce cas, l’épaisseur et la conductivité de la couche iso-
lante interposée entre l’élément sensible de la sonde et la surface ;
● Pour un contact métal-métal simplement pressé et où le milieu
interstitiel est peu conducteur (air, vide), il faut considérer deux (A/M). La méthode ne s’applique donc qu’à des milieux conducteurs
situations différentes : de l’électricité ; elle implique un étalonnage préalable du couple
A/M.
— l’aire apparente de contact S est importante (S > 20 mm2 par
exemple) ; c’est le cas d’un capteur avec disque de contact ; on peut Le choix du matériau A doit être tel qu’il conduise à une sensibilité
dire que, pour des contacts plats et des gammes de pression variant maximale du couple A/M. Le dispositif comprend donc (figure 24)
de 106 Pa à 15 x 106 Pa, l Rc varie approximativement de 3 x 10-3 m un fil A de rayon y qui est appliqué sur la surface au point de mesure
à 6 x 10-3 m, l étant la moyenne harmonique des conductivités l1 P et un fil M de même nature que le matériau, pour refermer le cir-
et l2 des deux métaux, définie par : cuit. La jonction de ce fil M peut être réalisée loin de la zone de
mesure.
2 1 1
--- = ------ + ------ L’analyse de l’erreur de mesure liée aux transferts de chaleur
l l1 l2
parasites (milieu M - fil A) en régime permanent ou transitoire est
assez semblable dans son principe à celle effectuée aux paragra-
— l’aire apparente de contact S est petite ( S < 5 mm 2 par phes 4.3 ou 4.5. Seuls, les ordres de grandeur de l’erreur de mesure
exemple) ; c’est le cas de mesures ponctuelles par sondes aiguilles ; ou de l’inertie de celle-ci sont considérablement réduits. L’applica-
on pourra considérer que lR c ¤ S est à peu près constant, cette tion du fil A sur la surface M provoque encore un transfert de cha-
constante étant de l’ordre de 5. leur parasite milieu M - extérieur par l’intermédiaire de ce fil A, mais
ce transfert est plus faible puisque, au lieu de deux fils, il n’y en a
plus qu’un. On retrouve encore les trois mêmes effets.

4.7 Méthode thermoélectrique ■ Effet de convergence des lignes de flux au sein du milieu M vers
la zone de contact P
semi-intrinsèque
C’est l’effet de macroconstriction. La température superficielle Tp
de la surface au droit du fil A est perturbée et diffère de la tempéra-
Cette méthode, dont le principe est assez ancien, mais dont les ture vraie T de la surface (Tp ¹ T ). En régime permanent, on a la
avantages n’ont été précisés que par deux études récentes [21] [22], relation :
utilise le matériau M lui-même, dont on veut mesurer la température
de surface, comme l’un des éléments d’un couple thermoélectrique T - Tp = rM j

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avec rM résistance de macroconstriction analogue à celle soit finalement :

décrite au paragraphe 4.3.1,
d q = Ki (T - TE)
j flux parasite transféré.
lA
■ Effet de résistance de contact lié à l’imperfection du contact r M + r c --------------------
M«A lA + lM
avec K i = -----------------------------------------
Cet effet se manifeste encore par une discontinuité des tempéra-
rM + rc + rE
tures à droite et à gauche de l’interface de contact :
Le coefficient d’erreur Ki de ce dispositif intrinsèque est considé-
Tp - q = rc j rablement plus faible que celui K correspondant à une sonde classi-
que à deux fils.
rc est la résistance de contact pour l’aire apparente de contact. Le tableau 8 illustre ce point. Il s’agit de deux dispositifs de
■ Effet d’ailette (fil A « extérieur) mesure, l’un semi-intrinsèque dont le fil A est un chromel (lA =
Il est responsable des transferts de chaleur par convection et 20 W.m-1.K-1 et diamètre ØA = 10-4 m), l’autre un couple thermoé-
rayonnement entre le fil A et le milieu ambiant dont la température lectrique classique chromel - alumel (lA = 20 W.m-1.K-1,
équivalente est TE. En régime permanent, on peut le caractériser par lB = 30 W.m-1.K-1 et dont les fils ont même diamètre ØA = ØB =
une résistance équivalente rE telle que :
10-4 m). Les fils sont nus, simplement émaillés. Pour chacun, le
q - TE = rE j coefficient global d’échange est h = 100 W.m-2.K-1. Le contact sonde
La particularité du dispositif intrinsèque est que la température - milieu s’effectue sur une zone circulaire de rayons y = 5 x 10-5 m
mesurée Tm n’est pas la température q mais une température inter- (dispositif semi-intrinsèque) et y = 10-4 m (couple thermoélectrique
médiaire entre Tp et q. On montre [21] qu’elle correspond en fait à la classique).
moyenne des températures des microcontacts entre le milieu M et le
La résistance rM de macroconstriction a été estimée par la
fil A, pondérée par les rayons équivalents de ces microcontacts.
relation :
Cette température partage, par ailleurs, la chute Tp - q dans le rap-
port inverse des conductivités thermiques lM et lA des milieux M et 1
r M = ---------------
A, soit : 4 lM y
Tp Ð Tm l Rc
------------------- = ------A- La résistance de contact r c = -----------
- (où Rc est la résistance thermi-
Tm Ð q lM p y2
que de contact par unité de surface) a été, dans ce tableau 8, esti-
On en déduit que : mée par la relation empirique donnée au paragraphe 4.6.2 :
lA l Rc = 5 y p
T p Ð T m = r c -------------------- j
lA + l
M
2 lM lS
avec l = ---------------------- où la conductivité de la sonde lS est soit lS = lA
Cette relation montre que Tm sera d'autant plus près de Tp que lA lM + lS
sera petit devant lM. On a donc intérêt à choisir le fil A le moins con-
ducteur thermique possible. lA + lB
(sonde semi-intrinsèque), soit l S = ------------------
- (couple thermoélectri-
2
que).
4.7.1 Régime permanent On remarque (tableau 8) que l’erreur de mesure K est divisée
environ par 5 pour une mesure sur un bon conducteur
L’erreur de mesure provoquée par les transferts parasites (lM = 100 W.m-1.K-1) et divisée environ par 2 pour une mesure sur
s’exprime par :
un conducteur moyen (lM = 20 W.m-1.K-1). Par ailleurs, il convient
lA ö de noter que, contrairement à une sonde classique, l’erreur de
æ
d q = T Ð T m = T Ð T p + T p Ð T m = ç r M + r c --------------------÷ j mesure avec une sonde semi-intrinsèque sur un bon conducteur
è l A + l Mø dépend aussi du terme rM qui n’est plus tout à fait négligeable
lA
T Ð TE devant r c -------------------- .
avec j = ----------------------------
- lA + lM
rM + rc + rE

Tableau 8 – Comparaison, en régime permanent, entre dispositif semi-intrinsèque et couple thermoélectrique

classique

Conductivité lA
rM rc r c -------------------- rE
de la paroi lM Type de sonde K.102
(K.W-1) (K.W-1) lA + lM (K.W-1)
W.m-1.K-1 (K.W-1)
Semi-intrinsèque 50 2 080 353 13 850 2,5
100
Couple thermoélectrique 25 846 - 6 244 11,9
Semi-intrinsèque 250 3 462 1 730 13 850 11,3
20
Couple thermoélectrique 125 1 692 - 6 244 20,3

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4.7.2 Régime transitoire

1
hc = 2 x 105
L’erreur et l’inertie de la mesure sont considérablement réduites.
On représente sur les figures 25 a et b une comparaison entre dis-
0,8
hc = 105
positif intrinsèque et couple thermoélectrique classique extraite de
[21]. Les courbes correspondent à la réponse à un échelon unité (cas T m+
de la brusque mise en contact décrite au paragraphe 4.5.1). q+
Ces exemples sont relatifs, pour la figure 25 a, à des mesures sur 0,6
hc = 2 x 105
un bon conducteur (lM = 100 W.m-1.K-1) et, pour la figure 25 b, sur
un milieu moins conducteur (lM = 25 W.m-1.K-1). 0,4 hc = 105W. m–2. K–1
Dans ces exemples, le flux parasite transféré par les deux disposi-
tifs est le même : le couple est assimilé à un fil unique de caractéris-
tiques identiques à celles du fil utilisé dans le dispositif intrinsèque 0,2
(même rayon du fil y = 10-4 m, même conductivité
lS = lA = 25 W.m-1.K-1, mêmes conditions de contact, c’est-à-dire 0,01 0,1 1 10 t (s)
même rayon de contact identique au rayon du fil, même conduc- 0
tance de contact hc = 1/Rc). Cela pénalise le couple semi-intrinsèque 1 10 102 103 104 105
dans sa comparaison avec le couple thermoélectrique classique. On t+
constate que, même dans cette situation défavorable, le dispositif
intrinsèque qui mesure Tm conduit à des performances très supé- Grandeurs sans dimension :
rieures au couple classique qui mesure q, et ce d’autant plus que lM = 100 W . m– 1 . K–1
l’on considère des temps courts. Pour le cas, encore plus réaliste, où lA = 25 W . m– 1 . K–1 T m – TE
T +m =
le fil du dispositif intrinsèque aurait un rayon y plus faible que le h = 50 W . m– 2 . K–1 T – TE
rayon équivalent au couple thermoélectrique à deux fils, la diffé- y = 10 – 4 m q – TE
q +=
rence serait encore plus accentuée. T – TE
aMt
t+=
y2

4.8 Paroi semi-transparente en présence

a cas d'un milieu bon conducteur
de rayonnement à courte longueur
d’onde

1
Ce cas concerne principalement les parois d’un bâtiment (verre
ou matériaux plastiques) en présence d’un rayonnement solaire. Il
concerne aussi d’autres domaines d’application, tels que le contrôle hc = 2 x 105
et la régulation de procédés d’élaboration et de mise en forme de 0,8
matières plastiques, le séchage de dépôts semi-transparents, le con- q+
trôle de traitement de surface.
0,6 hc = 105
Aux difficultés liées aux mesures par contact sur parois opaques
s’ajoutent des difficultés nouvelles, liées à la semi-transparence du T m+
milieu : échauffement du capteur par absorption du rayonnement
transmis à travers la paroi ou modification de l’absorption volumi- 0,4 hc = 2 x 105
hc = 105 W. m–2. K–1
que par l’effet d’ombre portée.
Des études ont été conduites récemment au sein de plusieurs 0,2
laboratoires dans le cadre d’une Action de Recherche Coordonnée
PIRSEM/AFME [24].
10–3 0,01 0,1 1 10 t (s)
Plusieurs thèses ou publications ont été faites sur ce sujet. Parmi 0
celles-ci, on peut citer la thèse d’E. Werling [25] qui a étudié en détail 0,1 104
1 10 102 103 t+
les erreurs de mesure par capteurs collés. Ce travail, sur le plan
théorique, reprend, en l’adaptant, le modèle d’erreur présenté pour
une paroi opaque au paragraphe 4.3. Il donne, sur le plan expéri-
lM = 25 W . m– 1 . K–1 Grandeurs sans dimension :
mental, des résultats comparatifs intéressants concernant divers
modes de fixation et de protection. Le tableau 9, extrait de ce travail, lA = 25 W . m– 1 . K–1 T m – TE
T +m =
illustre l’influence de ces fixations ou protections. On voit que h = 50 W . m– 2 . K–1 T – TE
l’erreur de mesure augmente avec l’éclairement solaire E et qu’elle y = 10 – 4 m q – TE
diffère selon la situation, estivale (Ti < TE) ou hivernale (Ti > TE) Ti et q +=
T – TE
TE étant les températures des ambiances intérieure et extérieure à la
aMt
paroi semi-transparente. t+=
y2
Une étude plus récente et qui prolonge le travail d’E. Werling con-
cerne une généralisation du modèle d’erreur présenté au
b cas d'un milieu moins conducteur
paragraphe 4.3 dans le cas où les fils qui relient le capteur à l’instru-
ment de mesure, au lieu d’être perpendiculaires, suivent un par-
cours très proche et parallèle à la paroi semi-transparente [26]. Le Figure 25 – Comparaison, en régime transitoire, entre dispositif
modèle d’erreur intègre les transferts entre ces fils et la paroi d’une semi-intrinsèque (Tm) et couple thermoélectrique classique (q) pour
part et l’environnement d’autre part. différentes conductances de contact hc.

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Tableau 9 – Mesures sur une paroi semi-transparente. Influence du revêtement du ruban adhésif de fixation
et du type de protection au rayonnement courte longueur d’onde sur l’erreur de mesure [25] (1)
Revêtement Erreur de mesure DT (°C)
Essai no de surface
extérieure E (W/m2) 0 108 156 210
Absorbant Cas estival + 0,28 + 0,87 + 0,92 + 1,14
1 aCLO » 0,9
eGLO » 0,95 Cas hivernal - 0,25 + 0,08 + 0,21 + 0,58
Aluminium Cas estival + 0,06 + 0,06 + 0,06 + 0,08
2 aCLO » 0,05
eGLO » 0,05 Cas hivernal - 0,20 - 0,19 - 0,18 - 0,18

Cas estival + 0,29 + 0,33 + 0,35 + 0,38

5 Semi-transparent
Cas hivernal - 0,42 - 0,40 - 0,38 - 0,38
Peinture à l’huile Cas estival + 0,21 + 0,18 + 0,22 + 0,22
7 « blanc de titane »
aCLO » 0,05 Cas hivernal - 0,31 - 0,34 - 0,30 - 0,27
eGLO » 0,97
(1) E éclairement solaire de la paroi
aCLO absorptivité courte longueur d’onde du revêtement de protection
eGLO émissivité grande longueur d’onde du revêtement de protection

5. Techniques de mise 5.1 Systèmes fixes ou semi-fixes

en œuvre des dispositifs
Il s’agit principalement de couples thermoélectriques, résistances,
courants films, etc. Les inconvénients majeurs de ces systèmes fixes ou semi-
fixes sont de nécessiter une certaine destruction des surfaces tes-
tées par soudage, collage, rainurage, etc., et d’avoir une mise en
Comme déjà indiqué (§ 2), deux procédés peuvent être envisagés œuvre parfois délicate. Ces systèmes constituent néanmoins un
pour les mesures par contact. moyen peu coûteux pour des mesures en continu. Les capteurs peu-
■ L’un est relatif aux mesures indirectes ; il consiste à placer des vent être montés soit sur la surface, soit sous la surface, selon
éléments thermométriques au sein du milieu et à obtenir la tempé- l’accessibilité de cette dernière, l’épaisseur des matériaux et l’agres-
rature de surface par extrapolation du champ sous-jacent ; les tech- sivité de l’environnement.
niques de mise en œuvre de ce procédé sont celles de la mesure des
températures au sein du milieu matériel ; nous ne les décrirons pas
ici, renvoyant aux références [26] [27] [28]... de la rubrique Thermo- 5.1.1 Couples thermoélectriques
métrie de ce traité. Il convient simplement d’attirer l’attention sur les
problèmes que soulève une extrapolation correcte (§ 2). C’est le type le plus usuel.
■ L’autre est relatif à la mesure directe de la température de Les principaux avantages en sont la simplicité, le faible prix, les
surface ; ce sont les techniques de mise en œuvre de ce procédé qui petites dimensions, une réponse rapide, la facilité d’adaptation à
vont être étudiées en détail. chaque application et la robustesse. Ces capteurs sont donc bien
On distingue deux types principaux de dispositifs de mesure par adaptés aux mesures ponctuelles, le régime thermique étant perma-
contact direct. nent ou transitoire. De plus, leur domaine d’utilisation va de quel-
● Les systèmes fixes ou semi-fixes sont utilisés pour donner, à un ques kelvins à 1 400 K sans problème, jusqu’à 2 600 K avec du
endroit déterminé, et de manière continue, la température de sur- tungstène, voire 2 800 K avec des couples thermoélectriques non
face. métalliques.
● Les systèmes amovibles et appliqués par simple pression sont Leurs inconvénients sont un certain manque de sensibilité et, sur-
utilisés pour obtenir des mesures en des points variés, cela de façon tout, une perturbation importante de la température locale due à
intermittente ou occasionnelle. l’effet de conduction de la chaleur par les fils du capteur (§ 4). Il fau-
Il faut signaler que, en général, les erreurs de mesure seront plus dra donc faire particulièrement attention à ce dernier point.
importantes, et la précision moins bonne, avec ce second type de On considère deux procédés principaux d’installation :
dispositifs.
— couple thermoélectrique monté sur la surface ;
Ensuite, le choix de la technique devra bien sûr tenir compte
d’autres impératifs (cf. § 1) : — couple thermoélectrique monté sous la surface.
— est-ce une mesure ponctuelle, moyenne ou sur une grande On choisira le premier procédé si l’épaisseur du matériau est fai-
étendue ? ble et si le milieu environnant est peu agressif (atmosphère calme,
— la surface est-elle facilement accessible : nature, dimensions, rayonnement à température ambiante, pas de destruction mécani-
etc. ? que ni de corrosion chimique). On choisira la deuxième méthode si
— le régime thermique est-il permanent ou transitoire ? le milieu environnant a une influence importante (refroidissement
— l’environnement a-t-il une agressivité importante ? par convection forcée, source de rayonnement à haute température,
— s’agit-il d’une mesure de contrôle, de comparaison ou de corrosion chimique, chocs mécaniques, etc.) et si le matériau est
précision ? suffisamment épais.

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F F
F F F F
R
S Fc
S D S
D

a b c a b

F G Su V So F
So

F F
F F
D Su Ra
c d

F fils R ruban Su surface

Fc fils croisés Ra fond de la rainure V vernis isolant
d e
G gaine isolante So soudure
D disque F fils S soudure
Figure 27 – Couples thermoélectriques montés sur la surface
Figure 26 – Couples thermoélectriques montés sur la surface
(fils parallèles)
(fils perpendiculaires)

cela n’est pas toujours possible s’il existe des gradients superficiels.
[Link] Couple thermoélectrique monté sur la surface
Les fils peuvent être croisés et soudés ponctuellement à leur croise-
Suivant l’accessibilité de la surface, on a deux possibilités d’instal- ment entre eux et à la surface (figure 27 a). On peut aussi utiliser
lation, pour les fils du couple thermoélectrique : des conducteurs thermoélectriques en forme de ruban reliés par un
— fils perpendiculaires à la surface si l’accessibilité est court ruban de cuivre (figure 27 b) [36]. Sur la figure 27 c, les deux
mauvaise ; mais les risques d’erreur sont importants ; fils sont soudés en surface et ils sont isolés par une gaine ou un ver-
nis. Les deux couples peuvent aussi être soudés dans une rainure
— fils parallèles à la surface si l’accessibilité est bonne ; les mesu-
(figure 27 d ) [34]. Comme dans le cas des fils perpendiculaires à la
res sont plus sûres.
surface, une autre version consiste à utiliser les deux fils de couples
■ Fils perpendiculaires à la surface thermoélectriques séparément (conducteurs séparés). On réduit
ainsi encore considérablement l’erreur de mesure pour les conduc-
L’arrangement le plus simple [32] consiste en un couple thermo- teurs. Pour des mesures sur des isolants, il est nécessaire de prévoir
électrique dont les deux fils sont soudés et qui est attaché sur la sur- une métallisation de la surface ou d’utiliser une barrette conduc-
face par soudage, collage ou simple pression (figure 26 a). Les trice.
erreurs de mesure sont alors très importantes (§ 4). Ce dispositif ne
peut être envisagé que pour des mesures de contrôle ou de compa- ■ Enfin nous allons examiner le cas des couples thermoélectriques
raison à condition que les caractéristiques du contact restent sta- timbres.
bles. Pour des mesures plus précises, on est conduit à utiliser un
disque conducteur pour accroître la surface de contact (figure 26 b), ■ On désigne par cette appellation des sondes similaires aux jau-
afin de réduire les résistances rc et rM (§ 4). La fixation du disque ges de contrainte, leurs dimensions allant de 1 à 20 mm de côté
avec la surface peut se faire soit par soudage (c’est la meilleure solu- environ. Ces couples thermoélectriques timbres sont constitués [34]
tion), soit par collage au moyen de ciments, de résines, soit au de deux rubans extra-plats, de nature différente (chromel, alumel,
moyen d’un ressort. Enfin, pour réduire encore les erreurs, les fils fer, constantan, cuivre, etc.), soudés entre eux et pris en sandwich
doivent suivre un trajet isotherme sur une longueur égale à 50 à entre un support mince (résine époxy, Kapton, etc.) collé sur la sur-
100 fois le diamètre des fils (figure 26 c). face et une couche protectrice extérieure (figure 28). La fixation de
Une autre version consiste à utiliser les deux fils de couple ther- la sonde sur le support se fait très souvent avec du ciment spécial au
moélectrique séparément (conducteurs séparés, figure 26 d). Cela silicone ou de la résine époxyde. Ce type de capteur, du fait de sa
peut être utilisé dans le cas d’une surface métallique, le circuit élec- très faible épaisseur, perturbe peu les échanges thermoconvectifs.
trique se fermant à travers le corps à mesurer. La température mesu- Par contre, il peut modifier notablement les échanges radiatifs entre
rée est alors une température moyenne qui est beaucoup plus la surface et le milieu environnant si les émissivités du capteur et de
proche de la température vraie de la surface que dans l’installation la surface sont différentes, et ce d’autant plus que l’aire de la sonde
de la figure 26 a (§ 4). Il est recommandé de souder les fils à la sur- est importante. Les mesures peuvent être altérées s’il y a une source
face, de manière à assurer un bon contact électrique. Pour des de rayonnement à haute température vue sous un angle solide
mesures sur les isolants, une métallisation de la surface est néces- important (cf sonde timbre, § 4.4). On peut alors tenter d’y remédier
saire pour assurer la liaison électrique. Sinon, on est conduit à utili- par adjonction d’une couche superficielle dont les propriétés émissi-
ser un disque conducteur [33] sur lequel sont brasés les deux fils de ves sont aussi voisines que possible de celle de la surface testée. Le
couple thermoélectrique (figure 26 e). Par ailleurs, on peut utiliser coefficient d’erreur et le temps de réponse de ces couples thermo-
des éléments semi-conducteurs dopés N et P pour réaliser ce type électriques timbres sont nettement plus faibles que pour les couples
de couple thermoélectrique [18]. thermoélectriques ordinaires (rapport 100 environ).

■ Fils parallèles à la surface

[Link] Couple thermoélectrique monté sous la surface
Lorsque l’accessibilité de la surface le permet, on a intérêt à placer
les fils de couple thermoélectrique parallèles à cette dernière, de Comme au paragraphe [Link], on considérera successivement
manière à leur faire suivre des chemins isothermes et à réduire ainsi les deux cas où les fils sont perpendiculaires et parallèles à la sur-
les erreurs liées aux transferts de chaleur parasites (figure 27). Mais face.

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Jonction Fils
1er métal
Jonction
2e métal
Figure 28 – Couple thermoélectrique timbre
Figure 30 – Couple thermoélectrique en film ou en couche mince

Paroi
Fil
résistant
Relais
Fils
Fils
a b
b
a Figure 31 – Sondes résistances
Vernis isolant Soudure
Rainure

négligeables en raison de leur minceur, sauf pour les sources de

rayonnement à haute température (§ 4). Il faut noter par ailleurs la
c d très faible inertie de ces capteurs qui sont particulièrement adaptés
à la détection des variations rapides de température (temps de
a b fils perpendiculaires à la surface réponse de l’ordre de 1 ms).
c d fils parallèles à la surface Les films les plus employés sont : nickel - cuivre, fer - nickel, anti-
Figure 29 – Couples thermoélectriques montés sous la surface moine - bismuth, semi-conducteur - aluminium, bismuth - argent,
etc. Les métaux purs sont plus faciles à vaporiser que les alliages et
la composition du film est plus reproductible. Le dépôt doit être fait
obligatoirement sur un support isolant. On réalise ce dépôt, et éven-
■ Fils perpendiculaires à la surface tuellement le support isolant, par évaporation sous vide. Les con-
Le couple thermoélectrique est disposé dans un trou percé per- nections peuvent être réalisées soit par des plots métalliques de
pendiculaire à la surface, la jonction de ce couple affleurant la sur- même nature que les constituants du film, soit par pression, au
face et étant soudée ou collée à celle-ci (figure 29 a). On peut se moyen de petites brosses métalliques, dans le cas de liaisons amo-
contenter de percer un trou borgne de l’intérieur du corps jusqu’à vibles. Enfin, les propriétés thermoélectriques des couches minces
une distance proche de la surface (figure 29 b). La température est diffèrent de celles des métaux en grande dimension et ce d’autant
alors mesurée en insérant un couple thermoélectrique au fond du plus que leur épaisseur est faible. Un étalonnage est alors néces-
trou [35] [36]. saire.

■ Fils parallèles à la surface

On insère le couple thermoélectrique dans une rainure pratiquée 5.1.2 Résistances
dans le corps, parallèlement à la surface (figure 29 c). La rainure est
alors remplie de ciment ou de soudure, de façon à assurer un bon Ce sont des sondes similaires aux couples thermoélectriques tim-
contact thermique au niveau de la jonction, les fils de liaison restant bres (figure 28), dont la surface est importante et dont les dimen-
isolés électriquement [35] [36]. sions peuvent varier entre 1 et 20 mm. Du fait de leur principe
On peut aussi utiliser le matériau, lorsque c’est possible, comme même, elles indiquent la température moyenne de l’élément de sur-
second métal du couple [34] [35]. Le fil du couple thermoélectrique face qu’elles recouvrent et peuvent présenter de ce point de vue un
est logé encore dans une rainure et soudé à son extrémité avec le intérêt (mesure d’une température moyenne). De plus, leur préci-
matériau. La prolongation de ce dernier se fait par un fil de même sion est meilleure que celle des couples thermoélectriques. Une
nature (figure 29 d). sonde résistance est constituée d’un fil résistant (nickel, platine, etc.)
en forme de serpentin (figure 31 a), montée sur un support mince
On terminera cette étude par le cas des couples thermoélectriques (résine époxyde, Kapton, céramique, mica, etc.) [34] [37]. La fixation
en film ou en couche mince. de la sonde sur le support se fait très souvent avec du ciment spé-
cial. La température maximale d’emploi va de 700 à 1 300 K, la résis-
[Link] Couples thermoélectriques en film tance électrique variant de 10 à 2 000 W. La nécessité de limiter les
(ou en couche mince) déperditions parasites impose, au départ de la sonde, des fils de très
faible section (quelques centièmes de millimètre), trop fragiles pour
Le principe des couples thermoélectriques en film ou en couche être reliés directement à la chaîne de mesure. Il est commode de
mince consiste à déposer sur une paroi isolante deux couches passer par l’intermédiaire d’un relais, collé sur la surface, qui servira
métalliques de matières différentes qui se recouvrent sur une zone de jonction soudée entre les fils fins et un fil de cuivre de section
déterminée (figure 30) [33] [34]. La jonction thermoélectrique ainsi plus importante (figure 31 b). Ce montage se révèle d’une bonne
constituée permet la mesure de la température de la zone de recou- efficacité si la température de la surface est sensiblement uniforme
vrement. On peut aussi appliquer un film sur une surface métallique et si les échanges superficiels sont faibles. Ce type de capteur peut
qui forme elle-même le second matériau du couple thermoélectri- modifier notablement les échanges radiatifs directs du fait de la
que. variation d’émissivité et de la surface importante de la sonde, sur-
Les avantages de ces films sont notables. En particulier, les per- tout s’il y a des sources de rayonnement à haute température (§ 4).
turbations apportées par les films aux échanges superficiels sont Là encore, on peut tenter d’y remédier par adjonction d’une couche

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superficielle dont les propriétés émissives sont aussi voisines que

possible de celles de la surface testée.

■ Examinons maintenant le cas des films résistances Support de sonde

Ce sont des films métalliques fins utilisés comme thermomètres à
résistance, principalement en régime transitoire, du fait de leur très
faible capacité thermique et de leur temps de réponse inférieur à
1 ms [37]. Ces films peuvent être appliqués directement sur des
corps isolants ou sur des corps conducteurs, mais en appliquant
Ruban
d’abord un substrat fin isolant. Ces films sont généralement appli-
qués par évaporation sous vide ou par peinture. Leur épaisseur est
de 10 à 300 nm. Leurs dimensions s’étendent environ de 1 à 20 mm Jonction
de côté et leur résistance varie de 2 à 200 W. Les matériaux consti- A B Surface
tuant ces films sont : le platine, très souvent, le nickel ou le palla-
dium, utilisés pour leur très fort coefficient de température, enfin, le
carbone, le chrome, l’Inconel, le trisulfite d’antimoine, les oxydes de Flux parasite
zinc et d’or. Là encore, les propriétés des films résistants diffèrent de
celles du métal plein, mais restent stables. Un étalonnage de chaque A, B extrémités de la zone de contact du ruban
capteur se révèle donc nécessaire.
Figure 33 – Sonde à ruban

5.2 Systèmes amovibles et appliqués Le domaine d’utilisation de ces sondes s’étend de 200 à 800 K
environ.
par simple pression

5.2.2 Sondes à ruban

Il est souvent nécessaire de connaître la distribution de tempéra-
ture sur une surface ou de faire des mesures en des points variés, de
façon intermittente ou occasionnelle. Pour cela, différents types de Il s’agit de sondes constituées par un ruban métallique souple que
sondes portables sont réalisés. Il faut rappeler que, en général, les l’on vient appliquer sur la surface. L’élément thermométrique est
erreurs de mesure sont plus importantes et la précision moins situé au centre du ruban et dans son plan de symétrie (figure 33). Il
bonne qu’avec les systèmes fixes. Cela provient du mauvais contact s’agit le plus souvent de couples thermoélectriques, parfois consti-
entre la sonde et la surface et de la présence de la sonde, de dimen- tués par le ruban lui-même ou, plus rarement, d’une résistance.
sions relativement importantes. L’intérêt de ce dispositif par rapport aux sondes aiguilles simples est
que la perturbation du champ de température est reportée essentiel-
lement aux extrémités A et B de la zone de contact entre le ruban et
la surface. Dans la zone de mesure, située dans le plan de symétrie,
5.2.1 Sondes aiguilles simples il n’y a pratiquement pas de flux de chaleur parasite, les conditions
de contact influent très peu sur la mesure, la température du capteur
Elles sont composées d’un tube, souvent en acier inoxydable, est égale à la température de la surface sous-jacente. Si la longueur
dont le diamètre est de quelques millimètres, à l’extrémité duquel de la zone de contact du ruban est suffisante (supérieure à 15 fois la
est placée une capsule très conductrice (argent). Un couple ther- largeur du ruban), la perturbation du champ de température, impor-
moélectrique, une résistance ou un détecteur à semi-conducteur est tante aux extrémités A et B de cette zone, n’est que très faible au
fixé en étroit contact thermique avec cette capsule (figure 32 a). Ces centre. L’erreur de mesure est donc nettement plus faible que pour
sondes sont appliquées perpendiculairement à la surface soit sim- les sondes aiguilles simples.
plement, soit par un dispositif avec ressort taré. Certaines sondes
comportent des têtes de mesures différentes (figure 32 b, c, d ). Le 5.2.3 Sondes compensées
coefficient d’erreur K dépend alors de la forme de la tête.
Exemple : valeurs de K mesurées pour les quatre sondes de la Avec les sondes venant d’être décrites, aucune source thermique
figure 32 sur une plaque de cuivre [36] : extérieure n’est nécessaire pour effectuer les mesures. L’analyse des
K = 0,17 (figure 32 a) erreurs introduites par ce type d’instrument a montré clairement
(§ 4) l’intérêt de substituer à la liaison classique entre le thermomè-
0,13 (figure 32 b) tre et le milieu ambiant une liaison entre le thermomètre et une
0,05 (figure 32 c) source extérieure convenablement régulée. Des sondes compen-
0,02 (figure 32 d) sées ont donc été mises au point. Elles comprennent deux couples
et diminue avec la pression d’application. thermoélectriques, l’un (S) correspondant à la jonction de mesure et
appliqué sur la surface l’autre (R) situé au voisinage immédiat du
premier (figure 34). Un petit chauffage (résistance chauffante, par
exemple) est ajusté de telle manière que les deux couples thermo-
électriques indiquent la même température [34]. Comme cela a été
vu (§ 4.4), on a intérêt à augmenter la résistance thermique entre (S)
et (R), c’est-à-dire d’une part à réduire le diamètre des fils des cou-
ples thermoélectriques, d’autre part à utiliser un matériau isolant
pour la partie de la sonde comprise entre (S) et (R). Contrairement
au cas des sondes non compensées, un contact ponctuel est souhai-
table afin de limiter l’aire perturbée. Enfin, un dispositif à ressort
a b c d permet d’appliquer la sonde sur la surface à pression sensiblement
constante. Le domaine d’utilisation s’étend des températures
Figure 32 – Sondes aiguilles simples ambiantes à environ 950 K. Ces sondes, assez sophistiquées, sont

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surtout utilisées en laboratoire ; elles ne sont guère commerciali-

sées actuellement.
Couples thermoélectriques
Il existe, par contre, dans le commerce, un autre type de sonde (S) (R)
compensée dite à compensation électronique. Il s’agit, en fait, de
sondes ordinaires mais dont l’organe de lecture effectue une correc-
tion automatique de la mesure. Cette correction est fondée sur
l’hypothèse d’un coefficient d’erreur constant préalablement
mesuré par le constructeur. Comme K varie avec le type de mesure,
ce ne peut être qu’une correction très approximative. Chauffage

Isolant

5.3 Conclusion
Surface

En guise de résumé des techniques de mise en œuvre, nous don-

nons dans le tableau 10 les possibilités de choix du capteur en fonc-
tion des divers impératifs. Figure 34 – Sonde compensée

Tableau 10 – Choix du capteur en fonction de divers impératifs

Systèmes fixes ou semi-fixes Systèmes amovibles

Couples thermoélectriques Résistances

ordinaires
Impératifs
Sondes Sondes Sondes
montés sur montés sous aiguilles à compen-
la surface la surface timbres films ordinaires films simples ruban sées

Fils ^ Fils // Fils ^ Fils //

Mesure continue X X X X X X X X
Mesure intermittente X X X
ou occasionnelle
Mesure ponctuelle X X X X X X X X X
Mesure moyenne (1) X X
Surface accessible X X X X X X X X X X X
Surface difficilement accessible X X X
Régime permanent X X X X X X X X X X X
ou lentement variable
Régime variable X X X X X X X X
Régime très rapidement variable X X
Faible agressivité X X X X X X X X X X X
de l’environnement
Forte agressivité X X
de l’environnement
Mesure de contrôle X X X
Mesure de précision X X X X X X X
(1) Il s’agit d’une moyenne sur l’aire de la zone de mesure et non d’une moyenne temporelle

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 P
O
U
Température de surface R
Mesure par contact E
par Jean-Pierre BARDON
N
Professeur à l’Institut des sciences de l’ingénieur en thermique, énergétique et matériaux
(ISITEM)
Université de Nantes
et Bernard CASSAGNE S
Docteur ès sciences
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que. R 2 737 (1989). Traité Mesures et Con-
trôle, vol. R 2.

S Constructeurs. Fournisseurs

A Systèmes fixes ou semi-fixes L.C.C.

Minco Products Inc.
Couples thermoélectriques
V Air Liquide (L’) Division scientifique.
Auriema France.
Pyro-Contrôle.
Rosemount Inc.
Siden Télec (Sté) (SIDETEL).
Auxitrol (Sté).
O Barber-Colman Industrial instruments division.
Câbles de Lyon.
Solomat S.A.
Thermanalyse S.A.R.L.
Thermel (Sté).
Chauvin-Arnoux et Cie (Sté).
I Comptoir Lyon-Alemand Louyot.
Coreci (Cie de Régulation et de Contrôle Industriel).
Systèmes amovibles
Air Liquide (L’) Division scientifique.
F.G.P. Instrumentation.
R Hy-Cal Engineering.
Leeds et Northrup France.
AOIP (Sté).
Auriema France.
Barber-Colman Co Industrial instruments division.
Minco Products Inc. Jumo Régulation S.A.
Philips Industrielle et Commerciale S.A. Division : Science et Industrie. Lab. Instruments.
Pyro-Contrôle.
Moreau R. (Construction Ionitherm).
Sereg-Schlumberger.
P Sodéfi.
Sodern (Sté An. d’Études et de Réalisations Nucléaires).
Noctan Automatismes.
Oriel S.A.R.L.
Ouvrard, Villars et Guilux Département mesures.
Thermanalyse S.A.R.L.
L Résistances
Solomat S.A.
Testoterm KG.
Testoterm S.A.R.L.
Air Liquide (L’) Division scientifique.
U Auxitrol (Sté).
Comptoir Lyon-Alemand Louyot.
Ultrakust-Gerätebau GmbH und Co KG.
Betatherm Ireland Ltd.
Jumo régulation S.A.
S Kulite International S.A.R.L.
Kulite Semi-Conductor Products.
Mesure et Automatisme pour l’Industrie et la Recherche MAIR SA (fournis-
seur sondes Ultra 7 Hy-Cal Engineering, thermistances YSI Yellow Springs Ins-
Labem (Laboratoires d’Électromécanique). truments CO.)

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