Licence Métrologie sans contact

Professionnelle
GPI INTERFEROMETRIE DE
Métrologie et
SPECKLE
contrôle qualité

INTRODUCTION

Le speckle est cette granularité particulière à la lumière laser lorsqu’elle

est diffusée par une surface rugueuse.
Au niveau microscopique, une surface présente en général des
irrégularités de forme (rugosité) d'amplitude supérieure ou égale à la
longueur d'onde de la lumière visible. Quand une surface de ce type est
éclairée par de la lumière laser, l'onde diffusée subit un déphasage aléatoire
à cause de la différence de chemin optique liée à la micro-rugosité ().
En un point tel que M de l'espace interfèrent toutes les ondes issues des
points tels que P. Il en résulte un état d'éclairement donnant à la surface cet
aspect granulaire (Figure 2.)
Les mesures de formes et de déformations dans la gamme de sensibilité
de l'ordre du micron utilisent les techniques de photographie de speckle Figure 1 : Diffusion aléatoire de la lumière
(1968), d'interférométrie de speckle (1970). Associées aux par la micro-rugosité d'une surface
développements des caméras CCD, cartes d'acquisition PC (1985), ces
techniques s'imposent en 1996 en marginalisant d'autres techniques
comme l'interférométrie holographique (1965).

Ce TP se déroulera en 12 heures et 4 parties :

1) Principes mis en œuvre : on analysera les principes physiques et

traitements d'images utilisés. On précisera ce qu’est le speckle et
l’utilisation qu’on peut en faire en :
• photographie de speckle
• interférométrie de speckle

2) Mise en œuvre : on réalisera un montage de base qui permet de faire Figure 2.

de l’interférométrie en temps réel ou en double exposition pour la mesure
de déformations « hors du plan » d'une plaque métallique puis une
expérience de shearographie permettant la mise en évidence de défauts non apparents.

3) Analyse des performances : on

confrontera les résultats obtenus par
Poutre Poutre
double exposition à ceux prévus par le référence
d'étude
calcul.
On fera évoluer le montage Lame de verre
interférométrique en faisant varier Alimentation séparatrice
0 à 100 V
légèrement l’un des chemins optiques.
Cette variation sera obtenue en Butée à
déplaçant de manière maîtrisée une Micromètre
cellule piézo-électrique pilotée par
logiciel. On obtiendra alors l’image
phasée de la déformation. On cherchera Camera avec
Lentille objectif 25mm
alors à connaître quelles informations 5 mm Platine à zoom
supplémentaires cette méthode apporte déplacement
à la technique. piézo électrique

4) Etude de documents pour Laser

connaître les originalités et les
performances de quelques systèmes
industriels.

Photo du montage d'interférométrie de speckle en images phasées

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PRINCIPES

1. Notion de speckle
Lorsqu'on éclaire un objet diffusant avec un laser, on observe une «figure de
speckle» Figure 2 .
Chaque grain de speckle a la forme d’un grain de riz ; la figure du cadre 1
représente une coupe transversale de ces grains qui sont allongés dans le sens
perpendiculaire à la figure.
cadre 1 :Grain de speckle.
L’observation du speckle peut être faite de 2 manières différentes :
• en plaçant un écran au voisinage de l’objet diffusant : c’est le speckle
objectif.
• en utilisant un système de projection : l’œil, une lentille ou un objectif (voir cadre 3) : c’est le speckle
subjectif.
1.1 Speckle objectif : observations.
Réaliser le montage du cadre 2. Le dépoli ou une lame plus ou
moins rugueuse est au départ à environ 70 cm de la lentille L et la
caméra CCD (sans objectif) à 50 cm du dépoli. L (20 mm)
Ouvrir le logiciel [Link]. Observer l’image de speckle.
Rapprocher la lentille L du dépoli : la taille des grains dépend de la
surface éclairée sur le dépoli.
Rechercher la position de la lentille qui donne la taille maximum
pour les grains de speckle.
D
Rq : l'observation peut aussi se faire par transmission si l'objet n'est CC
pas opaque.
cadre 2: observation du speckle
Montrer le résultat et expliquez comment on peut utiliser cette
observation pour repérer le foyer d'une lentille.

1.2 Speckle subjectif : dimension des grains.

1.2.1 Influence de l’ouverture de l’objectif sur la largeur du grain
Dans le cas du speckle subjectif, la théorie montre que la taille d du grain de speckle dans le plan conjugué de
1,22λp'
l’objet rugueux est donnée par la relation : d = . La valeur de d est donc fonction de la distance p entre
D
l’objet et l'objectif et du diamètre d’ouverture D de l’objectif. On utilise un objectif de distance focale f’ dont on peut
faire varier le nombre d'ouverture NO défini par :
f'
NO = .
D
• Le grandissement transversal Gt (les
grandeurs sont toutes en valeur absolue) est
p' p'
: = − 1 = G t . En déduire la
p f'
relation : d = 1,22(1 + G t ) ⋅ λ ⋅ NO .
• Application numérique : λ = 633 nm,
p = 300 mm, f’ = 25 mm et D = 2,5 mm.
Calculer p’, Gt, NO puis d.
• A la limite, si on éloigne l’objet sans changer
l’ouverture de l’objectif d devient
d = 1,22 ⋅ λ ⋅NO . La taille d des grains doit être cadre 3: taille des grains de speckle.
supérieure à celle des pixel du CCD (10 µm).
Quelle doit être la valeur minimale de NO ?

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Rq : Le NO est porté sur la bague des diaphragmes d'objectifs. Les valeurs usuelles sont :
1,4 2 2,8 4 5,6 8 11 16 32
Quand NO passe d'une valeur à la valeur supérieure, on divise le diamètre d'ouverture par 2.

1.2.2 Influence de l’ouverture de l’objectif sur la longueur (épaisseur) du grain

La théorie montre que la longueur du grain de speckle vaut : s = 8 ⋅ λ ⋅ (NO) 2 .

Calculer la valeur de s avec la valeur de NO trouvée précédemment.

Rq.: s limite la valeur du déplacement transversal (ou de la déformation) décelable par interférométrie de
speckle.
2. Interféromètre de Michelson
La mesure de déplacements micrométriques hors plan est réalisée à l’aide d’un montage optique du type
interféromètre de Michelson.

Voir cadre 1 et cadre 2 du dossier technique.

• Faire un schéma d’un interféromètre de Michelson classique utilisant une source laser et deux miroirs.
• Quelle condition relative à la longueur des bras permet d’obtenir des interférences ?
• En quoi le montage proposé cadre 4 diffère du montage habituel de Michelson ?

3. Interférométrie de speckle
Pour chaque état de l’objet, l’image enregistrée par le CCD est une matrice de pixels. L'éclairement de chaque
pixel résulte de la superposition des grains de speckle subjectif de la lame de référence et de la lame objet. C'est
une figure d’interférences entre :
• le faisceau d'intensité IREF diffusé par un point (élément de surface) de la poutre que l’on va mettre en flexion;
• le faisceau d'intensité IOBJ diffusé par un point de la lame de référence.
Chaque pixel reçoit un flux (ou intensité) du type I = IREF + IOBJ + 2 IREFIOBJ cos(ϕREF − ϕ OBJ ) où ϕOBJ et ϕREF
sont à considérer comme des déphasages aléatoires (entre 0 et 2π).

On suppose que l’on réalise un enregistrement en double exposition d’une poutre fléchie : la première image
est celle de la poutre dans l'état 1. Après une déformation
initiale de la lame, la déformée z1 au point d'abscisse x diminue CCD
de 2z1 le trajet de la lumière dans le bras de mesure et induit
4π
un déphasage supplémentaire : z1 .
λ
L'intensité enregistrée sur le pixel d'abscisse x est :
Objet
4π
I1 = IREF + IOBJ + 2 IREFIOBJ cos( ϕREF − ϕ OBJ + z1 )
λ
Si l’on déplace l’objet sans changer la référence (ce qui
suppose la déformation plus faible que la profondeur s des L (5 mm)

grains de speckle), la deuxième image est celle de la poutre Sp

dans l'état 2. Le même pixel reçoit un flux du type
4π
I2 = IREF + IOBJ + 2 IREFIOBJ cos(ϕREF − ϕ OBJ + z2 )
λ
Le traitement d’image permet de réaliser des opérations Référence
mathématiques pixel par pixel entre les intensités lumineuses
cadre 4 : interférométrie de speckle
restituées. On peut par exemple effectuer la différence I2 − I1 et
en prendre la valeur absolue.
2π 2π
|I2 – I1| = 4 IREFIOBJ sin(ϕ OBJ − ϕREF − (z 2 + z1)) * sin( (z 2 − z1))
λ λ

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a+b a−b
• Développer le calcul de I2 – I1 (utiliser la formule de trigo cos(a) − cos(b) = −2 sin sin ).
2 2
• Montrer que I2 – I1 = 0 (pixel noir) si z2 - z1 = pλ/2 (p entier).
• Montrer que I2 – I1 est aléatoire si z2 - z1 ≠ pλ/2 avec des chances d'être maximum (en valeur absolue) pour
z2 - z1 = (p + 1/2)λ/2.
• Lorsque I2 ≈ I1 la soustraction donne du noir. Sur l’image, l’ensemble des pixels noirs forment des franges
sombres dites franges de « corrélation d’intensité ». Expliquez ce terme.

λ/2 (p entier)
Franges sombres => déformation z = pλ

4. Shearographie
Observer le schéma du montage du cadre 5 et
comparer au cadre 4. CCD

• Que voit la caméra CCD dans l’un et l’autre Miroir 2

cas ?
• Pourquoi le miroir M1 est-il incliné cadre 5 ? Objet
• Quelle est la référence dans le cas du cadre
5?

En shearographie on fait interférer un grain de Sp

speckle A avec un grain de speckle B décalé
(shearo) d’une valeur AB = s. A et B sont deux points
du même objet d'étude leur interférence crée
La
l'éclairement I1 sur un pixel du CCD. se Miroir 1
rH
e
Ne
Si A et B se déforment de la même façon,
l'éclairement I2 résultant ne change pas et la cadre 5 : Interférométrie de speckle différentiel ou
différence absolue I2 – I1 est nulle (frange sombre). shearographie
De même si la différence des déformations est
multiple de λ/2. On parle d'interférométrie différentielle.
Les franges sombres correspondent donc aux régions de l'objet où la variation ∆z de déformation entre deux
points distants de s est nulle ou multiple de λ/2

Franges sombres => différence de déformation ∆z = pλ

λ/2 (p entier)
5. Traitements d'images.
Cette partie vous familiarisera avec le logiciel VisuIm5.
5.1 Photographie de speckle
Ouvrir le logiciel "VisuIm".

Ouvrir les images [Link] et 08µ[Link]. Elles sont l'enregistrement du speckle diffusé par un objet dans une
première position puis dans une position décalée de 8 µm dans son plan.
Utilisant "Image - Opérations" faire l'addition des deux images. Demander ensuite la transformée de Fourier
FFT de l'image somme.

Refaire le même travail avec [Link] et 16µ[Link] obtenue après un déplacement de 16 µm.

Observer les images obtenues. Que peut-on dire de l’écart entre les franges obtenues ?
Expliquer alors le principe de la mesure de déplacements dans le plan par photographie de speckle.
Enregistrer une image "[Link]"

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5.2 Interférométrie de speckle en double exposition.

Ouvrir les images [Link] et [Link]. Elles sont les l'enregistrement du speckle résultant de l'interférence
du speckle d'un objet de référence et du speckle diffusé par une poutre (cadre 4), avant puis après une
déformation.

Utilisant "Image - Opérations" faire la soustraction absolue Expo1 - Expo2 des deux images puis multiplier
l'image obtenue par une constante. Recommencer en faisant Expo2 – Expo1.

Observer les franges sombres obtenues. En utilisant les conclusions du paragraphe 3, estimez la valeur de la
déformation à la base de la poutre sur l'image (la longueur d'onde du laser est λ = 0,63 µm).
Enregistrez votre résultat "[Link]"

5.3 Interférométrie de speckle en images phasées

Ouvrir [Link] et [Link]. Cette fois le niveau de gris de chaque grain de speckle correspond à la
valeur de la différence de phase, c'est à dire aussi à la différence des chemins optiques entre la poutre et la
référence.
Faire les soustractions modulo 256 des deux images. Phasee2 – Phasee1 puis Phasee1 – Phasee2. Observer
les images "soustraction1" et "soustraction2"
Dans "Image – Créer une image masque" faire un masque rectangulaire sur l'une des images obtenues.
Dans "Analyse de franges – Image phasée" faire la démodulation des deux "soustractions" en utilisant le
masque. On obtient les images de la déformation en niveaux de gris.
A l'aide de la souris, faire le profil de la déformation.

Enregistrez vos résultats "[Link]" et [Link]. Laquelle de ces images correspond à la déformation
effectivement réalisée ?

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MISE EN ŒUVRE

1. Mesure d’une déformation hors plan par interférométrie de speckle

1.1 Image en temps réel

Il s'agit de la méthode par double exposition. La
première image enregistre l'état 1 (initial) de l'objet d'étude
(poutre sur deux appuis).
Sp
Elle est systématiquement soustraite (soustraction
absolue) à chaque image qui suit.
On observe alors les franges qui caractérisent la
déformation par rapport à l'état initial. L (5 mm)
Plan de
• Réaliser le montage d'enregistrement décrit dans le référence
document HOLO3 du dossier technique et
schématisé Cadre 6. Les bras de l'interféromètre font
environ 50 cm. Sp est une séparatrice (ou une simple Poutre
sur 2 appuis
lame de verre ordinnaire)
• Réaliser la mise au point avec l'objectif 25 mm à
zoom. Cadre 6 : schéma du montage.
• En utilisant [Link] acquérir une première image
de la poutre après avoir sélectionné le numériseur (Numériseur/Matrox/Meteor II).
• Appliquer, en son centre, une précontrainte à la poutre (ce sera l'état 1 avant la déformation).
• Superposer l’image de la poutre et de l’objet de référence à travers la séparatrice. Assurez vous que au
moins un point d'appui se trouve dans le champ de la caméra.
• Modifier l’ouverture de l’objectif et le temps d’intégration de la caméra. Constater leur action sur la luminosité
de l’image et la taille des grains de speckle.
• Pour optimiser les réglages, on utilise l’échelle des pseudo-couleurs (Numériseur/Visualiser en fausses
couleurs). On doit obtenir une dominante verte avec des grains de speckle les plus gros possible.
• Figer l'image, se positionner dans Numériseur/Temps réel. Réaliser une image de référence. Si le montage
est stable, l’image doit rester uniformément noire.

Faire appel à un professeur pour vous aider et pour vérifier le montage.

1.2 Acquisition et interprétation

• Agir sur le micromètre pour déformer la poutre au point de poussée. La poutre doit apparaître à l’écran avec
les franges de corrélation. Noter en utilisant l'indication du micromètre la valeur (approximative) de cette
déformation.
• Refaire plusieurs fois la manipulation pour vous familiariser avec la méthode et optiminer vos résultats.
Analyse des résultats après avoir étalonné l'image (correspondance pixels → mm
Sauvegarder votre image sur le disque dur sous Noms_temps ré[Link].

Les franges sombres correspondent à une déformation nulle ou multiple de λ/2 : z2 – z1 = pλ/2 où p est l'ordre
des franges. p est entier croissant jusqu'à la déformation maximum puis décroissant (p = 0 aux points d'appuis
n'est pas visible).

Numéro de la frange sombre 1 2 3 ....

Position x (mm)
ordre p 1 2 3
Déformation z2 – z1 (µm) 0,316 0.633
Tableau 1 :Double expo, position des franges de corrélation d'intensité.

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Représenter sous Excel la déformation z = z2 – z1 (en µm) en fonction de x (en mm). Pour cela ouvrir (en lecture
seule) le fichier excel "Calcul_deformee.xls". Rentrer les valeurs de x et p et la correspondance pixels
mm.
Un exemple se trouve sous "calcul déformee_ex.xls".
4f 3 3f L
On démontre en RDM que l'équation de la déformée est z = x − x si x < avec (valeur à ajuster) L ≈
L 3 L 2
180 mm et pour f la valeur indiquée par le micromètre (en tenant compte du bras de levier).
L
Si x > l'équation est la même en remplaçant x par L – x. Ajouter sur le même graphe la courbe théorique en
2
ajustant au mieux la valeur de f ainsi que le décalage d (écart de la position de la frange d'ordre 1 prise pour
origine par rapport à p=0 sur le point d'appui). Enregistrer votre fichier "Noms_deformee.xls"

Conclusions. Théorie et expérience sont-elles en accord ? Quelle est la valeur de f retenue ?

2. Visualisation de défaut par interférométrie différentielle (shearographie)

Réalisez le montage du cadre 5. L'objet d'étude est formé de deux
plaques d'acier jointes. Celle de la face avant présente un défaut non
apparent (cadre 7).
Veillez à superposer les deux images de l'objet vues par la caméra
puis, en inclinant légèrement un miroir, à les décaler dans le sens
diagonal.
Utiliser le mode "temps réel". Prendre une référence puis imposer une
contrainte à l'objet.
On impose une contrainte en modifiant légèrement la pression d'air
enfermée entre les plaques. Il suffit pour cela de plier le tuyau.

Faire observer le montage à un professeur.

Expliquez pourquoi selon vous le défaut apparaît. Enregistrer
"[Link]"

D'autres méthodes existent pour imposer une contrainte au matériau

(chaleur, chocs, …) – Voir étude de documents.

cadre 7 : objet d'étude en shearographie.

Image 1 vue par la caméra Soustraction Absolue(Im1 – Im2) Soustraction Abs(Im1 – Im2)
(superposition de deux images (sans contrainte imposée lors de (objet sous contrainte)
décalées) l'image 2) Le "défaut" apparaît

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ANALYSE DES PERFORMANCES

1. Performances de la méthode de double exposition.

La méthode par double exposition permet de retrouver la déformation z = z2 – z1 infligée en chaque point le long
de l'axe Ox de la poutre. La situation initiale a fourni l'éclairement I1, et la situation finale l'éclairement I2, après
avoir augmenté la flèche imposée à la poutre.

Pourtant, on peut déceler dès le départ une imperfection inhérente à la méthode utilisée : l'image calculée par
soustraction absolue |I2 –I1| est identique si on avait fait |I1 –I2| c'est à dire si la déformation avait lieu dans l'autre
sens. Le résultat aurait été le même si on avait diminué, de la même importance, la flèche imposée à la poutre.

La méthode ne permet pas de connaître le sens de la déformation.

Compléter le tableau du cadre 8.

Référence
Interférence

Position 1 Soustraction
absolue Franges de
corrélation
Référence

Expo2

cadre 8 : Méthode de double exposition

2. La méthode des images phasées.

La méthode des images phasées permet de retrouver le sens de la déformation. L'éclairement I1, au point
4π
d'abscisse x, issu de la première exposition est I1 = IREF + IOBJ + 2 IREFIOBJ cos( ϕREF − ϕ OBJ + z1 ) (1). Il
λ
comporte le terme de phase : Φ1 = ϕREF – ϕOBJ + 4πz1/λ
Φ1 contient une partie aléatoire due aux phases des grains de speckle et une partie déterminée par l'écart z1
entre les bras du Michelson. Sa valeur est comprise entre 0 et 2π (modulo 2π).

La méthode du décalage de phases va nous permettre de remplacer l'image d'éclairement I1 en x, par une
image d'éclairement proportionnel à Φ1. C'est l'image phasée. Cet éclairement est compris entre 0 et 255 (modulo
256). La partie aléatoire la rend inexploitable (cadre 10 (a))

On fera de même l'image phasée de la seconde exposition d'éclairement, chaque point d'abscisse x a une
intensité proportionnelle à Φ2 = ϕREF – ϕOBJ + 4πz2/λ.
La différence modulo 256 des images phasées donnera en tout point d'abscisse x un éclairement
proportionnel à Φ2 – Φ1 c'est à dire à z2 – z1. C'est l'image modulée de la déformation. Elle ne comporte plus la
partie aléatoire (cadre 10 (b)) et Φ1 – Φ2 ≠ Φ2 – Φ1 (cadre 10 (c))

Le signe, donc le sens, de la déformation est préservé.

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(a) (b) (c) (d) (e)

a : image phasée de la 1 exposition : Φ1
ère

b : différence des images phasées : phasée2 - phasée1 (Φ2 – Φ1)

c : différence des images phasées : phasée1 - phasée2 (Φ1 – Φ2).
d : image démodulée de phasée2 - phasée1 (Φ2 – Φ1) et son profil
e : image démodulée de phasée1 - phasée2 (Φ1 – Φ2) et son profil
cadre 10 : méthode des images phasées

Référence Décalage
de phase

Position 1

Image
Expo2 phasée 2 Démodulation
Position 2

cadre 9 : Méthode des images phasées.

L'opération de démodulation (ou dépliement) fournit la déformation point par point en NG (niveaux de gris).
Une calibration (ou étalonnage) permet ensuite d'obtenir le profil de la déformation (cadre 10 (d)).

Compléter le tableau du cadre 9.

Dans l'expression (1) du paragraphe 0 ci-dessus, calculer IMAX, IMIN, IM = IMOYEN, le contraste m.
Montrer que (1) peut s'écrire : I1 = IM (1 + m ⋅ cos( Φ ))

Principe de la méthode du décalage de phase :

Il est étudié en détail dans le TP N° 5 Moiré.

Au lieu d’enregistrer 1 image de la poutre dans un état donné, on enregistre 4 images déphasées de π/2 pour
avoir accès à la valeur de ϕ en chaque point P de l’image. Le déphasage est obtenu en déplaçant l’objet de
référence à l’aide d’un cellule piézo-électrique pilotée par le micro-ordinateur. En P, les intensités successives
s’écrivent :

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• I00 = IM (1 + m ⋅ cos(Φ )) écriture simplifiée de l'expression (1)

π
• I90 = IM (1 + m ⋅ cos(Φ + ))
2
• I180 = IM (1 + m ⋅ cos(Φ + π))
3π
• I 270 = IM (1 + m ⋅ cos(Φ + ))
2

I 4 − I2
Montrer que l’on obtient Φ (à π près) par : Φ = Arc tan .
I1 − I 3

3. Mise en œuvre de la méthode :

3.1 Montage
Réaliser le montage du cadre 11 et de poutre d'étude
la photo page 1.
On obtiendra les 4 images déphasées C
en déplaçant la séparatrice à l'aide d'une
platine munie d'un translateur piézo-
0 - 100V

électrique.
Alim

La platine doit faire un angle α un peu

Sp
inférieur à 45°.
Connecter l'alimentation 0 - 100V à un
port série de l’ordinateur.
Dans "Analyse de franges – Piloter
déphaseur " vérifier le choix du port série α B
et la tension maximum de l'alimentation LASER
A

Poutre référence
mise à 100 Volts (cadre 12).
L (5mm)
Montrez votre montage

Basculer l’interrupteur sur Line. 25mm

Actionner le curseur et vérifier que la
commande se fait correctement.
CCD
Etalonnage du déphaseur
3.2 Principe
Le déphaseur piézo-électrique permet cadre 11 : Schéma du montage
de faire varier la différence des chemins optiques de λ/4, λ/2, 3λ/4
et d’obtenir les déphasages π/2, π, 3π/2 nécessaires pour obtenir
une image phasée.
Lorsque la platine se déplace d'une valeur x, les chemins AB et
AC varie respectivement de x cos(α) et x sin(α). La différence de
marche optique est donc δ = 2x(cos(α) – sin(α)).

Calculer x pour avoir une différence de marche δ = λ

(déphasage de 2π) si on choisit α = 40°.
Le translateur piézo-électrique déplace la platine de 15 µm
lorsque la tension passe de 0 à 100 V. Quelle variation de tension
∆V faudra-t-il pour obtenir un déphasage de 2π ? (On suppose
que le déplacement est fonction linéaire de la tension).
cadre 12 : réglage des liaisons.
3.3 Etalonnage
∆V dépend très fortement de α. On recherchera ∆V expérimentalement.
Se placer en temps réel, appliquer une déformation qui permet de faire apparaître quelques franges, alimenter

7LP_Speckle.doc 10/13
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le piézo sous une tension d’offset de V0 = 40 V environ (zone à peu près linéaire), repérer une frange sombre, puis
rechercher l’augmentation ∆V de la tension du piézo qui amène la frange sombre adjacente à la place de la frange
précédente. Refaire cette opération plusieurs fois et retenir la valeur moyenne.

Montrez votre montage

Noter et entrer les valeurs trouvées de V0 et ∆V dans Analyse de

Analyse de franges/Image phasée/Acq. image phasée à 4 images (cadre
13).
3.4 Acquisitions des images phasées. Démodulation.
Acquérir une première image phasée à 4 images avec la poutre dans
l’état initial. Sauvegarder sous : noms_phas1.jpg.
Acquérir une deuxième image phasée à 4 images en appliquant
préalablement la flèche supplémentaire à la poutre. Sauvegarder sous :
noms_phas2.jpg.
Dans Images/Opérations/Logiques et math entre images, soustraire
les 2 images phasées précédentes et sauvegarder sous noms_phas.jpg.
Démodulation.
cadre 13 : étalonnage du déphasage
Sous Image/Créer un masque, créer une image masque en
sélectionnant par un rectangle la zone intéressante de la poutre à l’aide
de la souris. Cliquer sur Ajouter. Les zones inintéressantes (bruit de fond,
…) doivent être noires sur l’image masque.
Sous Analyse de franges/ Image phasée/ Démodulation image phasée,
démoduler l’image et retrouver la déformée de la poutre en nuances de
gris : spécifier les bonnes images : image phasée et image masque.
Cliquer sur Démoduler.
Si des bogues apparaissent dans l’image démodulée, changer les
options : Image avec discontinuités physiques, avec bruit de fond…
Sauvegarder l’image démodulée sous noms_dem.jpg.
Calibration - Réalisation du profil de la déformée.
3.5 Image de la déformation
Sous Image/Etalonner, cliquer sur Speckle puis OK pour déterminer
l’échelle en z (conversion NG --> mm). cadre 14 : Image phasée de la déformation et
L'étalonnage en x,y peut se faire en se servant d'une dimension image démodulée avec profil en NG.
connue sur l'image (largeur de la poutre par exemple, conversion pixels --
> mm).

Remarque :
Le coefficient M correspond au nombre de sauts 2π (ordre des franges) rencontrés dans l’image démodulée.

Tracer un profil sur l’image obtenue dans une fenêtre. En faire une sortie imprimante.
Ranger les images demandées dans un dossier Votre nom_Speckle.

4. Étude de la flexion de la poutre en RDM

La poutre, de longueur L est
soumise à une charge F en son milieu
z F
C. La symétrie permet de ne faire
l'étude que entre A et C. x
F f B
Le moment fléchissant est MF = x A
2
sur le tronçon AC. C
Nous savons que : −E.I.z" = MF ;
cadre 15 : Poutre soumise à une force F

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Option : métrologie et INTERFEROMETRIE DE SPECKLE
contrôle qualité

d2 z
z’’ = (la dérivée seconde de z est la variation de la pente z' au point d'abscisse x)
dx 2
E : module d’élasticité : à prendre dans la table [Link]
h.e 3
I : moment quadratique (mm ); pour une section rectangulaire I =
4
avec :h : largeur poutre = 50 mm ; e :
12
épaisseur poutre = 2 mm.
On peut utiliser pour le calcul de l'inertie : [Link]

On remarque que la pente z' est nulle au point C d'abscisse x = L/2 et z = 0 en x = 0. Ces conditions permettent
de trouver les constantes d'intégrations permettant d'atteindre z' puis z".

F  x 3 L2 x 
Démontrer que l'équation de la déformée est z = − puis calculer la flèche maximum f pour x= L/2
4EI  3 4 
48EIf
En déduire que F = − .
L3
Déterminer la valeur numérique de l’effort F pour la flèche f trouvée expérimentalement.

Comparer vos résultats avec ceux obtenus à l'aide du logiciel de calcul de RDM :
[Link]

ETUDE DE DOCUMENTS

Lire la documentation "HOLO3", "GOM" et "CND" du DT et "Interférométrie de speckle par F. Taillade

Résumer en quelques lignes les applications de l'ESPI ainsi que les performances que l'on peut attendre
(résolution, champ, conditions d'applications ...)
Précisez ce qu'est l'ESPI par analyse vibratoire. Quels avantages apporte-t-elle ?
Quelles sont les particularités de la shearographie ? dans quels cas la préfère-t-on à d'autres méthodes ?

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LISTE DU MATERIEL et DES LOGICIELS

Type matériel Nbre Remarques

Poutre à étudier 1 A placer sur deux appuis dans le support

Butée à micromètre digital 1 Agit sur la poutre par l'intermédiaire d'un bras de levier
Lame quelconque de dimension égale ou ssupérieure à la poutre
Poutre de référence 1
d'étude et maintenue pour éviter toute vibration
L'enceinte est creusée. Un défaut a été artificiellement créé sur la
Objet d'étude pour la shearographie 1 paroi interne. On peu faire varier la pression interne en appuyant
sur le tuyau.
Platine de translation Polytec 1 Munie d'un vérin piézoélectrique

Alimentation pour piezo RS232 1 Steibichler – Alimentation 0 à 100 V

Surface fragile ! Ne pas essuyer. On peut la remplacer
Séparatrice 1 avantageusement par une simple lame de verre. A placer sur la
platine PI.
Lentilles (f=5; 20; 200; 500 mm) 1

Miroirs plans 2 Grand diamètre.

Éléments mécaniques de liaison (noix, blocs
magnétiques, ...)
Laser He-Ne Spectra Physics 1 30 mW; 632.8 nm (on peut aussi utiliser un Melles Griot 10 mW

Camera CCD 1 Micam VHR2000

Objectif 25 mm 1 Avec zoom

Micro-ordinateur 1

Carte d’imagerie Matrox Meteor II 1 Dans le micro ordinateur

Imprimante 1

Logiciels

VisuImMeteor
[Link] – Calcul_Inertie.mht
Excel ; Calcul_deformé[Link]
Calcul_deformée_co.xls
cadre 16 : liste du matériel

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