0% ont trouvé ce document utile (0 vote)
107 vues3 pages

Analyse des propriétés électriques des semi-conducteurs

Ce document contient des exercices sur la physique du semi-conducteur. Il présente des calculs sur la mobilité des porteurs, la conductivité, la résistivité et autres propriétés pour le silicium et le cuivre.

Transféré par

hajar Akharraz
Copyright
© © All Rights Reserved
Nous prenons très au sérieux les droits relatifs au contenu. Si vous pensez qu’il s’agit de votre contenu, signalez une atteinte au droit d’auteur ici.
Formats disponibles
Téléchargez aux formats PDF, TXT ou lisez en ligne sur Scribd
0% ont trouvé ce document utile (0 vote)
107 vues3 pages

Analyse des propriétés électriques des semi-conducteurs

Ce document contient des exercices sur la physique du semi-conducteur. Il présente des calculs sur la mobilité des porteurs, la conductivité, la résistivité et autres propriétés pour le silicium et le cuivre.

Transféré par

hajar Akharraz
Copyright
© © All Rights Reserved
Nous prenons très au sérieux les droits relatifs au contenu. Si vous pensez qu’il s’agit de votre contenu, signalez une atteinte au droit d’auteur ici.
Formats disponibles
Téléchargez aux formats PDF, TXT ou lisez en ligne sur Scribd

Correction TD3

Exercice 1
1.1. Distance énergétique EC-EF
𝐸𝐶 − 𝐸𝐹
𝑛 = 𝑁𝐶 𝑒𝑥𝑝 − ( )
𝑘𝐵 𝑇 } ⟹ 𝑁 = 𝑁 𝑒𝑥𝑝 − (𝐸𝐶 − 𝐸𝐹 ) ⟹ 𝐸 − 𝐸 = 𝑘 𝑇 𝐿𝑛 (𝑁𝐶 )
𝐷 𝐶 𝐶 𝐹 𝐵
à 𝑇 = 300 𝐾, 𝑛 = 𝑁𝐷 𝑘𝐵 𝑇 𝑁𝐷

𝑁𝐶 2.7 1019
𝐸𝐶 − 𝐸𝐹 = 𝑘𝐵 𝑇 𝐿𝑛 ( ) = 1.38 10−23 . 300 𝐿𝑛 ( ) = 3.27 10−20 𝐽 = 0.20 𝑒𝑉
𝑁𝐷 1017

1.2. Distance énergétique EF-EV


𝐸𝑉 − 𝐸𝐹
𝑝 = 𝑁𝑉 𝑒𝑥𝑝 ( )
𝑘𝐵 𝑇 } ⟹ 𝑁 = 𝑁 𝑒𝑥𝑝 (𝐸𝑉 − 𝐸𝐹 ) ⟹ 𝐸 − 𝐸 = 𝑘 𝑇 𝐿𝑛 (𝑁𝐴 )
𝐴 𝑉 𝑉 𝐹 𝐵
à 𝑇 = 300 𝐾, 𝑝 = 𝑁𝐴 𝑘𝐵 𝑇 𝑁𝑉

𝑁𝑉 1.2 1019
𝐸𝐹 − 𝐸𝑉 = 𝑘𝐵 𝑇 𝐿𝑛 ( ) = 1.38 10−23 . 300 𝐿𝑛 ( ) = 1.98 10−20 𝐽 = 0.124 𝑒𝑉
𝑁𝐴 1015

Exercice 2
2.1. Mobilité des électrons dans le cuivre et comparaison avec µSi
𝑒𝜏 1.6 10−19 2 10−14
µ𝐶𝑢 = = = 35.6 10−4 𝑚2 𝑉 −1 𝑠 −1 = 35.6 𝑐𝑚2 𝑉 −1 𝑠 −1
𝑚 9.1 10−31
µ𝐶𝑢 = 35.6 𝑐𝑚2 𝑉 −1 𝑠 −1
} ⟹ µ𝐶𝑢 ≪ µ𝑆𝑖
µ𝑆𝑖 = 1400 𝑐𝑚2 𝑉 −1 𝑠 −1
Commentaire : C’est l’énorme concentration en électrons libres qui explique la forte conductivité des
métaux, en particulier le cuivre.
2.2. Calculer la conductivité et la résistivité électriques du cuivre
𝜎 = 𝑒𝑛µ𝐶𝑢 = 1.6 10−19 10.5 1028 35.6 10−4 = 5.98 107 Ω−1 𝑚−1
1 1
𝜌= = = 1.67 10−8 Ω𝑚
𝜎 5.98 107
2.3. En déduire Emax et Vmax
𝐽𝑚𝑎𝑥 5 106
𝐽 = 𝜎𝐸 ⟹ 𝐽𝑚𝑎𝑥 = 𝜎𝐸𝑚𝑎𝑥 ⟹ 𝐸𝑚𝑎𝑥= ⟹ 𝐸𝑚𝑎𝑥= = 8.36 10−2 𝑉 𝑚−1
𝜎 5.98 107
𝑉 = µ𝐸 ⟹ 𝑉𝑚𝑎𝑥 = µ𝐸𝑚𝑎𝑥 = 3.56 10−3 8.36 10−2 = 2.98 10−4 𝑚 𝑠 −1
Commentaire : La vitesse de dérive des porteurs libres est très inférieure à la vitesse de propagation
du signal électrique (l’onde) qui est de l’ordre de 3 108 m/s.

Exercice 3
3.1. Calcul de la vitesse moyenne des électrons
𝑉𝑛 = µ𝑛 𝐸 𝑈 0.14 𝑥 500
} ⟹ 𝑉𝑛 = µ𝑛 = = 700 𝑚/𝑠
𝑈=𝐸𝑙 𝑙 0.1
3.2. Calcul de la vitesse moyenne des trous
𝑉𝑝 = µ𝑝 𝐸 𝑈 0.05 𝑥 500
} ⟹ 𝑉𝑝 = µ𝑝 = = 250 𝑚/𝑠
𝑈=𝐸𝑙 𝑙 0.1
3.3. Calcul de  et  pour le silicium intrinsèque

𝜎 = 𝑒𝑛µ𝑛 + 𝑒𝑝µ𝑝 = 𝑒𝑛𝑖 (µ𝑛 + µ𝑝 ) = 1.6 10−19 1.5 1016 (0.14 + 0.05) = 4.6 10−4 Ω−1 𝑚−1
1 1
𝜌= = −4
= 2.2 10−3 Ω. 𝑚
𝜎 4.6 10
𝜎𝑆𝑖−𝑖𝑛𝑡𝑟𝑖𝑛𝑠è𝑞𝑢𝑒 = 4.6 10−4 Ω−1 𝑚−1 𝐿𝑒 𝒔𝒊𝒍𝒊𝒄𝒊𝒖𝒎 𝒊𝒏𝒕𝒓𝒊𝒏𝒔è𝒒𝒖𝒆 𝑝𝑒𝑢𝑡 ê𝑡𝑟𝑒 𝑐𝑜𝑛𝑠𝑖𝑑é𝑟é
7 −1 −1
} ⟹ ‖
𝜎𝐶𝑢 = 5.98 10 Ω 𝑚 𝑐𝑜𝑚𝑚𝑒 𝒊𝒔𝒐𝒍𝒂𝒏𝒕 à 𝑙𝑎 𝑡𝑒𝑚𝑝é𝑟𝑎𝑡𝑢𝑟𝑒 𝑎𝑚𝑏𝑖𝑎𝑛𝑡𝑒

Exercice 4
4.1. Comparer ND au nombre d’atomes de Si/cm3 et à ni et pi

𝑁𝐷 = 1016 𝑐𝑚−3
𝑁𝑎𝑡𝑜𝑚𝑒𝑠−𝑆𝑖 = 5 1022 } ⟹ 𝑛𝑖 = 𝑝𝑖 ≪ 𝑁𝐷 ≪ 𝑁𝑎𝑡𝑜𝑚𝑒𝑠−𝑆𝑖
𝑛𝑖 = 𝑝𝑖 = 1.5 1010 𝑐𝑚−3
Commentaire : La concentration des électrons provenant de la génération thermique est faible devant
la concentration des électrons provenant de l’ionisation des dopants.
4.2. Déterminer et comparer les concentrations n et p

𝑛2
à 𝑇 = 300 𝐾, 𝑛 = 𝑁𝐷 𝑒𝑡 𝑛. 𝑝 = 𝑛𝑖2 ⟹ 𝑝 = 𝑛𝑖 𝑛 = 𝑁𝐷 ≫ 𝑝
𝑛 = 𝑁𝐷 = 1016 𝑐𝑚−3 ⟹ 𝑛 = 𝑁𝐷 𝑝𝑜𝑟𝑡𝑒𝑢𝑟𝑠 𝑚𝑎𝑗𝑜𝑟𝑖𝑡𝑎𝑖𝑟𝑒𝑠
(1.5 1010 )2 𝑛𝑖2
𝑝= = 2.25 104 𝑐𝑚 −3
} { 𝑝 = 𝑝𝑜𝑟𝑡𝑒𝑢𝑟𝑠 𝑚𝑖𝑛𝑜𝑟𝑖𝑡𝑎𝑖𝑟𝑒𝑠
1016 𝑛
4.3. Calculer la résistivité et la comparer à celle du silicium intrinsèque

𝜎𝑆𝑖−𝑑𝑜𝑝é = 𝑒𝑛µ𝑛 + 𝑒𝑝µ𝑝 = 1.6 10−19 (1022 0.14 + 2.25 1010 0.05) = 224Ω−1 𝑚−1
1 1
𝜌𝑆𝑖−𝑑𝑜𝑝é = = = 4.5 10−3 Ω. 𝑚
𝜎𝑆𝑖−𝑑𝑜𝑝é 224

𝜌𝑆𝑖−𝑖𝑛𝑡𝑟𝑖𝑛𝑠è𝑞𝑢𝑒 = 2.2 103 Ω. m


}
𝜌𝑆𝑖 𝑑𝑜𝑝é = 4.5 10−3 Ω. 𝑚

Commentaire : Le silicium dopé est devenu conducteur, car sa résistivité a chuté de 2.2 103 .m (état
intrinsèque) à 4.5 10-3 .m
4.4. Déduire la résistance du barreau parallélépipédique

𝑙 4.5 10−3 . 10 10−6


𝑅=𝜌 = = 50 Ω
𝑠 30 10−6 . 30 10−6
Exercice 5
5.1. Constante de diffusion

𝐷 𝑘𝑇 𝑘𝑇 1.38 10−23 . 300


= ⟹𝐷=µ = 0.1 = 2.59 10−3 𝑚2 𝑠 −1
µ 𝑒 𝑒 1.6 10−19
5.2. Longueur de diffusion

𝐿 = √𝐷𝜏 = √2.59 10−3 . 100 10−6 = 5 10−4 𝑚

Exercice 6
6.1. Excès d’électrons et des trous
𝜎0 = 𝑒𝑛µ𝑛 + 𝑒𝑝µ𝑝 = 𝑒𝑛µ𝑛 + 0.3𝑒𝑝µ𝑛 = 𝑒µ𝑛 (𝑛 + 0.3𝑝) ≈ 𝑒𝑛µ𝑛 ≈ 𝑒µ𝑛 𝑁𝐷

𝜎 = 𝑒(𝑛+𝛿𝑛)µ𝑛 + 𝑒(𝑝 + 𝛿𝑝)0.3µ𝑛 = 𝑒µ𝑛 (𝑛 + 𝛿𝑛 + 0.3𝑝 + 0.3𝛿𝑝)


Pour une génération par paire, n = p
} ⟹ 𝜎 =≈ 𝑒µ𝑛 (𝑛 + 1.3𝛿𝑛)
Pour un semi − conducteur de type n, p << n
Par conséquent :
𝜎 𝑒µ𝑛 (𝑛 + 1.3𝛿𝑛) 𝛿𝑛
= = 1 + 1.3
𝜎0 𝑒µ𝑛 𝑛 𝑛
𝜎 − 𝜎0 𝛿𝑛 0.15 0.15 0.15 21
= 1.3 = 15% = 0.15 ⟹ 𝛿𝑛 = 𝑛= 𝑁𝐷 = 10 = 0.115 1021 𝑚−3
𝜎0 𝑛 1.3 1.3 1.3
𝛿𝑛 = 1.15 1014 𝑐𝑚−3
6.2. Vitesse de génération
Δ𝑝 0.125 1021
𝐺= = = 1.15 1026 𝑚−3 𝑠 −1 = 1.15 1020 𝑐𝑚−3 𝑠 −1
𝜏𝑝 10−6

Exercice 7
7.1. Calculer l’intervalle de temps
𝑛2 (2.5 1019 )
A l’équilibre thermodynamique :𝑛0 𝑝0 = 𝑛𝑖2 ⟹ 𝑁𝐷 𝑝0 = 𝑛𝑖2 ⟹ 𝑝0 = 𝑁𝑖 = = 6.25 1016 𝑚−3
𝐷 1022

Sous éclairement et à t=t0=0, on a :


P1=2 p0=12.50 1016 m-3=1.25 1017 m-3
A t quelconque, p=1017 m-3
Appliquons l’équation de conservation des porteurs de charge en présence de la génération et la
recombinaison :
𝑑𝑝 𝑝 − 𝑝0
= 𝑔𝑝 −
𝑑𝑡 𝜏𝑝

Dans le régime transitoire (au cour du retour à l’équilibre), gp=0.


Par conséquent :
𝑡
𝑑𝑝 𝑝 − 𝑝0 𝑑𝑝 𝑑𝑡 𝑡
=− ⟹ = − ⟹ 𝐿𝑛(𝑝 − 𝑝0 ) |𝑡0 = − |
𝑑𝑡 𝜏𝑝 𝑝 − 𝑝0 𝜏𝑝 𝜏𝑝 0

(𝑝 − 𝑝0 ) 𝑡 (𝑝 − 𝑝0 ) −3
1017 − 6.25 1016
𝐿𝑛 [ ] = − ⟹ 𝑡 = −𝜏𝑝 𝐿𝑛 [ ] = 10 𝐿𝑛 [ ] = 5.1 10−4 𝑠
(𝑝1 − 𝑝0 ) 𝜏𝑝 (𝑝1 − 𝑝0 ) 1.25 1017 − 6.25 1016

Vous aimerez peut-être aussi