LEEA 3ème A, C. TELLIER, 23.08.
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Chapitre 1 : Les semi-conducteurs
1. Introduction: conducteurs et semi-conducteurs
1.1 Les conducteurs:
~ conductivité qui décroît avec la température T (augmentation des collisions)
~ densité élevée de porteurs libres (de charge), exemple: métaux du groupe I
1.2 Les semi-conducteurs intrinsèques (parfaits):
~ isolants à 0 K et faiblement conducteurs à 300 K ⇒ Si, Ge : éléments du groupe IV
~ conductivité qui augmente avec la température T (augmentation du (tétravalent – 4 liens covalent)
nombre d’électrons libres)
Création d'un trou Electron libre
2. Introduction: structure de bande des semi-conducteurs intrinsèques
2.1 Le modèle de bande
W : énergie des électrons
W : énergie des électrons
Niveaux d'énergie pour un
seul atome
N atomes : couplage
entre les niveaux
d’énergie
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2.2 Les phénomènes de génération-recombinaison
W : énergie des électrons Création (génération) et destruction (recombinaison)
de paire électron/trou lors du passage d’un électron
de la BV à la BC ou réciproquement.
électrons
⊕ trous
3. Semi-conducteurs extrinsèques et semi-conducteurs composés
3.1 Principe du dopage Manque un électron :
Création d'un trou dans la BV
1 Atome du groupe V 1 Atome du groupe III
1 électron de plus dans la BC 1 trou de plus dans la BV
Atomes du groupe V : As, Bi, P Atomes du groupe III : B, Al, In
sont des atomes donneurs sont des atomes accepteurs
↓ ↓
ND donneurs à T= 300K NA accepteurs à T= 300K
ND électrons dans la BC NA trous dans la BV
3.2 Les composés semi-conducteurs
Principe: à 300 K la couche externe est saturée
~ composés III-V: AsGa, lnSb
~ composés II-VI: CdS, ZnS, CdSe, ZnSe, ....
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Propriétés du Silicium et de l'arséniure de gallium:
Paramètre: Ge Si GaAs
Largeur de la BI WG (eV) 0,66 1,12 1,42
Densité intrinsèque ni (cm-3) 2,4 1013 1,45 1010 1,79 106
Densité d’états utiles dans la BC pour les
1 1019 2,7 1019 0,04 1019
électrons NC (cm-3)
Densité d’états utiles dans la BV pour les
0,5 1019 1,1 1019 1,3 1019
trous PV (cm-3)
resistivité intrinsèque ρi =l/σi (Ω cm) 47 65 103 38 107
Mobilité électron µ n (cm2/Vs) 3900 1500 8500
Mobilité trou µ p (cm2/Vs) 1900 450 400
Constante diélectrique relative εr 16 11,9 13,1
4. Densités n d'électrons, p de trous et position du niveau de Fermi
4.1 Densité d'états d'énergie disponibles pour les électrons et les trous, Fonction de
Fermi
W : énergie des électrons
dn = Z(W) F(W) dW
Z(W) : densité d'états disponibles sur niveau W de la BC
Même type d'équations pour les trous de la BV
La fonction de Fermi-Dirac
1
F (W ) =
1 + exp({W − W F } / k Β T )
F(W) représente la probabilité pour un électron d'occuper un niveau W
Electron dans la BC pour semi-conducteur non dégénéré :
(i.e. W-WF >> kB T)
F(W) ≈ exp(-{W-WF}/kBT)]
Cas des trous dans la BV :
Probabilité F*(W)=1-F(W ) ≈ exp({W-WF}/kBT)
4.2 Densité de porteurs (trous et électrons)
~ pour un semi-conducteur intrinsèque on a pi = ni avec la loi
d'action de masse p.n=ni2
~ pour un semi-conducteur extrinsèque la loi d'action de masse
est toujours valable mais les porteurs différents de ceux
apportés par le dopant sont très minoritaires (p<<n ou n<<p)
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4.3 Position du niveau de Fermi (voir TD 1)
~ pour tout semi-conducteur non dégénéré à l’équilibre on montre que:
n = NC exp(-{WC - WF}/ kBT) et p = PV exp({WV - WF} / kBT )
on montre alors que :
~ pour un semi-conducteur intrinsèque: WFi = (WC+WV)/2 (WFi est au centre de la B.I.)
~ pour un semi-conducteur extrinsèque type N: WFn = Wc - kBT ln(NC/ND)
~ pour un semi-conducteur extrinsèque type P : WFp = WV + kBT ln(PV / NA)
Intrinsèque
5. Transport dans les semi-conducteurs
Dans un semi-conducteur l’accroissement des charges libres peut avoir trois origines : le phénomène de
génération-recombinaison (négligé), l’arrivée de charge due à un champ électrique ou à la diffusion.
5.1 Effet d’un champ électrique et courant de dérive
exemple: courant dû aux électrons de la BC
Expression de la densité de courant de dérive Jd
~ un électron contribue de -[Link] à la densité de courant
~ densité de courant : vecteur
- norme = |charge| traversant l'unité de surface pendant
l'unité de temps
- sens : pour les électrons voir figure
~ densité de courant de dérive pour les électrons Jdn :
Jdn = -[Link] soit Jdn = e.n.µn.E
~ on montre de même que la densité de courant de dérive dû aux trous Jdp s'écrit:
Jdp = +[Link] soit Jdp = e.p.µp.E
~ densité totale de courant de dérive : Jd = (e.n.µn + e.p.µp) E
5.2 Conductivité
La conductivité d'un semi-conducteur est donc σ = e.n.µn + e.p.µp (eq.5)
semi-conducteur intrinsèque: n = p = ni et conductivité intrinsèque σi = [Link].(µn+µp)
semi-conducteur dopé n+ : p << pi et n ≈ ND donc σn = [Link].µn
semi-conducteur dopé p+ : n<<ni et p ≈ NA donc σp = [Link].µp
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5.3 Effet d'un gradient de concentration et courant de diffusion
exemple: courant dû aux électrons de la BC
Eclairement
⇒
Energie hv
Origine du courant de diffusion
Dans un gradient de concentration le mouvement des porteurs s'effectue des régions à haute concentration vers les
régions à basse concentration
Expression de la densité de courant de diffusion
Le flux d'électrons traversant la surface en x=L est
φn= - Dn.[dn/dx] où Dn est la constante de diffusion (prend des valeurs positives)
donc la densité de courant de diffusion s'écrit: Jdif,n = [Link].[dn/dx] .ex où ex est le vecteur unitaire porté par l'axe x.
Le flux de trous traversant la surface en x=L est
φp = - Dp.[dp/dx]
donc la densité de courant de diffusion s'écrit: Jdif,p = -[Link].[dp/dx] .ex où ex est le vecteur unitaire porté par l'axe x.
5.4 Expressions des densités totales de courant
~ La densité totale de courant d'électrons due aux actions simultanées d'un champ électrique et d'un gradient de
concentration s'écrit:
Jn(x) = Jdn + Jdifn = e.n(x).µ n Ex + [Link].[dn/dx] (eq.7)
~ Similairement, le courant de trous est tel que:
Jp(x) = Jdp + Jdifp = e.p(x). µ p Ex - [Link].(dp/dx] (eq.8)
5.4 Relations d'Einstein
Dans un semi-conducteur à l'équilibre thermodynamique les densités totales de courant sont nulles.
e.n(x).µ n Ex + [Link].[dn/dx] = 0
Or si on a un gradient de concentration on observe simultanément diffusion de porteur due au gradient de
concentration et dérive des porteurs dans le champ interne Eint qui provient du potentiel interne Vint.
On a en fait : Eint = -[dVint(x)/dx] = 1/e [dWC(x)/dx] = 1/e [dWC(x)/dn] [dn/dx]
En utilisant les résultats de 4.3 on peut alors établir les relations d'Einstein qui lient les constantes de diffusion aux
mobilités :
Dn / µ n = Dp / µ p = kB T / e (eqs.10)
