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Technologies des Circuits Intégrés ASIC

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Circuits et systèmes intégrés


micro-électroniques :
technologies, conception
Pr. Michel ROBERT
Université Montpellier 2

2002

« Circuits et systèmes intégrés micro -électroniques: technologies, conception »


-2 -

Pr. M.ROBERT 10/9/2001

Circuits et systèmes intégrés micro-électroniques : technologies, conception

OBJECTIFS : présentation de l'état de l'art dans le domaine de la conception des circuits intégrés spécifiques
"ASIC " et des logiciels de CAO associés. Intérêt et limites des techniques d'intégration. Flots de conception.
Evolutions : systèmes sur puces.

MOTS CLES : Electronique, Micro-électronique. Technologie CMOS. ASIC. Systèmes sur puce (« Systems On
Chip, SOC »). Circuits programmables (FPGA, FPGA-SRAM, PLD, CPLD, EPLD). Reconfiguration. Matrice et
circuits pré-diffusés ("Gate array"). Circuits pré-caractérisés ("standard cell", "cell based"). Composants
virtuels ( ou bloc « IP »). CAO. Vérification. Prototypage.

PLAN

1) INTRODUCTION : DU SYSTEME AU SILICIUM

1.1 Technologies de fabrication


1.2 Conception de circuit intégré

2) LES SOLUTIONS ASIC : PRINCIPES ET ANALYSE COMPARATIVE

2.1 – Circuits semi-spécifiques


2.2 – Circuits spécifiques
2.3 – Comparaisons

3) LES CIRCUITS PROGRAMMABLES

3.1 - Principes
3.2 - Conception
3.3 - Applications
3.4 - Evolutions

4) METHODOLOGIES DE CONCEPTION

4.1 - Spécification
4.2 - Bibliothèque de cellules : principes
4.3 - Flot de conception

5) SYSTEMES SUR PUCES (SOC)

5.1 - Principes : réutilisation


5.2 - Vérification

6) CONCLUSION

ANNEXE 1 : technologie CMOS

REFERENCES

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1) INTRODUCTION : DU SYSTEME AU SILICIUM

La micro-électronique silicium est déjà aujourd'hui et le sera encore davantage


demain, un des moteurs essentiels dans la construction de la nouvelle société de l'information
et de la communication du 21ème siècle. Le secteur des équipements et systèmes électroniques
est un des premiers secteurs industriels mondial. L'industrie électronique concerne plusieurs
segments. Certains nécessitent des circuits intégrés très performants : ce sont les secteurs qui
concernent les technologies de l'informatique et les télécommunications. Pour d'autres, des
circuits moins performants sont suffisants: ce sont les secteurs de l'électronique grand public
et de l'électronique industrielle. L'électronique pour l'automobile et les transports quant à elle
suppose un fonctionnement de circuits fiables dans un environnement sévère. Enfin
l'électronique militaire et spatiale est un secteur stratégique et très spécifique mais qui, compte
tenu des contraintes budgétaires, fait appel de plus en plus à des circuits se satisfaisant des
technologies de fabrication développées pour les autres segments.

Un circuit intégré conçu de nos jours dans une technologie CMOS submicronique
utilise plusieurs dizaines de millions de transistors de très faibles dimensions sur une surface
de quelques cm2 . De plus, il fonctionne à une fréquence élevée (plus de 1,5 GHz pour les
processeurs actuels) et dissipe une puissance importante. Les performances techniques
recherchées pour les téléphones mobiles sont une bonne illustration des objectifs à atteindre
dans des marchés où la compétition est très forte : faible poids, faible volume, grande
autonomie, bonne couverture géographique, faible coût. Ces performances sont atteintes en
intégrant l’ensemble des fonctions sur un ou deux circuits intégrés spécifiques.

Le nombre de transistors par circuit intégré double tous les un an et demi. Cette
évolution déterministe a été prédite par la loi de "Moore" (du nom de G. Moore, co- fondateur
de la société Intel) et s'est vérifiée sur les trente dernières années. Ce prodigieux essor a été
rendu possible par les progrès concernant aussi bien l'architecture des transistors et leurs
technologies de fabrication que l'architecture des circuits et les méthodes de conception
assistée par ordinateur (CAO). La croissance exponentielle du nombre de transistors sur une
seule puce (une puce est le morceau de silicium sur lequel est réalisé le circuit intégré),
conséquence de l'évolution des technologies de fabrication, permet d'y intégrer des fonctions
de plus en plus complexes, avec de plus en plus de fonctionnalités, jusqu'à l'intégration de
systèmes complets.

1.1 Technologies de fabrication des circuits intégrés

Un système électronique fait appel à plusieurs fonctions de l'électronique et comporte


de façon générale des circuits analogiques et/ou des circuits numériques. Jusqu'au milieu des
années 60, les fonctions de l'électronique étaient réalisées à l'aide de composants discrets, des
tubes à vide puis, après l'invention du transistor en 1948, à l'aide de ces derniers. L'invention
du transistor a été la première étape de la révolution apportée par la micro-électronique (prix
Nobel de physique en 1956 pour J. Bardeen, W. Brattain, et W. Schockley). C'est un
composant de petites dimensions (micromètres), fabriqué à partir de matériaux
semiconducteurs (essentiellement du silicium) par une succession de photolithogravures de
diffusions d'espèces chimiques (les dopants) et de dépôts de couches minces. La deuxième
étape a été l'invention du circuit intégré (prix Nobel de physique en 2000 pour J. Kilby
inventeur en 1958 du circuit monolithique intégré).

« Circuits et systèmes intégrés micro -électroniques: technologies, conception »


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Un circuit intégré est un circuit électronique réalisant une fonction et comportant


plusieurs transistors fabriqués de façon collective. Les techniques de fabrication collective
(successions d'étapes dépôts-lithographies-gravures-dopages) sont très sophistiquées et très
coûteuses, mais elles permettent de réaliser sur une même tranche de silicium un grand
nombre de circuits intégrés qui comportent eux-mêmes un grand nombre de transistors. La
Figure 1.1 résume les étapes principales de fabrication d’un circuit intégré en technologie
CMOS. Les divers motifs sont réalisés à partir des masques technologiques. Le dessin de ces
masques est l’objectif final de la phase de conception.

Les premiers transistors étaient des transistors bipolaires. Ces transistors sont rapides
mais ne sont pas bien adaptés à la miniaturisation (encombrement et forte consommation). Ils
sont actuellement essentiellement utilisés pour les circuits analogiques. Ils sont à base de
silicium pour les basses fréquences et les radiofréquences jusqu'à quelques milliards de Hertz
(GHz). Pour les fréquences plus élevées (hyperfréquences), les matériaux de base sont les
semiconducteurs composés d'atomes des troisième et cinquième colonnes du tableau de
Mendéléïev (composés III-V de type GaAs), ou SiGe dont les performances devraient
atteindre celles des circuits intégrés III-V.

Au milieu des années 60, grâce aux recherches concernant l'oxyde de silicium, est
apparu le transistor à effet de champ (MOSFET pour metal-oxide-semiconducteur field effect
transistor). A l'origine, on ne savait fabriquer que des MOSFET dont l'électrode de commande
(la grille) était fabriquée en aluminium. Dans les années 70, de nouvelles techniques
d'isolation entre des transistors (LOCOS pour localized oxide separation) et la maîtrise des
grilles en silicium polycristallin ont permis de fabriquer des MOSFET à conduction par
électrons. Enfin, dans les années 80, on a su réaliser sur une même tranche et avec des
procédés technologiques compatibles des MOSFET à conduction par trous et des MOSFET à
conduction par électrons. Les circuits CMOS (« Complementary MOSFET ») étaient nés. Ces
circuits, bien que relativement lents, sont bien adaptés pour une miniaturisation (faible
encombrement, technologie de fabrication relativement simple, faible consommation). Dans
le futur, les performances des circuits pourraient encore être améliorées, à technologie
comparable, par l'utilisation de substrats de type SOI (silicon on insulator). L’annexe 1
résume les caractéristiques électriques de base des circuits CMOS. Compte tenu du
compromis (vitesse, puissance dissipée, densité d’intégration, coût), la plupart des circuits
intégrés sont fabriqués dans cette technologie. Le silicium a donc aujourd’hui le quasi
monopole. Il est prévu dans les prochaines années, une évolution avec l'émergence de circuits
intégrés fabriqué sur substrats SOI, et l'utilisation du silicium- germanium (SiGe).

Les technologies de fabrication ont suivi une évolution déterministe, prédite par la
feuille de route "roadmap" du SIA [SIA1] (« Semiconductor Industry Association »). Cette
évolution est quantifiée par les dimensions les plus faibles que l'on sait réaliser et que l'on
qualifie de règles de dessin. Les règles de dessin diminuent d'un facteur deux tous les cinq ans
et on parle de générations successives (d'une génération à l'autre, la surface des transistors
diminue d'un facteur deux, soit 2 pour les règles de dessin). Actuellement, on sait réaliser
industriellement des motifs de 0,12 µm et des motifs inférieurs à 0,05 µm (ou 50 nm) sont
prévisibles à partir de 2005 : on prévoit ainsi d’atteindre 1 milliard de transistor sur une puce
avant 2010. Cette évolution déterministe n'a été possible que grâce à des nouvelles techniques
de fabrications telles que les implantations ioniques qui ont permis l'émergence des
technologies auto alignées, l'isolation par tranchées (STI pour « shallow trench isolation ») ou
la planarisation par polissage mécano-chimique (CMP pour « chemical mechanical
polishing »).

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Les technologies de fabrication étant de plus en plus fiables et de plus en plus


performantes, les utilisateurs de circuits intégrés demandent des circuits comportant de plus
en plus de transistors. Compte tenu des investissement nécessaires (le prix d'une usine de
fabrication de circuits intégrés dépasse un milliard de dollars), le seuil de rentabilité suppose
que l'on fabrique un minimum de circuits intégrés par tranche, à forte valeur ajoutée (pour une
surface de silicium équivalente, le prix d’une mémoire, d’un processeur ou d’un circuit
spécifique n’est pas le même. C'est ainsi que la surface des tranches de silicium utilisées dans
l'industrie double tous les six ans (diamètre des tranches de trois cents millimètres
actuellement).

1.2 Conception de circuits intégrés

La fabrication du circuit intégré est précédée d'une phase de conception durant laquelle
s'élaborent les plans du circuit sur la base de ses spécifications fonctionnelles. La Figure 1.2,
illustre les relations entre les phases de conception et de fabrication. La conception d'un
circuit intégré permet ainsi de passer du "système" au "silicium" (technologie de fabrication)
en passant d'un modèle dit de haut niveau qui est une description fonctionnelle du circuit à un
modèle dit de bas niveau correspondant à l'élaboration des plans des masques (« layout ») qui
vont définir la topologie des circuits (assemblage de plusieurs centaines de millions de
rectangles ou de polygones sur plusieurs niveaux). Pour cela, plusieurs étapes correspondant à
différents niveaux de modélisation sont enchaînées (Figure 1.3) : spécification du système,
identification des fonctions logicielles et matérielles, description de l'architecture, puis des
structures logiques (modèle booléen correspondant à deux valeurs 0 et 1, modélisant les
tensions aux bornes des circuits), électriques (assemblage et dimensionnement des transistors)
et topologiques (dessin des plans des masque s en respectant des contraintes géométriques
strictes).

Jusqu'au début des années 80, la conception des circuits (en anglais "design"), dont la
complexité ne dépassait pas quelques milliers de transistors, s'effectuait de manière manuelle,
c'est à dire sans outils logiciels d'aide à la conception, ce qui avait pour conséquence une
productivité assez faible et des erreurs de conception fréquentes. Le développement de
méthodes et d'outils de CAO (conception assistée par ordinateur) a permis d'accélérer le cycle
de conception et de rendre les circuits plus performants. Les premiers outils pour la CAO
micro-électronique sont apparus à la fin des années 70. Il s'agissait d'une part de simulateurs
électriques (Spice) qui permettent de vérifier le fonctionnement statique (tensions, courants)
et dynamique (délais, ...etc.) des circuits avant leur fabrication en évitant ainsi la nécessité de
réaliser des maquettes, et d'autre part de logiciels de dessin des masques technologiques. La
course à la productivité et aux performances a eu pour conséquence d'accélérer les recherches
sur l'automatisation du processus de conception. Ainsi est apparu au début des années 80 le
concept de bibliothèque de cellules "pré-caractérisées" qui permet d'envisager la conception
de circuits intégrés en assemblant automatiquement des briques "pré- fabriquées"
correspondant à des fonctions bien définies.

L'accroissement de la complexité des circuits, joint à une pression constante de réduire


les temps de mise sur le marché, a pour conséquence de faire évoluer les méthodes et les
outils de conception. Les sociétés spécialisées en CAO microélectronique [CAO] fournissent
des environnements logiciels dans lesquels sont « greffés » des outils spécifiques (description
d’architecture, synthèse, simulation, ...etc.). On distingue (Figure 1.4) les outils de « front
End » qui permettent de passer d’une spécification à une architecture validée, et les outils de

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« back end » qui permettent la réalisation des étapes physiques de dessin des masques
technologiques.

Des langages de description (par exemple VHDL ou VERILOG) permettent de


modéliser et de simuler un circuit à différents niveaux d’abstraction:

- niveau "électrique" pour lequel le fonctionnement de chaque transistor est décrit mais qui
est limité à des circuits de quelques centaines de transistors,

- niveau "logique" pour lequel on ne décrit que le comportement des portes élémentaires (et
non pas des transistors qui les composent), ce qui permet de traiter quelques dizaines de
milliers de portes ,

- niveau « comportemental ou fonctionnel », pour lequel on ne considère que les


fonctionnalités nécessaires (par exemple la description du fonctionnement d'un
microprocesseur).

Ces langages et outils de simulation initialement développés pour la modélisation et la


simulation, mais également utilisés par la suite pour la synthèse automatique, permettent ainsi
de valider le fonctionnement d'un circuit ou d'un système électronique à des niveaux de plus
en plus éloignés des technologies de fabrication.

2) LES SOLUTIONS ASICs : PRINCIPE ET ANALYSE COMPARATIVE

L’évolution des technologies de la microélectronique permet aujourd’hui la réalisation


de systèmes électroniques intégrés d’une grande complexité satisfaisant de multiples critères :
grande vitesse d’exécution, encombrement réduit, faible consommation, fiabilité accrue, ...etc.
Le développement d’un circuit intégré spécifique à une application est un élément stratégique
dans la définition d’un produit. Il permet de remplacer ou d’améliorer une fo nction
(mécanique, électronique,…etc.) tout en miniaturisant le produit, en réduisant les coûts de
production et en augmentant les performances.

Les approches de réalisation sont nombreuses (Figure 2.1). Les différentes catégories
de circuits intégrés peuvent être classifiées en trois catégories : standard, semi-spécifique ou
spécifique. On peut compléter cette classification par les technologies de réalisation de
circuits hybrides (« Multi Chip Module, MCM »,..etc.), ou de microsystèmes (assemblage
d’un ASIC et d’un capteur, mécanique ou chimique par exemple, sur un même substrat).

Les circuits standards (par exemple fonctions logiques ou analogiques, processeurs,


mémoires, etc.), sont fabriqués en série conformément à une spécification (« data sheet »),
décrivant la fonctionnalité, les paramètres électriques statiques et dynamiques, et pour chaque
boîtier les conventions de brochage.

Les circuits intégrés à applications spécifiques (ASIC) regroupent 2 catégories


principales :

- les circuits semi-spécifiques, pour lesquels une partie ou l’ensemble des étapes de
fabrication ont été réalisées avant la conception,

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- les circuits spécifiques, pour lesquels l’ensemble des étapes de fabrication seront réalisées
après la conception.

2.1 Circuits semi-spécifiques

On distinguera à ce niveau deux sous catégories suivant le type de personnalisation :

- les circuits programmables – qui pourraient être aussi classés en catégorie standard -, où
l’ensemble des étapes de fabrication sont réalisées par le fabricant. Le concepteur fera lui
même selon ses besoins la personnalisation du circuit, de manière réversible ou irréversible
suivant les technologies, à partir d’outils spécifiques (logiciels, programmateur). Ils
constituent une solution adaptée aux développement de prototypes, aux petites et moyennes
séries d'équipements. Ils ont pour avantage d’être disponibles avant la conception, et pour
inconvénients des performances en densité d’intégration et en vitesse limitées par leurs
architectures et leurs technologies, ainsi que des prix unitaires élevés pour des grandes séries
d’équipement (surface de silicium importante par rapport à des circuits spécifiques).

- les circuits prédiffusés (« gate array »), où les premières étapes de fabrication sont
réalisées, préalablement à la conception. L’utilisateur va personnaliser une matrice standard
caractérisée par un nombre de transistors et de plots d’entrée/sortie limité, en concevant les
masques finaux de fabrication (contacts, métallisations) de manière automatique à l’aide
d’une bibliothèque de cellules. Les réseaux de transistors vont être ainsi programmés et
interconnectés par les niveaux de métallisation. Les étapes finales de fabrication de la puce et
son encapsulation seront ensuite réalisées par le fabricant, dans des délais réduits par rapport à
un cycle de fabrication complet. La topologie de ces circuits (Figure 2.2) correspond à des
bandes de cellules séparées par des canaux de routage figés, ou à des réseaux de transistors
(« sea of gates ») qui permettent une meilleure densité d’intégration en optimisant les zones
de routage des interconnexions à réaliser. Les limitations de cette approche sont liées au
manque de flexibilité (par rapport à l’approche « spécifique » présentée ci-dessous) puisque la
topologie (nombre de portes, plots) est figée. Les densités d’intégration obtenues sont - à
technologie équivalente - meilleures que pour les circuits programmables.

2.2 Circuits spécifiques

On distinguera à ce niveau, deux sous catégories suivant la méthode de conception


utilisée :

- les circuits pré-caractérisés (standard cell ou cell based) lorsqu’une bibliothèque de


cellules est utilisée (c’est surtout le cas pour les circuits logiques). Une bibliothèque est
constituée de cellules élémentaires plus ou moins complexes prédéfinis dans des bases de
données informatiques (Figure 2.3). Les caractéristiques de ces cellules sont connues (pré-
caractérisation par le fabricant à l’aide de simulations électriques). Cette notion de
réutilisation du matériel se justifie d’une part en raison de la stabilité des procédés de
fabrication et d’autre part par l’existence de moyens de CAO qui permettent une meilleure
efficacité de la conception en automatisant certaines étapes (synthèse logique et
topologique). La topologie de ces circuits (Figure 2.4) correspond à des bandes de cellules
séparées par des canaux de routage de largeurs variables (en fonction des contraintes
d’interconnexion du circuit).

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- les circuits sur mesure (« custom ou full custom ») lorsque toutes les étapes de conception
électriques et topologiques (layout) sont réalisées. Chaque élément actif du circuit est
optimisé pour réaliser la meilleure performance fonctionnelle et électrique et réduire la
surface du silicium. Ces circuits sont analogiques ou numériques.

2.3 Comparaisons

Comme l’illustre la Figure 2.5, les critères de choix entre ces solutions vont dépendre de
paramètres techniques (vitesse, puissance,…) et économiques (surface, délais pour la
conception et la fabrication, moyens et coûts de conception des prototypes, des pièces de
série, volumes de pièces prévus sur la durée de vie du produit…). Le point d’équilibre entre
tous ces paramètres pouvant évoluer dans le temps, le choix d’une solution pour intégrer un
système peut varier pendant la durée de vie du produit. Par exemple, les prototypes puis les
premières séries d’un système électronique numérique peuvent être réalisées avec des circuits
programmables, puis par des circuits pré-caractérisés (ou sur mesure) pour une production à
fort volume.

Quelque soit l’approche utilisée les circuits sont fabriqués par un nombre limité de
fabricants de semiconducteurs (« fondeurs de silicium »), dans un contexte industriel où les
investissements coûteux doivent être rentabilisés sur des périodes courtes (2-3 ans) compte
tenu de l’évolution rapide des technologies CMOS (loi de Moore). En conséquence, l’accès à
une fabrication spécifique ou semi-spécifique est aujourd’hui très coûteux et se limite à des
marchés à fort volume (télécommunications, multimédia, ..etc). Pour les circuits semi-
spécifiques, le marché des circuits pré-diffusés est en repli compte tenu des coûts et des
performances offertes par les circuits programmables (capacités d’intégration de plus d’un
million de portes logiques aujourd’hui). Pour les circuits spécifiques, l’intégration sur mesure
ne se justifie plus économiquement compte tenu des délais de conception (à comparer aux
cycles de fabrication de nouveaux produits qui sont de plus en plus court) à l’exception de
certains cas ou on peut envisager la conception d’un bloc de circuit sur mesure pour des
questions de performance (analogique par exemple).

La tendance actuelle est à la réutilisation de fonctions élémentaires (cellules pré-


caractérisées) ou complexes (processeur par exemple) pour réduire au maximum le cycle de
conception. Compte tenu des capacités d’intégration actuelles on parlera de systèmes sur
puces (ou systèmes sur silicium ou «Systems On Chip, S.O.C. »). Il faut donc entendre
aujourd'hui par système tout ce que le concepteur souhaite mettre sur la puce et qui couvre de
plus en plus de fonctions matérielles ou logicielles. Un système complexe sur une puce
comprend en général un ensemble de macro-cellules "standards" (processeur, mémoire,
périphériques,...), et des blocs spécifiques personnalisés par l'utilisateur. Ces principes seront
détaillés dans le paragraphe 5.

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3) LES CIRCUITS PROGRAMMABLES

Ce sont des composants standards programmables électriquement une seule fois


(fusibles), ou plusieurs fois (reconfigurables).

3.1 Principes

Les architectures de ces circuits offrent un ensemble de ressources logiques (portes,


bascules, …etc.) qui peuvent être interconnectées de différentes façons : réalisation de
fonctions booléennes sous forme d’une somme limitée de monômes (circuits PAL, PLD), ou
d’un réseau de cellules (FPGA). Les technologies de fabrication sont nombreuses : fusibles en
métal pour les premiers circuits programmables réalisés dans des technologies bipolaires,
antifusibles (capacités), transistor MOS à grille flottante (EPLD), mémoire RAM statique
(FPGA-SRAM) ou flash. On trouve ainsi 3 catégories :

- les circuits élémentaires de type PLD (Programmable Logis Device), de faible complexité
et à architecture régulière (un plan « ET » pour construire les monômes, suivi par un plan
« OU » pour réaliser les fonctions logiques (Figure 3.1).

- les circuits de type CPLD (« Complex Programmable Logic Device »), aujourd’hui
réalisés en technologies MOS, dont les architectures sont basées sur un assemblage de
structures régulières de type PLD. C’est dans cette catégorie qu’on trouve notamment les
EPLD (Erasable Programmable Logic Device), caractérisés par l’utilisation d’un procédé
MOS particulier décrit dans la Figure 3.2 (transistor MOS à double grille, une des grilles
« flottante » permettant de rendre le transistor passant ou bloqué lors de la
programmation, l’effacement se faisant de manière électrique ou par l’utilisation d’un
rayonnement ultraviolet pour décharger la grille flottante).

- les FPGA (« Field Programmable Gate Array »), dont l’architecture correspond à une
matrice de blocs logiques séparés par des réseaux d’interconnexion. On distinguera les
FPGA non reprogrammables (technologies de type antifusible, offrant les meilleures
performances en termes de densité d’intégration et de vitesse), et les FPGA
reprogammables (technologies de type SRAM par exemple).

Les circuits FPGA-SRAM, introduits à la fin des années 80, offrent des spécificités
particulières (Figure 3.3) : le contenu des mémoires SRAM, est automatiquement téléchargé à
la mise sous tension, à partir d’une mémoire externe. La reconfiguration peut se faire ainsi
pendant son fonctionnement en utilisant plusieurs mémoires externes permettant d’adapter au
mieux l’architecture du circuit. L’utilisation d’une technologie CMOS standard (pas d’étapes
de fabrication supplémentaires spécifiques) permet d’optimiser les coûts de fabrication et de
prendre en compte les évolutions rapides de ces procédés. L’architecture de ces circuits est
présentée dans la Figure 3.4 : un plan de mémoire de configuration est associé à un plan de
calcul constitué par des CLBs (Blocs Logiques Configurables). Le fonctionnement de ces
circuits se fait à la mise sous tension en 2 phases : une phase de configuration suivie par un
phase de fonctionnement (Figures 3.5 et 3.6). Chaque CLB est construit à partir d’un ou de
plusieurs générateurs de fonction (LUT, pour « Look Up Table »). Un LUT correspond à un
arbre de multiplexeurs connecté à des points mémoires S-RAM (Figure 3.7, où l’on notera
que toute fonction logique peut être réalisée avec des multiplexeurs).

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3.2 Conception

L’utilisateur de circuits programmables s’équipe de moyens logiciels (CAO sur PC en


général) pour la conception, et d’une platine de programmation (Figure 3.8). Les logiciels
permettent de décrire l’architecture (schéma, ou synthèse à partir d’une description de type
VHDL), de la simuler, de réaliser les étapes automatisées de placement et de routage, avant de
passer à la programmation physique du composant, ou de la mémoire associée dans le cas des
circuits FPGA-SRAM.

3.3 Applications

On s’intéressera dans cette partie aux circuits FPGA-SRAM, qui permettent


d’exploiter le concept innovant de logique reconfigurable. Cette démarche permet d’optimiser
l’implémentation de certaines fonctions (comparateurs, additionneurs, multiplieurs, filtres
numériques…etc.) dans certains cas particuliers, par exemple dans les cas où une partie des
données manipulées dans une application sont des constantes.

A titre d’illustration, considérons la réalisation de fonction S= A>B, où A = (A7,


A6,…,A0) est une variable codée sur 8 bits, et B est une constante.

L’équation du comparateur s’écrira en logique reconfigurable : SB= FB(A7, A6,…,A0)


avec FB = A7@(A6@(A5@(A4@(A3@(A2 @(A1@(A0)))))))
où @ désigne l’opérateur « ET » ou « OU ».

Par exemple, si B = 129 = 10000001, alors S129 = A7.(A6+(A5+(A4+(A3+(A2+(A1)))))))


Si B = 127, alors S127 = A7, ce qui signifie que la comparaison se fera sans ressource logique.
Suivant la valeur de la constante, le comparateur qui sera téléchargé dans le circuit
programmable, aura ainsi une complexité variable, ce qui globalement peut apporter des
optimisations en surface significatives (c’est le cas par exemple pour des architectures de
réseaux de neurones).

La Figure 3.9 compare la conception d’un filtre numérique dans un processeur et un


circuit programmable, dont l’architecture exploitera le parallélisme pour optimiser la vitesse.
Chaque calcul nécessitera par contre un cycle d’horloge pour un processeur de traitement
numérique du signal (ou « DSP, pour digital signal processor »), ou plusieurs cycles s’il s’agit
d’un micro-controleur. Compte tenu des performances actuelles des technologies CMOS, il
est ainsi possible de réaliser des fonctions de traitement d’images « cablées » dans des FPGA-
SRAM pour des applications vidéo en temps réel (25 images par seconde).

La figure 3.10, montre de manière plus générale l’utilisation d’un circuit


programmable, comme co-processeur reconfigurable d’un sys tème programmable.

3.4 Evolutions

Les circuits programmables de type FPGA permettent actuellement l'intégration de plus


d’un million de portes logiques équivalentes sur le même circuit. Ces circuits qui suivent
l'évolution technologique décrite plus haut, offrent maintenant la possibilité de réaliser des
systèmes sur puce (Figure 3.11), en utilisant des « composants virtuels. Les blocs de propriété

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intellectuelle (IP) sont soit câblé sur le silicium, soit synthétisé » (à partir d’un modèle décrit
en langage VHDL par exemple). L’utilisation de blocs de propriété intellectuelle IP, pour la
conception de circuits programmables, sera dans l’avenir de plus en plus fréquente. La
logique «câblée » sera conçue autour de cœurs de logique programmée (micro-contrôleurs
par exemple) dans un même circuit programmable : des logiciels enfouis ou embarqués seront
développés.

Les possibilités offertes par les circuits programmables (FPGA-SRAM) permettent par
ailleurs de mettre en œuvre pour certaines applications le concept de prototypage (ou
maquette) pour la vérification fonctionnelle de systèmes sur puce, qui sera décrit par la suite
au paragraphe 5.

4) METHODOLOGIES DE CONCEPTION

4.1 Spécification

La Figure 4.1 décrit le flot général de conception d’un circuit intégré. Un circuit, du
plus simple au plus complexe, doit être réalisé conformément à son "cahier des charges" pour
être utilisable : il s’agit de la phase la plus critique, car elle déterminera tous les modes de
fonctionnement du circuit qui serviront en particulier à établir ultérieurement les protocoles de
test en production du circuit. Il est indispensable de spécifier à ce niveau les contraintes
techniques (performances électriques recherchées en vitesse et consommation, description du
fonctionnement et identification de fonctions spécifiques éventuelles –notamment analogiques
-, type de boîtier,...etc.) et économiques (délais de conception et de fabrication des prototypes,
volume de pièces prévus, moyens humains et logiciels,…etc.). L’analyse de ce document,
conduira à un choix de technologie, de fabricant, et de type de circuit. La spécification d’une
partie ou d’un système se fait de plus en plus fréquemment au moyen de langages (C/C ++,
VHDL,..etc.) : cela permettra dans l’avenir de mettre en place des techniques de vérification
(preuve formelle par exemple pour comparer divers niveaux d’abstraction.), de simulation et
de synthèse avant de figer l’architecture finale du circuit.

4.2 Bibliothèque de cellules

Nous nous placerons dans le cas particulier des circuits numériques CMOS conçus à
l’aide de bibliothèque de cellules, c’est à dire dans le cas des circuits pré-caractérisés, pré-
diffusés, ou les circuits programmables complexes (ou la plupart des concepts développés
dans cette partie s’applique à la conception de ces circuits). Une bibliothèque de cellules est
en général constituée de cellules logiques élémentaires (à une même fonction logique de base
peut correspondre plusieurs cellules, chacune offrant un compromis vitesse, surface,
puissance, capacité d’entrée, différent), de cellules paramétrables (mémoire, fonctions
arithmétiques,…etc.), plots, macro-cellules logicielles, ..etc. On peut compléter ces briques de
base par des cellules spécifiques à une application, ou des cellules en provenance de
fournisseurs spécialisés (composants virtuels).

La Figure 4.2, résume les étapes d’élaboration d’une bibliothèque de cellules par le
fondeur. La connaissance de ce processus de conception et de caractérisation électrique est
indispensable pour comprendre les limitations de cette approche (Figure 4.3) : la
précaractérisation des cellules doit prendre en compte les fluctuations statistiques du procédé
de fabrication, les fluctuations des conditions d’utilisation du circuit en température et en
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- 12 -

tension d’alimentation, et pour l’évaluation des délai, les conditions de charge électriques
appliquées sur les sorties des cellules. Compte tenu de ces éléments les modèles de délais des
portes logiques seront spécifiés avec des intervalles (min, typ, max).

L’objectif final de la phase de conception, étant de prévoir une fabrication en série du


circuit, le concepteur débutant évitera les structures asynchrones de type ligne à retard,
oscillateurs, bascules RS,..etc., dont les performances pourront varier de manière importante
entre 2 lots de fabrication. L’utilisation de structures synchrones, permet de s’affranchir de ce
type de problème. Parmi les règles élémentaires de conception d’un ASIC CMOS, on
retiendra aussi les règles relatives au test, afin de pouvoir rapidement détecter et localiser les
éventuels défaut de fabrication du circuit : initialisation par un signal, partitionnement,
horloge de test,… etc. La prise en compte du test lors de la conception est un élément
important d’un projet ASIC.

4.3 Flot de conception

Le flot de conception peut être découpé en deux étapes :

- L’étape « Front end » consiste à traduire la spécification en une description sous forme de
schéma logique (« netlist »), de manière manuelle, ou automatique pour les circuits
complexes. La synthèse correspond à la génération, le traitement et l’optimisation de
descriptions intermédiaires à différents niveaux d’abstraction. Le langage VHDL
(comportemental et structurel), initialement développé pour la modélisation et la
simulation, est également utilisé pour la description comportementale (parfois issu d'une
description à un plus haut niveau d'abstraction en langage C), ou RTL (transfert de
registres) d'une architecture logique pour la synthèse automatique [cao]. On distinguera 2
niveaux de synthèse :

- La description comportementale définit la fonction du circuit, sans définir les structures, ni


les connexions entre les éléments. La synthèse architecturale va consister à définir
l’allocation des ressources matérielles (multiplieurs, ALUs, registres,…etc.) nécessaire à
l’implantation des opérations, et l’ordonnancement des opérations). L’objectif est de
minimiser une fonction de coût en surface (nombre d’unités fonctionnelles, nombre de
registres, nombre de connexions, ...etc.) et en temps (nombre de pas de contrôle).

- La description de l’architecture du circuit sous forme de blocs logiques. La synthèse logique


permet d’optimiser les équations logiques, puis de faire une assignation technologique
(« technology mapping ») vers une cible (la bibliothèque de cellules sélectionnées). L’objectif
à ce niveau est de minimiser une fonction de coût (surface, vitesse, puissance) calculée à
partir de la pré-caractérisation des cellules.

- L’étape « Back end » consiste à transformer le schéma logique en un plan de masse


(« floorplanning », Figure 4.4) ou chaque cellule et placée et interconnectée conformément au
schéma logique. On parle à ce niveau de synthèse physique. La figure 4.5 décrit les étapes de
placement-routage de cellules (qui sont indissociables : un mauvais placement de cellules
conduira à des interconnexions non optimisées, quelque soit l’algorithme de routage utilisé)
des cellules précaractérisés. Plusieurs techniques de placement de cellules existent. L’objectif
est de hiérarchiser ce problème en rassemblant les cellules fortement interconnectées dans des
partitions (les cellules de base d’une bibliothèque ont par construction une hauteur identique
et peuvent être déplacées). Les interconnexions se font ensuite avec les niveaux de

« Circuits et systèmes intégrés micro -électroniques: technologies, conception »


- 13 -

métallisation. La figures 4.6, illustre le principe d’un algorithme de routage de canal. Dans la
pratique, les phases de placement/routage sont en général entièrement automatisées.

A chacun de ces niveaux, le circuit doit être vérifié en termes de fonctionnalité et de


performances électriques. Parmi les nombreuses techniques de vérification, nous nous
focaliserons sur la simulation. Nous verrons par la suite que pour les systèmes complexes sur
puce, d’autres techniques de vérifications sont nécessaires (ana lyse temporelle, accélérateur
de simulation, émulateurs, plateformes de prototypage rapide) pour diminuer le temps de
conception.

La figure 4.7, illustre le principe de la simulation, et compare les différents niveaux.


La simulation logico-temporelle servira de référence pour évaluer les performances du circuit
(est il conforme à la spécification initiale ?). Pour améliorer la précision, une simulation finale
(« post layout ») est effectuée après la synthèse physique, afin de prendre en compte les divers
parasites R,C liés aux interconnexions, qui affectent les délais (Figure 4.8). Le principe de la
simulation logico-temporelle consiste à gérer des événements en les propageant des entrées
vers les sorties du circuit considéré (un événement correspond à un changement d’état d’un
nœud du circuit et est défini par une date, un lieu et un type de transition). Les calculs
prennent en compte les modèles de délais issus de la pré-caractérisation des cellules.

Le dossier de fabrication d’un ASIC sera composé des éléments suivants : fichier
contenant la description du dessin des masques, fichier contenant les stimuli (ou vecteurs de
test), schéma d’encapsulation dans le boîtier sélectionné, spécifications électriques,…etc. La
responsabilité du fondeur, consistera à fabriquer un lot de prototypes dont le fonctionnement
sera conforme aux simulations « post layout » validées par le concepteur (fichier de test).

Le test électrique du circuit s’effectue lors de sa fabrication (test sous pointes des
plaquettes de silicium), et après son encapsulation. Les tests pratiqués sont des tests
fonctionnels, paramétriques (tensions, courants,..) et dynamique (vitesse). Ils ont pour objectif
d’éliminer les circuits défectueux en détectant et en localisant les éventuels défauts de
fabrication à partir des séquences de test prédéfinies. Le problème du test doit être considéré
lors de la conception afin de détecter le plus grand nombre de défauts potentiel dans un temps
de test minimum (pour optimiser le coût du circuit). Il peut même être partiellement ou
totalement assumé par des modules intégrés dans le circuit (concept de test intégré, « Bist »).

4.4 Perspectives

L’évolution des technologies CMOS sub- microniques a pour conséquence :

- une diminution des longueurs de grille des transistors, ce qui conduit à une réduction
relative des délais des portes logiques,
- une augmentation du nombre et de la longueur des lignes d’interconnections, et une
réduction de leurs dimensions, ce qui conduit à une augmentation relative du délai des
lignes.

Les recherches sur l’évolution des méthodes et des outils de conception se font
actuellement sur deux niveaux :

- au niveau physique, où se pose des problèmes de modélisation de circuits


fonctionnant à des fréquences de plus en plus élevées et où on cherche à minimiser la
puissance dissipée : l’utilisation de technologies CMOS sub- microniques, pour la conception

« Circuits et systèmes intégrés micro -électroniques: technologies, conception »


- 14 -

de systèmes complexes, conduit ainsi à prendre en compte les effets physiques liés aux effets
physiques concernant les portes logiques et les interconnections mentionnés ci dessus. Ces
effets ont un impact sur la modélisation temporelle des portes logiques et des interconnexions,
sur l’extraction des parasites (R,C, L) des interconnexions, ainsi que sur les techniques de
placement et de routage des cellules : les étapes de synthèse logique ne peuvent plus être à ce
niveau découplées des étapes de synthèse physique.

- au niveau des système mixtes matériels/logiciels, où se pose des problèmes de


méthodologies et d’outils de conception (ré-utilisation de composants virtuels, vérification,
émulation,…etc.), l’objectif étant de concevoir des systèmes sur puce de complexité
croissante dans des temps de conception réduits, compte tenu de la réduction des cycles de
fabrication des produits électroniq ues actuels.

5) SYSTEMES SUR PUCES (SOC)

5.1 Principes

L'évolution très rapide des technologies de fabrication de circuits intégrés sur silicium
permet déjà de réaliser des systèmes numériques complets intégrés sur une même puce: les
SOC (pour System On Chip). Les prévisions d'évolution des technologies faites par la SIA
montrent que le nombre de transistors par circuit va être multiplié par un facteur 50 dans les
10 prochaines années (Figure 5.1). En 1998, un microprocesseur était composé d'environ 10
millions de transistors. En 2008, un circuit de référence équivalent pourra être composé de
près de 500 millions de transistors. Devant ces possibilités, les techniques de conception des
systèmes électroniques vont évoluer très rapidement vers l'intégration de systèmes de plus en
plus complexes avec des durées d'obsolescence de plus en plus courtes. Des blocs
fonctionnels déjà validés (y compris sur Silicium) appelés généralement IP (pour Intellectual
Property) seront de plus en plus utilisés (Figure 5.2). De ce fait, les outils classiques de
Conception Assistée par Ordinateur (CAO) dans les domaines de la microélectronique
devront évoluer en prenant de plus en plus en compte l'aspect système et le recours au
prototypage à des fins de validation. Les classiques bibliothèques utilisées pour la conception
des Circuits Intégrés pour Applications Spécifiques (ASICs) seront complétées, voire
remplacées, par des bases de données de composants virtuels dont la fonctionnalité pourra
correspondre à un processeur ou même à un ordinateur complet avec sa mémoire et ses
entrées/sorties. La Figure 5.3 décrit les analogies entre un « système sur carte » traditionnel et
un système sur puce.

La ré-utilisation et l'assemblage de briques "virtuelles" protégées par des règles de


propriétés intellectuelles (IP, « Intellectual property ») permet ainsi d'accélérer la conception
des systèmes sur puce. Un bloc de propriété intellectuelle sera défini comme un composant
virtuel ré-utilisable, testable, commercialisable et auquel est associé une notion de service
(support, maintenance,.. etc.). Des sociétés spécialisées commercialisent des blocs IPs sous
diverses formes :

- composant « hard » avec un dessin de masques ciblé pour une technologie,

- composant « soft » avec par exemple un modèle VHDL qui permet de synthétiser le
circuit à l’aide d’une bibliothèque de cellules précaractérisées).

« Circuits et systèmes intégrés micro -électroniques: technologies, conception »


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La conception de SOC réutilise : à partir d'un cœur (ou de plusieurs), les concepteurs
adaptent le système à l'application visée. Des environnements de CAO permettent de vérifier
la fonctionnalité du système à ce niveau d'abstraction par des simulations de type flot de
données [cao] ces outils sont basés sur des Modèles Virtuels (codés en C). Ils permettent
également d'assembler et de co-simuler des Modèles Virtuels décrits dans différents langages
à des niveaux d'abstraction différents (Figure 5.4). Des modèles algorithmiques de
processeurs sont disponibles et permettent des simulations (notamment par l’intermédiaire
d’ISS, « ISS, Instructions Set Simulators »).

5.2 Vérification

A des fins de vérification à chaque étape de la conception et/ou d'exploration de


l'espace des solutions, les concepteurs souhaitent disposer de résultats de simulation les plus
précis possibles mais dans un temps réduit. De plus, la fonction qu'ils développent est
généralement enfouie dans un système. Les modèles Virtuels VHDL conduisent à des temps
de simulation prohibitifs (de plusieurs semaines ou plusieurs mois) pour de longues séquences
de données, ce qui est le cas pour la vérification de systèmes de traitement du signal et des
images. Ces temps de validation sont incompatibles avec les temps de cycle industriels
actuels. Des solutions utilisant des accélérateurs matériels de simulation ou des techniques de
co-simulation peuvent être utilisées pour réduire ces temps. Depuis quelques années, afin de
répondre à ces demandes d'outils efficaces et rapides de vérification, des plateformes de
prototypage rapide de matériel, basées sur des circuits programmables, ont été également
développées [prototypage].

On distingue plusieurs techniques de vérification, comme l’illustre les Figures 5.5, 5.6
et 5.7) :

- Simulation : évaluation de la conception du circuit par un ensemble de stimuli pour


vérifier les aspect fonctionnels et temporels de celui-ci. Les accélérateurs de simulation
(réseaux de processeurs identiques où l’on transpose de manière transparente pour
l’utilisateur l’architecture à évaluer), permettent de réaliser une simulation « câblée »
rapide.

- Emulation : les machines d’émulation (réseaux de circuits programmables identiques de


type FPGA-SRAM ou processeurs) permettant d’estimer rapidement les performances
fonctionnelles d’une architecture) : ces machines permettent de prototyper des systèmes
de plusieurs dizaines de millions de portes logiques à partir de compilations de
descriptions VHDL propres à l'utilisateur. Compte tenu des limitations de performances
des circuits FPGA et des retards dans les interconnexions des fonctions, l'émulation du
futur système sur silicium peut être réalisée à une fréquence d'horloge relativement lente
(de l’ordre de quelques MHz).

- Prototypage rapide : utilisation de circuits programmables FPGAs et de cœurs de circuits


(DSP, microcontrôleurs, etc ..) pour valider fonctionnellement (et temporellement) une
architecture donnée dans son véritable environnement (maquette). Les nouvelles
générations de machines (ou cartes) de prototypage permettent d’évaluer un système sur
puce de manière statique et dynamique (quelques dizaines de MHz), à partir de modèles
virtuels (ici placement/routage sur les FPGA) disponibles auprès de fournisseur de IPs, ou
de modèles réels [composants virtuels], lorsque les composants utilisés sont disponibles.
Le système de prototypage permet de programmer l'interconnexion de divers blocs
« Circuits et systèmes intégrés micro -électroniques: technologies, conception »
- 16 -

(processeurs, RAM, FPGA configurables à partir de IPs ou de descriptions VHDL de


l'utilisateur, de coeurs IPs (enfichables sur la carte prototype), de modules de
communication, …etc. Les outils classiques de développement associés au processeur
considéré permettent de développer le logiciel d'application. Les outils de synthèse et de
placement/routage permettent de configurer des fonctions logiques dans les FPGA. Un
logiciel d’exploitation permet de programmer l'interconnexion des différents modules et
de visualiser les résultats en cours de fonctionnement. Ce type d'équipement est très bien
adapté au prototypage de systèmes qui intègrent des blocs IPs disponibles sous forme de
modules matériels. Ces plateformes permettent par ailleurs un développement conjoint du
logiciel embarqué et du matériel, ce qui conduit à réduire le temps de conception.

- Les cartes spécifiques, que chacun peut développer, mais qui sont par construction figées
pour un type d’application donné. Notons, les cartes de prototypage de faible coût,
vendues par les fournisseurs de circuits programmables (FPGA, processeurs) ou de
composants virtuels (processeur Arm par exemple) : ces environnements permettant de
développer des systèmes utilisant ces composants.

Ces approches sont comparées dans les Figures 5.6 et 5.7. L'intérêt supplémentaire
des machines de prototypage réside dans la possibilité de connexion physique du prototype au
système englobant. Leur prix est toutefois un frein à leur dissémination. De plus, compte tenu
de l’évolution rapide des technologies d’intégration de leurs composants, la durée de vie de
ces machines est très courte.

La figure 5.8 montre l’utilisation des techniques de prototypage de fonctions


matérielles et logicielles dans un flot de conception de système sur puce. On notera la gestion
parallèle de la conception des parties logicielles et matérielles. La maquette de prototypage
permettra de vérifier le fonctionnement global du système en faisant exécuter par exemple le
logiciel compilé dans un ou plusieurs processeurs, et la partie matérielle dans des circuits
programmables FPGA.

6) CONCLUSION

L’évolution des techniques de conception et de fabrication des circuits intégrés permet


aujourd’hui de réaliser des systèmes intégrés de gr ande complexité. Diverses alternatives
d’architectures basés sur des compromis entre logique « cablée » et logique « programmée »
permettent de trouver un équilibre entre les contraintes d’efficacité et de flexibilité : pour une
même architecture, c’est le logiciel embarqué (ou enfoui, ou « embedded ») qui permet et
(permettra de plus en plus) de personnaliser et d’adapter le circuit à une application. Le
concepteur d'ASICs a "manipulé" des transistors et des bibliothèques de cellules pendant les
années 80, des blocs fonctionnels pendant les années 90 ; il assemble déjà, et il assemblera de
plus en plus des composants virtuels complexes (qu’il configurera par programmation)
pendant la prochaine décennie (Figure 6.1). Deux techniques de réalisation des systèmes
électroniques se dégagent aujourd’hui (Figure 6.2) :

- matériel standard : réalisations basées sur des composants programmables au niveau


matériel (FPGA) ou logiciel (processeurs). Cette technique souple est adaptée à la
fabrication de prototypes ou de petites/moyennes séries, et est accessible à un grand
nombre d’utilisateurs. Un circuit FPGA permet aujourd’hui d’intégrer plusieurs centaines
de milliers de portes logiques, en intégrant pour certains des coeurs de processeurs (cablés
ou synthétisés), que l’utilisateur peut configurer.

« Circuits et systèmes intégrés micro -électroniques: technologies, conception »


- 17 -

- matériel spécifique : réalisations basées sur la conception de systèmes sur puce (SOC)
spécifiques, en utilisant des composants virtuels (IP). Cette technique permet d’obtenir les
meilleures performances techniques (vitesse, puissance, surface), mais compte tenu des
coûts (moyens humains, logiciels, coûts des prototypes,..etc) elle est réservée à des
fabrications en grandes séries.

La figure 6.3 résume l’architecture d’un circuit intégré spécifique dans les prochaines
années :

- matériel reconfigurable, avec des blocs FPGA, et des interconnexions reconfigurables,


- architectures composées de multiprocesseurs hétérogènes (micro-controleurs, processeurs
de traitement numérique du signal,...etc.) et de blocs IPs divers,
- logiciel embarqué
- etc.

Ces circuits devront fonctionner dans des environnements de communications complexes


en s’adaptant rapidement à tout type de standard. Ils seront développés avec des logiciels de
CAO de systèmes sur puce, couplés à des plateformes de prototypage rapide reconfigurables
(« Platform based design »), et permettant de ré-utiliser et d’interconnecter dans les meilleures
conditions les composants virtuels (ou « IP ») disponibles.

REFERENCES

CAO
[1] : http://www.cadence.com
[2] : http://www.synopsys.com
[3] : http://www.mentor.com
[4] : http://www.coware.com
Prototypage, Emulation
[1] : http://www.quickturn.com
[2] : http://www.aptix.com
[3] “Reuse methodology manual for system on chip designs”, M. Keating, P. Bricaud, Kluwer
[4] « Surviving the SOC revolution, a guide to platform based design », Chang & all, Kluwer
Circuits programmables
[1] http://www.xilinx.com
[2] http://www.altera.com
Composants virtuels
[1] : http://www.arm.com
[2] : http://www.mips.com
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[4] : http://www.design-reuse.com
Fabricants de semiconducteurs
[1] : http://www.sitelesc.com
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SIA « roadmap »
[1] : http://www.semichips.com
http://www.itrs.net/ntrs/publntrs.nsf
Formation en microélectronqiue
[1] : http://www.cnfm.fr

Remerciements : l’auteur tient à remercier P. Hesto, Professeur à l’université d’Orsay, pour son aide dans la
rédaction de la partie relative aux procédés de fabrication des circuits intégrés, ainsi que ses collègues de
l’Université Montpellier 2 (ISIM) G. Cambon et L. Torres.

« Circuits et systèmes intégrés micro -électroniques: technologies, conception »


- 18 -

ANNEXE 1

Technologie CMOS

La figure A1, montre plusieurs vues du transistor MOS (Métal Oxyde Semi-
conducteur) : une vue dans l’espace (a), une vue en coupe (b) et une vue de dessus (c). Les
concepteurs utilisent la vue de dessus pour dessiner les masques technologiques de
fabrication. On distingue 2 paramètres géométriques du transistor : sa largeur W et sa
longueur L. La grille était autrefois réalisée en métal (d’où le nom MOS). Elle est
actuellement en polysilicium (silicium polycristallin fortement dopé).

La conductance entre les zones de drain et de source est modulée par la tension
appliquée sur al grille, laquelle engendre un champ électrique qui module la quantité de
porteurs dans le canal (effet de champ). Les circuits logiques MOS ont une longueur de grille
minimum pour réduire le temps de transit des porteurs dans le canal, c’est à dire augmenter la
vitesse. Une modification de la largeur W du transistor aura pour conséquence de modifier le
courant et la capacité de grille du transistor.

La figure A.2 résume de manière simplifiée le comportement électrique du transistor


NMOS (les porteurs dans le canal sont les électrons). Suivant les tensions appliquées on
distingue 3 régimes : bloqué, linéaire ou saturé.

La figure A3 donne la caractéristique statique de l’inverseur CMOS. Les 2 zones


d’utilisation pour les circuits logiques sont la A (niveau haut, Vdd, en sortie : le transistor P
charge les capacités sur le nœud de sortie) et la B (niveau Bas, O Volt, en sortie, le transistor
N décharge les capacités sur le nœud de sortie). A l’état haut ou à l’état bas un des deux
transistors est bloqué : ce n’est qu’à la commutation que les deux transistors conduisent, ce
qui a pour conséquence une puissance dynamique dissipée proportionelle à la fréquence de
fonctionnement.

La figure A4, donne les schémas logiques et électriques des portes “inverseur”,
“Nand2”, “Nor2“ ainsi que le schéma d’un point mémoire (2 inverseurs rebouclés
commandés par 2 transistors fonctionnant en mode opposé pour écrire et pour lire).

Les figures A.5 et A.6 donnent les représentations logiques, électriques et


topologiques (“layo ut”) d’un inverseur et d’une porte “Nor2”.

« Circuits et systèmes intégrés micro -électroniques: technologies, conception »


- 19 -

LEGENDE DES FIGURES


(le titre est indiqué dans chaque figure)

- Figure 1.1 : Les masques technologiques utilisés lors de la fabrication du circuit, sont
dessinés par le concepteur du circuit à l’aide de logiciels de CAO.

- Figure 1.2 : Le concepteur du circuit a pour objectif de dessiner les masques technologiques
conformément à la spécification initiale en respectant des règles électriques et topologiques.
Le fabricant de circuit va fabriquer les puces, les tester et les encapsuler dans des boîtiers. Le
coût du circuit dépendra de la surface de silicium occupée.

- Figure 1.3 : De la spécification au dessin des masques, le concepteur va réaliser


l’architecture, puis les descriptions logiques, électriques et topologiques du circuit.

- Figure 1.4 : Autour d’un environnement logiciel commun, les outils de CAO peuvent être
répartis dans une catégorie « Front end » (étapes de passage d’une spécification à une
description structurelle) et dans une catégorie « back end » (étapes physiques :plan de masse,
placement, routage..etc).

- Figure 2.1 : pas de légende


- Figure 2.2 : pas de légende

- Figure 2.3 : une bibliothèque est constituée de cellules et de plots placés à la périphérie du
circuit (pour assurer la liaison entre la puce et le boîtier). Les cellules ont des longueurs
variables et une largeur fixe. Des peignes d’alimentation réguliers (réalisés à l’aide des
niveaux de métallisation) permettent d’assurer la polarisation des cellules. Les bandes de
cellules sont plus ou moins espacées en fonction de la densité des interconnexions à réaliser.

- Figure 2.4 : On distingue les zones principales suivantes : macrocellules complexes


(topologie : rectangles), cellules élémentaires (topologie en bandes), zones d’interconnexion
(canaux de routage) et plots.

- Figure 2.5 : pas de légende

- Figure 3.1 : un rond entre une ligne et une colonne signifie qu’il y a liaison électrique.

- Figure 3.2 : la légende est marquée dans la figure

- Figure 3.3 : l’utilisatio n de plusieurs mémoires EPROM permet de reconfigurer de diverses


manières le circuit lors de son fonctionnement.

- Figure 3.4 : la légende est marquée dans la figure

- Figure 3.5 : pas de légende

- Figure 3.6 : lors de la phase de configuration, toutes les cellules mémoires du FPGA sont
adressées via l’entrée de configuration. En mode normal, le circuit fonctionne au travers de
ses plots d’entrées et de sorties.

-Figure 3.7 : La programmation du contenu de la mémoire SRAM, et des entrées du réseau de


multiplexeurs, permet de configurer la LUT à 3 entrées (A,B,C). On peut réaliser un

« Circuits et systèmes intégrés micro -électroniques: technologies, conception »


- 20 -

multiplexeur 2 :1 avec 2 transistors fonctionnant en mode interrupteur : en programmant les


valeurs des 2 entrées et de la commande de multiplexage, on réalise ainsi des fonctions
logiques (par exemple S=X.Y ou S=X+Y).

- Figure 3.8 : Les outils de CAO « standard » permettent de réaliser la conception pour tout
type de circuit programmable

- Figure 3.9a : pas de légende

- Figure 3.9b : le circuit programmable FPGA permet d’exploiter le parallélisme, alors que le
processeur (DSP ou micro-contrôleur) exécutera les instructions de manière séquentielle.

- Figure 3.10 : la reconfiguration partielle a pour objectif de modifier une partie du circuit
programmable sans interrompre son fonctionnement (reconfiguration dynamique)

- Figure 3.11 : pas de légende


- Figure 4.1 : pas de légende
- Figure 4.2 : pas de légende
- Figure 4.3 : pas de légende
- Figure 4.4 : pas de légende
- Figure 4.5 : pas de légende

- Figure 4.6 : le canal de routage (a) doit contenir l’ensemble des connexions reliant les
broches ayant un numéro identique. Il y a dans cet exemple 9 connexions à assurer (b), soit 9
pistes de métal horizontales. En réarrangeant ces connexions on peut optimiser le nombre de
pistes (c), ce qui permet de minimiser la surface du canal de routage.

- Figure 4.7 : pas de légende


- Figure 4.8 : pas de légende

- Figure 5.1 : on devrait atteindre 1 milliard de transistors sur une puce en 2010 !

- Figure 5.2 : Ré- utilisation et assemblage de briques « IP » ou composants virtuels au niveau


fonctionnel ou physique (« layout ») fournis par des société spécialisées et protégées par des
règles de propriétés intellectuelles.

- Figure 5.3 : pas de légende


- Figure 5.4 : la légende est marquée dans la figure
- Figure 5.5 : pas de légende
- Figure 5.6 : pas de légende
- Figure 5.7 : pas de légende
- Figure 5.8a : pas de légende

- Figure 5.8b : le concepteur élabore un prototype virtuel en construisant à partir de blocs IPs,
et de bibliothèques logicielles un modèle fonctionnel du système. La co- vérification consiste à
comparer un modèle fonctionnel avec un modèle cablé sur une plateforme de prototypage.

- Figure 6.1, 6.2, 6.3 : pas de légende

« Circuits et systèmes intégrés micro -électroniques: technologies, conception »


- 21 -

Figure 1.1a : Etapes de fabrication d’un inverseur CMOS

Puits p
Masque de puits
Substrat n

Masque de zone active


Substrat n

Masque de polysilicium
Substrat n

Figure 1.1b : Etapes de fabrication d’un inverseur CMOS

Masque de diffusion p
Substrat n

Masque de diffusion n
Substrat n

Masque de contact
Substrat n

Masque de métal

Substrat n

« Circuits et systèmes intégrés micro -électroniques: technologies, conception »


- 22 -

Figure 1.2 : Conception et fabrication de circuits intégrés


FABRICATION
Masques de fabrication
Puce

Encapsulation
Fondeur
Test

FF / mm 2
Règles

CONCEPTION
ASIC

Dessin des masques


“Layout”
Spécifications

Figure 1.3 : Conception d ’un circuit intégré spécifique : étapes

« Co-design »
Matériel/Logiciel
?
Niveau
Système
Niveau
Synthèse
CIRCUIT
SPECIFICATIONS architecturale
architecture

APPLICATION
M
Niveau
PROCESSEUR

E
M

M structure
E ASIC
M

ASIC
Niveau Synthèse
Logique logique
Niveau
Physique Synthèse
FABRICATION
physique

« Circuits et systèmes intégrés micro -électroniques: technologies, conception »


- 23 -

Figure 1.4 : Outils de CAO

“FRONT END” “BACK END”

CODAGE PLAN DE MASSE


Editeurs de shémas.... PLACEMENT
Bibliothèque de ROUTAGE
cellules, IPs

SYNTHESE LOGIQUE EDITEUR GRAPHIQUE


(LAYOUT)
ENVIRONNEMENT
SIMULATION (“framework”)

EXTRACTIONS
TEST VERIFICATIONS
simulation de fautes
testabilité
AUTRES
ENVIRONNEMENTS

EMULATION AUTRES OUTILS

VERIFICATION

AUTRES OUTILS

Figure 2.1 : classification

?? CIRCUITS
CIRCUITS STANDARDS
STANDARDS

?? ASIC
ASIC SEMI-SPECIFIQUES
SEMI-SPECIFIQUES
- - CIRCUITS
CIRCUITSPROGRAMMABLES
PROGRAMMABLES(CPLD,
(CPLD,EPLD,
EPLD,FPGA,...)
FPGA,...)
- - MATRICES PREDIFFUSEES
MATRICES PREDIFFUSEES (“Gate array”,”seaofofgates”)
(“Gate array”,”sea gates”)
?? ASIC
ASIC SPECIFIQUES
SPECIFIQUES
- - CIRCUITS
CIRCUITSSUR
SURMESURE
MESURE(“full custom”)
(“full custom”)
- - CIRCUITS
CIRCUITSPRE-CARACTERISES
PRE-CARACTERISES(“cell
(“cellbased”,”standard
based ”,”standardcell”)
cell”)
- - SYSTEMES
SYSTEMES SUR PUCE, (SOC, “System on
SUR PUCE, (SOC, “System onaachip”)
chip”)construits
construitspar
par
assemblage
assemblagede
decomposants
composants««virtuels
virtuels»»(IP)
(IP)

? Circuits hybrides, MCM (Multi Chip Module)


? Micro-sytèmes (capteur, traitement, actionneur)

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- 24 -

Figure 2.2 : Topologie d’un circuit prédiffusé

Plots
rangées

étage
(a) Avant conception colonnes

(b) Aprés conception


canal de routage
métal 2
métal 1

Figure 2.3 : circuit précaractérisé Description du circuit

Bibliothèque :
DFF E

NAND 3
S
CAO
INV +
LIBRAIRIE
............. E/S

XXX Vcc

CELLULES PLOTS

Vss Vcc

CANAUX DE ROUTAGE
DE LARGEUR VARIABLE

Alimentation électrique des cellules

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- 25 -

Figure 2.4 : Topologie d’un circuit précaractérisé


CELLULES PRE-CARACTERISEES : BLOCS COMPLEXES :
- rectangulaires de hauteur fixe - forme variable (rectangles,..)
- connexions sur deux côtés ou dessus - connexions sur 4 côtés ou dessus

Cellules

canaux de routage

TOPOLOGIE EN BANDES

macrocellules

Plots Cellules
élémentaires

Figure 2.5 : Comparaison des ASICs


Composants standards
Coût unitaire d’un système

100
Circuits programmables

Prédiffusés

Pre-caractérisés
10

Circuits sur mesure

1
1 10 102 10 3 104 10 5 10 6 10 7

Volume de production

Circuits Programmables
Circuits Prédiffusés Temps de Complexité et
conception niveau
Circuits Pre-caractérisés d’intégration
Circuits sur mesure

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- 26 -

Figure 3.1 : Principe de l’architecture d’un circuit PLD


PLD

ABC
AB
BC
AC

C B A
F0 F1 F2
F0 ? ABC
F1 ? ABC ? A B
F2 ? ABC ? BC ? AC

Figure 3.2 : Principe de la technologie EPLD

Bit Word line

grille L ’application d ’un potentiel sur la grille supérieure


provoque le passage d ’une partie des électrons du
Grille flottante canal à travers la mince couche d ’oxyde, ce qui charge
la grille flottante. Lors de la lecture, une tension
appliquée sur la grille supérieure est complètement
masquée par la charge négative emmagasinée sur la
grille flottante. Cela équivaut à un transistor toujours
source drain bloqué.
transistor à grille flottante

- même technologie que celle des mémoires EPROM


- transistor à double grille
- reprogrammable (effacement par UV ou électriquement)

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- 27 -

Figure 3.3 : Principe des circuits FPGA-


FPGA-SRAM

• Technologie CMOS standard


• Portes de transmission ou multiplexeurs commandés par des
cellules SRAM
• Les mémoires SRAM permettent de configurer les
interconnexions et de programmer les cellules
• le FPGA doit être configuré à chaque mise sous tension à partir
d’une mémoire externe (EPROM)

FPGA

EPROM1
EPROM
FPGA
FPGA-SRAM FPGA
EPROM2

EPROM3

Figure 3.4 : Principe de l’architecture d’un circuit


circuit FPGA-
FPGA- SRAM

LUT
CLB S
D Q

CLB = BLOC LOGIQUE CONFIGURABLE (“ Configurable Logic Block”), construit à partir d’un
générateur de fonctions « LUT : Look Up Table »). Réalisation de blocs combinatoires ou
séquentiels

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- 28 -

Figure 3.5 : Architecture d’un circuit FPGA-SRAM

Cellule
d’interconnexion
Cellule locale
Logique
CLB

Cellule
Cellule d’interconnexion
Mémoire globale
SRAM

Figure 3.6 : Fonctionnement d’un FPGA-SRAM


? (a) Mise sous tension
Vcc
S
Vcc

CONF
CONF

Gnd
Gnd
? (b) Phase de configuration ? (c) Phase d’opération

Entrée « CONF » active : chargement Entrée «CONF » désactivée


des SRAM (en chaîne) fonctionnement normal du circuit configuré

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- 29 -

Figure 3.7 : Réalisation de fonctions logiques avec des multiplexeurs


Grille
!C Source Drain
A A
S
S
C G=1

B
C B G=0

Exemples:
Si C=0, alors S=A S=X.Y si C= X, A =0, B = Y Transistor NMOS = commutateur
Si C=1, alors S=B S=X+Y si C= !X, A =1, B = X
C
B

A B C Z 1
0 A
0 0 0 1
0 0 1 0 LUT 3 1
Z
0 1 0 1 1
0 1 1 1
1 0 0 1 1
1 0 1 1
1 1 0 1 1
1 1 1 0 1
0
« Look Up Table »

Figure 3.8 : Méthodologie d ’un conception d ’un circuit programmable

SPECIFICATION VHDL
CAO “STANDARD”
circuit
(synthése logique,...etc.)
CAO SPECIFIQUE FPGA

EDITEUR DE SCHEMA ou
DESCRIPTION (machines d’état,
LIBRAIRIE équations booléennes,..) simulation
DE CELLULES
- spécification
- schémas symboles
- modèles simulation “compilateur”
synthése ...
... mapping

Placement - Routage simulation


post-layout

Vérifications
PROGRAMMATION
(fichier ----> programmateur) TEST

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- 30 -

Figure 3.9a
3.9a :: Architecture d ’un filtre numérique FIR

?Equation aux différences : ?Fonction de transfert en Z :


i? N ?1 i? N ?1
Y (Z )
y( n) ? ? ai x( n ? i ) F (Z ) ?
X (Z )
? ?
i ?1
ai Z ? i
i? 0

?Architecture :

Figure 3.9b :
Figure 3.9b : Architectures d’un filtre FIR

DSP FPGA
1 1 2 3 4 N

Mult. Mult. Mult. Mult. Mult. • •• Mult.

Add
Add

? Traitement séquentiel ? Traitement parallèle


? Architecture figée ? Architecture reconfigurable

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- 31 -

Figure 3.10 : Coprocesseur programmable

CPU Mémoire E/S

Accés rapide aux


registres internes Interface avec le micropocesseur
prévu
FPGA
RPU (*)
Reconfiguration
partielle ou complète
rapide (*) Reconfigurable Processing Unit

E/S

Figure 3.11 : Evolution des circuits programmables

µC

Bloc FPGA

Circuit programmable complexe

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- 32 -

Figure 4.1 : Flot de conception


SPECIFICATIONS

Niveau
Niveausystème
système
Codesign
Simulation Niveau
Niveaucomportemental
comportemental

Synthèse architecturale
Niveau
NiveauRTL
RTL
Comparaison Synthèse Logique
Modification
Niveau Test
Niveaulogique
logique
Synthèse physique
Vérification
Niveau
Niveauphysique
physique

Simulation
post-layout layout TEST

Figure 4.2 : Bibliothèques de cellules

FONDEUR CONCEPTION CELLULE

TECHNOLOGIE DESCRIPTION-SIMULATION:
- ARCHITECTURE,
- MODELES ELECTRIQUES (SPICE) - LOGIQUE
- ELECTRIQUE
- REGLES DE DESSIN
DESSIN DES MASQUES

FABRICATION
CARACTERISATION :
SIMULATIONS SPICE ( min,typ,max)

SPECIFICATION

SYMBOLE POUR DOCUMENTATION


EDITEUR DE SCHEMA
“Design Kit” LAYOUT OU
ASIC MODELES DE ENVELOPPE
SIMULATION POUR PLACEMENT
& ROUTAGE
LOGICIELS DE CAO
......
CONCEPTEUR SYSTEME

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- 33 -

Figure 4.3 : Exemples de règles élémentaires de conception

? PARAMETRES TEMPORELS D’UNE CELLULE CMOS : MIN TYP MAX


• FLUCTUATIONS DU “PROCESS” V DD
T LH (ns) T HL (ns) DT (ns/pF)
• CONDITIONS D’UTILISATION :
(Vcc, température) MIN

TYP

V ss MAX

CONSEQUENCE :
E

E S
MIN S

S
MAX
T

EVITER (ASYNCHRONE) : LIGNES A RETARD, OSCILLATEURS, GENERATEURS D’IMPULSIONS


ASYNCHRONES, BASCULES RS, ....

Figure 4.4 : Plan de masse d’un circuit

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- 34 -

Figure 4.5 : Placement et routage de cellules

CELLULES PRE-CARACTERISEES :
LISTE DES CELLULES UTILISEES REPRESENTATION PHYSIQUE - rectangulaires de hauteur fixe
ET INTERCONNEXIONS (netlist) DES CELLULES - E/S positionnés sur une grille
- connexions sur deux côtés ou dessus

LISTE DES CHEMINS cellules


CRITIQUES
PLACEMENT 1 2 1 5 2 5 4 3 4 3 5
canal de routage
métal 2
PLACEMENT RELATIF métal 1
DES CELLULES 2 1 4 1 5 3 6 5 6 3 3

ROUTAGE GLOBAL cellules

TOPOLOGIE EN BANDES

LISTE DES INTERCONNEXIONS


POUR CHAQUE CANAL
BLOCS COMPLEXES :
- forme variable (rectangles,..)
- connexions sur 4 côtés ou dessus
ROUTAGE LOCAL

ROUTAGE COMPLET DANS DES CANAUX = BLOC


PLACEMENT ABSOLU DES CELLULES

= canal de routage

Figure 4.6 : Routeur de canal

PROBLEME A UNE DIMENSION : ROUTAGE HORIZONTAL


Exemple d ’algorithme :
1 2 5 1 4 2 8 5 2 3 6 3 7 6 4 9 3 7 9 « Left Edge »
5
(a) 7 CANAL DE
8 ROUTAGE
1 2 5 1 4 2 8 5 2 8 6 3 7 6 4 9 3 7 9

5 5 5
8 8 8
1 1
2 2 2

4 4
MISE EN ORDRE
(b) 6 6
A PARTIR DE
3 3
L’EXTREMITE
GAUCHE
7 7 7
9 9

8 8 8 6 6 9 9

5 5 5 3 3
ROUTAGE
(c) 1 1 4 4
FINAL

2 2 2 7 7 7

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- 35 -

Figure 4.7 : Simulation


? FONCTIONNELLE OU COMPORTEMENTALE
? LOGIQUE OU LOGICO-TEMPORELLE
? ELECTRIQUE
VITESSE PRECISION

SYNTHESE

SCHEMA NETLIST VDD

MODELES SIMULATION STIMULI

VSS

BIBLIOTHEQUE

T(A,E) = 1 + 2C Modèle des délais des portes logiques : la rampe


.............. CHRONOGRAMMES (“slew-rate”) de l’entrée affecte le délai de la porte

MODELISATION DES RETARDS A PARTIR DE LA PRECARACTERISATION DES C ELLULES : T = T0 + DTx CL + ....

Figure 4.8 : Extraction de parasites R et C

- Capacités entre niveaux de métal (“fringe Métal 2

capacitance”),
- Diaphonie (capacité latérale entre deux Métal 1 Métal 1

lignes d’un même niveau de métal),


- Résistances d’interconnexions et de Substrat
Sub
contacts,

Rétroannotation pour smulation « postlayout »

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- 36 -

Figure 5.1 : Evolution des technologies Silicium

Source SIA 1998 2008


Exemple :
Géométrie minimum 0,25 micron 0,08 micron

Microprocesseur: nb de transistors 10 MT 500 MT Intel Pentium 4


ASIC : nb de transistors 1 MT 50 MT
2001 : ~ 2 GHz
DRAM dans 1 circuit 500 Mbits 50 Gbits
2002 : ~ 4 GHz
Horloge (pin-to-pin) 300 Mhz 1000 Mhz

Horloge (local) 700 Mhz 2500 Mhz


CMOS 0,13 micron

Nombre d'entées/sorties 600 2000

Alimentations 1,8 - 3,3 V 0,6 - 0,8 V

Puissance (portable) 1,2 W 2,5 W

Puissance (haute performance) 70 W 160 W

CONCEPTION : réutilisation 20 - 30 % 70 - 80 %
ASIC SOC

Figure 5.2 : Système sur puce (SOC) : réutilisation


COMPLEXITE CROISSANTE DES CI (technologies & architectures)

RAM/
ROM
RAM/
ROM µC

Réutilisation I/O DSP


µC
SOC
DSP
I/O

Blocs «IP »
ou composants virtuels

… …
RENOUVELLEMENT ACCELERE DES GAMMES DE PRODUITS (« time to market »).

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- 37 -

Figure 5.3 : Analogies « système sur carte » et SOC

µP
Memoire
M
E ASIC ASIC
µP M
M
E ASIC
M

COMPOSANTS REELS COMPOSANTS VIRTUELS

Logiciel Logiciel embarqué


retard dans les connexions retard dans les connexions internes
Test au niveau carte Test au niveau circuit

Figure 5.4 : CAO de systèmes sur puce


Code C/C++ Instrument Virtuel
Définition du produit
Modèle du Système
Langage Naturel
P
Responsable Marketing
[ l o c k ] /

Spécifications
S t a r t s e a r c h _ m o d e = 1

[ D e t = = 0 ] /

[ l o cs ke =a =r A
0c ]hc _q mu oi dr ee = 1

T r a c k
s[ eD ae rt c= h = _ 1 m ] o/ d e = 2

C, C++, Java, Esterel, SDL, ...


Ingénieur Système
Logiciel Matériel
C, C++, Asm VHDL,Verilog
Ingénieur Architecte
Software Hardware
Circuit
RTL, Portes, Transistors, Layout Analyses

Ingénieur Asic
Fonderie Calculateur Signal

L’environnement de conception et de simulation permet de constru ire des systèmes comme ensembles de
fonctionnalités décrites par des modèles hétérogènes (algorithmiques, logiciels ou matériels).

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- 38 -

Figure 5.5 : Prototypage de systèmes

(1) Accélérateurs de simulation

(3) Plateformes Reconfigurables

(2) Machines d’émulation D µ (4) Cartes Spécifiques


S P
P
µP µP
I I
F P P DSP RAM
µP µP P
µP G
µP
A FPGA FPGA

FPGA FPGA
FP FP FP
GA GA GA

FP FP FP
GA GA GA

FP FP FP
GA GA GA

Coût et
maintenance Faible Coût
élevés Flexibilité
Architecture figée

Figure 5.6 : Techniques de vérification

Temps de
Compilation

Minute
Simulation
Accélérateur de
Heure
Simulation
Prototypage
Jour Emulation
Carte spécifique
Semaine

Mois SOC

Temps
Année Mois Semaine Jour Heure Minute
d’exécution

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- 39 -

Figure 5.7 : Techniques de vérification

mis
Eva

Fac poin
per
Vit

Fle

e au
lua ces
for

ilité
xib
Coû
ess

ma
tio
e

de
ilité
nd

t
n

t
Simulation

Emulation

Prototypage

Figure 5.8a : Flot de conception de systèmes sur puce

+ Flexibilité,
Specification du système + Portabilité
Ré-utilisation Librairies
(blocs IP) logicielles
- Performances
Partitionnement
Partitionnement
Matériel Logiciel
Co-Synthese
Co-Synthese

Description Code C A/D

D/A
Compilation Logique
P=>S
Synthèse S=>P
RAM ROM
FPGA FPGA ASIC
µP µP
ASIC ASIC ASIC DSP
+ Performances DMA
+ Traitement du parallélisme mémoire mémoire Analog

+ Traitement des données


Prototype SOC
- Communication et
synchronisation avec le logiciel

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- 40 -

Figure 5.8b co-vérification

Specs Software
IP’s Libraries

DF
Prototype virtuel :
Architecture • Haut niveau d’abstraction
Simulation
Models
• Flexibilité
HW SW

Prototype réel :
Synthesis • Architecture détaillée
Synthesis • Vitesse d’exécution
Prototype

System On
Silicon

Figure 6.1 : Evolution des techniques de conception

?
? Années 70/80 : Conception ”Full Custom”
– Simulation : Spice

? Années 80/00 : Conception ”cell based” + FPGA...


– Réutilisation du matériel (briques : “standard cell”)
– Modélisation, Simulation, Synthèse

? Années 00/xx : Conception ”SOCs”


– Réutilisation du matériel et du logiciel (“IP”)
– “Co-Design”
– Vérification
– “Time to Market”, coûts,...
IP ?

Logiciel Embarqué ?

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- 41 -

Figure 6.2 : Evolution des systèmes microélectroniques


MATERIEL STANDARD ou SPECIFIQUE ?

Matériel spécifique « SOC »


Hier
A/D • Programmable
Circuit
standard
Circuit
standard µP Logique (HW &SW)
D/A (« ASIC »)
• Complexité
mémoire P=>S
• Performances
mémoire Analog

S=>P RAM ROM

µC
Aujourd’hui DSP REUTILISATION DE
COMPOSANTS “VIRTUELS”
FPGA FPGA ASIC
µP

Demain
ASIC ASIC ASIC

mémoire mémoire Analog


Matériel standard “FPGA-based system”
• Prototype rapide
“ASIC based system” FPGA FPGA FPGA

• Programmable
µP
FPGA FPGA FPGA

mémoire mémoire
• Conception faible coût

- composants standards, FPGA ~ 1M portes


- composants programmables (FPGA)

Figure 6.3 : perspectives

Images
µC Blocs
Voix µC Reconfigurables
µC
……. µC
Données DSP µC
µC
reconfigurables
Connexions

www DSP M
DSP
DSP E Logiciel
M
IP
IP embarqué
Services de IP
communications
multi-standards

- primitive : du transistor au composant virtuel IP


- Du matériel figé au logiciel embarqué
- Reconfiguration du matériel Flexibilité
- Architectures multiprocesseurs
- Test : matériel et logiciel
- Méthodes et outils de CAO …. Vérification
- Modélisation (« Deep submicron » …)
- Consommation électrique
- …..

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- 42 -

ANNEXE

A1 : Transistor MOS L Oxyde de grille


SiO 2
W Grille
Drain Source
(a) principe
Grille
n n
Source Drain Substrat p

(b) Vue en coupe


Canal

L
Drain

Grille

W
Source

(d) Schéma électrique

(c) Vue de dessus

A2: Modes de fonctionnement du transistor MOS

VGS VDS • Région linéaire : VDS ? VGS ? VT


S G D
W? V 2?
??VGS ? VT ?VDS ? DS ?
ID
I D ? KPn
L? 2 ?
n+ n+
? n? ox
avec KPn ? ? nCox ?
VGS-VT tox
substrat p
B
Ids Vgs = 5 V
• Saturation : VDS ? VGS ? VT
Vgs = 4 V

Vgs = 3 V ID ?
KPn W
?VGS ? VT ?2 ?1 ? ? VDS ?
2 L
Vds
0 5V

VT = tension de seuil
µ = mobilité • Bloquage : VGS ? VT
Cox = capacité de l’oxyde mince
par unité de surface

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- 43 -

A3 : Fonctionnement d’un inverseur CMOS


Vdd
S
G

D
Entrée Sortie
D
Niveau Haut
Vdd G
S
A A N bloqué, P linéaire
Niveau Haut
B
B N saturé, P linéaire

C
C N saturé, P saturé

Sortie D N linéaire, P saturé


D
E
0 E N linéaire, P bloqué
Vt h(n) Vdd /2 Vdd-Vt h(p)
Niveau Bas
0 Vdd
Niveau Bas
Entrée Caractéristique de transfert

A4 : Portes logiques CMOS


D Q!

NMOS PMOS
Q

Point mémoire

A S A S A
S
B B

Vdd A B A
S
A B
S A
S
A B B A

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- 44 -

A5 : Inverseur CMOS
(1) E S

E
VDD VSS

(2)

VDD VSS
E
(3)
S

N P

Représentation logique (1), électrique (2) et topologique (3) d’un inverseur CMOS

A6 : Représentations logique, électrique et topologique


d’une porte “Nor 2”
Vdd
A
A S B
B S
B A

Vdd Gnd
métal
A
polysilicium

B Diffusion p
Diffusion n
S

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