Cours de fiabilité et risques technologiques : Fiabilité des systèmes non réparables

D. Lefebvre – GREAH – Université Le Havre

Cours de fiabilité et risques technologiques

Fiabilité des systèmes non réparables

Chapitre Quatre : Disponibilité des systèmes de plusieurs éléments

4.1 Logique d'un système

4.2 Fonction de structure, chemins de succès et coupes
4.3 Diagrammes de fiabilité

Les diagrammes de fiabilité représentent la logique d'un système par l'ensemble de ses chemins de
succès. Le système est OK uniquement si un chemin de succès existe entre l'entrée et la sortie du
diagramme. Cette représentation est proche d'un schéma fonctionnel.

Structure série : pour représenter les éléments dont la défaillance d'un seul d'entre eux entraîne la
défaillance du système.

E1 E2

Structure parallèle : pour représenter des éléments dont le bon fonctionnement d'un seul d'entre eux
entraîne le bon fonctionnement du système.

E1

E2

Redondance r / n : r éléments parmi n doivent être en bon fonctionnement pour assurer le bon
fonctionnement du système.

E1

E2 2/3

E3

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Redondance passive : les éléments en réserve ne démarrent qu'en secours de l'élément principal.

La logique de nombreux systèmes peut être déterminée en combinant les éléments précédents.

Dans les cas les plus simples les diagrammes de fiabilité permettent de calculer les chemins de
succès et les coupes minimales du système.

4.4. Evaluation de la disponibilité des systèmes de plusieurs éléments

4.4.1 Éléments en série

La logique du système est représentée par un diagramme de fiabilité avec une structure série.

A( t) = Prob(M 1 (t)∧M 2 (t )∧...∧M n ( t))

A( t) = Prob(M 1 (t )). Prob(M 2 ( t) ∣ M 1( t))... Prob(M n (t ) ∣ M 1 (t )∧M 2 (t )∧...∧M n−1 (t ))

Si les n éléments sont non réparables et indépendants:

n n t n
R (t) = A (t) = ∏ Prob(Mk (t)) = ∏ R k (t) = exp (−∫ ∑ λ k ( u). du)
k =1 k=1 0 k=1

Le taux de défaillance de S vérifie :

n
λ (t) = ∑ λ k (t)
k=1

Dans le cas où le système est Markovien, les taux de défaillance des éléments sont constants, et le
temps moyen jusqu'à la première défaillance vérifie :

1
MTTF = n

∑ λk
k =1

4.4.2 Eléments en parallèles (redondance active totale)

La logique du système est représentée par un diagramme de fiabilité avec une structure parallèle.

A( t) = Prob(M 1 (t)∨M 2 (t )∨...∨M n ( t))

A( t) = Prob(P 1 (t )∧P 2 (t )∧...∧P n (t ))
A( t) = Prob(P 1 (t )). Prob(P 2 (t ) ∣ P 1 (t ))... Prob(P n (t) ∣ P 1 (t )∧P 2 (t )∧...∧P n−1 (t ))

Si les n éléments sont non réparables et indépendants:

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n n n t

R (t) = A (t) = 1−∏ Prob (P k (t)) = 1−∏ (1−R k ( t)) = 1− ∏ (1−exp(−∫ λ k ( u). du))
k =1 k=1 k=1 0

Dans le cas où le système est Markovien, les taux de défaillance des éléments sont constants, le taux
de défaillance de S vérifie :

λ (t) → min λ k
k=1... n

et le temps moyen jusqu'à la première défaillance vérifie :

n n
MTTF = ∑ λ1k − ∑ ∑ λ k1+ λ i + .... + (−1)n +1 n
1
k=1 k =1 i≥ k
∑ λk
k =1

4.4.3. Configuration parallèle – série d'éléments indépendants

La logique du système est représentée par un diagramme de fiabilité. Une configuration parallèle –
série d'éléments indépendants est une configuration série de p blocs d'éléments. Chaque bloc k est
composé de nk éléments indépendants en parallèle.

Ek,1

E1,1 Ep,1

E1,n1 Ep,np
E
k,nk

Si les éléments sont non réparables et indépendants:

p nk

R (t) = ∏ (1−∏ (1−R k ,i (t)))

k =1 i=1

où Rk,i(t) représente la fiabilité de l'élément i dans le bloc k.

Une configuration parallèle-série permet de décomposer le système en coupes : chaque bloc

correspond à une coupe minimale.

4.4.4. Configuration série – parallèle d'éléments indépendants

La logique du système est représentée par un diagramme de fiabilité. Une configuration série -
parallèle d'éléments indépendants est une configuration parallèle de p blocs d'éléments. Chaque bloc
k est composé de nk éléments indépendants en série:

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E1,1 E1,n1

Ek,1 Ek,nk

Ep,1 Ep,np

Si les éléments sont non réparables et indépendants:

p nk

R (t) = 1−∏ (1− ∏ R k ,i (t))

k =1 i=1

où Rk,i(t) représente la fiabilité de l'élément i dans le bloc k.

Une configuration série – parallèle permet de décomposer le système en chemins de succès: chaque
bloc correspond à un chemin de succès.

4.4.5. Redondance active r/n et autre cas

Dans le cas où tous les éléments sont non réparables et indépendants, mais de fiabilité différente, la
fiabilité du système peut être obtenue à partir de la table de vérité du système.

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Exercice 2
On considère un système formé de 3 éléments en série. Ces éléments sont indépendants, non
réparables, et leur processus de défaillance suit une loi exponentielle.
(AN: de paramètre 15 x 10-6 h-1).

1) Calculer la fonction de structure du système

2) Calculer la fiabilité (AN: au bout d'un an de fonctionnement)
3) Calculer le taux de défaillances du système
4) Calculer le MTTF du système

Exercice 3
On considère un système formé de 3 éléments en redondance active totale. Ces éléments sont
indépendants, non réparables, et leur processus de défaillance suit une loi exponentielle.
(AN: de paramètre 15 x 10-6 h-1).

1) Calculer la fonction de structure du système

2) Calculer la fiabilité (AN: au bout d'un an de fonctionnement)
3) Calculer le taux de défaillances du système
4) Calculer le MTTF du système

Exercice 4

On considère un système formé de 3 éléments en redondance active partielle 2/3. Ces éléments sont
indépendants, non réparables, et leur processus de défaillance suit une loi exponentielle.
(AN: de paramètre 15 x 10-6 h-1).

1) Calculer les coupes minimales et les chemins de succès

2) Représenter le système en série-parallèle et parallèle -série
3) Calculer la fonction de structure du système
4) Calculer la fiabilité dans le cas où la fiabilité de chacun des 3 éléments est identique (AN:
au bout d'un an de fonctionnement)
5) Calculer la fiabilité dans le cas où chaque élément à une fiabilité différente (AN: au bout
d'un an de fonctionnement). Retrouver le résultat 4) si la fiabilité de chacun des 3 éléments
est identique.
6) Calculer le taux de défaillances du système
7) Calculer le MTTF du système

E1

E2 2/3

E3

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Annexes

Rappels sur les variables aléatoires

Une variable aléatoire X est définie par sa fonction de répartition F(x) ainsi que par sa densité de
probabilité f(x):
x

Prob(X  x) = F(x) = ∫ f  u. du

−∞

La fonction de répartition a les propriétés suivantes :

0  F(x)  1
F(x) est non décroissante
F() = 1
Prob(X = x) = F(x+) - F(x-)
b

Prob(a < X  b) = F(b) – F(a) = ∫ f  u . du

a

Le moment d'ordre k de la variable aléatoire X est calculé selon la relation :

∞ ∞
E X k  = ∫ x k . dFx  = ∫ x k .f  x dx
−∞ −∞

La moyenne de X (ou espérance de X) et le moment d'ordre 1:

∞ ∞
E X = ∫ [Link] x = ∫ x.f  xdx
−∞ −∞

Le moment centré d'ordre k de la variable aléatoire X est calculé selon la relation :

∞
k
  X = ∫ x−E Xk . f x dx
−∞

La variance de X est le moment centré d'ordre 2:

∞
2
 X = ∫ x−E X2 .f  x dx = E X2 −E X2
−∞

Vecteur aléatoire de dimension 2

Probabilités conditionnelles

théorème des probabilités conditionnelles

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Prob A et X
Prob  A ∣ X=
Prob  X

Rappels sur les estimateurs

Dans les cadre des statistiques, on appelle estimateur du vecteur de paramètres  = (1,...,p) un
vecteur de variables aléatoires S = (s1,...,sp), fonction de l'essai sur l'échantillon avec n individus.

L'estimateur est dit sans biais si E(S) = .

L'estimateur est dit convergent si  e > 0, Prob(|s - | < e) tend vers 1 quand n tend vers l'infini.
L'estimateur est dit efficace si il est convergent, sans biais et de variance minimale.

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Numéro d’étudiant :

Fiabilité et risques technologiques

Juin 2010
Durée : 2 heures
Documents autorisés - Calculatrices autorisées

Exercice 1 : On considère un composant avec un taux de défaillance supposé constant

l = 4 x 10-5 (en heures-1 ).
1. Calculer le MTTF de ce composant en heures et en années.
2. Calculer la fiabilité du composant à la date t1 = 1 année et à la date t2 = 2 années.
3. Calculer la probabilité de défaillance entre les dates t1 et t2.
[Link] bout de quelle durée D (en années) la fiabilité est –elle égale à 5%.

Exercice 2 : Douze matériels sont testés dans un plan d'essais censuré de type 1 avec
renouvellement. On arrête l'essai après avoir observé 3 défaillances. La durée cumulée de bon
fonctionnement est de 150 000 heures. On suppose que ces matériels suivent une loi exponentielle.
1. Expliquer quelles lois du Khi Deux doivent être utilisées.
2. Déterminer un encadrement du MTTF avec un niveau de confiance de 60%. Utiliser la loi du Khi
Deux ci dessous (1 graduation en X = 0,3; 1 graduation en Y = 0,1).

Loi du Khi Deux pour ddl = 6 (trait plein) et ddl = 8 (pointillés)

Risque

Khi Deux

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Exercice 3: On considère un système formé de 4 éléments en redondance active partielle 3/4. Ces
éléments sont indépendants, non réparables, et leur processus de défaillance suit une loi
exponentielle. (AN: de paramètre 1 x 10-6 h-1).

1. Calculer les coupes minimales et les chemins de succès

2. Représenter le système en série-parallèle et parallèle -série
3. Calculer la fonction de structure du système
4. Calculer la fiabilité dans le cas où la fiabilité de chacun des 4 éléments est identique (AN: au bout
d'un an de fonctionnement)
5. Calculer le taux de défaillances du système
6. Calculer le MTTF du système

Exercice 4: On considère le dispositif de chauffe d'un four industriel. Ce dispositif est composé de
deux résistances R1 et R2 qui élèvent la température par dissipation d'énergie. Le four est
dimensionné pour fonctionner avec R1 et R2 mais il peut éventuellement fonctionner avec
seulement l'une des deux résistances : R1 OU R2. La régulation est assurée par deux thermo-
couples TH1 et TH2. TH1 maintient l'alimentation électrique tant que la température Tmin n'est pas
atteinte et TH2 coupe l'alimentation électrique lorsque la température Tmax est atteinte. On
supposera que Tmin < Tmax. Il n'y a pas de redondance matérielle sur les capteurs. L'événement
redouté est « la température cible Tmin < T < Tmax ( n'est pas atteinte ).
1. Construire l'arbre de défaillance de l'événement redouté.
2. Déterminer les coupes minimales par l'algorithme MOCUS.
3. Ecrire le diagramme binaire de décision pour l'ordre arbitraire suivant : TH1 < TH2 < R1 <R2
4. Déterminer les coupes minimales à l'aide du DBD.
5. Calculer la probabilité d'apparition de l'événement redouté en supposant que la disponibilité des
éléments de base est de 0.8 pour TH1 et TH2 et de 0.95 pour R1 et R2.
6. Quelles modifications proposez vous pour améliorer la fiabilité du système.

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Numéro d’étudiant :

Fiabilité et risques technologiques

Septembre 2010
Durée : 2 heures
Documents autorisés - Calculatrices autorisées

Exercice 1 : On considère un composant avec un taux de défaillance constant l = 6 x 10-6 (heure-1).

1. Calculer le MTTF.
2. Calculer la fiabilité au bout d'une année.
3. Quelle est sa probabilité de défaillance entre le début et la fin de la troisième année.

Exercice 2 :
On mesure la fonction de répartition de la durée de vie pour dix matériels dont la durée de vie est
supposée suivre une loi de Weibull:

F(t) (%) 6 16 26 35 45 54 64 75 83 93

Temps t (x 100 h) 1 3 5 6 8 9 11 13 18 22
1. Représenter les données dans un plan (ln, lnln).
2. Déterminer les paramètres  et  de la distribution de Weibull en supposant  = 0.
3. Déterminer la probabilité de survie des éléments pour 5000 h de fonctionnement et le MTTF

Exercice 3 : On considère le système de distribution de fluide dont le diagramme de fiabilité est

représenté ci dessous et on étudie l'événement redouté « absence totale de flux en sortie ».

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1) Construire l'arbre de défaillance de l'événement redouté.

2) Déterminer les coupes minimales par l'algorithme MOCUS.
3) Ecrire le diagramme binaire de décision pour l'ordre arbitraire suivant : E4 < E3 < E2 <E1
4) Déterminer les coupes minimales à l'aide du diagramme binaire de décision.
5) Calculer la probabilité d'apparition de l'événement redouté si la disponibilité des éléments de
base est R1 = R2 = R3 = 0.8, R4 = 0.9.

Exercice 4 : Calculer la disponibilité limite (lorsque t tend vers l'infini) d'un élément markovien
dont le taux de défaillance l et le taux de réparation  sont constants. Justifier votre réponse.

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