77A/317/CDV

COMMITTEE DRAFT FOR VOTE (CDV)

PROJET DE COMITÉ POUR VOTE (CDV)
Project number 77A/61000-4-7 Ed. 2.0
Numéro de projet
IEC/TC or SC: SC 77A Date of circulation Closing date for voting (Voting mandatory
CEI/CE ou SC: Date de diffusion for P-members)
2000-07-07 Date de clôture du vote (Vote obligatoire
pour les membres (P))
2000-12-15
Titre du CE/SC: 77A TC/SC Title: Low Frequency Phenomena

Secretary: Mme Nathalie BAUMIER-DUPHIL

Secrétaire:
Also of interest to the following committees Supersedes document
Intéresse également les comités suivants Remplace le document
TC1, TC22 77A/197/CD & 77A/239/CC
Horizontal functions concerned
Fonctions horizontales concernées
Safety EMC Environment Quality assurance
Sécurité CEM Environnement Assurance qualité
CE DOCUMENT EST TOUJOURS À L'ÉTUDE ET SUSCEPTIBLE DE MODIFICATION. THIS DOCUMENT IS STILL UNDER STUDY AND SUBJECT TO CHANGE. IT
IL NE PEUT SERVIR DE RÉFÉRENCE. SHOULD NOT BE USED FOR REFERENCE PURPOSES.

LES RÉCIPIENDAIRES DU PRÉSENT DOCUMENT SONT INVITÉS À PRÉSENTER, RECIPIENTS OF THIS DOCUMENT ARE INVITED TO SUBMIT, WITH THEIR
AVEC LEURS OBSERVATIONS, LA NOTIFICATION DES DROITS DE PROPRIÉTÉ COMMENTS, NOTIFICATION OF ANY RELEVANT PATENT RIGHTS OF WHICH
DONT ILS AURAIENT ÉVENTUELLEMENT CONNAISSANCE ET À FOURNIR UNE THEY ARE AWARE AND TO PROVIDE SUPPORTING DOCUMENTATION.
DOCUMENTATION EXPLICATIVE.

Titre : Title :
COMPATIBILITE ELECTROMAGNETIQUE ELECTROMAGNETIC COMPATIBILITY (EMC)
(CEM) Partie 4-7 : Techniques d’essai et de Part 4-7: Testing and measurement
mesure – Guide général relatif aux mesures techniques – General guide on harmonics and
d'harmoniques et d'interharmoniques, ainsi interharmonics measurements and
qu'à l'appareillage de mesure, applicable aux instrumentation, for power supply systems
réseaux d'alimentation et aux appareils qui y and equipment connected thereto .
sont raccordés.

ATTENTION ATTENTION

CDV soumis en parallèle au vote (CEI) Parallel IEC CDV/CENELEC Enquiry

et à l’enquête (CENELEC)

© International Electrotechnical Commission, IEC

Commission Électrotechnique Internationale, CEI
FORM 7B (IEC)
1999-10-01
61000-4-7/CDV  IEC:2000 –2–

CONTENTS

Page

FOREWORD .......................................................................................................................... 3
INTRODUCTION .................................................................................................................... 5

Clause

1 Scope and object ................................................................................................................. 6

2 Normative references .......................................................................................................... 6
3 Definitions, symbols and indices .......................................................................................... 7
3.1 Definitions related to frequency analysis ..................................................................... 7
3.2 Definitions related to harmonics .................................................................................. 8
3.3 Distortion Factors ....................................................................................................... 9
3.4 Definitions related to interharmonics ......................................................................... 10
3.5 Notations.................................................................................................................. 11
4 General concepts and common requirements for all types of instrumentation ..................... 12
4.1 Characteristics of the signal to be measured............................................................. 12
4.2 Accuracy classes of instrumentation ......................................................................... 12
4.3 Types of measurement ............................................................................................. 12
4.4 General structure of the instruments ......................................................................... 12
5 Harmonic measurements ................................................................................................... 14
5.1 Current input circuit .................................................................................................. 14
5.2 Voltage input circuit .................................................................................................. 14
5.3 Accuracy requirements ............................................................................................. 15
5.4 Measurement set-up for emission assessment.......................................................... 16
5.5 Assessment of harmonic emissions .......................................................................... 18
5.6 Assessment of voltage sub-groups ........................................................................... 19
6 Other analysis principles .................................................................................................... 20
7 Transitional Period............................................................................................................. 20
8 Environmental and other requirements ............................................................................... 21
8.1 General .................................................................................................................... 21
8.2 Insulation and electromagnetic compatibility tests (provisional) ................................. 21
8.3 Climatic tests ........................................................................................................... 22

Annex A (Informative) Measurement of interharmonics......................................................... 26

Annex B (Informative) Measurements in the frequency range 2 to 9 kHz............................... 28
61000-4-7/CDV  IEC:2000 –3–

INTERNATIONAL ELECTROTECHNICAL COMMISSION

____________

ELECTROMAGNETIC COMPATIBILITY (EMC)

Part 4-7: Testing and measurement techniques – General guide on

harmonics and interharmonics measurements and instrumentation,
for power supply systems and equipment connected thereto
INTERNATIONAL ELECTROTECHNICAL COMMISSION

FOREWORD
1) The IEC (International Electrotechnical Commission) is a worldwide organization for standardization comprising
all national electrotechnical committees (IEC National Committees). The object of the IEC is to promote
international co-operation on all questions concerning standardization in the electrical and electronic fields. To
this end and in addition to other activities, the IEC publishes International Standards. Their preparation is
entrusted to technical committees; any IEC National Committee interested in the subject dealt with may
participate in this preparatory work. International, governmental and non-governmental organizations liaising
with the IEC also participate in this preparation. The IEC collaborates closely with the International Organization
for Standardization (ISO) in accordance with conditions determined by agreement between the two
organizations.
2) The formal decisions or agreements of the IEC on technical matters express, as nearly as possible, an
international consensus of opinion on the relevant subjects since each technical committee has representation
from all interested National Committees.
3) The documents produced have the form of recommendations for international use and are published in the form
of standards, technical specifications, technical reports or guides and they are accepted by the National
Committees in that sense.
4) In order to promote international unification, IEC National Committees undertake to apply IEC International
Standards transparently to the maximum extent possible in their national and regional standards. Any
divergence between the IEC Standard and the corresponding national or regional standard shall be clearly
indicated in the latter.
5) The IEC provides no marking procedure to indicate its approval and cannot be rendered responsible for any
equipment declared to be in conformity with one of its standards.
6) Attention is drawn to the possibility that some of the elements of this International Standard may be the subject
of patent rights. The IEC shall not be held responsible for identifying any or all such patent rights.

International Standard IEC 61000-4-7 has been prepared by subcommittee 77A: Low frequency
phenomena, of IEC technical committee 77:Electromagnetic Compatibility

The text of this standard is based on the following documents:

FDIS Report on voting

XX/XX/FDIS XX/XX/RVD

Full information on the voting for the approval of this standard can be found in the report on
voting indicated in the above table.

This second edition cancels and replaces the first edition dated 1991, and constitutes a full
technical revision.

Annexes A and B are for information only.

61000-4-7/CDV  IEC:2000 –4–

The committee has decided that this publication remains valid until 2001. At this date, in
accordance with the committee’s decision, the publication will be:

- reconfirmed ;
- withdrawn ;
- replace by a revised edition, or
- amended.
61000-4-7/CDV  IEC:2000 –5–

INTRODUCTION

IEC 61000 is published in separate parts, according to the following structure:

Part 1: General

General considerations (introduction, fundamental principles)

Definitions, terminology

Part 2: Environment

Description of the environment

Classification of the environment
Compatibility levels

Part 3: Limits

Emission limits
Immunity limits (in so far as they do not fall under the responsibility of the product
committees)

Part 4: Testing and measurement techniques

Measurement techniques
Testing techniques

Part 5: Installation and mitigation guidelines

Installation guidelines
Mitigation methods and devices

Part 6: Generics standards

Part 9: Miscellaneous

Each parts is further subdivided into several parts, published either as International Standard, technical
specifications or technical reports, somme of which have already been published as sections.
This part is an International Standard which gives ........
61000-4-7/CDV  IEC:2000 –6–

ELECTROMAGNETIC COMPATIBILITY (EMC) –

Part 4-7: Testing and measurement techniques – General guide on

harmonics and interharmonics measurements and instrumentation,
for power supply systems and equipment connected thereto

1 Scope and object

This standard is applicable to instrumentation intended for measuring spectral components in

the frequency range up to 9 kHz which are superimposed on the fundamental of the power
supply. For practical considerations, this standard establishes a differentiation between
harmonics, interharmonics and components between 2 kHz and 9 kHz. General concepts and
recommendations for all types of instrumentation are given.'

In addition, this standard defines the measurement instrumentation intended for testing
individual items of equipment in accordance with emission limits given in standards (for
example, harmonic current limits as given in IEC 61000-3-2) as well as for the measurement of
harmonic currents and voltages in actual supply systems. Instrumentation for the frequency
range from 2 kHz up to 9 kHz and for interharmonics are tentatively defined (annexes A and B).

The specific details for measuring voltage harmonics in power distribution systems are dealt
with in IEC 61000-4-30.
NOTE – The description of the functions and structure of the measuring instruments in this standard is very explicit
and meant literally. This is due to the necessity of having reference instruments with reproducible results
irrespective of the characteristics of the input signals.

2 Normative references

The following normative documents contain provisions which, through reference in this text,
constitute provisions of this part of IEC 61000. For dated references, subsequent amendments
to, or revisions of, any of these publications do not apply. However, parties to agreements
based on this part of IEC 61000 are encouraged to investigate the possibility of applying the
most recent editions of the normative documents indicated below. For undated references, the
latest edition of the normative document referred to applies. Members of IEC and ISO maintain
registers of currently valid International Standards.

IEC 60050-161: International Electrotechnical Vocabulary - Chapter 161 Electromagnetic

compatibility

IEC 60068-2-1: Environmental Testing, Part 2: Tests - Tests A: Cold

IEC 60068-2-2: Basic environmental procedures. Part 2 : Tests. Tests B: Dry Heat

IEC 60068-2-3: Basic environmental procedures. Part 2 : Tests. Test Ca: Damp Heat, Steady
State

IEC 60068-2-14: Basic environmental procedures. Part 2 : Tests. Test N: Change of

temperature
61000-4-7/CDV  IEC:2000 –7–

IEC 61000-2-2: Compatibility levels for low-frequency conducted disturbances and signaling in
public low-voltage power supply systems

IEC 61000-4-2: Electrostatic discharge immunity test

IEC 61000-4-3: Radiated, radio-frequency electromagnetic field immunity test

IEC 61000-4-4: Electrical fast transient/burst immunity test

IEC 61000-4-5: Surge immunity test

IEC 61000-4-6: Immunity to conducted disturbances induced by RF fields

IEC 61000-4-8: Power frequency magnetic field immunity test

IEC 61000-4-9: Pulse magnetic field immunity test

IEC 61000-4-11: Voltage dips, short supply interruptions and voltage variation immunity tests

IEC 61000-4-12: Oscillatory waves immunity test

IEC 61010-1: Safety requirements for electrical equipment for measurement, control, and
laboratory use

3 Definitions, symbols and indices

3.1 Definitions related to frequency analysis

For the purpose of this part of IEC 61000 the definitions of IEC 60050 (161) and the following
definitions and termes apply.

Notations: The following notations are used in the present guide for the Fourier series
development because it is easier to measure phase angles by observations of the zero
crossings:

∞
k 
f ( t) = c 0 + ∑c
k =0
k sin ω 1t + ϕ k 
N 
(1)

 c = b + ja = a 2 + b 2
 k k k k k

with:   ak  (2)
 ϕ k = arctan  
  bk 

 2
Tw
k 
 bk =
 Tw ∫ f( t) × sin  N ω t + ϕ
0
1 k  dt

 Tw
 2 k 
and:  ak =
 T w
∫ f ( t) × cos  N ω t + ϕ
0
1 k  dt

(3)

 TW
c = 1
 0 Tw ∫ f( t) dt
 0
61000-4-7/CDV  IEC:2000 –8–

where:

ω1 is the angular frequency of the fundamental (ω1 = 2πf 1 );

Tw is the duration of the window (= NT 1 );
k
ck is the amplitude of the component with frequency fk = f1 ;
N
N is the number of periods within the window width
c0 is the d.c. component;
k is the ordinal number (order of the spectral line).

NOTE 1 – Strictly speaking these definitions apply to steady-state signals only. The Fourier series is actually in
most cases performed digitally, i.e. as a Discrete Fourier Transform DFT:
The analogue signal f(t) which has to be analysed is sampled, A/D-converted and stored. Each group of M samples
forms a window of time T w ("window width") on which DFT is performed. According to the principles of Fourier
series expansion, the window width T W is the "fundamental frequency" (reference frequency) for the analysis and
thus the frequency basis for the result of the transform. Therefore the duration T w shall be an integer multiple N of
the fundamental period T 1 of the system voltage: T w = N × T 1 . The sampling rate is in this case f s = M / (NT 1 )
(where M = Number of samples within T w ).
Before DFT-processing, the samples in the time-window T w are often weighted by multiplying them with a special
symmetrical function ("window shape"). However, for periodic signals AND a synchronous sampling it is preferable
to use a rectangular weighting window which multiplies each sample by one unit level.
The DFT-processor yields the orthogonal Fourier-coefficients a k and b k of the corresponding harmonic frequencies
i
f k = k/T w , k = 0, 1, 2....2 -1. However, only k values up to half of the maximum value are useful, the other half just
duplicates them.
When there is sufficient synchronisation the harmonic order n related to the fundamental frequency f 1 is given by
n = k/N (N = number of periods in T W .).
NOTE 2 – The Fast Fourier Transform FFT is a special algorithm allowing short computation times. It requires that
i
the number of samples M be an integer multiple of 2, M = 2 , with i ≥ 10 for example.

3.2 Definitions related to harmonics

3.2.1 Harmonic frequency

A frequency which is an integer multiple of the power supply frequency.

3.2.2 Harmonic order

The ratio of a harmonic frequency to the power-supply frequency. In connection with the
analysis using DFT and synchronisation between f 1 and f s , the harmonic order n is given by
n = k/N (k = number of the Fourier coefficient, N = number of periods in T W ).

3.2.3 R.M.S value of a harmonic component

The rms value of one of the components having a harmonic frequency in the analysis of a non-
sinusoidal waveform.

For brevity, such a component may be referred to simply as an «harmonic».

3.2.4 R.M.S. value of a harmonic group

The square root of the sum of the squares of the amplitudes of a harmonic and the spectral
components adjacent to it within the observation window, thus summing the energy contents of
the neighbouring lines with that of the harmonic proper. See also equation 3 and Figure 4. The
harmonic order is given by the harmonic considered.
61000-4-7/CDV  IEC:2000 –9–

3.2.5 R.M.S value of a harmonic subgroup

The square root of the sum of the squares of the amplitudes of a harmonic and the two
spectral components immediately adjacent to it, for the purpose of including the effect of
voltage fluctuation during voltage surveys, a subgroup of output components of the DFT is
obtained by summing the energy contents of the frequency components directly adjacent to a
harmonic on to the harmonic proper. (See Figure 6). The harmonic order is given by the
harmonic considered.

3.3 Distortion Factors

The following distortion factors are defined:

3.3.1 Total Harmonic Distortion THD

(1)
THD is the ratio of the rms value of the harmonics c n to the rms value of the fundamental:

 2
40
 c 10n 
THD =
 ∑ 
n = 2  c 10 
 (50 Hz system)
 2
(4)
 40
 c 12n 
THD =

∑ 
n = 2  c 12 
 (60 Hz system)

NOTE – The symbol c represents the amplitude of the spectral component in each 5Hz bandwidth. It is replaced, as
required, by the symbol I for currents or by the symbol U for voltages.

3.3.2 Group total harmonic distortion (THDG)

THDG is the ratio of the r.m.s value of the harmonic groups to the r.m.s value of the group
associated with the fundamental:

2
40  C ng 
THDG = ∑  
n = 2  C lg 
(5)

3.3.3 Sub-group total harmonic distortion (THDs)

THDS is the ratio of the r.m.s value of the harmonic sub-groups to the r.m.s value of the sub-
group associated with the fundamental:

2
40
 C ns 
THDS = ∑  
n = 2  C ls 
(6)

———————
1
This definition has been chosen in accordance with the relevant standards IEC 61000-2-1 and 61000-2-2.
61000-4-7/CDV  IEC:2000 – 10 –

3.3.4 Partial Weighted Harmonic Distortion PWHD

PWHD is the ratio of the rms value, weighted with the harmonic order n, of a selected group of
higher order harmonics (beginning from the 14th harmonic) to the rms value of the
fundamental:

 2
40
c 
PWHD =
 ∑
n =14
n  10n 
 c 10 
(50 Hz system)
 2
(7)
 40
c 
PWHD =

∑
n =14
n  12n 
 c 12 
(60 Hz system)

NOTE – The concept of Partial Weighted Harmonic Distortion is introduced to allow for the possibility of specifying a single
limit for the summation of higher order harmonic signals. The partial weighted group harmonic distortion can be evaluated by
replacing the quantity c10n or c12n by the quantity Cng. The partial weighted sub-group harmonic distortion can be evaluated by
replacing the quantity c10n or c12n by the quantity Cns.

3.4 Definitions related to interharmonics

3.4.1 R. M. S value of an interharmonic component

The rms value of a spectral component of an electrical oscillation with a frequency between two
consecutive harmonic frequencies (see Figure 4).
NOTE 1 – The frequency of the interharmonic component is given by the frequency of the spectral line. This
frequency is a not integer multiple of the fundamental frequency.
NOTE 2 – For the purpose of this standard, the time window has a width of 10 (50 Hz systems) or 12 (60 Hz
systems) fundamental periods, i.e. approximately 200 ms. The frequency interval between two consecutive
interharmonic components is, therefore, approximately 5 Hz.

3.4.2 R. M. S value of an interharmonic group

The rms value of all interharmonic components in the interval between two consecutive
harmonic frequencies (see Figure 4).

3.4.3 R. M. S value of an interharmonic centred subgroup

The rms value of all interharmonic components in the interval between two consecutive
harmonic frequencies, excluding frequency components directly adjacent to the harmonic
frequencies (see Figure 6).

3.4.4 Interharmonic group frequency

The interharmonic group frequency is the mean of the two harmonic frequencies between
which the group is situated.

3.4.5 Interharmonic centred subgroup frequency

The interharmonic centred subgroup frequency is the mean of the two harmonic frequencies
between which the subgroup is situated.
NOTE – For the purpose of this standard, the amplitude of the subgroup between the harmonic orders n and n+1 is
designated as 'C n+0,5 ', e.g. the group between n=5 and n=6 is designated as C 5,5 .
61000-4-7/CDV  IEC:2000 – 11 –

3.5 Notations

3.5.1 Symbols and Abbreviations

a amplitude coefficient of a sine component in a Fourier series
b amplitude coefficient of a cosine component in a Fourier series
c complex coefficient in a Fourier series
d distortion factor
f frequency; function
f1 fundamental frequency
j −1
p value of a cumulative probability function, expressed as a percentage
t running time
x sampled value
B bandwidth
C r.m.s. value of the spectral line
D weighted distortion factor
I current (rms. value)
Fc Frequency component
Hz Hertz
K number of windows in 3-s interval
M integer number; number of samples within the window width
N number of periods within the window width
P power
PCC point of common coupling
T time interval
T1 fundamental period
Tw NT 1 (window width)
U voltage (rms. value)
ω angular frequency
ω1 angular frequency of the fundamental
ϕ phase angle

3.5.2 Indices
b centre-band frequency
i running-integer number
k running-integer number
m measured value; spectral content of order m (not necessarily integer)
n harmonic order: running number (integer)
nom nominal value
r rated value
s sampled; synchronised
1 fundamental
61000-4-7/CDV  IEC:2000 – 12 –

4 General concepts and common requirements for all types of instrumentation

4.1 Characteristics of the signal to be measured

Instruments for the following types of measurement are considered:

a) Harmonic emission measurement;

b) Interharmonic emission measurement;
c) Measurements in the frequency range 2 kHz to 9 kHz.

Strictly speaking, harmonic measurements can be performed only on a stationary signal;

fluctuating signals (signals varying with time) cannot be described correctly by their harmonics
only. However, in order to obtain results that are inter-comparable, a simplified and
reproducible approach is given for fluctuating signals.

4.2 Accuracy classes of instrumentation

Two classes of accuracy (I and II) are considered, to permit the use of simple and low-cost
instruments, consistent with the requirements of the application. For emission tests, the upper
class I is required if the emissions are near to the limit values (see also Note 2 in 5.3).

4.3 Types of measurement

Requirements for harmonic measurements and interharmonics are given. Measurements in the
frequency range up to 9 kHz are also considered.

4.4 General structure of the instruments

Considering the actual state of instrumentation technology, it can be assumed that only
instruments using the Discrete Fourier Transform DFT are likely to be designed, normally
utilising a fast algorithm called FFT (Fast Fourier Transform).

The general structure is represented in Figure 1. An actual instrument may or may not
comprise all the blocks and outputs given.

4.4.1 Main Instrument

The main instrument comprises:

- input circuitry with anti-aliasing filter,

- A/D-converter including sample and hold-unit,
- synchronisation and window-shaping-unit if necessary,
- DFT-processor providing the Fourier coefficients a k and b k ("OUT 1").

It is complemented by the special parts devoted to current assessment and/or voltage

assessment.
NOTE 1 – For further details see 3.1.
NOTE 2 – For the analysis of harmonics and interharmonics, the signal f(t) which has to be analysed is pre-treated
to eliminate frequencies higher than the operating range of the instrument. This range shall at least comprise
frequency components up to the harmonic order n = 40, optionally n = 50 and/or optionally the d.c.-component of
the signal (n = 0).

For new developments, the window width shall be 10 (50 Hz systems) or 12 (60 Hz systems)
periods with rectangular weighting (no Hanning weighting is allowed, except in case of loss of
synchronisation; this loss of synchronisation shall be flagged).
61000-4-7/CDV  IEC:2000 – 13 –

The window shall be synchronised with each 10 or 12 cycles according the power system
frequency 50 Hz or 60 Hz. The time between the leading edge of the first sampling pulse and
the leading edge of the (M+1) th sampling pulse (where M is the number of samples, see 3.5)
shall be equal to the duration of the specified number of cycles of the power system, with a
maximum permissible error of ± 0,03%. Instruments including a phase-locked loop or other
synchronization means shall meet the requirements for accuracy and synchronization for
measuring at any signal frequency within a range of at least ± 5% of the nominal system
frequency. However, for instruments having integrated supply sources, so that the source and
measurement systems are inherently synchronized, the requirement for a working input
frequency range does not apply provided the requirements for synchronization and frequency
accuracy are met.

The output (OUT 1, see Figure 1) shall provide for the current or voltage the raw data ak and b k
of the DFT, i.e. the values of each frequency component calculated.

A further output shall provide, in addition, the active power P evaluated over the same time
window as for the harmonics. For emission measurements according to IEC 61000-3-2 this
power shall not include a possible contribution due to a d.c. component.
NOTE – Measurement of the d.c. components and of the power associated with them may be included as an
option, but is not required by this standard.

Sampling
frequency
generation

Voltage Preprocessing

Main instrument Sampling &

Conversion DFT OUT 1

Current Preprocessing

Grouping

Active Power
Post-processing see text for OUT 2a
details

Smoothing

OUT 2b

Check for
Compliance

OUT 3

Figure 1 – General structure of the measuring instrument

61000-4-7/CDV  IEC:2000 – 14 –

4.4.2 Postprocessing parts

Additional operations on the raw data as required by emission standards like smoothing and
weighing of the raw results is performed in successive parts of the instrument.

If output values are to be related to a corresponding value ( fundamental, declared or nominal

values), this normalisation shall be performed only after these additional smoothing
procedures.

5 Harmonic measurements

5.1 Current input circuit

The input circuit shall be suitable for the currents to be analysed. It shall provide a direct
measurement of the harmonic currents and, in addition, should have a low-voltage high-
impedance voltage input which may be associated with external resistive shunts (or a
combination of current transformers with resistive shunts). Appropriate input circuits
sensitivities range from 0,1 V to 10 V, with 0,1 V being the preferred value, provided they
comply with the requirements given in clause 5.3.1.
NOTE – For current measurements directly in the circuit, it may be advisable, but is not required, to provide the
following nominal r.m.s. input current measurement ranges I N : 0,1; 0,2; 0,5; 1; 2; 5; 10, 20, 50, 100 A.

The power absorption of the current input circuit shall not exceed 3 VA for class II
instrumentation. For class I instrumentation, the r.m.s. input voltage drop shall not exceed
0,15 V.

Every measuring input circuit shall be able to be continuously stressed by 1.2 I N and a
stressing by 10 I N for 1 s shall not lead to any damage.

The allowable crest-factor shall be 4 for the ranges up to and including 5 A, 3.5 for the 10 A
range and 2.5 for the 20 A range.
NOTE – In this context, the crest-factor is the ratio of the saturation threshold of the instrument to its nominal input
range.

An overload indication is required.

The overall accuracy requirements are stated in Table 1.
For other requirements: see clause 8.
NOTE – A d.c. component is often associated with the distorted current to be measured; such a d.c. component
may produce large errors in input current transformers. The manufacturer should indicate in the instrumentation
specifications, the maximum allowed d.c. component such that the additional influence error does not exceed the
stated accuracy.

5.2 Voltage input circuit

The input circuit of the measuring instrument shall be adapted to the nominal voltage and
frequency of the supply voltage to be analysed and shall keep its characteristics and accuracy
unchanged up to 1,2 times this nominal voltage. A crest factor of at least 1,5 is considered
sufficient for measurements except for highly distorting loads in industrial networks when a
crest factor of at least 2 may be necessary. An overload indication is required in any case.

Stressing the input for 1 s by an a.c. voltage of four times the input voltage setting or 1 kV
r.m.s., whichever is less, shall not lead to any damage in the instrument.
61000-4-7/CDV  IEC:2000 – 15 –

Many nominal supply voltages between 60 and 600 V exist, depending on local practice. To
permit a relatively universal use of the instrument for most supply systems, it may be advisable
for the input circuit to be designed for the following nominal voltages:

U n: 66, 115, 230 for 50 Hz systems

U n: 69, 120, 240, 277, 347, 480, 600 V for 60 Hz systems.
NOTE 1 – The 66-, 69-, 115- and 120-V ranges may also be used in association with external voltage transformers.
Other additional ranges may also be useful for that purpose (such as 100 V, 100/√3 V, 110/√3 V.
NOTE 2 – Inputs with higher sensitivity (0,1; 1; 10 V) are useful for operation with external transducers. A crest
factor of at least 2 may be necessary.

The power absorption of the input-circuit shall not exceed 0,5 VA at 230 V. If high sensitivity
inputs (less than 50 V) are provided, their input resistance shall be at least 10 kΩ/V.

Care should be taken that the high value of the fundamental (supply frequency) as compared to
the harmonics to be measured does not produce overload causing damage or harmful
intermodulation error signals in the input stages of the instrument. Such errors shall be well
below the stated accuracy. Therefore an overload indication shall be provided.

5.3 Accuracy requirements

Two classes of accuracy are suggested for instrumentation measuring harmonic components.
The maximum allowable errors in Table 1 refer to single-frequency and steady-state signals, in
the operating frequency range, applied to the instrument under rated operating conditions to be
indicated by the manufacturer (temperature range, humidity range, instrument supply voltage,
etc.).
NOTE – When testing appliances according to IEC 61000-3-2, the uncertainty terms are related to the permissible
limits (5% of the permissible limits) or to the rated current (I r ) of the tested appliance (0,15% I r ), whichever is
greater. This should be considered when choosing the proper input current range of the measuring instrument.

Table 1 – Accuracy requirements for current and voltage measurements

I nom : Nominal current range of the measurement instrument
U nom : Nominal voltage range of the measurement instrument
U m and I m : Measured values

Class Measurement Conditions Maximum Error

I Voltage U m ≥ 1% U nom 5% U m
U m < 1% U nom 0,05% U m

Current I m ≥ 3% I nom ± 5% I m
I m < 3% I nom ± 0,15% I nom
Power P m <150W ± 1,5 W
P m >150W
± 1% of P m
Voltage U m ≥ 3% U nom 5% U m
U m < 3% U nom 0,15% U m
II
Current I m ≥ 10 % I nom ± 5% I m
I m < 10 % I nom ± 0,5% I nom

NOTE 1 – Class I instruments are recommended where precise measurements are necessary, such as for verifying
compliance with standards, resolving disputes, etc. Any two instruments that comply with the requirements of Class
I, when connected to the same signals, produce matching results within the specified accuracy (or indicate that
matching is not possible).
61000-4-7/CDV  IEC:2000 – 16 –

NOTE 2 – Class I instruments are recommended for emission measurements, Class II is recommended for general
surveys, but can also be used for emission measurements if the levels are such, that even with the reduced
accuracy the limit values are not exceeded. In practice, this means that the levels should be < 90% of the allowed
limits.
NOTE 3 – Additionally, the phase shift between individual channels should be smaller than n × 1º.

Frequencies outside the measuring range of the instrument (normally 0 to 2 kHz or 2,5 kHz)
shall be attenuated so as not to affect the results. To obtain the appropriate attenuation, the
instrument may calculate the frequency components at frequencies much higher than the
measuring range. For example, the analysed range may reach 25 kHz, but only components
up to 2 kHz are taken into account. An anti-aliasing low-pass filter, with a -3 dB frequency
above the measuring range (such as 5 kHz) shall be provided. The attenuation in the stop-band
shall exceed 50 dB.
NOTE – For example, a fifth-order Butterworth filter achieves 50 dB attenuation at a little over 3 times the -3 dB
frequency.

When it is necessary to assess harmonics with an order greater than 15 and with a rated
current greater than 5 A with the maximum accuracy, it is advisable to use external shunts or
current transducers matched to give a range equal to the rated current of the tested equipment.

For instrumentation intended only for measuring harmonics, the errors apply only to harmonic
frequencies.

The achievement of the accuracy stated in Table 1 may require, according to clear indications
to be given by the manufacturer, some simple adjustment of the instrument by means of an
internal or external calibrator.

The error of the calibrator (if internal) should be given separately. The errors due to the most
important influence factors (temperature, auxiliary mains supply voltage, etc.) should be
indicated by the manufacturer for the instrument itself and for the internal calibrator if it is
provided.

5.4 Measurement set-up for emission assessment

The measurement set-up is given in Figure 2 and Figure 3.

∆UL
U Source voltage Line-Neutral
S L
O Z L,N Impedance of wiring and current sensing part
ZL
U E EUT Equipment under test
R U U
C ZN T ∆U Voltage drop across Z L and Z N (∆U = ∆U L + ∆U N )
E N L Line connection
∆UN N Neutral connection

Figure 2 – Measurement set-up for single-phase emission measurement

61000-4-7/CDV  IEC:2000 – 17 –

∆UL
L3 U Source voltage Line-Neutral
ZL Z L,N Impedance of wiring and current sensing part
S
L2 EUT Equipment under test
O E
ZL
U U ∆U Voltage drop across Z L and Z N (∆U=∆U L +∆U N );
R L1 T interphase: (∆U=2∆U L )
C ZL L 1-3 Line connections
E
U N Neutral connection
ZN
N
∆UN

Figure 3 – Measurement set-up for three-phase emission measurements

While the measurements are being made, the test voltage U at the terminals of the source
shall meet the following requirements:

a) The test voltage U shall be the rated voltage of the equipment. In the case of a voltage
range, the test voltage shall correspond to the nominal voltages of the power system
expected to supply the equipment (for example, 230 V line-neutral for single-phase or
three-phase supplies, corresponding to 400 V line-line). In case of a three-wire three-
phase connection, an artificial neutral point realised with three identical resistors
matched within 1% may be used if the neutral conductor is not available from the
source. The purpose of the network is to permit voltage and power per phase
measurements to be made in a line-to-neutral configuration as well as line-to-line. The
errors introduced into measurements of EUT currents during emissions tests by the
loading effect of the voltmeter part of the instrument and any installed artificial neutral
network shall not exceed 0.05%.
NOTE 1 - In many cases the artificial neutral is not required, but if it is, several approaches can be used. It may
be provided by the three input impedances of the voltmeters in the measuring instrument. In others, the artificial
neutral may effectively consist of the combined effect of an explicit network plus the input impedances of the
voltmeters in the measuring instrument. It is also possible that the artificial neutral network, if it is present, and
the input impedances of the voltmeters may be so connected as not to introduce any errors in current
measurements (because the loading occurs on the source side of the current transducer). In still other cases,
errors introduced by the loading effect of the artificial neutral network and the input impedances of the voltmeters in
the instrument may be adequately compensated by regulating feedback loops in the source such that errors that
otherwise might be introduced do not, in fact, occur. Many other configurations may be satisfactory, provided the
required uncertainty is not exceeded.

b) In the case of a three phase-supply, the angle between the fundamental voltage on
o o
each pair of phases of a three-phase source shall be 120 ± 1,5 .
c) The harmonic ratios of the test voltage U shall not exceed the following values with the
EUT connected as in normal operation:
- 0,9% for harmonic of order 3;
- 0,4% for harmonic of order 5;
- 0,3% for harmonic of order 7;
- 0,2% for harmonic of order 9;
- 0,2% for even harmonics of order from 2 to 10;
- 0,1% for harmonics of order from 11 to 40.
d) The peak value of the test voltage shall be within a range of 1,40 to 1,42 times its r.m.s.
value and shall be reached between 87° and 93° after the zero crossing. This
requirement does not apply when Class A or B equipment according to IEC 61000-3-2 is
tested.
61000-4-7/CDV  IEC:2000 – 18 –

The voltage drop ∆U across the impedance of the current sensing part and the wiring shall not
exceed a peak voltage of 0.5 V.

Equipment power, if required, shall be measured using the source voltage U in Figure 2 or
Figure 3 and the current into the EUT. For sources that include the current sensing part,
equipment power shall be measured using the voltage at the source output terminals and the
current into the EUT. In this case, the voltage shall be measured on the EUT side of the
current sensing part on the presumption that the source is regulated at its output terminals.

5.5 Assessment of harmonic emissions

The following relates to the post-processing part of Figure 1.

5.5.1 Grouping and Smoothing

For the assessment of harmonics, the output (OUT 1, see Figure 1) of the DFT is first grouped
to be the sum of squared intermediate lines between two adjacent harmonics according to the
following equation 6, visualised in Figure 4. The resulting harmonic group component of order n
(corresponding to the centre line in the hatched area) has the magnitude C (rms value).

c102 ng −5 4 c102 ng +5
C =
2
ng
2
+ ∑c 2
10 ng + i +
2
{50 Hz system}
i =−4
(8)
c122 ng − 6 5 c122 ng + 6
C =
2
ng
2
+ ∑c 2
12 ng + i +
2
{60 Hz system}
i =−5

In these equations, c is the modulus of the spectral component corresponding to an output bin
of the DFT, and C is the resulting modulus of the harmonic.

Harmonic Interharmonic
c group group
n+2 n+4,

DFT output
Harmonic n n+1 n+2 n+3 n+4 n+5 n+6
order
Figure 4 – Ilustration of harmonic and interharmonic groups
(here represented for a 50Hz window)

NOTE 1 – For convenience, the ordinal numbers n of the harmonics have been used in these formulas.
NOTE 2 – The grouping of interharmonics is illustrated in Figure 4 only to clarify the definitions (See Annex A for
interharmonic current assessment).
2
A smoothing of the signal (OUT 2a of Figure 1 shall be performed over the squared moduli C n
of each harmonic order, according to equation 8, using a digital equivalent of a first order low-
pass filter with a time constant of 1.5 s, as shown in Figure 5.
61000-4-7/CDV  IEC:2000 – 19 –

1
SUM
8,5
Input Output

-1
7,5 z

-1
Figure 5 – Realisation of a digital low-pass filter: z designates a unit delay,
α = 8,012 and β €= 7,012

For the fundamental component C 1 (if required, as, for example, for Class C in IEC 61000-3-2
2
and possibly for distortion factors), the same smoothing of the squared modulus C 1 from
OUT 1 shall be performed.

For the active power P (if required as, for example, for Classes C and D in IEC 61000-3-2), a
similar smoothing of the modulus of the active power values from OUT 1 shall be performed.
NOTE – The modulus was chosen in order to accommodate regenerative systems.

To co-ordinate with surveys of harmonic voltages, it is highly recommended to provide a further

type of smoothing, where the output is derived from the components according to equation 6 as
an average over 15 contiguous samples, updated either every DFT window (every 200 ms) or
every 15 time windows (every 3 s).

5.5.2 Compliance with emission limits

Assessment of compliance with emission limits (OUT 2b) shall be performed by statistical
handling of the data according to the conditions given in the relevant standards, such as
IEC 61000-3-2.

If the emission limits include distortion factors according to 3.3, they shall be calculated using
the values of OUT 2a.

5.6 Assessment of voltage sub-groups

The Fourier transform analysis assumes that the signal is stationary. However, the voltage amplitude
on the power system may fluctuate, spreading out the energy of harmonic components to adjacent
interharmonic frequencies. To improve the assessment accuracy of the voltage, the output
components c for each 5 Hz of the DFT shall be grouped according to Figure 6 and equations 9
and 10:
1 2
c 10
C n2−200 −ms = ∑c
k =−1
2
10n + k +
2
ng+ 5
(50 Hz power system) (9)

1
C n2− 200 −ms = ∑c
k =−1
2
12n +k (60 Hz power system) (10)
61000-4-7/CDV  IEC:2000 – 20 –

Interharmonic
Harmonic centred
subgroup subgroup
c n+2
n+4,5
DFT output

Harmonic n n+1 n+2 n+3 n+4 n+5 n+6

order
Figure 6: Illustration of a harmonic subgroup and an interharmonic centred subgroup
(of a 50 Hz window)

Smoothing procedures are specified in IEC 61000-4-30.

6 Other analysis principles

The fact that this document specifies a DFT-Instrument as the reference instrument does not
preclude the application of other analysis principles, such as (digital) filter banks or even other
analysis principles such as wavelet analysis.

Also, especially for low cost instruments, a shorter time window, possibly only one period long,
can be considered. However, such instrumentation should not be used for assessing
compliance with emission limits as non-stationary signals cannot be analysed correctly this
way.

Since other procedures are not covered by this standard, it is required that such procedure
does not exceed the range of uncertainty caused by all influence factors including the non-
stationary characteristic of the signal and the failure of synchronisation.

The specification of an instrument based on an alternative analysis principle shall state the
range of uncertainty caused by all influence factors including the non-stationary characteristic
of the signal, the aliasing phenomenon and the failure of synchronisation. The uncertainty shall
not be such as to prevent achievement of the requirements of clause 5.

7 Transitional Period

The use of existing measuring instruments based upon the requirements given in
IEC 61000-4-7 (First Edition 1991) continues to be permitted until the next revision of this
standard. However, measurements performed with such instruments shall be marked with
"Measuring instrumentation according to IEC 61000-4-7, First Edition".

For measurements performed with instrumentation using 16-cycle windows according to

IEC 61000-4-7 First Edition, the procedure of the smoothing (OUT 2b of Figure 1) shall be
modified according to the entries in Table 2. The filter shall be realized as shown in Figure 5.
61000-4-7/CDV  IEC:2000 – 21 –

Table 2 – Smoothing Filter Coefficients for 16 Cycle Windows

Freq Cycles in Window Sampling Rate α β

50 10 ≈ 1/200ms 8,012 7,012

60 12 ≈ 1/200ms 8,012 7,012

50 16 ≈ 1/320ms 5,206 4,206

60 16 ≈ 1/267ms 6,14 5.14

Note – Coefficients for 10/12 Cycle Windows are given for reference to Figure 5.

A further output shall provide, in addition, the active power P evaluated over the same time
window as for the harmonics. This power shall not include any possible contribution due to a
d.c. component.

8 Environmental and other requirements

8.1 General

The manufacturer shall specify the rated operating conditions and possibly the magnitude of
error introduced by changes in:

– temperature;
– humidity;
– instrument supply voltage and related series interferences
– common mode interference voltage between the earth connection of the instrument its
input circuits and the auxiliary supply voltage;
– static electricity discharges;
– radiated electromagnetic fields.

NOTE – In applying IEC61010-1 for safety and insulating requirements it should be taken into account that the input
circuits (voltage as well as current) may be directly connected to the mains supply voltages.

8.2 Insulation and electromagnetic compatibility tests (provisional)

Insulation tests are given in Table 3 for input and power supply connections.

The tests prescribed to assess the immunity of the instrument to electromagnetic interference
are summarised in Table 4. This table contains references to existing IEC publications and
Secretariat documents. Some of these tests are still under consideration by IEC Sub-
Committees 77A and 77B.

These tests are prescribed under the assumption that the common zero reference of the
electronic circuitry is connected to case and to earth.

Tests numbered from 1 to 5 shall be performed on input and power supply connections, test
number 6 only on power supply and tests from 7 to 10 on the instrument as a whole.

The severity levels of the tests have been selected assuming that during the normal use of the
instrument, its outputs are connected to external equipment using short and shielded cables.
61000-4-7/CDV  IEC:2000 – 22 –

For all the tests and during the application of the interference influence factors, correct
operation of the instrument shall be checked, verifying a minimum of five suitably spaced
points of the response.

8.3 Climatic tests

Procedures for climatic tests are those defined by IEC 60068: Basic Environmental Testing
Procedures, supplemented by the indications given below.

- Normal atmospheric conditions for testing:

- temperature: 15 °C to 35 °C;
- relative humidity: 25% to 75%;
- pressure: 86 kPa to 106 kPa.
- Sequence and type of tests:
a) Dry heat: IEC 60068-2-2 Test Bd 1) 2)
b) Damp heat: IEC 60068-2-3 Test C 2)
c) Cold: IEC 60068-2-1 Test Ad 1) 2)
d) Change of temperature: IEC 60068-2-14 Test Nb 2)
- Maximum interval between tests b) and c): 2 h.
- Maximum temperature gradient of test chamber: 1 °C/min, averaged over not more than
5 min.

- On completion of each test, the correct operation of the instrument shall be checked under
normal conditions.

8.3.1 Tests with non-operating instrument and no power supply

On completion of each test, the operation of the instrument shall be checked under normal
environmental conditions.

Dry heat test

- Temperature: 55 ± 3 °C.
- Duration: 24 h

Cold test

- Temperature: -10 ± 3 °C
- Duration: 24 h

8.3.2 Test with operating instrument

For all the tests listed below, correct operation of the instrument shall be checked for a
minimum of 5 points of the specified response, at the beginning, at the end, and at
intermediate times during the test.

The maximum delay between damp heat and cold tests shall not exceed 2 h.
61000-4-7/CDV  IEC:2000 – 23 –

Dry heat test

- Temperature: 40 ± 3 °C.
- Duration: 16 h

Damp heat test

- Temperature: 40 ± 3 °C.
- Duration: 24 h

Under steady temperature conditions, relative humidity shall be brought to 92.5 ± 2,5%.

Cold test

- Temperature: 0 ± 3 °C.
- Duration: 24 h

Change of temperature test

- Starting temperature: 40 ± 3 °C
- Final temperature: 0 ± 3 °C

The starting temperature shall be stable for 3 h before commencing temperature change tests.

Maximum temperature gradient of the test chamber shall not exceed 1 C/min averaged over
not more than 5 min.

Table 3 - Insulation tests

Test No. Insulation Tests Notes

a b
1 Dielectric kV r.m.s. 3) 2 -
2 Insulation Resistance kV d.c. 3) 0.5 -
61000-4-7/CDV  IEC:2000 – 24 –

Table 4 - Immunity tests

Test Application mode of test Perfor-

No. Immunity tests 14) Notes voltage 1) mance
a b criteria
13)
1 Network frequency V 2) 250 - A
RMS

2 Voltage surge 1,2/50 µs KV 5) 2 1 B

(61000-4-5) Peak
3 Conducted Conducted disturbances V 6) 10 - A
induced by radio-frequency RMS
fields > to 9 kHz
(61000-4-6)
4 Disturbances Oscillatory waves to 1 MHz KV 7) 1 0,5 B
(61000-4-12) Peak

5 Burst KV 8) 2 2 B
(61000-4-4) Peak
6 Voltage interruptions Ms 9) 10 A
(61000-4-11) Hours 2 B
7 Electrostatic discharge KV 4) 8 air, 4 contact A
(61000-4-2) B
8 Network frequency A/m 10) 30 A
Electromagnetic (61000-4-8)
9 Fields Pulse 8/20 µs A/m 11) 300 B
(61000-4-9) Peak
10 Radiated high frequency V/m 12) 10 A
(from 80 MHz to 1000 MHz)
(61000-4-3)

Explanatory Notes:

1. Application mode of test voltage:

a) between the terminals of each circuit and the earthed equipment case (common mode)
b) between the terminals of each circuit (differential mode)
2. Value prescribed for the time necessary to extinguish fault; other values may be adopted
according to the national safety rules.
3. For this test, see IEC 61010-1 - Safety requirements for electrical equipment for
measurement control and laboratory use.
4. For this test, see IEC 61000-4-2 - Electrostatic discharge immunity test.
5. For this test, see IEC 61000-4-5 - Surge immunity test.
6. For this test, see IEC 61000-4-6 - Immunity to conducted disturbances induced by RF
fields.
7. For this test, see IEC 61000-4-12 - Oscillatory waves immunity test.
8. For this test, see IEC 61000-4-4 - Electrical fast transient/burst immunity test.
61000-4-7/CDV  IEC:2000 – 25 –

9. For this test, see IEC 61000-4-11 - Voltage dips, short supply interruptions and voltage
variation immunity tests.
10. For this test, see IEC 61000-4-8 - Power frequency magnetic field immunity test.
11. For this test, see IEC 61000-4-9 - Pulse magnetic field immunity test.
12. For this test, see IEC 61000-4-3 -Radiated, radio-frequency electromagnetic field immunity
test.
13. A functional description and a definition of performance criteria, during or as a
consequence of the EMC testing, shall be provided by the manufacturer and noted in the
test report, based on the following criteria:
- Performance criterion A: The apparatus shall continue to operate as intended. No
degradation of performance or loss of function is allowed below a performance level
specified by the manufacturer, when the apparatus is used as intended. The
performance level may be replaced by a permissible loss of performance. If the
minimum performance level or the permissible performance loss is not specified by the
manufacturer then either of these may be derived from the product description and
documentation and what the user may reasonably expect from the apparatus if used as
intended.
- Performance criterion B: The apparatus shall continue to operate as intended after the
test. No degradation of performance or loss of function is allowed below a performance
level specified by the manufacturer, when the apparatus is used as intended. The
performance level may be replaced by a permissible loss of performance. During the
test, degradation of performance is however allowed. No change of actual operating
state or stored data is allowed. If the minimum performance level or the permissible
performance loss is not specified by the manufacturer then either of these may be
derived from the product description and documentation and what the user may
reasonably expect from the apparatus if used as intended.
14. Apart from test 6, the test levels and performance criteria are consistent with IEC 61326.
61000-4-7/CDV  IEC:2000 – 26 –

Annex A
(Informative)

Measurement of interharmonics

Interharmonic components are caused primarily by two sources:

- Variations of the amplitude of the fundamental component and/or of the harmonic

components, e.g. inverter drives;
- Power electronics circuits with switching frequencies not synchronised to the power
supply frequency, e.g. ac/dc supplies and power factor correctors.

Possible effects are e.g.:

- noise in audio amplifiers;

- additional torques on motors and generators;
- disturbed zero crossing detectors e.g. in dimmers;
- additional noise in inductive coils (magnetostriction);
- blocking or unintended operation of ripple control receivers.

The measurement set-up is based on the general description given in Clause 4.

Interharmonic components usually vary not only in magnitude but also in frequency. A grouping
of the spectral components in the interval between two consecutive harmonic components
forms an interharmonic group. This grouping provides an overall value for several
interharmonic components, which includes the effects of fluctuations of the harmonic
components. Equation A1 or A2, depending on the supply frequency, permits the calculation of
the value of the interharmonic group :

9
C n2+ 0,5 g = ∑c
k =1
2
10 n +k (50 Hz power system) (A1)

11
C n2+ 0,5 g = ∑c
k =1
2
10 n+ k (60 Hz power system) (A2)

The effects of fluctuations of harmonic amplitudes are partially reduced by excluding from
equations A1 and A2 the components immediately adjacent to the harmonic frequencies. Also,
to determine the r.m.s values of centred interharmonic sub-groups the components, that is, the
output data at OUT1 of the DFT in Figure 1, are regrouped as follows (see 3.4.3):

8
C n2+ 0,5 g = ∑c
k =2
2
10n + i (A3)

10
C n2+ 0,5 g = ∑c
k =2
2
12n + i (A4)

In these equations, c is the modulus of the corresponding spectral component obtained from
the DFT, C the modulus of the harmonic group.
61000-4-7/CDV  IEC:2000 – 27 –

NOTE 1 – Since non-stationary harmonics cause 'sidebands' close to the harmonics, the components (i = 1 and 9
or 11) directly adjacent to the considered harmonic may represent amplitude variations. They are, therefore,
excluded from the interharmonic group in order to give the centred harmonic sub-group See also Figure A4.
NOTE 2 – If only harmonics are evaluated, the grouping procedure in 5.4.1 applies. If harmonics and
interharmonics are evaluated separately (e.g. for the assessment of equipment prone to produce interharmonics),
the interharmonic components (i = 1 and 9 or 11) directly adjacent to a harmonic are grouped to form a harmonic
group, whereas the remaining interharmonic components (i = 2 to 8 or 10) form the centred interharmonic subgroup
according to equation A3 or A4. See also Figure 6.

The smoothing of the centred interharmonic subgroups is performed in the same manner as
that used for the harmonic measurement, see 5.5.1. A smoothing of the single interharmonic
components is not recommended.

The smoothing procedures are described in IEC61000-4-30.

The accuracy requirements are identical to those given for measuring harmonics, see Table 1.
61000-4-7/CDV  IEC:2000 – 28 –

Annex B
(Informative)

Measurements in the frequency range 2 to 9 kHz

B.1 General
Components in signals (currents or voltages) with frequencies exceeding the harmonic
frequency range (approx. 2kHz) but below the upper limit of the Low Frequency range (approx.
9 kHz) are due to several phenomena, e.g.:

- Pulse-width modulated control of power supplies at the mains side connection

(synchronous or asynchronous to the frequency of the mains), also known as "power
factor correcting systems"
- Emissions, such as mains signaling
- Feed-through from the output of power converters
- Oscillations due to commutation notches.

These components can be single frequency type or broadband.

B.2 Measurement methods

The measurement of these components does not require a high-frequency resolution. Instead it
is customary to group the energy of the signal to be analysed into predefined frequency bands.
In coherence with the measurements performed in the higher frequency bands (see
CISPR 16-1), the bandwidth for the grouping of these emissions should be fixed at 200 Hz. The
centre frequency of the first group is 2,1 kHz.

For the frequency analysis, the DFT method (linked to the methods described in Clause 3.0) is
under consideration.

Other methods are also under development for current emission assessment and should be
considered in a future publication.

B.3 Basic instrument

For measurements in this higher frequency range, a Discrete Fourier Transform can be
performed according to 4.4.1.

In view of the low level of the signal to be measured, a filter can considerably increase the
accuracy of the measurement by attenuating the amplitudes of the fundamental and of
components above 9 kHz. The attenuation for the fundamental frequency should exceed 55 dB.

The sampling frequency should be chosen in accordance with the established rules of signal
analysis such that frequency components up to 9 kHz inclusive can be measured. For this type
of analysis, the sampling need not be synchronised to the fundamental period of the supply. A
rectangular time window with a width of 100 ms can be used corresponding to approximately 5
(6) fundamental periods of 50 Hz (60Hz) systems. In consequence, the frequency separation
between consecutive measured components is approximately 10 Hz.
61000-4-7/CDV  IEC:2000 – 29 –

The output of the raw DFT (OUT 1 in Figure 1) is grouped in bands of 200 Hz (see Figure B1),
beginning at the centre band of 2100 Hz. The output Cb of each band is the rms value according to:
b+100
Cb = ∑ S (f ) 2

f = b− 90 (Hz )
(B1)

NOTE 1 – The bandwidth has been chosen such that it is coherent with the bandwidth used in CISPR 16-1 for
frequencies > 9kHz.
NOTE 2 – The band-centre values are 2,1 kHz, 2,3 kHz, 2,5 kHz… 8,9 kHz.

9 0 0
2 4
2000

2 2

35 bandes de
C2100 C2300 fréquence C8900

Figure B1: Illustration of frequency bands for measurement in the range 2-9 kHz

Measurement setup

In order to provide repeatability of the measurement results, the supply side impedance should
be standardised during the emission measurements.

Accuracy Requirements

The total uncertainty should not exceed ± 5% of the measured value when tested with a single-
frequency emission in the frequency band considered.
NOTE – Compared to the magnitude of the fundamental current or voltage the components to be measured are
-5 -2
expected to be in the range of 2 x 10 to 5 x 10 .
 –2– 61000-4-7/CDV  CEI:2000

SOMMAIRE

Page

AVANT-PROPOS ................................................................................................................... 3
INTRODUCTION .................................................................................................................... 5
Articles

1 Domaine d’application.......................................................................................................... 6
2 Références normatives ........................................................................................................ 6
3 Définitions, symboles et indices ........................................................................................... 7
3.1 Définitions portant sur l'analyse de la fréquence ......................................................... 7
3.2 Définitions portant sur les harmoniques ...................................................................... 8
3.3 Facteurs de distorsion ................................................................................................ 9
3.4 Définitions portant sur les interharmoniques ............................................................. 10
3.5 Notations.................................................................................................................. 11
4 Concepts généraux et exigences communes à tous les types d'instruments ....................... 12
4.1 Caractéristiques du signal à mesurer ........................................................................ 12
4.2 Classes de précision de l'instrumentation ................................................................. 12
4.3 Types de mesure...................................................................................................... 12
4.4 Structure générale des instruments .......................................................................... 12
5 Mesures des harmoniques ................................................................................................. 14
5.1 Circuit d'entrée de courant........................................................................................ 14
5.2 Circuit d’entrée de tension ........................................................................................ 14
5.3 Exigences de précision ............................................................................................. 15
5.4 Montage de mesure pour l'évaluation des émissions ................................................. 16
5.5 Evaluation des émissions harmoniques..................................................................... 18
5.6 Evaluation du sous-groupe harmonique de tension ................................................... 19
6 Autres principes d'analyse ................................................................................................. 20
7 Période de transition .......................................................................................................... 20
8 Exigences d'environnement et autres exigences ................................................................ 21
8.1 Généralités............................................................................................................... 21
8.2 Essais d'isolement et de compatibilité électromagnétique (provisoire) ....................... 21
8.3 Essais climatiques .................................................................................................... 22

Annexe A (Informative) Mesures des interharmoniques ........................................................ 26

Annexe B (Informative) Mesures dans la gamme de fréquence 2 à 9 kHz ............................. 28
 –3– 61000-4-7/CDV  CEI:2000

COMMISSION ÉLECTROTECHNIQUE INTERNATIONALE

____________

COMPATIBILITE ELECTROMAGNETIQUE (CEM)

Partie 4-7 : Techniques d’essai et de mesure –

Guide général relatif aux mesures d'harmoniques
et d'interharmoniques, ainsi qu'à l'appareillage de mesure,
applicable aux réseaux d'alimentation
et aux appareils qui y sont raccordés

AVANT-PROPOS
1) La CEI (Commission Électrotechnique Internationale) est une organisation mondiale de normalisation composée
de l'ensemble des comités électrotechniques nationaux (Comités nationaux de la CEI). La CEI a pour objet de
favoriser la coopération internationale pour toutes les questions de normalisation dans les domaines de
l'électricité et de l'électronique. A cet effet, la CEI, entre autres activités, publie des Normes internationales.
Leur élaboration est confiée à des comités d'études, aux travaux desquels tout Comité national intéressé par le
sujet traité peut participer. Les organisations internationales, gouvernementales et non gouvernementales, en
liaison avec la CEI, participent également aux travaux. La CEI collabore étroitement avec l'Organisation
Internationale de Normalisation (ISO), selon des conditions fixées par accord entre les deux organisations.
2) Les décisions ou accords officiels de la CEI concernant les questions techniques représentent, dans la mesure
du possible, un accord international sur les sujets étudiés, étant donné que les Comités nationaux intéressés
sont représentés dans chaque comité d’études.
3) Les documents produits se présentent sous la forme de recommandations internationales. Ils sont publiés
comme normes, spécifications techniques, rapports techniques ou guides et agréés comme tels par les Comités
nationaux.
4) Dans le but d'encourager l'unification internationale, les Comités nationaux de la CEI s'engagent à appliquer de
façon transparente, dans toute la mesure possible, les Normes internationales de la CEI dans leurs normes
nationales et régionales. Toute divergence entre la norme de la CEI et la norme nationale ou régionale
correspondante doit être indiquée en termes clairs dans cette dernière.
5) La CEI n’a fixé aucune procédure concernant le marquage comme indication d’approbation et sa responsabilité
n’est pas engagée quand un matériel est déclaré conforme à l’une de ses normes.
6) L’attention est attirée sur le fait que certains des éléments de la présente Norme internationale peuvent faire
l’objet de droits de propriété intellectuelle ou de droits analogues. La CEI ne saurait être tenue pour
responsable de ne pas avoir identifié de tels droits de propriété et de ne pas avoir signalé leur existence.

La Norme internationale CEI 61000-4-7 a été établie par le sous-comité 77A : Phénomènes
basse fréquence, du comité d’études 77 de la CEI : Compatibilité Electromagnétique.

Le texte de cette Norme est issu des documents suivants :

FDIS Rapport de vote

XX/XX/FDIS XX/XX/RVD

Le rapport de vote indiqué dans le tableau ci-dessus donne toute information sur le vote ayant
abouti à l’approbation de cette norme.

Cette deuxième édition de la CEI 61000-4-7 annule et remplace la première parue en 1991 et
constitue une révision technique complète.

Les annexes A et B sont données à titre d’information.

 –4– 61000-4-7/CDV  CEI:2000

Le comité a décidé que cette publication reste valable jusqu’en 2001. A cette date, selon
décision préalable du comité, la publication sera :

– reconduite ;
– supprimée ;
– remplacée par une édition révisée, ou
– amendée.
 –5– 61000-4-7/CDV  CEI:2000

INTRODUCTION

La CEI 61000 est publiée en plusieurs parties conformément à la structure suivante :

Partie 1 : Généralités

Considérations générales (introduction, principes fondamentaux)

Définitions, terminologie

Partie 2 : Environnement

Description de l’environnement
Classification de l’environnement
Niveaux de compatibilité

Partie 3 : Limites

Limites d’émission
Limites d’immunité (dans la mesure où elles ne relèvent pas de la responsabilité des
comités de produits)

Partie 4 : Techniques d’essai et de mesure

Techniques de mesure
Techniques d’essai

Partie 5 : Guide pour l’installation et l’atténuation

Guides pour l’installation

Méthodes et dispositifs d’atténuation

Partie 6 : Normes génériques

Partie 9 : Divers

Chaque partie est à son tour subdivisée en plusieurs parties, publiées soit comme Normes
internationales, soit comme spécifications techniques ou rapports techniques, dont certaines
ont déjà été publiées en tant que sections.

La présente partie est une Norme internationale qui spécifie ..........

 –6– 61000-4-7/CDV  CEI:2000

COMPATIBILITE ELECTROMAGNETIQUE (CEM) –

Partie 4-7 : Techniques d’essai et de mesure –

Guide général relatif aux mesures d'harmoniques et d'interharmoniques,
ainsi qu'à l'appareillage de mesure, applicable aux réseaux d'alimentation
et aux appareils qui y sont raccordés

1 Domaine d’application

La présente norme s’applique à l'instrumentation destinée à mesurer les composantes

spectrales dans la gamme de fréquence allant jusqu’à 9 kHz, qui se superposent au
fondamental de l’alimentation électrique. Pour des raisons pratiques, la présente norme établit
une distinction entre les harmoniques, les interharmoniques et les composantes comprises
entre 2 kHz et 9 kHz. Elle donne des concepts d’ordre général et des recommandations pour
tous les types d'instruments.

En outre, la présente norme définit l'instrumentation de mesure destinée aux essais d'appareils
individuels conformément aux limites d’émission données dans des normes (par exemple, les
limites de courant harmonique données dans la CEI 61000-3-2) ainsi qu’à la mesure des
courants et tensions harmoniques dans les réseaux d’alimentation. L'instrumentation pour la
gamme de fréquence allant de 2 kHz à 9 kHz et celle pour les interharmoniques sont définies à
titre provisoire (voir annexes A et B).

Les détails spécifiques pour la mesure des tensions harmoniques sur les réseaux de
distribution électrique sont traités dans la CEI 61000-4-30.
NOTE – La description des fonctions et de la structure des instruments de mesure contenue dans la présente
norme est très explicite et à prendre au sens littéral. En effet, il est nécessaire de disposer d’instruments de
référence fournissant des résultats reproductibles indépendamment des caractéristiques des signaux d’entrée.

2 Références normatives

Les documents normatifs suivants contiennent des dispositions qui, par suite de la référence
qui y est faite, constituent des dispositions valables pour la présente Norme internationale.
Pour les références datées, les amendements ultérieurs ou les révisions de ces publications
ne s’appliquent pas. Toutefois, les parties prenantes aux accords fondés sur la présente
Norme internationale sont invitées à rechercher la possibilité d'appliquer les éditions les plus
récentes des documents normatifs indiqués ci-après. Pour les références non datées, la
dernière édition du document normatif en référence s’applique. Les membres de la CEI et de
l'ISO possèdent le registre des Normes internationales en vigueur.

CEI 60050-161 : Vocabulaire Electrotechnique International (VEI) - Chapitre 161 : Compatibilité

Electromagnétique

CEI 60068-2-1 : Essais d'environnement. Deuxième partie : Essais – Essais A : Froid

CEI 60068-2-2 : Essais fondamentaux climatiques et de robustesse mécanique. Partie 2 :

Essais – Essais B : Chaleur sèche

CEI 60068-2-3 : Essais fondamentaux climatiques et de robustesse mécanique. Partie 2 :

Essais – Essai Ca : Essai continu de chaleur humide

CEI 60068-2-14 : Essais fondamentaux climatiques et de robustesse mécanique. Partie 2 :

Essais – Essai N : Variations de température
 –7– 61000-4-7/CDV  CEI:2000

CEI 61000-2-2 : Niveaux de compatibilité pour les perturbations conduites basse fréquence et
la transmission de signaux sur les réseaux publics d'alimentation à basse tension

CEI 61000-4-2 : Essai d'immunité aux décharges électrostatiques

CEI 61000-4-3 : Essai d'immunité aux champs électromagnétiques rayonnés aux fréquences
radioélectriques

CEI 61000-4-4 : Essais d'immunité aux transitoires électriques rapides en salves

CEI 61000-4-5 : Essai d'immunité aux ondes de choc

CEI 61000-4-6 : Immunité aux perturbations conduites, induites par les champs
radioélectriques

CEI 61000-4-8 : Essai d'immunité au champ magnétique à la fréquence du réseau

CEI 61000-4-9 : Essai d'immunité au champ magnétique impulsionnel

CEI 61000-4-11 : Essais d'immunité aux creux de tension, coupures brèves et variations de
tension

CEI 61000-4-12 : Essai d'immunité aux ondes oscillatoires

CEI 61010-1 : Règles de sécurité pour appareils électriques de mesurage, de régulation et de

laboratoire. Partie 1 : Prescriptions générales

3 Définitions, symboles et indices

3.1 Définitions portant sur l'analyse de la fréquence

Pour les besoins de la présente partie de la CEI 61000, les définitions suivantes s’appliquent,
ainsi que celles de la CEI 60050(161) [VEI].

Notations : Les notations suivantes sont utilisées dans le présent guide pour le développement
en série de Fourier car il est plus facile de mesurer des angles de phase en observant les
passages par zéro :

∞
k 
f ( t) = c 0 + ∑c
k =0
k sin ω 1t + ϕ k 
N 
(1)

 c = b + ja = a 2 + b 2
 k k k k k

avec :   ak  (2)
 ϕ k = arctan  
  bk 

 2
Tw
k 
 bk =
 Tw ∫ f( t) × sin  N ω t + ϕ
0
1 k  dt

 Tw
 2 k 
et :  ak =
 T w
∫ f ( t) × cos  N ω t + ϕ
0
1 k  dt

(3)

 TW
c = 1
 0 Tw ∫ f( t) dt
 0
 –8– 61000-4-7/CDV  CEI:2000

où :
ω1 est la fréquence angulaire de la fondamentale (ω1 = 2πf 1 );
TW est la largeur de la fenêtre (=NT 1 )
k
ck est l'amplitude de la composante avec une fréquence fk = f1 ;
N
N est le nombre de périodes fondamentales T 1 dans la fenêtre
co est la composante continu ;
k est le nombre ordinal (rang de la raie spectrale)

NOTE 1 – Au sens strict du terme, ces définitions s'appliquent uniquement à des signaux en régime permanent.
Généralement, la série de Fourier est calculée numériquement, c'est-à-dire sous forme de transformée de Fourier
discrète (DFT) :
Le signal analogique f(t) à analyser est échantillonné, converti en numérique, puis mémorisé. Chaque groupe de
M échantillon forme une fenêtre temporelle T w (« largeur de fenêtre ») à partir de laquelle la DFT est calculée.
Suivant les principes du développement en série de Fourier, la largeur de la fenêtre T W constitue la « fréquence
fondamentale » (fréquence de référence) de l'analyse et donc la base de fréquence du résultat de la transformée.
Par conséquent, la durée T w doit être un multiple entier N de la période fondamentale T 1 : (T w = N × T 1 ) de la
tension du réseau. Le taux d'échantillonnage équivaut, dans ce cas, à : f s = M / (NT 1 ) (où M = nombre d'échantillons
dans la largeur de fenêtre T W ).
Avant de réaliser la DFT, les échantillons dans la fenêtre temporelle T w sont souvent pondérés en les multipliant
par une fonction symétrique spéciale (« forme de fenêtre »). Toutefois, pour les signaux périodiques ET pour un
échantillonnage synchrone, il est préférable d'utiliser une fenêtre rectangulaire multipliant tous les échantillons par
un niveau unitaire.
La fonction DFT donne les coefficients orthogonaux de Fourier, a k et b k , des fréquences harmoniques
i
correspondantes f k = k/T w , k = 0, 1, 2, …. 2 -1. Toutefois, seules les valeurs de k inférieures ou égales à la moitié
de la valeur maximale sont utiles, l'autre moitié ne faisant que les dupliquer.
Lorsque la synchronisation est suffisante, le rang n de l'harmonique lié à la fréquence fondamentale f 1 est donné
par n = k/N (N = nombre de périodes dans T W ).
NOTE 2 – La transformée de Fourier rapide (FFT) est un algorithme spécial permettant des temps de calcul courts.
i
Pour cela, le nombre d'échantillons M doit être un nombre entier, multiple de 2, M = 2 , avec i ≥ 10 par exemple.

3.2 Définitions portant sur les harmoniques

3.2.1 Fréquence harmonique

Fréquence constituant un nombre entier multiple de la fréquence d'alimentation électrique.

3.2.2 Rang de l'harmonique

Rapport entre une fréquence harmonique et la fréquence d'alimentation électrique. En relation

avec l'analyse réalisée à l'aide de la DFT et la synchronisation entre f 1 et f s , le rang n de
l'harmonique est donné par n = k/N (k = nombre du coefficient de Fourier, N = nombre de
périodes dans T W ).

3.2.3 Valeur efficace d’une composante harmonique

Valeur efficace de l'une des composantes ayant une fréquence harmonique obtenue par l'analyse d'un
signal non-sinusoïdal.
En bref, cette composante peut être désignée simplement par « harmonique ».

3.2.4 Valeur efficace d’un groupe harmonique

La racine carrée de la somme quadratique de l'amplitude d'un harmonique et des raies

spectrales qui lui sont adjacentes dans la fenêtre d'observation, donnant ainsi la somme du
contenu énergétique des raies spectrales avoisinantes avec l'harmonique proprement dite. Voir
également l'équation 3 et la figure 4. Le rang de l'harmonique est donnée par l'harmonique
considéré.
 –9– 61000-4-7/CDV  CEI:2000

3.2.5 Valeur efficace du sous-groupe harmonique

La racine carrée de la somme quadratique d’un harmonique avec les deux composantes
spectrales aux fréquences qui lui sont directement adjacentes afin de prendre en compte l’effet
de fluctuation de tension au cours des relevés de tension (voir Figure 6). Un sous-groupe des
composantes de la DFT est alors obtenu en sommant le contenu énergétique des
composantes de fréquence directement adjacente de l’harmonique avec l’harmonique
proprement dite. Le rang harmonique est donné par l’harmonique considérée.

3.3 Facteurs de distorsion

Les facteurs de distorsion suivants sont définis :

3.3.1 Taux de distorsion harmonique (THD)

(1)
Le THD constitue le rapport entre la valeur efficace des harmoniques c n et la valeur efficace
de la fondamentale :

 2
40
 c 10n 
THD =
 ∑ 
n = 2  c 10 
 (50 Hz system)
 2
(4)
 40
 c 12n 
THD =

∑ 
n = 2  c 12 
 (60 Hz system)

Note – Le symbole c représente l’amplitude de chaque raie spectrale à chaque intervalle de 5 Hz. Il est remplacé
au besoin par I pour les courants ou par U pour les tensions.

3.3.2 Taux de distorsion harmonique groupé (THDG)

Le THDG constitue le rapport entre la valeur efficace des groupes harmoniques et la valeur
efficace du groupe associé à la fondamentale.

2
40  C ng 
THDG = ∑  
n = 2  C lg 
(5)

3.3.3 Taux de distorsion harmonique sous-groupé (THDS)

Le THDS constitue le rapport entre la valeur efficace des sous-groupes harmoniques et la

valeur efficace du sous-groupe associé à la fondamentale

2
40
 C ns 
THDS = ∑  
n = 2  C ls 
(6)

———————
1
Cette définition est conforme aux normes concernées, à savoir la CEI 61000-2-1 et la 61000-2-2.
 – 10 – 61000-4-7/CDV  CEI:2000

3.3.4 Distorsion harmonique partielle pondérée (PWHD)

La PWHD constitue le rapport entre la valeur efficace pondérée avec le rang n, d'un groupe
ème
sélectionné d'harmoniques de rang élevé (commençant ici à la 14 harmonique) et de la
valeur efficace de la fondamentale.

 2
40
c 
PWHD =
 ∑
n =14
n  10n 
 c 10 
(50 Hz system)
 2
(7)
 40
c 
PWHD =

∑
n =14
n  12n 
 c 12 
(60 Hz system)

NOTE – La distorsion harmonique partielle pondérée est donnée afin de pouvoir spécifier une seule limite pour
l’ensemble du signal harmonique de rang plus élevé. La distorsion harmonique partielle pondérée des groupes
harmoniques peut s’évaluer en remplaçant le paramètre c10n ou c12n par le paramètre Cng. La distorsion partielle pondérée des
sous-groupes harmoniques se calcule en remplaçant le paramètre c10n ou c12n par le paramètre Cns.

3.4 Définitions portant sur les interharmoniques

3.4.1 Valeur efficace d’une composante interharmonique

Valeur efficace de la raie spectrale d’une oscillation électrique dont la fréquence est comprise dans la
plage entre deux fréquences harmoniques consécutives (voir figure 4).
NOTE 1 – La fréquence de la composante interharmonique est donnée par la fréquence de la raie spectrale. Cette
fréquence n'est pas un nombre entier multiple de la fréquence fondamentale.
NOTE 2 – Pour les besoins de la présente norme, la fenêtre temporelle a une largeur de 10 (réseaux à 50 Hz) ou
de 12 (réseaux à 60 Hz) périodes fondamentales, c'est-à-dire environ 200 ms. L’intervalle de fréquence entre deux
composantes interharmoniques consécutives est donc d'environ 5 Hz.

3.4.2 Valeur efficace d’un groupe interharmonique

La valeur efficace de toutes les composantes interharmoniques comprises dans la plage entre
deux fréquences harmoniques consécutives (voir Figure 4).

3.4.3 Valeur efficace d’un sous-groupe centré interharmonique

La valeur efficace du groupe interharmonique excluant les composantes de fréquences

directement adjacentes aux fréquences harmoniques. (voir Figure 6)

3.4.4 Fréquence du groupe interharmonique

La fréquence du groupe interharmonique est la moyenne des deux fréquences harmoniques

entre lesquelles se trouvent le groupe.

3.4.5 Fréquence du sous-groupe centré interharmonique

La fréquence du sous-groupe centré interharmonique est la moyenne des deux fréquences

harmoniques entre lesquelles se trouvent le sous-groupe.
NOTE – Pour les besoins de la présente norme, l’amplitude du sous-groupe situé entre les rangs harmoniques n et
n+1 est désignée par «C n+0.5 ». Par exemple, le groupe entre n = 5 et n = 6 est désigné par C 5,5 .
 – 11 – 61000-4-7/CDV  CEI:2000

3.5 Notations

3.5.1 Symboles et abréviations

a amplitude de la composante sinus de la série de Fourier
b amplitude de la composante cosinus de la série de Fourier
c coefficient complexe de la série de Fourier
d facteur de distorsion
f fréquence ; fonction
f1 fréquence fondamentale
j −1
p centile (pourcentage de la fonction de probabilité cumulée)
t durée d'exécution
x valeur échantillonnée
B largeur de bande
C valeur efficace de la raie spectrale
D facteur de distorsion pondéré
I courant (valeur efficace)
Fc composante de fréquence
Hz Hertz
K nombre de fenêtres par intervalle de 3 s.
M nombre entier ; nombre d'échantillons dans la largeur de fenêtre
N nombre de période dans une largeur de fenêtre
P puissance
PCC point commun de couplage
T intervalle de temps
T1 période fondamentale
Tw NT 1 (largeur de fenêtre)
U tension (valeur efficace)
ω fréquence angulaire
ω1 fréquence angulaire de la fondamentale
ϕ angle de phase

3.5.2 Indices
b Fréquence de bande centrale
i nombre entier courant
k nombre entier courant
m valeur mesurée ; composition spectrale du rang m (pas nécessairement un nombre
entier)
n rang de l'harmonique : nombre courant (nombre entier)
nom valeur nominale
r valeur assignée
s échantillonné ; synchronisé
1 fondamentale
 – 12 – 61000-4-7/CDV  CEI:2000

4 Concepts généraux et exigences communes à tous les types d'instruments

4.1 Caractéristiques du signal à mesurer

Les instruments pour les types de mesures suivantes sont prise en compte:

a) mesure de l'émission harmonique ;

b) mesure de l'émission interharmonique ;
c) mesures dans la plage de fréquence de 2 kHz à 9 kHz.

Au sens strict du terme, les mesures harmoniques peuvent être effectuées uniquement sur un
signal stationnaire. Les signaux fluctuants (à savoir les signaux variant en fonction du temps)
ne peuvent pas être décrits de manière correcte uniquement par leurs harmoniques. Toutefois,
afin d'obtenir des résultats comparables les uns aux autres, une méthode simplifiée et
reproductible est indiquée pour les signaux fluctuants.

4.2 Classes de précision de l'instrumentation

Deux classes de précision (I et II) sont proposées pour permettre l’utilisation des instruments
simples et d'un coût réduit selon les exigences de l’application. Pour les essais sur les
émissions, la classe supérieure I est requise si les émissions sont proches des valeurs limites
(voir également la Note 2 de l’article 5.3).

4.3 Types de mesure

Les exigences portent sur les mesures des harmoniques et interharmoniques. Les mesures
dans la plage de fréquence allant jusqu'à 9 kHz sont également considérées.

4.4 Structure générale des instruments

Etant donné le niveau de la technologie des instruments disponibles, on peut supposer que
seuls les instruments utilisant la transformée de Fourier discrète (DFT) seront conçus et qu’ils
recourront habituellement à un algorithme rapide appelé FFT (transformée de Fourier rapide).

Leur structure générale est représentée à la figure 1. Dans la réalité, un instrument peut ou
non comprendre la totalité des blocs et sorties indiqués sur cette figure.

4.4.1 Instrument principal

L'instrument principal comprend :

- un circuit d'entrée avec un filtre anti-repliement,

- un convertisseur A/N comprenant un circuit d’échantillonnage et de stockage,
- une unité de synchronisation et de forme de fenêtre, si nécessaire,
- un calculateur de DFT fournissant les coefficients de Fourier a k et b k (« OUT 1 »).

Il est complété par les parties spéciales dédiées à l'analyse du courant et/ou de la tension.
NOTE 1 – Pour plus de détails, se reporter à l’article 3.1
NOTE 2 – Pour l'analyse des harmoniques et des interharmoniques, le signal f(t) à analyser est pré-traité, afin
d'éliminer les fréquences supérieures à la plage de fonctionnement de l'instrument. Cette plage doit au moins
comprendre les composantes de fréquence allant jusqu'au rang d'harmonique n = 40 et éventuellement n = 50 et/ou
de façon optionnelle jusqu’à la composante continu du signal (n = 0).

Pour les nouveaux développements, la largeur de fenêtre doit être de 10 (réseaux à 50 Hz) ou
de 12 (réseaux à 60 Hz) périodes avec une pondération rectangulaire (la pondération de
Hanning n'est pas autorisée, sauf dans le cas d'une perte de synchronisation. Cette perte doit
être étiquetée).
 – 13 – 61000-4-7/CDV  CEI:2000

La fenêtre doit être synchronisée avec chaque groupe de 10 ou 12 cycles en fonction de la

fréquence du réseau de 50 Hz ou de 60 Hz. La durée entre le front montant de la première
impulsion d’échantillonnage et le front montant de la (M+1) ème impulsion d’échantillonnage
(où M est le nombre d’échantillons, voir l’article 3.5) doit correspondre exactement à celle du
nombre de cycles spécifié du réseau d’alimentation, avec une erreur maximale autorisée de
± 0,03%. Les instruments incluant une boucle à verrouillage de phase ou d’autres moyens de
synchronisation, doivent respecter les exigences de précision et de synchronisation pour
mesurer un signal à une fréquence comprise dans une plage d’au moins ± 5% de la fréquence
du réseau nominal. Néanmoins, les instruments de mesure intégrant le circuit d’alimentation,
afin d’obtenir une synchronisation inhérente de la source et des systèmes de mesure, ne sont
pas tenus d’opérer dans la plage de fréquence spécifiée dans la mesure où les exigences de
précision sur la synchronisation et sur la fréquence sont respectées.

La sortie (OUT 1, voir figure 1) donne, pour le courant ou pour la tension, les données brutes
a k et b k de la DFT, à savoir les valeurs calculées de chaque composante de fréquence.

Une autre sortie donne la puissance active P analysée sur la même fenêtre temporelle que
pour les harmoniques. Pour les mesures d'émission conformes à la CEI 61000-3-2, cette
puissance ne doit pas inclure la composante en courant continu.
NOTE – La mesure des composantes en courant continu et de la puissance y étant associée peut être incluse mais
n'est pas obligatoire.

Génération de la
fréquence
d’échantillonage

Tension Pré-traitement

Instrument principal Echantillonage et

conversion DFT OUT 1

Courant Pré-traitement

Regroupement

Puissance active,
Post-traitement voir le texte pour OUT 2a
plus de détails

Lissage

OUT 2b

Contrôle de
conformité

OUT 3

Figure 1 – Structure générale de l’instrument de mesure

 – 14 – 61000-4-7/CDV  CEI:2000

4.4.2 Parties de post-traitement

Comme exigé par les normes sur les émissions, des opérations supplémentaires, telles que le
lissage et la pondération des résultats bruts, sont réalisées sur les données brutes dans les
parties successives de l'instrument.

Si des valeurs de sortie doivent être mises en relation avec une valeur correspondante (valeurs
fondamentales, déclarées ou nominales), cette normalisation doit être effectuée uniquement
après avoir réalisé ces procédures de lissage supplémentaires.

5 Mesures des harmoniques

5.1 Circuit d'entrée de courant

Le circuit d'entrée doit être adapté aux courants à analyser. Il doit fournir la mesure directe des
courants harmoniques et, en outre, offrir une entrée basse tension à haute impédance pouvant
être associée à des résistances shunts externes (ou une combinaison de transformateurs
d'intensité avec des résistances shunts). Les niveaux appropriés des circuits d'entrée se
situent dans la plage de 0,1 V à 10 V Une préférence est accordée au niveau 0,1 V, à condition
qu'il respecte les exigences données à l’article 5.3.1.
NOTE – Pour les mesures d'intensité réalisées directement dans le circuit, il est utile (mais pas obligatoire)
d'utiliser les plages de mesure en courant nominal d'entrée I N suivantes : 0,1 ; 0,2 ; 0,5 ; 1 ; 2 ; 5 ; 10 ; 20 ; 50 ;
100 A.

La consommation de puissance du circuit d'entrée en courant ne doit pas dépasser 3 VA pour

les instruments de classe II. Pour les instruments de classe I, la chute de tension d'entrée ne
doit pas dépasser 0,15 V efficace.

Chaque circuit d'entrée de mesure doit pouvoir subir une surcharge continue de 1,2 IN. Une
surcharge de 10 I N pendant 1 s ne doit provoquer aucun dommage.

Le facteur de crête autorisé doit être de 4 pour les plages de mesure allant jusqu'à 5 A
inclusivement, de 3,5 pour la plage de 10 A et de 2,5 pour la plage de 20 A.
NOTE – Dans ce contexte, le facteur de crête est le rapport entre le seuil de saturation de l'instrument et sa plage
d’entrée nominale.

Une indication de surcharge est nécessaire.

Les exigences de précision globale sont indiquées dans le tableau 1.
Pour les autres exigences, se reporter à l'article 8
NOTE – Une composante en courant continu est souvent associée à la distorsion en courant à mesurer. Cette
composante peut conduire à des erreurs importantes dans les transformateurs d'intensité du circuit d'entrée. Il
convient que le fabricant indique dans les spécifications des instruments la composante maximale de courant
continu autorisée, de sorte que l'erreur due à cette influence supplémentaire ne dépasse pas la précision indiquée.

5.2 Circuit d’entrée de tension

Le circuit d’entrée de l’instrument de mesure doit être adapté à la tension nominale et à la

fréquence de la tension d’alimentation à analyser et doit conserver ses caractéristiques et sa
précision jusqu’à 1,2 fois cette tension nominale. Un facteur de crête d’au moins 1,5 est
considéré suffisant pour les mesures, excepté pour les charges excessivement perturbatrices
des réseaux industriels quand un facteur de crête d'au moins 2 peut être nécessaire. Une
indication de surcharge est requise dans tous les cas.

Le circuit d’entrée subissant une surcharge continue de 1 s par une tension de courant
alternatif de quatre fois la définition de la tension d’entrée, sans toutefois excéder 1 kV, ne doit
pas provoquer de dommage sur l’instrument.
 – 15 – 61000-4-7/CDV  CEI:2000

Selon la pratique locale, plusieurs tensions d’alimentation nominales comprises entre 60 et

600 V existent. Pour permettre une utilisation quasi universelle de l’instrument de la plupart
des réseaux d’alimentation, il est préférable de concevoir le circuit d’entrée pour les tensions
nominales suivantes :

U n : 66, 115, 230 pour les réseaux de 50 Hz

U n : 69, 120, 240, 277, 347, 480, 600 V pour les réseaux de 60 Hz.

NOTE 1 – Les plages de 66, 69, 115 et 120 V peuvent également être utilisées avec les transformateurs de tension
externes. D’autres plages peuvent également être utiles (telles que les plages 100 V, 110/√3 V).
NOTE 2 – Les entrées à sensibilité plus élevée (0,1 ; 1 ; 10 V) sont utiles avec les transducteurs externes. Un
facteur de crête d’au moins 2 peut être requis.

La consommation de puissance du circuit d’entrée ne doit pas dépasser 0,5 VA à 230 V. Si des
entrées à sensibilité élevée (inférieures à 50 V) sont fournies, leur résistance d’entrée doit être
au moins de 10 kΩ/V.

Il est nécessaire de s’assurer que la valeur élevée de la fondamentale (fréquence

d’alimentation) par rapport aux harmoniques à mesurer ne produit pas de surcharge causant
des dommages ou des signaux d’erreur d’intermodulation nuisibles dans les étages d’entrée de
l’instrument. De telles erreurs doivent se situer bien au-dessous de la précision mentionnée.
Une indication de surcharge doit par conséquent être fournie.

5.3 Exigences de précision

Deux classes de précision sont recommandées pour les instruments de mesure des
composantes harmoniques. Les erreurs maximales autorisées indiquées dans le tableau 1 se
rapportent à des signaux monofréquence en régime permanent, dans la plage de fréquence de
fonctionnement, appliqués à l'instrument dans des conditions nominales de fonctionnement
devant être indiquées par le fabricant (plage de température, plage d'humidité, tension
d'alimentation de l'instrument, etc.)
NOTE – Lorsque les appareils sont soumis à essai conformément à la CEI 61000-3-2, les termes d'incertitude sont
liés aux limites admissibles (5 % des limites admissibles) ou au courant assigné (I r ) de l'appareil soumis à essai
(0,15 % I r ), la valeur la plus grande étant retenue. Il convient de prendre cet élément en compte lors du choix de la
plage correcte d'intensité d'entrée pour l'instrument de mesure

Tableau 1 – Exigences de précision pour les mesures de courant et de tension

I nom : Plage de courant nominal de l’instrument de mesure
U nom : Plage de tension nominale de l’instrument de mesure
U m et I m : Valeurs mesurées

Classe Mesure Conditions Erreur maximale

Tension U m ≥ 1% U nom 5% U m
U m < 1% U nom 0,05% U m

I Courant I m ≥ 3% I nom ± 5% I m
I m < 3% I nom ±0,15% I nom
Puissance P m <150W ± 1,5 W
P m >150W ± 1% de P m
Tension U m ≥ 3% U nom 5% U m
II U m < 3% U nom 0,15% U m

Courant I m ≥ 10 % I nom ± 5% I m
I m < 10 % I nom ± 0,5% I nom

NOTE 1 – Les instruments de classe I sont recommandés pour obtenir des mesures précises, telles que celles
permettant de contrôler la conformité aux normes, de résoudre les contradictions, etc.. Deux instruments se
conformant aux exigences de la classe I, lorsqu’ils sont raccordés aux mêmes signaux, fournissent des résultats
correspondant dans la précision spécifiée (ou indiquent que cette correspondance n’est pas possible).
 – 16 – 61000-4-7/CDV  CEI:2000

NOTE 2 – Les instruments de classe I est recommandée pour les mesures d'émissions, la classe II étant
conseillée pour une campagne de mesure mais pouvant également être utilisée pour les mesures d'émissions si les
niveaux sont tels que, même avec une précision réduite, les valeurs limites ne sont pas dépassées. Dans la
pratique, ceci signifie que les niveaux devraient être < 90 % des limites autorisées.
NOTE 3 – En outre, le déphasage entre les canaux individuels doit être < n·1º.

Les fréquences situées en dehors de la plage de mesure de l’instrument (généralement de 0 à

2 kHz ou 2,5 kHz) doivent être atténuées pour ne pas affecter les résultats. Pour obtenir
l’atténuation appropriée, l’instrument peut calculer les composantes de fréquence à des
fréquences beaucoup plus élevées que la plage de fréquence. Par exemple, la plage analysée
peut atteindre 25 kHz, mais uniquement les composantes allant jusqu’à 2 kHz sont prises en
compte. Un filtre passe-bas antirepliement, d’une fréquence de – 3 dB supérieure à la plage de
mesure (comme 5 kHz), doit être utilisé. L’atténuation dans la bande coupée doit dépasser
50 dB.

NOTE – Par exemple, un filtre de Butterworth du 5ème ordre atteint une atténuation de 50 dB à un peu plus de 3
fois la fréquence – 3 dB.

Lorsqu'il est nécessaire d'analyser les harmoniques de rang supérieur à 15 et de courant

assigné supérieur à 5 A avec la précision maximale, il est conseillé d'utiliser des résistances
shunts externes ou des transducteurs de courant permettant d'obtenir une plage égale à
l'intensité assignée du matériel soumis à essai.

Pour les instruments destinés uniquement à la mesure des harmoniques, les erreurs
s'appliquent uniquement aux fréquences harmoniques.

Pour être obtenue, la précision indiquée au tableau 1 peut nécessiter un ajustement simple de
l'instrument au moyen d'un étalon interne ou externe, conformément aux indications précises
que le fabricant doit fournir.

Il convient d'indiquer séparément l'incertitude de l’étalon (s'il est interne). Le fabricant doit
indiquer les erreurs engendrées par les facteurs d'influence les plus importantes (température,
tension d'alimentation électrique auxiliaire, etc.) pour l'instrument proprement dit et pour
l’étalon interne, s'il est fourni.

5.4 Montage de mesure pour l'évaluation des émissions

Le montage de mesure est illustré aux figures 2 et 3.

∆UL
U Tension entre phase et neutre de la source
L
Z L,N Impédance du câblage et du capteur de courant
SOURCE

ZL
EST Matériel soumis à essai
EST

U
ZN ∆U Chute de tension en Z L et Z N (∆U = ∆U L + ∆U N )
L Indice pour la phase
N
∆UN N Indice pour le neutre

Figure 2 – Montage de mesure pour la mesure de l'émission monophasée

 – 17 – 61000-4-7/CDV  CEI:2000

∆UL
U Tension entre phases et neutre de la source
L3
ZL Z L,N Impédance du câblage et du capteur de courant
EST Matériel soumis à essai
L2
∆U
SOURCE

ZL Chute de tension en Z L et Z N (∆U=∆U L +∆U N ) ;

interphase : (∆U=2∆U L )

EST
L1 L 1-3 Indice pour les phases
ZL
N Indice pour le neutre
U
ZN
N
∆UN

Figure 3 – Montage de mesure pour les mesures d'émissions triphasées

Lors des mesures, la tension d'essai U aux bornes de la source doit respecter les exigences
suivantes :

a) La tension d'essai U doit être la tension assignée du matériel. Dans le cas d'une plage
de tension, la tension d'essai doit correspondre aux tensions nominales des réseaux
alimentant le matériel (par exemple, une tension phase-neutre de 230 V pour les
alimentations monophasées ou triphasées correspond à 400 V entre-phases). Dans le
cas d'une connexion triphasée trifilaire, un point neutre fictif réalisé à l'aide de trois
résistances identiques à 1% peut être utilisé si le conducteur neutre est indisponible à
la source. L’objet du neutre fictif est de permettre des mesures de tension et de
puissance aussi bien phase-neutre qu’entre phases. Au cours des essais d'émissions,
les erreurs introduites dans les mesures de courants EST par le voltmètre de
l'instrument et par le réseau neutre fictif ne doivent pas dépasser 0,05 %.
NOTE 1 – Le réseau neutre fictif n'est généralement pas requis. Lorsqu'il l'est, plusieurs approches sont à
envisager. Dans certains cas, il peut être fourni par les trois impédances d'entrée des voltmètres de l'instrument de
mesure. Dans d'autres cas, le réseau neutre fictif peut consister en l'effet combiné d'un réseau explicite et des
impédances d'entrée des voltmètres de l'instrument de mesure. Il se peut également que le réseau neutre fictif, s'il
est présent, et les impédances d'entrée des voltmètres de l'instrument de mesure soient connectées de façon à ne
pas introduire d’erreur dans les mesures de courant (car la charge du neutre fictif ou du voltmètre s'effectue du
côté source du transducteur de courant). Enfin, il est également possible qu’une boucle de rétroaction de la source
compense adéquatement les erreurs introduites par le réseau neutre fictif et par les impédances d'entrée des
voltmètres de l'instrument de mesure de façon à éviter l’intrusion d’erreurs dans les mesures. D'autres
configurations peuvent convenir, en autant que le niveau d'incertitude n'est pas dépassé.

b) Dans le cas d'une alimentation triphasée, l'angle entre la tension fondamentale sur chaque
paire de phases d'une source triphasée doit être de 120° ± 1,5°.
c) Les rapports d'harmoniques de la tension d'essai U ne doivent pas dépasser les valeurs
suivantes, l'EST étant raccordé et fonctionnant normalement :
- 0,9 % pour une harmonique de rang 3 ;
- 0,4 % pour une harmonique de rang 5 ;
- 0,3 % pour une harmonique de rang 7 ;
- 0,2 % pour une harmonique de rang 9 ;
- 0,2 % pour des harmoniques paires de rang de 2 à 10 ;
- 0,1 % pour des harmoniques de rang de 11 à 40.
d) Les valeurs crêtes de la tension d'essai doivent être comprises dans la plage entre 1,40 et 1,42
fois sa valeur efficace et doivent être atteintes dans un angle allant de 87° à 93° après le
passage par zéro. Cette exigence ne s'applique pas lorsqu'un matériel de classe A ou B
conforme à la CEI 61000-3-2 est soumis à essai.
 – 18 – 61000-4-7/CDV  CEI:2000

La chute de tension ∆U au niveau de l'impédance du capteur de courant et du câblage ne doit

pas dépasser la valeur crête de 0,5 V.

Le cas échéant, la puissance du matériel doit être mesurée à l'aide de la tension source U de
la figure 2 ou 3 et de l'intensité du matériel soumis à essai. Pour les sources renfermant le
capteur de courant, la puissance du matériel doit être mesurée à l'aide de la tension aux
bornes de sortie de la source et à l'aide du courant de l'EST. La tension doit alors être
mesurée du côté du capteur de courant absorbé par l'EST, en prenant pour hypothèse que la
source est régulée aux bornes de sortie.

5.5 Evaluation des émissions harmoniques

Les éléments suivants se rapportent à la partie de post-traitement de la figure 1.

5.5.1 Regroupement et lissage

Pour analyser les harmoniques, la sortie (OUT 1, voir figure 1) de la DFT est tout d'abord
regroupée pour constituer la somme quadratique des raies spectrales intermédiaires
comprises entre deux harmoniques adjacentes, comme démontré par l'équation 8 et par la
figure 4. La composante du groupe harmonique de rang n qui en résulte (correspondant à la
médiane dans la partie hachurée) est d'amplitude C ng (valeur efficace).

c102 ng − 5 4
c102 ng + 5
2
Cng =
2
+ ∑ c102 ng + i + 2
{réseau 50 Hz}
i = −4
(8)
c122 ng − 6 5
c122 ng + 6
C =
2
ng
2
+ ∑c 2
12 ng + i +
2
{réseau 60 Hz}
i = −5

Dans ces équations, c constitue le module de la raie spectrale correspondante à la cellule de sortie de
la DFT et C le module de l'harmonique qui en résulte .
Groupe Groupe
harmonique interharmonique
n+2 n+4,5

Sortie de la DFT
Rang n n+1 n+3 n+4 n+5
n+2 n+6
harmonique

Figure 4 – Illustration d’un groupe harmonique et interharmonique

(représentés pour une fenêtre à 50 Hz)

NOTE 1 – Pour des raisons de commodité, les nombres ordinaux n des harmoniques ont été utilisés dans ces
formules.
NOTE 2 – Le regroupement d'interharmoniques est illustré à la figure 4 uniquement afin de clarifier les définitions
(voir l'annexe A pour l'analyse des interharmoniques).
2
Un lissage du signal (OUT 2a de la figure 1) doit être effectué sur les modules au carré C n de
chaque rang harmonique selon l'équation 8 à l'aide de l'équivalent numérique d'un filtre
passe-bas de premier ordre, avec une constante de temps de 1,5 s, tel qu'illustré à la figure 5.
 – 19 – 61000-4-7/CDV  CEI:2000

Divisé
SOMME
par α
Entrée Sortie

Multiplier -1
par β z

-1
Figure 5 – Réalisation d'un filtre passe-bas numérique : z désigne
un retardement unitaire, α = 8.012 et β = 7.012

Pour la composante fondamentale C 1 (si nécessaire, comme par exemple pour la classe C de
la CEI 61000-3-2 et éventuellement pour les facteurs de distorsion), le même lissage du
2
module au carré C 1 de la sortie OUT 1 doit être réalisé.

Pour la puissance active P (si nécessaire, comme par exemple pour les classes C et D de la
CEI 61000-3-2), un lissage similaire du module des valeurs de puissance active de la sortie
OUT 1 doit être réalisé.
NOTE - Le module a été sélectionné afin d'être adapté aux réseaux régénérateurs.

Pour se conformer aux relevés de tensions harmoniques, il est fortement recommandé de

procéder à un autre type de lissage où la sortie, selon l'équation 6, est dérivée des
composantes en tant que moyenne de 15 échantillons contigus et est mise à jour à chaque
fenêtre DFT (c'est à dire toutes les 200 ms), soit toutes les 15 fenêtres temporelles (c'est-à-
dire toutes les 3 s).

5.5.2 Respect des limites d'émission

L'analyse du respect des limites d'émission (OUT 2b) doit être réalisée par un traitement
statistique des données selon les conditions indiquées dans les normes appropriées, comme la
CEI 61000-3-2.

Si les limites d'émission comprennent des facteurs de distorsion stipulés à l'article 3.3, elles
doivent être calculées à l'aide des valeurs de la sortie OUT 2a.

5.6 Evaluation du sous-groupe harmonique de tension

La technique d'analyse de la transformée de Fourier s’applique pour un signal stationnaire. Toutefois,

l'amplitude de la tension sur le réseau peut varier et diffuser l'énergie de composantes harmoniques
vers des fréquences interharmoniques adjacentes. Pour une analyse plus précise de la tension, les
composantes de sortie c aux 5 Hz (voir figure 6) de la DFT doivent être regroupées selon l’équation 9
et 10 et la figure 6.
1 2
c 10
C 2
n − 200 −ms = ∑c
k =−1
2
10n + k +
2
ng+ 5
(réseaux à 50 Hz) (9)

1
C n2− 200 −ms = ∑c
k =−1
2
12n +k (réseaux à 60 Hz) (10)
 – 20 – 61000-4-7/CDV  CEI:2000

Sous-groupe
Sous-groupe centré
c harmonique interharmoniques
n+2 n+4,5

Sortie de la DFT
Rang
harmonique n n+1 n+2 n+3 n+4 n+5 n+6

Figure 6 : Illustration d'un sous-groupe harmonique

et d'un sous-groupe centré interharmonique (fenêtre à 50 Hz)

Des procédures de lissage sont décrites dans la CEI 61000-4-30.

6 Autres principes d'analyse

Le fait que la présente norme indique comme instrument de référence un instrument de DFT
n'exclut pas l'application d'autres principes d'analyse, tel que les bancs de filtres (numériques)
ou encore l'analyse par ondelettes.

Par ailleurs, et en particulier pour des raisons économiques, l'utilisation d'une fenêtre
temporelle courte, éventuellement constituée d'une seule période, peut être envisagée.
Cependant, un tel instrument ne doit pas être utilisé pour analyser le respect des limites
d'émissions car les signaux non stationnaires ne peuvent pas être correctement analysés de
cette manière.

D'autres procédures n'étant pas prévues par la présente norme, il est nécessaire que celle
utilisée n’excède pas la plage d'incertitude causée par des facteurs de tout ordre, y compris les
caractéristiques non stationnaires du signal et l'échec de la synchronisation.

Les caractéristiques d'un instrument reposant sur un autre principe d'analyse doivent faire état
de la plage d'incertitude causée par des facteurs de tout ordre, y compris les caractéristiques
non stationnaires du signal, le phénomène de repliement du spectre et l'échec de la
synchronisation. L'incertitude ne doit pas empêcher de remplir les conditions de l'article 5.

7 Période de transition

L'utilisation des instruments de mesure existants basés sur les exigences énoncées dans la
CEI 61000-4-7 (première édition 1991) est autorisée jusqu'à la révision de la présente norme.
Toutefois, les mesures effectuées avec de tels instruments doivent comporter l'indication
suivante : « Instrument de mesure conforme à la CEI 61000-4-7, première édition ».

Pour les mesures effectuées à l'aide d'instruments utilisant des fenêtres à 16 cycles
conformément à la CEI 61000-4-7, première édition, la procédure de lissage (OUT 2b à la
figure 1) doit être modifiée selon les entrées du tableau 2. Le filtre doit être réalisé comme
illustré à la figure 5.
 – 21 – 61000-4-7/CDV  CEI:2000

Tableau 2 – Coefficients de filtre de lissage pour fenêtres à 16 cycles

Fréq. Cycles dans Fréquence α β

fenêtre d’échantillonage
50 10 ≈ 1/200ms 8,012 7,012

60 12 ≈ 1/200ms 8,012 7,012

50 16 ≈ 1/320ms 5,206 4,206

60 16 ≈ 1/267ms 6,14 5.14

Note – Les coefficients pour les fenêtres de cycle 10/12 sont fournis en référence pour la figure 5.

Par ailleurs, une sortie supplémentaire doit fournir la puissance active P analysée sur la même
fenêtre temporelle que celle des harmoniques. Cette puissance ne doit inclure aucune
contribution éventuelle due à une composante en courant continu.

8 Exigences d'environnement et autres exigences

8.1 Généralités

Le fabricant doit spécifier les conditions de fonctionnement nominales et éventuellement

l'amplitude de l'erreur introduite par le biais des modifications concernant :

– la température,
– l'humidité,
– la tension d'alimentation des instruments et les perturbations de série associées,
– la tension perturbatrice de mode commun entre la prise de terre de l'instrument, ses
circuits d'entrée et la tension d'alimentation auxiliaire,
– les décharges d'électricité statique,
– les champs électromagnétiques rayonnés.
NOTE – Lors de l'application de la CEI 61010-1 en vue de répondre aux exigences de sécurité et d'isolation, il est
nécessaire de prendre en compte que les circuits d'entrée (de tension aussi bien que de courant) peuvent être
directement raccordés aux tensions d'alimentation réseau.

8.2 Essais d'isolement et de compatibilité électromagnétique (provisoire)

Les essais d'isolation sont présentés dans le tableau 3 pour les connexions d'entrée et
d'alimentation.

Les essais à effectuer pour analyser l'immunité de l'instrument contre les perturbations
électromagnétiques sont résumés dans le tableau 4. Ce dernier contient des références
provenant de publications de CEI existantes et de documents du secrétariat. Certains de ces
essais sont encore examinés par les sous-comités de CEI 77A et 77B.

Les essais sont élaborés en considérant que la référence zéro commune de l'ensemble des
circuits électroniques est raccordée au boîtier et à la terre.

Les essais numérotés de 1 à 5 doivent être effectués sur les connexions d'alimentation et
d'entrée. L'essai numéro 6 doit porter uniquement sur l'alimentation et les essais 7 à 10 sur
l'ensemble de l'instrument.

Le niveau de précision des essais a été défini en considérant que, lors du fonctionnement
normal de l'instrument, les sorties de ce dernier sont raccordées au matériel externe à l'aide
de câbles courts et blindés.
 – 22 – 61000-4-7/CDV  CEI:2000

Pour tous les essais et lors de l'application de facteurs d'influence des perturbations, il est
nécessaire de vérifier le bon fonctionnement de l'instrument en passant en revue au moins
cinq points suffisamment espacés de la réponse.

8.3 Essais climatiques

Les procédures des essais climatiques sont définies par la CEI 60068 : Basic Environmental
Testing Procedures (Procédures d'essais de base sur l'environnement) et par les indications
énoncées ci-dessous.

- Conditions atmosphériques normales pour procéder à l'essai :

– température : 15 °C à 35 °C ;
– hygrométrie : 25 % à 75% ;
– pression : 86 kPa à 106 kPa
- Séquence et type d'essais :
a) Chaleur sèche : CEI 60068-2-2 Essai Bd 1) 2)
b) Chaleur humide : CEI 60068-2-3 Essai C 2)
c) Froid : CEI 60068-2-1 Essai Ad 1) 2)
d) Modification de la température : CEI 60068-2-14 Essai Nb 2)
- Intervalle maximal entre les essais b) et c) : 2 h.
- Gradient de température maximal de la chambre d'essai : 1 °C/min en moyenne sur 5
min maximum.
- A la fin de chaque essai, il est nécessaire de vérifier que l'instrument fonctionne
correctement dans des conditions normales.

8.3.1 Essais avec des instruments non alimentés ne fonctionnant pas

A la fin de chaque essai, il est nécessaire de vérifier que l'instrument fonctionne correctement
dans des conditions normales.

Essai en condition de chaleur sèche

- Température : 55 ± 3 °C.
- Durée : 24 h

Essai en condition froide

- Température : - 10 ±3 °C
- Durée : 24 h

8.3.2 Essai avec un instrument en fonctionnement

Pour tous les essais répertoriés ci-dessous, il est nécessaire de vérifier le bon fonctionnement
de l'instrument sur au moins 5 points de la réponse spécifiée, à savoir au début, à la fin et au
cours de l'essai.

L'intervalle de temps maximal entre les essais en condition de chaleur humide et en condition
froide ne doit pas dépasser 2 h.
 – 23 – 61000-4-7/CDV  CEI:2000

Essai en condition de chaleur sèche

- Température : 40 ±3 °C.
- Durée : 16 h

Essai en condition de chaleur humide

- Température : 40 ±3 °C
- Durée : 24 h

Dans des conditions de température constante, l'hygrométrie doit être amenée à 92,5 ± 2,5 %.

Essai en condition froide

- Température: 0 ±3 °C
- Durée : 24 h

Essai avec modification de la température

- Température de départ : 40 ±3 °C
- Température finale : 0 ±3 °C

La température de départ doit rester stable pendant 3 h avant de commencer les essais avec
modification de température.

Le gradient de température maximal de la chambre d'essai ne doit pas dépasser 1 C/min en

moyenne sur une durée de 5 min maximum.

Tableau 3 – Essai sur l'isolation

Essai n° Essais d'isolation Notes

a b

1 Diélectrique kV efficace 3) 2 -

2 Résistance d'isolation kV courant 3) 0,5 -

continu
 – 24 – 61000-4-7/CDV  CEI:2000

Tableau 4 – Essais sur l'immunité

Essai Essais sur l’immunité 14) Mode d’application de la Critères

n° Notes tension d’essai1) de perfor-
a b mances
13)
1 Fréquence réseau Valeur 2) 250 - A
utile
2 Onde de tension 1,2/50 µs Crête 5) 2 1 B
(61000-4-5) KV
3 Perturbations Perturbations conduites Valeur 6) 10 - A
induites par champs de utile
haute fréquence > 9 kHz
(61000-4-6)
4 conduites Ondes oscillatoires Crête 7) 1 0,5 B
jusqu'à 1 MHz (61000-4-12) KV
5 Salve Crête 8) 2 2 B
(61000-4-4) KV
6 Interruptions de tension Heures 9) 10 A
(61000-4-11) Ms 2 B
7 Décharge électrostatique KV 4) 8 dans l'air A
(61000-4-2) 4 au contact B
8 Fréquence réseau A/m 10) 30 A
(61000-4-8)
9 Champs électro- Impulsion 8/20 µs Crête 11) 300 B
magnétiques (61000-4-9) A/m
10 Haute fréquence rayonnée V/m 12) 10 A
(de 80 MHz à 1000 MHz)
(61000-4-3)

Explications :

1. Mode d'application de la tension d'essai :

a) entre les bornes de chaque circuit et le boîtier du matériel mis à la terre (mode
commun)
b) entre les bornes de chaque circuit (mode différentiel)
2. Valeur prescrite pour le temps nécessaire à l'élimination de l'erreur. D'autres valeurs
peuvent être adoptées en fonction de la réglementation nationale sur la sécurité.
3. Pour cet essai, référez-vous à la CEI 61010-1 - Safety requirements for electrical
equipment for measurement control and laboratory use (Exigences de sécurité du matériel
électrique pour le contrôle de mesure et l'utilisation en laboratoire).
4. Pour cet essai, référez-vous à la CEI 61000-4-2 - Electrostatic discharge immunity test
(Essai sur l'immunité contre les décharges électrostatiques).
5. Pour cet essai, référez-vous à la CEI 61000-4-5 - Surge immunity test (Essai sur les crêtes
d'immunité)
6. Pour cet essai, référez-vous à la CEI 61000-4-6 - Immunity to conducted disturbances
induced by RF fields (Immunité contre des perturbations conduites induites par des champs
à haute fréquence).
7. Pour cet essai, référez-vous à la CEI 61000-4-12 - Oscillatory waves immunity test (Essai
sur l'immunité contre les ondes oscillatoires).
8. Pour cet essai, référez-vous à la CEI 61000-4-4 - Electrical fast transient/burst immunity
test (Essai sur l'immunité contre les transitoires/salves rapides électriques).
 – 25 – 61000-4-7/CDV  CEI:2000

9. Pour cet essai, référez-vous à la CEI 61000-4-11 - Voltage dips, short supply interruptions
and voltage variation immunity tests (Creux de tension, courtes interruptions d'alimentation
et essais sur l'immunité contre les variations de tension).
10. Pour cet essai, référez-vous à la CEI 61000-4-8 - Power frequency magnetic field immunity
test (Essai sur l'immunité contre le champ magnétique de fréquence de puissance).
11. Pour cet essai, référez-vous à la CEI 61000-4-9 - Pulse magnetic field immunity test (Essai
sur l'immunité contre le champ magnétique d'impulsions).
12. Pour cet essai, référez-vous à la CEI 61000-4-3 -Radiated, radio-frequency electromagnetic
field immunity test (Essai sur l'immunité contre le champ électromagnétique à haute
fréquence rayonné).
13. Au cours ou à la suite des essais effectués sur la compatibilité électromagnétique, une
description fonctionnelle et une définition des critères de performances doivent être
fournies par le fabricant et consignées dans le rapport d'essai conformément aux éléments
suivants :
– Critères de performances A : L'appareil doit continuer à fonctionner normalement.
Aucune dégradation des performances ou aucune perte fonctionnelle n'est autorisée en
dessous du niveau de performances spécifié par le fabricant lorsque l'appareil est
utilisé comme il se doit. Ce niveau peut être remplacé par une baisse des performances
autorisée. Si le niveau de performances minimal ou la baisse des performances
autorisée n'est pas spécifié(e) par le fabricant, l'un(e) ou l'autre doit être dérivé(e) de la
description et de la documentation du produit, ainsi que de ce que l'utilisateur peut
attendre de l'appareil lorsqu'il fonctionne normalement.
– Critères de performances B : L'appareil doit continuer à fonctionner normalement après
l'essai. Aucune dégradation des performances ou aucune perte fonctionnelle n'est
autorisée en dessous du niveau de performances spécifié par le fabricant lorsque
l'appareil est utilisé comme il se doit. Ce niveau peut être remplacé par une baisse des
performances autorisée. Cependant, au cours de l'essai, une dégradation des
performances est autorisée. Aucune modification de l'état de fonctionnement réel ou
des données stockées n'est autorisée. Si le niveau de performances minimal ou la
baisse des performances autorisée n'est pas spécifié(e) par le fabricant, l'un(e) ou
l'autre doit être dérivé(e) de la description et de la documentation du produit, ainsi que
de ce que l'utilisateur peut attendre de l'appareil lorsqu'il fonctionne normalement.
14. En dehors de l'essai 6, le niveau des essais et les critères de performances sont
conformes à la CEI 61326.
 – 26 – 61000-4-7/CDV  CEI:2000

Annexe A
(Informative)

Mesures des interharmoniques

Les composantes interharmoniques proviennent principalement de deux sources :

- des variations de l’amplitude de la composante fondamentale et/ou des composantes

harmoniques, par exemple des commandes d'onduleur ;
- des circuits électroniques de puissance avec des fréquences de commutation non
synchronisées sur la fréquence d'alimentation, par exemple alimentations en courant
alternatif/courant continu et correcteurs du facteur de puissance.

Les effets possibles sont par exemple :

- du bruit dans les amplificateurs audio ;

- des couples additionnels sur les moteurs et les générateurs ;
- une perturbation de la détection du passage par zéro, par exemple dans les gradateurs ;
- du bruit supplémentaire dans les bobines inductives (magnétostriction) ;
- un blocage ou une manipulation accidentelle des récepteurs de la télécommande centralisée.

Le montage de mesure est basé sur la description générale fournie à l'article 4.

En règle générale, les composantes interharmoniques varient non seulement en amplitude

mais aussi en fréquence. Un groupement des raies spectrales comprises dans la plage entre
deux composantes harmoniques consécutives donne le groupe interharmonique. Ce
regroupement fournit un facteur global pour plusieurs composantes interharmnoniques qui peut
inclure l’effet de la fluctuation d’amplitude des harmoniques. L’équation A1 ou A2, selon la
fréquence fondamentale du réseau, permet de calculer le groupe interharmonique Cn2+0 ,5 g .

9
C n2+ 0,5 g = ∑c
k =1
2
10n + k (réseau à 50 Hz) (A1)

11
C n2+ 0,5 g = ∑c
k =1
2
10 n+ k (réseau 60 Hz) (A2)

L’effet de la fluctuation d’amplitude des harmoniques est partiellement réduit en excluant de

l’équation A1 et A2 les composantes directement adjacentes aux fréquences harmoniques.
Aussi, pour analyser les valeurs efficaces des interharmoniques du sous-groupe centré, les
composantes, à savoir les données de sortie de la DFT à la sortie OUT 1 de la figure 1, sont
regroupées comme suit (voir définition 3.4.3) :

8
C n2+ 0,5 g = ∑c
k =2
2
10n + i (A3)

10
C n2+ 0,5 g = ∑c
k =2
2
12n + i (A4)

Dans ces équations, c représente le module de la raie spectrale obtenue par la DFT et C, le
module du groupe interharmonique.
 – 27 – 61000-4-7/CDV  CEI:2000

NOTE 1 – Etant donné que les harmoniques non stationnaires provoquent des « bandes
latérales » proches des harmoniques, les composantes (i = 1 et 9 ou 11) directement
adjacentes à l'harmonique considérée peuvent représenter des variations d’amplitude . Elles
sont, par conséquent, exclues du groupe interharmonique pour donner le sous-groupe centré
interharmonique. Voir également la figure 4 6.
NOTE 2 – Si uniquement les harmoniques sont analysées, le procédé de regroupement de l'article 5.5.1 s'applique.
Si les harmoniques et les interharmoniques sont analysées séparément (par exemple pour l'analyse d'un matériel
produisant des interharmoniques), les composantes interharmoniques (i = 1 et 9 ou 11) directement adjacentes à
une harmonique sont regroupées pour constituer ce sous-groupe harmonique, alors que les autres composantes
interharmoniques (i = 2 à 8 ou 10) forment le sous-groupe centré interharmonique selon l'équation A3 ou A4. Voir
également la figure 6.

Le lissage des sous-groupes centrés interharmoniques est réalisé de la même façon que pour
la mesure des harmoniques (voir 5.5.1). Un lissage des composantes interharmoniques
individuelles n'est pas recommandé.

Des procédures de lissage sont décrites dans la CEI 61000-4-30.

Les exigences de précision sont identiques à celles spécifiées pour la mesure des
harmoniques (voir tableau 1).
 – 28 – 61000-4-7/CDV  CEI:2000

Annexe B
(Informative)

Mesures dans la gamme de fréquence 2 à 9 kHz

B.1 Généralités
Les composantes dans les signaux (courants ou tensions) dont les fréquences dépassent la
plage de fréquence harmonique (environ 2 kHz) tout en restant en dessous de la limite
supérieure de la plage de basse fréquence (environ 9 kHz) sont dues à plusieurs phénomènes,
tels que :

- une commande par modulation de largeur d'impulsions des alimentations de puissance au

branchement côté secteur (synchrone ou asynchrone avec la fréquence d'alimentation
électrique), également appelée « systèmes de correction du facteur de puissance » ;
- des émissions, par exemple pour la transmission d’information sur le réseau ;
- une alimentation à partir de la sortie des convertisseurs de puissance ;
- des oscillations dues aux encoches de commutation.

Ces composantes peuvent être de type mono-fréquence ou large bande.

B.2 Méthodes de mesure

La mesure de ces composantes ne requiert pas de résolution haute fréquence. Au contraire, il
est d'usage de regrouper l'énergie du signal à analyser dans des bandes de fréquence
pré-définies. Par souci de cohérence avec les mesures prises dans les bandes à haute
fréquence (voir le CISPR 16-1), la largeur de bande pour le regroupement de ces émissions
doit être fixée à 200 Hz. La fréquence centrale du premier groupe atteint 2,1 kHz.

Pour l'analyse fréquentielle, l'utilisation de la méthode de la DFT (en rapport avec les
méthodes décrites à l'article 3.0) est à l'étude.

D'autres méthodes sont également examinées pour l'analyse des émissions de courant et
devraient être incluses dans une prochaine publication.

B.3 Instruments de base

Bien que les mesures se situent dans une plage de fréquence plus élevée, une DFT peut se
réaliser selon l’article 4.4.1.

En considérant le faible niveau du signal à mesurer et la plage de fréquence dans une gamme
très supérieure à la fondamentale, un filtre peut considérablement accroître la précision de la
mesure en atténuant l’amplitude de la fondamentale (50 ou 60 Hz) et celles des composantes
supérieures à 9 kHz. L'atténuation de l’amplitude à la fréquence fondamentale doit dépasser
55 dB.

La fréquence d'échantillonnage doit être définie conformément aux règles établies relatives à
l'analyse de signaux, afin de pouvoir mesurer les composantes de fréquence comprise jusqu'à
9 kHz inclusivement. Pour ce type d'analyse, l'échantillonnage doit être synchronisé avec la
période fondamentale de l'alimentation. Une fenêtre temporelle rectangulaire de 100 ms de
large correspondant à environ 5 (6) périodes fondamentales de systèmes à 50 Hz (60 Hz) peut
être utilisée. Par conséquent, l'intervalle de fréquence entre deux composantes mesurées
(raies spectrales) atteint environ 10 Hz.
 – 29 – 61000-4-7/CDV  CEI:2000

La sortie brute de la DFT (OUT 1 à la figure 1) est regroupée en bandes de 200 Hz (voir
figure B1), en commençant par la bande centrale de 2 100 Hz. La sortie C b de chaque bande
correspond à la valeur efficace suivante :

b+100
Cb = ∑ S (f ) 2

f = b− 90 (Hz )
(B1)

NOTE 1 – La largeur de bande a été définie de manière à ce qu'elle soit cohérente avec celle utilisée dans le
CISPR 16-1 pour les fréquences > 9 kHz.
NOTE 2 – Les valeurs de bande centrale sont 2,1 kHz, 2,3 kHz, 2,5 kHz… 8,9 kHz.

9 0 0
2 4
2000

2 2

35 bandes de
C2100 C2300 fréquence C8900

Figure B1: Illustration des bandes de fréquence

pour les mesures dans la plage comprise entre 2 et 9 kHz

Montage de mesure

Pour assurer la reproductibilité des résultats de mesure, l'impédance de l'alimentation doit être
normalisée au cours des mesures des émissions.

Exigences sur la précision

L'incertitude totale ne doit pas dépasser ± 5 % de la valeur mesurée lorsqu'elle est soumise à
essai avec une émission mono-fréquencielle dans la bande considérée.
NOTE – Par rapport à l'amplitude du courant ou de la tension fondamentale, les composantes à mesurer sont
-5 -2
attendues dans la plage comprise entre 2 x 10 et 5 x 10 .