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Corrige 11

Le document décrit la construction d'Ewald et la loi de Bragg pour l'analyse de la diffraction des rayons X par les cristaux. Il contient des exercices sur la méthode du cristal tournant et la méthode des poudres pour déterminer les angles de diffraction.

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Structure de la matière condensée Prof.

Marc Schiltz
Corrigé des exercices Semestre de printemps 2010

Série 11 : Construction d’Ewald − Loi de Bragg

Exercice 11.1. Méthode du cristal tournant − Construction d’Ewald.

1. Les paramètres de maille d’un cristal sont les suivants :


a = 5,90 Å α = 90◦
b = 15,61 Å β = 90◦
c = 17,72 Å γ = 90◦
Le trois vecteurs de base sont donc orthogonaux entre-eux. En appliquant la défi-
nition de la base réciproque, on montre que les vecteurs de base réciproques a∗ , b∗
et c∗ sont également orthogonaux entre-eux et colinéaires aux vecteurs de la base
directe : !
a∗ · b = 0 ⇒ a∗ ⊥ b
⇒ a∗ $ a .
a∗ · c = 0 ⇒ a∗ ⊥ c
De même :
b∗ $ b , et : c∗ $ c .
Pour les constantes de du réseau réciproque, nous avons donc :

α∗ = β ∗ = γ ∗ = 90◦ .

Pour déterminer les normes des vecteurs de la base réciproque, nous pouvons
appliquer la relation a∗ ·a = 1. Comme, dans le cas présent, a∗ $ a, nous obtenons :
1 1
a∗ = |a∗ | = = .
|a| a

De même :
1 1
b∗ = , et : c∗ = .
b c
Application numérique :
−1
a∗ = 0,1695 Å → 16,9 mm sur la figure
−1
b∗ = 0,0640 Å → 6,4 mm sur la figure
−1
c∗ = 0,0564 Å → 5,6 mm sur la figure

−1
2. Voir figure. Le rayon de la sphère d’Ewald est : λ−1 = 0,649 Å → 64,9 mm sur la figure .
3. Voir figure. Pour amener le noeud 1̄ 6 0 du réseau réciproque en coı̈ncidence avec
la sphère d’Ewald, il faut tourner le réseau réciproque autour de l’axe c∗ de ≈ 55◦ .
4. On suppose maintenant que cette rotation est appliquée au cristal. La direction du
faisceau diffracté par la réflexion (1̄ 6 0) est indiquée sur la figure par le vecteur
%s. L’angle de diffraction est mesuré comme 2θ ≈ 38◦ .
5. Un détecteur bidimensionnel plan (film photographique) est placé à une distance
d = 120 mm du cristal. La surface du détecteur est perpendiculaire à la direction
du faisceau incident. La tache de diffraction correspondant à la réflexion (1̄ 6 0)
sera enregistrée à une distance x du centre du détecteur.

2
E : Échantillon (cristal)
F : Détecteur (film photographique)
C : Centre du détecteur
T : Tache de diffraction
T
!s
x

2θ E !s0
C

On a : x = d tan(2θ) .
Application numérique pour la réflexion 1̄ 6 0 : x = 93,8 mm .
6. Seuls les noeuds du réseau réciproque qui sont situés à l’intérieur d’une sphère
appelée sphère de résolution peuvent, par une rotation autour de l’origine, être
amenés en contact avec la sphère d’Ewald. Cette sphère de résolution est centrée
sur l’origine du réseau réciproque et son rayon est le double de celui de la sphére
d’Ewald, c’est-à-dire 2/λ.

O∗ !s0 λ−1

Sphère d’Ewald

Sphère de résolution

3
Le nombre maximum de réflexions distinctes que l’on peut théoriquement mesurer
correspond donc au nombre de noeuds du réseau réciproque qui sont contenus dans
la sphère de résolution. Ce nombre est donné par le rapport du volume de cette
sphère avec le volume de maille du réseau réciproque (il y a 1 noeud par maille) :
Vsphère
N= .
V∗
Le volume de la sphère de résolution est :
" #3
4π 2
Vsphère = .
3 λ
Le volume de la maille réciproque est l’inverse du volume de la maille directe :
1
V∗ = ,
V
et comme tous les angles sont droits, on a :
1
V =a·b·c⇒ V∗ = .
a·b·c
" #3
4π 2
⇒ N= a·b·c .
3 λ
Application numérique : N = 3234 .

Exercice 11.2 Méthode des poudres − Loi de Bragg.


Dans la méthode des poudres, l’intensité diffractée est enregistée en fonction de l’angle
de diffraction 2θ. Un diagramme de poudre, consiste en une série de pics qui apparaissent
à des valeurs 2θ bien précises.
1. La condition de diffraction est S = H. Pour la norme du vecteur de diffusion, nous
avons :
2 sin θ
|S| = ,
λ
et pour le vecteur du réseau réciproque :
H = h a∗ + k b∗ + l c∗ .
Dans le système tétragonal, les vecteurs de base a, b et c sont perpendiculaires
entre-eux. Il en est de même pour les vecteurs de la base réciproque a∗ , b∗ et c∗ .
En plus, nous avons a = b dans le système tétragonal. Nous pouvons alors écrire :
% %
$ h2 k 2 l 2 h2 + k 2 l2
2 2 2
|H| = h2 a∗ + k 2 b∗ + l2 c∗ = + + = + .
a2 b2 c2 a2 c2

4
L’application de la condition de diffraction nous donne alors :
%
λ h2 + k2 l2
sin θ = + 2 .
2 a2 c

2. On suppose que c = 2 a. L’expression précédente s’écrit alors :


λ$ 2
sin θ = 4(h + k 2 ) + l2 .
4a
Les premiers pics d’intensité correspondent aux pics qui aparaissent aux plus petits
angles de diffraction. Il faut donc trouver les indices (h k l) pour lesquels l’expres-
sion 4(h2 + k 2 ) + l2 reste la plus petite possible :

4(h2 + k 2 ) + l2 (h k l)
1 (0 0 1) (0 0 1̄)
4 (0 0 2) (0 0 2̄) (1 0 0) (1̄ 0 0) (0 1 0) (0 1̄ 0)
5 (1 0 1) (1 0 1̄) (1̄ 0 1) (1̄ 0 1̄) (0 1 1) (0 1 1̄) (0 1̄ 1) (0 1̄ 1̄)
(1 1 0) (1 1̄ 0) (1̄ 1 0) (1̄ 1̄ 0) (1 0 2) (1 0 2̄)
8
(1̄ 0 2) (1̄ 0 2̄) (0 1 2) (0 1 2̄) (0 1̄ 2) (0 1̄ 2̄)
9 (1 1 1) (1 1 1̄) (1 1̄ 1) (1̄ 1 1) (1 1̄ 1̄) (1̄ 1 1̄) (1̄ 1̄ 1̄)
12 (1 1 2) (1 1 2̄) (1 1̄ 2) (1̄ 1 2) (1 1̄ 2̄) (1̄ 1 2̄) (1̄ 1̄ 2̄)

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