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Espectrometría ICP-OES: Análisis Elemental

El documento describe la técnica de espectrofotometría de emisión atómica por plasma acoplado inductivamente (ICP-OES). ICP-OES permite medir la intensidad de radiación emitida por átomos y iones excitados en un plasma. El plasma es una fuente de excitación que permite analizar una amplia gama de concentraciones con precisión. Los elementos son introducidos en el plasma donde se descomponen, ionizan y emiten radiación a longitudes de onda características que pueden ser medidas para identificar los elementos presentes.

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Espectrometría ICP-OES: Análisis Elemental

El documento describe la técnica de espectrofotometría de emisión atómica por plasma acoplado inductivamente (ICP-OES). ICP-OES permite medir la intensidad de radiación emitida por átomos y iones excitados en un plasma. El plasma es una fuente de excitación que permite analizar una amplia gama de concentraciones con precisión. Los elementos son introducidos en el plasma donde se descomponen, ionizan y emiten radiación a longitudes de onda características que pueden ser medidas para identificar los elementos presentes.

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VISTA-PROICP

Simultaneously
- OES ICP-OES

Plasma Inductivamente Acoplado – Espectrometria de Emisión Óptica

Q.F.B. Gelasio Pérez Valverde


Varian S de R L de C V
México
Varian, Inc -Global Partners

Varian México
36 años en México
Varian Australia, Melbourne

1
Espectroscopía atómica: ¿Que
técnica empleo?
%

Elemental Molecular

Traza
Análisis Elemental

200 ICP-MS

150

ICP-OES
Precio $k

100

80 GF-AAS

40 Flama AA

100% 0.1 % ppm ppb ppt ppq


Análisis elemental

H He
Li Be B C N O F Ne
Na Mg Al Si P S Cl Ar
K Ca Sc Ti V Cr Mn Fe Co Ni Cu Zn Ga Ge As Se Br Kr
Rb Sr Y Zr Nb Mo Te Ru Rh Pd Ag Cd In Sn Sb Te I Xe
Cs Ba La Hf Ta W Re Os Ir Pt Au Hg Tl Pb Bi Po At Rn
Fr Ra Ac
Ce Pr Nd Pm Sm Eu Gd Tb Dy Ho Er Tm Yb Lu
Th Pa U Np Pu Am Cm Bk Cf Es Fm Md No Lw

Mejores límites de detección por ICP empleando la longitud de onda


primaria

Mejores Límites de detección para AAS

Límites de detección similares

No detectable
El espectro Electromagnético

Rayos cosmicos M.O OR

Rx U Vis IR
V

Longitud de onda

Energía
Historia de la Espectrofotometría

Luz solar Prisma

Isaac Newton descubrió el espectro solar a finales


del siglo XVII
Líneas de Fraunhofer

En 1802 Wollaston descubrió líneas obscuras en el espectro solar


Fraunhofer investigo éstas líneas en detalle

Fraunhofer dedujo que estas líneas obscuras observadas en el


espectro solar, eran debidas a la atmósfera absorbente
Experimento de Kirchhoff y
Bunsen
Fuente de luz
Lentes

Lentes

Sal en Varilla y
Superficie
Sobre la llama
blanca
Quemador

Líneas
obscuras
Prisma
Experimento de Kirchhoff y
Bunsen

Descubrimiento de
Sal en Varilla y Rb y Cs
sobreLlama Lentes

Superficie
Quemador blanca

Espectro
Prisma
de Emisión
Absorción vs Emisión

Líneas de
Absorción de
Fraunhofer

Cu Ba Na K
Líneas de
Emisión
Elementales

190 nm 900 nm

 Análisis cualitativo de elementos


Teoría de Bohr

El significado de los términos espectrales son explicados en la teoría de Bohr


 Establece que un átomo tiene un número de niveles de energía discretos relacionados
a los orbitales de los electrones
 Estos niveles de energía son los términos espectrales
 Cuando un electrón se encuentra en su orbital, ninguna energía electromagnética es
emitida, pero cuando un cambio en el orbital ocurre, otro nivel energético es alcanzado
y el exceso de energía es emitida en forma de radiación electromagnética.
 La longitud de onda es dada de acuerdo a la ley de Planck como:

E=h *  = h*c/


donde h = 6.623 10-27 erg s, es la frecuencia en s-1, c = 3 * 1010 cm/s es la velocidad de la luz y  es la
longitud de onda en cm.
Estado fundamental del átomo

Orbitales
Neutrones

Protones
Electrones
Absorción de energía por
átomos

Electrones de valencia
(exteriores)

Átomo en estado
“excitado”
h
Estado basal Energía
del átomo Absorbida
Diagrama de niveles de
energía
Transiciones electrónicas
e de energía
E4

E3
E2
5
E1
6

Eo
1 2 3 4

 Líneas de resonancia originadas del estado basal (E o)


Proceso de Absorción
atómica
Luz solar Atmósfera solar Transición de energía

E3

E2

E1

Eo
3 2 1 4 1 2 3 4
 Líneas de resonancia originadas del estado basal
Diagrama de nivel de energía para Pb

Transiciones de energía electrónica


e
E4

E3
E2
E1

Eo
202.2 217.0 261.4 283.3
Longitud de onda en nanómetros
Diagrama de absorción de energía

Excitación
E Ionización

}
E3
Estados
E2
Energía

Excitados
E1 c
b
a b c d
a
Eo estado basal
Diagrama de Emisión de Energía

Emisión
E  Ionización

}
E3
Estados
E2
Energía

Excitados
E1 c
b
a b c d
a
Eo Estado basal
Fuentes de Excitación

El plasma no es una llama


Cuarto estado de la materia
Nube de iones y electrones en equilibrio
o Aire / Acetileno 2 200oC
o Oxido Nitroso / Acetileno 2 900oC
o Plasma de argón 6 000 - 10 000ºK
Técnica analítica ICP-OES

Técnica analítica instrumental que se basa en la medición de la


intensidad de emisión de radiación producida por átomos y sus
iones en un plasma

Amplio intervalo analítico de trabajo


ppb - %
Interferencias
Espectrales, Físicas y de Ionización
Precisión
0.3 – 2 % Corto plazo
2-5 % Despues de 8 hrs
Rápido y fácil de usar
Espectrofotometría de Emisión Atómica –
Plasma por Inducción Acoplada

 Técnica analítica instrumental que se basa en la medición de la intensidad


de emisión de radiación producida por átomos y sus iones en un plasma

 Plasma: Nube de iones y electrones en equilibrio, carga neta = 0

 Los átomos son introducidos en fase líquida y vaporizados en el plasma.


En el plasma pasan del estado fundamental al estado excitado a diferentes
niveles de energía, cuando estos se relajan emiten radiación a longitudes
de onda específicas.
Proceso de descomposición en el plasma

MO+ M+ MX MX MXn M(H20)+ X-

Oxidos Iones Átomos Gas Sólido Líquido

Muestra
en forma
de
aerosol

Recombinación Ionización Atomización Vaporización


Zonas del plasma
Plasma
Plasma
Mecanísmo de excitación en ICP

Ar+ + Mo Aro + (M+)* +  E

 Ar+ y Aro = ion y atomo de Ar 15 ev


en estado fundamental
Y II 298.1 nm
Y II 317.3 nm
10 ev
 Mo y M+ = átomo en estado
fundamental y estado excitado Y II 317.9 nm
del ion del analito
5 ev
Y I 296.5 nm
Plasma y otros gases

Un plasma puede ser generado empleando los gases siguientes:


 Nitrógeno
 Helio
 Argón
 Mezclas Ar-O2
 Mezclas Ar-Aire

Mejores limites de detección encontrado con plasmas generados con Argón


Mayor numero de interferencias
Plasmas y otras fuentes

 La necesidad de realizar análisis multielemental de muestras líquidas y sólidas,


permitió el desarrollo de otras fuentes de energía para generar fuentes de
excitación que permitiera obtener mayores temperaturas.
 Un plasma puede generarse empleando diferentes fuentes de energía:
 DCP
Direct Current Plasma: Plasma Generado por corriente directa
 MCP
Microwave Coupled Plasma: Plasma generado por microondas
 ICP
Inductivily Coupled Plasma: Plasma generado por acoplamiento de RF
Historia de ICP-OES

 La historia comienza en 1884, con el desarrollo de anillos de descarga sin


electrodo de baja presión (vacio) por Hittorf y mas investigado por Thomson
entre 1891 y 1927.
 En 1940, el Ruso G.I. Babat realiza trabajos sobre la radiofrecuencia y es
reconocido como pionero en la generación de plasmas acoplados
Inductivamente.
 Babat encontró que mientras mas alta la frecuencia del generador, menor será
el consumo de energía y de poder requeridos para formar un plasma estable a
presión atmosférica.
Historia de ICP-OES (2)

 En 1961 Reed describio un ICP producido con un flujo de gas en un tubo


abierto a presión atmosférica.
 Visualizó el potencial del ICP para el análisis espectroquímico.
 A finales de los 60’s, se definió como una técnica comparable con AA debido a
su desempeño
 Los límites de detección fueron obtenidos en el orden de 0.1 a 10 ng/L en 1969
por Fassel y Dickinson
History of ICP-OES (3)

Nuevos diseños de antorchas fueron desarrollados a principios de los


70’s y el uso de espectrometros con lectores multicanal hicieron posible
el análisis simultáneo.

EL primer sistema comercialmente disponible fue desarrollado por Applied


Research laboratories (ARL) en 1975.

A mediados de los 80, la segunda generación de sistemas de ICP fueron


introducidos con control centralizado, empleando una PC o
microprocesadores internos
Instrumentación
Instrumentación

 Los componentes de un ICP-OES son los siguientes:

1. Sistema de atomización
2. Plasma o fuente de iones
3. Generador de radiofrecuencia
4. Monocromador o policromador
5. Detector
6. Sistema de registro
Sistema de Atomización
Instrumentación

Sistema de atomización

 Bomba peristaltica
 Transporta la muestra líquida hasta el nebulizador de manera constante evitando pulsaciones
 Nebulizador
 Genera un aerosol fino y deberá ser homogeneo (gotas menores a 10um)
 Cámara de atomización
 Mezcla el aerosol generado con Ar para transportarlo hacia la antorcha y elimina el excedente
 Antorcha
 Mantiene el plasma encendido y genera la emisión de radiación de los átomos
Sample Introduction Systems

Plasma

Presión del Nebulizador

Bomba Peristaltica

Spraychamber
/nebulizador
Sistema de atomización
Proceso de excitación de átomos

1. Desolvatación
2. Fusion de sólidos
3. Descomposición molecular en elementos (atomización)
4. Excitación y la ionización de átomos y sus iones
Bomba Peristáltica

Transporta la muestra hasta el nebulizador


Bomba Peristáltica

 Transporta la muestra al nebulizador


 La muestra debe ser transportada en forma constante
 Libre de pulsaciones (normalmente de 10 rodillos)
 De dos, tres o cuatro canales
 Adición de estándar interno
Nebulizador

 Neumáticos
 Concéntrico de vidrio
 Tipo K
 Tipo C

 Flujo cruzado
 V-grove

 Ultrasónico
Nebulizadores neumaticos

 Concéntrico de vidrio
Nebulizadores neumaticos

 Nebulizador V-groove
Nebulizador Ultrasónico
Instrumentación

 Cámara de atomizacíón
 La cámara de atomización tiene la función de transportar de manera eficiente el aerosol
formado por el nebulizador para:

 Reducir interferencias

 Mejorar la precisión

 Los nebulizadores no producen aerosoles homogeneos

 La cámara de atomización debe de ser capaz de remover gotas mayores a 10 um. (90 %
del aerosol formado es descargado)
Instrumentación

 Cámaras de atomización

 Scott o de doble paso


 Ciclonicas y conicas
 Sturman – Masters (Conica)

 Estas cámaras de atomización requieren desolvatar la muestra, la desolvatación se


aplica con sistemas de atomización muy eficientes y evita que el disolvente apague el
plasma, mejora límites de detección y afecta el número de densidad electrónes en el
plasma.
Cámaras de atomización

 Sturman - Masters
Cámaras de atomización
Cámaras de atomización
Antorchas

Alta estabilidad para orgánicos


Bajo costo de operación
Permanentemente alineada
Antorchas

Optional ceramic
Antorchas injector for HF and
desmontables
fusions
Narrow bore 0.8 mm i.d. injector for
organics
Adjustable injector height
Generador de RF
Generador de RF

Diseños de 40 MHz free running


 Rápida respuesta a cambios de impedancia
 Diseñado usando un modelo computacional
 Sin partes moviles para alta cofiabilidad
 Tubo de poder enfriado con aire
Alta eficiencia de acoplamiento
 Acoplamiento serial directo
 75-80% de eficiencia
 Control directo de poder
 Rápido calentamiento
Clasificación de sistemas
ICP-OES

1. Óptica
 Secuenciales (Tecnologia Monocromador)
 Simultáneos (Tecnologia Policromador)
2. Posición de la antorcha
 Radial Plasma
 Axial Plasma
3. Sistemas ópticos
 Aire
 Purga
4. Detectores
 PMT
 CTD
- CCD : Charged Coupled Deviced
- CID : Charged Injection Deviced
Sistemas secuenciales
ICP Secuencial

o Mejores condiciones de operación para cada longitud


de onda
o Sistemas de alta resolución (hasta de 0.004nm)
o Elección de correción de fondo
o Más económicos que los sistemas simultáneos de
ICP
Monocromador

Exit Slit
Detector

Plasma Grating

Entrance Slit
Monocromador

incident ray grating normal 0 Order

1st Order
2nd Order
3rd Order
  4th Order
ICP Secuencial
Sistemas simultáneos
Sistemas simultáneos (2)
Policromador

Prism
Detector
Policromador
Policromador

Consideraciones del policromador

• Selecciona todas las longitudes de onda definidas en el espectrómetro


• Deberá estar controlado térmicamente (30, 35 o 40 oC) para
estabilidad
• Diseño óptico Echelle que emplea ordenes de resolución de19 a 88
• Puede emplear prismas de CaF2
• Puede ser purgado con Ar o N2 para análisis por debajo de 190 nm.
• Control de pre-óptica para optimizar la posición de observación en el
plasma
Detector Detector
Detector CCD
CCD
The VistaChip Custom CCD Detector
 Full wavelength coverage
 Individually addressed arrays
 Individual pixel anti- blooming
protection
 Adaptive Integration
 Use alternate wavelengths to
extend linear dynamic range
and confirm results
 Trace and high matrix
elements determined
simultaneously

Varian patented design


ICP Simultáneos

o Características
o Rápidos: Más de 6 elementos por muestra
o Operación simple y fácil
o Desarrollo de métodos automatizados
o Puede no ser posible la optimización de
longitudes de onda
o Posición de la corrección de fondo puede
ser inflexible – PMT & old CCD
ICP-OES Simultáneos
Outline

 Diferentes modos de observación en ICP-OES


 Radial
 Axial
 Dual View
 Percepciones comunes en desempeño
 Nuevos desarrollos en diseños de ICP
 Una sola forma de observación puede ser usado para cubrir todos los criterios de analisis
 Desempeño de los sistemas de ICPOES
 Intervalo lineal amplio
 Eliminar interferencias
 Tolerancia a altos solidos
 Exactitud y precisión
Orientación de antorcha (Radial)
Radial Plasma
Central Channel

Viewing Volume
Fireball

Viewing Height

Work coil
Orientación de antorcha (Axial)
Axial Plasma

3 problemas presentes

• Auto absorción
• Interferencias
• Tolerancia a solidos
disueltos

Depth of field

Central Channel

Fireball Viewed volume


 Varian’s Cooled Cone Interface
•isolates cool plasma tail to
outside of cone
•allows uninterrupted ‘viewing’ of
the plasma
• uses only 2.25 L/min Ar

 Alternative
does not completely eliminate
cooler red zone (YO)
 requires 15-20 L/min of N2 or air
 high gas costs
 inconvenient if cylinders are used
Shear Gas Approach

 Removal of plasma tail is incomplete


 Some of the cooler red zone remains
 Central channel still viewed with interference
 Oxide interferences
 Self absorption
 Restricts linear dynamic range
 Reduced linear dynamic range
 Needs dual view
Axial Plasma
Challenges

 Overcoming effects of “cool” plasma tail


 Poorer dynamic range due to analyte self absorption
 Increased molecular interferences

 Solution – ‘remove’ the plasma tail – two options:


 Remove cooler plasma tail by inserting cone into plasma (Varian’s CCI)
 Blow the cooler plasma tail away (shear gas)
Dual View

 El modo DV es un plasma horizontal (axial)


Espejo con
movimiento que
provee la
observación
Radial
Radial vs Axial
Dual

 The DV is an axial plasma


Mirror M is movable and provides
radial viewing
M
Monocromador
ICP Secuencial

Exit Slit
Detector

Plasma Grating

Entrance Slit
Monocromador

incident ray grating normal 0 Order

1st Order
2nd Order
3rd Order
  4th Order
Importance of Resolution

 >16000 documented emission lines from 160-900 nm


 Most ICP lines of interest are in 190-450 nm region
 Good resolution helps to:
 avoid interferences from spectral overlaps
 improve detection limits
 develop methods for difficult samples
Liberty 4-Orders Grating

1st Order
? 450

900

2nd Order
? 225 450

3rd Order
? 150 300

4th Order
? 112 225
0o Grating Rotation 48o
Importance of Resolution

1st Order - 0.018 nm


Ti Ti 235.514
Sn 235.484

2nd Order - 0.009 nm


Ti Sn 235.484 Ti 235.514

3rd Order - 0.007 nm


Ti Ti 235.514
Sn 235.484
Importance of Resolution

As interference on Cd 2nd order - 0.009 nm

0.5 ppm Cd 228.802 nm


5 ppm As @ 228.812 nm

As interference on Cd 4th order - 0.006 nm

0.5 ppm Cd 228.802 nm

5 ppm As @ 228.812 nm
PC Selection of Detector

 2 PMT 뭩
 PC controlled R 928
Trialkyl

automatic change R 166 UH


over Solar Blind

 Solar blind Quartz opaque


< 155 nm
 low stray light and
155 nm 300 nm
order sorting
Performance Perceptions Axial vs Radial

 Self absorption
 Limits the linear dynamic range of axial ICP?
 Linear to 100 ppm?
 Molecular and Easily Ionizable Element interferences
 Limits sensitivity and accuracy
 High solids tolerance
 Typically up to 5% dissolved solids for axial ICP
 Lack of radial (vertical plasma) sensitivity
 Meets the US EPA drinking water detection limits for 19 of required 22 elements
 An ideal tool for routine analysis in specific industries
Radial DLs Similar For Organics

 Radial ICP often preferred for organics


 Using organic specific sample introduction components

Vista Radial Vista Axial


(µg/L) (µg/L)
Al 22 7
Cd 2 1
Cr 4 3.7
Cu 3 1.3
Fe 3 1
Mg 0.2 0.1
Pb 38 32
Si 12 4
Ti 1 1
V 4 4.3
Zn 2 1.3
Axial vs Radial
- How Do I Choose?

Ultimate Detection Limits? Yes Yes


No
> 10 % dissolved solids? Yes No
Yes

Radial Radial+USN Axial


Characteristics of elemental wavelengths

Hard Atomic I Soft Atomic I


Na 589.0
As 193. 74 K 766. 49
Zn 213.86 Pb 405
Cd 214.44 Al 396.15

LOW  HIGH 

Pb 220.35 Ba 485.40
Al 167.08 Ca 393.37

Hard Ionic II Soft Ionic II


PC Controlled RF Power
Soft line & Hard Line

Pb 220.353 nm
 PC controlled RF power in 3000
+ 1.3 kW
0.01 kW steps 10 ppm Pb
+ 1.1 kW
+ 0.9 kW

1000
220.330 wavelength (nm) 220.376

 Optimize each  for power Pb 405.783 nm


8000
+ 1.3 kW
 customize methods to 10 ppm Pb
+ 1.1 kW
sample types, ion and
+
atomic lines 0.9 kW

1000
405.726 wavelength (nm) 405.841

Hardware
RF Generator

Work coil

Torch compartment

Matching coil
Grid feedback
Main tank coil winding

RF Tube
DC In
Detectors

Advances in ICP Design


- CCD For Simultaneous ICP-OES (VISTA-Pro,MPX)

- PMT For Sequential ICP-OES (Liberty II)


A New Generation of CCD Detectors

 VistaChip CCD
 70,000 pixels
 Full wavelength coverage
 Pixels positioned in continuous arrays
exactly matching spectral image (IMAP)
 Duplex read out

15

O p tic a l S p e c tr o s c o p y In s tr u m e n ts v a r ia n
*

 Vista-MPX CCD
 1,129,000 pixels
 X, Y grid

 Full wavelength coverage

 Lower cost solution


Vista
Principles of Operation
Vista
Principles of Operation
Vista
Principles of Operation
Vista
Principles of Operation
Vista
Principles of Operation

 Multi-element solution used for initial  calibration


 Periodic recalibration may be required
 For each sample during rinse
 Dark current measured
 Ar peak tracking for improved  accuracy
 Electronic offset measured
Vista
Pixels per Peak

 Multiple pixels when peak broad


 Increase signal intensity for better sensitivity
 Use less pixels per peak for narrow or when interfered
 Reduces total signal, but also reduces background
 Software automatically interpolates 3 points per pixel for better peak
shape
Vista
Pixels per Peak
Vista
Pixels per Peak
Smart Signal Processing in Software
Adaptive Integration

K 404 nm at 2000 ppm

10 s

Pb 220 nm at 20 ppb
Background Correction
Liberty Series
Polynomial Plotted Background Correction

 Fits a polynomial curve to 6 points either side


 Fits a range of curves to the background data
 Allows a contingency for signal noise in the model
 Intelligently selects points and curve order until error
is minimized
 Background correction points collected during peak
scan
 no additional scan time needed
 reduces measurement time?by 30-50%
Polynomial Plotted Background Correction

points selected in groups of


rejected curves six until curve fit suits both
not suitable for sides of peak
both sides
Single Point Off-Peak BC
Liberty II

true bgd
polynominal

measured
Two Point Off-Peak BC
Liberty II

polynominal
Vista
Fitted Background Correction

 Default background correction is Fitted


 Similar in practice to Polynomial Plotted Background (PPB)
 Liberty has 60 data points
 Vista only has 21 data points
 Subtracts analyte model to determine background
 FACT
 IEC (inter-element correction)
Vista
Fitted Background Correction
Vista
FACT & IEC

IEC is Better FACT is Better


Vista
IEC Factor

IEC Factor = Interferent Int./ Analyte Int.

If IEC Factor = 0.00058,


Equiv.Analyte=IEC factor x Interfere.Conc
= 0.00058 x 100ppm
= 0.058ppm
Net Analyte Conc = Total Conc – 0.058ppm
Vista
FACT Spectral Deconvolution

 Fast Automated Curve-fitting Technique


 Uses a number of gaussian curves to accurately model analyte and
interferences
 Up to 3 interferences can be modelled
 Model is corrected for small [1/10 pixel] but significant drift
Vista
FACT Spectral Deconvolution
Vista
FACT Spectral Deconvolution

Spectrum of pure analyte [Cd]


Vista
FACT Spectral Deconvolution

Spectrum of pure As Interference


Vista
FACT Spectral Deconvolution

Spectrum of As/Cd
Vista
FACT Spectral Deconvolution

Resolved spectra using FACT


Sample Introduction System
New Design Sample Introduction Systems

 Traditional axial ICP torch designs


suffer from salting out in the
injector tube
 Leads to signal drift
 New axial torch design# extends
high dissolved solids performance
 New low-volume double pass
spraychambers
 New slurry nebulizers

# patent applied for


Sample Introduction Systems

 Transports the sample to the plasma excitation source.

 “Generate an aerosol of sample and insert it into the carrier gas and
inject it into the base of the toroidal plasma reproducibly without
destabilization of the plasma going to the plasma.”
Sample Introduction Systems

 The most common means of liquid sample introduction is to

1. Use a peristaltic pump to pump sample to the nebulizer

2. use a nebulizer to generate the aerosol

3. a spraychamber to transport the sample to the plasma


and to
remove the larger droplets to waste.

4. Plasma torch
Sample Introduction Systems

Plasma
Nebulizer pressure

Spraychamber
/nebulizer
Peristaltic pump
Sample Introduction Systems

 Peristaltic pump
 Transports the sample to the plasma excitation source.
 Two or three channels
 Sample flow rate to nebulizer
 Drainage from spraychamber
 For sample spiking
Sample Introduction Systems

 Peristaltic pump
 10 rollers to reduce pulsation

 Rotational speed settable by the user

 The flow of the liquid sample into a nebulizer is controlled by tubing fitted
on a peristaltic pump which rotates at user specified speeds.

 The speed of the pump and the physical size of the tubing regulates the
amount of sample that enters the nebulizer.
Sample Introduction Systems

 Nebulizer
 Generate the aerosol of sample and carrier gas

 Efficiency is critical to sensitivity and precision

 Gas and aerosol throughput is determined by operating pressure and the


area at the tip.

 Sample capillary can be blocked by particulate matter in the sample which


can affect flow rate and cause signal drift.
Sample Introduction Systems

 Nebulizer

 There are two basic types of pneumatic nebulizers

Concentric
V-groove
Sample Introduction Systems

 Sample solution is drawn through a central capillary


that is surrounded by an outer channel that a carrier
gas is fed through.

 The carrier gas forced through the outer channel,


passes by the end of the sample capillary,
lowering the pressure surrounding the tip of the
capillary extracting the sample.
Concentric Glass Nebulizer

 Rugged
 Permanently aligned
 Low sample volume consumption
 Wide variety available for optimal analysis
Sample Introduction Systems

 Sample is pumped through a 1 to 2 mm hole

 Carrier gas is fed through a second hole which is located close


to the sample output hole

 The sample and carrier gas holes are positioned so that the
output of each is aligned on the same axis in a V-shaped
trough

 The sample flows along a V-shaped channel where it is


captured by the venturi effect created by the carrier gas

 The carrier gas and sample combine to form


an aerosol
V-groove nebulizer

 High efficiency
nebulization
 improves
sensitivity

 Inert construction - suitable for HF


 Tolerant to high solids samples
 fusions, slurries
 Permanently aligned
Sample Introduction Systems

 Ultrasonic
 A typical ultrasonic nebulizer uses the vibration of a piezo-
electric transducer to form an aerosol.
Sample Introduction Systems

 Ultrasonic

 The sample flows over a glass plate fixed to the transducer


where the ultrasonic vibrations cause the aerosol to form.

 The carrier gas sweeps the sample aerosol into a heated tube
that is connected to a desolvator.

 The dried sample is then introduced into the plasma.


Sample Introduction Systems

 Argon Saturation Assembly

 Minimizes deposit formation in the Sample


Introduction System by humidifying argon
before it reaches the Nebulizer

 Nebulizer gas is bubbled through distilled


de-ionized water

 It must be used with the Sturman-Masters


spraychamber,
 Is recommended for the V-Groove
 Must not be used with organics
Sample Introduction Systems

 Spraychamber

 Main function is to remove the larger droplets created by the Nebulizer

 Only 1-5% of the sample reaches the plasma

 Also the spraychamber dampens any flow pulsations

 Two Types
Sturman-Masters
Glass Cyclonic
Sturman-Masters Spray Chamber

 Inert construction
 Fast washout
 HF resistant

 Double-pass action eliminates large droplets


minimizing interferences
 high reproducibility

 Quick change-over of nebulizers

 Inner surface is sandblasted to ensure good wetting and


drainage
Do NOT touch this surface
Glass Cyclonic Spray Chamber

 High efficiency cyclonic action


 ideal for axial plasma

 Cyclonic action improves sensitivity

 Fast washout for high productivity

 Quick nebulizer change over

 Compatible with most nebulizers


Demountable Torch

 Removable injector (inner) tube


 Allows different tube diameters
 Solutions containing HF
ICP-OES accessories

 Autosampler
 SPS-5
Up to 10 standards plus
400 samples at one time,
for 10 mL tubes.
 Diluter
 on-line over-range dilution.
ICP-OES accessories

 Organics Kit
 analysis of volatile organic solvents such
as gasoline.
Includes cooled spray chamber, torch and
tubing necessary for organics analysis
 Oxygen Gas
 allows the introduction of oxygen to the
auxiliary gas to eliminate carbon formation
and reduce molecular band structures
when analysing organic solvents
 Accessory Purging
 gas module for introducing a nitrogen
purge to the monochromator and pre-
optics to extend the working wavelength
range down to 175 nm
ICP-OES accessories

 Vapor Generation
Determination of
Hg, As, Se, Sb, Te, Bi and Sn
at µg/L concentrations
High Solids Analysis
5% NaCl Solids Performance

8
As 188.980
7
Ba 455.403
6
Co 238.892
5
Cr 267.716
ppm

4 Mn 257.610
3 Se 196.026
2 Sr 407.771
1 Zn 213.857
0 113
129

145
161

177
193
16

32
48

64
81
97
0

Time (mins)
High Solids Analysis with High Solids Torch
25% NaCl over 24 hours

1.8

1.6

1.4
Concentration (ppm)

1.2

0.8

0.6

0.4

0.2

0:02
0:53
1:45
2:37
3:29
4:21
5:13
6:05
6:57
7:49
8:42
9:34
12:09
13:00
13:50
14:40
15:31
16:22
17:12
18:03
18:54
19:45
20:36
21:28
22:19
23:10

10:27
11:19
Tim e

Ba 233.527 Ba 455.403 Cd 214.439 Co 228.615 Fe 259.940 Mg 280.270 Mn 257.610


Mo 202.032 Pb 220.353 Zn 206.200

# patent applied for


What is Linear Dynamic Range?

 The analytical range over which results can be read back accurately

 Vertical, radially viewed plasma


 Detection limits to 10 ppb
 Goes to 10,000+ ppm

 New axial viewing system (Cooled Cone Interface)


 Detection limits to 1 ppb
 Upper LDR to 1000-2000 ppm

 LDR is wavelength dependent


 Choose alternate wavelengths and combine them (MultiCal) for total LDR
Results
Linear Range Analysis
Min. Max. Conc.
Element Curve Conc. (mg/L)
Type (mg/L)
Ag 328.068 Linear 0 2
Al 236.705 Linear 200 2000
Al 308.215 Linear 0 200
 Determine maximum
As 188.980 Linear 0 100 possible
B 249.772 Linear 0 100
concentration by
Ba 585.367 Linear 0 100
Be 313.042 Linear 0 10
wavelength
(alternates -
234.861 and
 Used MultiCal for Ca,
249.473 nm) Al, K, Na
Ca 370.602 Linear 200 2000
Ca 315.887 Linear 0 200
Cd 226.502 Linear 0 10
Co 228.615 Linear 0 100
(alternate -
238.892 nm)
Cr 267.716 Linear 0 100
Cu 327.395 Linear 0 100
Results
Linear Range Analysis
Min. Max. Conc.
Element Curve Conc. (mg/L)
Type (mg/L)
Fe 259.940 Linear 100 2000
Fe 258.258 Linear 0 100
(alternate 258.588)
K 404.721 Linear 100 2000
(alternate - 693.876)
K 766.491 Linear 0 100
Mg 383.829 Linear 0 2000
Mn 261.020 Linear 0 1000
Na 330.237 Linear 50 2000
Na 589.592 Linear 0 100
Ni 231.604 Linear 0 100
Pb 220.353 Linear 0 50
Pb 283.305 Linear 0 100
Sb 206.834 Linear 0 10
Se 196.026 Linear 0 10
Tl 190.794 Linear 0 10
V 311.837 Linear 0 100
(alternate 292.401)
Zn 334.502 Linear 0 100
MultiCal Example
CCD Allows Combination of Multiple Wavelengths
Varian Advantage #3
MultiCal in action
Al,Fe,Ni,Co,Cr etc 2ppb in 4% KOH
Using High Solid Torch, USN
Ca, Mg 3ppb in 20% NaCl
Using High Solid Torch
Long Term Stabilization
Analysis of NIST SRM 1643D
Trace elements in Water by Vista MPX AX

Element Wavelength Measured Certified


nm ug/L ug/L

Ag 328.068 1.17 + 0.31 1.27 + 0.057


As 188.979 55.98 + 0.99 56.02 + 0.73
B 182.577 143.7 + 3.8 144.8 + 5.2
Be 234.861 12.56 + 0.27 12.53 + 0.28
Cd 214.439 6.30 + 0.12 6.47 + 0.37
Co 238.892 25.4 + 1.8 25.0 + 0.59
Cu 213.598 20.04 + 1.4 20.5 + 3.8
Fe 259.940 90.2 + 1.5 91.2 + 3.9
Mo 202.030 108.9 + 0.6 112.9 + 1.7
Ni 231.604 59.4 + 1.7 58.1 + 2.7
Pb 220.353 18.28 + 1.27 18.15 + 0.64
Se 196.026 12.30 + 1.26 11.43 + 0.17
Tl 190.794 7.47 + 0.85 7.28 + 0.25
Analysis of NIST SRM 1643D - trace elements in water
Major elements by Vista MPX AX

Element Measured Certified


mg/L mg/L

Ca 318.127 31.23 + 1.00 31.04 + 0.50


K 766.491 2.47 + 0.11 2.356 + 0.035
Mg 279.800 8.28 + 0.18 7.989 + 0.035
Na 589.592 22.56 + 0.56 22.07 + 0.64
Si 251.611 2.74 + 0.11 (2.7)
Analysis of CRM Soil-A
Trace and Major elements
Element Measured Certified*
mg/L mg/L
As 188.979 0.17 0.15
Ba 413.064 4.2 4.5
Cd 214.439 0.0031 0.003
Cu 224.700 0.28 0.3
Ni 231.604 0.24 0.3
Pb 220.353 0.31 0.4
Sb 206.833 0.04 0.03
V 292.401 0.09 0.1
Zn 213.857 0.98 1
Ca 219.779 340 350
Fe 272.623 198 200
K 404.721 210 200
Na 330.237 69.3 70
Mg 279.800 67 65

* High Purity Standard Co.


Analysis of River Sediment CRM-RS-A
Trace and Major elements
Element Measured Certified*
mg/L mg/L

As 188.980 0.62 0.6


Ba 413.064 0.48 0.5
Cd 214.439 0.09 0.1
Cu 213.598 1.14 1.1
Ni 231.604 0.4 0.5
Pb 220.353 6.7 7.0
Zn 334.505 15.5 15
Cr266.342 289 300
Ca 219.779 290 300
Fe 224.886 1209 1200
K 404.721 128 125
Na 330.237 58 55
Mg 279.800 76 75

*High Purity Standard Co.


Conclusions

 Radial ICP suited to several specific applications


 True vertical plasma
 Gives great high salts and organics/petroleum performance
 Historical limitations of axial ICP now overcome
 New generation CCD detectors
 Smarter software
 Cooled Cone Interface
 High Solids sample introduction system design
 Providing a new standard in axial ICP performance
 Linear dynamic range up to 6 orders of magnitude
 Minimization of interferences demonstrated by matrix element recoveries
 High dissolved solids tolerance 25% NaCl for 24 hours
Consumable Packages

Consumable Packages
 FOUR consumable packages available at SPECIAL price
 Available only with Vista instrument order only
 $US 9000 worth of consumables at 20-30% discount

 Extenda Valu-Pack – Radial/Axial


 contains consumables that are supplied as standard with the system
 provides 2 years supply of consumables

 Matrix Valu-Pack – Radial/Axial


 contains spares that are NOT supplied as standard
 provides a flexible system for differing matrices
 organics, high salt solutions
1. Extenda Valu-Pack
Vista Radial

 Extenda Valu-Pack – Radial


 $US 9000 worth of consumables at $US 6250
 30% saving

 Contains
 4 x standard radial torch
 2 x v-groove nebulizers
 2 x tubing and o-rings kits
 1 x Sturman-Masters spraychamber
 1 x torch bonnet
 pkt 4 ‘GazFit’ connectors
1. Extenda Valu-Pack
Vista Axial

 Extenda Valu-Pack – Axial


 $US 9000 worth of consumables at $US 6750
 20% Saving

 Contains
 7 x standard axial torches
 2 x tubing and o-ring kits
 1 x cyclonic spraychamber
 1 x twister spraychamber and holder
 1 x seaspray nebulizer
 1 x pre-optics, nickel cone
 1 x pkt ‘EzyFit’ and ‘ GazFit’ connectors
3. Matrix Valu-Pack
Vista Radial

 Matrix Valu-Pack – Radial


 $US 9000 worth of consumables at $US 6750
 20% Saving

 Contains
 Twister and Sturman-Masters spraychambers (+ holder)
 V-groove and slurry nebulizers
 Standard radial and semi-demountable torches
 0.8, 1.8mm quartz and 1.8mm id. alumina injector tubes
 torch bonnet
 pkt ‘GazFit’ connectors
4. Matrix Valu-Pack
Vista Axial

 Matrix Valu-Pack – Axial


 $US 9000 worth of consumables at $US 6250
 30% Saving

 Contains
 Twister and Sturman-Masters spraychambers (+ holders)
 V-groove nebulizer
 High dissolved solids and semi-demountable torches
 0.8, 1.8mm quartz and 1.8mm id. alumina injector tubes
 Tubing and o-ring kits
 ‘GazFit’ and ‘EzyFit’ connectors
 Varian ICP 정기 교육에 오신걸 환영합니다 .

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