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Introducción a la Espectroscopía XPS

La espectroscopía fotoelectrónica de rayos X (XPS) es una técnica sensible a la superficie de hasta 10 nm que permite la identificación y cuantificación elemental de los materiales, así como información sobre su entorno molecular, estados de oxidación y enlaces. La técnica implica el bombardeo de la superficie con rayos X y la detección de los fotoelectrones emitidos para determinar la composición química.

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WILFREDO ROMAN PAUCAR
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Introducción a la Espectroscopía XPS

La espectroscopía fotoelectrónica de rayos X (XPS) es una técnica sensible a la superficie de hasta 10 nm que permite la identificación y cuantificación elemental de los materiales, así como información sobre su entorno molecular, estados de oxidación y enlaces. La técnica implica el bombardeo de la superficie con rayos X y la detección de los fotoelectrones emitidos para determinar la composición química.

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Espectroscopía fotoelectrónica de rayos X

(XPS)

Integrantes:
-Miguel Angel Veliz Hinostroza
-Richard David Chávez Najarro
-Wilfredo Román Paucar

Profesor:
-Juan Carlos Morales Gomero
Descripción de la técnica

• Sensible a la superficie de hasta 10 nm

• Identificación y cuantificación elemental (excepto H, He)

• Información acerca del entorno molecular, estados de oxidación, átomos enlazantes, etc.

• Detecta concentraciones ≤ 0.1 %

2
Principio básico

Figura 1. Efecto fotoeléctrico en un


átomo aislado

Figura 2. Diagrama de energía de


un material sólido

3
Figura 3. Espectro de fotoemisión del calcio

4
Especificidad y sensibilidad de la XPS

Figura 4 . XPS sensible a la


superficie.

Figura 5. Fotoemisión del electrón


en la superficie del material

5
Camino medio libre inelástico (λ)

Figura 5 . Propagación del


fotoelectrón a través del sólido

Para aluminio K α  λ está entre 1 y 4 nm

Figura 6. Espectro de fotoemisión


del NiO

6
Instrumentación de la XPS

Figura 8. .Diagrama esquemático de la


Figura 7. Equipo para análisis técnica XPS
químico de superficies XPS

7
Fuentes de rayos X

• Fuentes radioactivas
• Tubo de rayos X con ánodo doble de Mg/Al
• Fuente monocromática
• Fuente de radiación de sincrotrón

8
Analizadores de fotoelectrones

• Analizador hemisférico concéntrico

Figura 9. Representación esquemática de un analizador


hemisférico concéntrico
9
Analizadores de fotoelectrones

• Analizador de espejo cilíndrico

Figura 10. Diagrama esquemático de un analizador de


espejo cilíndrico (CMA)
10
Detector de fotoelectrones

• Multiplicador de electrones de canal

Figura 11. El diagrama esquemático de un detector de


electrones Amptek que usa CEM
11
Referencias
● Espectroscopía Fotoelectrónica de Rayos X. (n.d.). Retrieved July 17, 2022, from
https://www.scai.uma.es/areas/aqcm/xps/xps.html
● Lartundo. (2021). (6) APLICACIONES DE LA TÉCNICA DE XPS EN EL ANÁLISIS DE POLVOS Y MATERIALES GRANULARES
- YouTube. https://www.youtube.com/watch?v=Ipfh6UsXRmw
● uco. (n.d.). Espectroscopía Fotoelectrónica de rayos X (XPS) . Retrieved July 17, 2022, from
http://www.uco.es/~iq2sagrl/TranspTema8.pdf

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Gracias por
su atención!

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