UNIVERSIDAD AUTÓNOMA DE NUEVO LEÓN
FACULTAD DE INGENIERÍA MECÁNICA Y ELÉCTRICA
Caracterización De Materiales.
A2 – Cuestionario de técnicas espectroscópicas
Nombre del Alumno: Brian Jared Reyna García
Matrícula: 1946662
Carrera: IMT
Hora: V3 Brigada: 003
Catedrático: Dr. Marco Antonio Garza Navarro
Ciudad Universitaria, San Nicolás de los Garza
08/ Abril /2025
DESARROLLO
1.- IDENTIFICACIÓN DE LOS ESPECTRO INFRARROJO
Región de los 3700–3000 cm⁻¹:
• Hay una banda ancha e intensa alrededor de 3300 cm⁻¹, con forma extendida y
suave: característica del grupo -OH (alcohol o ácido carboxílico).
Región de los 1750 cm⁻¹:
• Hay una señal intensa y definida justo cerca de 1710 cm⁻¹, característica de una
vibración de estiramiento C=O (carbonilo).
En conclusion:
• Observación de la banda O-H (ancha en ~3300 cm⁻¹): indica la presencia de un
grupo hidroxilo.
• Identificación de la banda C=O (~1710 cm⁻¹): señala un grupo carbonilo.
• Presencia simultánea de O-H + C=O: diagnóstico claro de un grupo ácido carboxílico.
• Comparación con los compuestos dados: solo el ácido propanoico contiene ambos
grupos funcionales.
2.- IDENTIFICACIÓN DE LOS ESPECTRO INFRARROJO
Región de 3200–3600 cm⁻¹:
• Hay una banda ancha y no muy intensa centrada cerca de 3300 cm⁻¹: esto indica la
presencia de un grupo -OH, típico de un alcohol.
• NO se observan picos dobles o finos que correspondan a -NH o -NH₂.
Región de 1650–1750 cm⁻¹:
• No se observa una señal fuerte y aguda en ~1715 cm⁻¹, la cual indicaría un grupo
C=O (carbonilo).
Región de 1600–1680 cm⁻¹:
• Hay una señal moderada en esa zona: podría indicar la presencia de un doble enlace
C=C, como los que tienen los alquenos o compuestos aromáticos.
En conclusion:
1. Identifiqué la banda ancha en ~3300 cm⁻¹, típica del grupo O–H: sugiere un alcohol.
2. Verifiqué la ausencia de banda C=O (~1715 cm⁻¹): descartando cetonas.
3. Observé una señal en ~1650 cm⁻¹ : evidencia de doble enlace C=C.
4. Comparé los compuestos disponibles y solo uno contiene ambos grupos: el alcohol
con doble enlace (1-ciclohexen-1-ol).
3.-
Supongamos que el compuesto es un alqueno (por ejemplo, etileno, C=C). Su diagrama de
orbitales moleculares (OM) sería:
• Orbitales de Enlace (σ y π):
σ (C-C): Más bajo en energía.
π (C=C): Orbital enlazante (HOMO en sistemas simples).
• Cromóforo posible:
Grupo π → π*: Alquenos (C=C), aromáticos (benzene), o carbonilos (C=O).
Absorción a 185 nm: Típico de transiciones π → π* en alquenos no conjugados (ej. etileno
absorbe ~165–200 nm).
4.-
Es un dieno conjugado (ejemplo: butadieno) o un sistema aromático como el naftaleno. Su
diagrama de orbitales moleculares (OM) sería:
1. π → π* (ψ₂ → ψ₃*): Corresponde a ~219 nm (mayor energía).
2. π → π* (ψ₁ → ψ₃* o ψ₂ → ψ₄*): Corresponde a ~324 nm (menor energía, requiere
menos energía).
Transiciones:
Bandas B (219 nm): Transición π → π* de alta energía.
Bandas A (324 nm): Transición π → π* de baja energía (mayor deslocalización).
Identificación:
• 219 nm:
Transición π → π* de alta energía (cromóforo: dobles enlaces conjugados o anillos aromáticos
simples).
• 324 nm:
Transición π → π* de baja energía (típica de sistemas extendidos como dienos conjugados,
naftaleno o grupos carbonilo conjugados).
Cromóforos posibles:
Dieno conjugado (C=C-C=C).
Naftaleno (dos anillos bencénicos fusionados).
Grupo carbonilo conjugado (C=O en un sistema π extendido).
1. Energías de transición:
219 nm: 9.08×10−19 J9.08×10−19J (5.67 eV).
324 nm: 6.14×10−19 J6.14×10−19J (3.83 eV).
2. Cromóforos: Sistema π-conjugado (dieno, aromático extendido o carbonilo conjugado).
5.-
Mecanismo de Generación de Fotoelectrones
Cuando una muestra es irradiada con fotones de rayos X (alta energía), ocurre el efecto
fotoeléctrico, que consta de las siguientes etapas:
Absorción del fotón X:
• Los fotones X (con energía hνhν) interactúan con electrones internos de los átomos de la
muestra (ej. electrones de las capas 1s, 2s, 2p, etc.).
• La energía del fotón debe ser mayor que la energía de enlace (EbEb) del electrón en su
orbital atómico.
Emisión del fotoelectrón:
• l electrón absorbe la energía del fotón y es expulsado del átomo si hν>Ebhν>Eb.
• La energía cinética (EkEk) del fotoelectrón emitido se calcula como:
Ek=hν−Eb−ϕEk=hν−Eb−ϕ
Donde ϕϕ es la función trabajo del material (energía necesaria para liberar el electrón de la
superficie).
Relajación del átomo:
• El átomo queda en un estado excitado (con un hueco en la capa interna).
• Este hueco puede ser llenado por un electrón de una capa superior, emitiendo:
Rayos X característicos (fluorescencia).
Electrones Auger (emisión de otro electrón).
Información Obtenida con Técnicas Espectroscópicas (XPS)
Al medir la energía de los fotoelectrones emitidos (con un espectrómetro), se obtiene información
detallada de la muestra:
• Composición elemental:
Cada elemento tiene energías de enlace (EbEb) características.
Dando el caso de: El carbono (C 1s) tiene Eb≈285 eVEb≈285eV. Se identifica la presencia de
elementos y su concentración relativa.
• Estado químico y oxidación:
Pequeños cambios en EbEb revelan el entorno químico del átomo.
Dando el caso de: El carbono en C-C (285 eV) vs. C=O (288–289 eV). Permite distinguir entre
iones (Fe²⁺ vs. Fe³⁺) o grupos funcionales.
• Estructura electrónica:
La forma y posición de los picos en el espectro reflejan hibridaciones (sp², sp³) o interacciones
moleculares.
• Profundidad de análisis:
Los fotoelectrones solo provienen de las primeras capas atómicas (1–10 nm), lo que hace al XPS
una técnica superficial.
• Información obtenida:
Composición elemental.
Estados de oxidación y enlaces químicos.
Estructura electrónica y propiedades superficiales.
6.-
Mecanismo de Generación de Rayos X Característicos
Cuando una muestra es irradiada con electrones de alta energía cinética (típicamente en un
microscopio electrónico o un tubo de rayos X), ocurren los siguientes procesos:
• Excitación del átomo:
- Los electrones incidentes (con energía en el rango de 1–30 keV) impactan contra los
electrones internos de los átomos de la muestra (ej. capa K, L, M).
- Si la energía del electrón incidente supera la energía de enlace (EbEb) del electrón orbital,
este es expulsado, dejando un hueco en la capa interna.
• Relajación del átomo:
- El hueco generado es llenado por un electrón de una capa superior (ej. un electrón L → K).
- La diferencia de energía entre los niveles se libera como:
Fotón de rayos X característico (emisión de fluorescencia).
Electrón Auger (emisión de un electrón secundario, compitiendo con la emisión de rayos
X).
• Energía de los rayos X característicos:
- La energía del fotón emitido (EXEX) corresponde a la diferencia entre los niveles
atómicos:
-
EX=Enivel superior−Enivel inferiorEX=Enivel superior−Enivel inferior
- Ejemplo: Para la línea Kα (transición L → K), la energía es específica de cada elemento
(ej. Cu Kα ≈ 8.04 keV).
Fenómenos Competitivos
Durante la irradiación con electrones, no todos los huecos generados producen rayos X. Los
principales fenómenos competidores son:
• Emisión Auger:
- En lugar de emitir un fotón X, el átomo transfiere la energía a otro electrón (ej. de la capa
L), que es expulsado como electrón Auger.
- Dominante en elementos ligeros (Z < 30).
• Radiación de frenado (Bremsstrahlung):
- Los electrones incidentes son desacelerados por el campo eléctrico de los núcleos atómicos,
emitiendo un espectro continuo de rayos X (no característico).
Información Obtenida con Técnicas Espectroscópicas (EDS o WDS)
Al medir la energía de los rayos X característicos (con espectroscopía de dispersión de
energía, EDS, o de longitud de onda, WDS), se obtiene:
• Composición elemental cualitativa y cuantitativa:
- Cada elemento emite rayos X con energías únicas (ej. Fe Kα ≈ 6.40 keV).
- La intensidad de los picos permite cuantificar la concentración de elementos.
-
• Distribución espacial (mapeo elemental):
- En microscopía electrónica (SEM/TEM), se puede escanear la muestra para obtener mapas
de distribución de elementos.
-
• Estado químico (en casos específicos):
- Pequeños desplazamientos en la energía de los rayos X pueden indicar cambios en el estado
de oxidación (ej. Fe²⁺ vs. Fe³⁺).
REFERENCIAS:
(1) Briggs, D. & Grant, J. T. (Eds.). (2003).
Surface Analysis by Auger and X-ray Photoelectron Spectroscopy.
IM Publications.
Explica el efecto fotoeléctrico, emisión Auger y aplicaciones de XPS.
(2) Watts, J. F. & Wolstenholme, J. (2003).
An Introduction to Surface Analysis by XPS and AES.
Wiley.
Detalla mecanismos de emisión de fotoelectrones y competencia con Auger.
(3) NIST X-ray Photoelectron Spectroscopy Database:
https://srdata.nist.gov/xps/
Energías de enlace estándar para elementos y compuestos.
(4) Universidad de Warwick (XPS Theory):
https://warwick.ac.uk/fac/sci/physics/research/condensedmatt/xps/theory/
Explicación interactiva del proceso fotoeléctrico.
(5) Goldstein, J. et al. (2017).
Scanning Electron Microscopy and X-ray Microanalysis.
Springer.
Cubre generación de rayos X, EDS, WDS y fenómenos competidores (Auger,
Bremsstrahlung).
(6) Reed, S. J. B. (2005).
Electron Microprobe Analysis and Scanning Electron Microscopy in Geology.
Cambridge University Press.
Explica transiciones atómicas y líneas características (Kα, Lα).
(7) Microscopy Society of America (EDS Tutorial):
https://www.microscopy.org/
Fundamentos de espectroscopía de rayos X en microscopía electrónica.
(8) NIST X-ray Transition Energies Database:
https://physics.nist.gov/PhysRefData/XrayTrans/Html/search.html
Energías de transición para líneas Kα, Lα, etc.
(9) Atkins, P. & de Paula, J. (2017).
Physical Chemistry.
Oxford University Press.
Capítulos sobre espectroscopía UV-Vis y transiciones π→π.*
(10) Fleming, I. (2010).
Molecular Orbitals and Organic Chemical Reactions.
Wiley.
Diagramas de OM y cromóforos conjugados.
