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Calidad Total

El documento presenta un análisis sobre medidas de tendencia central y dispersión en la producción de teléfonos inteligentes, incluyendo el cálculo de varianza y desviación estándar para evaluar la variabilidad en la producción. Se utilizan herramientas como el Diagrama de Pareto y el Diagrama Causa-Efecto para identificar y analizar defectos en el proceso de producción. Además, se estima la probabilidad de que un lote tenga más de 10 defectos y se calcula el índice de capacidad del proceso (Cpk), indicando que el proceso es capaz de cumplir con las especificaciones de calidad.

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El documento presenta un análisis sobre medidas de tendencia central y dispersión en la producción de teléfonos inteligentes, incluyendo el cálculo de varianza y desviación estándar para evaluar la variabilidad en la producción. Se utilizan herramientas como el Diagrama de Pareto y el Diagrama Causa-Efecto para identificar y analizar defectos en el proceso de producción. Además, se estima la probabilidad de que un lote tenga más de 10 defectos y se calcula el índice de capacidad del proceso (Cpk), indicando que el proceso es capaz de cumplir con las especificaciones de calidad.

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Entregable 1

ESTUDIANTE: ARAPA ARAPA DIUEL ANTHONY

ID: 1460312

CARRERA: MANTENIMIENTO DE MAQUINARIA


PESADA

INSTRUCTOR: BRUNO CESAR YAURI LEON


ENTRGABLE 2
.

Medidas de Tendencia Central y Medidas de Dispersión:


1. Calcule la varianza y la desviación estándar del número de defectos por lote. ¿Qué
significan estos valores en términos de variabilidad en la producción

Medidas de Tendencia Central y Medidas de Dispersión: 1. La varianza es una medida


de dispersión que indica cuánto varían los datos respecto a la media. La desviación
estándar es la raíz cuadrada de la varianza y representa la dispersión promedio
de los datos. Calcular estos valores para el número de defectos por lote ayudará a
entender la variabilidad en la producción y a identificar posibles áreas de mejora.
Herramientas Lógicas para el Mejoramiento de la Calidad.
Herramientas Lógicas para el Mejoramiento de la Calidad:

2. Utilice un Diagrama de Pareto para identificar las principales fuentes de defectos en la


producción de teléfonos inteligentes.
Un diagrama de Pareto es una herramienta que permite identificar y priorizar las
principales fuentes de defectos en la producción, ayudando a centrar los esfuerzos
de mejora en los problemas más Calidad Total críticos. Al analizar los datos de
producción utilizando un diagrama de Pareto, Tech Electro puede identificar las
causas más comunes de los defectos y tomar medidas correctivas efectivas.

3. Diseñe un Diagrama Causa-Efecto para analizar las posibles causas de los defectos en
los teléfonos inteligentes
Un diagrama causa-efecto, también conocido como diagrama de Ishikawa o espina de
pescado, es una herramienta utilizada para identificar y analizar las posibles causas de
un problema en un proceso. Al diseñar un diagrama causa-efecto para analizar las
posibles causas de los defectos en los teléfonos inteligentes, TechElectro puede
identificar los factores que están contribuyendo a los problemas de calidad y tomar
medidas correctivas para mejorar la producción.
La Distribución Normal:
4. Suponga que el número de defectos sigue una distribución normal. Estime la
probabilidad de que un lote tenga más de 10 defectos.
Para estimar la probabilidad de que un lote tenga más de 10 defectos asumiendo una
distribución normal, se puede utilizar la media y la desviación estándar de los datos para
calcular esta probabilidad. Esto puede ayudar a entender cuán común es que se
produzcan lotes con un alto número de defectos y a planificar medidas preventivas para
evitar esta situación en el futuro
P(X > 10) = 1 - Φ((10 - μ) / σ) Donde:• Φ(z) es la función de distribución acumulada de la
distribución normal estándar.• σ es la desviación estándar del número de defectos
.
5 Suponiendo que la desviación estándar (σ) es de 2: P(X > 10) = 1 - Φ((10 - 10) / 2) = 1 - 0.5 =
0.5En este caso, la probabilidad exacta de que un lote tenga más de 10 defectos sería del 50%.

Calcule el índice de capacidad del proceso (Cpk) para evaluar si el proceso de producción cumple
con las especificaciones de calidad establecidas.

Para calcular el Cpk se utiliza la siguiente fórmula:Cpk = |μ - 10| / (3 * σ) Suponiendo que:•


Se tienen datos de 10 lotes.•

La media (μ) del número de defectos es de 5. •}

La desviación estándar (σ) se calcula como 2.Si no se conocen los límites de especificación:
Cpk = |5 - 10| / (3 * 2) = 1.67 En este caso, el valor de Cpk (1.67) indica que el proceso es capaz de
producir productos dentro de las especificaciones con un alto grado de confiabilidad

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