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Capacitor

El experimento estudió la capacitancia de capacitores mediante configuraciones en serie, paralelo y mixtas, así como el efecto del área de las placas, la distancia entre ellas y el material dieléctrico. Los resultados mostraron que la capacitancia es directamente proporcional al área y a la constante dieléctrica, e inversamente proporcional a la separación entre placas. Se realizaron mediciones experimentales que se compararon con valores teóricos, mostrando un bajo porcentaje de error.

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Capacitor

El experimento estudió la capacitancia de capacitores mediante configuraciones en serie, paralelo y mixtas, así como el efecto del área de las placas, la distancia entre ellas y el material dieléctrico. Los resultados mostraron que la capacitancia es directamente proporcional al área y a la constante dieléctrica, e inversamente proporcional a la separación entre placas. Se realizaron mediciones experimentales que se compararon con valores teóricos, mostrando un bajo porcentaje de error.

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PROGRAMA DE FÍSICA

FÍSICA ELECTROMAGNÉTICA – CÓDIGO 21142

Experimento No 06: Combinación de capacitores y capacitor de placas


planas y paralelas.

Victor Morales, Valerie Obregón, Daniela Moreno, Tomás Torres,


Camila Rodríguez.
Profesor: Alvaro Pérez T. 23-09-2024
Laboratorio de Física Electromagnética, Universidad Del Atlántico, Barranquilla

1.​ RESUMEN
En esta experiencia se estudió a los capacitores y su capacitancia por
medio de dos partes. En la primera, se midieron las capacitancias de
capacitores individuales y se crearon circuitos en serie, paralelo y mixto.
En la segunda parte, se evaluó el efecto del área de las placas, la
distancia entre ellas y el material dieléctrico en la capacitancia. Los
resultados se compararon con la teoría para sacar conclusiones sobre la
influencia de estos factores en el valor de la capacitancia. Los resultados
obtenidos mostraron que la capacitancia varía directamente proporcional
al área y a la constante dieléctrica e inversamente proporcional a la
separación entre placas.
2.​ INTRODUCCIÓN
Reconocer la utilidad de los condensadores en el estudio y la
experimentación con circuitos eléctricos implica que se obtenga un mejor
desempeño al trabajar con ellos. Al ser el condensador un dispositivo
que almacena y libera energía eléctrica al ser sometido a una diferencia
de potencial, este actúa como un elemento clave en la regulación y
estabilidad de los circuitos, ya que puede liberar rápidamente la energía
almacenada cuando se requiere, lo que lo convierte en vital para
aplicaciones como el filtrado de señales, la estabilización de voltajes y la
protección contra picos de corriente. Además, debido a su capacidad de
cargar y descargar rápido en función del voltaje aplicado lo hace útil en
funciones de temporización y acoplamiento en sistemas electrónicos.
Cada condensador está formado por dos placas conductoras que se
colocan una frente a la otra, el medio que los separa se llama dieléctrico
y determina el valor final de la capacitancia, junto a otros parámetros del
condensador como puede ser su tamaño. Así mismo, dentro de un
circuito podemos tener varios capacitores interactuando por lo que
dependiendo de cómo esté conformado el circuito obtendremos valores
de capacitancia equivalente. Se destaca el hecho de saber cómo un
dispositivo conseguiría evitar caídas de tensión, o bien, mantener
corriente en el circuito. Debido a esto, es fundamental evaluar las
condiciones de organización de los capacitores en un circuito eléctrico,
además de determinar la relación entre las cargas y los voltajes de los
capacitores correspondientes.

1
La presente práctica tiene como objetivo estudiar el comportamiento de
la capacitancia de los capacitores en configuraciones de serie, paralelo y
mixta, así como analizar su comportamiento en un capacitor de placas
planas y paralelas utilizando diferentes dieléctricos, múltiples valores de
área entre las placas y diferentes valores de separación entre ellas.
3.​ FUNDAMENTOS TEÓRICOS
Capacitancia
La capacitancia es la capacidad de un capacitor para almacenar carga
eléctrica. Se define como la cantidad de carga (Q) almacenada por
unidad de diferencia de potencial (V) entre las placas del capacitor, de
acuerdo con la ecuación básica:
𝑄
𝐶= 𝑉
​ ​ (1)

Donde C es la capacitancia medida en faradios, Q es la carga en


coulombs y V es la diferencia de potencial en voltios [1].
Combinaciones de Capacitores
Los capacitores se pueden conectar de distintas maneras para ajustar la
capacitancia total del sistema. Las configuraciones más comunes son en
serie, paralelo y una combinación mixta.
Capacitores en Serie
En una combinación en serie, los capacitores están conectados uno tras
otro y la carga total almacenada es la misma en todos los capacitores.
La capacitancia total para un sistema de capacitores en serie se calcula
de la siguiente forma:
1 1 1 1
𝐶𝑇𝑜𝑡𝑎𝑙
= 𝐶1
+ 𝐶2
+... + 𝐶𝑛
​ ​ (2)

El voltaje total se distribuye entre los capacitores y la capacitancia total


es siempre menor que la capacitancia de los capacitores individuales [2].
Capacitores en Paralelo
Cuando los capacitores están conectados en paralelo, la diferencia de
potencial es la misma para todos los capacitores. En este caso, la
capacitancia total es la suma directa de las capacitancias individuales:

𝐶𝑇𝑜𝑡𝑎𝑙 = 𝐶1 + 𝐶2 +... + 𝐶𝑛​ ​ (3)

La capacidad total del sistema será siempre mayor que la capacitancia


de cualquiera de los capacitores individuales [3].

2
Combinación Mixta
La combinación mixta involucra tanto conexiones en serie como en
paralelo. El análisis de este tipo de combinaciones requiere un cálculo
paso a paso, resolviendo primero las configuraciones en serie o paralelo
antes de combinarlas [1].
Capacitor de Placas Planas y Paralelas
El capacitor de placas planas y paralelas es el tipo más sencillo de
capacitor. Se compone de dos placas conductoras separadas por un
dieléctrico. La capacitancia de un capacitor de placas paralelas viene
dada por la siguiente ecuación:
𝐴
𝐶 = ε𝑟ε0 𝑑
​ ​ (4)
Donde:
−12
●​ ε0 es la permitividad del vacío (8. 85 × 10 𝐹/𝑚).

●​ ε𝑟 es la constante dieléctrica del material entre las placas.

●​ A es el área de una de las placas.


●​ d es la distancia entre las placas [4].
Constante Dieléctrica y Materiales Dieléctricos
Los materiales dieléctricos juegan un rol crucial en la eficiencia de los
capacitores. La constante dieléctrica (permitividad relativa, ε𝑟​) es la
capacidad de un material para aumentar la capacitancia en comparación
con el vacío. Un dieléctrico inserto entre las placas de un capacitor
aumenta la capacitancia porque reduce el campo eléctrico interno, lo
que permite que el capacitor contenga más carga para una misma
diferencia de potencial [4].
Energía Almacenada en un Capacitor
La energía almacenada en un capacitor se puede calcular utilizando la
siguiente ecuación:
1 2
𝑈= 2
𝐶𝑉 ​ ​ (5)

Esta ecuación muestra que la energía almacenada en un capacitor (U)


es directamente proporcional a su capacitancia (C) y al cuadrado de la
diferencia de potencial (V) aplicada entre sus placas [1].

3
Aplicaciones de los Capacitores
Los capacitores se usan en varias aplicaciones como filtros electrónicos
en circuitos de corriente alterna (CA), sistemas de almacenamiento de
energía de corto plazo, estabilización de voltaje en circuitos de corriente
continua (CC), circuitos de temporización y en sistemas de transmisión
de datos para evitar fluctuaciones en la señal [2].
4.​ MATERIALES Y MÉTODOS
Materiales
●​ Conjunto de capacitores electrolíticos de diferentes capacitancias.

●​ Cables de conexión.

●​ Protoboard.

●​ Multímetro.

●​ Modelo de capacitor de placas planas y paralelas con dieléctricos


(capaz de variar el área, la separación de las placas y el dieléctrico).

Montaje experimental

Figura 1: Montaje experimental para determinar la capacitancia de


capacitores en serie.

4
Figura 2: Montaje experimental para determinar la capacitancia de
capacitores en paralelo.

Figura 3: Montaje experimental circuito mixto 1. Dos capacitores en


paralelo y un capacitor en serie.

Figura 4: Montaje experimental circuito mixto 2. Dos capacitores en


serie y un capacitor en paralelo.

5
Figura 5: Montaje experimental para determinar capacitancia de placas
planas y paralelas

Figura 6: Montaje experimental para determinar capacitancia de placas


con diferentes materiales dieléctricos.
Metodología
Parte 1. Combinación de capacitores.

a.​ Capacitores en serie. Se conectan 3 capacitores en serie (𝐶1, 𝐶2, 𝐶3)


en la protoboard, como se muestra en la Figura 1. Se mide la
capacitancia usando el multímetro y se anota el dato obtenido. Luego, se
analiza y compara el resultado con el valor teórico.
b.​ Capacitores en paralelo. Se conectan 3 capacitores en paralelo
(𝐶1, 𝐶2, 𝐶3) en la protoboard, como se muestra en la Figura 2. Se mide la
capacitancia usando el multímetro y se anota el dato obtenido. Se
analiza y compara el resultado con el valor teórico.
c.​ Capacitores en conexión mixta. Para este punto de la práctica se
hacen dos circuitos diferentes con conexiones mixtas (en serie y
paralelo).

●​ Circuito mixto 1: Se ubican dos capacitores en paralelo (𝐶1, 𝐶2)


más un capacitor en serie (𝐶3), como se muestra en la Figura 3.
●​ Circuito mixto 2: Se ubican dos capacitores en serie (𝐶2, 𝐶3) más
un capacitor en paralelo (𝐶1), como se observa en la Figura 4.

Se anotan los valores obtenidos al medir la capacitancia con ayuda del


multímetro y, se analizan y comparan los resultados con los valores
teóricos.
6
Parte 2. Capacitor de placas planas y paralelas.
a.​ Variación del Área de las Placas manteniendo fijo la separación
entre las placas y el dieléctrico: Se configura el modelo de capacitor
con un área inicial específica, se mide la capacitancia, se vuelve a
repetir el mismo procedimiento con placas de diferente área. Se
registran y analizan los datos en la Tabla 2 y Tabla 3.
b.​ Variación de la Separación entre las Placas para área fija y un
dieléctrico constante: Se configura el modelo de capacitor con una
separación inicial específica, se mide la capacitancia, se vuelve a repetir
el mismo procedimiento con una diferente separación entre las placas.
Se registran y analizan los datos en la Tabla 4.
c.​ Variación del Material Dieléctrico para un área y separación
constante: Se configura el modelo de capacitor con un dieléctrico inicial
específico, se mide la capacitancia, se vuelve a repetir el mismo
procedimiento con un dieléctrico diferente como se observa en la Figura
6. Se registran y analizan los datos en la Tabla 5.
5.​ DESARROLLO EXPERIMENTAL

Primero hay que asegurarse que el multímetro tenga la configuración correcta


para medir la capacitancia en el rango indicado ya que esto puede afectar a la
toma de mediciones y la precisión.

Para la primera parte del experimento hay que tener muy presente las marcas
del envoltorio del capacitor ya que nos indica cual de sus terminales es positiva
o negativa lo cual es muy influyente a la hora de realizar la práctica ya que
afectará de forma drástica la capacitancia generada por el circuito. Verificar
todas las conexiones del circuito antes de tomar los datos y ser cuidadoso con
la manipulación de los capacitores para evitar cualquier tipo de daño o
inconveniente.

En la segunda parte de la práctica se cambian diferentes parámetros del placas


ya sea el área, la separación o el dieléctrico, esto para ver qué efecto tiene
cada uno sobre la capacitancia, es importante solo variar un parámetro a la vez
manteniendo constantes los otros debido a que de otro modo se crearán más
variables que pueden afectar la capacitancia de una forma diferente y no se
podrá medir el efecto que tiene cada uno de estos parámetros individualmente
de forma correcta.

Tratar de que la instrumentaria utilizada esté en las mejores condiciones


posibles para que al realizar la práctica los resultados sean lo más cercano a
los que se tendría en un escenario ideal y de este modo al comprarlos con los
valores teóricos no muestre un porcentaje de error demasiado significativo.

7
6.​ CÁLCULOS Y ANÁLISIS DE RESULTADOS

Parte 1: Combinación de capacitores:

Tabla 1: Datos experimentales, teóricos y porcentaje de error de la


capacitancia.

Capacitancia, µ𝐹
Capacitor % Error
Datos teóricos Datos experimentales

1 47 46,18 1,74 %

2 470 464,4 1,19 %


3 1000 975 2,5 %

Para determinar el % error mostrado en la Tabla 1, se mostrará a continuación


un ejemplo de cálculo para el Capacitor 1:

|𝐶𝑇−𝐶𝐸𝑥𝑝|
% 𝐸𝑟𝑟𝑜𝑟 = 𝐶𝑇
× 100%​ ​ ​ (6)
|47−46,18|
% 𝐸𝑟𝑟𝑜𝑟 𝐶1 = 47
× 100%​ ​ ​ ​

% 𝐸𝑟𝑟𝑜𝑟 𝐶1 = 1, 74%​ ​ ​ ​ ​ ​

a)​ Capacitores en serie:

Valor experimental: Valor teórico:​

𝐶𝑇𝑜𝑡𝑎𝑙 = 40, 32 µ𝐹 1 1 1 1
𝐶𝑇𝑜𝑡𝑎𝑙
= 𝐶1
+ 𝐶2
+ 𝐶3

1 1 1 1
𝐶𝑇𝑜𝑡𝑎𝑙
= 47
+ 470
+ 1000

𝐶𝑇𝑜𝑡𝑎𝑙 = 40, 98 µ𝐹

1.​ ¿Qué observas cuando comparas los valores medidos con los valores
teóricos?

El valor medido con el instrumento de medición 40,32 µF fue muy


cercano al valor teórico 40.98 µF que fue obtenido al reemplazar los
datos de fábrica de cada capacitor en la ecuación 2 de circuito en serie,
resultando en un error de 1.61% como se puede ver a continuación.

8
2.​ Calcula el porcentaje de error

|𝐶𝑇−𝐶𝐸𝑥𝑝|
% 𝐸𝑟𝑟𝑜𝑟 = 𝐶𝑇
× 100%

|40,98−40,32|
% 𝐸𝑟𝑟𝑜𝑟 = 40,98
× 100%

% 𝐸𝑟𝑟𝑜𝑟 = 1, 61%

3.​ De acuerdo con los valores medidos, ¿qué puedes concluir?

Podemos concluir que los valores experimentales pueden ser tomados


como los valores correctos pues el porcentaje de error es pequeño y se
están teniendo en cuenta efectos externos en el ambiente de trabajo que
en este caso corresponde a nuestro laboratorio. Además, si
determinamos la capacitancia en serie con la Ecuación 2 y los datos
experimentales obtenemos un valor de 40,27µF y al hallar nuevamente
el porcentaje de error, este nos daría 0.12% el cual es mucho menor que
el calculado con los datos de fábrica 1.61%. Esto nos indica que la
ecuación usada para determinar capacitancias en serie es correcta y las
diferencias encontradas se deben a los errores experimentales.

A continuación, a partir de los datos experimentales de la Tabla 1 y de la


Ecuación 2 y Ecuación 6 se muestran los cálculos de los valores
mencionados en el párrafo anterior:

1
=
1
+
1
+
1 |𝐶𝑇−𝐶𝐸𝑥𝑝|
𝐶𝑇𝑜𝑡𝑎𝑙 𝐶1 𝐶2 𝐶3 % 𝐸𝑟𝑟𝑜𝑟 = 𝐶𝑇
× 100%

1 1 1 1 |40,27−40,32|
𝐶𝑇𝑜𝑡𝑎𝑙
= 46,18
+ 464,4
+ 975 % 𝐸𝑟𝑟𝑜𝑟 = × 100%
40,27

𝐶𝑇𝑜𝑡𝑎𝑙 = 40, 27 µ𝐹 % 𝐸𝑟𝑟𝑜𝑟 = 0, 12%

b)​ Capacitores en paralelo:

Valor experimental: Valor teórico:

𝐶𝑇𝑜𝑡𝑎𝑙 = 1474 µ𝐹 𝐶𝑇𝑜𝑡𝑎𝑙 = 𝐶1 + 𝐶2 + 𝐶3

𝐶𝑇𝑜𝑡𝑎𝑙 = 47 + 470 + 1000

𝐶𝑇𝑜𝑡𝑎𝑙 = 1517 µ𝐹

9
1.​ ¿Qué observas cuando comparas los valores medidos con los valores
teóricos?

El valor teórico obtenido con los capacitores en paralelo 1517 µF es muy


parecido al experimental 1474 µF y nuevamente la diferencia en este
caso se debe a que hay factores externos de medición que ejercen un
efecto en el valor de los datos tomados. La cercanía de los valores nos
indica que los resultados experimentales fueron correctos y la diferencia
se debe al error experimental.

2.​ ¿Calcula el porcentaje de error?

|𝐶𝑇−𝐶𝐸𝑥𝑝|
% 𝐸𝑟𝑟𝑜𝑟 = 𝐶𝑇
× 100%

|1517−1474|
% 𝐸𝑟𝑟𝑜𝑟 = 1517
× 100%

% 𝐸𝑟𝑟𝑜𝑟 = 2, 83%

3.​ De acuerdo con los valores medidos, ¿qué puedes concluir?

Hay una situación muy importante con los valores medidos. En este
caso el valor de la capacitancia en paralelo determinado con los valores
de fábrica de cada capacitancia individual empleando la Ecuación 3, dio
como resultado 1517 µF resultando en un error de 2.83% cuando se
compara con el valor medido con el instrumento el cual fue de 1474 µF.
Cuando la Ecuación 3 se usa con los valores de cada capacitancia
individual obtenidos con el instrumento de medición, la capacitancia en
paralelo da como resultado 1485.6 µF resultando en un error de 0.78%,
el cual es mucho menor que el determinado con los datos de fábrica
2.83%. Esto es un indicativo de que la ecuación usada para determinar
capacitancias en paralelo es correcta y las diferencias encontradas se
deben a los errores experimentales.

A continuación, a partir de los datos experimentales de la Tabla 1 y de la


Ecuación 3 y Ecuación 6 se muestran los cálculos de los valores
mencionados en el párrafo anterior:
|𝐶𝑇−𝐶𝐸𝑥𝑝|
𝐶𝑇𝑜𝑡𝑎𝑙 = 𝐶1 + 𝐶2 + 𝐶3 % 𝐸𝑟𝑟𝑜𝑟 = 𝐶𝑇
× 100%
|1485,6−1474|
𝐶𝑇𝑜𝑡𝑎𝑙 = 46, 18 + 464, 4 + 975 % 𝐸𝑟𝑟𝑜𝑟 = 1485,6
× 100%

𝐶𝑇𝑜𝑡𝑎𝑙 = 1485, 6 µ𝐹 % 𝐸𝑟𝑟𝑜𝑟 = 0, 78%

10
c)​ Capacitores en conexión Mixta:

Circuito Mixto 1:

Figura 7: Circuito Mixto 1

Valor experimental:​ 𝐶𝑇𝑜𝑡𝑎𝑙 = 332, 6 µ𝐹

Valor teórico:

𝐶12 = 𝐶1 + 𝐶2​ (7) 1


=
1
+
1
​​ (8)
𝐶𝑇𝑜𝑡𝑎𝑙 𝐶12 𝐶3
𝐶12 = 47 + 470
1 1 1
𝐶𝑇𝑜𝑡𝑎𝑙
= 517
+ 1000
𝐶12 = 517 µ𝐹
𝐶𝑇𝑜𝑡𝑎𝑙 = 340, 8 µ𝐹

Circuito Mixto 2:

Figura 8: Circuito Mixto 2

Valor experimental:​ 𝐶𝑇𝑜𝑡𝑎𝑙 = 356, 3 µ𝐹

Valor teórico:
1 1 1
𝐶23
= 𝐶2
+ 𝐶3
​ (9) 𝐶𝑇𝑜𝑡𝑎𝑙 = 𝐶1 + 𝐶23​ (10)

1 1 1 𝐶𝑇𝑜𝑡𝑎𝑙 = 47 + 319, 7
𝐶23
= 470
+ 1000
𝐶𝑇𝑜𝑡𝑎𝑙 = 366, 7 µ𝐹
𝐶23 = 319, 7 µ𝐹

11
1.​ ¿Qué observas cuando comparas los valores medidos con los valores
teóricos?

Se observa que los valores medidos y teóricos son muy cercanos 356 µ
F y 366.7 µF. El porcentaje de error obtenido de 2.4% es bajo lo cual nos
indica que la secuencia de ecuaciones usadas para determinar la
capacitancia es correcta. Por otro lado, los modelos matemáticos
empleados para predecir sistemas reales no son exactos. Esa puede ser
otra explicación del error.

2.​ Calcula el porcentaje de error para los dos casos

Circuito mixto 1:​ ​

|𝐶𝑇−𝐶𝐸𝑥𝑝|
% 𝐸𝑟𝑟𝑜𝑟 = 𝐶𝑇
× 100%

|340,8−332,6|
% 𝐸𝑟𝑟𝑜𝑟 = 340,8
× 100%

% 𝐸𝑟𝑟𝑜𝑟 = 2, 4%

Circuito mixto 2:​ ​

|𝐶𝑇−𝐶𝐸𝑥𝑝|
% 𝐸𝑟𝑟𝑜𝑟 = 𝐶𝑇
× 100%

|366,7−356,3|
% 𝐸𝑟𝑟𝑜𝑟 = 366,7
× 100%

% 𝐸𝑟𝑟𝑜𝑟 = 2, 8%

3.​ De acuerdo con los valores medidos, ¿qué puedes concluir?

Los valores medidos en el circuito mixto 1 y 2 son 332.6 µF y 356.3 µF,


respectivamente. Estos valores fueron comparados con los resultados
obtenidos con las Ecuación 8 y Ecuación 10 que son 340.8 µF y 366.7 µ
F, respectivamente. Estos últimos valores fueron obtenidos con los datos
de capacitancia de fábrica dando un porcentaje de error de 2.8%. Si en
la Ecuación 8 y Ecuación 10 se reemplaza las capacitancias obtenidas
experimentalmente los resultados son 335.1 µF y 360.75 µF. Los nuevos
errores serían ahora 0.75% y 1.23%. Se observa que los nuevos errores
son menores lo cual tiene sentido, ya que, la ecuación está usando
ahora valores más exactos que tienen en cuenta los efectos externos.

A continuación, a partir de los datos experimentales de la Tabla 1 y de la


Ecuación 6, Ecuación 8 y Ecuación 10 se muestran los cálculos de los
valores mencionados en el párrafo anterior:

12
Circuito mixto 1
1 1 1
= + |𝐶𝑇−𝐶𝐸𝑥𝑝|
𝐶𝑇𝑜𝑡𝑎𝑙 𝐶12 𝐶3 % 𝐸𝑟𝑟𝑜𝑟 = × 100%
𝐶𝑇

1 1 1 |335,1−332,6|
𝐶𝑇𝑜𝑡𝑎𝑙
= 510,58
+ 975 % 𝐸𝑟𝑟𝑜𝑟 = 360,75
× 100%

% 𝐸𝑟𝑟𝑜𝑟 = 0, 75%
𝐶𝑇𝑜𝑡𝑎𝑙 = 335, 1 µ𝐹

Circuito mixto 2
𝐶𝑇𝑜𝑡𝑎𝑙 = 𝐶1 + 𝐶23
|360,75−356,3|
% 𝐸𝑟𝑟𝑜𝑟 = 360,75
× 100%
𝐶𝑇𝑜𝑡𝑎𝑙 = 46, 18 + 314, 57
% 𝐸𝑟𝑟𝑜𝑟 = 1, 23%
𝐶𝑇𝑜𝑡𝑎𝑙 = 360, 75 µ𝐹

Parte 2: Capacitor de Placas Planas y Paralelas:


Con el fin de hallar la capacitancia de un capacitor de placas planas y
paralelas, se debe usar la Ecuación 4:
𝐴
𝐶 = ε𝑟ε0
𝑑

Donde:​

●​ ε𝑟 = Constante dieléctrica del ●​ 𝐴 = Área de las placas.


material entre las placas. ●​ 𝑑 = Distancia entre las
●​ ε0 = Permitividad del vacío. placas.

a) Variación del área de las placas manteniendo fijo la separación


entre las placas y el dieléctrico:
Tabla 2: Datos para determinar la capacitancia.

Datos Placas A Placas B

𝑑 (𝑚) 0, 045 0, 045

𝑙 (𝑚) 0,282 0,199


2
𝐴 (𝑚 ) 0, 079524 0, 039601

ε0 (𝐹/𝑚) −12 −12


8, 85 × 10 8, 85 × 10
ε𝑟 1,00059 1,00059

Nota: El valor ε𝑟 fue tomado del libro Fundamentos de física de Serway, [5].

13
Para determinar el dato teórico de la capacitancia de las placas A y B
mostradas en la Tabla 3, se mostrará a continuación un ejemplo de cálculo para
la placa A:
𝐴
𝐶 = ε𝑟ε0 𝑑

2
−12
(
𝐶 = (1, 00059) × 8, 85 × 10 𝐹/𝑚 ×) 0,079524 𝑚
0,045 𝑚

−11
𝐶 = 1, 6 × 10 𝐹

Para determinar el % error mostrado en la Tabla 3, se mostrará a continuación


un ejemplo de cálculo para la placa A:
|𝐶𝑇−𝐶𝐸𝑥𝑝|
% 𝐸𝑟𝑟𝑜𝑟 = 𝐶𝑇
× 100%

−11 −11
% 𝐸𝑟𝑟𝑜𝑟 = |(
1,6×10 )−(2,1×10 )|
−11 × 100%
(1,6×10 )
% 𝐸𝑟𝑟𝑜𝑟 = 31, 3%

Tabla 3: Datos experimentales, teóricos y porcentaje de error de la


capacitancia en función del área.

Capacitancia, F
Placa Área, m2 % Error
Dato teórico Dato experimental
−11 −11
Placas A 0, 079524 1, 6 × 10 2, 1 × 10 31,3 %
−12 −12
Placas B 0, 039601 7, 8 × 10 12 × 10 41,0 %

1.​ Discute de los resultados obtenidos y compáralos con los valores teóricos.
Como se puede observar en la Tabla 3, a medida que aumenta el área, la
capacitancia aumenta, ya sea analizando los datos teóricos o los datos
experimentales. Estos resultados difieren debido a que los datos
experimentales tienen el efecto de factores externos que no se detectaron. Sin
embargo, se ve la proporcionalidad directa de la capacitancia con el área.
Estos resultados los podemos observar mejor en la Figura 9.

14
Figura 9: Comportamiento de la Capacitancia (C) en función del Área de las
placas (A).
En la figura 9 vemos muy bien que la capacitancia aumenta linealmente con el
área lo cual se ajusta adecuadamente a la Ecuación 4 manteniendo los demás
parámetros constantes (ε , ε ,d). Por otro lado, los resultados experimentales
𝑟 0
dieron ambos mayores que los teóricos lo cual nos indica que el efecto
obtenido al tomar los datos experimentales es el mismo.

2.​ Identificación de posibles fuentes de error en las mediciones.


●​ El instrumento de medición de longitud.
●​ Conexiones de los cables con mal contacto.
●​ Multímetro con algún grado de sulfatación.
●​ Falta de calibración del multímetro.
●​ Limitación en el rango de precisión y exactitud del multímetro.
●​ Efectos de temperatura y humedad del ambiente.
3.​ Sugerencias para mejorar la precisión del experimento.
●​ Para mejorar la precisión y exactitud de la longitud usar un vernier.
●​ Asegurarse por completo de que estén perfectamente bien
conectados los cables.
●​ Asegurarse de que no haya sulfatación en el multímetro ni en los
cables a usar.
●​ Buscar la fecha de calibración del multímetro. Esta no debe ser muy
lejana al día del experimento.
●​ El multímetro debe tener escalas de trabajo en el rango en el que se
realizará el experimento para evitar errores de precisión.
15
Variación de la separación entre las placas para área fija y un dieléctrico
constante

Los parámetros usados para determinar la capacitancia teórica variando la


separación entre placas, son los siguientes:
2 −12
𝐴 = 0, 079524 𝑚 ​ ​ ε𝑟 = 1, 00059​ ε0 = 8, 85 × 10 𝐹/𝑚

Tabla 4: Datos experimentales, teóricos y porcentaje de error de la


capacitancia en función de la separación entre las placas.

Capacitancia, F
Datos d, m % Error
Dato experimental Dato teórico

1 0, 019 52 × 10
−12
37, 1 × 10
−12
40,5%
2 0, 026 42 × 10
−12
27, 1 × 10
−12
55,5%
3 0, 031 35 × 10
−12
22, 7 × 10
−12
52,1%
4 0, 039 29 × 10
−12
18, 1 × 10
−12
61,1%
5 0, 045 27 × 10
−12
15, 6 × 10
−12
68,7%
6 0, 050 24 × 10
−12
14, 1 × 10
−12
71,4%
7 0, 053 23 × 10
−12
13, 3 × 10
−12
76,9%
8 0, 063 20 × 10
−12
11, 2 × 10
−12
90,9%
9 0, 081 16 × 10
−12
8, 7 × 10
−12
83,9%
10 0, 090 14 × 10
−12
7, 8 × 10
−12
79,4%

Para determinar los datos teóricos de la capacitancia mostrados en la Tabla 4,


se mostrará a continuación un ejemplo de cálculo para el dato 1:
𝐴
𝐶 = ε𝑟ε0
𝑑
2
−12
(
𝐶1 = (1, 00059) × 8, 85 × 10 𝐹/𝑚 × ) 0,079524 𝑚
0,019 𝑚
−12
𝐶1 = 37 × 10 𝐹

Para determinar el % error mostrado en la Tabla 4, se mostrará a continuación


un ejemplo de cálculo para el dato 1:
|𝐶𝑇−𝐶𝐸𝑥𝑝|
% 𝐸𝑟𝑟𝑜𝑟 = 𝐶𝑇
× 100%
−12 −12
% 𝐸𝑟𝑟𝑜𝑟 𝐶1 = | | × 100%
(37,1×10 )−(52×10 )
−12
(37,1×10 )

% 𝐸𝑟𝑟𝑜𝑟 𝐶1 = 28, 8%

16
1.​ Discute de los resultados obtenidos y compáralos con los valores teóricos.

Los datos mostrados en la Tabla 4 muestran que la capacitancia disminuye a


medida que aumenta la distancia indicando que son inversamente
proporcionales tal como lo indica la Ecuación 4. Tanto con los datos teóricos
como los experimentales tienen el mismo comportamiento; sin embargo, los
datos tienen un porcentaje de error obtenido debido al error experimental
causados por efectos no detectados al momento de llevar a cabo la
experimentación.

Figura 10: Comportamiento de la Capacitancia en función del Área de las


placas.

En la Figura 10 vemos muy bien que la capacitancia disminuye de manera


inversa con la distancia cual se ajusta adecuadamente a la Ecuación 4
manteniendo los demás parámetros constantes (ε , ε , A). Por otro lado, los
𝑟 0
resultados experimentales dieron ambos mayores que los teóricos lo cual nos
indica que el efecto obtenido al tomar los datos experimentales es el mismo,
de hecho la separación entre cada punto es casi el mismo.

2.​ Identificación de posibles fuentes de error en las mediciones.


●​ El instrumento de medición de longitud.
●​ Conexiones de los cables con mal contacto.
●​ Multímetro con algún grado de sulfatación.
●​ Falta de calibración del multímetro.
●​ Limitación en el rango de precisión y exactitud del multímetro.
●​ Efectos de temperatura y humedad del ambiente.
17
3.​ Sugerencias para mejorar la precisión del experimento.

●​ Para mejorar la precisión y exactitud de la longitud usar un vernier.


●​ Asegurarse por completo de que estén perfectamente bien
conectados los cables.
●​ Asegurarse de que no haya sulfatación en el multímetro ni en los
cables a usar.
●​ Buscar la fecha de calibración del multímetro. Esta no debe ser muy
lejana al día del experimento.
●​ El multímetro debe tener escalas de trabajo en el rango en el que se
realizará el experimento para evitar errores de precisión.

Variación del material dieléctrico para un área y separación constante:

Los parámetros usados para determinar la capacitancia teórica variando la


separación entre placas, son los siguientes:
2 −12
𝐴 = 0, 079524 𝑚 ​ ​ ε0 = 8, 85 × 10 𝐹/𝑚​ ​ 𝑑 = 0, 008 𝑚

Para determinar los datos teóricos de la capacitancia mostrados en la Tabla 5,


se mostrará a continuación un ejemplo de cálculo para el aire:
𝐴
𝐶 = ε𝑟ε0
𝑑
2
−12
(
𝐶 = (1. 00059) × 8, 85 × 10 𝐹/𝑚 × ) 0,079524 𝑚
0,008 𝑚

−11
𝐶 = 8, 8 × 10 𝐹

Para determinar el % error mostrado en la Tabla 5, se mostrará a continuación


un ejemplo de cálculo para el aire:

|𝐶𝑇−𝐶𝐸𝑥𝑝|
% 𝐸𝑟𝑟𝑜𝑟 = 𝐶𝑇
× 100%

−11 −11
% 𝐸𝑟𝑟𝑜𝑟 = |(
8,8×10 )−(10×10 )|
−11 × 100%
(8,8×10 )
% 𝐸𝑟𝑟𝑜𝑟 = 13, 6%

18
Tabla 5: Datos experimentales, teóricos y porcentaje de error de la
capacitancia en función de la constante dieléctrica.

Material Capacitancia, F
ε𝑟 % Error
entre placas Dato experimental Dato teórico
−11 −11
Vidrio 5,6 65 × 10 49 × 10 31,9%
−11 −11
Acrílico 3,7 37 × 10 33 × 10 13,7%
−11 −11
Aire 1,00059 10 × 10 8, 8 × 10 13,6%

Nota: Los valores de ε𝑟 fueron tomados de [5] y [6].

1.​Discute de los resultados obtenidos y compáralos con los valores teóricos.

Al realizar los experimentos con los diferentes materiales varios parámetros


como (ε , A, d) fueron mantenidos constantes. Lo único que varía es la
0
constante dieléctrica del material, ε . De la Tabla 5 podemos observar que hay
𝑟
una diferencia bastante grande entre el valor medido y el valor experimental ya
que los porcentajes de error encontrados son altos con valores de 31.9%,
13.7% y 13.6%.

La variación de la capacitancia con respecto a la constante dieléctrica la


podemos observar en la Figura 10 donde se muestra un comportamiento lineal.

Figura 11: Comportamiento de la Capacitancia en función del Área de las


placas.

19
En la Figura 11 podemos observar que a medida que aumenta la constante
dieléctrica, la capacitancia también aumenta y de manera proporcional. Este
aumento indica que los datos satisfacen la Ecuación 4. Por otro lado vemos
que todos los valores tomados experimentalmente son mayores que los
teóricos lo que nos indica que hay un error experimental el cual es el mismo
para todos e incrementa con la constante dieléctrica. Por otro lado, los valores
teóricos tomados de las constantes dieléctricas fueron tomados de libros y
estos puede que no sea exactamente el material que se trabajó en el
laboratorio. Puede haber un error por el material que mencionan las tablas en
la literatura y el que realmente se trabajó en el laboratorio.

2.​ Identificación de posibles fuentes de error en las mediciones.

●​ El instrumento de medición de longitud.


●​ Conexiones de los cables con mal contacto.
●​ Multímetro con algún grado de sulfatación.
●​ Falta de calibración del multímetro.
●​ Limitación en el rango de precisión y exactitud del multímetro.
●​ Efectos de temperatura y humedad del ambiente.
●​ Valores de constantes dieléctricas encontradas en la literatura.

3.​ Sugerencias para mejorar la precisión del experimento.


●​ Para mejorar la precisión y exactitud de la longitud usar un vernier.
●​ Asegurarse por completo de que estén perfectamente bien
conectados los cables.
●​ Asegurarse de que no haya sulfatación en el multímetro ni en los
cables a usar.
●​ Buscar la fecha de calibración del multímetro. Esta no debe ser muy
lejana al día del experimento.
●​ El multímetro debe tener escalas de trabajo en el rango en el que se
realizará el experimento para evitar errores de precisión.
●​ Es necesario tener los valores de las constantes dieléctricas reales de
los materiales con los que se trabaja ya que sus valores pueden diferir
de los encontrados en la literatura causando un error en los
resultados.

20
7.​ DISCUSIÓN

Para esta práctica se hizo uso de capacitores o condensadores


eléctricos los cuales se definen como un dispositivo constituido por dos
conductores, uno cargado positivamente y uno cargado negativamente;
entre ellos existe un espacio con un material dieléctrico (siendo un
dieléctrico un material no conductor, como lo puede ser el hule o el
vidrio; siendo que estos materiales disminuyen el valor de la diferencia
de potencial o V y están influenciados por la constante dieléctrica de
cada material [7]) o "vacío" (en este caso el dieléctrico es el aire). Su
capacitancia está definida como la diferencia de potencial existente entre
los dos conductores .

Figura 12: Dos conductores, aislados uno del otro y de su entorno,


formando un capacitor. Cuando el capacitor se carga, los conductores
contienen cargas iguales y opuestas de magnitud q. A los dos
conductores se les llama placas, independientemente de cuál sea su
forma. [8]
Como se mencionó anteriormente se compone de 2 conductores de
igual magnitud pero opuesta carga, estos al estar enrollados en unos
pequeños cilindros dan lugar a que una gran superficie esté concentrada
en un espacio pequeño, sus cargas debido a la naturaleza de polaridad
se atraen entre sí y se distribuyen uniformemente, al estar tan próximas
las placas entre sí se podría decir que el campo situado en cualquier
punto de ellas es aproximadamente igual al campo eléctrico debido a
dos planos infinitos con cargas iguales y opuestas.

21
(a)​ (b)

Figura 13: a) dos placas paralelas con material dieléctrico enrolladas. b)


campo eléctrico y líneas de campo generadas entre las dos placas del
condensador. [9]
La capacitancia es la magnitud que mide la capacidad de almacenar
carga para una determinada diferencia de potencial.
Los condensadores electrolíticos son un tipo de condensador en el cual
se utiliza un ánodo metálico recubierto con una capa oxidante como
dieléctricos, además de ser polarizados poseen una gran capacitancia
[10]. En la figura 14 se muestra un capacitor electrolítico.

Figura 14: capacitor electrolítico y sus partes. [11]

22
Para la primera parte de la práctica se utilizaron condensadores
electrolíticos (de 1000μF , 470μF y 47μF respectivamente) en diferentes
configuraciones en circuitos (paralelos, en serie y mixtos).

Para los capacitores en paralelo; en cada elemento la diferencia de


potencial es la misma (V), tanto los alambres como las placas del
capacitor son conductores, por lo que son equipotenciales. Para este
caso la capacitancia total corresponde a la suma de todas las
capacitancias del circuito y será igual a la suministrada por la fuente
entre los terminales a y b del circuito [12].

Figura 15: configuración en paralelo mostrando puntos a y b del circuito


[12].

Los resultados obtenidos por medio de la comparación de la


capacitancia teórica (calculada como la capacitancia para un circuito en
paralelo) con los resultados de la lectura de capacitancia del multímetro
arrojan un margen de error bajo, comprobando así que el cálculo
realizado fue correcto.

Para los capacitadores en serie; la diferencia de potencial (V) de la


batería es igual a la suma de las diferencias de potencial de cada uno de
los elementos de capacitancia [13].

Así mismo, al realizar los respectivos cálculos de capacitancia para un


circuito en serie, y calcular su margen de error con respecto al valor
arrojado por el multímetro, se obtuvo que el bajo porcentaje de error por
lo que se comprueba que el valor de la medición tomada fue correcto.

Para los valores obtenidos en los circuitos mixtos; para ambos casos
(circuitos mixtos 1 y 2) los valores del porcentaje de error, calculados por
medio del valor teórico para circuitos mixtos y el valor experimental
arrojado por el multímetro, también fueron bajos, corroborando así la
precisión de las mediciones tomadas.

Para la segunda parte de la práctica se hizo uso de placas paralelas.


Este tipo de condensador, está formado por dos grandes placas
conductoras. El potencial es proporcional a la carga, y depende del
tamaño y forma del conductor, siendo directamente proporcional al área
(A) e inversamente proporcional a la distancia entre las placas (d) [14].

23
Los resultados obtenidos para la primera parte de este inciso (placas
paralelas de igual área (A), variando la distancia), comprueban la
relación de proporcionalidad entre el área y la capacitancia registrada
entre placas de distintos tamaños.

Para la segunda parte de este inciso (variación de la separación entre


las placas para área fija y un dieléctrico constante) se obtuvieron
resultados que afirman la relación de proporcionalidad inversa entre la
distancia (d) entre placas y el valor de la capacitancia, que al graficar
nos arroja una curva exponencial decreciente.

Para la tercera parte (variación del material dieléctrico para un área y


separación constante) se utilizaron 3 materiales como dieléctricos
distintos, siendo que se demuestra que la capacitancia varía con
respecto a la constante dieléctrica del material, ya que las variables de
área, y distancia entre las placas fueron constantes.
8.​ CONCLUSIONES

Los resultados obtenidos a través de la práctica fueron acorde a los


resultados teóricos calculados para las capacitancias de distintos tipos
de capacitores (de placas paralelas, electrolíticos en circuitos en serie,
en paralelo y mixtos).

Para los valores teóricos y experimentales de las capacitaciones


individuales de cada uno de los condensadores electrolíticos se obtuvo
un margen de error de 1,74 %, 1,19 % y 2,5 % respectivamente.

Para los circuitos en paralelo, en serie, mixto 1 y mixto 2; los porcentajes


de error fueron 2,5%, 2,83%, 0,75% y 1,23% respectivamente. los
cuales al ser bajos indican que los cálculos realizados de capacitancia
fueron acordes a los resultados experimentales obtenidos.

Para los resultados calculados y posteriormente comparados con los


resultados experimentales para placas condensadores de placas
paralelas los porcentajes de error fueron los siguientes:

1.​ Variación del área de las placas manteniendo fijo la


separación entre las placas y el dieléctrico:

Tabla 6: Porcentajes de error del inciso 1 de la parte 2 de la experiencia.

Placa % de Error

Placas A 31,3 %

Placas B 41,0 %

24
2.​ Variación de la separación entre las placas para área fija y un
dieléctrico constante:

Tabla 7: Porcentajes de error del inciso 2 de la parte 2 de la experiencia.

Distancia / d (m) % de Error

0.019 40.5%

0.026 55.5%

0.031 52.1%

0.039 61.1%

0.045 68.7%

0.050 71.4%

0.053 76.9%

0.063 90.9%

0.081 83.9%

0.090 79.4%

3.​ Variación del material dieléctrico para un área y separación


constante:

Tabla 8: Porcentajes de error del inciso 3 de la parte 2 de la


experiencia.
Material Dielectrico % de Error

Vidrio 31,9%

Acrílico 13,7%

Aire 13,6%

Los altos porcentajes de error registrados pueden tener distintos


orígenes, algunos relacionados con el equipo de medición, como las
fugas de corriente, o errores de calibración del equipo. Otras fuentes de
error pueden relacionarse con el procedimiento experimental, como por
ejemplo para las placas paralelas lo son el efecto borde, que se refiere al
campo que sale por los bordes de las placas paralelas de un
condensador, aumentando así el campo eléctrico en las zonas cercanas
a los bordes del condensador, y es influenciado por la proporción entre
la distancia y el tamaño de las placas, aumentando así el campo

25
eléctrico cuando la distancia entre las placas es muy pequeño
comparado con el tamaño de las mismas.

Para la minimización de los errores al momento de realizar la práctica


hay unos puntos a tener en cuenta como lo son evitar las fugas de
corriente, proteger el circuito de interferencias electromagnéticas, o
verificar la presencia de capacitancias parásitas (dispositivos
electrónicos o cables cercanos que puedan inducir capacitancias no
deseadas en el circuito).

Para mejorar la práctica se recomienda una mejor planificación de


tiempos, ya que la práctica es robusta en la toma de datos, además de
ampliar la gama de elementos dieléctricos y tipos de capacitores
disponibles para comparar su capacitancia entre sí.

26
9.​ REFERENCIAS

1.​ Serway, R. A., & Jewett, J. W. (2014). Physics for scientists and
engineers (9.a ed., pp. 674-683). Cengage Learning.

2.​ Halliday, D., Resnick, R., & Walker, J. (2011). Fundamentals of physics
(10.a ed., pp. 716-717). Wiley.

3.​ Giancoli, D. C. (2016). Física para ciencias e ingeniería (4.a ed., pp.
555-556). Pearson.

4.​ Tipler, P. A., & Mosca, G. (2008). Physics for scientists and engineers
(6.a ed., pp. 699-701). W.H. Freeman.

5.​ Serway, R. A., & Jewett, J. W. (2018). Fundamentos de física (10ma ed.
p. 507). Cengage Learning.
6.​ P. Thomas, R. S. E. Ravindran and K. B. R. Varma. (2012). Dielectric
properties of Poly(methyl methacrylate) (PMMA)/CaCu3Ti4O12
composites. IEEE 10th International Conference on the Properties and
Applications of Dielectric Materials, Bangalore, India, pp. 1-4, doi:
10.1109/ICPADM.2012.6319009.

7.​ Serway, R. A., & Jewett, J. W. (2014). Physics for scientists and
engineers (9.a ed., p. 735). Cengage Learning.

8.​ Halliday D., Resnick R. & Krane K.S. (1999). Fisica Vol.2 (4ta ed., p.95)

9.​ Condensadores y capacitancia (s.f.) Rice University. Recuperado de:


[Link]
/8-1-condensadores-y-capacitancia

10.​Tipos de Condensadores: Clasificación y sus Aplicaciones (s.f.).


Recuperado de:
[Link]
s-de-condensadores/#%C2%BFQue_es_un_Condensador

11.​Tipler, P. A., & Mosca, G. (2008). Physics for scientists and engineers
(6.a ed., p. 805).

12.​Halliday D., Resnick R. & Krane K.S. (1999). Fisica Vol.2 (4ta ed., p.99)

13.​Halliday D., Resnick R. & Krane K.S. (1999). Fisica Vol.2 (4ta ed., p.100)

14.​Tipler, P. A., & Mosca, G. (2008). Physics for scientists and engineers
(6.a ed., p. 803).

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