Universidad Autónoma de Baja California
Facultad de Ingeniería
Materia:
Caracterización de Materiales Aeroespaciales
Nombre del trabajo:
AFM
Nombre del Alumno:
1183684 Sebastián Álvarez Murillo.
Grupo:
399
Fecha de entrega:
21 de Abril, 2025
Nombre del profesor:
Vargas Osuna Lidia Esther
Que es el SPM?
El SPM (Scanning Probe Microscopy) es una técnica de microscopía que utiliza una
sonda extremadamente fina para recorrer la superficie de una muestra y medir
diferentes propiedades físicas como altura, fuerza, conductividad, carga eléctrica,
magnetismo, entre otras.
A diferencia de otros microscopios que usan luz o electrones, el SPM trabaja
directamente con una aguja que "toca" o se acerca mucho a la muestra, y esa
interacción se traduce en datos que la computadora convierte en imágenes de alta
resolución, muchas veces en 3D.
El SPM no es un solo aparato, es toda una familia de microscopios, y dentro de esa
familia hay varios tipos, por ejemplo:
• AFM (Atomic Force Microscope): mide fuerzas atómicas.
• STM (Scanning Tunneling Microscope): mide corrientes eléctricas de túnel.
• MFM (Magnetic Force Microscope): mide fuerzas magnéticas.
Cada uno se enfoca en estudiar algo diferente, dependiendo de lo que se quiera
observar en la muestra.
Como funciona el equipo de SPM?
El SPM funciona usando una sonda extremadamente fina que se mueve muy cerca
o directamente sobre la superficie de una muestra. Esta sonda recorre la muestra
de manera controlada y detecta diferentes propiedades físicas, como la altura, las
fuerzas, la conductividad o el magnetismo, dependiendo del tipo de microscopio que
se esté usando.
Mientras la sonda se desplaza por la superficie, va registrando cambios en la
interacción entre la punta y la muestra. Estos datos se procesan en una
computadora, que construye una imagen detallada en 2D o 3D de la estructura
superficial, mostrando cosas como texturas, formas y dimensiones a nivel
nanométrico.
El funcionamiento puede variar según el tipo de SPM, pero en todos los casos la
clave es la interacción directa de la sonda con la muestra para obtener información
precisa que otros microscopios no logran.
Para que sirve el SPM?
El SPM se utiliza para analizar la superficie de materiales a escalas microscópicas
y nanométricas. Permite estudiar detalles como la forma, textura, rugosidad,
propiedades eléctricas, magnéticas y mecánicas de una muestra con una resolución
extremadamente alta.
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Esta técnica es muy útil en áreas como:
• Nanotecnología: para observar y manipular estructuras a nivel atómico.
• Ciencia de materiales: para analizar defectos, rugosidad y calidad de
superficies.
• Biología: para estudiar células, proteínas y membranas sin dañarlas.
• Electrónica: para inspeccionar componentes miniaturizados como circuitos y
semiconductores.
Qué es el AFM?
El Microscopio de Fuerza Atómica (AFM) es un equipo que se utiliza para estudiar
la superficie de materiales a nivel nanométrico. Funciona con una punta muy fina
que recorre la muestra y mide las fuerzas que actúan entre la punta y la superficie,
lo que permite generar una imagen en 3D de su topografía. A diferencia de otros
microscopios que usan luz o electrones, el AFM trabaja midiendo interacciones
físicas como la fuerza de Van der Waals, lo que le permite obtener imágenes con
una resolución muy alta sin necesidad de preparar la muestra de forma complicada.
Gracias a esto, es una herramienta muy utilizada en áreas como la nanotecnología,
ciencia de materiales y biología.
Cómo funciona el equipo de AFM?
El Microscopio de Fuerza Atómica (AFM) funciona usando una sonda que tiene una
punta extremadamente fina, colocada en el extremo de una pequeña palanca
llamada cantilever. Esta punta se acerca mucho a la superficie de la muestra, sin
tocarla, y mientras la recorre, detecta las fuerzas que existen entre la punta y los
átomos de la superficie.
Cuando la punta se mueve sobre las diferentes elevaciones y texturas de la
muestra, el cantilever se flexiona hacia arriba o hacia abajo dependiendo de esas
fuerzas. Estos movimientos son tan pequeños que se detectan con un láser que
rebota en la parte trasera del cantilever y se refleja hacia un detector. Este detector
convierte esa señal en datos que una computadora procesa para construir una
imagen de la superficie, mostrando detalles como la altura, textura y forma de la
muestra, casi como si fuera un mapa en 3D.
El AFM puede trabajar en diferentes modos, como:
• Modo de contacto: la punta siempre está en contacto con la superficie.
• Modo tapping (intermitente): la punta “golpea” suavemente la superficie
mientras escanea.
• Modo no-contacto: la punta se mantiene a una pequeña distancia,
detectando solo fuerzas débiles.
Cada modo se usa dependiendo del tipo de muestra o del detalle que se necesite
observar.
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Para qué se usa el AFM?
Se usa mucho en áreas como la nanotecnología, la ciencia de materiales, la
electrónica y la biología, porque permite observar desde estructuras muy pequeñas
como moléculas y células, hasta componentes de dispositivos, todo con un nivel de
detalle que otros microscopios no alcanzan.
Resultados
Procedimiento
• Se seleccionaron los dos modos de operación para el análisis: Modo de
contacto (Contact Mode) y Modo tapping (Tapping Mode)
• Alineación del cantilever Se alineó el cantilever para garantizar una imagen
adecuada con la señal de suma (sum signal), asegurando que la punta
estuviera correctamente posicionada sobre la muestra.
• Ajuste de parámetros de escaneo Se configuraron los valores relevantes
para obtener imágenes claras y estables:
a) Scan Size (Tamaño de escaneo): Se ajustó según el área a analizar.
b) Scan Rate (Tasa de escaneo): Se seleccionó para equilibrar resolución y
tiempo de escaneo.
c) Set Point: Se configuró para controlar la fuerza de interacción entre la punta
y la muestra.
d) Integral Gain (Ganancia integral): Ajustado para optimizar la respuesta del
sistema.
e) Target Amplitude (Amplitud objetivo): Se ajustó para obtener un escaneo
preciso en el modo tapping.
• Realización del escaneo Se inició el escaneo de la muestra, observando
cómo la punta recorría la superficie, mientras los parámetros ajustados
generaban imágenes con detalles de la topografía y características de la
muestra.
• Análisis de resultados Después de finalizar el escaneo, se analizaron las
imágenes obtenidas, asegurándose de que reflejaran adecuadamente las
variaciones en la altura y características superficiales de la muestra.
• Captura de imágenes y evidencias Finalmente, se guardaron las imágenes
obtenidas durante el escaneo para su inclusión en este reporte.
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Contact Mode
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Tapping Mode
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Conclusiones
La práctica realizada con el simulador de AFM permitió comprender de forma visual
e interactiva cómo esta técnica se utiliza para analizar la superficie de materiales a
escala nanométrica. Se trabajó con los modos de contact mode y tapping mode,
ajustando parámetros clave como el tamaño de escaneo, la tasa de escaneo, el set
point, la ganancia integral y la amplitud objetivo. Esto permitió observar cómo estos
factores afectan la calidad de las imágenes obtenidas, reflejando de manera
detallada la topografía y las propiedades superficiales de las muestras. La
simulación evidenció la capacidad del AFM para detectar variaciones en la altura, la
textura y las fuerzas de interacción en la superficie a nivel atómico. La comparación
de diferentes configuraciones y modos de operación reforzó la utilidad del AFM
como herramienta precisa para estudiar las propiedades mecánicas, eléctricas y
magnéticas de los materiales. Esta práctica permitio aplicar los conceptos teóricos
de manera práctica, facilitando la comprensión del proceso sin necesidad de contar
con un laboratorio físico.
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Bibliografías
• Scanning Probe simulator. (s. f.).
https://myscope.training/SPM_simulator.html
• Check out MyScopeTM. (s. f.).
https://myscope.training/SPM_assessmentsTab
Anexo 1
1. ¿Cuál es el tamaño de muestra típico para un escaneo en AFM?
El tamaño típico de una muestra para un escaneo en AFM varía, pero
normalmente se trabaja con áreas que van desde unos pocos micrómetros
hasta decenas de micrómetros, siendo común un rango de 1 µm x 1 µm
hasta 100 µm x 100 µm, dependiendo del tipo de análisis y la resolución
que se busca obtener.
2. ¿Cuál es la relación entre el tamaño de pixel, el tamaño de la punta y
el tamaño de la imagen en términos de la mejor resolución posible en
un AFM?
La resolución de una imagen en AFM depende de que el tamaño de la punta
sea menor o comparable al detalle que se desea observar. El tamaño del
pixel se determina dividiendo el tamaño total de la imagen por el número de
puntos de muestreo (resolución de escaneo). Para obtener la mejor
resolución, el tamaño de la punta debe ser lo suficientemente pequeño para
interactuar con las características finas de la muestra y el tamaño de pixel
debe ser acorde para no perder detalle al digitalizar la superficie.
3. ¿Cuáles son los límites físicos del grosor de las muestras que se
pueden analizar con un SPM?
El SPM no tiene un límite fijo de grosor para las muestras, ya que el análisis
se enfoca en la superficie. Sin embargo, lo importante es que la muestra
sea lo suficientemente plana y estable, y que no exceda la altura máxima
que el escáner piezoeléctrico puede manejar, que normalmente es de 10 a
20 micrómetros en altura (Z). Si la muestra es demasiado gruesa o rugosa,
puede afectar la capacidad del equipo para seguir adecuadamente la
superficie.
4. ¿Qué determina la calidad de las imágenes y la forma de las
estructuras en la superficie de la muestra?
La calidad de las imágenes en AFM depende de varios factores,
principalmente:
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• La nitidez y el estado de la punta (si la punta está desgastada o
dañada, la imagen pierde definición).
• La correcta alineación del cantilever y la configuración de parámetros
como la velocidad de escaneo, set point, ganancia integral y tamaño
de escaneo.
• La estabilidad de la muestra y del equipo (vibraciones o ruidos
externos pueden distorsionar la imagen).
Estos factores combinados determinan qué tan clara y precisa será la
forma de las estructuras observadas en la superficie.
Anexo 2
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