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EQUIPOS Y CONTROLES INDUSTRIALES S.A.

- ECISA 2011-04-18
NIT. 860.055.583-9
Calle 23 # 116 - 31 Parque Industrial Puerto 2024-04-18
Central, Piso 4 Bogotá D.C., Colombia.
2024-04-16

2029-04-17

ISO/IEC 17025:2017
Requisitos generales para la competencia de laboratorios de
calibración y de ensayo.

10-LAC-024

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EQUIPOS Y CONTROLES INDUSTRIALES S.A. - ECISA
10-LAC-024
ACREDITACIÓN ISO/IEC 17025:2017
Alcance de la acreditación aprobado / Documento Normativo

SEDE Calle 23 # 116 - 31, Bodegas 32 y 33, Parque Industrial Puerto Central, Bogotá D.C., Colombia.
INCERTIDUMBRE EXPANDIDA INSTRUMENTO A INSTRUMENTOS, EQUIPOS DOCUMENTO
CÓDIGO MAGNITUD INTERVALO DE MEDICIÓN
DE MEDIDA CALIBRAR PATRONES UTILIZADOS NORMATIVO
Procedimiento ME-003
Manómetros digitales y
para la calibración de
0 kPa ≤ p ≤ 689,48 kPa 1,2 kPa analógicos Manómetro patrón digital
DG8 Presión manómetros, vacuómetros
(0 psi ≤ p ≤ 100 psi) (0,17 psi) CL ≥ 0,25 % de escala Clase 0,1 % de escala completa
y manovacuómetros.
completa
CEM, edición digital 3, 2019
Procedimiento ME-003
Manómetros digitales y
para la calibración de
689,48 kPa < p ≤ 6,89 MPa 3,0 kPa analógicos Manómetro patrón digital
DG8 Presión manómetros, vacuómetros
(100 psi < p ≤ 1000 psi) (0,43 psi) CL ≥ 0,25 % de escala Clase 0,05 % de escala completa
y manovacuómetros.
completa
CEM, edición digital 3, 2019
Procedimiento ME-003
Manómetros digitales y
para la calibración de
6,89 MPa < p ≤ 34,47 MPa 6,4 kPa analógicos Manómetro patrón digital
DG8 Presión manómetros, vacuómetros
(1000 psi < p ≤ 5000 psi) (0,93 psi) CL ≥ 0,25 % de escala Clase 0,1 % de escala completa
y manovacuómetros.
completa
CEM, edición digital 3, 2019
Instructivo interno
Desvío longitud central: Bloques patrón cuadrados Calibración de bloques
Bloques patrón
DC3 Longitud 0,5 mm < l ≤ 250 mm (0,03 + 0,000 4∙L) μm y rectangulares grados 0, 1, patrón
Comparador de bloques
Desvío de Longitud: 0,025 μm 2, 3 LM-I-40, V8 del 2021-09-
08
Instructivo interno
Calibrador de indicadores Calibración de calibrador
DC3 Longitud 0 mm < l ≤ 25 mm (0,27 + 0,041∙L) μm Indicador digital
d ≥ 0,001 mm de Indicadores
LM-I-31, V6 del 2021-09-08
Pie de rey superficies de JIS B 7507: 2022
Bloques patrón rectangulares Maestro
interiores, exteriores y Vernier, dial and digital
DC3 Longitud 0 mm ≤ l ≤ 1000 mm (7,8 + 0,004∙L) μm de longitudes fijas
profundidad callipers
Anillo patrón
d ≥ 0,01 mm (No. 5.6, 5.7.2, 5.7.3 y 5.7.4)
JIS B 7518:2018
Pie de rey Profundidad Bloques patrón rectangulares Maestro Vernier, dial and digital
DC3 Longitud 0 mm ≤ l ≤ 1000 mm (5,6 + 0,005 5∙L) μm
d ≥ 0,01 mm de longitudes fijas depth gauges
(No. 5.3)

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ACREDITACIÓN ISO/IEC 17025:2017
Alcance de la acreditación aprobado / Documento Normativo

SEDE Calle 23 # 116 - 31, Bodegas 32 y 33, Parque Industrial Puerto Central, Bogotá D.C., Colombia.
INCERTIDUMBRE EXPANDIDA INSTRUMENTO A INSTRUMENTOS, EQUIPOS DOCUMENTO
CÓDIGO MAGNITUD INTERVALO DE MEDICIÓN
DE MEDIDA CALIBRAR PATRONES UTILIZADOS NORMATIVO
JIS B 7517:2018
Confirmed 2022 Vernier,
Medidor de alturas Bloques patrón rectangulares Maestro dial and digital height
DC3 Longitud 0 mm ≤ l ≤ 1000 mm (6,1 + 0,005 2∙L) μm
d ≥ 0,01 mm de longitudes fijas gauges
(No. 5.4.2, 5.4.3, 5.5.2
apartados 1 y 3)
JIS B 7502:2016
Micrometers Confirmed
Micrómetro de exteriores Bloques patrón rectangulares
DC3 Longitud 0 mm ≤ l ≤ 500 mm (0,43 + 0,005 2∙L) μm 2021
d ≥ 0,001 mm Paralelas ópticas
(No. [Link].b apartados 1,2
4, [Link], [Link]
ASME B89.1.13 2013
Micrómetro de exteriores Reaffirmed 2022
0 mm ≤ l ≤ 152,4 mm (0,37 + 0,005 7∙L) μm Bloques patrón rectangulares
DC3 Longitud d ≥ 1,3 μm Micrometers
(0 in ≤ l ≤ 6 in) (14,6 + 5,7∙Lp) μin Paralelas ópticas
(d ≥ 50 μin) (No.C-1 y C-2.1, C-2.2, C-2.3
y C-2.6)
JIS B 7502:2016
Micrómetro de interiores de Micrometers Confirmed
Bloques patrón rectangulares Maestro
DC3 Longitud 5 mm ≤ l ≤ 525 mm (1 + 0,003 7∙L) µm 2 puntas 2021
de longitudes fijas
d ≥ 0,001 mm (No.[Link]. b apartados 1, 2
y 4)
Micrómetro interiores 2 ASME B89.1.13 2013
25,4 mm ≤ l ≤ 609,6 mm (0,73 + 0,005 6∙L) µm puntas Bloques patrón rectangulares Maestro Reaffirmed 2022
DC3 Longitud
(1 in ≤ l ≤ 24 in) (29 + 5,6∙Lp) µin d ≥ 1,3 μm de longitudes fijas Micrometers
(d ≥ 50 μin) (No.C-3)
JIS B 7544:1994
Micrómetro de profundidad Depth micrometers
DC3 Longitud 0 mm ≤ l ≤ 300 mm (1,1 + 0,005∙L) µm Bloques patrón rectangulares
d ≥ 0,001 mm Confirmed 2020
(Tabla 7, numerales 1 al 5)
ASME B89.1.13 2013
Micrómetro de profundidad
0 mm ≤ l ≤ 304,8 mm (0,89 + 0,008 7∙L) µm Reaffirmed 2022
DC3 Longitud d ≥ 1,3 μm Bloques patrón rectangulares
(0 in ≤ l ≤ 12 in) (35 + 8,7∙Lp) µin Micrometers
(d ≥ 50 μin)
(No.C-4)

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ACREDITACIÓN ISO/IEC 17025:2017
Alcance de la acreditación aprobado / Documento Normativo

SEDE Calle 23 # 116 - 31, Bodegas 32 y 33, Parque Industrial Puerto Central, Bogotá D.C., Colombia.
INCERTIDUMBRE EXPANDIDA INSTRUMENTO A INSTRUMENTOS, EQUIPOS DOCUMENTO
CÓDIGO MAGNITUD INTERVALO DE MEDICIÓN
DE MEDIDA CALIBRAR PATRONES UTILIZADOS NORMATIVO
JIS B 7515:1982
Longitud del vástago:
Verificador diámetros Cylinder Gauges
18 mm ≤ l ≤ 250 mm Intervalo de Calibrador de indicador de carátula,
DC3 Longitud 0,11 μm internos Confirmed 2020
medición efectivo: palpadores y verificador de Interiores
d ≥ 0,001 mm (Capítulo 10, Tabla 4 No.1 y
0 mm ≤ l ≤ 1,5 mm
2)
JIS B 7503-2017
Mechanical dial gauges
Indicador de carátula Calibrador de indicador de carátula, Confirmed 2021
DC3 Longitud 0 mm ≤ l ≤ 100 mm (0,11 + 0,008 7∙L) µm
d ≥ 0,001 mm palpadores y verificador de Interiores (Tabla JA.1 Error of
indication and
repeatability)
ASME B89.1.10M 2001
Indicador de carátula Dial Indicators (for Linear
0 mm ≤ l ≤ 101,6 mm (0,15 + 0,007 3∙L) µm Calibrador de indicador de carátula,
DC3 Longitud d ≥ 1,3 μm Measurement)
(0 in ≤ l ≤ 4 in) (5,9 + 7,3∙Lp) µin palpadores y verificador de Interiores
(d ≥ 50 μin) Reaffirmed 2021 (8.4.2.a y
8.4.2.c)
JIS B 7533:2015
Dial test indicators (lever
Palpadores Calibrador de indicador de carátula,
DC3 Longitud 0 mm ≤ l ≤ 1,6 mm (0,4 + 0,26∙L) µm type) Confirmed 2020
d ≥ 0,001 mm palpadores y verificador de Interiores
(No. 6.2 y Tabla A1,
apartados 1 y 2)
ASME B89.1.10M 2001
Palpadores Dial Indicators (for Linear
0 mm ≤ l ≤ 1,5 mm (0,25 + 0,12∙L) µm Calibrador de indicador de carátula,
DC3 Longitud d ≥ 2,54 μm Measurement)
(0 in ≤ l ≤ 0,06 in) (9,8 + 120∙Lp) µin palpadores y verificador de Interiores
d ≥ 100 μin Reaffirmed 2021 (8.4.2.b y
8.4.2.c)
Medidores de espesores ASME B89.1.10M 2001
0 ≤ l ≤ 12,5 mm con indicador de carátula Dial Indicators (for Linear
DC3 Longitud (0,58 + 0,027∙L) μm Bloques patrón rectangulares
(0 in ≤ l ≤ 0,5 in) d ≥ 1 μm Measurement)
(d ≥ 40 μin) Reaffirmed 2021 (8.4.2.c)
JISB-7526 1995
Bloques patrón rectangulares
DC1 Ángulo 40 mm ≤ l ≤ 600 mm 4,6 μm Escuadra de 90° Squares Confirmed 2021
Escuadra patrón
(Chapter 10.3 N° 1)

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ACREDITACIÓN ISO/IEC 17025:2017
Alcance de la acreditación aprobado / Documento Normativo

SEDE Calle 23 # 116 - 31, Bodegas 32 y 33, Parque Industrial Puerto Central, Bogotá D.C., Colombia.
INCERTIDUMBRE EXPANDIDA INSTRUMENTO A INSTRUMENTOS, EQUIPOS DOCUMENTO
CÓDIGO MAGNITUD INTERVALO DE MEDICIÓN
DE MEDIDA CALIBRAR PATRONES UTILIZADOS NORMATIVO
JIS B 7510:1993
Nivel de precisión Precision Levels
DC1 Ángulo 0 mm/m ≤ l ≤ 0,7 mm/m 8,6 μm/m Regla de mármol Indicador digital
d ≥ 0,02 mm/m Confirmed 2017
(Chapter 8, Tabla 5, No.1)
JIS B 7524:2008
Indicador digital y bloque patrón Feeler Gauges Confirmed
DC3 Longitud 0 mm < l ≤ 3 mm (0,6 + 0,62∙L) µm Galgas de espesores
rectangular 2022
(Capítulo 13, Tabla 5, No. 1)
Calibración de filmes de
Indicador digital, bloque patrón espesores
DC3 Longitud 22 μm ≤ l ≤ 1533 μm 1,6 μm Filminas de espesores
rectangular y micrómetro LM-I-14, V6
2020-03-12
Procedimiento DI-003
para la calibración de
0 rad ≤ x ≤ 2π rad 0,000 43 rad Goniómetros transportadores de
DC1 Ángulo Bloques angulares
(0° ≤ α ≤ 360°) (0,024°) d ≥ 0˚01'00'' ángulos.
Excepto No. 6.2. CEM,
edición digital 1, 2019
ISO 12179:2021
Geometrical product
specifications (GPS) —
Rugosímetro Surface texture: Profile
DC4 Rugosidad Ra 0,4 μm ≤ l ≤ Ra 3 μm (0,011 + 0,01∙Lr) μm Ra Bloque de rugosidad
d ≥ Ra 0,001 μm method — Calibration of
contact
(stylus) instruments
(No. 7.6)
ISO 12179:2021
Geometrical product
specifications (GPS) —
Rugosímetro Surface texture: Profile
DC4 Rugosidad Ra 3 μm < l ≤ Ra 6,4 μm 0.093 μm Ra Bloque de rugosidad
d ≥ Ra 0,001 μm method — Calibration of
contact
(stylus) instruments
(No. 7.6)

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ACREDITACIÓN ISO/IEC 17025:2017
Alcance de la acreditación aprobado / Documento Normativo

SEDE Calle 23 # 116 - 31, Bodegas 32 y 33, Parque Industrial Puerto Central, Bogotá D.C., Colombia.
INCERTIDUMBRE EXPANDIDA INSTRUMENTO A INSTRUMENTOS, EQUIPOS DOCUMENTO
CÓDIGO MAGNITUD INTERVALO DE MEDICIÓN
DE MEDIDA CALIBRAR PATRONES UTILIZADOS NORMATIVO

Calibración Maestros de
DC3 Longitud 0 mm ≤ l ≤ 600 mm (0,52 + 0,004∙L) μm Maestro de longitudes fijas Bloques patrón rectangulares longitudes fijas
LM-I-30, V4 de 2021-03-17

Procedimiento DI-012
Reglas graduadas de calibración de reglas
DC3 Longitud 0 mm ≤ l ≤ 2000 mm (0,09 + 0,000 05∙L) µm Banco de calibración reglas y cintas
d ≥ 0,5 mm rígidas y de trazos.
CEM, edición digital 1, 2010

Procedimiento DI-011
Cinta métrica para la calibración de
DC3 Longitud 0 m ≤ l ≤ 30 m (0,21 + 4 x 10-06∙ L) mm Banco de calibración reglas y cintas
d ≥ 1 mm flexómetros
CEM, edición digital 1, 2010
JIS B 7502:2016
Micrometers Confirmed
Cabezas micrométricas Bloques patrón rectangulares
DC3 Longitud 0 mm ≤ l ≤ 50 mm 0,59 μm 2021
d ≥ 0,001 mm Indicador digital
(No.[Link].b apartados 1, 2,
4, Tabla 9, Método 1)

ISO 3650:1998
Geometrical Product
Desvío longitud central:
Bloques patrón grado 0, Bloques patrón rectangulares Specifications (GPS)
DC3 Longitud 0,5 mm ≤ l ≤ 100 mm (0,03 + 0,000 4∙L) μm
grado 1 y grado 2 Comparador de bloques Length Standards. Gauge
Desvío de Longitud: 0,025 μm
Blocks
(No. 8.2, 8.4.1, 8.4.3 y 8.4.4)

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ACREDITACIÓN ISO/IEC 17025:2017
Alcance de la acreditación aprobado / Documento Normativo

SEDE SITIO
INCERTIDUMBRE EXPANDIDA INSTRUMENTO A INSTRUMENTOS, EQUIPOS
CÓDIGO MAGNITUD INTERVALO DE MEDICIÓN DOCUMENTO NORMATIVO
DE MEDIDA CALIBRAR PATRONES UTILIZADOS
JIS B 7513:1992
Precision surface plates
DC3 Longitud 200 mm ≤ l ≤ 2500 mm 1,3 μm Superficie de referencia Nivel de precisión
Confirmed 2021
(No. 9.1.1, método 1)
JIS B 7184:2021
Proyector de perfiles
DC3 Longitud 0 mm ≤ l ≤ 300 mm (1,4 + 0,009∙L) μm Regla patrón de vidrio Profile projectors
d ≥ 0,001 mm
(5.3, 5.7 y 5.12)

ISO 10360-2:2009
Confirmed 2020
Geometrical product
specifications (GPS) —
Acceptance and reverification
Máquina tridimensional Bloques patrón rectangulares Maestro
DC3 Longitud 0 mm ≤ l ≤ 2000 mm (0,2 + 0,003∙L) μm tests for coordinate measuring
d ≥ 0,000 1 mm de longitudes fijas
machines (CMM) —
Part 2: CMMs used for
measuring linear dimensions
(No. [Link] Tabla 2 y [Link]
Tabla 3)

Pie de rey superficies de JIS B 7507: 2022


Bloques patrón rectangulares Maestro
interiores, exteriores y Vernier, dial and digital
DC3 Longitud 0 mm ≤ l ≤ 1000 mm (7,8 + 0,004∙L) μm de longitudes fijas
profundidad callipers
Anillo patrón
d ≥ 0,01 mm (No. 5.6, 5.7.2, 5.7.3 y 5.7.4)

JIS B 7517:2018
Confirmed 2022
Medidor de alturas Bloques patrón rectangulares Maestro Vernier, dial and digital height
DC3 Longitud 0 mm ≤ l ≤ 1000 mm (6,1 + 0,0052∙L) μm
d ≥ 0,01 mm de longitudes fijas gauges
(No. 5.4.2, 5.4.3, 5.5.2 apartados
1 y 3)

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Alcance de la acreditación aprobado / Documento Normativo

SEDE SITIO
INCERTIDUMBRE EXPANDIDA INSTRUMENTO A INSTRUMENTOS, EQUIPOS
CÓDIGO MAGNITUD INTERVALO DE MEDICIÓN DOCUMENTO NORMATIVO
DE MEDIDA CALIBRAR PATRONES UTILIZADOS
JIS B 7502:2016
Micrómetro de exteriores Bloques patrón rectangulares Micrometers Confirmed 2021
DC3 Longitud 0 mm ≤ l ≤ 500 mm (0,43 + 0,005 2∙L) μm
d ≥ 0,001 mm Paralelas ópticas (No. [Link].b apartados 1,2 4,
[Link], [Link]

ASME B89.1.13 2013


Micrómetro de exteriores
0 mm ≤ l ≤ 152,4 mm (0,37 + 0,005 7∙L) μm Bloques patrón rectangulares Reaffirmed 2022 Micrometers
DC3 Longitud d ≥ 1,3 μm
(0 in ≤ l ≤ 6 in) (14,6 + 5,7∙Lp) μin Paralelas ópticas (No.C-1 y C-2.1, C-2.2, C-2.3 y
(d ≥ 50 μin)
C-2.6)

Procedimiento para la
Manómetros digitales y calibración de manómetros,
0 kPa ≤ p ≤ 689,48 kPa 1,4 kPa analógicos Manómetro patrón digital vacuómetros y
DG8 Presión
(0 psi ≤ p ≤ 100 psi) (0,21 psi) CL ≥ 0,25 % de escala Clase 0,1% de escala completa manovacuómetros
completa CEM ME-003
Edición digital 3 de 2019

Procedimiento para la
Manómetros digitales y calibración de manómetros,
689,48 kPa < p ≤ 6,89 MPa 3,1 kPa analógicos Manómetro patrón digital vacuómetros y
DG8 Presión
(100 psi < p ≤ 1000 psi) (0,45 psi) CL ≥ 0,25 % de escala Clase 0,05% de escala completa manovacuómetros
completa CEM ME-003
Edición digital 3 de 2019

Procedimiento para la
Manómetros digitales y calibración de manómetros,
6,89 MPa < p ≤ 34,47 MPa 6,4 kPa analógicos Manómetro patrón digital vacuómetros y
DG8 Presión
(1000 psi < p ≤ 5000 psi) (0,93 psi) CL ≥ 0,25 % de escala Clase 0,1% de escala completa manovacuómetros
completa CEM ME-003
Edición digital 3 de 2019

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ACREDITACIÓN ISO/IEC 17025:2017
Alcance de la acreditación aprobado / Documento Normativo

SEDE SITIO
INCERTIDUMBRE EXPANDIDA INSTRUMENTO A INSTRUMENTOS, EQUIPOS
CÓDIGO MAGNITUD INTERVALO DE MEDICIÓN DOCUMENTO NORMATIVO
DE MEDIDA CALIBRAR PATRONES UTILIZADOS
ASTM E18-22
Standard Test Methods for
Rockwell Hardness of Metallic
Durómetro de banco
DG7 Dureza 0 HRC < H ≤ 100 HRC 0,44 HRC Bloques de dureza Rockwell C Materials (No. A1.4.7.1, A1.4.7.2,
d ≥ 0,1 HRC
A1.4.7.3, A1.4.7.4, A1.4.9.1 y
A.[Link] Alternative Procedure
2 Indirect Verification)
(0,002 8 + 0,03∙x) mrad
Proyector de perfiles d ≥
0 rad < x ≤ 2π rad (x en radianes) JIS B 7184:2021
DC1 Ángulo 0,000 005 rad Bloques angulares
(0° < α ≤ 360°) (0,000 16° + 0,000 03∙x) Profile projectors 5.8
(d ≥ 0,000 28 °)
(x en grados)

Notas:
"H" corresponde a dureza en unidades Rockwell C (HRC)
"x" valor de ángulo a medir.
"p", es el valor de presión a medir.
"d" división de escala del instrumento.
"CL" Clase del instrumento bajo prueba.
"l" valor de longitud a medir en unidades del mensurando.
"L": Longitud a medir en mm
"Lp": Longitud a medir en in
"Lr": Rugosidad a medir en µm
"Ra" Rugosidad media aritmética.
α: Ángulo plano medido
La incertidumbre expandida de la medición reportada se establece como la incertidumbre estándar de medición multiplicada por el factor de cobertura “k=2” y la probabilidad de cobertura, la cual
debe ser aproximada al 95 % y no menor a este valor.

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