CENTRO DE CIENCIA BÁSICA

CURSO: MÉTODOS EXPERIMENTALES EN FÍSICA

PRÁCTICA DE LABORATORIO-INTERFERENCIA Y DIFRACCIÓN-MEDIDA DE LA LONGITUD DE ONDA

DE UN LÁSER

MEDIA PONDERADA-INCERTIDUMBRE EN LA MEDIA PONDERADA

Objetivo: Evaluar, mediante algunos experimentos de interferencia y difracción, el uso de herramientas de la

tecnología de comunicación e información (TIC) y conceptos y procedimientos en el manejo de datos
experimentales, en particular, el cálculo de la media ponderada de una cantidad que se mide mediante varios
procedimientos.

Descripción: Las ondas pueden interferir y difractarse. Cuando dos ondas se encuentran en un lugar del
espacio en cierto instante, estas se superponen y dan lugar a una onda resultante con menor o mayor amplitud
que la de cada una de las ondas que se superponen. Este fenómeno se denomina interferencia. Las ondas
también pueden pasar a través de pequeñas aberturas o bordear pequeños obstáculos y cuando lo hacen, la
interferencia de las ondas en la región posterior a las aberturas o los obstáculos puede dar lugar a patrones
de intensidad luminosa compuesto por franjas brillantes y oscuras. Este fenómeno se conoce como difracción.
En esta práctica usaremos el interferómetro de Michelson, un instrumento con el cual podemos poner a
interferir ondas, con el fin de estimar la longitud de onda de un láser. Con el mismo propósito, trabajaremos
también la difracción por una abertura rectangular. Analizaremos aspectos relacionados con la media
ponderada de las medidas obtenidas mediante los dos experimentos.

Revisemos algunos conceptos. En lo que sigue daremos unas bases teóricas mínimas que nos permitan
entender los dos experimentos.

Interferómetro de Michelson. Matemáticamente, una onda viajera armónica se representa con una función
seno o coseno que depende tanto del tiempo como de la posición. La distancia entre dos máximos o crestas
consecutivas se denomina longitud de onda y suele representarse por  . Ahora bien, cuando dos o más
ondas de luz se encuentran en el espacio, el campo eléctrico de la onda resultante es la suma vectorial de los
campos eléctricos que componen las respectivas ondas. Si cada onda proviene de una fuente diferente,
entonces no habrá ninguna relación entre las oscilaciones del campo electromagnético de las ondas, de tal
manera que si en un punto y en un instante determinado la suma de los campos resulta en un máximo, un
instante después ya podría resultar en un mínimo. Estas variaciones son tan rápidas que cuando el ojo humano
promedia los resultados, lo que se observa es un patrón uniforme de intensidad. Sin embargo, si las ondas
provienen de la misma fuente, puede existir un grado de correlación tal entre las oscilaciones que en un punto
del espacio su diferencia de fase permanezca constante, esto es, siempre se encontrará, por ejemplo, una
cresta de una onda con una cresta de la otra. En este caso, la superposición de los campos dará lugar a un
máximo y se observará una región brillante. Por el contrario, si se encuentra una cresta de una onda con un
valle de la otra, la superposición dará lugar a un mínimo y se observará una región oscura.
La Fig. 1 muestra un esquema de un interferómetro de Michelson mediante el cual es posible poner a
interferir dos ondas. Un haz de luz proveniente de una fuente láser llega a un divisor de haz que refleja el 50%
de la luz incidente y transmite el otro 50%. De esta manera el haz incidente se divide en dos haces. Un haz es
transmitido hacia el espejo móvil M1 y el otro se refleja hacia el espejo fijo M2. Ambos espejos reflejan la luz
nuevamente hacia el divisor de haz. Parte de la luz que viene del espejo M1 es reflejada en el divisor de haz y
es dirigida hacia la pantalla de observación. Mitad de intensidad de la luz que proviene de M2 se transmite a
través del divisor de haz también hacia la pantalla de observación. De esta manera el haz original es dividido
en dos y una parte de cada uno de estos haces se trae nuevamente a una pantalla para que se encuentren e
interfieran.

Pantalla de
observación

Divisor
de haz

Láser
Espejo
móvil M1
Espejo fijo M2

Fig. 1 Esquema de un interferómetro de Michelson.

Puesto que los haces provienen de la misma fuente entonces estarán altamente correlacionados. Si el haz
láser original se expande mediante una lente a un diámetro mayor, se observará un patrón de anillos brillantes
y oscuros a la salida del interferómetro, como se muestra en la Fig. 2.

Fig. 2 Patrón de anillos brillantes y oscuros producido mediante un interferómetro de Michelson. Tomado de:
http://video.mit.edu/watch/michelson-interferometer-6561/ (15/03/2017)
Puesto que los haces que interfieren se obtienen a partir del mismo haz inicial, estos se encuentran
inicialmente en fase y cuando interfieren a la salida, la diferencia de fase se deberá sólo a la diferencia en
trayectorias recorridas por los haces antes de llegar a la pantalla de observación. Esta diferencia de fase puede
modificarse moviendo el espejo M1. Si el espejo M1 se mueve una distancia D acercándose al divisor de haz,
la diferencia en trayectoria será 2D porque el haz que viaja por esa trayectoria dejará de recorrer una
distancia D a la ida y una distancia D a la venida. Algo similar pasará si el espejo M1 se mueve una distancia
D pero alejándose del divisor de haz. En este caso el haz que viaja por esa trayectoria recorrerá una distancia
2D adicional a la que recorre el haz que va al espejo M2 y regresa. A medida que el espejo M1 se mueve
acercándose al divisor de haz o alejándose de éste una distancia D , la diferencia en trayectoria cambia
continuamente y las franjas brillantes en el patrón de intensidad se vuelven oscuras y las oscuras brillantes un
número N de veces. La longitud de onda de la luz utilizada se puede calcular mediante la expresión,

2D
 (1)
N
Esta expresión se puede escribir también como,


D N (2)
2

Por tanto, si recolectamos información de D vs. N , entonces la longitud de onda de la fuente láser puede
determinarse fácilmente usando la Ec.(2).

Difracción por una abertura rectangular. Si la luz de un láser pasa a través de una rendija y luego se proyecta
en una pantalla que está lejos de la abertura, se obtendrá un patrón de franjas conocido como patrón de
difracción de Fraunhofer (Fig. 3).

Fig. 3 Patrón de difracción de Fraunhofer de una abertura rectangular de largo mucho mayor que el ancho.
Tomado de: http://www.sabelotodo.org/optica/difraccionluz.html (15/03/2017)

En el centro de la pantalla, a lo largo del eje definido por   0 aparece una franja brillante ancha seguida
por franjas oscuras y brillantes que se alternan a cada lado de la franja central. Los mínimos de difracción, es
decir, los centros de las franjas oscuras donde la intensidad es cero se ubican en ángulos  dados por la
siguiente expresión,
 
sen  n (3)
a

En esta expresión a es el ancho de la abertura,  es la longitud de onda del láser y n  1,  2,  3,

es el orden del mínimo. Los mínimos se enumeran con enteros positivos hacia un lado del máximo central y
con enteros negativos hacia el otro como se muestra en la Fig. 3. Para ángulos  pequeños se puede hacer la
aproximación sen  tan   y L , donde y es la posición del mínimo respectivo y L es la separación
entre la rendija y la pantalla de observación. La Ec. (3) queda,

yn 
n (4)
L a

en donde se ha colocado el subíndice n a yn para indicar que se trata de la posición y del mínimo de orden
n . Esta expresión se puede escribir como,

L
yn  n (5)
a
De esta manera, si conociéramos el ancho de la abertura de difracción, la distancia desde la abertura hasta la
pantalla de observación, e información de yn vs. n , entonces la longitud de onda de la fuente láser puede
determinarse fácilmente usando la Ec.(5).

En lo expuesto arriba hemos visto dos procedimientos que podemos usar para determinar la longitud de
onda de un láser. Por las circunstancias propias de cada experimento, los resultados obtenidos mediante cada
procedimiento pueden diferir ligeramente el uno del otro e igualmente sus incertidumbres. En general,
cuando se tienen mejores estimados para una cantidad obtenidos usando diferentes técnicas, la media
ponderada de los resultados se puede obtener como,

u
xi
2
xw  i
(6)
 u2
1
i

donde xi es el i-ésimo mejor estimado y ui su incertidumbre. La incertidumbre en la media ponderada dada

por la Ec. (6) se obtiene como,

1
 2
 1 
uxw    (7)
 
  u2
1

 i 

Debe anotarse que si la diferencia entre dos medias es mayor que sus respectivas incertidumbres, los valores
obtenidos para cada media son, en principio, inconsistentes. Esto se puede deber, por ejemplo, a que los
experimentos se realizaron bajo condiciones diferentes, a que los instrumentos de medida no fueron
operados bajo las mismas especificaciones, o que en algunos de los experimentos se introdujeron errores
sistemáticos.

Procedimiento.

1) Interferómetro de Michelson. Con el interferómetro de Michelson, construya una tabla de datos de

D vs. N , donde D es el desplazamiento del espejo móvil en micrómetros y N es el número de veces que el
patrón vuelve a su forma original para ese desplazamiento. Mida D para N  5, 10, 15, 20, 25 y 30 . Para
N  0 tome D  0 m .

Haga una gráfica de D vs. N y trace la recta que mejor ajusta los datos. Usando la función
ESTIMACION.LINEAL de Excel obtenga la pendiente y su incertidumbre.

A partir de la pendiente m de la recta de mejor ajuste, y comparando con la Ec. (2), obtenga el mejor estimado
de la longitud de onda del láser. Exprese el resultado en nanómetros.

A partir de la incertidumbre en la pendiente u  m  obtenga la incertidumbre u    en el mejor estimado de la

longitud de onda. Redondee la incertidumbre a una o máximo dos cifras significativas. Exprese el resultado
en nanómetros. Redondee el mejor estimado de la longitud de onda con base en el redondeo de la
incertidumbre y exprese el resultado de la medida en la forma 1  u  1  .

2) Difracción por una abertura. Haga incidir la luz del láser perpendicularmente sobre una abertura de
difracción rectangular de ancho a y observe el patrón de intensidad en una pantalla ubicada a una distancia
L de la abertura. Registre los valores de a en nanómetros y de L en centímetros. Sobre una hoja de papel
señale las ubicaciones con respecto al centro del máximo central de los mínimos de intensidad de orden
n  1,  2,  3. Mida las coordenadas yn en centímetros de cada uno de los mínimos señalados con
respecto a un origen ubicado en la mitad del máximo central. Haga una tabla que contenga los datos de
yn vs. n

Nota: El ancho de la abertura que usará en el laboratorio será de a  102m , sin embargo, esto puede
cambiar dependiendo de la disponibilidad de aberturas que se tenga. Consulte con su profesor o profesora el
correspondiente ancho para sus cálculos en caso de que se cambie.

Haga una gráfica de yn vs. n y trace la recta que mejor ajusta los datos. Usando la función
ESTIMACION.LINEAL de Excel obtenga la pendiente y su incertidumbre.

A partir de la pendiente m de la recta de mejor ajuste, y comparando con la Ec. (5), obtenga el mejor estimado
de la longitud de onda del láser. Exprese el resultado en nanómetros.

A partir de la incertidumbre en la pendiente u  m  obtenga la incertidumbre u    en el mejor estimado de la

longitud de onda. Redondee la incertidumbre a una o máximo dos cifras significativas y exprese el resultado
en nanómetros. Finalmente, exprese el resultado de la medida de la longitud de onda en la forma 2  u  2  .

Nota: Para calcular la respectiva incertidumbre considere que la distancia L a la pantalla de observación y el
ancho de la abertura a son cantidades exactas y no tienen incertidumbres.
3) Haga un cuadro con los mejores estimados de la longitud de onda obtenidos y sus respectivas
incertidumbres, todo en nanómetros. Compare el valor absoluto de la diferencia de los mejores estimados
obtenidos por los dos procedimientos con la incertidumbre de cada uno de estos valores. ¿Cree que los
resultados son consistentes, algo consistentes o nada consistentes?

Si todos los resultados son consistentes o medianamente consistentes calcule la media ponderada de la
longitud de onda y su incertidumbre usando las Ecs. (6) y (7), respectivamente. Calcule el error porcentual en
la media ponderada con respecto al valor entregado por el fabricante del láser (633 nm). Obtenga
conclusiones.

Nota: Si los resultados no son nada consistentes es porque son muy diferentes entre sí. En este caso, no tiene
sentido calcular una media ponderada debido a que tal vez hay fallas apreciables en algunos de los
experimentos. Si este fue el caso en sus resultados, calcule de todas formas la media ponderada y su
incertidumbre como un ejercicio, pero debe aclarar las posibles razones de esta diferencia.

4) Suponga que se conoce la longitud de onda del láser. Describa brevemente, usando los mismos montajes
experimentales de esta práctica, cómo podría ser un procedimiento para medir microdesplazamientos con el
interferómetro de Michelson y cómo podría ser uno para medir el ancho de una abertura o de un filamento
mediante el experimento de difracción.

Los experimentos realizados en esta práctica son aplicaciones relativamente sencillas de la metrología óptica,
la cual usa las ondas de luz, en particular la luz láser, para medir cantidades con muy alta precisión. Discuta
brevemente una aplicación de la metrología óptica en el campo de la ingeniería que usted trabaja.

Referencias

Les Kirkup, Data Analysis for Physical Scientists Featuring Excel Primera Edición, Cambridge University Press,
Cambridge, 2012.

Física re-Creativa: Experimentos de Física usando nuevas tecnologías - S. Gil y E. Rodríguez – Ed. Prentice Hall-
Buenos Aires, 2001.

Evaluation of Measurement data-Guide to the Expression of Uncertainty in Measurement, GUM, Documento

producido por Working Group 1 of the Joint Committee for Guides in Metrology, JCGM 2008, en
www.bipm.org, (12/01/2016).

Baird, D. C., Experimentación: Una Introducción a la teoría de Mediciones y al Diseño de Experimentos.

Segunda Edición, Prentice Hall Hispanoamérica S. A., 1991.

Serway R. A., Jewett J. W., Jr., Física para ciencias e ingeniería, Vol. I y II, Séptima edición, Cengage Learning,
México, 2008.

Errores en las medidas, recuperado de http://ocw.unican.es/ensenanzas-tecnicas/mecanica/practicas-

1/Errores%20en%20la%20medidas.pdf, (12/01/2016).

Criterios de calificación: Todos los puntos tienen el mismo valor. Es necesaria una clara y ordenada
presentación de los datos y procedimientos realizados.

Guía preparada para efectos docentes por el Prof. Ángel Salazar Martínez, Centro de Ciencia
Básica, Universidad Pontificia Bolivariana, Medellín-Colombia.