En la siguiente tabla se muestran el número de disconformidades observados en 26 muestras
sucesivas de 100 tarjetas de circuitos impresos construir la grafica de control C o defectos por m
Límite Límite Límite
Muestra Defectos
Inferior Central Superior
1 16 6.33 19.62 32.90
2 18 6.33 19.62 32.90
3 12 6.33 19.62 32.90
4 15 6.33 19.62 32.90
5 21 6.33 19.62 32.90
6 5 6.33 19.62 32.90
7 28 6.33 19.62 32.90
8 20 6.33 19.62 32.90
9 31 6.33 19.62 32.90
10 25 6.33 19.62 32.90
11 20 6.33 19.62 32.90
12 24 6.33 19.62 32.90
13 16 6.33 19.62 32.90
14 19 6.33 19.62 32.90
15 10 6.33 19.62 32.90 Grafica d
16 17 6.33 19.62 32.90
17 13 6.33 19.62 32.90 45
18 22 6.33 19.62 32.90 40
19 18 6.33 19.62 32.90 35
30
20 39 6.33 19.62 32.90
25
21 30 6.33 19.62 32.90 20
22 24 6.33 19.62 32.90 15
23 16 6.33 19.62 32.90 10
24 19 6.33 19.62 32.90 5
25 17 6.33 19.62 32.90 0
1 2 3 4 5 6
26 15 6.33 19.62 32.90
510 Colum
observados en 26 muestras
de control C o defectos por muestra
N= 26
TOTAL= 510
C= 19.62
Respuestas de la pregunta 1
DESVIACIÓN ESTANDAR S 4.43
Limite inferior LIC 6.33
Limite central LC 19.62
Limite superior LSC 32.90
Grafica de control de las disconformidades de
circuitos impresos
45
40
35
30
25
20
15
10
5
0
1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12 13 14 15 16 17 18 19 20 21 22 23 24 25 26
Column C Column D Column E Column F