Ciencia de los Materiales I
Dra. Nacarí Marín
CONTENIDO
Unidad I. Simetría ............................................................................................................ 2
1.1 Efectos de la simetría de las estructuras ............................................................. 2
1.2 Distancia entre planos ......................................................................................... 7
Conclusiones................................................................................................................ 11
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Unidad I. Simetría
Ilustración 1. Red Cristalina [Link]
Como ya se ha comentado en las unidades anteriores, las propiedades dependen
de la estructura de los materiales. La simetría en la estructura cobra importancia por
el efecto de la organización y espaciamiento de los átomos cuando se trata de una
estructura cristalina. Esta unidad se centra en la disposición adoptada por los
átomos en el estado sólido, en particular materiales con estructura cristalina. Se
explica el esquema por el cual se expresan coordenadas de puntos, direcciones y
planos. Se consideran los materiales monocristalinos y policristalinos.
1.1 Efectos de la simetría de las estructuras
La simetría es un concepto que implica periodicidad, por lo que en las estructuras
cristalinas se aplica este concepto. Las propiedades de los materiales dependen de
la organización de los átomos dentro de la estructura. Las estructuras cristalinas
vistas a partir de las redes de Bravais muestran simetría, y como se explicó en la
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unidad anterior, se estudia la celda unitaria como unidad básica que contiene toda
la información de la estructura.
Se pueden ubicar la posición de los átomos en la red o celda unitaria, midiendo la
distancia en términos del parámetro de red. A la posición que tiene un átomo en la
red se le llama coordenada de punto o posición atómica. Cada coordenada se
define en los ejes x, y y z. Las distancias se separan con comas, siendo la primera
posición del eje x, la segunda de y y la tercera de z. En la figura que se muestra a
continuación, se muestran algunas coordenadas de interés.
Coordenadas de puntos. Esta imagen fue sacada del libro Ciencia e Ingeniería de Materiales
A partir de la definición de las coordenadas de puntos, se pueden establecer las
direcciones de importancia dentro de una celda unitaria. Las direcciones
cristalográficas se usan para indicar determinada orientación de un cristal. Como
las direcciones son vectores, una dirección y su negativa representan la misma
línea, pero en direcciones opuestas. Las direcciones en la celda unitaria permiten
identificar, por ejemplo, como algunos materiales se deforman en direcciones a lo
largo de los átomos que están en contacto estrecho. Si a un material se le aplica un
esfuerzo por compresión, el contacto entre los átomos se incrementa causando un
reordenamiento de los mismos, lo que da lugar a la deformación (elástica o plástica)
del material en una dirección específica.
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En el siguiente enlace se presenta una animación de ensayo de esfuerzo de
compresión: Animación de ensayo de compresión:
Los índices de Miller son la anotación abreviada de las direcciones cristalográficas.
El procedimiento para determinar los índices de Miller es el siguiente:
1. Se determinan las coordenadas de dos puntos que estén en la dirección de
la celda unitaria.
2. Se restan las coordenadas del punto inicial de las del punto final para obtener
parámetros de red recorridos en la dirección de cada eje del sistema de
coordenadas.
3. Se reducen las fracciones obtenidas de la resta a los mínimos enteros.
4. El resultado se encierra en corchetes [ ]. Si se obtiene un signo negativo, se
representa con una barra sobre el número.
El siguiente ejemplo, extraído del libro de Ciencia e Ingeniería de Materiales de D.
Askeland, ilustra cómo se aplica el procedimiento anterior para determinar los
índices de Miller de las direcciones A, B y C:
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Dirección A
1. (1,0,0) y (0,0,0)
2. 1,0,0 – 0,0,0 = 1,0,0
3. No hay fracciones
4. [100]
Dirección B
1. (1,1,1) y (0,0,0)
2. 1,1,1 – 0,0,0 = 1,1,1
3. No hay fracciones
4. [111]
Dirección C
1. (0,0,1) y (1/2,1,0)
2. 0,0,1 – 1/2,1,0 = -1/2,-1,1
Coordenadas de puntos. Esta imagen fue sacada del libro
Ciencia e Ingeniería de Materiales
3. 2(-1/2, -1, 1) = -1, -2, 2
̅̅̅̅ 2]
4. [12
Importante: Una familia de direcciones es un grupo de direcciones equivalentes y
se representa entre paréntesis inclinados <>. Un material tiene las mismas
propiedades en cada una de las direcciones de una familia.
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|110| ̅̅̅̅ 0|
|11
|101| |1̅ 01̅ |
|011| ̅̅̅̅ |
|011
<110>
|11̅0| |1̅ 10|
|101̅| |1̅01|
|011̅| |01̅ 1|
Familia de direcciones
Un material anisótropo describe un material cuyas propiedades depende de la
dirección cristalográfica en la que se mide. Si una propiedad es dependiente de la
orientación, se dice que la sustancia es anisótropa. Ejemplo de material anisótropo:
madera.
Madera [Link]
Materiales Anisótropos. [Link] (CCBY)
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Un material isótropo posee propiedades
mecánicas y térmicas idénticas en todas
las direcciones. Ejemplo de materiales
isótropos: acero
Barras de hierro. [Link]
1.2 Distancia entre planos
La dirección cristalográfica puede definirse a partir de la distancia repetitiva, la que
consiste en la distancia entre los puntos de red a lo largo de la dirección. La distancia
entre los puntos de red, en el caso de una celda unitaria cúbica centrada en las
caras pudiera definirse en el centro de una de las caras y en función del parámetro
de red (𝑎0 ). Para el cobre, con estructura cúbica centrada en las caras, la distancia
repetitiva está definida por:
1
√2𝑎0
2
Dado que el parámetro de red en el cobre es de 0.3615 nm, la distancia repetitiva
es de 0.2556 nm.
La densidad lineal corresponde a la cantidad de puntos de red por unidad de
longitud a lo largo de una dirección específica. Las direcciones con alta densidad
lineal indican direcciones de deformación. Se calcula dividiendo el número de
átomos sobre la línea entre la longitud de la línea. Por ejemplo, en el cobre hay dos
distancias repetitivas a lo largo de la dirección [100] en cada celda unitaria. Dado
que la distancia es √2𝑎0 = 0.5112 nm, se tiene que la densidad lineal es de 3.91
puntos de red/nm.
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2 𝑑𝑖𝑠𝑡𝑎𝑛𝑐𝑖𝑎𝑠 𝑟𝑒𝑝𝑒𝑡𝑖𝑡𝑖𝑣𝑎𝑠
𝐷𝑒𝑛𝑠𝑖𝑑𝑎𝑑 𝑙𝑖𝑛𝑒𝑎𝑙 = = 3.91 𝑝𝑢𝑛𝑡𝑜𝑠 𝑑𝑒 𝑟𝑒𝑑/𝑛𝑚
0.5112 𝑛𝑚
La fracción de empaquetamiento de una dirección no es más que la fracción
cubierta por los átomos. En el caso del cobre con dirección [100], el radio atómico
es 0.1278 nm, por tanto la fracción de empaquetamiento es:
𝐹𝑟𝑎𝑐𝑐𝑖ó𝑛 𝑑𝑒 𝑒𝑚𝑝𝑎𝑞𝑢𝑒𝑡𝑎𝑚𝑖𝑒𝑛𝑡𝑜 = (𝑑𝑒𝑛𝑠𝑖𝑑𝑎𝑑 𝑙𝑖𝑛𝑒𝑎𝑙)(2𝑟)
= (3.91)(2)(0.1278) = (1.0)
Un plano cristalográfico es un conjunto de átomos ubicados en un área
determinada. Algunos planos en la celda unitaria también son importantes, en
particular, cuando se necesita asegurar una orientación durante el crecimiento de
los cristales. Los índices de Miller sirven para identificar planos específicos dentro
de una estructura cristalina. Se utilizan índices de Miller como notación abreviada,
mediante el siguiente procedimiento:
1. Se identifican los puntos en los que el plano interseca las coordenadas x, y y
z, en términos del número de parámetros de red. Si el plano pasa a través
del origen, debe moverse el origen del sistema coordenado al de una celda
unitaria adyacente.
2. Se toman recíprocos de estas intersecciones
3. Se eliminan fracciones. Sin embargo, en este caso no se reducen a los
enteros más bajos.
4. Se encierra entre paréntesis () los números resultantes. Si se obtienen
números negativos, se escriben con una barra sobre el número.
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Determine los índices de Miller de los siguientes planos A, B y C:
Plano A: x =1, y=1, z=1
Plano B: x=1, y=2, z=∞ (el plano no cruza el eje z)
Plano C: x=∞, y=1, z=∞ (el plano pasa por el
origen, mover a y=1)
Plano A: 1/1, 1/1, 1/1 (1 1 1)
Plano B: 1/1, 1/2, 1/∞ (2 1 0)
Plano C: 1/∞, 1/-1, 1/∞ (0 1̅ 0)
Coordenadas de planos. Esta imagen fue sacada del libro
Ciencia e Ingeniería de Materiales
El sistema de índices de Miller en este caso sirve para identificar planos de
deformación y/o deslizamiento. Se utiliza para determinar diferentes niveles de
energía superficial y sirven para determinar el sentido de crecimiento de cristales en
algunos materiales.
Para ampliar la explicación de cómo obtienen los índices de Miller para planos,
ver el siguiente video: Determinación de planos cristalográficos
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También, puede consultar la siguiente página web, de la Universidad de
Cambridge: Lattice Planes and Miller Indices
La densidad planar se obtiene dividiendo el número de átomos dentro del plano
entre el área del plano. En los planos metalográficos se puede medir la cantidad de
masa que ocupan los átomos con respecto al área del plano. Los procesos de
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deformación de los materiales se producen donde la densidad es alta y se deforma
por el deslizamiento de los átomos en ese plano.
Por otra parte, la fracción de empaquetamiento planar se refiere al área ocupada
por átomos dentro de un plano, considerando el número de átomos dentro del plano
por el área del círculo entre el área del plano. Con la fracción de empaquetamiento
planar se puede calcular el porcentaje del área de átomos que ocupa un plano.
La distancia entre dos planos paralelos adyacentes de átomos, con los mismos
índices de Miller se les conoce como espaciado interplanar (dhkl). Para el caso de
las estructuras cúbicas el especiado interplanar se calcula:
𝑎0
𝑑ℎ𝑘𝑙 =
√ℎ2 + 𝑘 2 + 𝑙 2
Donde 𝑎0 es el parámetro de red y h, k y l representan los índices de Miller de los
planos adyacentes.
Conclusiones
• La simetría en la estructura cobra importancia por el efecto de la
organización y espaciamiento de los átomos cuando se trata de una
estructura cristalina
• Los índices de Miller son la anotación abreviada de las direcciones y
planos cristalográficos.
• Un material anisótropo describe un material cuyas propiedades depende
de la dirección cristalográfica en la que se mide.
• Un material isótropo posee propiedades idénticas en todas las
direcciones.
• La definición de planos en una red es importante, particularmente cuando
se necesita asegurar una orientación durante el crecimiento de los
cristales, así como también definir cambios en propiedades del material.
• Estas imperfecciones tienen una influencia en las propiedades mecánicas
del material, de allí que mediante la definición del vector de Burgers se
puede establecer el circuito que encierra una dislocación en una red
cristalina.
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