Reparación de electrónica industrial

Thesergiosco
rner
 Sergio Soriano


o 8 de jul de 2015
o
o 14 Min. de lectura

¿Quieres ser un buen técnico en

electrónica? No dejes de ver esta
guía
Testeo de componentes.

Un estudio completo de la siguiente guía te ayudará a ser un maestro en las siguientes

áreas:

 Testeo de diodos,SCR´S Y Triacs

 Testeo de BJTs, JFET y MOSTETS
 Amplificadores operacionales
 Cómo usar un multímetro para testear componentes

Bueno antes de meternos al lío te quiero hacer saber una regla de oro que me ha llevado
al éxito en mis reparaciones. "LOS CIRCUITOS DE EJEMPLO" Todo parte de pensar
de que esta tarjeta ha sido diseñada por uno o un equipo de ingenieros para llevar a cabo
X tipo de funciones en la máquina. Dicho esto, sabrás que los diseñadores al igual que
los técnicos reparadores utilizan las hojas de datos "Datasheet" de los componentes para
saber si estos les van a servir en el procesado de señales que ellos buscan, en esa misma
búsqueda es donde ellos también se valen y se apoyan en los circuitos de ejemplo
expresados en los datasheet.
Estos mismos circuitos nos pueden servir a nosotros cuando no tenemos esquemas ni
información sobre la tarjeta, que lamentablemente es el 97% de los casos. Siempre
acabamos lidiando con la típica situación de una tarjeta con una nota atada con un
cordón que pone "no funciona".

Esto me ha servido mucho, particularmente para detectar todos aquellos componentes

discretos de alrededor de transistores, opto acopladores, amplificadores operacionales
etc.

Si aún, no eres muy experto y vas a ojear la siguiente guía de como testear, mi consejo
es que intentes entender bien los circuitos que testees, comprende lo que estas midiendo,
haz pequeñas reingenierías inversas, te llevará tiempo la primera vez, pero las demás,
para mí ha sido como "montar en bici", con suerte casi todo es repetitivo o los
siguientes casos los puedes interpretar mucho más rápido.

Testeando diodos:

El diodo es un dispositivo semiconductor, el cual conduce corriente tan solo en una

dirección. En otras palabras, el diodo muestra una muy baja resistencia cuando es
polarizado directamente (A-K) y una resistencia muy alta cuando es polarizado
inversamente (K-A). Como ya sabemos, un óhmetro aplica un voltaje conocido desde su
fuente interna (Baterías) para medir resistencia. Teóricamente este voltaje puede
alcanzar entre 1.5 y 3 V. El diodo requiere un voltaje de 0.7v mínimo para ser
polarizado. Por lo tanto, si el cable positivo de óhmetro está conectado al ánodo (A) y el
negativo al Cátodo (K) el diodo será directamente polarizado. En este caso el óhmetro
leerá una resistencia muy baja. Si le damos la vuelta a las sondas, llevando el negativo
al Ánodo (A) y el positivo a cátodo (K) el diodo es inversamente polarizado, entonces el
óhmetro deberá medir una resistencia muy alta.
Por lo que cualquier óhmetro puede ser utilizado para testear un diodo.

La mayoría de los multímetros digitales DDM tiene un modo de prueba de diodo, que
está marcada en el selector normalmente con símbolo pequeño característico de un
diodo. Cuando el “diode test-mode” es seleccionado, este proporciona suficiente voltaje
interno al test del diodo en ambas direcciones. La sonda positiva del DMM (Color Rojo)
conectada al ánodo (A) y la sonda negativa (Color negro) conectada al cátodo (K).

Si el diodo está en buenas condiciones el multímetro deberá mostrar un valor de entre

0.5 y 0.9 v (típicamente 0.7v).

Una vez revisado este valor, le damos la vuelta a las sondas, y en este caso el diodo
aparecerá como un circuito abierto en el multímetro.

Un diodo defectuoso aparece en ambas direcciones ya sea como un cortocircuito o un

circuito abierto. En el caso del circuito abierto, el fallo más común, ya que este suele ser
causado por un daño en la unión PN del componente debido a un sobrecalentamiento,
estos diodos presentan una impedancia muy alta tanto si es polarizado directamente
como inversamente polarizado. Por otro lado, en el caso de corto circuito, el multímetro
leerá 0v en ambas direcciones. A veces, un diodo no presenta un corto circuito complejo
(0v), por lo que aquí se comportará como una resistencia, en este caso el multímetro
medirá la misma resistencia en ambos sentidos.

Como mencioné, anteriormente si “diode test-mode” no está disponible en nuestro

multímetro podemos usar el óhmetro, midiendo impedancia en ambos sentidos.

Ponemos nuestro multímetros en Ohm. Cuando polarizo el diodo directamente el

multímetro leerá de unos pocos cientos a unos miles ohmios. La resistencia de un diodo
normalmente no excede los 100 ohm, pero el voltaje interno del muchos multímetros es
relativamente bajo en el rango de ohm y no es suficiente para polarizar completamente
la unión PN. Por esta razón el valor que muestra es más alto. Cuando el diodo es
polarizado inversamente, el multímetro suele indicar fuera de rango “”OL” porque la
resistencia del diodo en este caso es muy alta y no puede ser medida por el multímetro.
Lo valores de medida de resistencia son relevantes, lo que es importante, es asegurarse
de que hay una diferencia grande en la lecturas cuando el diodo es directamente
polarizado e inversamente polarizado. De hecho esto es lo más importante a destacar ya
que este indica que un diodo esta funcionado propiamente.

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Testeando SRC

El SCR es un diodo con una puerta de activación adicional. Los SRC pueden ser
conducidos tan solo si están polarizados directamente y se les aplica un pulso a la
“Gate” o puerta de activación. Por esto, el SRC puede ser testeado de una manera
similar a la del diodo, mediante el uso de nuestro multímetro en “Diode test-mode” o
con un óhmetro.

La sonda positiva se conecta al ánodo y la negativa al cátodo de nuestro SRC. El

multímetro deberá mostrar una resistencia muy alta. Hacemos un puente o “jumper”
para activar nuestro SCR mediante el la puerta “Gate”. Sin desconectar las sondas, tan
solo puenteamos entre la sonda positiva y la puerta, entonces el multímetro deberá
mostrar un gran descenso de la resistencia.

Cuando el puente entre Ánodo y puerta es desconectado el SRC tal vez siga
conduciendo o tal vez no.
Eso depende de las propiedades de ambos, tanto las del SRC como las del multímetro.
Si la corriente de retención del SRC es pequeña, el óhmetro podría ser capaz de
suministrar suficiente corriente como para mantenerlo encendido. Sin embargo, si la
corriente de retención del SRC es alta, este se apagará tras la desconexión del puente.

Algunos SRC de alta potencia pueden que tengan una resistencia interna conectada
entre el cátodo y la puerta, para prevenir que el SRC se active debido a pequeñas
interferencias que puedan surgir. Un técnico de mantenimiento que no es consciente de
la existencia de esta resistencia puede llegar a diagnosticar erróneamente como siendo
un SRC con fugas entre cátodo y puerta. El valor de esta resistencia se puede medir con
un óhmetro durante la prueba.

Testenando TRIACs:

El Triac es básicamente un par SRC conectados en paralelo y en dirección opuesta, por

lo que el proceso de testeo es esencialmente el mismo que el del SRC. La sonda positiva
es conectada al MT2 y la negativa a MT1. Cuando la puerta está abierta el óhmetro debe
indicar una resistencia infinita. Entonces de manera similar al testeo del SRC,
puenteamos entre ánodo y puerta observando así que se cumpla un gran descenso de la
resistencia medida. Esto nos indica que al menos uno de los SRC funciona.

Ahora le damos al vuelta a las sonda con respecto a ánodo y

cátodo. De nuevo si la puerta está abierta, el multímetro deberá displayar resistencia
infinita o fuera de rango. Puenteando desde MT2 con la puerta deberemos ver como la
resistencia medida desciende generosamente, lo que nos está indicando un correcto
funcionamiento del segundo par de SRC, fácil, sencillo y para toda la familia.

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Testeando transistores BJT

Los BJT son dispositivos que consisten en tres capas de material semiconductor y que
pueden ser NPN o PNP. Por lo tanto cada transistor puede ser representado como una
combinación de dos diodos. El equivalente de un transistor NPN aparecerá con
referencia a la base como los cátodos de ambos diodos conectados. Si el transistor es un
PNP, el equivalente será con respecto a la base de ambos diodos conectados por los
ánodos. En ambos ejemplos los dos terminales sobrantes de los diodos representarían el
colector y emisor. Ambas uniones PN del transistor se testean por separado como si
fueran dos diodos independientes. Si ambos diodos no presentan falla entonces el
transistor funciona correctamente.

La función “Diode test-mode” de nuestro multímetro puede ser utilizada para testear
transistores. Por ej, supongamos que tenemos un transistor tipo PNP para testear. La
sonda negativa la conectamos a la base del transistor y la sonda positiva al emisor y
luego al colector. De esta manera las uniones PN serán directamente polarizadas.

El multímetro deberá leer entre 0.5v y 0.9 en ambos casos. Cuando la sonda positiva es
conectada a la base del transistor en vede la negra y repetimos el proceso, los diodos
serán inversamente polarizados y el multímetro deberá leer resistencia muy alta en
ambos casos. El procedimiento para testear un transistor NPN es idéntico, pero
empezando por testear los diodos con la sonda positiva en la base.
Si el multímetro no tiene “diode test-mode” el transistor puede testearse con el óhmetro.
La ejecución es similar a la descrita previamente. Pero es importante enfatizar de nuevo,
que la lectura de unos pocos cientos a unos pocos miles de ohmios de la polarización
directa no necesariamente indica un transistor con falla. Es más bien una señal de que la
fuente de alimentación de nuestro multímetro no es suficiente como para polarizar
directamente la unión PN. La indicación de fuera de rango para la polarización inversa
del mismo transistor indica claramente que el dispositivo esta funcionando
correctamente. Lo importante aquí es la diferencia entre los valores medidos y no su
valor numérico como tal.

¿Qué puede pasar con un transistor en falla?

Un transistor con falla presentará en las uniones PN aproximadamente la misma

resistencia en ambas direcciones. De la misma manera que los diodos, la uniones PN de
un transistor fallado mostrarán una resistencia muy alta en ambas direcciones (Un
circuito abierto interno), o cero resistencia en ambas direcciones (corto circuito interno).
Algunas veces una unión PN dañada muestra una ligera resistencia, que es igual en
ambos sentidos. Por ejemplo. El multímetro mide en ambas direcciones 1.2v en vez de
el correcto 0.7v. En este caso el transistor es defectuoso y tiene que ser reemplazado.

La mayoría de multímetros son capaces de medir la ganancia en corriente de los

transistores bDC. Los tres terminales del transistor son conectados a un socket especial
marcado como E, B y C respectivamente. Entonces un valor conocido IB es aplicado al
transistor y el IC respectiva es medida. Como ya sabes, el ratio de IC/IB es igual a bDC.
A pesar de que este es un método muy rápido y conveniente para comprobar un
transistor, uno debe ser consciente de que algunos multímetros miden el valor BDC con
una precisión muy baja. Las especificaciones del multímetro han de ser comprobadas
antes de confiar en el valor medido de la ganancia de corriente. Algunos multímetros
tienen la característica útil de chequear la BDC dentro del circuito, aquí no hay
necesidad de desconectar el transistor bajo sospecha del resto del circuito y se puede
comprobar directamente en la PCB.

Cuidado!! En ocasiones el transistor como tal no está dañado, sino que el fallo puede
ser debido a que su circuitería externa no esté operando correctamente. Por ejemplo, una
soldadora fría en la base del transistor que aísla el contacto de la base del resto del
circuito, por lo que la tensión de polarización del transistor es de 0V, que hará que el
transistor este en corte. Al comprobar un transistor como este desde el lado de los
componentes de la PCB, puede parecer estar funcionando correctamente.

Sin embargo, no hay señal a la salida.

Consejo: Haz los cálculos en papel fijándote en circuito típico y haciendo una pequeña
reingeniería inversa de ese transistor y los componentes de alrededor. Una vez puestos
lo números sobre el papel, deberías medir los mismos en el circuito. De esta manera
conseguirás comprender bien que estas midiendo y podrás determinar un análisis más
lógico de las posibles causas de la falla. El tema de investigar las causas de la falla es
tan importante como el proceso de búsqueda de fallos en sí, aunque ya estemos tirando
cohetes al descubrir los componentes fallados, analizar las posibles causas nos pueden
conducir a más fallas y en el mejor de los casos a reconocer síntomas similares en el
futuro. Hablaré más a fondo de esto en el articulo de estragetia de "Troubleshooting
PCB" estrategia de solucion de problemas.

Testeando amplificadores operacionales:

Los amplificadores operacionales son complejos y sofisticados dispositivos que están

sujetos a muchos fallos internos mientras se encuentran funcionando. Sin embargo, un
amplificador operacional como tal no puede ser testeado.

Si hubiera algún problema interno, no es posible detectarlo y repararlo.

Por lo tanto si el amplificador no funciona la única opción es reemplazarlo.

Por lo general hay tan solo unos pocos componentes externos a los amplificadores
operaciones. Un circuito típico consiste en una resistencia de entrada, una resistencia de
feedback y un potenciómetro para la compensación del voltaje “offset”.

Si el circuito funciona mal, los componentes de alrededor son los que tienen que ser
testeados primero. Puede haber soldaduras frías, o componentes quemados o fuera de
rango. Si no es ninguna de las anteriores, tenemos que chequear los contactos del mismo
amplificador operacional. Es posible que alguno de ellos este dañado. Finalmente, si
todo lo demás parece estar en buen funcionamiento, pero el circuito sigue sin funcionar,
podemos asumir que el amplificador operacional: Esta dañado. Es este caso el
amplificador es reemplazado tal y como reemplazarías una resistencia, un transistor o
cualquier otro componente. Algunos fallo típicos de amplificadores operacionales:

 Voltaje de alimentación: Esta es una de las primeras cosas que se deben ser
comprobadas (como en el caso de testea cualquier otro circuito). Un correcto
voltaje de alimentación y tierra tiene que estar presentes. Debe recordarse que el
nivel de voltaje de alimentación es bastante crítico para los CI.
 Resistencia de feedback abierta: este fallo se traduce en un importante recorte
de voltaje a la salida, ya que el amplificado funciona a su máxima ganancia de
voltaje (por ej. El circuito para como esta como un amplificador en bucle
abierto)
 Cortocircuito de la resistencia de feedback: En este caso, la salida tiene que
ser de la misma que la entrada de la señal.
 Entrada de circuito abierta: Es el caso de un amplificador inversor, no hay
señal a la salida, ya que no hay señal a la entrada. En el caso de un amplificador
no inversor, la ganancia es igual a 1 y la salida de voltaje sigue exactamente lo
que haya a la entrada. En otras palabras el amplificador actuará como un
seguidor de voltaje.
 Potenciómetro mal ajustado: es fallo te traduce en tan solo el pico positivo o
negativo en la tensión salida.

Testeando FETs & MOSFET

Estos amigos son mucho más complicados que los compañeros BJT, por eso aunque os
dejo aquí explicado lo básico, más adelante haré un articulo con técnicas para
diagnósticar estos transistores dentro y fuera del circuito.

Antes de testear un FET, es necesario saber si el transistor es un JFET o un MOSFET. A

partir de ahí se tiene verificar si es de canal N o canal P. JFETs pueden ser testeados
con un óhmetro ordinario.

Aparecerá en el óhmetro como dos diodos conectados en serie entre el drenador y el

surtidor, la polaridad de los diodos está invertida. El terminal de la puerta es tomado
desde el punto medio entre ellos. En el caso de uno de tipo canal-N, la puerta está
conectada a los ánodos de ambos diodos. Si el transistor es de tipo canal-P, la puerta
está conectada a los cátodos de ambos diodos. La capa de aislamiento de SiO2
aparecerá en el óhmetro como una resistencia conectada ente el drenador y el surtidor en
paralelo a ambos diodos.

Por lo tanto los JFETs se pueden testear usando un óhmetro testeando las uniones PN
ente la puerta y drenador por un lado y por otro la puerta y el surtidor. Si el JFET está
en buenas condiciones ambas uniones PN se comportarán de manera como un diodo
normal, mostrando una muy alta resistencia en una dirección y muy baja en la otra.
Luego se mide la resistencia entre drenador y surtidor, esta nos debe dar un cierto valor
de resistencia que dependerá de las características del JFET.
En el mejor de los casos la medición de un MOSFET con un óhmetro es una tarea muy
difícil.

Esto es así porque una capa muy fina de metal-oxido separa la unión de la puerta con el
canal. Esta propiedad de los MOSFET asegura una impedancia de entrada muy alta en
el dispositivo, pero lo hace vulnerable a daños permanentes incluso cuando se producen
pequeñas tensiones estáticas en los terminales del transistor.

De hecho un MOSFET puede ser dañado cuando lo tocamos con los dedos. Por esta
razón, los MOSFETs viene en paquetes que proporcionan un conexión eléctrica entre
todos los terminales para prevenir la acumulación de electricidad estática.

MOSFETs pueden ser testeados cuidadosamente con un óhmetro de bajo voltaje,

configurado al mayor rango de resistencia. N-MOSFET que funcionen correctamente
presentan una cierta continuidad entre el surtidor y el drenador. Sin embargo no debería
haber ninguna resistencia entre la puerta y el drenador y la puerta y el surtidor. P-
MOSFET que están funcionando correctamente no muestran continuidad entre ninguno
de sus terminales.

Solucion de problemas en JFET polarizados:

No es una práctica recomendable desoldar un transistor FET para testarlo. Después de

una inspección visual buscando componentes dañados o malas soldaduras, lo voltajes en
el drenador y en el surtidor tiene que ser medidos con respecto a tierra. Un síntoma de
fallo típico es el voltaje en el drenador, el cual es casi igual que el voltaje de
alimentación. Esta condición ocurre cuando la corriente del drenador es cero y por lo
cual no hay caída de voltaje a través de la resistencia de drenador RD, los siguientes
fallos pueden ser la causa:
 Soldadura fría en RS (Resistencia del Surtidor aparece como un circuito abierto)
 RS está dañada o fuera de su rango
 Soldadura fría en RD (Resistencia del Drenador aparece como un circuito
abierto)
 RD está dañada o fuera de su rango
 Soldadura fría en el terminal del surtidor
 Soldadura fría en el terminal del drenador
 Circuito abierto interno en el JFET entre el surtidor y la puerta

Otro síntoma típico de fallo es un voltaje mucho menor del normal en el drenador. Esta
condición ocurre cuando la corriente del drenador es más alta de lo normal, en este caso
la caída de voltaje a través de la RD resistencia es mayor. Los siguientes fallos pueden
provocar que esto suceda:

 Soldadura fría en RG (La resistencia de la puerta aparece como un circuito

abierto)
 RG está dañada o fuera de rango
 Soldadura fría en el terminal de la puerta
 Un circuito abierto interno en el JFET en el terminal de la puerta

Algunas de las fallas son muy difíciles de solucionar. Un buen ejemplo es una puerta
abierta internamente en un D-MOSFET polarizado. Después de que este fallo ocurra, la
tensión de la puerta el drenador sigue siendo la misma 0v. Por esta razón la corriente del
drenador no cambia su valor y la polarización parece estar correcta. En general el testeo
de FETs es una tarea mucho más difícil y requiere de más habilidades y experiencia que
al testear BJTs.

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con el siguiente libro sobre reparación electrónica

En resumen:

La mayoría de los multímetros proporcionan funciones especiales para testear diodos y

BJTs. Sin embargo si tales funciones no están disponibles, muchos componentes
electrónicos pueden ser testeados con un óhmetro ordinario. Si un diodo esta en buenas
condiciones, las lectura del óhmetro deben cambiar de alta a baja y viceversa cada vez
que la sondas se cambian entre ánodo y cátodo. Los SRCs son testeados de forma
similar, la única diferencia es un puente entre la puerta y ánodo para activar el SRC.
Cuando un SRC es activado, su resistencia cae significativamente de alta a baja. Los
TRIACs son testeados como los SCR pero en ambas direcciones. (ej. Las sondas son
puestas al revés y el test es repetido). BJTs son tratado como 2 diodos y cada uno de
ellos es comprobado independientemente. FETs son más difíciles de testear, hay que
tener especial cuidado de no ocasionar descargas electroestáticas en ellos cuando son
testeados. Los transistores JFET pueden ser representados como 2 diodos conectados en
serie con una resistencia adicional en paralelo a ellos. Ambos diodos son testeados de
forma independiente. También se mide el valor de la resistencia. Para encontrar fallos
en transistores polarizados, en un principio, se calcula las tensiones aproximadas en
cada uno de los terminales del transistor y entonces medimos los voltajes. Cualquier
desviación de los valores calculados son analizados lógicamente, lo cual conduce
esencialmente a encontrar y corregir el problema. Los amplificadores operacionales no
pueden ser testeados como los otros dispositivos, sino que todos los componentes
externos y soldaduras tienen que ser chequeados y si el circuito sigue sin operar
correctamente el AP es reemplazado.

Aprender todo estos y muchos más componentes y consejos útiles sobre reparación
con el siguiente libro sobre reparación electrónica

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