Estudio de la Propagación de la

Luz en Materiales con Índice de

Refracción Negativo
por
Juan Carlos Juárez Morales
Tesis sometida como requisito parcial para
obtener el grado de
MAESTRO EN CIENCIAS EN LA
ESPECIALIDAD DE ÓPTICA
en el
Instituto Nacional de Astrofísica, Óptica y
Electrónica
Octubre 2007
Tonantzintla, Puebla
Supervisada por:
Dr. Gabriel Martínez Niconoff, INAOE
Dr. Javier Muñoz López, INAOE
c
°INAOE 2007
El autor otorga al INAOE el permiso de
reproducir y distribuir copias en su totalidad o en
partes de esta tesis
 R ESUMEN

Se entiende por metamateriales a materiales construidos artificialmente que poseen

propiedades electromagnéticas que no se encuentran normalmente en la naturaleza, y es-
tos operan en las regiones del espectro correspondientes desde los microondas hasta el
infrarrojo lejano. Los metamateriales fueron propuestos en los años sesenta por el profe-
sor V. Veselago. Debido a su interesante comportamiento, en la actualidad existen muchos
grupos de investigación que están trabajando con estos materiales en aplicaciones tales co-
mo sistemas ópticos, electronicós entre otros.

En el presente trabajo se desarrollo el estudio del comportamiento del campo óptico

en un metamaterial, una propiedad física importante que tiene un metamaterial es tener el
índice de refracción negativo, esto trae importantes cambios en diferentes efectos físicos
como podrian ser cambios en las expresiones para las ecuaciones de Fresnel y el ángulo
crítico. Además, de modificar los principios básicos de la óptica. Por ejemplo, la ley de
Snell. en este trabajo se desarrolla un método utilizando plasmones superficiales para la
obtención del comportamiento de los índices de refracción negativa y se propone un sis-
tema interferométrico que permita obtener un material que genere dicha refracción.

Aprovechar materiales que tienen un índice de refracción negativa, podría hacer posi-
ble tomar imágenes ópticas de objetos que son más pequeños que la longitud de onda de
la luz visible, incluyendo moléculas tales como el ADN; el desarrollo de la "fotonano-
litografía"; y nuevos componentes electrónicos que usen luz en lugar de corrientes eléc-
tricas para trasmitir señales y procesar información, dando por resultado comunicaciones
más rápidas.

I
 AGRADECIMIENTOS

A mis asesores:
Dr. Gabriel Martínez Niconoff y Dr. Javier Muñoz López
Por la confianza y apoyo otorgado para llevar acabo esta tesis de maestría y sobre todo
por su amistad brindada en todo momento.

A mis sinodales:
Dr. Hector H. Cerecedo, Dr. Julio C. Ramírez y Dr. Jorge Castro
Por sus valiosas sugerencias y comentarios para mejorar este trabajo de tesis.

Al CONACYT:
Por la ayuda otorgada para llevar a buen término los estudios de Maestría, sin los cuales
no hubiera sido posible la realización de esta tesis.

Al Instituto Nacional de Astrofísica, Óptica y Electrónica:

Por otorgarme todas las facilidades de realizar mis estudios de Maestría.

Juan Carlos Juárez Morales Inaoe II

 D EDICATORIA

A mis padres

Justino Juárez Rosas

Amelia Morales López

Por su apoyo, cariño y confianza que siempre me han dado.

A mi gran amor

María Elena Ruíz Méndez

Gracias por estar conmigo y apoyarme siempre, te quiero mucho.

A mis hermanas

Beatriz, Pilar y Wendy

Por su respaldo y aliento brindado durante toda mi vida.

GRACIAS ! ! !

Juan Carlos Juárez Morales Inaoe III

Índice general

1. Introducción y planteamiento del problema 2

1.1. Introducción . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 2
1.2. Motivación del trabajo . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 3
1.3. Estructura de la tesis . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 5

2. Conceptos fundamentales de óptica física 7

2.1. Introducción . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 7
2.2. Definición de fase . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 7
2.3. Velocidad de fase . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 8
2.4. Velocidad de grupo . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 10
2.5. Modelo de Drude . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 11
2.6. Conceptos básicos de cálculo variacional . . . . . . . . . . . . . . . . . . 14
2.6.1. Condición de transversalidad . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 18

3. Refracción en metamateriales 23
3.1. Introducción . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 23
3.2. Antecedentes . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 24
3.3. Ley de Snell para metamateriales . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 25
3.3.1. Velocidad de fase y grupo para un metamaterial . . . . . . . . . . 27
3.4. Ecuaciones de Fresnel para un metamaterial . . . . . . . . . . . . . . . . 30
3.5. Ángulo crítico . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 36

4. Descripción de ondas plasmonicas 38

4.1. Introducción . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 38

IV
 ÍNDICE GENERAL

4.2. Definición y características de los plasmones superficiales . . . . . . . . 39

4.2.1. Acoplamiento óptico de plasmones superficiales . . . . . . . . . 41
4.3. Relación de dispersión (Modos ópticos) . . . . . . . . . . . . . . . . . . 41
4.4. Relación de dispersión en peliculas delgadas . . . . . . . . . . . . . . . . 47
4.5. Métodos de generación de plasmones superficiales . . . . . . . . . . . . 50
4.5.1. Velocidad de fase de un plasmon . . . . . . . . . . . . . . . . . . 51
4.5.2. Difracción de una rejilla. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 53
4.6. Aplicaciones de plasmones superficiales a metamateriales . . . . . . . . . 55
4.6.1. Sintesís de metamateriales . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 55

5. Propuesta de síntesis en metamateriales 60

5.1. Análisis holográfico . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 60
5.1.1. Introducción . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 60
5.1.2. Desarrollo teórico . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 61
5.1.3. Análisis del holograma de un punto . . . . . . . . . . . . . . . . 64
5.1.4. Arreglo Experimental . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 68

6. Conclusiones 71
6.1. Conclusiones generales . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 71
6.2. Trabajo a futuro . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 72
6.2.1. Generación de cavidades láser aleatorias utilizando superficies ru-
gosas. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 72

Apéndices 74

A. Deducción de la Ley de Snell para un metamaterial. 74

B. Tabla de valores de los coeficientes de Fresnel para un metamaterial. 77

Juan Carlos Juárez Morales Inaoe 1

Capítulo 1

Introducción y planteamiento del

problema

1.1. Introducción
Recientemente los materiales semiconductores han revolucionado las tecnologías y
con ello han modificado drásticamente la sociedad humana. En el ámbito científico y tec-
nológico actual existe una creciente actividad con relación a temas que se han llamado en
su conjunto nanotecnología y nanociencia, las aplicaciones de las mismas tendrán mucha
importancia en las tecnologías futuras. La física de estos sistemas está en el límite de los
modelos usuales utilizados en física atómica y física del estado sólido.

En el presente trabajo se desarrollará un estudio del comportamiento del campo óp-

tico en un metamaterial, estos son compuestos estructurados cuyas propiedades físicas
son distintas a la de sus constituyentes [1]. Por ejemplo, el índice de refracción de un
metamaterial es negativo, esto trae importantes cambios en diferentes efectos físicos co-
mo cambios en las ecuaciones de Fresnel y el principio de Fermat. Además, uno de los
principios más básicos de la óptica como es la ley de Snell también sufre un cambio. Así
las ondas electromagnéticas al atravesar dicha interfaz sufren una refracción negativa. Al-
gunos de estos metamateriales se fabrican con técnicas de nanotecnología similares a las
que se usan para fabricar micromáquinados y circuitos integrados [2].

2
 1.2. MOTIVACIÓN DEL TRABAJO

Una de las aplicaciones más importantes de estos metamateriales, radica en la fabri-

cación de elementos ópticos no convencionales [2]. Una ventaja de los metamateriales es
que se podrían fabricar elementos que permitan enfocar luz en áreas muy pequeñas (más
pequeña que la longitud de onda de la luz), sin preocuparnos por su forma [2, 3].

1.2. Motivación del trabajo

Como se puede ver en la fig. (1.1), en un metamaterial el rayo de luz refractado se
curvan hacia el mismo lado que el rayo incidente (medido en relación a la normal a la
interfaz entre el metamaterial y el material normal).

-i -i

Material Metamaterial
Convencional
t
- t

a) b)

Figura 1.1: a) refracción positiva y b) refracción negativa.

En el caso de los trabajos mencionados anteriormente, la refracción negativa se ha

conseguido a través de un metamaterial con estructura de malla y compuesto de plata.
Concretamente, se trata de un sustrato de vidrio sobre el que se asienta una capa de plata
y fluoruro de magnesio, y en la que se realizan perforaciones de 100nm de tamaño. Esta
composición supone un gran avance en relación a intentos anteriores basados en nanoba-
rras de oro, debido a la menor resistencia eléctrica del material. Más aún, el haber logrado
esta refracción negativa en el espectro visible abre la puerta al desarrollo de superlentes
(lentes que superan el límite de difracción), cuya superior resolución permitiría construir
dispositivos que podrían observar el interior de una célula, o diagnosticar enfermedades a
bebés aún en el útero.

Juan Carlos Juárez Morales Inaoe 3

 1.2. MOTIVACIÓN DEL TRABAJO

También los metamateriales se utilizan en la electrónica, partícularmente en la fabri-

cación de antenas pequeñas de móviles o de satélites en los que se quieren agrupar un gran
número de antenas en un espacio mínimo. En estas áreas desarrolla su labor un grupo de
investigación finlandés al que pertenece el investigador Sergei Tretiakov quien dice: Esta-
mos trabajando en distintos proyectos relacionados con los metamateriales, que abarcan
desde la física básica ¿Qué cualidades poseen estos materiales?, pasando por el diseño de
los mismos hasta sus posibles aplicaciones en antenas y lentes perfectas, fig. (1.2).

Figura 1.2: Esquema de una lente perfecta.

Figura 1.3: Imagen de un dibujo en escala nanométrica usando un superlente de plata que tiene
una resolución más alla del limite de difracción óptico.

Finalmente, los metamateriales se encuentran aún en fase de investigación y no han

llegado todavía al mercado. Resulta difícil predecir cuándo lo harán, ya que se trabaja a
largo plazo en este terreno de investigación.

Juan Carlos Juárez Morales Inaoe 4

 1.3. ESTRUCTURA DE LA TESIS

1.3. Estructura de la tesis

Un problema de la óptica contemporánea, consiste en la descripción de la evolución
de campos ópticos en geometrías predeterminadas, así como el control de su contenido
energético. Inherente a este problema, se encuentra la descripción de las características
físicas que los campos ópticos eventualmente puedan presentar. En este sentido, un punto
de interés radica en describir y analizar la evolución de campos ópticos en Metamateriales.

Para conseguir esto se propone un análisis del campo óptico partiendo de los concep-
tos fundamentales de óptica física, del análisis de plasmones superficiales y finalmente el
análisis holográfico de los arreglos experimentales propuestos. De esta forma, el objetivo
del presente trabajo de tesis consiste en describir las propiedades de los campos ópticos
cuando la luz se propaga en materiales o medios con índices de refracción negativos y
analizar sus posibles aplicaciones.

Para lograr el objetivo anteriormente descrito la tesis se divide en 6 capítulos y un

apéndice. En el capítulo 2 se realiza una breve revisión bibliográfíca y se realiza una des-
cripción de los conceptos de velocidad de fase, velocidad de grupo, se describe también
el modelo de dispersión y finalmente se muestra el análisis matemático en términos del
calculo variacional el cual es un concepto que permite realizar el análisis de la condición
de transversalidad de los campos ópticos.

En el capítulo 3, se realiza la descripción y desarrollo matemático de la refracción en

metamateriales, en donde presentamos un análisis de la Ley de Snell, la velocidad de fase
y grupo, por consiguiente, se estudiará también el índice de refracción negativo y final-
mente se describirán los coeficientes de reflexión y transmisión.

En el capítulo 4, se hace un estudio teórico, desde el punto de vista de la óptica física,

sobre la forma de producir plasmones superficiales con métodos ópticos. Se presenta una
revisión de la literatura a este respecto, finalmente se presentan posibles aplicaciones uti-
lizando plasmones superficiales en metamateriales.

Juan Carlos Juárez Morales Inaoe 5

 1.3. ESTRUCTURA DE LA TESIS

En el capítulo 5, se describe un breve análisis holográfico para un holograma de punto

para así poder generar transmitancias en donde se controle el espectro de potencias en
particular que contenga la frecuencia espacial necesaria para la síntesis del metamaterial.
Esta dirección corresponde con la dirección de la refracción generada. Esta transmitan-
cia se genera utilizando técnicas holográficas sobre fotoresinas, por ultimo se proponen
algunos arreglos experimentales para poder comprobar lo que se menciona anteriormente.

Finalmente en el capítulo 6, se dan las conclusiones generales y se discuten posibles

líneas de investigación. Por ultimo, en el apéndice se muestran los desarrollos y análisis
matemáticos realizados en este trabajo de tesis.

Juan Carlos Juárez Morales Inaoe 6

Capítulo 2

Conceptos fundamentales de óptica

física

2.1. Introducción
En este capitulo describiremos brevemente el concepto de onda y la terminología que
se usará en este y los posteriores capítulos, se estudiarán las características de una on-
da electromagnética tales como su fase, y también las velocidades de fase y grupo en el
marco de la óptica física. Además, definiremos la dispersión partiendo del análisis del
modelo de Drude. Finalmente se revisará el tema del calculo variacional puntalizando su
condición de transversalidad para problemas de difracción y para tener un funcional para
la propagación de la luz en un medio con distinto índice de refracción n.

2.2. Definición de fase

Una onda es una perturbación del estado de equilibrio de un sistema que se propaga en
el espacio y en el tiempo. Consideremos una onda que viaja en la dirección positiva de x
con una velocidad constante v [4]. Como la onda esta en movimiento, debe representarse
por una función del espacio y del tiempo.

7
 2.3. VELOCIDAD DE FASE

Entonces una onda unidimensional es de la forma

f (x ± vt), (2.1)

donde f es una función arbitraria.

La fase es el argumento de la función f y es una función dada de la siguiente forma

ϕ(x, t) = ψ(x ± vt). (2.2)

La forma de la onda en cualquier instante de tiempo se encuentra manteniendo el tiem-

po constante, por ejemplo t = 0, entonces; ϕ(x, t)t=0 = f (x, 0) = f (x) que representa la
forma o perfil de onda en ese momento [4].

Por lo tanto, la fase es la función que lleva la información de los parámetros estruc-
turales de la onda. En ella estan implícitas las propiedades de coherencia parcial. Ahora
se tiene lo siguiente

f (kx) = f k(x − vt)

= f (kx − kvt)
= f (kx − ωt), (2.3)

donde ω = kv y además k y ω dependen del tiempo, por lo tanto la fase esta dada por

ϕ = (kx ± ωt). (2.4)

2.3. Velocidad de fase

Si se define la función de fase como la ecuación (2.4) tenemos que la derivada parcial
de la fase con respecto al tiempo esta dada por la siguiente expresión

Juan Carlos Juárez Morales Inaoe 8

 2.3. VELOCIDAD DE FASE

∂ϕ
= −ω. (2.5)
∂t

De manera análoga, para la rapidez de cambio de la fase con la distancia esta se da al

realizar la derivada parcial de la fase con respecto a la posición y esta definida por

∂ϕ
= k. (2.6)
∂x

Si ahora hacemos uso de la relación

∂x ∂ϕ ∂t
= −1,
∂t ∂x ∂ϕ

tenemos que [5]

∂ϕ
∂x ∂t
= − ∂ϕ , (2.7)
∂t ∂x

y utilizando las ecuaciones (2.5) y (2.6), tenemos

∂x (−ω)
=− , (2.8)
∂t k

sustituyendo el valor de ω = kv en la ecuación (2.8), tenemos lo siguiente

µ ¶
∂x
= vf . (2.9)
∂t ϕ

La velocidad de fase vf describe la velocidad con la que se propaga un frente de onda,

el cual este frente de onda tiene la siguiente forma [5].

kx − ωt = cte. (2.10)

Juan Carlos Juárez Morales Inaoe 9

 2.4. VELOCIDAD DE GRUPO

2.4. Velocidad de grupo

La velocidad de propagación de la energía depende de la función f (perfil), ya que
este tiene implícitas las propiedades directivas. Para ondas planas la velocidad de fase y
de grupo coinciden. Estas son diferentes cuando se tienen un conjunto de ondas.

Para este conjunto de ondas esta implícito la dispersión lo cual implica una dependen-
cia funcional entre k y ω.

Partiendo de dos frecuencias ω diferentes, tenemos lo siguiente

ω 1 = k 1 v1 ,
ω 2 = k 2 v2 ,

realizando la diferencia de estas frecuencias, se tiene

ω2 − ω1 = k2 v2 − k1 v1 . (2.11)

Nos interesa encontrar el valor de ω2 , k2 y v2 , para resolver la ecuación (2.11) entonces

tenemos lo siguiente

ω2 = ω1 + ∆ω1
k2 = k1 + ∆k1
v2 = v1 + ∆v1 .

Ahora si sabemos que ∆ω = ω2 −ω1 , sustituyendo los términos k2 y v2 , en la ecuación

(2.11), obtenemos la siguiente expresión

∆ω = (k1 + ∆k)(v1 + ∆v1 ) − k1 v1 , (2.12)

Juan Carlos Juárez Morales Inaoe 10

 2.5. MODELO DE DRUDE

resolviendo la ecuación anterior, tenemos el siguiente desarrollo

∆ω = (k1 + ∆k)v1 − k1 v1 + (k1 + ∆k)∆v1

= ∆kv1 + (k1 + ∆k)∆v1 , (2.13)

dividiendo la ecuación aneterior por ∆k, se tiene

µ ¶
∆ω k1 + ∆k
= v1 + ∆v1
∆k ∆k
= v1 + δv(∆k), (2.14)

¡k ¢
1 +∆k
donde δv(∆k) = ∆k
∆v1 , ahora sacando el limite de la ecuación anterior cuando
∆k → 0, se obtiene lo siguienre

∆ω dω
lı́m = . (2.15)
∆k→0 ∆k dk

Por lo tanto la velocidad de grupo vg que escrita de la siguiente forma [6, 7]

dω
vg = . (2.16)
dk

La velocidad de grupo corresponde con la velocidad de propagación de la envolvente

de la onda convergente y por lo tanto coinciden con la velocidad de propagación de energía
[7].

2.5. Modelo de Drude

En un material los electrones, están unidos a el núcleo por fuerzas de tipo resorte
(resonancias) y por lo tanto satisfacen una ecuación diferencial de la forma

Juan Carlos Juárez Morales Inaoe 11

 2.5. MODELO DE DRUDE

∂2r
m + kr = 0, (2.17)
∂t2

k
si tenemos que ω02 = m
, entonces la ecuación anterior toma la forma

∂ 2r
+ ω02 r = 0. (2.18)
∂t2

Cuando el material se ilumina con una onda de naturaleza armónica temporalmente

el campo incidente perturba al electrón modificando el tipo de oscilación y la ecuación
diferencial es

∂2x q
2
+ ω02 x = E. (2.19)
∂t m

Si se tiene que E = Eo cos ωt es un campo armónico y el principal resultado es que

se induce un momento dipolar, entonces la ecuación ((2.19)), es de la forma

∂ 2x q
2
+ ω02 x = Eo cos ωt. (2.20)
∂t m

Debido a que la carga oscilante es poco masiva, esta puede seguir las oscilaciones del
campo eléctrico incidente; esto es, se propone como solución x = x0 cos ωt, de donde xo
es la amplitud de la vibración, entonces

x0 = −x0 ω sin ωt
x00 = −x0 ω 2 cos ωt.

Sustituyendo x00 , en la ecuación (2.20) se tiene

q
−ω 2 x0 cos ωt + ω02 x0 cos ωt = E0 cos ωt, (2.21)
m

Juan Carlos Juárez Morales Inaoe 12

 2.5. MODELO DE DRUDE

despejando x0 de la ecuación (2.21), se tiene

qE0
x0 = . (2.22)
m(ω02 − ω 2 )

Por lo tanto la solución a la ecuación diferencial es

qE0
x= cos ωt. (2.23)
m(ω02 − ω 2 )

Se define el momento dipolar como p = qx = (² − ²0 )E, sustituyendo x del momento

dipolar en la solución de la ecuación diferencial (2.23), se tiene

q2E
E(² − ²0 ) = , (2.24)
m(ω02 − ω 2 )

despejando ² de la ecuación (2.24), obtenemos

q2
² = ²0 + . (2.25)
m(ω02 − ω 2 )

Si se consideran N dipolos por unidad de volumen se tiene

N q2
² = ²0 + . (2.26)
m(ω02 − ω 2 )

dividiendo la ecuación anterior por ²0 , tenemos lo siguiente

² N q2
=1+ = n2 (ω). (2.27)
²0 m²0 (ω02 − ω 2 )

Un plasma se define como un conjunto de cargas eléctricas, la frecuencia del plasma

o también llamada frecuencia de resonancia se define como

N q2
ωp2 = , (2.28)
m²0

Juan Carlos Juárez Morales Inaoe 13

 2.6. CONCEPTOS BÁSICOS DE CÁLCULO VARIACIONAL

relacionando la ecuación (2.27) con la ecuación (2.28), tenemos

² ωp2
=1+ 2 . (2.29)
²0 ω0 − ω 2

De esta última ecuación tenemos que el índice de refracción depende de la frecuencia

y esto se conoce como dispersión.

2.6. Conceptos básicos de cálculo variacional

Dada una función de distancia (métrica) en un plano x − y. Se quiere conocer cual
es la función que conecta 2 puntos tales que su distancia es un extremal. El problema
geométrico se ve en la fig. (2.1)

Figura 2.1: Problema extremal con fronteras fijas, donde A y B son puntos fijos.

Realizando una aproximación paraxial para ds vista en la fig. (2.2), se tiene

Figura 2.2: Aproximación de una curva.

p p
ds = dx2 + dy 2 = dx 1 + dy 02

Juan Carlos Juárez Morales Inaoe 14

 2.6. CONCEPTOS BÁSICOS DE CÁLCULO VARIACIONAL

Z Z bp
L= ds = 1 + dy 02 dx, (2.30)
a

donde L es la distancia de la trayectoria, consideremos los siguientes conceptos sabemos

que una función definido como f (x) depende solo de la variable x y un funcional definido
como L(y(x)) depende de la función y(x).

El cálculo de variaciones implica los problemas en que la variable por ajustar se re-
presenta de manera general en forma de una ecuación integral. Como caso mas simple se
tiene el funcional definido como
Z b
L(y(x)) = F (x, y, y 0 )dx. (2.31)
a

En este caso, L es el funcional que adquiere un valor extremo. Bajo el operador inte-
gral, F se conoce como función de variables indicadas x, y, y 0 , pero la dependencia de y
en x no es fija, es decir, y(x) es desconocida. Esto significa que a un cuando la integral
es de a a b la trayectoria de integración no es conocida. Por la tanto, un funcional es una
función que depende de una función. Ahora, el problema consiste en encontrar la función
que hace que L sea un extremal. Ahora tenemos la siguiente ecuación
Z b
L(yn (x)) = F (x, yn (x), yn0 (x))dx. (2.32)
a

La ecuación (2.32) es para n curvas. Supongamos que y(x) es la curva que buscamos,
la idea es comparar yn (x) con y(x), ver fig. (2.3)

Entonces de lo anterior mencionado se tiene lo siguiente,

yn (x) = y(x) + αn δ(yn ) (2.33)

yn−1 (x) = y(x) + αn−1 δ(yn ), (2.34)

Juan Carlos Juárez Morales Inaoe 15

 2.6. CONCEPTOS BÁSICOS DE CÁLCULO VARIACIONAL

Figura 2.3: Pendientes distintas.

pero si las pendientes son distintas, se tiene que

yn0 (x) = y 0 (x) + αn δ(yn0 ). (2.35)

Ahora si la función de distancia L se puede pensar como una función del punto α,
dado como L(y(x), α), entonces

δL = L(yα (x), α) − L(y(x)), (2.36)

donde δL es el incremento, entonces ahora se tiene que

Z b
δL = [F (x, yα (x), yα0 (x)) − F (x, y, y 0 )]dx. (2.37)
a

Entonces considerando la ecuacion (2.37) se tiene lo siguiente

Z b· ¸
∂F ∂F 0
δL = δy + 0 δy dx, (2.38)
a ∂y ∂y

la ecuación (2.38) cambia con respecto a la curva o a la pendiente. Si tenemos la siguiente

condición extremal δL = 0. Entonces la propuesta es modificar la segunda integral, para
escribir δy 0 en función de δy, entonces

Juan Carlos Juárez Morales Inaoe 16

 2.6. CONCEPTOS BÁSICOS DE CÁLCULO VARIACIONAL

Z b· ¸
∂F 0
δL = δy dx. (2.39)
a ∂y 0

Integrando por partes, se tiene que u = dF

dy
, entonces dv = δy 0 dx, por lo tanto dv
dx
=
R R R
δy 0 , entonces v = dv = δ(y 0 )dx = δ y 0 dx = δy. Por lo que se tiene
Z · ¸ Z µ ¶
∂F ∂F d ∂F
δy dx = 0 δy − δy dx. (2.40)
∂y 0 ∂y dx ∂y

Sustituyendo en la variación δL ecuación (2.39), tenemos

Z ¯b Z b µ ¶
b
∂F ∂F ¯¯ d ∂F
δL = δydx + 0 δy ¯ − δy dx = 0, (2.41)
a ∂y ∂y a a dx ∂y 0

donde
¯b
∂F ¯¯
δy = 0
∂y 0 ¯a

Z b Z b µ ¶
∂F d ∂F
δL = δydx − δy dx = 0 (2.42)
a ∂y a dx ∂y 0

Z b· µ ¶¸
∂F d ∂F
δL = − δydx, (2.43)
a ∂y dx ∂y 0

por lo tanto
µ ¶
∂F d ∂F
− = 0, (2.44)
∂y dx ∂y 0

de donde esta ultima ecuación se le conoce como la condición de extremo o también

se le conoce como la ecuación de Euler [10] y es la ecuación fundamental del calculo
variacional.

Juan Carlos Juárez Morales Inaoe 17

 2.6. CONCEPTOS BÁSICOS DE CÁLCULO VARIACIONAL

2.6.1. Condición de transversalidad

Un problema de gran importancia práctica por sus aplicaciones en difracción consiste
en analizar el problema variacional con fronteras libres fig. (2.4). Como punto de partida
se comparan dos funcionales extremales dados por

Figura 2.4: Condición de Transversalidad.

Z x1 +δx Z x1
0 0
4h = F (x, y + δy, y + δy )dx − F (x, y, y 0 )dx. (2.45)
xo xo

La primera integral se puede escribir:

Z x1 Z x1 +δx Z x1
0 0 0 0
F (x, y + δy, y + δy )dx + F (x, y + δy, y + δy )dx − F (x, y, y 0 )dx,
xo x1 xo
(2.46)

desarrollando

Z x1 Z x1 +δx
0 0 0
(F (x, y+δy, y +δy )−F (x, y, y ))dx+ F (x, y+δy, y 0 +δy 0 )dx = 0, (2.47)
xo x1

de donde de la segunda integral se tiene que es el teorema de muestreo. Ahora se tiene lo

siguiente

Juan Carlos Juárez Morales Inaoe 18

 2.6. CONCEPTOS BÁSICOS DE CÁLCULO VARIACIONAL

Z x1 µ ¶
∂F ∂F 0
δy + 0 δy + F (x, y, y 0 )dx = 0, (2.48)
xo ∂y ∂y

de la ecuación (2.48) tomamos la siguiente integral

Z x1 µ ¶
∂F 0
δy = 0. (2.49)
xo ∂y 0

Realizando una integración por partes de la ecuación (2.49), obtenemos lo siguiente

¯x Z x1 µ ¶
∂F ¯¯ 1 d ∂F
δy − δy dx = 0. (2.50)
∂y 0 ¯xo xo dx ∂y 0

Sustituyendo la ecuación (2.50) en la ecuación (2.48) se tiene lo siguiente

Z µ µ ¶¶ ¯x ¯
x1
∂F d ∂F ∂F ¯¯ 1 ¯
0 ¯
− δydx + 0 δy ¯ + F (x, y, y )¯ dx = 0, (2.51)
xo ∂y dx ∂y 0 ∂y xo x=x1

de la ecuación (2.51) tenemos que la primera integral

µ µ ¶¶
∂F d ∂F
− = 0. (2.52)
∂y dx ∂y 0
¯x1
¯
Y si δL = 0, entonces ∂F
∂y 0
δy ¯¯ + F (x, y, y 0 )dx = 0, que es la condición fundamental
xo
a cumplir.

Nos interesa la evolución de los extremales se puede buscar la relación entre δy y las
pendientes, esto nos debe dar la condición de tangencias sobre las curvas extremales esto
se muestra en la fig. (2.5).

Observando la fig. (2.5), ahora se tiene que la pendiente esta dada por
¯ ¯
¯ ¯
δy ¯¯ − δy ¯¯
x1 +δx x=x1
y 0 (x1 ) = (2.53)
4x

Juan Carlos Juárez Morales Inaoe 19

 2.6. CONCEPTOS BÁSICOS DE CÁLCULO VARIACIONAL

Figura 2.5: Condición de tangencias sobre la curva.

¯ ¯
¯ ¯
δy ¯¯ − δy ¯¯ = y 0 (x1 )4x (2.54)
x1 +4x x1

¯ ¯
¯ ¯
δy ¯¯ = δy ¯¯ − y 0 (x1 )4x. (2.55)
x1 x1 +4x

Sustituyendo en δy, tenemos

¯
∂F ¯¯
(δy − y 0 (x1 )4x) + F (x, y, y 0 )dx = 0, (2.56)
∂y 0 ¯x=x1

de esta forma reescribiendo obtenemos

µ ¶
∂F 0 ∂F 0
δy + F (x, y, y ) − 0 y (x1 ) dx = 0. (2.57)
∂y 0 ∂y

Si existe una relación funcional entre x y y, y(x) = φ(x), además dy = φ0 (x)dx,entonces

se tiene
µ ¶
∂F 0 0 0
[φ (x) − y (x)] + F (x, y, y ) dx = 0, (2.58)
∂y 0

Juan Carlos Juárez Morales Inaoe 20

 2.6. CONCEPTOS BÁSICOS DE CÁLCULO VARIACIONAL

o de manera equivalente

∂F 0
[φ (x) − y 0 (x)] + F (x, y, y 0 ) = 0 (2.59)
∂y 0

Esta ultima ecuación se conoce en la literatura de cálculo de variaciones como condi-

ción de transversalidad [11], nos indica como se acomodan las pendientes con esta curva
y tiene implicaciones importantes en el contexto óptico ya que nos permite resolver una
gran variedad de problemas de difracción. Esto es, los rayos de difracción deben ser per-
pendiculares a la función de transmitancia.

Nosotros podemos tener un funcional para la propagación de luz [10], esta se expresa
en la siguiente ecuación
Z p
L= n(x, y) 1 + y 02 dx, (2.60)

donde la función de variables esta definida como

p
F = n(x, y) 1 + y 02 . (2.61)

Realizando su derivada obtenemos

∂F y0
= n(x, y) p . (2.62)
∂y 0 1 + y 02

Sustituyendo la ecuación (2.62) en la ecuación de transversalidad (2.59), se tiene

y0 p
n(x, y) p (φ0 (x) − y 0 (x)) + n(x, y) 1 + y 02 . (2.63)
1 + y 02

desarrollando, tenemos

n(x, y)y 0 (φ0 (x) − y 0 (x)) + n(x, y)(1 + y 02 )

p =0 (2.64)
1 + y 02

Juan Carlos Juárez Morales Inaoe 21

 2.6. CONCEPTOS BÁSICOS DE CÁLCULO VARIACIONAL

n(x, y)(y 0 φ0 − y 02 + 1 + y 02 ) = 0. (2.65)

Ahora si n(x, y)(y 0 φ0 + 1) = 0, entonces y 0 φ0 + 1 = 0. Por lo tanto se tiene que

1
φ0 = . (2.66)
y0

Se tiene que la condición de transversalidad nos indica que las trayectorias son or-
togonales, es decir, que se tiene que la ecuación de transversalidad se convierte en una
condición de ortogonalidad.

En este Capitulo se han establecido los fundamentos teóricos necesarios para el de-
sarrollo de los objetivos planteados en el presente trabajo de tesis. Este último análisis del
modelo de drude será utilizado en el capitulo 4 para la síntesis de metamaterilales.

Juan Carlos Juárez Morales Inaoe 22

Capítulo 3

Refracción en metamateriales

3.1. Introducción
Metamateriales se entienden por materiales construidos artificialmente que poseen
propiedades electromagnéticas que no se encuentran normalmente en la naturaleza. El
estudio de estos materiales con propiedades electromagneticas particulares ha cobrado
gran interes en los ultimos años. A finales de los 60s, Víctor Veselago [16], predijo la
existencia de dichos materiales que tuviesen de manera simultanea valores negativos de
la constante dieléctrica y de permeabilidad magnética. Este tipo de medios presenta una
serie de propiedades electromagnéticas interesantes como son:

presentan una velocidad de fase y una velocidad de grupo antiparalelas,

presentan un índice de refracción negativa,

tienen un comportamiento diferente las ecuaciones de Fresnel,

y exhibe un comportamiento el ángulo crítico diferente.

A pesar del interés por este tipo de materiales, estos no se encuentran de manera di-
recta en la naturaleza. En este capítulo se realizará un análisis de los puntos anteriormente
mencionados.

23
 3.2. ANTECEDENTES

3.2. Antecedentes
Victor Veselago, propuso las consecuencias de una interacción de las ondas electro-
magnéticas con un hipotético material que posee una constante dieléctrica eléctrica ²,
y una permeabilidad magnética µ, simultáneamente negativa, como ningún material o
compuesto natural posee estas características, Veselago se preguntaba si esta asimetría
evidente en las características de los materiales se cumplía [1]. Concluyó que tales mate-
riales serian posibles, si se descubren, exhibirían características notables, que modifican
todos los parámetros electromagnéticos.

Aunque no es común en materiales con características positivas, los materiales nega-

tivos se pueden encontrar en la naturaleza, materiales con ² negativos incluye los metales
tales como la plata, el oro y el aluminio, a frecuencias ópticas, mientras que materiales
con µ negativo, incluyen resonancia ferromagnética o sistemas antiferromagneticos.

Los materiales con parámetros negativos que ocurran cerca de la resonancia tiene dos
consecuencias importantes, primero los materiales con parámetros negativos exhiban una
dispersión de frecuencia, segundo, el ancho de banda de estos materiales será estrecho
comparado con los materiales de parámetros positivos. La resonancia en los materiales
existentes, que aumentan la polarización eléctrica, típicamente ocurren a muy altas fre-
cuencias, en frecuencias ópticas, para los metales, en el rango de tera hertz (THz) a el
infrarrojo para semiconductores y aisladores. Por el contrario, los sistemas de resonancia
magnética ocurren a bajas frecuencias, es decir los fenómenos electrónicos y magnéticos
no ocurren en el mismo rango de frecuencia.

Ultimamente, se penso en la idea de sintetizar estos materiales para mejorar la res-

puesta electromagnética. Para obtener estos materiales se repitieron elementos diseñados
para que tuvieran una fuerte respuesta a los campos electromagnéticos, a medida que el
tamaño y el espacio que ocupan se reduce en comparación con la longitud de onda de
la radiación electromagnética de interés, esta radiación incidente no distingue entre esta
colección de elementos de un material homogéneo, entonces conceptualmente podemos
reemplazar este sistema no homogéneo por un material continuo con propiedades de ² y

Juan Carlos Juárez Morales Inaoe 24

 3.3. LEY DE SNELL PARA METAMATERIALES

µ determinadas. A baja frecuencia o longitud de onda grandes, los conductores son exce-
lentes candidatos, para fabricar estos materiales.

Un metamaterial es aquel compuesto por más de dos materiales, esto implica tener un
campo compuesto, como se muestra en la fig.( 3.1), esta es óptima para un metamaterial.
En esta estructura veremos como al hacer incidir un haz de luz sobre una rejilla acoplada
a una superficie plana, se exita un plasmon, apartir de este fenómeno es posible obtener
refracción negativa (haz refractado).

Haz
incidente
Plasmon

Rejilla 2
Rejilla 1
Haz
refractado

Figura 3.1: Un material compuesto.

3.3. Ley de Snell para metamateriales

Cuando un haz de luz cruza la interfase entre diferentes materiales, su dirección de
propagación es alterada, este cambio depende de los índices de refracción de los mate-
riales por donde se propaga el rayo. Cuanto mas grande es la diferencia de los índices
de refracción, mayor será la refracción del rayo. En todos los materiales conocidos a este
fenómeno se le conoce como refracción positiva [6].

En un material con índice de refracción negativo la luz se desvía hacia el otro lado de
la perpendicular a la superficie que separa los medios ver fig.( 3.2).

Juan Carlos Juárez Morales Inaoe 25

 3.3. LEY DE SNELL PARA METAMATERIALES

E- i
1 E- r
n1

n2

Et 2

Figura 3.2: Refracción negativa.

La ley de Snell constituye la propuesta de la óptica geométrica para el cálculo de los

ángulos de reflexión y refracción de la luz. La primera ley de Snell, conocida también co-
mo ley de la reflexión, simplemente manifiesta que el ángulo de incidencia de un rayo es
igual al ángulo de reflexión, midiendo ambos ángulos respecto a la normal de la superficie.

Apoyandonos de la segunda ley de Snell, conocida también como ley de la refracción,

nos indica que

n1 sin θ1 = −n2 sin θ2 , (3.1)

donde n1 y n2 son los índices de refracción de los medios (1) y (2), respectivamente, la
deducciónde la ecuación anterior se puede ver en el apéndice (A.1). Ahora si tenemos que

c
n= . (3.2)
υ

donde
n = índice de refracción del índice en cuestión
c = velocidad de la luz en el vacío (3 × 108 m/s)
v = velocidad de la luz en el medio en cuestión

Juan Carlos Juárez Morales Inaoe 26

 3.3. LEY DE SNELL PARA METAMATERIALES

Entonces la ecuacion (3.1) queda de la siguiente manera

c c
sin θ1 = − sin θ2 , (3.3)
υ1 υ2

Por lo tanto, para que se cumpla la igualdad se tiene que la velocidad de fase, υ2 debe
ser negativo.

3.3.1. Velocidad de fase y grupo para un metamaterial

En esta sección se analizán las velocidades de fase y grupo en un metamaterial, com-
probando así que ambas velocidades en estos medios son antiparalelas. De la fig.( 3.3),
tenemos lo siguiente

n1

n2

Figura 3.3: Angulo de incidencia y angulo refractado en un metamaterial.

Sea una onda, expresada de la siguiente manera

φ(z, t) = A exp{i(kz − ωt)} = a exp{i(kz − ωt + δ1 )}, (3.4)

donde δ = (kz − ωt + δ1 ), ahora para t = t0 fijo, que es la función de fase constante, nos
dice como cambia la amplitud. Si ahora tenemos las siguientes relaciones

Juan Carlos Juárez Morales Inaoe 27

 3.3. LEY DE SNELL PARA METAMATERIALES

dδ dδ
= k, =z
dz dk

dδ dδ
= ω, = −t
dt dω
.
De los cocientes obtenemos las velocidades de fase y grupo exprasadas por las si-
guientes ecuaciones

w
vf = (3.5)
k

dw
vg = (3.6)
dk

vg = ∇k ω(k). (3.7)

La fase no es una observable, la velocidad de grupo esta relacionada con la velocidad

de transporte de energía.

Ahora estudiaremos el comportamiento de la vg en un metamaterial, para eso supon-

gamos un medio homogeneo que va hacia una misma dirección esto se puede ver en la
fig.( 3.4).

1 2

Figura 3.4: Medio homogeneo.

Juan Carlos Juárez Morales Inaoe 28

 3.3. LEY DE SNELL PARA METAMATERIALES

Ahora la velocidad de grupo esta denotada de la siguiente manera

ω2 − ω1
vg = , (3.8)
k2 − k1

por lo tanto la velocidad de grupo expresadas en las ecuaciones (3.6) y (3.7) son iguales.

Ahora de la ecuación (3.4), se tiene que para la suma de φ1 y φ2 tenemos

φ1 (z, t) + φ2 (z, t) = exp{i(k1 z − ω1 t)} + exp{i(k2 z − ω2 t)}, (3.9)

donde kz − ωt = cte.

Entonces tomando la ecuación (3.9)se tiene que la irradiancia esta dada como

I = 2 + 2Re exp{i[(k1 − k2 )z − (ω1 − ω2 )t]}, (3.10)

Por lo tanto la vg esta denotada como se muestra en la ecuación (3.4). Tomando la

parte real de la ecuación (3.8), tenemos que las franjas de interferencia se mueven con
una velocidad de grupo, y la velocidad de fase de las franjas de interferencia es igual a la
velocidad de grupo.

Por último, si ahora tenemos que la irradiancia esta expresada como

I = 2 + 2Re exp{i[(k1 − k2 )z + (ω1 − ω2 )t]}. (3.11)

La velocidad de fase aquí no coincide con la velocidad de grupo. Entonces en las

franjas de interferencia es claro que la velocidad de grupo no coincide con la velocidad
de fase.

Juan Carlos Juárez Morales Inaoe 29

 3.4. ECUACIONES DE FRESNEL PARA UN METAMATERIAL

3.4. Ecuaciones de Fresnel para un metamaterial

Agustin Jean Fresnel, hace cerca de ciento cincuenta años, dedujo el conjunto de ex-
presiones que permiten calcular la distribución de amplitudes de luz que se refleja y la
que se transmite en una superficie de separación entre dos medios dieléctricos, sabemos
que las leyes de reflexión y refracción indican las direcciones de las ondas electromag-
néticas reflejadas y transmitidas, en función de la dirección de la onda incidente y de las
propiedades ópticas de los medios involucrados [5].

Luz
incidente Plano
de inc
i denci
a

t
t

~ es normal y paralelo al plano de incidencia.

Figura 3.5: Onda incidente cuyo campo E

En esta sección se analizará brevemente el tema de las amplitudes de los campos

~
reflejados y transmitidos o refractados, para los casos donde primeramente el campo E
~ es paralelo al plano de incidencia
es normal al plano de incidencia, y cuando el campo E
fig.( 3.5). Para 2 medios que son homogeneos e isótropicos, ahora de las ecuaciones de
Fresnel, tenemos las siguientes expresiones

Juan Carlos Juárez Morales Inaoe 30

 3.4. ECUACIONES DE FRESNEL PARA UN METAMATERIAL

2n1 cos θi
t⊥ = (3.12)
n1 cos θi + n2 cos θt

2n1 cos θi
tk = (3.13)
n1 cos θt + n2 cos θi

n1 cos θi − n2 cos θt
r⊥ = (3.14)
n1 cos θi + n2 cos θt

n2 cos θi − n1 cos θt
rk = (3.15)
n1 cos θt + n2 cos θi

A las expresiones anteriores se les conocen también como los coeficientes de amplitud
de reflexión y transmisión. Finalmente el comportamiento de las ecuaciones de Fresnel
[5], se muestran en la siguiente fig.( 3.6)

Figura 3.6: Los coeficientes de reflexión y trasmisión para la amplitud como función del ángulo de
incidencia. Estos corresponden a reflexión externa n2 > n1 en una interfaz aire-vidrio (n2 = 1,5).

Juan Carlos Juárez Morales Inaoe 31

 3.4. ECUACIONES DE FRESNEL PARA UN METAMATERIAL

Ahora analizaremos las consecuencias de un índice de refracción negativo en las ecua-

ciones de fresnel. los coeficientes de transmisión y reflexión muestran diferencias físicas,
esto es cambios de fase debido a que los valores de amplitud del campo son diferentes.

En la fig.( 3.7), observamos que el comportamiento de los campos incidente, reflejado

y transmitido cambian con respecto a medios homogéneos, por lo que las ecuaciones
de fresnel deben modificarse para un metamaterial teniendo en cuenta la condición que
n2 < 0, de esta manera los coeficiente de amplitud de trasmisión y reflexión quedan
expresados de la siguiente forma

Luz
incidente Plano
de inc
i denci
a

r m

r m

t m
t m

~ en un metamaterial.
Figura 3.7: Onda incidente del campo E

Para el coeficientes de transmisión perpendicular tenemos que esta expresado por la

ecuación (3.16)

2n1 cos θi
t⊥m = (3.16)
n1 cos θi − n2 cos θt

El comportamiento para este coeficiente se observa en la fig.( 3.8), de donde se ve un

cambio notable, la amplitud es mayor y negativa. Además, de ser el inverso con respecto

Juan Carlos Juárez Morales Inaoe 32

 3.4. ECUACIONES DE FRESNEL PARA UN METAMATERIAL

al coeficiente de transmisión perpendicular clásico.

Para el coeficientes de transmisión paralelo tenemos que esta expresado por la ecuación
(3.17)

2n1 cos θi
tkm = (3.17)
n1 cos θt − n2 cos θi

El comportamiento para este coeficiente se observa en la fig.( 3.9), de donde se ve

un cambio notable sobre todo cuando se llega a el angulo crítico pasando de tener una
amplitud negativa a una amplitud positiva siendo estas amplitudes mayores a la de el coe-
ficiente clásico.

Para el coeficientes de reflexión perpendicular tenemos que esta expresado por la

ecuación (3.18)

n1 cos θi + n2 cos θt
r⊥m = (3.18)
n1 cos θi − n2 cos θt

El comportamiento para este coeficiente se observa en la fig.( 3.10), de donde se ve

un cambio el cual tiene a la amplitud mayor y negativa. Además, de ser el inverso con
respecto a el coeficiente de reflexión perpendicular clásico.

Para el coeficientes de reflexión paralelo tenemos que esta expresado por la ecuación
(3.19)

−n2 cos θi − n1 cos θt

rkm = (3.19)
n1 cos θt − n2 cos θi

El comportamiento para este coeficiente se observa en la fig.( 3.11), de donde se ve

un cambio notable sobre todo cuando se llega a el angulo crítico pasando de tener una
amplitud positiva a una amplitud negativa siendo estas amplitudes mayores a la de el
coeficiente clásico.

Juan Carlos Juárez Morales Inaoe 33

 3.4. ECUACIONES DE FRESNEL PARA UN METAMATERIAL

Figura 3.8: Coeficientes de transmisión perpendicular como función del ángulo de incidencia.

Figura 3.9: Coeficientes de transmisión paralelo como función del ángulo de incidencia.

Juan Carlos Juárez Morales Inaoe 34

 3.4. ECUACIONES DE FRESNEL PARA UN METAMATERIAL

Figura 3.10: Coeficientes de reflexión perpendicular como función del ángulo de incidencia.

Figura 3.11: Coeficientes de reflexión paralelo como función del ángulo de incidencia.

Juan Carlos Juárez Morales Inaoe 35

 3.5. ÁNGULO CRÍTICO

3.5. Ángulo crítico

El ángulo crítico también conocido como el ángulo mínimo de incidencia en el cual
se produce la reflexión interna total. El ángulo de incidencia se mide respecto a la normal
de la separación de los medios ver fig.( 3.12)

Normal

Haz no Refractado

t
n2
Haz Refractado

n1

Haz Incidente

Figura 3.12: Ángulo crítico.

Ahora de la ley de Snell donde el ángulo de refracción o transmitido es (θt = 90◦ ), el

ángulo crítico θc esta dado por la siguiente expresión

n2
θc = arcsin (3.20)
n1

Por ultimo tenemos que para ángulos de incidencia mayores que el ángulo crítico
θi > θc , el ángulo de refracción será mayor de 90o , por lo cual el rayo no será refracta-
do, ya que no pasa de un medio a otro, y por lo tanto se produce una reflexión total interna.

Para metamateriales tenemos que la expresión para el ángulo crítico se modifica para
obtener la siguiente forma

Juan Carlos Juárez Morales Inaoe 36

 3.5. ÁNGULO CRÍTICO

n2
θc = arcsin − (3.21)
n1

y su representacíón se puede ver en la siguiente fig.( 3.13)

Normal

Haz no Refractado

t
n2
Haz Refractado

n1

Haz Incidente

Figura 3.13: Ángulo crítico en un metamaterial.

En este capítulo se presentaron las principales características de la propagación de la

luz en metamateriales o materiales con índice de refracción negativo, mostrando sus difer-
encias primordiales tales como la ley de snell, las velocidades de fase y grupo y finalmente
las diferencias de los coeficientes de reflexión y transmisión de un medio homogeneo a
un metamaterial.

Juan Carlos Juárez Morales Inaoe 37

Capítulo 4

Descripción de ondas plasmonicas

4.1. Introducción
Los plasmones superficiales son oscilaciones de los electrones sobre una película
metálica delgada. Este campo de estudio es rico y extenso principalmente porque es un
tema en el que concurren múltiples disciplinas, desde la física fundamental, la óptica, la
física aplicada, la química y en los últimos años la biología. Es en estos dos últimos ám-
bitos en los que los plasmones han probado ser una herramienta muy importante para las
investigaciones aplicadas y básicas.

El objetivo del presente capítulo es proporcionar un panorama del campo de los plas-
mones superficiales, en particular, la excitación de un plasmon en películas delgadas como
aplicación para obtener refracción negativa, posteriormente se realizará el estudio de la
relación de dispersión en dos medios semi-infinitos y en tres medios (dos semi-infinitos
y una finito). Finalmente se presentan dos modelos para obtener refracción negativa; el
primer modelo consiste en utilizar un arreglo de una superficie plana acoplada con una
rejilla (utilizando la excitación de un plasmon en esta superficie) y el segundo método
consiste en iluminar con un campo eléctrico partículas metálicas (nanoesferas) sobre un
soporte oscilante.

38
4.2. DEFINICIÓN Y CARACTERÍSTICAS DE LOS PLASMONES SUPERFICIALES

4.2. Definición y características de los plasmones super-

ficiales
Un plasma se define como un conjunto de cargas eléctricas, las cuales pueden exhibir
comportamientos armónicos al ser perturbadas por un campo electromagnético. El con-
cepto de plasmón se refiere a un plasma compuesto de electrones [3]. Para el caso de
los metales, algunos electrones pueden moverse libremente, por lo que en estos materi-
ales se pueden producir plasmones. Existen dos tipos de plasmones [18], el primero se
conoce como plasmón de volumen (bulk) el cual se forma cuando los electrones pueden
oscilar armónicamente a través del volumen de un metal. Estos plasmones tienen una fre-
cuencia característica, conocida como frecuencia de plasma y que depende de la densidad
volumétrica de electrones del material, está dada por

p
ωp = 4πN e2 /m0 . (4.1)

donde
N - es el número de cargas (positivas y negativas)
e - es la carga del electrón
m0 - es la masa del electrón

El otro tipo de plasmones se conoce como plasmones superficiales y son ondas elec-
tromagnéticas que se acoplan en las interfaces formadas por un dieléctrico y un metal. Su
frecuencia se encuentra en un rango definido como
· ¸
ωp
ωsp ∈ 0, √ . (4.2)
2

En este trabajo solo se considerarán a los plasmones superficiales. Estos tienen la

propiedad de que su intensidad es máxima en la superficie que los soporta, y decaen expo-
nencialmente en la dirección normal a la superficie. Se dice que son ondas "no radiantes",
porque no se pueden propagar por el vacío. Además, si se hace una comparación entre los
plasmones superficiales y la luz que los produce, se pueden apreciar dos diferencias.

Juan Carlos Juárez Morales Inaoe 39

4.2. DEFINICIÓN Y CARACTERÍSTICAS DE LOS PLASMONES SUPERFICIALES

La primera, se tiene que para valores típicos, la longitud de onda de los plasmones
es aproximadamente un 10 % más pequeña que la de la luz a la misma frecuencia. Por lo
que en términos de vector de onda significa que los plasmones tienen un vector de onda
aproximadamente un 10 % mayor que el de la luz a la misma frecuencia. Los plasmones
y todas las ondas están regidas por una función conocida como relación de dispersión.
Esta función nos dice cuales son los valores de frecuencia permitidos para los diferentes
vectores de onda. En otras palabras, indica cuáles son las ondas que van a existir en un
sistema determinado.

En la fig.( 4.1) se muestra una gráfica de la relación de dispersión para dos tipos de
onda. La recta representa la relación de dispersión para ondas electromagnéticas que se
propaguen en el vacío, conocida también como línea de luz. La otra curva representa la
relación de dispersión para plasmones superficiales.

Figura 4.1: Relación de dispersión para dos tipos de onda.

La segunda diferencia, tenemos que los plasmones superficiales tienen una longitud
de propagación que puede variar de unas micras, a unos cuantos milímetros, dependiendo
de la iluminación y de los materiales que formen la interface. Esta característica resulta
muy interesante en el diseño de circuitos con estas dimensiones [18].

Juan Carlos Juárez Morales Inaoe 40

 4.3. RELACIÓN DE DISPERSIÓN (MODOS ÓPTICOS)

4.2.1. Acoplamiento óptico de plasmones superficiales

Históricamente, los plasmones fueron primero producidos mediante electrones. Al
hacer incidir perpendicularmente un haz de electrones sobre una película metálica del-
gada. Se observa que los electrones son desviados lateralmente por la película. Por la
conservación del momento, se produce una onda sobre la película.

Existen varios esquemas de acoplamiento de luz para generar plasmones, el primero

fue propuesto por Otto [19]. La técnica se basa en la reflexión total interna atenuada
(ATR), y consiste en un prisma reflector a 45◦ puesto en contacto con una superficie
metálica.Esta configuración genera una delgada capa de aire entre el prisma y el metal.
Tiene el inconveniente de que si la superficie metálica no es suficientemente paralela a la
superficie del prisma, el plasmón no se puede acoplar. Por esta razón, se requiere aplicar
presión sobre el prisma para mantenerlo en contacto con la superficie.

Otra técnica de acoplamiento que no requieren prisma son las que se basan en la
rugosidad de la superficie metálica. El acoplamiento depende de los parámetros de ru-
gosidad de la superficie. Por otra parte, se ha reportado el acoplamiento de plasmones si
la superficie tiene un defecto o un borde. Otras técnicas de acoplamiento sin prisma con-
sisten en recubrir una capa dieléctrica de un material cuya constante dieléctrica es menor
que la del aire; iluminar con un haz de extensión finita; con un haz enfocado ó un haz
Bessel a incidencia normal.

4.3. Relación de dispersión (Modos ópticos)

Son soluciones elementales exactas a la ecuación de Helmholtz y que satisfacen una
ecuación de eigenvalores. Entonces partiendo de la ecuación de Helmholtz dada por

∇2 φ + k 2 φ = 0. (4.3)

la cual se le propone una solución de la forma

Juan Carlos Juárez Morales Inaoe 41

 4.3. RELACIÓN DE DISPERSIÓN (MODOS ÓPTICOS)

φ(x, y, z) = f (x, y) exp{iβz}. (4.4)

Sustituyendo la ecuación (4.4) en la ecuación (4.3), se tiene

∇2⊥ f (x, y) + (k 2 − β 2 )f (x, y) = 0, (4.5)

desarrollando

∇2⊥ f (x, y) + k 2 f (x, y) = β 2 f (x, y), (4.6)

donde f (x, y) es arbitraria y  = (∇2⊥ + k 2 ) se define como un operador diferencial.

Entonces se tiene la siguiente la siguiente expresión

Âf (x, y) = β 2 f (x, y), (4.7)

ó escrito también de la siguiente forma

(∇2⊥ + k 2 )f (x, y) = β 2 f (x, y), (4.8)

si esta última ecuación es de la forma de la ecuación (4.4), entonces se tiene que la defini-
ción anterior esta en el contexto escalar.

El problema es buscar soluciones modales a campos ópticos en interfaces el modo

óptico debe satisfacer las condiciones de frontera del campo electromagnético asociado,
en particular en un medio libre de cargas y corrientes. Sea una onda electromagnetica que
se propaga en la direccion z con polarizacion p en la interface formada por dos medios
con constante dielectrica ²1 y ²2 respectivamente. La geometria considerada se muestra
en la fig.( 4.2)

Juan Carlos Juárez Morales Inaoe 42

 4.3. RELACIÓN DE DISPERSIÓN (MODOS ÓPTICOS)

E1
1

2
E2 z

Figura 4.2: sistema de referencia y geometría considerada.

donde E1T = E2T es la condición de frontera de las componentes tangenciales del medio
(1) y medio (2) y ²1 En1 = ²2 En2 es la condición de frontera de las componentes normales
de los medios (1) y (2) respectivamente.

Para cumplir con las condiciones de frontera, el modo óptico debe tener un carácter
vectorial y es de la forma

~ 1 = (îa + k̂b) exp{iβ1 z} exp{−α1 x}

E (4.9)

~ 2 = (îc + k̂d) exp{iβ2 z} exp{−α2 x}.

E (4.10)

Las condiciones de frontera se deben cumplir para x = 0 y para cualquier z. Entonces

b exp{iβ1 z} = d exp{iβ2 z}, en particular con z = 0. Por lo tanto b = d, de la condición
de frontera normal, tenemos que

²1 a exp{iβ1 z} = ²2 c exp{iβ2 z}, ²1 a = ²2 c.

Esto implica que β1 = β2 = β, por lo que ahora las ecuaciones (4.9) y (4.10) quedan
expresadas de la siguiente manera

~ 1 = (îa + k̂b) exp{iβz} exp{−α1 x}

E (4.11)

Juan Carlos Juárez Morales Inaoe 43

 4.3. RELACIÓN DE DISPERSIÓN (MODOS ÓPTICOS)

µ ¶
~2 = ²1
E î c + k̂b exp{iβz} exp{−α2 x}. (4.12)
²2

Como es un medio libre de cargas, se tiene que

~ 1 = 0,
∇·E

~ 2 = 0,
∇·E

por lo que ahora se tiene la siguiente ecuación

−α1 a + iβb = 0 (4.13)

²1
− α2 a + iβb = 0, (4.14)
²2

²1
igualando la ecuación (4.13) y la ecuación (4.14) tenemos que −α1 a + αa
²2 2
= 0, en-
tonces ²1 α2 = ²2 α1 , por lo que a estructura del modo superficial es

~ 1 = (îa + k̂b) exp{iβz} exp{−α1 x}

E (4.15)

µ ¶ ½ ¾
~2 = ²1 ²1
E î c + k̂b exp{iβz} exp − α1 ax . (4.16)
²2 ²2

Lo que falta es encontrar el valor permitido para β. Por lo que las ecuaciones (4.15) y
(4.16) deben satisfacer la ecuación de Helmholtz. Esto es

∇2 E1 + k 2 E1 = 0, ∇2 E2 + k 2 E2 = 0,

Juan Carlos Juárez Morales Inaoe 44

 4.3. RELACIÓN DE DISPERSIÓN (MODOS ÓPTICOS)

desarrollando se tiene (aα12 −aβ 2 )+ak12 = 0, despejando a tenemos a(α12 −β 2 )+ak12 = 0,

por lo tanto b(α12 − β 2 ) + bk12 = 0. Esto implica lo siguiente que α12 − β 2 + k12 = 0, por
lo que ahora tenemos las siguientes expresiones

õ ¶2 !
²1 ²2 2 2
a α1 − β + k2 = 0
²2 ²1
µ ¶2
²2
α12 − β 2 + k22 = 0
²1
β 2 − k22 = α12 .

Ahora se quiere encontrar el valor de β, por lo que haciendo el desarrollo de las

ecuaciones anteriores tenemos lo siguiente

µ ¶2
²2
(β 2 − k12 ) − β 2 + k22 = 0
²1
·µ ¶ ¸ µ ¶
2 ²2 ²2
β −1 − k12 + k22 = 0,
²1 ²1

despejando β 2 tenemos lo siguiente

²22 2
k
²21 1
− k22
2
β = ²22
²21
−1
²22 k12 −²21 k22
²21
= ²2 −²21
2

²21

²22 k12 − ²21 k22

= ,
²22 − ²21

2π 2π ω
pero si sabemos que k = λ
= v
δ = v
= ωc n, entonces la expreción anterior nos queda
de la siguiente forma

³ ω ´2 µ ² 2 n 2 − ² 2 n 2 ¶
2 2 1 1 2
β = , (4.17)
c ²22 − ²21

Juan Carlos Juárez Morales Inaoe 45

 4.3. RELACIÓN DE DISPERSIÓN (MODOS ÓPTICOS)

ahora si sabemos que

q
1
c ²0 µ0
n= = q ,
v 1
²µ

entonces los valores de n1 y n2 obtenidos en la ecuación (4.17), son los siguientes

²1 ²2
n1 = , n2 = ,
²0 ²0

sustituyendo las expresiones anteriores en la ecuación (4.17), se tiene

à !
³ ω ´2 ²22 ²²10 − ²21 ²²20
β2 = =
c ²22 − ²21
³ ω ´2 µ 1 ¶ µ
²2 − ²1
¶
= ²1 ²2 2
c ²0 ²2 − ²21
µ
³ ω ´2 1 ¶ µ ¶
²2 − ²1
= ²1 ²2
c ²0 (²2 − ²1 )(²2 + ²1 )
³ ω ´2 µ 1 ¶ µ ² ² ¶
1 2
= , (4.18)
c ²0 ²2 + ²1

por lo tanto el parámetro β esta dado por

µ ¶1/2
ω 1 ²1 ²2
β= √ .
c ²0 ²2 + ²1

o equivalentemente igual a
µ ¶1/2
ω ²1 ²2
β= . (4.19)
c ²2 + ²1

La expresión anterior se conoce como la relación de dispersión y da la dependencia

de la fase β con la frecuencia ω esto se observa en la fig.( 4.3).

Juan Carlos Juárez Morales Inaoe 46

 4.4. RELACIÓN DE DISPERSIÓN EN PELICULAS DELGADAS

Figura 4.3: Relación de dispersión para un plasmón superficial.

De la gráfica de relación de dispersión podemos observar que cuando ω → 0, β toma

√
el valor de ko y cuando ω → ωp / 2, entoces β → ∞. Por consiguiente tenemos que
para este modelo la longitud del plasmon es corta, ya que tenemos dos superficies semi-
infinitas.

4.4. Relación de dispersión en peliculas delgadas

En medios con condiciones semi-infinitas, la parte imaginaria del índice de refracción
determina la absorción. Esto implica plasmones que se propagan a distancias cortas e im-
plica también un control limitado en óptica de plasmones.

La idea es utilizar peliculas delgadas entre 20−40nm ya que estas soportan plasmones
de largo alcance. Esto implica un análisis de efectos opticos superficiales despreciando ab-
sorción.

Para este caso caso la relación de dispersión cambia su forma con respecto a la obteni-
da en la seccion anterior. Si la película disminuye en la dirección z a tamaños del orden
de 20 − 40nm. El problema es encontrar el nuevo valor de β para una sola nanoestructura.

Juan Carlos Juárez Morales Inaoe 47

 4.4. RELACIÓN DE DISPERSIÓN EN PELICULAS DELGADAS

La idea es pensar en un conjunto de nanoestructuras formando una red unidimensional

periódica y a está calcular su índice de refracción.

En este formalismo se muestra que es posible obtener mediante fenomenos de reso-

nancia índices de refracción negativo. El sistema por analizar en esta sección es considerar
tres medios, de los cuales dos son semi-infinitos y uno tiene un espesor d finito y lo sufi-
cientemente delgado para que el campo puede influir en las dos interfaces. La geometría
considerada se muestra en la fig.( 4.4)

1 E1
X=0
d . 2 E2
X=-d

1 E3
z

Figura 4.4: Geometría considerada para un sistema de tres medios.

De la figura anterior tenemos que los campos ópticos deben de cumplir con las condi-
ciones de frontera junto con las ecuaciones de Maxwell, el modo óptico debe tener un
carácter vectorial, por lo tanto los campos eléctricos están dados de la siguiente manera,
el campo en el metal es de la forma

µ ¶ µ ¶
²1 ²1
E2 = îa + k̂b exp{−α2 x} exp{iβz} + −îa + k̂b exp{α2 x} exp{iβz}
²2 ²2
· ¸
²1
= îa (exp{−α2 x} − exp{α2 x}) + k̂b(exp{−α2 x} + exp{α2 x}) exp{iβz}
²2

· ¸
²1
E2 = îA cosh(α2 x) + k̂B sinh(α2 x) exp{iβz}. (4.20)
²2

Juan Carlos Juárez Morales Inaoe 48

 4.4. RELACIÓN DE DISPERSIÓN EN PELICULAS DELGADAS

Por consiguiente el campo eléctrico para E1 y E3 , cumplen con las condiciones de

frontera tanto para la componente tangencial y la componente normal, por lo que tenemos
las siguientes expresiones
· ¸
²1
E1 = îA exp{−α1 x} exp{iβz}, (4.21)
²2

· ¸
²1
E3 = îA cosh(α2 d) + k̂B sinh(α2 d) exp{−α1 (x − d)} exp{iβz}. (4.22)
²2

De las ecuaciones anteriores se debe encontrar una expreción para β para esto se
sustituye cada expresión de E en la ecuación de Helmohtz, esto es

∇2 E1 + k12 E1 = 0
∇2 E2 + k22 E2 = 0
∇2 E3 + k32 E3 = 0.

Ahora resolviendo las ecuaciones anteriores, se obtienen las siguientes igualdades

α12 − β 2 + k32 = 0
α22 − β 2 + k22 = 0
α12 − β 2 + k12 = 0.

De estas igualdades nosotros obtenemos el valor de βpd , que es la relación de disper-

sión en peliculas delgadas y dicho valor esta expresado de la siguiente forma.
µ ¶2
ω ²1 ²2
βpd = , (4.23)
c ²1 + ²2 ± ²2 exp{−ωd/c}

Juan Carlos Juárez Morales Inaoe 49

 4.5. MÉTODOS DE GENERACIÓN DE PLASMONES SUPERFICIALES

Figura 4.5: Relación de dispersión en películas delgadas.

En esta gráfica mostrada en la fig.( 4.5, observamos que cuando ω → 0, βpd toma
√
el valor de ko y cuando βpd → ∞ entonces ω toma un valor menos a ωp / 2. Con este
valor de βpd nosotros tenemos que la longitud del plasmon es mas larga, debido a que
incorporamos un espesor definido a nuestra película en donde se excita el plasmon.

4.5. Métodos de generación de plasmones superficiales

Luz incidiendo sobre una superficie plana no genera un plasmón esto se debe a que
β > k0 , donde k0 = ω/c. El acoplamiento implica un elemento óptico adicional, un caso
particular sería una rejilla en contacto con la superficie. Si β > k0 entonces no se puede
acoplar luz del vacío a la interface y generar así un plasmón, por lo que entonces se nece-
sita un incremento a k0 para generar un plasmón.

En la siguiente sección se desarrollará un análísis donde se define la velocidad de un

plasmon en el arreglo mencionado anteriormente además de realizar el desarrollo ma-
temático para la difracción de dicha rejilla, obteniendo que cuando se ilumine con luz

Juan Carlos Juárez Morales Inaoe 50

 4.5. MÉTODOS DE GENERACIÓN DE PLASMONES SUPERFICIALES

genere una variedad de números de onda kn y algunos de ellos coincidan con el número
de onda del plasmón descrito por la relación de dispersión y así finalmente poder excitar
un plasmon para de este fenomeno obtener un índice de refracción negativo para el arreglo
propuesto en la fig. (3.1).

4.5.1. Velocidad de fase de un plasmon

El análisis sobre la velocidad de la fase en un Metamaterial o velocidad de un plasmón
ver fig.( 4.6), se realiza tomando la ecuación (4.2), esta debe cumplir la condición de que
la velocidad de fase debe coincidir con la velocidad de grupo.

Figura 4.6: Ley de Snell para un Metamaterial.

De la figura anterior tenemos que l = tp vp representa la longitud del plasmon sobre la

superficie, ademas n1 y n2 están en función de la velocidad de la luz c y la velocidad de
cada medio respectivamente, además de que los ángulos θ1 y θ2 son positivos.

Si tenemos que la vf = vp cos θ, entonces esta velocidad es anti-paralela a la velocidad

de grupo en el medio 2, esto se puede observar en la fig. (4.2), de donde vp es la velocidad
del plasmón. La velocidad generada por un plasmon debe de cumplir lo siguiente, que el
modulo de la vp debe ser

Juan Carlos Juárez Morales Inaoe 51

 4.5. MÉTODOS DE GENERACIÓN DE PLASMONES SUPERFICIALES

c c
= , (4.24)
vp cos θ v2

la cual es la propuesta fundamental para este trabajo. ahora si tenemos que

v2 = vp cos θ, (4.25)

donde v2 debe estar en un material muy denso, entonces

1 1
= , (4.26)
vp cos θ v2

ω
ahora lo que sigue es expresar la vp en términos de β, y además v = k
, la velocidad del
plasmon queda expresada de la siguiente forma

ω
vp = . (4.27)
β

Sustituyendo β dada por la ecuación (4.19), en la ecuación (4.27), se tiene

ω
vp = ³ ´1/2 , (4.28)
ω √1 ²1 ²2
c ²0 ²1 +²2

desarrollando, obtenemos la siguiente expresión

µ ¶1/2
√ ²1 + ²2
vp = c ²0 , (4.29)
²1 ²2

por lo tanto,tenemos que vp esta expresado en términos β, por consiguiente tenemos que
de la ecuación (4.26) obtenemos a el índice de refracción n2 , el cual toma la forma

c
n2 = , (4.30)
vp cos θ

Juan Carlos Juárez Morales Inaoe 52

 4.5. MÉTODOS DE GENERACIÓN DE PLASMONES SUPERFICIALES

Esta última ecuación representa el índice de refracción para materiales compuestos, es

decir, que para este modelo nosotros tenemos índices de refracción negativos utilizando
la excitación de un plasmon en una rejilla sobre una superficie plana, lo que queda es
realizar el análisis para dicha rejilla, dicho análisis se muestra en la siguiente sección.

4.5.2. Difracción de una rejilla.

Sommerfeld definió la difracción como la propagación no rectilínea de la luz que no
se puede interpretar a partir de las leyes de la reflexión y de la refracción. Grimaldi, en
el siglo XVII, fue el primero que observó fenómenos difractivos: al hacer pasar un haz
de luz a través de una abertura practicada sobre una pantalla observó que, al proyectar el
haz sobre otra pantalla, el paso de la zona iluminada a la zona de sombra no era abrupto.
Años después, Fresnel realizó el primer intentó serio de explicar los fenómenos de difra-
cción (1818), basándose en unas modificaciones del principio de Huygens [7]. En 1882,
Kirchhoff propuso la explicación de los fenómenos de difracción en términos de la teoría
escalar.

Una rejilla de difracción es una pantalla con un número grande de rendijas de iguales
tamaños y situadas a la misma distancia una de otra ver fig.( 4.7).

Figura 4.7: Difracción de una rejilla.

Juan Carlos Juárez Morales Inaoe 53

 4.5. MÉTODOS DE GENERACIÓN DE PLASMONES SUPERFICIALES

Suponemos que este campo tiene una representación matemática de la forma

X
f (x) = an exp{i2πxn/d}

X
φ(x, z) = an exp{i2π(xUn + xPn )}. (4.31)

Cuando z −→ 0 y x1 −→ x, entonces se tiene

X X n no
φ(x, z = 0) = an exp{i2πxUn } = an exp i2πx , (4.32)
d

donde

n
Un = , k = kx , kz ,
d

Justo en el plano de la rejilla, tenemos

n ½ µ ¶¾
X no X n kx
exp{ikx x} an exp i2πx = an exp i2πx + . (4.33)
d d 2π

2π
¡ 2π ¢
Si tenemos que k = λ
, entonces k = λ
cos α, 2π
λ
sin α por lo que considerando lo
anterior la ecuación (4.33) se escribe como

X ½ µ ¶¾
n 1 2π
an exp i2πx + cos α , (4.34)
d 2π λ

desarrollando, se tiene

n ³n ½ µ ¶¾
X cos α ´o X 2nπ ω
an exp i2πx + = an exp ix + cos α . (4.35)
d λ d c

¡ 2nπ ω
¢
La expresión d
+ c
cos α es equivalente a tener un nuevo número de onda.

Juan Carlos Juárez Morales Inaoe 54

 4.6. APLICACIONES DE PLASMONES SUPERFICIALES A METAMATERIALES

ω 2nπ
kp = cos α ± = β. (4.36)
c d

El tener una rejilla en contacto con la superficie permite acoplar el plasmón. El mismo
efecto se cumple si se graba una rejilla sobre una superficie conductora esto es en una
superficie periodica.
µ ¶1/2
ω 2nπ ω ²1 ²2
cos α ± = . (4.37)
c d c ²1 + ²2

El tener una rejilla en el plano z = 0 iluminada con luz oblicua genera una variedad
de números de onda kn y algunos de ellos coinciden con el número de onda del plasmón
descrito por la relación de dispersión.

4.6. Aplicaciones de plasmones superficiales a metamate-

riales
Un metamaterial es un material estructurado que exhibe o presenta un índice de re-
fracción negativo, a continuación se presenta una síntesis para metamateriales utilizando
nano-partículas polarizadas con luz sobre una superficie o soporte para obtener como re-
sultado una expresión que nos indique índices de refracción negativos.

4.6.1. Sintesís de metamateriales

El hecho de que tenga estructura implica o lo podemos asociar parametros con de-
pendencia temporal y en particular lo modelamos como un grupo de dos nano-partículas
polarizadas sobre un soporte aislante esto implica que la distancia relativa entre dos par-
ticulas se acerca/aleja de manera armónica.

Los fenomenos de interacción entre partículas se puede explicar a traves de la in-

teracción entre plasmones. Como paso previo se describe la interacción entre dipolos
fig.( 4.8).

Juan Carlos Juárez Morales Inaoe 55

 4.6. APLICACIONES DE PLASMONES SUPERFICIALES A METAMATERIALES
Nnopartículas
E

Iluminación con un
Campo Eléctrico
Sustrato

- +
- +

Sustrato en la dirección de polarización

K2 K1
K1
- + - +
- +

Sustrato con Interacción entre dipolos

Figura 4.8: Modelo de dos nano-partículas polarizadas sobre un soporte oscilante.

d2 x
+ ω 2 (t)x = E, (4.38)
dt2

k
donde E = E0 cos ωt y ω 2 = m
, además ω(t) es una función periódica, es decir

X
ω(t) = an exp{inωt}.

Por lo que ahora se tiene definido a ω(t) de la siguiente forma

ω(t) = ω0 + a cos αt. (4.39)

Ahora para ω(t)2 tenemos lo siguiente

Juan Carlos Juárez Morales Inaoe 56

 4.6. APLICACIONES DE PLASMONES SUPERFICIALES A METAMATERIALES

ω(t)2 = ω02 + 2aω0 cos αt + a2 cos2 αt

= ω02 + 2aω0 cos αt, (4.40)

sustituyendo la ecuación anterior en la ecuación (4.38) se tiene

d2 x
2
+ (ω02 + 2aω0 cos αt)x = E0 cos ωt. (4.41)
dt

A esta última ecuación se le conoce como Resonancia Paramétrica, ahora propon-

dremos una solución de la forma

x = x0 cos ωt, (4.42)

sustituyendo en la ecuación (4.41), se tiene

−x0 ω 2 cos ωt + x0 ω02 cos ωt + 2ax0 ω0 cos αt cos ωt = E0 cos ωt, (4.43)

resolviendo para x0 tenemos

x0 (ω02 − ω 2 + 2aω0 cos αt) = E0 , (4.44)

despejando x0 se tiene

E0
x0 = , (4.45)
ω02 − ω2 + 2aω0 cos αt

por lo tanto la solución es de la forma

E0 cos ωt
x= . (4.46)
ω02 − ω 2 + 2aω0 cos αt

Juan Carlos Juárez Morales Inaoe 57

 4.6. APLICACIONES DE PLASMONES SUPERFICIALES A METAMATERIALES

Ahora si tenemos que el momento dipolar es p = qx = E(²−²0 ), entonces la ecuación

(4.46) toma la forma

qE0 cos ωt
= E0 cos ωt(² − ²0 ), (4.47)
ω02− ω 2 + 2aω0 cos αt
ahora despejando ², se tiene de la ecuación anterior

q
² = ²0 + . (4.48)
ω02 − ω2 + 2aω0 cos αt

Por lo tanto para tener una expreción para el índice de refracción tenemos lo siguiente

q
n2 = 1 + , (4.49)
²0 (ω02 − ω2 + 2aω0 cos αt)

donde α es el período de las vibraciones del sustrato, y además tenemos que el indice de
refracción depende del tiempo, por lo que ahora se tiene lo siguiente

µ ¶1/2
q
n(t) = 1+
²0 (ω02 − ω 2 + 2aω0 cos αt)
q
≈ 1+ 2 2
. (4.50)
2²0 (ω0 − ω + 2aω0 cos αt)

Si tenemos que para tiempos de απ , 3π

α
, ..., tenemos que la expresión anterior es de la
forma

q
n(t) = 1 + . (4.51)
2²0 (ω02 − ω 2 − 2aω0 )

Finalmente para N nano-partículas por unidad de longitud, el índice de refracción es

Nq
n(t) = 1 + . (4.52)
2²0 (ω02 − ω2− 2aω0 cos αt)

Por lo cual de esta última ecuación tenemos que para N nano-partículas, polarizadas
con luz y estando sobre un soporte o superficie obtenemos refracción negativa en ciertos

Juan Carlos Juárez Morales Inaoe 58

 4.6. APLICACIONES DE PLASMONES SUPERFICIALES A METAMATERIALES

intervalos de tiempos igual que en el caso para dos nano-partículas esto lo podemos ver
en la fig.( 4.9).

Iluminación con un
campo eléctrico

Figura 4.9: Modelo de N nano-partículas polarizadas sobre un soporte oscilante.

.
En este capítulo se obtuvo la relación de dispersión en películas delgadas lo cual
nos permite tener una longitud de largo recorrido del plasmon, además de obtener un
modelo que consiste en una superficie plana acoplando un elemento óptico en este caso
una rejilla para obtener como resultado refracción negativa además de realizar una síntesis
de metamateriales utilizando partículas en una superficie para obtener de igual manera
refracción negativa.

Juan Carlos Juárez Morales Inaoe 59

Capítulo 5

Propuesta de síntesis en metamateriales

En este capítulo se propone implementar un arreglo interferométrico para controlar

cambios de fase en un campo óptico. El sistema permite caracterizar fluctuaciones prome-
dio de fase y tener refracción negativa generada por una superficie rugosa, utilizando co-
mo substrato fotorresina. La descripción matemática se realiza a partir de la holografía en
específico del holograma de un punto.

5.1. Análisis holográfico

5.1.1. Introducción
La holografía se puede describir en muy pocas palabras como un sistema de fotografía
tridimensional, sin el uso de lentes para formar la imagen. Ésta es una de las técnicas óp-
ticas que ya se veían teóricamente posibles antes de la invención del láser, pero que no se
pudieron volver realidad antes de él.

El desarrollo de la holografía se dejo sentir con el advenimiento de la tecnología del

láser, en los 60’s, pero este inventó se conocía desde 13 años antes, en 1947 debido a los
trabajos del húngaro Dennis Gabor, quien inventó la técnica de reconstrucción del frente
de onda, usando los principios de difracción. En aquella época se veían pocas posibili-
dades para la holografía, debido a las grandes limitaciones que se tenían con las lámparas
de mercurio, dado que la longitud de coherencia de esta fuente, es del orden de milímetros.

60
 5.1. ANÁLISIS HOLOGRÁFICO

Pero las posibilidades de sus aplicaciones se dispararon con el advenimiento del láser
que fue inventado por el ruso, Tornes Charles Hakd, con esta herramienta los ingenieros
Leith y Upatnieks en los 60’s desarrollaron la holografía fuera de eje obteniendo resulta-
dos sorprendentes, después de este acontecimiento, hubo en esta época una moda de hacer
hologramas, creándose diferentes tipos de hologramas: como los hologramas de Fourier,
Fresnel, Fraunhofer, todos estos hologramas eran de transmisión.

Después Denisyuk, en 1962 realiza por vez primera los hologramas de reflexión, em-
pleando emulsiones gruesas, obteniendo resultados sorprendentes dado que la eficiencia
de difracción es bastante alta, y los requisitos de coherencia para reconstruirlos fueron de
alguna manera atenuados, abriendo la posibilidad de reconstruirlos con luz blanca.

La gente en todo el mundo empezó a realizar hologramas de reflexión, obteniendo

hologramas mejores en eficiencia y ventana de visión, mediante arreglos experimentales
mas complicados. Benton, en 1968, hace los primeros hologramas de imagen o holo-
gramas de arco iris (rainbow). Estos hologramas de transmisión se hicieron atractivos
rápidamente dado que no se necesitaba una fuente coherente monocromática para recon-
struirlos, solo se requiere de iluminar los hologramas con luz blanca.

En los 70’s la compañía RCA hace el primer intento de llevar al mercado los holo-
gramas, para ello se llevo un intenso estudio sobre los materiales más adecuados para la
replica de hologramas. Bartolini, en 1974, publica los primeros resultados sobresalientes
en la replica de hologramas, los materiales que el reportó como los óptimos fueron las
fotorresinas. Las fotorresinas son materiales que guardan la información por modulación
de relieve, sin perdida de detalles de los hologramas, dado que la resolución de estos
materiales es a nivel molecular.

5.1.2. Desarrollo teórico

Para poder hacer un análisis de holografía es necesario primero describir los concep-
tos fundamentales de interferencia.

Juan Carlos Juárez Morales Inaoe 61

 5.1. ANÁLISIS HOLOGRÁFICO

La interferencia óptica es cuando dos haces de luz, con diferentes caminos ópticos y
que emergen de la misma fuente se suman en un punto [12].

La teoría de interferencia óptica esta basada en el principio de superposición de ondas,

esto se debe a que la ecuación de Helmholtz es lineal. En la fig.( 5.1) se ilustra el esquema
básico de interferencia.

E(1) r1 P
S1

S
r2

S2
E(2)

Figura 5.1: Interferencia de dos fuentes.

El campo en amplitud en el punto P es

E = E(1) + E(2) . (5.1)

Si consideramos dos ondas planas armónicas polarizadas linealmente las expresiones

para los campos son

E(1) = E1 exp{i(k~1 · r~1 − ωt + φ1 )}

E(2) = E2 exp{i(k~2 · r~2 − ωt + φ2 )}, (5.2)

donde φ1 y φ2 representan la diferencia de fase entre las superficies de las dos ondas, así
la ecuación (5.1) esta dada por

Juan Carlos Juárez Morales Inaoe 62

 5.1. ANÁLISIS HOLOGRÁFICO

E = E1 exp{i(k~1 · r~1 − ωt + φ1 )} + E2 exp{i(k~2 · r~2 − ωt + φ2 )}. (5.3)

Sabemos que la irradiancia de un punto es proporcional al cuadrado de la amplitud,

así en este caso la irradiancia toma la forma

I = |E|2
∗ ∗
= (E(1) + E(2) )(E(1) + E(2) )
= |E12 | + |E22 | + 2E1 E2 cos θ

I = I1 + I2 + 2E1 E2 cos θ, (5.4)

donde θ = k~1 · ~r − k~2 · ~r + φ1 − φ2 .

El tercer término de la ecuación (5.4) es el llamado término de interferencia, además,

si φ1 − φ2 es constante se dice que las superficies de las 2 ondas son mutuamente cohe-
rentes. Pero si por lo contrario φ1 − φ2 varia con el tiempo se dice que son mutuamente
incoherentes o parcialmente coherentes. Para el caso incoherente se tiene que el valor
promedio del cos θ es cero y que no existe el término de interferencia.

De aquí se dice que las franjas de interferencia constructiva se dan cuando la diferencia
de camino óptico es igual a números enteros de la longitud de onda

|r2 − r1 | = nλ, (5.5)

y los puntos de mínima interferencia

|r2 − r1 | = (n + 1/2)λ, (5.6)

Juan Carlos Juárez Morales Inaoe 63

 5.1. ANÁLISIS HOLOGRÁFICO

donde n es un entero y se le llama orden de interferencia, es simplemente el número de

longitudes de onda en que difieren las trayectorias de los puntos en donde ocurre la inter-
ferencia.

Se puede describir una aplicación de los modelos de interferencia, en holografia. La

palabra holografía proviene del griego Holos-Completo y Grama-Imagen [13] es decir un
holograma es un medio de registro el cual contiene el patrón de interferencia de un haz
objeto y un haz de referencia.

La manera mas simple de generar un holograma en eje, es grabar el objeto en el mismo

eje de la onda plana que lo ilumina. Esto es conocido como holograma de un punto y su
análisis de realizará en la siguiente sección.

5.1.3. Análisis del holograma de un punto

De la fig.( 5.2) nos muestra el esquema del holograma de un punto, en este arreglo
hacemos interferir 2 ondas planas de las cuales se tienen las siguientes ecuaciones

Figura 5.2: Esquema de un holograma de un punto.

Juan Carlos Juárez Morales Inaoe 64

 5.1. ANÁLISIS HOLOGRÁFICO

A1 = A exp{ikr1 }

A2 = B exp{ikr2 }, (5.7)

de la anterior figura, obtenemos los valores de r1 y r2 expresados de la siguiente forma

³ ´1/2
r1 = (x − x1 )2 + (y − y1 )2 + (z1 )2 , (5.8)

³ ´1/2
r2 = (x − x2 )2 + (y − y2 )2 + (z2 )2 . (5.9)

Ahora realizaremos el proceso para generar el holograma, entonces tenemos de la

fig. (5.2) y de la ecuación para la irradiancía (5.4) lo siguiente

φ(P ) = A exp{ir1 k} + B exp{ir2 k},

I(P ) = t(x, y),

I(P ) = A2 + B 2 + 2ReAB ∗ exp{ik(r1 − r2 )},

I(P ) = A2 + B 2 + AB ∗ exp{ik(r1 − r2 )} + A∗ B exp{−ik(r1 − r2 )}. (5.10)

Para el proceso de reconstrucción del holograma tenemos que iluminar el patrón

grabado con una onda esférica asi de esta forma tenemos lo siguiente

ZZ
exp{ikr}
φ(P1 ) = A exp{ikr1 }t(x, y) dxdy, (5.11)
r

Juan Carlos Juárez Morales Inaoe 65

 5.1. ANÁLISIS HOLOGRÁFICO

sustituyendo la ecuación (5.10) en la ecuación (5.11) tenemos

ZZ
exp{ikr}
φ(P1 ) = A exp{ikr1 }(A2 + B 2 ) dxdy
r
ZZ
exp{ikr}
+ A exp{ikr1 }(AB ∗ ) exp{ik(r1 − r2 )} dxdy
r
ZZ
exp{ikr}
+ A exp{ikr1 }(A∗ B) exp{−ik(r1 − r2 )} dxdy (5.12)
r

de la ecuación anterior reescribiendo cada integral tenemos lo siguiente

ZZ
exp{ikr}
a= A exp{ikr1 }(A2 + B 2 ) dxdy, (5.13)
r
ZZ
exp{ikr}
b= A exp{ikr1 }(AB ∗ ) exp{ik(r1 − r2 )} dxdy, (5.14)
r
ZZ
exp{ikr}
c= A exp{ikr1 }(A∗ B) exp{−ik(r1 − r2 )} dxdy, (5.15)
r

pero tenemos que la ultima integral (5.15) se puede escribir como

ZZ
exp{ikr}
c= AA∗ B exp{ikr2 } dxdy, (5.16)
r

y la segunda integral (5.14) la podemos escribir como

ZZ
exp{ikr}
b= A2 B ∗ exp{ik(2r1 − r2 )} dxdy, (5.17)
r

donde tenemos que si 2r1 − r2 > 0, la fuente es imaginaria es decir, estará del lado
izquierdo del plano holográfico, pero si 2r1 − r2 < 0, entonces estaria del lado derecho.
(ver fig. 5.3)

Juan Carlos Juárez Morales Inaoe 66

 5.1. ANÁLISIS HOLOGRÁFICO

Figura 5.3: a) Fuente imaginaria, b) Punto real.

Por lo que ahora retomando la consideración donde 2r1 − r2 < 0 y haciendo una
aproximación paraxial para r1 , r2 y r, tenemos lo siguiente

µ ¶
x2 + y 2 x21 + y12 xx1 yy1
r1 = + − + ,
2z1 2z1 z1 z1

µ ¶ µ ¶ µ ¶
x2 + y 2 x21 + y12 xx1 yy1
2r1 = 2 +2 −2 + ,
2z1 2z1 z1 z1

µ ¶
x2 + y 2 x22 + y22 xx2 yy2
r2 = + − + ,
2z2 2z2 z2 z2

µ ¶
x2 + y 2 x20 + y02 xx0 yy0
r= + − + .
2z0 2z0 z0 z0

Ahora queremos que x2 y y 2 se eliminen entonces tenemos que hacer 2r1 −r2 +r = 0,
sustituyendo los valores de r2 , r1 , r tenemos que obtener x0 y y0 donde estos términos rep-
resentan el orden cero de difracción, el halo, el patrón de difracción del objeto grabado y
por ultimo la imagen reconstruida de A modulada por un factor constante. Por lo tanto,
estos términos están dados por

Juan Carlos Juárez Morales Inaoe 67

 5.1. ANÁLISIS HOLOGRÁFICO

µ ¶
2x1 2x2
x0 = z 0 + , (5.18)
z1 z2

µ ¶
2y1 2y2
y0 = z0 + . (5.19)
z1 z2

5.1.4. Arreglo Experimental

Lo descrito anteriormente tiene como finalidad estudiar las propiedades de un campo
óptico. Para analizar las propiedades de este sistema, se propone separar cada compo-
nente del campo óptico del sistema interferométrico para estudiar las fluctuaciones de
cada componente y posteriormente reunir nuevamente los haces en una placa holografica
y obtener asi una superficie que nos permita tener refracción negativa. El arreglo holográ-
fico esta esquematizado en la siguiente fig. (5.4).

Placa
Holográfica

Haz
(1)

M2 t

Haz
(2)

Láser BE BS M1 b

Figura 5.4: Arreglo experimental de un holograma de punto.

Juan Carlos Juárez Morales Inaoe 68

 5.1. ANÁLISIS HOLOGRÁFICO

donde BE es el expansor de haz, BS es un divisor de haz y finalmente M1 y M2 son es-

pejos. De este arreglo holográfico, se tiene que el haz (1), es considerado como el haz de
referencia y el haz (2) como el haz objeto.

La placa holográfica consiste en una fotorresina ver fig. (5.5). La fotorresina se recubre
de un metal para generar ondas plasmonicas. El espesor de la película esta entre 20−40nm
esto con la finalidad de generar plasmones de largo alcance y poder despreciar absorción,
esto con la finalidad de obtener refracción negativa como se muestra en la fig. (5.6).

haz referencia Película

Plasmon delgada
Superficial

haz objeto

Figura 5.5: Exitación de un plasmon superficial en una superficie rugosa.

Haz referencia

Haz objeto

Figura 5.6: Indice de refracción negativo.

Juan Carlos Juárez Morales Inaoe 69

 5.1. ANÁLISIS HOLOGRÁFICO

En este capítulo se describieron los conceptos fundamentales de holografía, en partic-

ular, se realizó el análisis del holograma de un punto. a partir de este análisis se establece
un método utilizando un arreglo interferométrico para la obtención de índices de refra-
cción negativa. El sistema interferométrico permite obtener un material que genere dicha
refracción. Finalmente concluimos que los resultados teóricos obtenidos están en buena
concordancia con las predicciones experiemntales propuestas.

Juan Carlos Juárez Morales Inaoe 70

Capítulo 6

Conclusiones

6.1. Conclusiones generales

Se describieron los conceptos fundamentales de la óptica física tales como la función
de fase, la velocidad de fase y la velocidad de grupo. A partir de este estudio se determi-
naron las características de un campo óptico en un metamaterial, también se describieron
los conceptos de la teoría del calculo variacional con la condición de transversalidad, en
partícular se describió la generación de campos de difracción a través de principios varia-
cionales.

Se realizó el análisis de las propiedades electromagneticas para materiales con índice

de refracción negativo, comprobando que se presenta una velocidad de fase y una veloci-
dad de grupo antiparalelas, se deduce la ley de Snell para un metamaterial, los diferentes
coeficientes de amplitud de reflexión y transmisión así como el ángulo crítico para medios
con refracción negativo.

Se ha presentado un análisis de la propagación de ondas electromagnéticas en inter-

faces con el cual se obtuvo la relación de dispersión para plasmones en dos medios semi-
infinitos. Se obtuvo la solución para tres medios y su correspondiente relación de disper-
sión. Se mostró que se puede hacer válida la expresión para dos medios semi-infinitos en
el caso de tres medios haciendo que el primer y tercer medio tengan el mismo valor de su

71
 6.2. TRABAJO A FUTURO

función dieléctrica. Una cualidad a mencionar es el hecho de que este análisis puede ser
aplicado a sistemas físicos con geometrías distintas de las planas, mediante la transforma-
ción conveniente de coordenadas, así como a un número mayor de interfaces además de
que se tiene que para dos medios la vida del plasmon es corta su longitud de onda y para
tres medios se obtuvo que la longitud del plasmon es larga por lo cual nos es de mayor
interes este ultimo caso.

Se describió la síntesis de un metamaterial utilizando el modelo de drude, es decir,

empleando nanoparticulas acopladas a una superficie plana, dicho análisis nos da como
resultado que se puede generar un índice de refracción negativo apartir de este modelo
utilizando primero 2 nano-particulas y posteriormente N nano-partículas. Finalmente se
propone el arreglo experimental para lograr los objetivos anteriormente planteados us-
ando un arreglo interferométrico y diciendo que el sustrato a usar es fotorresina, para
posteriormente aplicarle una capa delgada de plata para asi excitar un plasmón.

6.2. Trabajo a futuro

6.2.1. Generación de cavidades láser aleatorias utilizando superficies

rugosas.
La propuesta consiste, en la generación de cavidades láser aleatorias utilizando su-
perficies rugosas, esto es generación de cavidades resonantes aleatorias. El esquema pro-
puesto se muestra en la fig. (6.1)
metal

dielectrico

Figura 6.1: Esquema para generar cavidades resonantes aleatorias.

Juan Carlos Juárez Morales Inaoe 72

 6.2. TRABAJO A FUTURO

donde el dieléctrico puede ser de erbio u oxido de titanio, además de que el metal sea pla-
ta, para poder asi excitar el plasmón con luz láser una de sus posibles aplicaciones estaría
en los sistemas de comunicaciones.

Juan Carlos Juárez Morales Inaoe 73

Apéndice A

Deducción de la Ley de Snell para un

metamaterial.

Para un material con refracción negativa metamaterial, se tiene el haz de incidencia, el

haz reflejado y el haz transmitido ver fig. 3.3. Por lo que se tiene que la ley de Snell estará
dada de forma diferente a partir de las condiciones que se mostrarán a continuación.

i
r
n1 r

n2 t

Figura A.1: Esquema de la ley de Snell para metamateriales.

74
 De la figura anterior se tienen las siguientes expresiones

Ei = φi = k̂Ai exp{i(ki · ri − ωt)} = Ai exp{i(kxi x − kyi y − ωt)} (A.1)

Er = φr = k̂Ar exp{i(kr · rr − ωt)} = Ar exp{i(kxr x + kyr y − ωt)} (A.2)

Et = φt = k̂At exp{i(kt · rt − ωt)} = At exp{i(−kxt x − kyt y − ωt)}, (A.3)

donde si tenemos que ki = (xxi − yyi ),y hacemos y = 0, estamos en la interfaz y los
campos eléctricos son los mismos. Por lo que ahora se tiene lo siguiente

Ai exp{i(kxi x−kyi y−ωt)}+Ar exp{i(kxr x+kyr y−ωt)} = At exp{i(−kxt x−kyt y−ωt)}.

(A.4)

Ahora para una polarización S, se tiene que Ai = Ar = At es decir, no ahi un co-

rrimientos de frecuencias y si además tenemos que ωi = ωr = ωt lo que nos indica que
tenemos un comportamiento lineal, pero si kxi = kxr = −kxt , entonces tenemos unas
expresiones de la forma

2π 2π
Kxi = cos αi = sin θ1 (A.5)
λi λi

2π 2π
Kxr = cos αr = sin θr (A.6)
λr λr

Si ahora tenemos la siguiente igualdad expresada como

2π 2π 2π 2π
cos αi = sin θ1 = − cos αt = − sin θt
λi λi λt λt

Juan Carlos Juárez Morales Inaoe 75

 Tomando el segundo y cuarto termino de la expresión anterior, tenemos que

sin θi sin θt
=− , (A.7)
δλi δλt

de donde ω = 2πδ.Por lo tanto, la expresion anterior toma la siguiente forma

c sin θi c sin θt
=− , (A.8)
vi vt

Si sabemos que n = vc , la ecuación (A.8) queda como

ni sin θi = −nt sin θt , (A.9)

A la ultima ecuación se le llama Ley de Snell para metamateriales y solo se cumple

solo si nt es negativo, es decir, nt < 0.

Juan Carlos Juárez Morales Inaoe 76

Apéndice B

Tabla de valores de los coeficientes de

Fresnel para un metamaterial.

Los datos numéricos obtenidos de las ecuaciones de Fresnel en un metamaterial, para

graficar los coeficientes de amplitud mostrados en el capítulo 3, se muestran en la siguien-
te tabla

77
 θi θt t⊥ tk t⊥ rk θi θt t⊥ tk t⊥ rk
0 0 -4 -4 -5 -5 46 28.65 -2.22 -8.11 -3.22 11.23
2 1.33 -3.98 -3.98 -4.96 4.96 48 29.69 -2.07 -9.5 -3.06 13.28
4 2.66 -3.98 -3.98 -4.96 4.96 50 30.71 -2 -11.63 -3 16.45
6 3.99 -3.96 -3.96 -4.96 4.96 52 31.69 -1.86 -17.57 -2.84 25.28
8 5.32 -3.96 -4.04 -4.96 5.04 54 32.63 -1.72 -29.25 -2.7 43
10 6.64 -3.92 -4.08 -4.92 5.12 56 33.55 -1.58 -50.65 -2.57 74.98
12 7.96 -3.82 -4.14 -4.8 5.21 58 34.42 -1.47 35 -2.46 -53.66
14 9.28 -3.8 -4.12 -4.8 5.17 60 35.26 -1.38 16.66 -2.38 -26
16 10.58 -3.76 -4.17 -4.76 5.26 62 36.05 -1.24 9.3 -2.22 -15
18 11.88 -3.72 -4.22 -4.72 5.31 64 36.81 -1.12 5.8 -2.11 -9.66
20 13.18 -3.52 -4.18 -4.5 5.51 66 37.51 -1.03 4.5 -2.02 -7.77
22 14.46 -3.49 -4.3 -4.47 5.46 68 38.17 -0.92 3.36 -1.92 -6.09
24 15.73 -3.43 -4.43 -4.43 5.68 70 38.78 -0.82 2.61 -1.82 -4.92
26 16.99 -3.31 -4.58 -4.29 5.87 72 39.34 -0.7 1.96 -1.69 -3.96
28 18.23 -3.25 -4.63 -4.25 5.94 74 39.85 -0.62 1.57 -1.61 -3.34
30 19.47 -3.14 -4.94 -4.12 6.37 76 40.3 -0.53 1.2 -1.53 -2.8
32 20.68 -3.01 -4.97 -4 6.47 78 40.69 -0.44 0.93 -1.43 -2.4
34 21.88 -2.89 -5.15 -3.87 6.75 80 41.03 -0.35 0.69 -1.35 -1.95
36 23.07 -2.77 -5.55 -3.75 7.34 82 41.31 -0.27 0.49 -1.26 -1.72
38 24.23 -2.7 -5.81 -3.68 7.74 84 41.53 -0.19 0.33 -1.19 -1.5
40 25.37 -2.59 -6.37 -3.57 8.5 86 41.68 -0.12 0.2 -1.11 -1.31
42 26.49 -2.46 -6.72 -3.42 9.09 88 41.77 -0.05 0.08 -1.05 -1.14
44 27.58 -2.34 -7.52 -3.32 10.26 90 41.81 0 0 -1 -1

Cuadro B.1: Coeficientes de amplitudes para un metamaterial

Juan Carlos Juárez Morales Inaoe 78

Índice de figuras

1.1. a) refracción positiva y b) refracción negativa. . . . . . . . . . . . . . . . . . 3

1.2. Esquema de una lente perfecta. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 4
1.3. Imagen de un dibujo en escala nanométrica usando un superlente de plata que
tiene una resolución más alla del limite de difracción óptico. . . . . . . . . . . 4

2.1. Problema extremal con fronteras fijas, donde A y B son puntos fijos. . . . . . . 14
2.2. Aproximación de una curva. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 14
2.3. Pendientes distintas. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 16
2.4. Condición de Transversalidad. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 18
2.5. Condición de tangencias sobre la curva. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 20

3.1. Un material compuesto. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 25

3.2. Refracción negativa. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 26
3.3. Angulo de incidencia y angulo refractado en un metamaterial. . . . . . . . . . 27
3.4. Medio homogeneo. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 28
~ es normal y paralelo al plano de incidencia. . . .
3.5. Onda incidente cuyo campo E 30
3.6. Los coeficientes de reflexión y trasmisión para la amplitud como función del
ángulo de incidencia. Estos corresponden a reflexión externa n2 > n1 en una
interfaz aire-vidrio (n2 = 1,5). . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 31
3.7. Onda incidente del campo E ~ en un metamaterial. . . . . . . . . . . . . . . . 32
3.8. Coeficientes de transmisión perpendicular como función del ángulo de incidencia. 34
3.9. Coeficientes de transmisión paralelo como función del ángulo de incidencia. . . 34
3.10. Coeficientes de reflexión perpendicular como función del ángulo de incidencia. . 35
3.11. Coeficientes de reflexión paralelo como función del ángulo de incidencia. . . . . 35

79
 ÍNDICE DE FIGURAS

3.12. Ángulo crítico. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 36

3.13. Ángulo crítico en un metamaterial. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 37

4.1. Relación de dispersión para dos tipos de onda. . . . . . . . . . . . . . . . . . 40

4.2. sistema de referencia y geometría considerada. . . . . . . . . . . . . . . . . . 43
4.3. Relación de dispersión para un plasmón superficial. . . . . . . . . . . . . . . 47
4.4. Geometría considerada para un sistema de tres medios. . . . . . . . . . . . . . 48
4.5. Relación de dispersión en películas delgadas. . . . . . . . . . . . . . . . . . 50
4.6. Ley de Snell para un Metamaterial. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 51
4.7. Difracción de una rejilla. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 53
4.8. Modelo de dos nano-partículas polarizadas sobre un soporte oscilante. . . . . . 56
4.9. Modelo de N nano-partículas polarizadas sobre un soporte oscilante. . . . . . . 59

5.1. Interferencia de dos fuentes. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 62

5.2. Esquema de un holograma de un punto. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 64
5.3. a) Fuente imaginaria, b) Punto real. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 67
5.4. Arreglo experimental de un holograma de punto. . . . . . . . . . . . . . . . . 68
5.5. Exitación de un plasmon superficial en una superficie rugosa. . . . . . . . . . . 69
5.6. Indice de refracción negativo. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 69

6.1. Esquema para generar cavidades resonantes aleatorias. . . . . . . . . . . . . . 72

A.1. Esquema de la ley de Snell para metamateriales. . . . . . . . . . . . . . . . . 74

Juan Carlos Juárez Morales Inaoe 80

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