NORMA CHILENA oFIclAL AUCH 44.0F78 INSTITUTO NACIONAL DE NORMALIZACION e INN-CHILE Inspeccién por atributos - Tablas y procedimientos de muestreo Inspection by attributes ~ Tables and sampling procedures PRIMERA EDICON : 1978, Descriptores:_control de calidad, inspecci6n por atributos, muestreo. ‘COU 658.582:65.012,7. 1 Pronibice roproduccisn y venta «\ = PREAMBULO El Instituto Nacional de Normalizacién, INN, es el organismo que tiene a su cargo el estudio y preparacién de las normas técnicas a nivel nacional. Es miembro de la INTERNATIONAL ORGANIZATION FOR STANDARDIZATION (ISO) y de la COMISION PANAMERICANA DE NORMAS TEC NICAS (COPANT), representando a Chile ante esos organismos. 7 La norma XCh44 ha sido preparada por la Div: Instituto Nacional de Normalizaci6n. ién de Normas del Esta norma es una traduccién y adopeién de la MILITARY STANDARD, SAMPLING PROCEDURES AND TABLES FOR INSPECTION BY ATRIBUTES, MIL - STD 10$ D y concuerda totalmente con la norma ISO 2659-1974. Esta norma anula y reemplaza a la norma NCh44,0£72 "Control de Ca \Saad, inspeecién por atributos. Tablas y procedimientos de mues- theo", declarada Oficial de la Repiblica de Chile por Decreto Ne 45’ ael Ministerio de Economia, Fomento y Reconstruccién, de fe cha 12 de Febrero de 1972. El anexo forma parte del cuerpo de la norma. Esta norma fue aprobada por el H. Consejo del Instituto Nacional Ge Normalizacién en sesién efectuada el 26 de agosto de 1977. Esta norma ha sido declarada Oficial de la RepGblica de Chile por Resolucién N° 107 de fecha 12 de Mayo de 1978 del Ministerio de Economia, Fomento y Reconstruccién.NORMA CHILENA OFICIAL Nch44-2978 es, INSPECCION POR ATRIBUTOS ~ TABLAS Y PROCEDIMIENTOS DE MUESTREO 1 ALCANCE Y CAMPO DE APLICACION 1.1 Objeto. Esta norma establece planes y procedimientos de muestreo para la inspeceién por atributos. Cuando se indique por la autoridad res ponsable, las especificaciones, contratos, instrucciones de ins- peceién o cualquier otro documento deben hacer referencia a 1a presente norma y las disposiciones que ella contiene deben ser respetadas. “La autoridad responsable" debe ser designada en cualquiera de los documentos antes mencionados. 1.2 Campo de aplicaci6n. Los planes de muestreo contenidos en esta norma son aplicables especialmente, entre otros, a 1a inspeccién de: a) productos terminados; b) componentes o materias primas; ©) operaciones (etapas de produccién); 4) materiales en proceso; e) abastecimientos en bodega; £) operaciones de mantencién; g) informaciones o registros; y h) procedimientos administrativos.NCh44-78 Estos planes se aplican, en primer lugar, a 1a inspeccién de se - ries continuas de lotes. También se pueden aplicar para la inspec cién de lotes aislados, pero en este caso, el usuario debe tomar la precaucién de consultar las curvas caracteristicas de operacién a fin de encontrar un plan que le proporcione la proteccién desea da. (Ver 11.6). 1.3 Inspecctén. Por inspeceién se entiende el conjunto de procedimientos de medi- cién, verificacién, ensayos, etc., que tienen por objeto "compa — rar"’un individuo (ver 1.5)'con las especificaciones. 1.4 Inspecci6n por atributos. La inspeccién por atributos es 1a inspeccién mediante la cual ca- da individuo es clasificado simplemente en defectuoso 0 no defec- tuoso, o se cuenta el nfimero de defectos por individuo, de acuer- do a una especificacién determinada o conjunto de especificacio - nes. 1,5 Individuo o unidad de producto. El término individuo © unidad de producto designa lo que, en la inspeccién, es objeto de una clasificacién en defectuoso 0 no de- fectuoso, o al que se le puede contar el nfimero de defectos. Pue- de ser un objeto Gnico, un par, un conjunto, una longitud, un 4rea, una operacién, un volumen, un componente de un producto ter, minado 0 el producto mismo terminado. El individuo puede ser 0 no, la unidad misma de compra, entrega, fabricacién o despacho. 2 CLASIFICACION DE DEFECTOS Y DEFECTUOSOS 2.1 Método de clasificacién de defectos. Una clasificacién de defectos es la enumeracién de los defectos posibles de un individuo, clasificados de acuerdo a su gravedad. Un defecto de un individuo es una falta de conformidad del indivi, duo con los requisitos especificados. Los defectos se agrupan generalmente en una o m4s de las catego - rias siguientes; no obstante, los defectos pueden ser agrupados en otras categorias o sub-categorias dentro de esas categorfas. 2.1.1 Deseeto crttico. Un defecto critico es un defecto que el buen juicio y la experien cia indican que puede dar por resultado condiciones peligrosas o riesgos de accidentes para los usuarios, personal de mantencién o a aquellos que dependan del individuo que lo presente o, un defec to que el buen juicio y 1a experiencia indican que puede impedirNch44-78 la realizacién de 1a funcién téctica de un producto final mas im- portante, tal como un barco, avién, equipo médico o-satélite de telecomunicaciones. NOTA - ver 6.3 para disposiciones especiales a tener en consi- deracién relacionadas con los defectos erfticos. 2.1.2 Degecto mayor, Un defecto mayor es un defecto, que sin ser critico, puede dar por resultado una falla, o reducir en forma importante la posibi- lidad de uso del individuc para los fines a que est4 destinado. 2.1.3 Degecto menor. Un defecto menor es un defecto que no reduce en forma apreciable la posibilidad de uso del individuo para el fin que esté destina do, © que interpretado en relacién con las normas establecidas, muestra una discordancia que no produce consecuencias apreciables en el uso o funcionamiento eficaz del individuo. 2.2 Método de clasificacién de defectuosos. Un defectuoso es un individuo que presenta uno o varios defectos. Los defectuosos se clasifican generalmente como sigue: 2.2.1 Desectuoso erttico. Un defectuoso eritico contiene uno o varios defectos eriticos; puede también contener defectos mayores y menores. NOTA - Ver 6.3 para disposiciones especiales a tener en consi- deracién con los defectuosos criticos. 2.2.2 Degectuoso mayor. Un_defectuoso mayor contiene uno o varios defectos mayores; tam - bién puede contener defectos menores, pero ningin defecto critico. 2.2.3 Defectuoso menor. Un defectuoso menor contiene uno o varios defectos menores, pero no contiene ningtn defecto critico o mayor. 3 PORCENTAJE DE DEFECTUOSOS Y NUMERO DE DEFECTOS POR CIEN UNIDADES 3.1 Expresién de no conformidad. E1 grado de no conformidad de un producto debe ser expresado ya sea en porcentaje de defectuosos o en nGmero de defectos por cien unidades. >Aili ‘ NCHUN-78 3.2 Porcentaje de defectuosos. El porcentaje de defectuosos de una cantidad dada de individuos, es igual a cien veces el nimero de individuos defectuosos conten os en dicha cantidad de individuos, dividido por el nimero total de individuos. Se expresa por: : nfmero de defectuosos porcentaje de defectuosos = aaaxo de individues inspeccionades* *°° 3.3 Nimero de defectos por cien unidades. El némero de defectos por cien unidades de una cantidad dada de in dividuos, es igual a cien veces el nimero de defectos presentes en @icha cantidad de individuos (un individuo puede tener uno © varios Gefectos), dividido por el nimero total de individuos. Se expresa por: némero de defectos a némero de defectos aao0 por cien unidades = pemero de individuos inspeccionados 4 NIVEL DE CALIDAD ACEPTABLE (AQL) 4.1 Uso. E1 AQL junto con la letra cédigo del tamafio de muestra, se usa pa- ra identificar los planes de muestra descritos en esta norma. 4.2 Definicién. El AQL es el porcentaje maximo de defectuosos (o e1 ntimero m4ximo de defectos por cien unidades) que, para los fines de inspeccién por muestreo, pilede ser considerado satisfactorio como promedio del proceso. ee 4,3 Significado de AQL. Cuando un consumidor establece un valor especifico de AQL para cierto defecto o grupo de defectos, est& indicando al proveedor que su plan de inspeccién por muestreo aceptaré la gran mayoria de {os lotes o partidas que el proveedor le entregue, siempre que el nivel medio del porcentaje de defectuosos (o defectos por cien uni @ades) en esos lotes o partidas no sea mayor al valor establecido de AQL. De este modo, e1 AQL es el valor establecido del porcenta— je de defectuosos (0 defectos por cien unidades) que el consumidor Indica que deberaén ser aceptados, en la mayoria de los casos, por el procedimiento de inspeccién empleado. Los planes de muestreo contenidos en esta norma se han estableci - do de tal manera que la probabilidad de aceptacién depende del ta-Nchu4-78 mafio de la muestra, para un AQL determinado; esta probabilidad es generalnente mayor para las muestras de tamafio mds grandes que pa- Ee"inc puestras de tamafo mie pequeno. El AQL por sf solo no deter mina la proteceién para el consumidor cuando ‘se trata de lotes ais lados, sino que indica m&s directamente 1o que se podria esperar de la inspeccién de una serie de lotes, siempre que las instruccio nes de la presente norma sean aplicadas. Para determinar la protec cién que obtendraé el consumidor es necesario consultar la curva ca. racteristica de operacién del plan correspondiente. 4.4 Limitacién. El establecimiento de un AQL no implica que el proveedor tenga de- recho a entregar, a sabiendas, unidades de producto defectuosas. 4.5 Especificaci6n de AQL. E1 AQL que se use debe ser establecido en los contratos o por la autoridad responsable. Se pueden establecer diferentes AQL para grupos de defectos considerados colectivamente, y para cada defec- to en particular. Se puede establecer un AQL para un grupo de de - fectos ademfs de los AQL para los defectos individuales, o para subgrupos de defectos comprendidos en ese grupo. Los valores de AQL menores o iguales a 10,0 pueden expresarse ya sea como porcen- taje de defectuosos o ntmero de defectos por cien unidades. Aque - los mayores a 10,0 se deben expresar solamente como defectos por cien unidades. 4.6 AQL preferidos. Los valores de AQL dados en las tablas se conocen como "valores preferidos" de AQL. Si para un producto cualquiera, se especifica un AQL de valor diferente a un valor preferido, las tablas no son aplicables. 8 PRESENTACION DEL PRODUCTO 5.1 Lote. El término "lote" significa "lote de inspeccién", es decir, un conjunto de individuos del cual se debe extraer una muestra e ins. peccionar para determinar su conformidad con los criterios de aceptacién; este conjunto puede ser diferente de un conjunto de unidades llamado lote para otros fines (por ej.: produccién, em - barque, etc.) 5.2 Formacién de lotes. El producto debe ser reunido en lotes o sublotes identificables, © de cualquier otra manera que pueda ser establecida (ver 5.4). Cada lote debe estar constituido, en lo posible, por individuos de un solo tipo, grado de calidad, clase, tamafio y composicién, fabricados esencialmente bajo las mismas condiciones y en el mis- mo perfodo de tiempo.NChY4~78 5.3 Tamafio del lote. El tamafio de un lote es el nfmero de individuos que comprende el lote. 5.4 Presentaci6n de lotes. La formacién de los lotes, su tamafio y la forma en que cada lote debe ser presentado e identificado por el proveedor, debe ser es- pecificado o aprobado por la autoridad responsable. Si es necesa- pio, el proveedor debe proporcionar un espacio adecuado y apropia do para el almacenamiento de cada lote, los medios necesarios pa- ra la identificacién y presentacién correcta de los lotes y el personal necesario para todas las manipulaciones necesarias para extraer las muestras. 6 ACEPTACION Y RECHAZO 6.1 Aceptabilidad de lotes. La aceptabilidad de un lote ser4 determinada por uno o varios planes de muestreo asociados a un AQL o varios AQL especificados. 6.2 Unidades defectuosas. Queda reservado el derecho a rechazar cualquier unidad de produe- to encontrada defectuosa durante la inspeccién, ya sea que esa unidad forme o no parte de la muestra o que el lote en conjunto sea aceptado o rechazado. Las unidades rechazadas pueden ser repa radas o corregidas para presentarlas a una nueva inspeccién con la-aprobacién de la autoridad responsable y en la forma especifi- cada por ella. 6.3 Excepcién especial para los defectos criticos. A criterio de la autoridad responsable, el proveedor puede ser re querido para que controle cada unidad del lote en relacién con dé fectos eriticos. La autoridad responsable se reserva el derecho @ inspeceionar, en relacién con defectos criticos, cada unidad pre- sentada por el proveedor y a rechazar el lote de inmediato, cuan- do se encuentre un defecto critico. Igualmente se reserva el dere cho de muestrear, en relaci6n con defectos criticos, cada lote presentado por el proveedor y rechazar cualquier lote en que una nuestra extraida de 61 presente uno o varios defectos critices. 6.4 Presentacién de lotes para reinspeccién. Les lotes rechazados se deben presentar para reinspeccién solamen ‘te después que todas las unidades han sido reexaminadas o reensa— yadas y que todas las unidades defectuosas han sido eliminadas o se han corregido ‘todos los defectos. La autoridad responsable de- be decidir si para la nueva inspeccién se usa inspeccién normal o inspecei6n rigurosa; también debe decidir si 1a nueva inspecciénNChuu-78 se aplicaré a toda clase o tipo de defectos o solamente al tipo o clase particular de defectos que caus6é el rechazo inicial. 7 EXTRACCION DE MUESTRAS 7.1 Muestra. Una muestra est& constituida por una o mAs unidades de producto extraidas de un lote; las unidades de la muestra son selecciona - das al azar sin tener en consideracién su calidad. E1 nfmero de unidades de producto en la muestra se denomina tamafio de la mues- tra. 7.2 Muestreo representativo. Cuando sea conveniente, el nfimero de unidades de la muestra debe ser seleccionado proporcionalmente al tamafio de sublotes o partes de un lote identificados de acuerdo a un criterio racional. Cuan- do se use un muestreo representativo, las unidades se deben ex - ‘traer al azar de cada parte del lote. 7.3 Cuando muestrear. Las muestras se pueden extraer después que se han reunido todos os individues que componen el lote, o bien se pueden extraer muestras durante la formacién del lote. 7.4 Muestreo doble o méltiple. En el caso que se use un muestreo doble o miltiple, cada muestra debe ser extraida del lote completo. 8 INSPECCION NORMAL, RIGUROSA Y REDUCIDA 8.1 Comienzo de la inspeccién. Se debe usar inspeceién normal al comienzo de la inspeceién, a menos que la autoridad responsable estipule otra cosa. 8.2 Continuacién de la inspeccién. La inspeccién normal, rigurosa o reducida de lotes sucesivos, de be continuar sin variaciones para cada clase de defectos o defec tuosos, excepto cuando se deba efectuar un cambio de procedimien to de acuerdo a lo que se especifica a continuacién. Los cambios de procedimiento se deben apliicar en forma independiente a cada clase de defectos o defectuosos.NCnas-78 8.3 Cambios de procedimientos. 8.3.4 Inspeccd6n normal a Aigurosa. Cuando esté vigente una inspeccién normal, se debe establecer la inspeceién rigurosa cuando 2 de cada § lotes consecutivos hayan sido rechazados en la inspeccién original (es decir, sin tener en consideracién los lotes sometidos a reinspeccién). 8.3.2 Inspecedén rigurosa a normal. cuando esté vigente la inspeccién rigurosa, se debe establecer {a inspeceién normal cuando 5 lotes consecutivos hayan sido con- siderados aceptables en la inspeccién original. 8.3.3 Inspecedén normal a reducdda. cuando esté vigente 1a inspeccién normal, se debe establecer 24 inspeecién reducida cuando se cumplan todas las condiciones si - guientes: a) los 10 lotes precedentes ( 0 mis de 10 segin se indica en Sa tabla 8 hayan estado cometidos a inspeccién normal y ningu no de ellos haya sido rechazado en la inspeccién original; b) el némero total de defectuosos (o de defectos) en las mues tras de los 10 lotes precedentes (o cualquier otro nfimero de lotes segin lo indicado para la condicién "a", anterior) es igual o menor que el namero aplicable indicado en la tabla 8. Si se usa un muestrec doble o mGitiple, se deben incluir no sélo la "primera muestra" sino que todas las muestras inspec- cionadass ©) la produecién tiene un ritmo constantes y a) la autoridad responsable estima deseable la inspeccién redu cida. 8.3.4 Inspeecién reducida a normal. Cuando est vigente 1a inspeceién reducida, se debe establecer 1a fnspeeedén normal cuando en la inspeccién original se presente cualquiera de las eventualidades siguientes: a) un lote es rechazado; 0 b) un lote es considerado aceptable segin lo indicado en 10.1.4;0 c) la produceién se hace irregular o lentas y 4) otras condiciones que justifiquen el retorno a la inspewién normal.we 4 NCh44-78 8.4 Suspensi6n de 1a inspeccién. En el caso que 10 lotes consecutivos (o cualquier otro némero es- tablecido por la autoridad responsable), sean objeto de. inspeccién vigurosa, la inspeccién efectuada bajo las disposiciones de este documento, debe ser suspendida a la espera de medidas destinadas a mejorar la calidad del producto que se presenta a inspeccién. 9 PLANES DE MUESTREO 9.1 Plan de muestreo. Un plan de muestreo indica el nGmero de unidades de producto que deben ser. inspeccionadas en cada lote (tamafio de muestra o serie de tamafios de muestras) y los criterios para determinar 1a acep - tabilidad del lote (nGmeros de aceptacién y de rechazo). 9.2 Nivel de inspecci6n, . ie El nivel de inspeceién determina la relacién entre el tamafio del-” lote y el tamafio de la muestra. El nivel de inspeceién que se : utiliza para cada requisito particular debe ser prescrito por la autoridad responsable. La tabla 1 da tres niveles de inspeccién: 1, 2, 3 para uso general. A menos que se indique lo contrario, se debe usar el nivel 2. Sin embargo, se puede especificar el nivel 1 cuando se necesite una discriminacién menor, o se puede especi- ficar el nivel 3 para una discriminacién mayor. En la misma tabla se establecen cuatro niveles adicionales especiales: S-1, S-2, S-3 y S-4 y pueden ser utilizados cuando sean necesarios tamafios de muestra relativamente pequefios y puedan o deban tolerarse ries gos elevados en el muestreo. NOTA - Cuando se establece un nivel de inspeccién de S-1 a s-4, es necesario precaverse del uso de un AQL compatible con esos niveles de inspeccién. 9.3 Letras-cédigo. El tamafio de la muestra es identificado por letras-cédigo. Se de- be usar la tabla 1 para encontrar la letra-cédigo aplicable a un tamafio particular de lote y a un nivel de inspeccién especificado. 9.4 Obtencién de un plan de muestreo. El AQL y la letra-cédigo se deben utilizar para encontrar los pla nes de muestreo en las tablas 2, 3.0 4. Cuando no se indica un plan de muestreo para una determinada combinacién de AQL y letra- cédigo, las tablas remiten al usuario a una letra-cédigo diferen- te. El'tamafio de la muestra a utilizar esté dado por la nueva le- tra-cédigo y no por la letra original. Si este procedimiento con- duce a tamafios de muestra diferentes para clases de defectos dife ventes, se puede usar la letra-c6digo correspondiente al tamafio de muestra ms grande para todas Tas clases de defectos, cuando la autoridad responsable lo especifique o apruebe. Como alternati va_a un plan de muestreo simple con un nGmero de aceptacién igual a0, se puede utilizar, si la autoridad responsable lo especifica aLs Nena NCh44-78 . © acepta, el plan con un nfmero de aceptacién igual a 1, con su correspondiente tamafio de muestra mayor para un AQL establecido (cuando existan). 9.5 Tipos de planes de muestreo. : Las tablas 2, 3 y 4 dan tres tipos de planes de muestreo: simple, doble y mi1tiple. Cuando existen varios tipos de planes para un AQL y una letra-cédigo dados, se puede usar cualquiera de ellos. La decisién sobre 4) tipo de plan, ya sea simple, doble o malti- ple, cuando existan para un AQL y letra-cédigo dados, se basar& generalmente en la comparacién de las dificultades administrati- vas y el tamafio medio de las muestras de los planes disponibles. El tamafio medio de las muestras de los planes mGltiples es menor que el de los planes dobles (excepto en el caso de un solo’nime- ro de aceptacién igual a 1) y ambos son siempre menores que el tamafio de un plan simple. Generalmente las dificultades adminis— trativas para un muestreo simple y el costo por unidad de mues - tra son menores que para un muestreo doble o méltiple. 10 DETERMINACION DE LA ACEPTABILIDAD 10.1 Inspecci6n por porcentaje de defectuosos. Para determinar la aceptabilidad de un lote bajo inspeccién por porcentaje de defectuosos, el plan de muestreo aplicable debe ser usado siguiendo las especificaciones de 10.1.1, 10.1.2, 10.4.3 y 10.7.4, 10.4.1 Plan de muestneo simple. El nGmero de unidades de muestra inspeccionado debe ser igual al tamafio de la'muestra dado por el plan. Si el némero de defectuo- sos encontrades en la muestra es igual o menor que el nfimero de aceptacién, el lote debe ser considerado como aceptable. Si el némero de defectuosos es igual o mayor que el nGmero de rechazo, el lote debe ser rechazado. 10.1.2 Plan de mueatneo dobe. El nGmero de unidades de muestra inspeccionado debe ser igual al tamafio de la primera muestra dado por el plan. Si el nGmero de defectuosos encontrado en la primera muestra es igual o menor que el primer nimero de aceptacién, el lote debe ser considerado como aceptable. Si el ndmero de defectuosos encontrado en la pri mera muestra es igual o mayor que el primer nfmero de rechazo, — el lote debe ser rechazado. Si el nfmero de defectuosos encontra do en la primera muestra esta comprendido entre el primer némero de aceptacién y el primer nfmero de rechazo, se debe inspeccio -~ nay una segunda muestra del tamafio dado por el plan. El ntmero de defectuosos encontrados en la primera y en la segunda muestra deben ser acunulados. Si el nfmero acumulado de defectuosos es 10ioe, Nehuy-7¢ igual o menor que el segundo nimero de aceptacién, el lote debe ser considerado como aceptable. Si el nfimero acumulado de defec tuosos es igual o mayor que el segundo nGmero de rechazo, el 10 te debe ser rechazado. 10.1.3 Plan de muestneo maLtiple. En el muestreo mGltiple, el procedimiento es similar al especi- ficado en 10.2.2, con 1a excepcién de que e1 niimero de muestras sucesivas necesarias para llegar a una decisién, puede ser ma - yor que dos. 10.1.4 Procediméento especial para inspeccion reducida En la inspeccién reducida, el procedimiento de muestreo puede terminarse sin haber encontrado un criterio de aceptacién o de xechazo. En este caso, el lote se consideraré como aceptable, pero la inspeceién normal ser& reestablecida a partir del préximo lote (ver 8.3.4.b). 10.2 Inspeccién por “defectos por cien unidades Para determinar la aceptabilidad de un lote mediante 1a inspec- cién de "defectos por cien unidades", se debe usar el procedi - miento especificado para la inspeccién de porcentaje de defec - tuosos antes indicado, con la excepcién de que se debe substi - tuir la palabra "defectuosos" por "defectos". 4 INFORMACION SUPLEMENTARIA 11.1 Curvas caracterfsticas de operacién (CO). Lag curvas caracteristicas de operacién, dadas en la tabla 10 (pagina 26), indican el porcentaje de lotes que puede esperar ~ se que sean aceptados por los diferentes planes de muestreo, pa ra una calidad dada del proceso. Las curvas dadas son para mues. treo simple; las curvas para muestreo doble y mGltiple se han aparejado en forma tan coincidente como es practicamente posi - ble. Las curvas CO indicadas para AQL mayores de 10,0 se basan en la distribucién de Poisson y son aplicables a la inspeccién de defectos por cien unidades. Las curvas para AQL iguales o me, nores que 10,0 y tamafios de muestra iguales o menores a 80 se basan en la distribucién binomial y son aplicables a 1a inspec- cién por porcentaje de defectuosos. Las curvas para AQL iguales © menores que 10,0 y tamafios de muestra mayores que 80 se basan en la distribucién de Poisson y son aplicables tanto a la ins - peccién de defectos por cien unidades como a la inspeccién por Porcentaje de defectuosos (en estas condiciones, la distribu, - eién de Poisson es una aproximacién adecuada a la distribucién binomial). Valores tabulados, correspondientes a valores selec- _ cionados de probabilidad de aceptacién (Pa, en porciento) se dan para cada una de las curvas indicadas y adem&s, para inspec eién rigurosa y por defectos por cien unidades para AQL iguales © menores a 10,0 y tamafio de muestra igual o menor a 80. a1Nchuu~78 11.2 Promedio del proceso. El promedio del proceso es el porcentaje promedio de defectuo — sos 0 el némero promedio de defectos por cien unidades (cualquie ra que sea aplicable) del producto presentado por el proveedor a la inepeceién original. La inspeceién original es 1a primera ins peccién de una determinada cantidad de producto, en oposicién, a Ja inspeceién del producto que se presenta nuevamente después de un rechazo previo. 11,3 Calidad media de salida (A0Q). La AOQ es la calidad promedio del producto de salida incluyendo todos los lotes aceptados, mds todos los lotes rechazados, des - pués que los lotes rechazados han sido inspeccionados efectiva - ente en un 100 por ciento y todos los defectuosos, reemplazados por no defectuosos. 11.4 Limite de la calidad media de satida (AOQL). El AOQL es el AOQ m4ximo para todas las calidades de entrada po- sibles para un plan de muestreo de aceptacién dado. En la tabla S-A se dan valores de AOQL para cada uno de los planes de mues - treo simple para inspeccién normal y en la tabla S-P para cada uno de los planes de muestreo simple para inspeceién rigurosa. 11.5 Curvas del tamafio medio de 1a muestra. En la tabla 9 se dan las curvas del tamafio medio de las muestras para muestreo doble y miltiple. Estas curvas muestran el tamafio edio de las muestras que se puede esperar que ocurran en los di ferentes planes de muestreo, para una calidad dada del proceso. Estas curvas suponen que no ha habido interrupcién de la inspec- cién y son aproximadas por el hecho de basarse en la distribu ¢ién de Poisson y que los tamafios de muestra para muestreo doble y miltiple, se admite que son 0,631 n y 0,25 n respectivamente, donde n es el equivalente al tamafio de muestra simple. 11.6 Calidad 1fmite de proteccié6n. Los planes de muestreo y los procedimientos correspondientes da- dos en esta norma fueron concebidos para usarse cuando las unida des de productos son producidas en series continuas de lotes du- rante un perfodo de tiempo. Sin embargo, si el lote es de natura leza aislada, es deseable limitar los planes de muestreo a aque- llos que, para un valor establecido de AQL proporcionen una cali dad 1imite de proteccién que no sea inferior a la especificada. Para este propésito se pueden seleccionar los planes de muestreo escogiendo una calidad limite (LQ) y un riesgo para el consumi — dor relacionado con ella. Las tablas 6 y 7 dan los valores de LQ para los riesgos del consumidor cominmente usados, es decir, 10 Por ciento y § por ciento respectivamente. Si se requiere un va- lor diferente de riesgo ‘del consumidor, se pueden usar las cur - vas CO y sus valores tabulados. El concepto de LQ puede también ser de utilidad para establece el AQL y los niveles de inspec. - 42