En la siguiente tabla se muestran el número de disconformidades observados en 26 muestras
sucesivas de 100 tarjetas de circuitos impresos construir la grafica de control C o defectos por m
Límite Límite Límite
Muestra Defectos
Inferior Central Superior
1 16 6.33 19.62 32.90
2 18 6.33 19.62 32.90
3 12 6.33 19.62 32.90
4 15 6.33 19.62 32.90
5 21 6.33 19.62 32.90
6 5 6.33 19.62 32.90
7 28 6.33 19.62 32.90
8 20 6.33 19.62 32.90
9 31 6.33 19.62 32.90
10 25 6.33 19.62 32.90
11 20 6.33 19.62 32.90
12 24 6.33 19.62 32.90
13 16 6.33 19.62 32.90
14 19 6.33 19.62 32.90
15 10 6.33 19.62 32.90 Grafica
16 17 6.33 19.62 32.90
17 13 6.33 19.62 32.90 45
18 22 6.33 19.62 32.90 40
19 18 6.33 19.62 32.90 35
30
20 39 6.33 19.62 32.90
25
21 30 6.33 19.62 32.90 20
22 24 6.33 19.62 32.90 15
23 16 6.33 19.62 32.90 10
24 19 6.33 19.62 32.90 5
25 17 6.33 19.62 32.90 0
1 2 3 4 5 6
26 15 6.33 19.62 32.90
510 Colum
observados en 26 muestras
de control C o defectos por muestra
Respuestas de la pregunta 1
S 4.43
LIC 6.33
LC 19.62
LSC 32.90
Grafica de control de las disconformidades de
circuitos impresos
45
40
35
30
25
20
15
10
5
0
1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12 13 14 15 16 17 18 19 20 21 22 23 24 25 26
Column C Column D Column E Column F
Se puede observar en la grafica que se encuentra fuera de control.