NORMA MEXICANA ANCE

NORMA CONDUCTORES - CABLES DE ENERGÍA CON

PANTALLA METÁLICA, AISLADOS CON POLIETILENO NMX-J-142/2-ANCE-2011
PARA USO EXCLUSIVO DE CFE-LAPEM
DE CADENA CRUZADA O A BASE DE ETILENO -
PROPILENO PARA TENSIONES DE 69 kV HASTA 115
kV - ESPECIFICACIONES Y MÉTODOS DE PRUEBA

WIRES AND CABLES - SHIELDED POWER CABLES, RATED 69 kV UP TO 115 kV,

CROSS - LINKED POLYETHYLENE OR ETHYLENE - PROPYLENE - RUBBER INSULATED -
SPECIFICATIONS AND TEST METHODS

La presente norma fue emitida por la Asociación de Normalización y Certificación, A. C., "ANCE" y
aprobada por el Comité de Normalización de la ANCE, "CONANCE", y por el Presidente del Consejo
Directivo de ANCE.

La entrada en vigor de esta norma será 60 días naturales después de la publicación de su declaratoria
de vigencia en el Diario Oficial de la Federación.

Esta norma es de aplicación nacional.

Publicación de la Declaratoria de Vigencia

Cancela a la:
CONANCE en el Diario Oficial de la Federación:
NMX-J-142-ANCE-2000
07 de julio de 2011
PARA USO EXCLUSIVO DE CFE-LAPEM

Editores Técnicos:

Ing. Jaime Alfredo García Figueroa

Derechos Reservados 
Asociación de Normalización y Certificación, A. C.

Av. Lázaro Cárdenas No. 869

Fracc. 3, Col. Nueva Industrial Vallejo
C.P. 07700, Del. Gustavo A. Madero
México D.F.

JULIO 1999 / DICIEMBRE 2000 / MAYO 2011

_________________________________________________
 NMX-J-142/2-ANCE-2011
PARA USO EXCLUSIVO DE CFE-LAPEM
ESTRUCTURA DE CONANCE
PRESIDENTE SECRETARÍA
VICEPRESIDENTE TÉCNICA

VOCALIAS COMITÉS TÉCNICOS

SUBCOMITÉS

DIRECCIÓN GENERAL SC 14 LA
CT 14 TRANSFORMADORES
DE NORMAS GT´s TS, MP, TM, PC

SC 20 A Alta tensión
CÁMARA NACIONAL DE MANUFACTURAS SC 20 B Baja tensión
ELÉCTRICAS SC 20 D Conectadores
CT 20 CONDUCTORES
SC 20 E Accesorios para conductores eléctricos
aislados de energía
GT’s AM, CA
COMISIÓN FEDERAL
DE ELECTRICIDAD
CT 28 COORDINACIÓN DE AISLAMIENTO SC 28 A Coordinación de aislamiento
GT 28 B Técnicas de prueba en alta tensión
COMISIÓN FEDERAL DE ELECTRICIDAD
LAPEM
SC 32 A Alta tensión
CT 32 FUSIBLES SC 32 B Baja tensión

LUZ Y FUERZA DEL

CENTRO SC 34 A Lámparas
SC 34 B Portalámparas
CT 34 ILUMINACIÓN
SC 34 C Balastros
SC 34 D Luminarios
INSTITUTO DE INVESTIGACIONES
ELÉCTRICAS
SC 61 A Enseres mayores
CT 61 SEGURIDAD EN APARATOS SC 61 B Enseres menores
ELECTRODOMÉSTICOS Y SIMILARES SC 61 F Herramientas eléctricas portátiles
UNIVERSIDAD NACIONAL AUTÓNOMA GT 61 D Aire acondicionado
DE MÉXICO

CT 64 INSTALACIONES ELÉCTRICAS Y GT 64 A Abreviaturas, símbolos y vocabulario

PROTECCIÓN CONTRA CHOQUE GT 64 B Especificaciones y mediciones
INSTITUTO POLITÉCNICO ELÉCTRICO GT 64 C Protección contra choque eléctrico
NACIONAL

CT 77 COMPATIBILIDAD GT 77 A Fenómeno de baja frecuencia

ELECTROMAGNÉTICA GT 77 B Fenómeno de alta frecuencia
CONFEDERACIÓN DE CÁMARAS GT 77 D Radio interferencia
NACIONALES DE COMERCIO, SERVICIOS Y
TURISMO
SC CDI A Reglas generales
SC CDI B Arrancadores y contactores
SC CDI C Centros de control de motores
COMISIÓN NACIONAL PARA EL USO CT CONTROL Y DISTRIBUCIÓN SC CDI D Envolventes para equipo eléctrico
EFICIENTE DE LA ENERGÍA INDUSTRIAL (CDI) SC CDI E Desconectadores
SC CDI F Interruptores automáticos
SC CDI G Tableros de baja tensión
GT’s CMT, TMT, ET, TT
PROCURADURÍA FEDERAL
DEL CONSUMIDOR
GT PIE A Cajas registro
GT PIE B Áreas peligrosas
GT PIE C Tubos de acero
CÁMARA NACIONAL DE GT PIE C1 Tubos metálicos
COMERCIO GT PIE C2 Tubo no metálicos
GT PIE C3 Accesorios para tubos
SC PIE D Soporte tipo charola para cables
CT PRODUCTOS Y ACCESORIOS PARA
CÁMARA NACIONAL DE LA INDUSTRIA DE SC PIE E Interruptores de circuito por falla a tierra
INSTALACIONES ELÉCTRICAS (PIE)
TRANSFORMACIÓN SC PIE F Receptáculos y clavijas
SC PIE G Máquinas rotatorias
SC PIE H Pararrayos
SC PIE I Ductos y canaletas
FEDERACIÓN DE COLEGIOS DE INGENIEROS SC PIE J Extensiones
MECÁNICOS Y ELECTRICISTAS DE LA SC PIE K Artefactos eléctricos
REPÚBLICA MEXICANA GT MP Métodos de prueba

SC GTD B Sistemas de control de centrales

generadoras
COLEGIO DE INGENIEROS MECÁNICOS SC GTD E Capacitores
CT GENERACIÓN, TRANSMISIÓN Y
ELECTRICISTAS SC GTD F Cuchillas y Restauradores
DISTRIBUCIÓN (GTD)
SC GTD H Interruptores de potencia
GT GTD D Apartarrayos
GT GTD C Aisladores
ASOCIACIÓN NACIONAL DE FABRICANTES GT GTD G Controladores
DE APARATOS DOMÉSTICOS

GRUPOS DE TRABAJO
ASOCIACIÓN MEXICANA DE EMPRESAS DEL GT MS Máquinas para soldar
RAMO DE INSTALACIONES PARA LA GT EE Equipos electromédicos
CONSTRUCCIÓN GT EL Equipos para laboratorios
GT PB Pilas y baterías
GT EMS Sistemas de Gestión de Energía
GT ER Energías Renovables

i
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PREFACIO
PARA USO EXCLUSIVO DE CFE-LAPEM
Esta Norma Mexicana fue elaborada a través del Comité de Normalización de la Asociación de
Normalización y Certificación, A. C., CONANCE, comité integrado con base en los términos de la Ley
Federal sobre Metrología y Normalización para elaborar, aprobar y revisar Normas Mexicanas del sector
eléctrico, en el marco de los principios de representatividad, equilibrio y consenso.

De acuerdo con el procedimiento operativo del CONANCE, el consenso es el acuerdo general

caracterizado por la ausencia de oposición sustentada sobre aspectos relevantes por cualquier parte
afectada directamente, después de un proceso de análisis para considerar los puntos de vista de todas
las partes involucradas y de reconciliación de los argumentos en conflicto.

La presente Norma Mexicana fue desarrollada por el SC 20A – Conductores para Alta Tensión del
Comité Técnico 20 – Conductores, perteneciente a CONANCE, con base en un sistema de gestión,
principios, métodos y procedimientos. Durante el proceso de consenso se contó con aportaciones,
comentarios y sugerencias de las empresas e instituciones siguientes:

- CENTRO DE INVESTIGACIÓN Y DESARROLLO CARSO, CIDEC.

- COMISIÓN FEDERAL DE ELECTRICIDAD.

- CONDUCTORES MONTERREY.

- CONDUCTORES DEL NORTE INTERNACIONAL.

- CONDUMEX.

- DOW QUÍMICA MEXICANA.

- GENERAL CABLE DE MEXICO.

- INDUSTRIAS UNIDAS.

- LAPEM-CFE

- SISTEMA DE EVALUACIÓN DE LABORATORIOS RAMA ELÉCTRICA ELECTRÓNICA DE LA

EMA.

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 NMX-J-142/2-ANCE-2011

ÍNDICE DEL CONTENIDO

PARA USO EXCLUSIVO DE CFE-LAPEM
Página

1 OBJETIVO Y CAMPO DE APLICACIÓN ....................................................................... 1

2 REFERENCIAS ......................................................................................................... 1
3 ESPECIFICACIONES ................................................................................................. 3
3.2 Conductor .................................................................................................... 3
3.2.1 Construcción ................................................................................... 3
3.2.2 Protección contra la penetración longitudinal de agua en el conductor
(opcional) ..................................................................................................... 4
3.2.3 Resistencia eléctrica de los conductores a corriente directa .................... 4
3.3 Pantalla sobre el conductor ............................................................................. 4
3.3.1 Construcción ................................................................................... 4
3.3.2 Características físicas ....................................................................... 5
3.3.3 Continuidad de las capas semiconductoras extruidas ............................. 5
3.4 Aislamiento .................................................................................................. 5
3.4.1 Material .......................................................................................... 5
3.4.2 Espesor ........................................................................................... 6
3.4.4 Excentricidad ................................................................................... 7
3.4 Pantalla sobre el aislamiento ........................................................................... 8
3.4.1 Componente semiconductor ............................................................... 8
3.4.2 Componente metálico ..................................................................... 10
3.4.3 Protección contra penetración longitudinal de agua en la pantalla sobre el
aislamiento................................................................................................. 10
3.5 Cubiertas protectoras .................................................................................. 11
4 PRUEBAS ............................................................................................................. 12
4.1 Pruebas tipo ............................................................................................... 12
4.1.1 Pruebas cuando se cambie el aislamiento y/o capa semiconductora sobre el
conductor .................................................................................................. 13
4.1.2 Pruebas cuando se cambie la capa semiconductora sobre el aislamiento . 13
4.2 Pruebas de rutina ........................................................................................ 14
4.3 Pruebas de aceptación ................................................................................. 14
4.3.1 Para tramos completos deben efectuarse las siguientes pruebas ............ 14
4.4 Pruebas de tensión en campo ....................................................................... 15
5 MÉTODOS DE PRUEBA .......................................................................................... 15
5.1 Resistencia eléctrica del conductor a corriente directa ...................................... 15
5.2 Continuidad y resistencia eléctrica del componente metálico de la pantalla a
corriente directa .......................................................................................... 15
5.4 Factor de disipación .................................................................................... 16
5.6 Resistividad volumétrica ............................................................................... 16
5.7 Medición de espesores ................................................................................. 16
5.8 Tensión de Impulso a la ruptura en caliente ..................................................... 17
5.9 Envejecimiento cíclico .................................................................................. 17
5.10 Análisis dimensional .................................................................................... 18
5.11 Penetración longitudinal de agua en el conductor sellado y/o en la pantalla sobre el
aislamiento................................................................................................. 18
5.12 Prueba de Doblez ........................................................................................ 18
5.13 Doblez en frío ............................................................................................. 19
5.14 Estabilidad Estructural.................................................................................. 19

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5.15 Estabilidad dimensional ................................................................................ 19

PARA USO EXCLUSIVO DE CFE-LAPEM
5.16 Cavidades y contaminantes en el aislamiento e irregularidades en las pantallas
semiconductoras extruidas ........................................................................... 19
5.17 Alargamiento en caliente y deformación permanente ........................................ 20
6 MUESTREO .......................................................................................................... 20
6.1 Pruebas de aceptación al 100% .................................................................... 21
6.2 Pruebas de aceptación con otra frecuencia ..................................................... 21
6.3 Criterios de aceptación ................................................................................ 22
6.3.1 Pruebas de aceptación al 100 %....................................................... 23
6.3.2 Pruebas de aceptación con otra frecuencia ......................................... 23
7 MARCADO ........................................................................................................... 23
7.1 Identificación de los cables ........................................................................... 23
7.1.1 Cables con cubierta termoplástica ..................................................... 23
8 EMPAQUE ............................................................................................................ 24
9 BIBLIOGRAFÍA ...................................................................................................... 24
10 CONCORDANCIA CON NORMAS INTERNACIONALES ................................................ 24
APÉNDICE A (INFORMATIVO) RADIO DE CURVATURA MÍNIMO PARA LOS CABLES ...... 26
APÉNDICE B (INFORMATIVO) DEFINICIONES Y FIGURAS DE CAVIDADES,
PROTUBERANCIAS Y CIRCUNVOLUCIONES.............................................................. 27
APÉNDICE C (INFORMATIVO) PRUEBA DE TENSIÓN EN CAMPO (CORRIENTE ALTERNA) 29

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CONDUCTORES - CABLES DE ENERGÍA CON PANTALLA METÁLICA, AISLADOS CON

POLIETILENO DE CADENA CRUZADA O A BASE DE ETILENO - PROPILENO PARA TENSIONES
DE 69 kV HASTA 115 kV - ESPECIFICACIONES Y MÉTODOS DE PRUEBA

WIRES AND CABLES - SHIELDED POWER CABLES, RATED 69 kV UP TO 115 kV,

CROSS - LINKED POLYETHYLENE OR ETHYLENE - PROPYLENE - RUBBER INSULATED -
SPECIFICATIONS AND TEST METHODS

1 OBJETIVO Y CAMPO DE APLICACIÓN

Esta Norma Mexicana establece las especificaciones y métodos de prueba aplicables a los cables de
energía con aislamiento de polietileno de cadena cruzada (XLP) o a base de polímeros de etileno
propileno (EP), para la transmisión y distribución de energía eléctrica, en tensiones de 69 kV hasta 115
kV entre fases, para uso en instalaciones subterráneas.

2 REFERENCIAS

Para la correcta utilización de esta norma es necesario consultar y aplicar las Normas Mexicanas
siguientes o las que las sustituyan:

NMX-J-012-ANCE-2008 Conductores - Cable de cobre con cableado concéntrico para usos

eléctricos - Especificaciones.

NMX-J-012/1-ANCE-2005 Conductores - Conductores de cobre y aluminio para cables aislados con

designación internacional - Especificaciones.

NMX-J-015-ANCE-2005 Cubiertas de plomo o sus ligas, aplicadas sobre el forro aislante de los
conductores eléctricos.

NMX-J-030-ANCE-2006 Conductores - Determinación de descargas parciales en cables de energía

de media y alta tensión - Método de prueba.

NMX-J-032-ANCE-2009 Productos eléctricos - Conductores - Cable de aluminio con cableado

concéntrico para usos eléctricos - Especificaciones.

NMX-J-036-ANCE-2001 Conductores - Alambre de cobre suave para usos eléctricos -

Especificaciones.

NMX-J-059-ANCE-2004 Conductores - Cable de cobre con cableado concéntrico compacto, para

usos eléctricos - Especificaciones.

NMX-J-062-ANCE-2004 Conductores - Cable de aluminio 1350 con cableado concéntrico

compacto para usos eléctricos - Especificaciones.

NMX-J-091-1982 Fragilidad en frío de materiales termoplásticos y termofijos - Método de

prueba.

NMX-J-150-1-ANCE-2008 Coordinación de aislamiento Parte 1: Definiciones, principios y reglas.

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NMX-J-177-ANCE-2007 Conductores - Determinación de espesores de pantallas semiconductoras,

aislamientos y cubiertas de conductores eléctricos - Método de prueba.

NMX-J-178-ANCE-2008 Conductores - Determinación del esfuerzo y alargamiento por tensión a la

ruptura de aislamientos, pantallas semiconductoras y cubiertas de
conductores eléctricos - Método de prueba.

NMX-J-180-ANCE-2000 Productos eléctricos - Conductores - Determinación de la estabilidad

dimensional de aislamientos de etileno propileno o polietileno de cadena
cruzada, para cables de energía de 69 kV a 115 kV - Método de prueba.

NMX-J-186-ANCE-2007 Conductores - Envejecimiento acelerado en horno a pantallas

semiconductoras, aislamientos y cubiertas protectoras de conductores
eléctricos - Método de prueba.

NMX-J-190-ANCE-2007 Conductores - Resistencia al choque térmico de aislamientos y cubiertas

protectoras de conductores eléctricos - Método de prueba.

NMX-J-193-ANCE-2008 Conductores - Doblez en frío de aislamientos y cubiertas protectoras no

metálicas de conductores eléctricos - Método de prueba.

NMX-J-194-ANCE-2009 Conductores - Envejecimiento acelerado en aceite para aislamientos y

cubiertas protectoras de conductores eléctricos - Método de prueba.

NMX-J-200-ANCE-2007 Conductores - Penetración longitudinal de agua en conductores sellados

para cables de energía de media y alta tensión - Métodos de prueba.

NMX-J-204-ANCE-2000 Productos eléctricos - Conductores - Determinación de la resistividad

volumétrica de los componentes semiconductores de las pantallas de los
cables de energía con aislamiento sólido - Método de prueba.

NMX-J-205-ANCE.2007 Conductores - Determinación del factor de disipación, factor de ionización,

en conductores eléctricos aislados - Métodos de prueba.

NMX-J-212-ANCE-2007 Conductores - Resistencia, resistividad y conductividad eléctricas - Método

de prueba.

NMX-J-292-ANCE-2005 Conductores - Cubiertas protectoras de materiales termoplásticos, para

conductores eléctricos - Especificaciones y métodos de prueba.

NMX-J-293-ANCE-2008 Conductores - Aguante del dieléctrico a la tensión eléctrica - Método de

prueba.

NMX-J-309-ANCE-2000 Productos eléctricos - Conductores - Tensión de impulso en cables de

energía aislados - Método de prueba.

NMX-J-426-ANCE-1999 Productos eléctricos - Conductores - Resistencia al agrietamiento de

materiales para cubiertas de polietileno en un medio ambiente controlado -
Método de prueba.

NMX-J-432-ANCE-2008 Conductores - Determinación del alargamiento en caliente y deformación

permanente, en aislamientos de etileno propileno y polietileno de cadena
cruzada - Método de prueba.

NMX-J-435-ANCE-2007 Conductores - Estabilidad estructural en cables de energía de 69 kV a

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PARA USO EXCLUSIVO DE CFE-LAPEM 3/29

138 kV con aislamiento sólido - Método de prueba.

NMX-J-439-ANCE-1999 Productos eléctricos - Conductores - Determinación de arborescencias

provocadas por agua en cables de energía con aislamiento extruído -
Método de prueba.

NMX-J-440-ANCE-2007 Conductores - Envejecimiento cíclico en cables de energía con aislamiento

extruido para tensiones de 5 kV a 138 kV - Método de prueba.

NMX-J-441-ANCE-2000 Productos eléctricos - Conductores - Determinación de cavidades,

contaminantes e irregularidades en cables de energía con aislamiento
extruído - Método de prueba.

NMX-J-442-ANCE-2000 Productos eléctricos - Conductores - Determinación de la estabilidad de la

resistividad volumétrica de los componentes semiconductores de las
pantallas de cables de energía con aislamiento extruído - Método de
prueba.

NMX-J-443-ANCE-2007 Conductores - Alta tensión larga duración para cables de energía con
aislamiento extruido - Método de prueba.

3 ESPECIFICACIONES

3.1 Generalidades

La construcción del cable debe ser tal que le permita operar en lugares mojados, húmedos o secos y a
una temperatura en el conductor que no sea mayor que:

a) 90 C en operación normal;
b) 130 C en condiciones de operación de emergencia; y
c) 250 C en condiciones de cortocircuito.

Lo anterior se determina con las especificaciones que se indican en la presente Norma Mexicana.

3.2 Conductor

3.2.1 Construcción

Los cables que se especifican en la presente Norma Mexicana pueden utilizar para su construcción
cualquiera de los tipos de conductores que se mencionan a continuación, los cuales deben cumplir con
la norma de producto correspondiente, salvo que el área de la sección transversal y la masa se
consideran como referencia de construcción y no es necesario determinarlas; es suficiente cumplir con
lo que se especifica en 3.2.3 para la resistencia eléctrica a la corriente directa.

a) Cable de cobre suave con cableado concéntrico, véase NMX-J-012-ANCE;

b) Conductores de cobre y aluminio para cables aislados con designación

internacional, véase NMX-J-012/1-ANCE;
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PARA USO EXCLUSIVO DE CFE-LAPEM 4/29

c) Cable de cobre suave con cableado concéntrico compacto, véase NMX-J-059-

ANCE;

d) Cable de aluminio duro con cableado concéntrico, véase NMX-J-032-ANCE;

e) Cable de aluminio duro con cableado concéntrico compacto, véase NMX-J-062-

ANCE.

3.2.2 Protección contra la penetración longitudinal de agua en el conductor (opcional)

Cuando se requiera evitar la penetración longitudinal de agua a través del conductor, debe utilizarse
elementos bloqueadores para sellar el conductor, véase 5.11.

NOTA – Algunos elementos bloqueadores son: polvo hinchable, hilos hinchables, pasta, entre otros.

3.2.3 Resistencia eléctrica de los conductores a corriente directa

La resistencia eléctrica a corriente directa, no debe ser mayor que el valor máximo que se especifica en
la norma respectiva, véase 3.2.1.

3.3 Pantalla sobre el conductor

3.3.1 Construcción

Los cables que se especifican esta norma deben llevar sobre el conductor una pantalla extruida formada
por una capa de material semiconductor negro termofijo, compatible con el aislamiento y el conductor.
La capa de material semiconductor debe tener características tales que le permitan operar en
condiciones de temperatura por lo menos iguales a las que se especifican en 3.1; y además, debe estar
adherida al aislamiento y debe poder separarse del conductor.

El espesor mínimo en cualquier punto no debe ser menor del que se especifica en la tabla 1 y debe
determinarse con NMX-J-177-ANCE.

TABLA 1.- Espesor de la pantalla semiconductora extruida sobre el conductor

Designación del conductor Espesor

Mínimo en cualquier punto
mm² kcmil
mm
Desde 253 hasta 507 Desde 500 hasta 1 000 0,51
Mayor que 507 hasta 760 Mayor que 1 000 hasta 1 500 0,61
Mayor que 760 Mayor que 1 500 0,76

Puede utilizarse una cinta semiconductora no higroscópica entre el conductor y la capa semiconductora
extruida. Cuando se use esta construcción, la capa extruida debe cumplir con los espesores que se
especifican en la tabla 1 y se determina con NMX-J-177-ANCE.
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3.3.2 Características físicas

El material de la capa semiconductora extruida debe tener las características físicas que se especifican
en la tabla 2, las cuales deben determinarse sobre una placa moldeada preparada con el material antes
de extruirse. De esa placa se cortan los especímenes necesarios para efectuar las pruebas, según el
método que se especifica en la tabla 2, según corresponda.

TABLA 2.- Propiedades del material semiconductor extruido sobre el conductor

Propiedades físicas Valor Método de prueba

Alargamiento por tensión a la ruptura después de envejecimiento NMX-J-178-ANCE
100
en horno a 121C ± 1C durante 168 h, mínimo en % NMX-J-186-ANCE
Temperatura de fragilidad en C, no más caliente que: -25 NMX-J-091

3.3.3 Continuidad de las capas semiconductoras extruidas

Las capas semiconductoras extruidas sobre el conductor y sobre el aislamiento deben mostrar
continuidad en todo el perímetro de cobertura, cuando se sometan a la prueba de extracción por
solventes que se especifica en NMX-J-522-ANCE, para lo cual se corta una rodaja transversal de
0,6 mm de espesor, conteniendo al aislamiento y las capas semiconductoras sobre el conductor y sobre
el aislamiento. Colocar la rodaja durante 5 h en el equipo que se especifica en NMX-J-522-ANCE, el
cual debe contener un litro de solvente en ebullición y 1 % en masa de antioxidante. Después de la
quinta hora, sacar la rodaja del solvente y examinar con una lente de por lo menos 15 aumentos para
observar la continuidad.

Se permite una pérdida parcial del material de la capa semiconductora expuesta al solvente, siempre y
cuando se tenga continuidad de la misma en los 360 de la superficie de la interfase con el aislamiento.

Se permite también la separación total entre la capa semiconductora y el aislamiento después de la

prueba.

3.3.4 Resistividad volumétrica

La resistividad volumétrica de la capa semiconductora extruida sobre el conductor no debe ser mayor
que 1 000 Ωm a temperaturas de operación de 90 °C y 130 °C ± 1 °C, y se determina con NMX-J-
204-ANCE.

3.4 Aislamiento

3.4.1 Material

El aislamiento debe consistir de un compuesto extruido, de polietileno de cadena cruzada (XLP), o a

base de etileno-propileno (EP), que cumplan con los requisitos que se especifican en esta norma.

El material del aislamiento debe soportar una temperatura de operación en el conductor de 90 C, en
condiciones de operación normal, 130 C en condiciones de emergencia, limitándose esta condición a
1 500 h acumulativas durante la vida del cable y no más de 100 h en doce meses consecutivos. Lo
anterior se determina con las pruebas que se especifican en esta norma.
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3.4.2 Espesor

El espesor del aislamiento debe ser el que se especifica en la tabla 3.

El espesor mínimo en cualquier punto no debe ser menor que 90 % del espesor nominal que se
especifica en la tabla 3.

La determinación del espesor del aislamiento se realiza con NMX-J-177-ANCE.

TABLA 3.- Espesor de aislamiento, tensiones de prueba y designaciones de conductor

Tensión Espesor del Tensión de prueba 1)

entre fases Designación del conductor aislamiento en c.a.
nominal nominal

kV mm² kcmil mm kV
69 Desde 253 hasta 1 010 500 a 2 000 16,50 100
115 Desde 380 y mayores 750 y mayores 20,30 160

1)
Las tensiones de prueba para cables se aplican durante 30 min. Alternativamente pueden aplicarse durante 15 min
las tensiones siguientes:

- 120 kV para la tensión nominal de 69 kV; y

- 200 kV para la tensión nominal de 115 kV.

NOTA - Cualquier construcción diferente de lo que se especifica en la tabla 3, puede estar sujeta a análisis debido a lo
siguiente:

a) Para propósitos de esta norma, la tensión nominal es un valor que define los requisitos de aislamiento del
cable.

b) En los cables que se utilizan sistemas trifásicos, la tensión nominal se expresa en función de la tensión
entre fases. En cables que se utilizan en otros sistemas, la tensión se expresa en términos que indiquen
claramente la tensión a través del aislamiento.

c) La tensión de operación entre fases puede exceder de la tensión nominal en 5 % durante la operación
continua del cable, o en 10 % en un período no mayor que 15 min.

3.4.3 Diámetro nominal sobre el aislamiento

El diámetro nominal sobre el aislamiento debe cumplir con el que se calcula, con una tolerancia de
± 0,75 mm, utilizando la fórmula siguiente:

En donde:

D1 Es el diámetro nominal sobre el aislamiento;

C Es el diámetro nominal del conductor;
A1 Es la adición de la cinta semiconductora, si se aplica;
Cs Es el espesor mínimo en un punto de la capa semiconductora sobre el conductor;
T Es el espesor nominal del aislamiento.

NOTA – La adición de la cinta puede llegar a ser hasta 4 veces el espesor de la cinta semiconductora.
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3.4.4 Excentricidad

La determinación de la excentricidad del aislamiento no debe ser mayor que 0,18; determinándose con
la fórmula siguiente:

e max - e min
ex =
e max
En donde:

ex Es la excentricidad;
emax Es el espesor de aislamiento máximo, en milímetros; y
emin Es el espesor de aislamiento mínimo, en milímetros.

3.3.5 Propiedades del aislamiento

3.3.5.1 Propiedades físicas

Las propiedades físicas del aislamiento deben cumplir con lo que se establece en la tabla 6.

TABLA 6.- Propiedades físicas del aislamiento

Valor que se especifica

Propiedad Método de prueba
XLP EP
Esfuerzo por tensión a la ruptura, valor mínimo en MPa 12,5 5,0
NMX-J-178-ANCE
Alargamiento por tensión a la ruptura, valor mínimo en % 250 250
Envejecimiento a 121 C ± 1 C durante 168 h
- Retención del esfuerzo por tensión y alargamiento, NMX-J-186-ANCE
valor mínimo en % de los valores sin envejecer 75 75
Alargamiento en caliente y deformación permanente a 150 C ± 2 C
- Alargamiento máximo en % 175 50
- Deformación permanente máxima en % 10 5 NMX-J-432-ANCE

3.3.5.2 Propiedades eléctricas

Las propiedades eléctricas de los aislamientos deben cumplir con lo que se establece en la tabla 7.
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TABLA 7.- Propiedades eléctricas de los aislamientos

(1)
Valor que se especifica
Propiedad Método de prueba
XLP EP
Permitividad relativa (constante dieléctrica) ““ a la tensión nominal de fase a
3,5 4,0
tierra, a 60 Hz y temperatura ambiente, valor máximo
NMX-J-205-ANCE
Factor de disipación a la tensión nominal de fase a tierra, a 60 Hz y
0,1 1,5
temperatura ambiente, valor máximo en %.
Absorción de humedad método eléctrico.

- Permitividad relativa (constante dieléctrica) después de 24 h

de inmersión en agua a 75C y se determina a 3 150 V/mm, 3,5 4,0
60 Hz.
NMX-J-040-ANCE
- Incremento en la capacitancia a 75C y se determina a
3 150 V/mm, 60 Hz, valor máximo en %:
3,0 3,5
de 1 a 14 días
1,5 1,5
de 7 a 14 días
Factor de ionización después de 14 días a 75 C, con tensiones de 1,0 1,0
3 150 V/mm y 1 575 V/mm a 60 Hz, valor máximo en % (2)
NMX-J-205-ANCE
Variación del factor de ionización de 1 a 14 días a 75 C, con tensiones de 0,5 0,5
3 150 V/mm y 1 575 V/mm a 60 Hz, valor máximo en % (2)
(1)
La tolerancia para las temperaturas de prueba es de ± 1C.
(2)
Solamente se requiere cumplir uno de los dos valores, no ambos.

3.4 Pantalla sobre el aislamiento

La pantalla sobre el aislamiento consta de dos componentes; un material semiconductor no metálico

que se aplica directamente sobre el aislamiento y un material metálico no magnético que se aplica
directamente sobre el material semiconductor.

3.4.1 Componente semiconductor

3.4.1.1 Capa semiconductora extruida

La capa semiconductora extruida debe ser de material termofijo.

La resistividad volumétrica de la capa semiconductora extruida sobre el aislamiento se determina con

NMX-J-204-ANCE. La resistividad no debe ser mayor que 500 m, que se mide a las temperaturas
siguientes: 90 C ± 1 C y 110 C ± 1 C.

El material de la capa semiconductora extruida, debe tener las características físicas que se especifican
en la tabla 8, las cuales deben determinarse sobre una placa moldeada preparada con el material antes
de extruirse. De esa placa se cortan los especímenes necesarios para efectuar las pruebas de acuerdo
con lo que se especifica en la tabla 8.
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TABLA 8.- Propiedades del material semiconductor extruido sobre el aislamiento

Propiedades físicas Valor Método de prueba

Alargamiento por tensión a la ruptura después de
NMX-J-178-ANCE
envejecimiento en horno a 121 C ± 1 C durante 168 h, 100
NMX-J-186-ANCE
mínimo en %
Temperatura de fragilidad en C, no más caliente que: -10 NMX-J-091

El espesor de la capa semiconductora extruida debe estar de acuerdo con las tablas 9 y 10 y debe
determinarse con NMX-J-177-ANCE. La penetración del marcado sobre la capa semiconductora
extruida, provocada por el componente metálico de la pantalla debe determinarse, lo cual puede hacerse
directamente o por diferencia de espesores y no debe ser mayor que lo que se especifica en la tabla 9.

TABLA 9.- Espesor de la capa semiconductora extruida sobre el aislamiento y penetración máxima,
cuando el componente metálico esté formado por alambres

Diámetro mínimo que se calcula sobre Espesor Penetración máxima

el aislamiento 1) mm
Mínimo en Máximo en
cualquier cualquier punto
mm punto 2) mm
Mayor que 40 hasta 50 1,40 2,60 0,50
Mayor que 50 1,40 2,90 0,50
1)
Para el cálculo del diámetro sobre el aislamiento, se consideran los espesores nominales que se
especifican en esta norma.
2)
El espesor mínimo en cualquier punto no es aplicable en zonas donde exista penetración
provocada por la pantalla metálica.

TABLA 10.- Espesor del componente semiconductor extruído sobre el aislamiento cuando el
componente metálico no esté formado por alambres

Diámetro mínimo que se calcula sobre el Espesor

aislamiento mm
Mínimo en cualquier Máximo en cualquier punto
mm punto

Mayor que 40 hasta 50 1,00 2,00

Mayor que 50 1,00 2,60
NOTA - Para el cálculo del diámetro sobre el aislamientose consideran los espesores nominales que se
especifican en esta norma.

3.4.1.2 Diámetro sobre capa semiconductora extruida

El diámetro sobre la capa semiconductora extrudía se determina agregando al diámetro sobre el

aislamiento, que se calcula con 3.4.3 de esta norma, el valor que se especifica en la tabla 11.
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TABLA 11.- Incrementos para determinar el diámetro sobre la capa semiconductora extruída

Incremento en diámetro, con y sin alambres en la pantalla

Diámetro mínimo que se calcula sobre el metálica
aislamiento
mm
Máximo
Mínimo Nominal
mm 69 kV hasta 115 kV
con sin con sin con sin
Mayor que 40 hasta 50 2,8 2,0 3,3 2,6 5,2 4,0
Mayor que 50 -- -- 2,8 2,0 3,3 2,6 5,8 5,2

3.4.2 Componente metálico

El componente metálico debe ser no magnético, eléctricamente continuo y estar en contacto con el
material semiconductor a lo largo de todo el cable.

Este componente puede consistir de alambres y/o cintas lisas aplicadas helicoidalmente, cintas
corrugadas o cubiertas metálicas aplicadas longitudinalmente, y se aplica de tal forma que el cable
pueda doblarse a su radio de curvatura mínimo (véase Apéndice A), sin afectar o interrumpir la
continuidad eléctrica del componente metálico.

Según la función de la pantalla sobre el aislamiento, el componente metálico puede diseñarse en

cualquiera de las formas que se especifican en 3.4.2.1 y 3.4.2.2.

3.4.2.1 Componente metálico para propósitos electrostáticos

Cuando el componente metálico está formado por una o dos cintas de cobre, cada cinta debe tener
cuando menos un espesor de 0,10 mm, determinándose con NMX-J-177-ANCE. En el caso de ser de
alambres de cobre, el área de sección transversal total del componente metálico debe ser al menos de
0,1 mm² por cada mm de diámetro que se calcula sobre el aislamiento. Si se utilizan otros metales la
pantalla debe tener una conductancia equivalente.

3.4.2.2 Componente metálico para conducción de corrientes de falla

Cuando el componente metálico sobre el aislamiento se destina para conducir corrientes de falla, debe
calcularse su capacidad de conducción de corriente de acuerdo con las características del sistema
eléctrico.

En caso de utilizar alambres, el paso de aplicación de los mismos no debe ser menor que 6 ni mayor que
10 veces el diámetro sobre los alambres del neutro

3.4.3 Protección contra penetración longitudinal de agua en la pantalla sobre el aislamiento

Cuando se requiera evitar la penetración longitudinal de agua a través de la pantalla sobre el

aislamiento, pueden emplearse elementos bloqueadores. Si se requiere una cinta bajo el componente
metálico, ésta debe ser semiconductora. El conjunto semiconductor debe cumplir con la resistividad que
se especifica en 3.4.1.1 y la penetración longitudinal de agua debe cumplir con 5.11.
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3.4.4 Liberación de gases del aislamiento

Antes de aplicar cualquier cubierta hermética, metálica o no metálica y antes de efectuar la prueba de
descargas parciales, se liberan los gases que se generan en el proceso de vulcanización.

3.5 Cubiertas protectoras

3.5.1 Cubiertas termoplásticas

La cubierta debe ser extruida y de aspecto uniforme, sin burbujas, grumos u otros defectos. La cubierta
debe colocarse de manera que quede ajustada, no obstante debe poder retirarse.

El espesor nominal de la cubierta no debe ser menor del que se especifica en la tabla 12 y el espesor
mínimo en cualquier punto no debe ser menor que 80 % del que se especifica en dicha tabla. Si se
emplea un separador entre el componente metálico y la cubierta, debe ser de un material no
higroscópico, excepto para el caso en que se requiera protección contra penetración de agua como se
especifica en 3.4.3. Los espesores deben determinarse con NMX-J-177-ANCE.

La cubierta puede ser de alguno de los materiales termoplásticos que se especifican en NMX-J-292-
ANCE y cumplir con los requisitos que se establecen en la misma norma.

TABLA 12.- Espesor mínimo en cualquier punto de la cubierta

Diámetro que se calcula bajo cubierta Espesor mínimo en

cualquier punto

mm mm
Mayor que 38,0 Hasta 64,0 2,50
Mayor que 64,0 3,20
NOTA - Para el cálculo del diámetro bajo cubierta, se consideran los
espesores que se especifican en esta norma.

3.5.2 Cubierta de plomo

Cuando se requiera, puede aplicarse una cubierta de plomo como protección adicional. Esta cubierta
puede tener la función de componente metálico de la pantalla y debe aplicarse directamente sobre el
componente semiconductor que se especifican en 3.4.1.

La cubierta debe ser de una aleación de plomo de acuerdo con NMX-J-015-ANCE. El espesor mínimo en
cualquier punto no debe ser menor que el que se especifica en la tabla 13, determinándose con NMX-J-
177-ANCE.
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TABLA 13.- Espesor mínimo en cualquier punto de la cubierta de plomo

Diámetro que se calcula bajo cubierta de plomo Espesor mínimo en cualquier punto
mm mm
Mayor que 38,0 hasta 50,0 2,20
Mayor que 50,0 Hasta 76,0 2,50
Mayor que 76,0 2,90
NOTA - Para el cálculo del diámetro bajo la cubierta de plomo se consideran los espesores que se
indican en esta norma.

3.5.2.1 Cubierta termoplástica sobre la cubierta de plomo

Sobre la cubierta de plomo, los cables deben llevar una cubierta exterior la cual puede ser de alguno de
los materiales plásticos que se especifican en NMX-J-292-ANCE y su espesor mínimo en cualquier
punto no debe ser menor que el que se especifica en la tabla 14. Los espesores deben determinarse con
NMX-J-177-ANCE.

TABLA 14.- Espesor mínimo en cualquier punto de la cubierta exterior termoplástica sobre la cubierta
de plomo

Diámetro que se calcula sobre la cubierta de Espesor mínimo de la cubierta

plomo termoplástica en cualquier punto
mm mm
Mayor que 38,0 Hasta 57,0 1,70
Mayor que 57,0 Hasta 76,0 1,90
76,0 y mayores 2,30
NOTA - Para el cálculo del diámetro sobre la cubierta de plomo, se consideran los
espesores que se especifican en esta norma.

4 PRUEBAS

4.1 Pruebas tipo

Son para comprobar que las características de funcionamiento de cada diseño básico de cable cumplan
con lo que se especifica en esta norma.

NOTA - Estas pruebas se realizan sobre un prototipo y posteriormente cuando se modifique alguno de sus
componentes, desde el diseño o en el proceso de fabricación del cable.

Las pruebas tipo son:

a) Medición de espesores (5.7);

b) Resistencia eléctrica del conductor a corriente directa (5.1);

c) Continuidad y resistencia eléctrica del componente metálico de la pantalla a

corriente directa (5.2);

d) Descargas parciales (5.3);

e) Resistividad volumétrica de las pantallas semiconductoras (5.6);

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f) Prueba de doblez (5.12).

g) Envejecimiento cíclico (5.9);

h) Tensión de impulso a la ruptura en caliente (5.8);

i) Tensión de aguante corriente alterna (5.5);

j) Factor de disipación (5.4);

k) Análisis dimensional (5.10);

ñ) Penetración longitudinal de agua (5.11).

4.1.1 Pruebas cuando se cambie el aislamiento y/o capa semiconductora sobre el conductor

Todas las pruebas que se indican en la tabla 15, deben realizarse cuando se cambie el material del
aislamiento y/o pantalla semiconductora del conductor.

4.1.2 Pruebas cuando se cambie la capa semiconductora sobre el aislamiento

Cuando sólo se cambie el material de la capa semiconductora sobre el aislamiento, deben realizarse las
pruebas que se especifican en la tabla 15.

TABLA 15.- Pruebas tipo en cables

Muestra
Prueba
Ref. 1 2 3 4 Observaciones
1 Medición de espesores 5.7
Resistencia eléctrica del
2 5.1
conductor a c.d.
Continuidad y resistencia
3 eléctrica del componente 5.2
metálico de la pantalla
4 Descargas parciales 5.3
5 Resistividad volumétrica 5.6
6 Prueba del doblez 5.12
7 Envejecimiento cíclico 5.9
8 Impulso a la ruptura en caliente 5.8
9 Tensión de aguante c.a. 5.5 Sin alcanzar el valor de ruptura.
10 Descargas parciales 5.3
11 Factor de disipación 5.4
12 Análisis dimensional 5.10
Sólo para diseños con barreras bloqueadoras
13 Penetración longitudinal de agua 5.11
en el conductor y/o pantalla metálica.
NOTA- Indica las pruebas que se realizan en cada muestra.

Indica las pruebas que se realizan a la longitud Indica las pruebas que se realizan a
completa del cable. muestras cortadas del cable.
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4.2 Pruebas de rutina

Las pruebas de rutina se realizan en fábrica durante o después de la producción, en lo cables y/o sus
componentes para propósitos de control de calidad, con objeto de comprobar que éstos cumplen con
las especificaciones que se especifican y que están de acuerdo con los prototipos.

Las pruebas de rutina son:

a) Temperatura de fragilidad (véase 3.3.2);

b) Doblez en frío (véase 5.13);

c) Estabilidad estructural (véase 5.14);

d) Estabilidad dimensional (véase 5.15);

e) Esfuerzo y alargamiento por tensión a la ruptura (véase 3.3.5.1);

f) Continuidad de las capas semiconductoras extruídas (véase 3.3.3);

g) Alargamiento en caliente y deformación permanente (véase 3.3.5.1);

h) Resistividad volumétrica de pantallas semiconductoras (véanse 3.3.4 y 3.4.1.1);

i) Factor de ionización (véase 3.3.5.2);

j) Envejecimiento en aceite de cubiertas (véase NMX-J-194-ANCE);

k) Choque térmico (véase NMX-J-190-ANCE); y

l) Agrietamiento en ambiente controlado de cubiertas, sólo polietilenos (véase NMX-

J-426-ANCE);

m) Cavidades y contaminantes en el aislamiento e irregularidades en las pantallas

semiconductoras extruidas (véase 5.16).

4.3 Pruebas de aceptación

Estas pruebas deben realizarse a todos los tramos y cada uno de los conductores terminados.

4.3.1 Para tramos completos deben efectuarse las siguientes pruebas

a) Dimensionales (véanse 3.3.1, 3.4.2, 3.4.3, 3.4.1, 3.4.2, 3.5.1 y 3.5.2);

b) Resistencia eléctrica del conductor a corriente directa (véase 5.1);

c) Continuidad y resistencia eléctrica del componente metálico a corriente directa

(véase 5.2);

d) Descargas parciales (véase 5.3); y

e) Tensión de aguante con corriente alterna (véase 5.5).

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4.4 Pruebas de tensión en campo

NOTA – Pueden realizarse pruebas de tensión en campo sólo con corriente alterna, durante y después de la instalación y antes de energizar
el cable.1) Puede consultarse el apéndice C para mayor información sobre los requisitos de la prueba.

5 MÉTODOS DE PRUEBA

5.1 Resistencia eléctrica del conductor a corriente directa

Esta prueba debe realizarse a todos los tramos de cable terminado y debe cumplir con lo que se
especifica en 3.2.3 cuando se pruebe de acuerdo con NMX-J-212-ANCE.

5.2 Continuidad y resistencia eléctrica del componente metálico de la pantalla a corriente

directa

Esta prueba debe realizarse a todos los tramos de cable terminado siguiendo el método de NMX-J-212-
ANCE y los valores que se obtienen se registran únicamente para información.

Se considera que el componente metálico tiene continuidad eléctrica, si su valor de resistencia eléctrica
corresponde al de diseño.

5.3 Descargas parciales

La prueba de descargas parciales debe realizarse después de la eliminación de los gases de

vulcanización del aislamiento y antes de efectuar cualquier prueba de corriente alterna, excepto la
requerida durante el proceso con duración máxima de 5 s en tramos de cable terminado, siguiendo el
método establecido en NMX-J-030-ANCE.

Los valores máximos en pC no deben ser mayores que los valores que se especifican en la tabla 16.

TABLA 16.- Prueba de descargas parciales.

Tensión del cable de fase a

Tensión del cable
tierra en (Vg)
nominal Tensión de prueba Vt correspondiente a Vt/Vg
kV
kV
I.- Relación Vt/Vg 1,0 1,5 2,0 2,5
69 39,8 40 60 80 100
115 66,4 65 100 135 160
Nivel de descarga parcial máximo permisible en pC 5 5 5 10

Para esta prueba deben emplearse el equipo de prueba y los métodos de ajuste que se especifican en
NMX-J-030-ANCE.

1)
La Norma Internacional IEC 60840, establece la prueba de tensión en campo para cables de energía que operan en tensiones de
69 kV a 161 kV. El Comité Técnico 20 de la ANCE se encuentra revisando la Norma Internacional citada, con objeto de adoptar y
adaptar la metodología de la Norma Internacional dentro del alcance de esta Norma Mexicana.
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La prueba se inicia aplicando la tensión entre el conductor y los componentes metálicos de la pantalla
sobre el aislamiento de los conductores individuales bajo prueba.

La tensión debe incrementarse uniformemente hasta la tensión máxima de prueba que se especifica en
la tabla 3 y/o en la tabla 16 y debe mantenerse durante 10 s, posteriormente debe disminuirse a razón
de no más de 2 000 V/s para efectuar la medición del nivel de descargas parciales.

La tensión no debe mantenerse por más de tres minutos durante toda la prueba y en cada etapa de
prueba debe efectuarse la medición de descargas parciales en pC.

La magnitud de las descargas puede obtenerse ya sea a través de la pantalla de un tubo de rayos
catódicos, un medidor de transferencia de carga o un graficador X-Y. Sin embargo, el nivel de descarga
correspondiente a cada etapa de tensión de prueba debe poderse leer a partir de una gráfica X-Y.

Los cables deben probarse en seco con la pantalla o cubierta metálica conectada a tierra en ambos
extremos.

El cable bajo prueba debe prepararse con terminales adecuadas de tal forma que no se detecten
descargas parciales dentro de las terminales del cable en todas las etapas de las tensiones requeridas
para esta prueba.

5.4 Factor de disipación

La prueba del factor de disipación o tangente delta debe realizarse a temperatura ambiente y a la
tensión a tierra del cable de acuerdo con NMX-J-205-ANCE.

5.5 Tensión de aguante con corriente alterna

Esta prueba se aplica a muestras previamente acondicionadas en la prueba de doblez (5.12) y la prueba
de envejecimiento cíclico (5.9), debe realizarse a temperatura ambiente con una tensión de aguante con
corriente alterna de 2,5 Vg durante 2 h con frecuencia de 49 Hz a 61 Hz de acuerdo con NMX-J-293-
ANCE.

5.6 Resistividad volumétrica

La resistividad volumétrica de las pantallas semiconductoras extruidas sobre el conductor y el

aislamiento deben cumplir con lo que se especifica en 3.4.1.1

5.7 Medición de espesores

La determinación del espesor del aislamiento debe realizarse como se especifica en 3.4.2.
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5.8 Tensión de Impulso a la ruptura en caliente

La prueba de tensión de impulso a la ruptura en caliente debe realizarse siguiendo el método que se
especifica en NMX-J-309-ANCE.

Las muestras deben acondicionarse previamente con envejecimiento cíclico, siguiendo el método de
acondicionamiento que se especifica en NMX-J-440-ANCE.

La temperatura del conductor debe ser 130 C; el calentamiento debe obtenerse haciendo circular
corriente en el conductor, el cual se coloca dentro de un tubo de polietileno o de PVC con un diámetro
que permita un claro mínimo de 50 mm entre la superficie interna del tubo y el cable, y una longitud
mínima de 4,5 m. Los extremos deben estar sellados para prevenir la circulación de aire dentro del tubo.

Deben aplicarse diez impulsos de cada polaridad con la tensión de aguante de impulso por rayo.
Posteriormente debe incrementarse la tensión en etapas de 25 % de la tensión de aguante de impulso
por rayo, aplicando en cada una tres impulsos de polaridad negativa, hasta llegar a la falla de la muestra
cuidar que las puntas esten preparadas para asegurar que la falla ocurra en la longitud activa.

Los valores de tensión de aguante de impulso en caliente por rayo y a la ruptura en caliente son los que
se especifican en la tabla 17.

TABLA 17.- Tensión de aguante al impulso en caliente por rayo

Tensión nominal del cable Tensión de aguante de impulso en Tensión mínima de impulso en caliente
caliente por rayo por rayo a la ruptura
kV kV kV
69 350 440
115 550 690
NOTA – Los valores toman como base la NMX-J-150/1-ANCE

5.9 Envejecimiento cíclico

Esta prueba debe efectuarse sobre muestras de cable de acuerdo al método que se especifica en NMX-
J-440.

El acondicionamiento debe cubrir las etapas siguientes:

Después de realizar la prueba de doblez, debe envejecerse una longitud suficiente para
efectuar las pruebas que se especifican en la tabla 15. El cable debe someterse a 20 ciclos
térmicos de envejecido. Los ciclos térmicos deben ser como sigue:

a) Aplicar calentamiento haciendo circular corriente en el conductor durante 8 h

como mínimo;

b) Mantener una temperatura de 130 C en el conductor, por lo menos las dos

últimas horas del período de calentamiento;

c) Al período de calentamiento debe seguir uno de enfriamiento no menor de 16 h a

temperatura ambiente;

d) Durante los ciclos de calentamiento, las muestras deben energizarse a una tensión
de dos veces la tensión nominal a tierra.
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Después de haber terminado la prueba de envejecido cíclico, debe someterse una muestra a la prueba
de impulso en caliente y la otra a la de tensión de aguante en corriente alterna.

5.10 Análisis dimensional

Al finalizar las pruebas a prototipo debe realizarse un análisis dimensional en una muestra de 30 cm de
longitud cortada de la parte central del cable envejecido, haciendo la comparación con una muestra de
cable sin envejecer.

5.11 Penetración longitudinal de agua en el conductor sellado y/o en la pantalla sobre el

aislamiento

Esta prueba debe efectuarse sobre dos especímenes que se toman de una muestra de 5 m de cable
terminado.
Los especímenes deben preacondicionarse durante una hora a 130 C uno y a 0 C el otro.

La prueba debe efectuarse como se especifica en el método 1 de NMX-J-200-ANCE y después de 1 h

bajo presión de 0,034 MPa ± 0,002 MPa. El extremo libre no debe presentar fugas de agua coloreada
en el conductor y/o en la pantalla sobre el aislamiento según sea el caso.

TABLA 18.- Gradiente de temperatura entre conductor y superficie externa del cable.

Area de la Sección Espesor de Temperatura Gradiente máximo de Area de las

nominal del aislamiento de emergencia temperatura entre el secciones
Tensión
conductor conductor y la superficie nominales
calificada
exterior del cable
mm² mm °C °C mm²
253,4 o mayores 16,50 o mayor Todas 130 40 Todas

5.12 Prueba de Doblez

La muestra de cable debe doblarse alrededor de un mandril, una vuelta completa (360). El cable se
endereza y se repite el doblez en dirección opuesta. La prueba se realiza a temperatura ambiente y
consta de 3 ciclos de doblez (3 dobleces en un sentido y 3 dobleces en sentido opuesto).

El diámetro del mandril debe ser:

a) 25 (d+D) + 5 % para cables con pantalla de cintas de cobre o aluminio, o con

cubierta de plomo;

b) 20 (d+D) + 5 % para todos los otros diseños.

En donde:

d es el diámetro del conductor en mm; y

D es el diámetro total del cable en mm
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5.13 Doblez en frío

Esta prueba debe efectuarse sobre muestras de cable terminado, tomando como base lo que se
especifica en NMX-J-292-ANCE y determinándose con NMX-J-193-ANCE.

5.14 Estabilidad Estructural

La prueba de estabilidad estructural que se especifica en NMX-J-435-ANCE, debe efectuarse sobre

muestras de cable terminado. Las muestras deben acondicionarse dentro de un tubo plástico con
extremos sellados, sin aplicar tensiones de prueba y a las temperaturas de conductor que se indican a
continuación:

a) Temperatura ambiente;
b) Por lo menos 6 h a 90 C ± 5 C;
c) Por lo menos 6 h a 130 C ± 5 C; y
d) Temperatura ambiente.

El calentamiento debe obtenerse haciendo circular corriente en el conductor.

Al final de cada etapa debe realizarse la medición de descargas parciales y debe cumplir con los valores
de prueba que se especifican en la tabla 16.

Debe efectuarse al finalizar cada etapa, la medición del factor de disipación a la tensión nominal a tierra
y no debe ser mayor que 0,1 % para el XLP sin cargas, 0,5 % para el XLP con cargas o aditivos (por
ejemplo, para hacerlo resistente a las arborescencias) y de 1,5 % para el EP, cuando se efectúa la
medición a temperatura ambiente y a 90C. Los valores que se obtienen a 130C son únicamente
informativos.

5.15 Estabilidad dimensional

Esta característica sólo se aplica a cables con aislamiento de XLP. La proyección axial del conductor
fuera del aislamiento determinada según el método que se especifica en NMX-J-180-ANCE no debe ser
mayor que 4,5 mm.

5.16 Cavidades y contaminantes en el aislamiento e irregularidades en las pantallas

semiconductoras extruidas

Las muestras se cortan en rodajas y se preparan para examinarlas como se describe en NMX-J-441-
ANCE. No deben encontrarse los siguientes defectos en el aislamiento o en los semiconductores
extruidos:

a) Cualquier cavidad mayor de 0,08 mm para cables con aislamiento de XLP y de

0,10 mm para cables con aislamiento de EP. Para cables con aislamiento de XLP
el número de cavidades mayores de 0,05 mm no debe ser mayor que dos por
centímetro cúbico de aislamiento;
 NMX-J-142/2-ANCE-2011
PARA USO EXCLUSIVO DE CFE-LAPEM 20/29

b) Cualquier contaminante (material opaco o de material no homogéneo) mayor de

0,13 mm en su dimensión más grande para XLP o de 0,25 mm en su dimensión
mayor para EP. Para cables con aislamiento de XLP el número de contaminantes
entre 0,05 mm y 0,13 mm no debe ser mayor que uno por centímetro cúbico de
aislamiento;

c) Para cables con aislamiento de XLP, ningún material translúcido mayor que
0,25 mm en su dimensión mayor;

d) Cualquier cavidad mayor que:

- 0,05 mm en la interfase entre pantalla semiconductora extruida sobre el

conductor y el aislamiento de XLP o EP;

- 0,05 mm en la interfase entre pantalla semiconductora extruida sobre

aislamiento y el aislamiento en su dimensión mayor.

e) Cualquier irregularidad o proyección mayor que:

- En la interfase semiconductor sobre conductor y aislamiento:

0,08 mm hacia el aislamiento;

0,08 mm hacia el semiconductor.

- En la interfase semiconductor sobre aislamiento y aislamiento:

0,13 mm hacia el aislamiento;

0,13 mm hacia el semiconductor.

Para mayor referencia véase el Apéndice B.

5.17 Alargamiento en caliente y deformación permanente

La prueba debe efectuarse sobre muestras de aislamiento de cable tomando como base lo que se
especifica en NMX-J-432-ANCE y debe cumplir con lo que se especifica en la tabla 6.

6 MUESTREO

Para determinar el cumplimiento de los cables cubiertos en esta norma, deben efectuarse las pruebas o
determinaciones de sus características como se indican en este capítulo.

Para este efecto, las diferentes pruebas o características a determinar se clasifican en los grupos
siguientes:

- Pruebas de aceptación al 100 %; y

- Pruebas de aceptación con otra frecuencia.

A un lado de las pruebas se indican los párrafos donde estas se mencionan.

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6.1 Pruebas de aceptación al 100%

Las siguientes pruebas deben efectuarse a todos los tramos y a cada uno de los conductores.

- Resistencia eléctrica del conductor a corriente directa véase 3.2.3 y 5.1

- Resistencia eléctrica del componente metálico (pantalla) con corriente

directa véase 5.2

- Tensión de aguante con corriente alterna véase 5.5

- Descargas parciales véase 5.3

6.2 Pruebas de aceptación con otra frecuencia

Las pruebas que se citan dentro de este capítulo deben efectuarse sobre muestras que se toman, según
sea el caso, de las materias primas, de los cables en elaboración o de cables terminados.

La frecuencia de realización de las pruebas debe realizarse como se especifica a continuación. Puede
requerirse un muestreo diferente.

En los lotes de corta magnitud, cuando se determine que en el muestreo no se requiera probar ninguna
muestra, deben presentarse evidencias de las pruebas de cables similares de corridas anteriores, aunque
sea de otro lote.

a) Dimensionales (espesores de aislamiento, componentes semiconductores y

cubiertas) diámetros sobre el aislamiento, componente semiconductor y cubierta
véanse 3.3.1, 3.4.2, 3.4.3
3.4.1, 3.5.1, 3.5.2
De 1 a 2 carretes: 100%.
De 3 a 19 carretes: 2 carretes.
20 carretes y más: 10%.

b) Las pruebas enlistadas a continuación deben efectuarse una vez para lotes con
longitudes de 1 km a 15 km y una vez por cada 15 km adicionales o fracción

1) Pruebas a la pantalla semiconductora sobre el conductor:

- Alargamiento después de envejecimiento, probado en placas de

materia prima véase 3.3.2

- Fragilidad en frío véase 3.3.2

2) Pruebas al aislamiento.

- Esfuerzo por tensión a la ruptura

- Alargamiento por tensión a la ruptura
- Envejecimiento
- Deformación por calor

Cada 15 km debe realizarse la prueba siguiente:

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Factor de disipación y constante dieléctrica (permitividad

relativa, ) véase 3.3.5.2

3) Pruebas al componente semiconductor sobre el aislamiento en placas de

materia prima véase 3.4.1.1

- Alargamiento después de envejecimiento

- Fragilidad en frío

4) Pruebas a las cubiertas termoplásticas véase 3.5.1

- Esfuerzo por tensión a la ruptura

- Alargamiento por tensión a la ruptura
- Envejecimiento
- Inmersión en aceite (excepto polietileno)
- Deformación por calor (sólo a los termoplásticos)
- Choque térmico (sólo al PVC)
- Agrietamiento en ambiente controlado (sólo al polietileno)
- Doblez en frío

c) Las pruebas que se citan a continuación deben realizarse tomando una muestra por
cada 15 km de cable:

- Resistividad volumétrica del componente semiconductor extruido sobre el

conductor véase 3.3.4

- Resistividad volumétrica del componente semiconductor extruido sobre el

aislamiento véase 3.4.1.1

d) Las pruebas que se citan a continuación deben realizarse sobre tres muestras
seleccionadas del inicio, de aproximadamente la mitad y del final de cada corrida
de extrusión.

- Continuidad de las capas semiconductoras extruidas véase 3.3.3

- Estabilidad dimensional véase 5.15

- Cavidades y contaminantes en el aislamiento e irregularidades en los

componentes semiconductores extrudíos véase 5.16

- Alargamiento en caliente y deformación permanente véase 3.3.5.1

n) La prueba de estabilidad estructural debe efectuarse en una muestra por cada lote
de 2 km véase 5.14

6.3 Criterios de aceptación

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6.3.1 Pruebas de aceptación al 100 %

Cada tramo debe cumplir con todas las pruebas que se citan en 6.1. Los tramos que no cumplan con
alguna de dichas pruebas deben rechazarse.

6.3.2 Pruebas de aceptación con otra frecuencia

a) En cualquiera de las pruebas citadas en el inciso (a) de 6.2, en caso de fallar

alguno de los especímenes, deben tomarse dos especímenes más de la misma
muestra. De fallar alguno de estos, se considera que la prueba no se cumple y por
lo tanto el lote debe rechazado;

b) En cualquiera de las pruebas que se citan en el inciso (b) de 6.2, en caso de falla,
debe repetirse la prueba correspondiente sobre los dos extremos de todos los
tramos de cable que forman el lote. En caso de que falle alguna de las dos
muestras, el tramo correspondiente debe rechazarse.

c) Para la prueba de estabilidad estructural (véase 5.14) en caso de falla puede

requerirse un muestreo adicional.

7 MARCADO

7.1 Identificación de los cables

7.1.1 Cables con cubierta termoplástica

La superficie exterior de la cubierta protectora de los cables debe estar marcada secuencialmente en
toda su longitud en forma legible y permanente, permitiéndose una distancia máxima sin marcar de
0,30 m. Si el marcado se hace en bajo relieve, la profundidad de la identificación debe ser tal que se
cumpla con los requisitos de espesor mínimo en cualquier punto de la cubierta. Deben marcarse como
mínimo los datos siguientes:1)

- Nombre o marca registrada del fabricante;

- Tipo de aislamiento (EP, XLP);

- Designación del conductor en mm² y entre paréntesis el calibre correspondiente en

kcmil (si existe);

- Material del conductor (Cu o Al);

- Identificar con una letra B, cuando el cable tenga una protección longitudinal
contra el ingreso de agua en el conductor, en el componente semiconductor o en
ambos;

- Tensión nominal en kV;

- Año de fabricación.
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8 EMPAQUE

Cada empaque debe marcarse como mínimo con los datos siguientes: 1)

- Nombre o marca registrada del fabricante;

- Tipo de producto;

- Longitud en metros;

- Designación del conductor en mm2 y entre paréntesis el calibre correspondiente en

kcmil (si existe);

- Tensión nominal en kV;

- Una flecha que indique el sentido de rotación del carrete y la expresión "rodar en
este sentido" y;

- La leyenda " Hecho en México " o la designación del país de origen.

9 BIBLIOGRAFÍA

AEIC CS9-06 (1st Edition) Specification for Extruded Insulation Power Cables and Their Accesories Rated
Above 46 kV through 345 kVac

ICEA S 108-720-2004 Standard for extruded insulation power cables rated above 46 through
345 kV.

IEC 60840 Power cables with extruded insulation and their accesories for rated
Ed. 3 (2004-04) voltages above 30 kV (Um = 36 kV) up to 150 kV (Um = 170 kV) – Test
Methods and requirements

1)
Para los símbolos de unidades, puede consultarse la NOM-008-SCFI. Sistema general de unidades de medida.
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10 CONCORDANCIA CON NORMAS INTERNACIONALES

Esta Norma Mexicana coincide con la Norma Internacional IEC 60840 – “Power cables with extruded
insulation and their accesories for rated voltages above 30 kV (Um = 36 kV) up to 150 kV (Um =
170 kV) – Test Methods and requirements”, edición 3 (2004-04) en lo que respecta en la
especificación de aislamiento XLP y difiere en lo siguiente:

a) La Norma Mexicana contempla tensiones de 69 kV hasta 115 kV, de acuerdo con

las tensiones nominales que se establecen en NMX-J-098-ANCE, lo que está en
función de los valores de tensión del sistema eléctrico nacional de acuerdo con lo
que señala el artículo 18 del RLSPEE; la norma internacional establece tensiones
de operación, espesores de aislamiento en el conductor y métodos y valores de
prueba que no son compatibles con la infraestructura de las instalaciones
eléctricas del país; por lo anterior, en esta Norma Mexicana se indican las
especificaciones que han comprobado ser garantía para la operación satisfactoria
de los cables de energía que se utilizan para la distribución de energía eléctrica en
México.

b) La designación de conductores que se especifican en esta Norma Mexicana toman

como base la Norma Oficial Mexicana de instalaciones eléctricas, NOM-001-SEDE-
2005, con el fin de que los conductores sean compatibles en las instalaciones
eléctricas donde se utilizan.

Con base en lo anterior esta Norma Mexicana es no equivalente1) (NEQ)2) con la Norma Internacional IEC
60840 – “Power cables with extruded insulation and their accesories for rated voltages above 30 kV
(Um = 36 kV) up to 150 kV (Um = 170 kV) – Test Methods and requirements”, edición 3 (2004-04).

1)
Concordancia con base en el artículo 28 fracción IV del Reglamento de la Ley Federal sobre Metrología y Normalización.
2)
Concordancia con base en la guía ISO/IEC 21-1 primera edición (2005), en donde NEQ significa no equivalente.
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APÉNDICE A
(Informativo)

RADIO DE CURVATURA MÍNIMO PARA LOS CABLES

A.1 OBJETIVO

Este apéndice contiene los valores recomendados para el radio de curvatura mínimo a los cuales los
cables pueden ser doblados para colocación permanente en la instalación. Estos límites no se aplican a
las curvas en conduits o ductos, poleas y otras superficies curvas alrededor de las cuales se jalan los
cables sometiéndolos a tensión, cuando se están instalando. En estos casos y también para los carretes
de empaque pueden requerirse radios de curvatura mayores que los indicados en este apéndice.

En todos los casos el radio de curvatura mínimo se refiere a la superficie interna del cable y no al eje
central del mismo.

A.2 CABLES CON PANTALLA

El radio de curvatura mínimo para todos los cables con pantallas metálicas (alambres y cintas) es de 20
veces el diámetro exterior del cable.

A.3 CABLES CON CUBIERTA DE PLOMO

El radio de curvatura mínimo para todos los cables con cubierta de plomo es de 18 veces el diámetro
exterior del cable.
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APÉNDICE B
(Informativo)

DEFINICIONES Y FIGURAS DE CAVIDADES, PROTUBERANCIAS

Y CIRCUNVOLUCIONES

B.1 cavidades: hosquedades o burbujas que pueden presentarse en el aislamiento o en los

semiconductores extruídos.

B.2 irregularidades: protuberancias o proyecciones que pueden presentarse en las áreas

cilíndricas de contacto entre el aislamiento y los semiconductores, ya sea del aislamiento
hacia los semiconductores o viceversa.

B.3 circunvolución: es la tendencia de la pantalla semiconductora sobre el conductor a seguir el

contorno de la superficie del conductor, dando una apariencia ondulada.

B.4 contaminante: contaminación o impureza, líquida o sólida de material diferente al del

aislamiento mismo, que puede presentarse en él, o en los semiconductores.

B.5 material traslucido: material aislante no homogéneo de apariencia traslúcida que puede
presentarse en el aislamiento, principalmente en el XLP.

FIGURA B1.- Procedimiento de medición para protuberancias y cavidades

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FIGURA B2.- Procedimiento de medición para circunvoluciones

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APÉNDICE C
(Informativo)

PRUEBA DE TENSIÓN EN CAMPO (corriente alterna)

C.1 PRUEBA EN CORRIENTE ALTERNA APLICADA AL AISLAMIENTO

El nivel de tensión y la duración para efectuar esta prueba sobre el sistema de cables terminado (cable y
sus accesorios) e instalado completamente, debe realizarse aplicando el potencial en corriente alterna
entre el conductor central y la pantalla metálica de cada cable, aplicando dicho potencial conforme a lo
que se especifica en la tabla C1.

NOTAS

1) Cuando el sistema de cables incluya empalmes con pantalla seccionada y que a su vez se incluyan
dispositivos para puesta a tierra, tales como: limitadores de voltaje “SVL´s”, apartarrayos, varistores,
descargadores, resistencias no lineales u otros, entonces estos elementos se desconectan, dando
continuidad a las pantallas metálicas en estos puntos de empalmes o ponerlas a tierra en un solo
paquete, antes de iniciar la prueba.

2) Si durante esta prueba se presentará una falla en algún punto del sistema de cables, se rehabilita el
desperfecto y se repite nuevamente la prueba hasta que esta sea completada satisfactoriamente.

3) Alternativamente para esta prueba, puede energizarse el sistema de cables después de instalado a la
tensión nominal V0 del sistema de que se trate, durante 24 horas sin carga.

4) Para aquellos sistemas de cables que ya hayan estado en uso, y en caso de requerirse efectuar esta
prueba, puede requerirse una menor duración y nivel de tensión en c.a. conforme a lo que se establece
en la tabla 1, considerando para ello la antigüedad de la instalación, el ambiente, el historial de fallas
así como el propósito que tendrá dicha prueba.

TABLA C1.- Tensiones que se aplican en corriente alterna al sistema de cables

1)
Tensión que se aplica
Tensión nominal del sistema de
en c.a., kV Duración, minutos
cables, kV
(valor eficaz, rcm)
69 72
85 93
60
115 128
138 132
1)
La forma de onda es sustancialmente sinusoidal, y la frecuencia está en el intervalo entre
20 Hz y 300 Hz, dependiendo de la capacitancia del sistema de cables bajo prueba.