INSTRUMENTACIÓN ELECTRÓNICA.

DEPARTAMENTO DE ELECTRÓNICA. UNIVERSIDAD DE ALCALÁ.

Fco. Javier Meca, José A. Jiménez, Enrique Santiso

1. En la figura se presenta el circuito de acondicionamiento de un NTC. Obtenga la incertidumbre máxima

en la medida expresada en ºC debida a los parámetros reales de los dispositivos, supuesto que se mide una
temperatura de 100ºC.
DATOS:
NTC: Resistencia térmica del NTC 100ºC/W,
1 1
B(  )
R (T )  R (To)·e , donde las temperaturas se expresan en Kelvin, R(298K)=1K±1% y B=3892.
T To

Tolerancia de las resistencias: T(R1)=T(R2)=±1%; Tensión de offset del AO: Vio(AO)=±1 mV; Corriente de
polarización del AO: Ib(AO)=±20 nA; Tolerancia de la corriente I: T(I)=±1%.
Solución:

R (100 º C )  R (373 K )  72.4

I 2mA dR (T ) B
  2 R (T )  2.03 / K
dT T  373 K T
+ dR (T )
SV  373 K  I ·  4.05mV / K
NTC
-
Vo dT 373 K
R2
Vio eq  Vio ( AO )  Ib( R   R  )  1mV
373 K
R1 5K
1K Vio eq
Inc. Vio   0.247 º C
SV  373 K

V  I ·T ( I )·R(373K )
T (I )
Inc. T ( I )    0.36C
SV   4.05mV / K
373 K

dVo dVo R2
Vo T ( R1),T ( R 2) R1  R 2 V (T ( R 2)  T ( R1))
Inc. T ( R1),T ( R 2 )   dR1 dR 2  R1  0.596º C
R2 R2 R2
SV  ·(1  ) SV  ·(1  ) SV  ·(1  )
R1 373 K R1 373 K R1 373 K
Máximo
2. En la figura se representa el circuito de acondicionamiento de un termopar tipo J que presenta un
coeficiente Seebeck de valor 51µV/ºC. VCC

DATOS: Vref=5V, Tolerancia de Vref: ±1%. Vref Ita

Ita=(273+ta)µA R2
Vio(AO)=±0.1mV, Ib(AO)=±1nA.
T(R1)=T(R2)=±0.5%. V R1
VCC
Fe
+ AI
T Vta V
ta
VCC
-

Co
-VCC Vo

a) Obtenga los valores de las resistencias para compensar la unión fría y conseguir tensión de salida nula
para T=0ºC.
R1 R1
V IN  V   V   Vta  Ita ( R 2 // R1)  Vref   FeCo (T  ta )  ( 273  ta )·10  6 ( R 2 // R1)  5
R1  R 2 R1  R 2
  FeCo ·ta  ta ·10  6 ( R 2 // R1)  0
R1
273·10  6 ( R 2 // R1)  5 0
R1  R 2
R 2  18 .31K, R1  51 1
b) Calcule la incertidumbre máxima por los parámetros característicos indicados, expresando los errores de
Offset en ºC y los de ganancia en ppm de la medida.

R1
VIN Vref ·T (Vref )
Inc. T (Vref ) 
T (Vref )
 R1  R 2  2.72º C
SVIN  FeCo
Vio eq Vio  Ib( R1 // R 2)
Inc. Vio , Ib    1.96º C
SVIN SVIN
dVIN dV
R1  IN R 2
Inc. T ( R1),T ( R 2 )  dR1 dR 2
SVIN
Con el objetivo de simplificar el análisis, atendiendo a los valores de R1 y R2, para el cálculo de la
incertidumbre podemos utilizar esta aproximación:
R1
V IN   FeCo (T  ta )  ( 273  ta )·10  6 R1  5
R2
dV IN dV R1 5·R1
R1  IN R 2 ( 273  ta )·10  6 R1·T ( R1)  5 T ( R1)  T ( R 2)
Inc. T ( R1),T ( R 2 )  dR1 dR 2  R2 R2 
SVIN SV IN
 1.36 º C  0.5·10  2 ta
3. Para la referencia de corriente de la figura, obtenga:
R1 Vz
DATOS:
+Vcc AO: CT(Vio)=±1μV/ºC, CMR=100dB, PSR=80dB.
- Vz: Vz=1.25V, CT(Vz)=±10ppm/ºC, rZ=10Ω.
+ R1=10KΩ, R2=1.25KΩ, CT(R2)=±15ppm/ºC.

R2
Ir RL

a) El coeficiente de temperatura de Ir expresado en ppm/ºC.

Vz Ir
Ir   1mA; CT ( Ir ) 
R2 Ir·T
CT (Vio)
CT ( Ir ) CT (Vio )   0.8 ppm /º C
Vz
CT ( Ir ) CT (Vz )  CT (Vz )  10 ppm /º C
dIr  Vz
R 2 2
R 2·CT ( R 2)·T
CT ( Ir ) CT ( R 2)  dR 2  R2  CT ( R 2)  15 ppm /º C
Ir·T Ir·T
b) La regulación de carga expresada en μA/KΩ.
Ir
RC ( Ir ) 
RL
Vio CMR·Ir
RL  V   VCM  Ir·RL  Vio  CMR·VCM  CMR·Ir·RL  Ir   RL
R2 R2
CMR·Ir
RC ( Ir ) CMR   0.008A / K
R2
2
 VR1 r ·Ir Vz r ·Ir
RL  VR1  Ir·RL  Iz   Vz  rZ ·Iz  Z RL  Ir   Z RL
R1 R1 R 2 R1·R 2
rZ ·Ir
RC ( Ir ) r   0.8A / K
Z
R1·R 2

c) La regulación de línea expresada en μA/V.

Ir
RL ( Ir ) 
Vcc
CMR Vio 1 CMR
Vcc  Vio  ( PSR  )Vcc  Ir   ( PSR  )Vcc
2 R2 R2 2
1 CMR
RL( Ir ) PSR ,CMR  ( PSR  )  0.088A / V
R2 2

4. En la figura se muestra el circuito de acondicionamiento de un Pt100 que se encuentra alejado del circuito
electrónico, representando las 3 resistencias Rh el equivalente de los cables que lo unen con el circuito.
REF200

DATOS:
Io1 Io2 Nominalmente: Io1=Io2=100μA
T(Io1)=T(Io2)=±0.5%
Pt100: T(Ro)=±0.1%, α=0.00385ºC-1.
+Vcc AI: GD=1+40K/RG, (resistencia RG en Ω, no
mostrada en la figura y de tolerancia
Rh
+
INA114 T(RG)=±0.2%).
Pt100 AI
-
Rh Vo
-Vcc
R1
Rh

a) Obtenga los valores nominales de R1 y de RG para que Vo=10·T (mV), donde T(ºC) es la temperatura del
RTD.
40 K 40 K
Vo  Io1( Rh  Ro(1  T )  Io2( R1  Rh)(1  )  IoRo(1  T )  R1(1  )  0.01·T (V )
RG RG
R1  Ro  100
RG  154.6

b) Obtenga la incertidumbre en la sensibilidad del circuito, expresada en %, como consecuencia de:

1. Tolerancias de las fuentes de corriente.

2. Tolerancia de Ro y de RG.

S S
 T ( Io1)  0.5%; 0
S T ( Io1) S T ( Io 2)
dGD  40 K
RG 2
RG
S S dRG RG 40 K
 T ( Ro)  0.1%;    T ( RG )  0.199%
S T ( Ro ) S T ( RG ) GD GD RG ·GD

3
c) Obtenga la incertidumbre de Offset, expresada en ºC, como consecuencia del desajuste entre las fuentes de
corriente, supuesto que Rh=2Ω y que (1-Io1/Io2)x100=±0.25%.
Io1
VeAI (T  0º C )  Io1( Rh  Ro)  Io2( R1  Rh)   Io2(1  )( Rh  R1)  25.5V
Io2
SVe  Io·Ro·  38.5V /º C
VeAI (T  0º C )
Incertidumbre Offset   0.66º C
SVe

5. Un sistema paso-bajo de primer orden presenta un ancho de banda a -3dB de 2MHz. Obtenga el
Slew-Rate mínimo para que su respuesta a un escalón en su entrada de amplitud 2V esté marcada
por pequeña señal, si su ganancia en tensión es de 5. Supuesto que se cumple la condición de
pequeña señal, obtenga el tiempo de establecimiento para un error del 0.2%.

Solución:
SR≥126V/µs. Test=0.5µs

6. Para el SAD multicanal de la figura, obtenga la frecuencia de muestreo máxima por canal
(supuesto muestreo secuencial de todos los canales) y la frecuencia máxima de las señales de
entrada sinusoidales para que el error máximo por Jitter de las muestras individuales no supere el
error por cuantificación en el peor de los casos de amplitud de dichas señales.

DATOS:
Multiplexor: TESTM=1µs, 8 canales. CH1
Amplificador: TESTA=5µs y G=10.
S/H: TADQ=2µs, TESTH=1µs, JTap=500ps (máximo), 8x1 AMP S/H ADC
ADC: Tc=10µs, n=16bits. G=10
16bits
CH8

Solución:
Frecuencia muestreo máxima=9.61Ks/s
Frecuencia de entrada máxima=4.86KHz.

7. A la entrada de un amplificador de instrumentación se aplica una señal diferencial de 10mV y

una tensión en modo común de 2VRMS y frecuencia 100Hz. La alimentación del amplificador
presenta un rizado de 100KHz y 50mVRMS. Si la ganancia diferencial es de 40dB, obtenga el valor
eficaz de la tensión de ruido a la salida producida tanto por la tensión en modo común como por el
rizado de la alimentación.

Solución:
Vo por Vcm: 20mVRMS
Vo por Vcc: 500mVRMS

4
8. En la figura se muestra el circuito de acondicionamiento de una célula de carga.

DATOS:
Sensibilidad célula de carga: Sc=0.1mV/(V·Kg)
Coeficiente de temperatura de Offset de la célula de carga: CT(Oc)=±1μV/(V·ºC).
XTR106: CT(Vio)=±0.25μV/ºC.
OPA2277: Suponga que el desajuste entre los CT(Vio) de los dos AO del circuito integrado es de
±0.04μV/ºC.

a) Determine la sensibilidad a la entrada del XTR106 expresada en mV/Kg.

VREF
VPUENTE  0.35 K  0.245V
3.4 K  0.35 K  3.4 K
Sc Aplicación  Sc A  Sc·VPUENTE  24.5V / Kg
20 K
SVIN  Sc A (1  )  1.2138mV / Kg
0.412 K

b) Calcule la incertidumbre de Offset, expresada en gramos/ºC, como consecuencia de los

parámetros indicados.
CT (Oc)  1V /(V ·ºC )
Incertidumbre CT (Oc )    10 gramos /º C
Sc 0.1mV /(V ·Kg )
CT (VioXTR )
Incertidumbre CT (Vio )   0.206 gramos /º C
XTR
SVIN
CT (VioOPA1 )  CT (VioOPA2 ) CT (VioOPA )
Incertidumbre CT (Vio    1.63gramos /º C
OPA )
Sc A Sc A

9. Para el SAD multicanal de la figura, obtenga:

a) La frecuencia de muestreo máxima por canal (supuesto muestreo secuencial de todos los
canales y que el tiempo de establecimiento del amplificador, TESTA, es despreciable).
b) El ancho de banda del amplificador para que su TESTA a entrada escalón (calculado para un
error máximo de ±2q) no limite la frecuencia de muestreo máxima antes calculada cuando
las señales de entrada cubren todo el SPAN del ADC.

5
DATOS:
Multiplexor: TESTM=2µs, 8 canales. CH1

S/H: TADQ=2µs, TESTH=1µs, Tap=200ns

8x1 AMP
ADC: Tc=12µs, n=14bits. G=10
S/H ADC

14bits
CH8

1
fs MX   8.33 Ks / s
N (T ADQ  T AP  T X )
T X  mayor TC  TESTH  T AP , TESTM  TESTA   12.8s

12.8s  TESTM  TESTA  TESTA  10.8s

TESTA
2 TESTA 1
2q  e 
   BW   132 KHz
2n 9 2

10. Para un sistema de medida con aislamiento galvánico tenemos los parámetros indicados.
Obtenga la tensión de aislamiento máxima del sistema y la corriente de fugas por la barrera de
aislamiento, cuando esta soporta una tensión de 230VAC con frecuencia 50Hz.
Datos:
Amplificador aislamiento: VISO1mx=2000V, RF1=1013Ω, CF1=2pF.
Convertidor DC/DC: VISO2mx=1500V, RF2=1012Ω, CF2=3pF.
A

VISO MAX  menor VISOAA MAX ,VISODC / DC MAX
  1500V

RF  RF 1 // RF 2  0.91·1012
CF  CF 1  CF 2  5 pF
DC/DC
230 230
IF    0.36 A
ZF 1
RF //
jwC F

11. El amplificador de instrumentación de la figura está sometido a una tensión en modo común
que debe rechazar. La señal llega al amplificador a través de un cable apantallado, con el fin de
reducir la captación de interferencias por campo eléctrico. Justifique cómo afecta el cable al CMR
del sistema, qué condiciones evitan el efecto del cable sobre el CMR y proponga un circuito que
permita reducir drásticamente el efecto del cable sobre el CMR si dichas condiciones no se
cumplen.
R1
+

AI
R2 -

Vcm

Solución: El circuito equivalente es el mostrado, donde C1 y C2 representan las capacidades entre los
conductores internos y la malla. Si la división de la tensión en modo común no es igual en las dos ramas,
se genera una tensión diferencial que es amplificada empeorando el CMR del sistema.

6
 R1

C1
-
+

VCM

Ve
Ref INA110E

C2
+

R2

 1 1 
 jwC1 jwC 2   1 1 
Ve  VCM   VCM   
R  1 R2  1  1  jwR1C1 1  jwR2 C2 
 1 jwC1 jwC 2 

Si: R1C1= R2C2, la tensión en modo común no genera tensión diferencial, por lo que el cable apantallado
no empeora el CMR del sistema. En las aplicaciones en las que esta condición no se puede asegurar con
la suficiente exactitud podemos utilizar diferentes circuitos para reducir el error. Una posibilidad se
muestra a continuación, el circuito asegura que la malla se encuentra a la tensión en modo común, por lo
que no circula corriente por las capacidades parásitas y no se genera tensión diferencial. La Vcm
necesaria, en algunos AI, es proporcionada por uno de sus terminales y, si no está disponible, la podemos
generar de diferentes maneras, según se muestra en las hojas características de los AI.
R1
+

AI
R2 -

Vcm

Vcm
+

12. Un sistema de adquisición de datos presenta una SNR de 78dB al adquirir una señal seno que
cubre todo su SPAN. Obtenga el número de bits efectivos de resolución.
Si el ADC del sistema es de 14bits, ¿Qué valor máximo se puede permitir en el Jitter de la señal de
muestreo para que el error introducido al digitalizar una señal seno de 10KHz no supere la mitad
del escalón de cuantificación?

Solución: Número de bits efectivos ENOB=12.66. JTap<0.97ns.

13. En el SAD multicanal de la figura, las señales de entrada presentan un ancho de banda de
20KHz y van a ser muestreadas a una frecuencia de 60Ks/s. Para poder cumplir las restricciones
temporales y de exactitud, es necesario que el tiempo de establecimiento del amplificador (AMP)
para un error máximo de ±2q no supere los 0.5μs. Obtenga el BW y SR mínimos del amplificador,
supuesto que trabaja en pequeña señal, para cumplir dicha restricción. NOTA: las señales a la salida
del amplificador pueden cubrir el SPAN del ADC.

CH1 El cambio de canal supone una entrada escalón al

amplificador. Entonces:
8x1 AMP S/H ADC  t EST
G=10 SPAN
16bits 2q  2  SPAN ·e 
 SPAN ·e t EST ·wC
CH8 2n

7
Sustituyendo valores, resulta: BWPS=3.31MHz. La expresión de variación a la salida de AMP, supuesto
una ganancia del S/H de la unidad, sigue la expresión:
t
dVo (t ) SPAN
Vo(t )  SPAN (1  e  )    SPAN ·2· ·BW PS  SR MIN
dt MAX 

14. Justifique cómo es la respuesta en frecuencia ideal del filtro de reconstrucción utilizado a la
salida de un convertidor D/A. ¿Cómo ayuda el sobremuestreo en la implementación del filtro?
Filtrado sinc por la
interpolación del DAC

Espectro deseado Imágenes indeseadas

f
fs/2 fs 2fs
Para obtener el espectro deseado, es necesario que el filtro de reconstrucción elimine las imágenes y
compense el filtrado que realiza la función sinc. El aspecto del filtro ideal y real de reconstrucción es el
siguiente:

El sobremuestreo, al alejar las imágenes en el

espectro, permite que para un mismo error en la
salida debido a las imágenes, la pendiente de caída
del filtro de reconstrucción sea menos abrupta. De
esta manera el orden del filtro puede ser inferior.

Filtro ideal Filtro real

15. Analice las diferencias entre los parámetros característicos de los sensores térmicos y fotónicos
utilizados en la medida de temperatura por infrarrojos, y justifique su uso recomendado en función
de si el método de medida es de banda ancha o estrecha.

Diferencias en transparencia de TEORÍA.

Banda ancha: se recomienda térmicos por ser mas baratos y necesitar menos subsistemas auxiliares.
Además, permiten capturar el margen ancho de λ requerido por el método, disponiendo, por lo tanto, de
suficiente potencia para compensar su baja sensibilidad y detectividad.

Banda estrecha: como la potencia captada es baja, son necesarios sensores de alta sensibilidad y
detectividad. Esto se consigue con los sensores fotónicos.

16. Un amplificador de ganancia 2 presenta una respuesta paso bajo con polo dominante con un
ancho de banda de 1MHz y un slew rate de 10V/µs. Si a su entrada se aplica un escalón de 3V,
determine el tiempo de establecimiento a la salida para un error inferior al 0.1%, comprobando si
la respuesta es en pequeña o gran señal.

Solución: TEST =1.1µs, supuesto pequeña señal. Entramos en limitación por SR cuando este es inferior a
37.7V/µs, por lo tanto la respuesta inicialmente es en gran señal, resultando en este caso TEST
=6V/10V/µs=0.6 µs. Atendiendo a las dos limitaciones: TEST ≈1.1µs.

8
17. El circuito de la figura se utiliza para medir la corriente I que circula por una línea. Atendiendo
a los datos proporcionados, calcule:

1. La sensibilidad a la salida expresada en V/A.

2. El error producido por el CMR del amplificador de instrumentación expresado en ppm de la
medida si es de ganancia o en pA si es de Offset.
3. La tensión de Offset máxima de entrada del AI, para que su error en la medida no supere 1mA.

DATOS:
I  Rsh=1Ω, RX=1KΩ.
 CMRAI=100dB, GAI=100.
+ AI
-

Rsh
Vo

Rx

1. Vo=I·Rsh·GAI=Sensibilidad·I=100(V/A)·I

I ·Rsh G R
VCM   I ·RX  Vo  VCM ·GCM  VCM · AI   I ( sh  RX )·10 3  I ·Sensibilidad
2 CMR 2
2. R
( sh  RX )·10 3
S
 2  0.01  104 ppm
S Rsh ·G AI

3. VIOmx=1mA·Rsh=1mV.

18. Un puente de Wheatstone está compuesto por 3 resistencias y un NTC. Determine el valor de las
resistencias para que cuando el NTC se encuentra a una temperatura de 350K, el puente esté
equilibrado y presente máxima sensibilidad. Obtenga la sensibilidad en la salida en esta situación
expresada en mV/K.
Vr
Vr 1 1
DATOS: B(  )
 Resistencia del NTC: RT  RTo ·e T To

R R
Vo . Con RTo=1K para To=300K y B=3000K
Rx NTC
 Vr=5V

1 1
3000 (  )
R350 K  10 3 ·e 350 300
 239.65
Equilibrado y máxima sensibilidad implica todas las resistencias iguales para T=350Kelvin:
R=Rx=239.65Ω.
Vr RT Vr dRT Vr B
Vo(T )   T   T  S ·(T  350 K )
4 RT 4·RT dT 4 T2
Vr B
S   30.6mV / K
4 T2

9
19. Para el SAD de la figura, obtenga la frecuencia de muestreo máxima de los canales de entrada en
muestreo secuencial que asegure un error por establecimiento a la salida del amplificador inferior a 0.01%.
DATOS:
CH1
Multiplexor: TESTM=1µs.
Amplificador: G=10, BW=1MHz marcado por polo
8x1 AMP
dominante. G=10
S/H ADC
S/H: TADQ=2µs, TESTH=1µs. 16bits
ADC: Tc=10µs, n=16bits. CH8

TESTA
 1
0.01%  10  4  e 
 e TESTA ·BW ·2·  TESTA  ln(10 4 )  1.47 s
2· ·BW
1
fs MAX  con : TX  mayorTc, TESTM  TESTA   10s
N (TADQ  TESTH  TX )
fs MAX  9.61Ks / s

20. En la figura se presenta el circuito de acondicionamiento de un termopar destinado a medir la

temperatura To. La tensión de salida del circuito debe seguir la expresión Vo=10·To (mV). Calcule
los valores de R2 y R3, y la incertidumbre en la medida en ºC si una vez ajustado el circuito la
temperatura de ambiente cambia 20ºC.

DATOS:
Tensión de salida del termopar: Vt=50·(To-Ta)µV.
8
To Ta Vt 5
Tensión a la salida del LM135: VLM=10·Ta mV.
Vo
6
+
7 Resistencia equivalente del termopar despreciable.
AO: CT(Vio)=±5µV/ºC, CT(Ib)=±1nA/ºC.
-

R1=1M 4
LM135
VLM R4=1M
R2 R3

R4 R2 R4 R2
Vo  (1  )(Vt  VLM )  (1  )(50·10  6 (To  Ta )  10  2 ·Ta· ))  10  2 ·To
R3 R1  R 2 R3 R1  R 2
Compensar unión fría:
R2 R1
50·10  6 Ta  10  2 ·Ta·   199  R 2  5.025 K
R1  R 2 R2
Con esta condición se obtiene:
R4 R4
Vo  (1  )·50·10  6 To  10  2 ·To   199  R3  5.025 K
R3 R3
Cálculo de incertidumbre por cambio de temperatura:
VIO EQU  Ta·(CT (Vio)  CT ( Ib)·((R1 // R 2)  ( R3 // R 4))  Ta·CT (Vio)  100V
VIO EQU
Incertidumbre   2º C
50V /º C

21. Supuesto un amplificador de instrumentación de 3AO’s en el que sus resistencias son ideales y
que está sometido a una tensión en modo común de 2V. Dibuje su esquema y calcule el error
máximo en la salida (mV) como consecuencia del CMR de los amplificadores operacionales.
DATOS: CMR(AO)=100dB. Ganancia diferencial de la primera etapa del AI=100. Ganancia diferencial
de la segunda etapa del AI=1.
Resultado:
Vo  Vcm(CMRAO1  CMRAO 2 )GAI  Vcm·CMRAO3
Error máximo: ±4.02mV.
10
22. Diseñe un circuito que proporcione una corriente de referencia de 1.5mA a partir de una
referencia de tensión de dos terminales y de valor 1.25V. Calcule el coeficiente de temperatura en
ppm/ºC de la corriente de referencia, supuesto que la referencia de tensión presenta un CT de
±50µV/ºC y el amplificador operacional utilizado presenta un CT(VIO) de ±2µV/ºC. Si la corriente
por el zener debe estar comprendida entre 1mA y 10mA, determine el rango de valores permitido
de la resistencia de carga si R1=1K. ¿Qué corriente máxima debe poder proporcionar el AO?
Vref
I ref   R  833
R
CT (Vref ) CT (VIO )
CT ( I ref )    40.03 ppm /º C (v.a.)
Vref Vref
I ref ·RL
IZ   0.666 K  RL  6.666 K
R1
I AO  I Z  I ref  11.5mA

23. El circuito de la figura mide la corriente consumida por una carga a partir de la tensión que dicha
corriente genera en una resistencia de precisión Rsh. Calcule la incertidumbre de offset en µA y de
sensibilidad en ppm de la medida, supuesta una posible variación de temperatura de ±20ºC.
DATOS:
Corriente a medir Ix: comprendida en el margen de 0 a 500mA.
Rsh=1 (nominal). Tolerancia ±0.5% y CT(Rsh) =±50ppm/ºC.
Amplificador Instrumentación: Vio=±0.5mV, CT(Vio)=±2µV/ºC, Ib=±10nA, Error ganancia=±0.1%

Ix
Rsh AI
G=10
Vo

Resultados:
Incertidumbres de sensibilidad: Incertidumbres de offset:
T ( Rsh)  0.5%  5000 ppm Vio AI  0.5mV  500A
CT ( Rsh)  50 ppm /º C  1000 ppm
CT (Vio) AI  2V /º C  40A
GAI
 0.1%  1000 ppm Ib AI  10nA  0.01A
GAI
24. En una transmisión flotante de una señal, se ha medido en el punto de recepción un ruido de
baja frecuencia y de valor 100mVpp, presentando la fuente de señal una resistencia de salida de
10Ω y el circuito receptor una resistencia de entrada de 10KΩ. Para determinar si el acoplo de
ruido es por campo eléctrico o magnético, se coloca en serie con el circuito de salida una resistencia
de 100Ω y se vuelve a medir el ruido en el punto de recepción, resultando un valor muy similar al
medido inicialmente. Justifique qué tipo de acoplamiento predomina en este ruido.

Solución: El acoplamiento que domina es por campo magnético, si fuese por campo eléctrico el ruido
medido al introducir la resistencia se hubiese multiplicado por 11. Para verlo poner los equivalentes de
acoplo de ruido de ambos modelos.

25. Para el sistema formado por los dos subsistemas indicados en la figura. Obtenga la
incertidumbre de offset en mV y de ganancia en ppm de la medida, producida por los parámetros
indicados.

11
 Ve
Subsistema 1 Vo1 Subsistema 2 Vo
Vo1=KP1·Ve+KO Vo=KP2·Vo1+KO2
1

Datos:
Subsistema 1: KP1=10, T(KP1)=±0.1%; KO1=1V, T(KO1)=±1mV.
Subsistema 2: KP2=2, T(KP2)=±0.2%; KO2=0V, T(KO2)=±0.2mV.

Resultado supuestas todas las aportaciones incorreladas: ±2236ppm de la medida y ±4.47mV a la salida.

26. Para la referencia de tensión de la figura, obtenga la incertidumbre en la tensión de salida

(expresada en ppm de Vo) generada por los parámetros reales de los componentes proporcionados.
R1

DATOS: R1=R2=R3=10K, T(R2)=T(R3)=±0.5%.

REF1
VREF1=2.5V, T(VREF1)=±1%, resistencia dinámica del zener
+
Vo
-
despreciable.
Vio(AO)=±0.5mV, Ib(AO)=±1nA.
R2

R3

Resultados:
T ( R 2)  0.5%  2500 ppm; T ( R3)  0.5%  2500 ppm; T (VREF1 )  1%  10000 ppm
Vio( AO)  0.5mV  200 ppm; Ib( AO)  1nA  2 ppm

27. Sobre una pieza se disponen dos galgas extensométricas, que siguen la siguientes relaciones de
variación de su resistencia: RG1=Ro(1+Kl·εl) y RG2=Ro(1-Kl·εl). Estas galgas se acondicionan
mediante un puente de resistencias (con dos resistencias adicionales de valor Ro) alimentado a 5V y
la tensión de salida del puente es leída mediante un amplificador de instrumentación de ganancia
100. Obtenga la incertidumbre en la medida (expresada en µε para los errores de offset y en ppm
de la medida para los de ganancia) como consecuencia de los diferentes parámetros de continua
proporcionados, supuesta una variación de la temperatura de la electrónica y de las galgas de
±20ºC.
DATOS:
Galgas: Ro=1K, CT(Ro)=+100±30ppm/ºC, Kl=2, CT(Kl)=±50ppm/ºC.
Amplificador: CT(Vio)=±0.1mV/ºC, CT(G)=±100ppm/ºC.
Resultados:
CT ( Ro)  100  30 ppm /º C  212 ; CT ( Kl )  50 ppm /º C  1000 ppm
CT (G )  100 ppm /º C  2000 ppm; CT (Vio)  0.1mV /º C  400

28. El circuito de la figura representa una referencia de tensión de bajo ruido. Calcule la regulación
de línea en ppm/V y el coeficiente de temperatura de Vo en ppm/ºC, como consecuencia de los
parámetros reales indicados.
Vcc
R1 R2
DATOS:
+ Vz=1.25V, CT(Vz)=±20ppm/ºC, rz=10Ω.
Vcc -
V R1=10K, R2=2K7, R3=10K, R4=3K3, C=10μF.
Vz
C
Vo
CT(R3)=CT(R4)=±10ppm/ºC.
AO: PSR=80dB, CMR=70dB,
R4
R3 CT(Vio)=±1μV/ºC.

12
Resultados:

CT (Vz )  20 ppm /º C  CT (Vo)  20 ppm /º C

CT ( R3)  10 ppm /º C  CT (Vo)  7.5 ppm /º C
CT ( R 4)  10 ppm /º C  CT (Vo)  7.5 ppm /º C
CT (Vio)  1V /º C  CT (Vo)  0.8 ppm /º C
PSR  80dB  RL(Vo)  80 ppm / V ; CMR  70dB  RL(Vo)  126.5 ppm / V
rz  10  RL(Vo)  800 ppm / V

29. Una célula de carga formada por 4 galgas del mismo modelo, es utilizada para medir en un
margen entre 0 y 20Kg. Con los datos indicados, determine:
Vr
a) Margen de tensiones en la salida de la célula de carga. Vref
b) Offset máximo a la salida expresado en mV.
c) Rango de deformaciones sufridas por las galgas.
Rx R-x

DATOS: Vo .
Tensión de alimentación de la célula de carga: Vref=5V.
Sensibilidad de la célula de carga: S=1mV/V·Kg R-x Rx
Sensibilidad longitudinal de las galgas: K=2.
Tolerancia de Ro de las galgas: T(Ro)=±0.1%.

Resultados:
a) 0≤Vo≤100mV
b) ±5mV
c) 0≤εl≤1%

30. Diseñe un circuito de acondicionamiento para un RTD teniendo en cuenta que para el rango de
temperatura a medir comprendido entre 0 y 100oC debe proporcionar tensiones a su salida entre
0.1 y 1 V. Para el diseño se dispone de dos fuentes de corriente de valor nominal 0.1 mA, un
amplificador de instrumentación y resistencias. Para el circuito diseñado:
1.- Calcule los valores de la ganancia del amplificador de instrumentación y de todas las resistencias que
considere necesario añadir al circuito para que el circuito funcione según las especificaciones indicadas.
2.- Justifique el tipo de incertidumbre introducido por la tolerancia de la Ro del RTD.
3.- Obtenga la incertidumbre en la medida en oC debido a la resistencia térmica del RTD e indique su
tipo.
DATOS:
 Ro del RTD: Ro=100Ω
 Coeficiente de temperatura del RTD: =0.00385 oC-1.
 Resistencia térmica del RTD: Rth=10 oC/W.

Resultado:
1.- GAI=233.8, RZ=95.72Ω
2.- Incertidumbre de offset y de sensibilidad.
3.- Incertidumbre en ºC=10-5(1+α·t): offset y sensibilidad.

13
31. En un puente resistivo disponemos de dos galgas con leyes de variación Rg1=Ro(1+x) y
Rg2=Ro(1-x), completan el puente 2 resistores ideales de valor Ro. La tensión de salida del puente
es amplificada por un amplificador de instrumentación (AI) con los parámetros abajo indicados.
Obtenga la incertidumbre expresada en Newton si la temperatura a la que se encuentra todo el
circuito puede cambiar en ±10ºC sobre la temperatura de ajuste para error nulo.
Datos: x=10-6F (Newton), Ro=2KΩ, CT(Ro)=150±40ppm/ºC (los resistores no presentan CT), tensión de
alimentación del puente 10V. AI: CT(Vio)=±2µV/ºC, CT(Iio)=±1nA/ºC.
Resultados:
CT ( Ro)  150  40 ppm /º C  200· 2 Newton
CT (Vio)  2 V /º C  4 Newton
CT ( Iio)  1nA /º C  2 Newton

32. En la figura se muestra el circuito para medir la corriente consumida por un motor. Determine
las aportaciones de incertidumbre expresadas en µA de los diferentes parámetros reales, y el valor
de la incertidumbre total cuando la corriente consumida por el motor es de 1 Amperio.
Vm
DATOS:
Vm=200V en continua.
Rsh=0.2Ω.
MOTOR

+Vcc Rt=1Ω.
+ AI
Vio(AO)=±3mV.
Rsh -
.
CMRAI=60dB.
-Vcc GAI=5 con tolerancia ±1%.
Vo

Rt

Ve(Im)  Im·Rsh  Im·0.2; Sensibilidad (Ve)  0.2V / A

Vio( AI )  3mV  15000A
CMRAI  60dB  103  5.5·103 ·Im
T (GAI )  1%  10 2 ·Im
Total   150002  55002  100002  18848A

33. En la figura se representa el circuito de acondicionamiento de un RTD (Rg). Obtenga la incertidumbre

en la medida, expresando los errores de offset en ºC y los de sensibilidad en ppm de la medida.

DATOS:
I I=5mA, T(I)=±2%.
+ AI Ro=1KΩ, CT(Ro)=0.385%/ºC, T(Ro)= ±0.2%.
-
Vref=5V, T(Vref)=±0.2%.
Rg Vio(AI)=±0.1mV. Ib(AI)=±1nA.
Vo
Vref

Vin  I ·Ro(1  CT ( Ro)·t )  Vref ; Sensibilidad  I ·Ro·CT ( Ro)  19.25mV /º C

T ( I )  2%  5.19º C  2·104 ppm
T ( Ro)  0.2%  0.519º C  2·103 ppm
T (Vref )  0.2%  0.52º C
Vio( AI )  0.1mV  5.2·10 3 º C ; Ib( AI )  1nA  5.2·10 5 º C  0.2 ppm

14
34. En la figura se muestra una célula de carga formada por 2 galgas que están sometidas a
deformaciones de la misma magnitud pero sentido contrario (l1=-l2).
a) Coloque adecuadamente las galgas en un puente y obtenga:
1. La expresión nominal de la tensión de salida.
2. La incertidumbre expresada en µ como consecuencia del coeficiente de temperatura de
Ro de las galgas, supuesta una variación de temperatura de ±20ºC.
b) Si la tensión del puente es leída con un amplificador de instrumentación y el puente es
alimentado con la tensión de referencia indicada en los datos, calcule para una variación de
temperatura de ±20ºC sobre la temperatura de ajuste del circuito:
1. La incertidumbre de offset total expresada en µ.
2. La incertidumbre de ganancia expresada en ppm de la medida.

DATOS:
Galga: Ro=1K, CT(Ro)=300±50ppm/ºC, Kl=2 (sensibilidad longitudinal), 0≤|l| ≤103µ.
Referencia Tensión: CT(Vref)=±25µV/ºC, Vref=2.5V.
Amplificador: CT(Vio)=±1µV/ºC, CT(Iio)=±50pA/ºC, CT(Gd)=±20ppm/ºC.

Rg1 F

Rg2

Las galgas se deben colocar en la misma rama del puente para que se sumen sus aportaciones y la tensión de salida
varíe linealmente con la temperatura.
Vref
a1)Vo  Kl · l  2.5· l
2
a 2)CT ( Ro)  300  50 ppm /º C   2 ·250
b1)CT (Vio)  1V /º C  8 ; CT ( Iio)  50 pA /º C  0.2
Total  8.0
b2)CT (Vref )  25V /º C  200 ppm; CT (Gd )  20 ppm /º C  400 ppm
Total  447 ppm

35. Las hojas de características de un amplificador de instrumentación indican que presenta un

CMR=110dB con una ganancia diferencial Gd=100 y sus resistencias de entrada en modo común
(de cada una de las entradas hacia masa) están en el margen de 1010 ±2·109 Ω. Si a la entrada se
introduce la señal en modo común indicada, calcule el valor de la tensión de salida del amplificador.
20K
+
AI
5V
_
20K

CMR  110dB  Vo  1.58mV

Rcm  1010  2·109   Vo  0.417mV

36. Para una referencia de tensión con las características indicadas, calcule las aportaciones de
incertidumbre en la tensión de salida (expresadas en ppm de Vo) debidas a las siguientes
variaciones: ΔT=±5ºC, ΔVcc=±0.5V, ΔIo=±2mA.

15
DATOS: Vo=5·Vr, Vr=2.5V, CT(Vr)=±10ppm/ºC, RL(Vr)=±20μV/V, RC(Vo)=±10μV/mA.

CT (Vr )  10 ppm /º C  50 ppm

RL(Vr )  20V / V  4 ppm
RC (Vo)  10V / mA  1.6 ppm
37. En la siguiente figura se muestra un puente de Wheatstone formado por 3 resistencias de valor R y un
sensor con ley de variación Rx=R0(1+x).

Datos:
‐ Referencia de tensión: VB= 5V.
‐ Rango de variación de x: -1 ≤ x ≤ +1
‐ R0=R=350 Ω.
‐ CT de R0: ±100 ppm/oC.
‐ CT de la tensión del A.O: ±15 µV/oC. 
Rx 
‐ CT de la referencia de tensión VB: ±4 ppm/oC. 

1.- Obtenga la expresión de la tensión de salida V0 e indique la funcionalidad del circuito.

El circuito consigue polarizar a corriente contante el sensor y conseguir de esta forma una tensión de salida lineal
con las variaciones de x.
VB
Vo   x
2
2.- Obtenga el error en %FS de la medida debido a los siguientes parámetros:

- Coeficiente de temperatura de la resistencia R0 del sensor.

- Coeficiente de temperatura de la tensión de offset del AO.
- Coeficiente de temperatura de la referencia de tensión.
Ro·VB Vo
CT ( Ro)  Vo   CT ( Ro)(1  x)  250(1  x) V /º C   50·10 4 ·(1  x)·t (% FS )
2R FSVo
Ro(1  x)
CT (Vio)  Vo  CT (Vio)  15·(1  x) V /º C  3·(1  x)·t ·10 4 (% FS )
R
V ·CT (Vref )·x
CT (VB )  Vo   B  10·x( V /º C )  2·x·t ·10 4 (% FS )
2

38. En la figura se muestra el esquema de un amplificador de instrumentación al que se le ha añadido una

protección frente a sobretensiones. Supuesto que la fuente de señal a amplificar presenta impedancias de
salida nulas, obtenga el CMR del circuito, en el peor caso, a la frecuencia de 10KHz.

-Vcc +Vcc Datos: Amplificador de instrumentación ideal.

R1=R2=1K, T(R1)=T(R2)=±1%.
D2 D1 Capacidad en inverso de los diodos: Cd=0.3nF.
+Vcc

R1 AI
+
Solución:
V V El equivalente se muestra, siendo C1=C2=2·Cd=0.6nF. Los
-
V R2
diodos se encuentran siempre en inverso en funcionamiento
D3 D4 normal (sin sobretensión).
-Vcc

+Vcc -Vcc

16
 R1

C1
-
+

VCM

Ve
Ref INA110E

C2
+

R2

 1 1 
 jwC1 jwC 2   1 1 
Ve  VCM   VCM   
R  1 R2  1  1  jwR1C1 1  jwR2 C 2 
 
1 jwC1 jwC 2 

Gd 1 (1  jwR1·C1)(1  jwR 2·C 2)

CMR     1.33·10 3  62dB
Gcm 1 1 jw( R 2·C 2  R1·C1)

1  jwR1C1 1  jwR2 C 2

39. Con el circuito de la siguiente figura basado en un termopar tipo J se pretende medir la temperatura de un
determinado proceso. La tensión proporcionada por el circuito (VIN ) será adquirida, almacenada y procesada
por un sistema de adquisición de datos (SAD) situado a 100 metros del circuito de medida.
Tref 
Tref

+15V.

R1=10K.
R3=200K

-
T
R4
LM335 TIPO J
+

+15V.

R5=10K.
R7=200K
Vin S.A.D

6.9V. LM329
R8
Ze=∞
Ze=

DATOS:
- Margen de temperatura a medir (T): -10 a 200 oC
- Temperatura de referencia (Tref): Variable entre 0 y 35 oC
- Referencia de tensión LM329: Vref=6,9 V.
- Coeficiente Seebeck termopar: α=55µV/ºC

Se pide:
1.- Función de los elementos que forman el circuito.
2.- Obtener el valor que deberán tomar R4 y R8 para un perfecto funcionamiento del circuito.
3.- Como se comentó anteriormente, el SAD se encuentra alejado del circuito de medida, ¿sería necesario utilizar
cables de compensación para llevar la señal VIN hasta el SAD? Justifique la respuesta.

17
Resultados:
1. LM335: medidor de la temperatura de la unión fría, que junto a R3 y R4 permite compensar la unión fría.
LM339: referencia de tensión que junto a R7 y R8 desplaza la función de transferencia para conseguir
Vin(T=-10ºC)=0V.
Termopar tipo J: Ofrece una tensión función de T-Tref.
2. R4=1.1K, R8=417.7Ω. Vin(T)=α·(T+10).
3. Como la tensión ya está compensada respecto a la unión fría, los cables hasta el SAD serían normales, con
las precauciones habituales de cualquier otro sistema analógico.

40. En la figura se muestra el circuito de acondicionamiento de un RTD basado en una fuente de

corriente, un amplificador de instrumentación (circuito entorno a U1, U2 y U3) y un amplificador
operacional (U4). Se desea que la tensión de salida del circuito cumpla la expresión Vo(t)= -5··t
(Voltios) donde t es la temperatura a la que se encuentra el RTD.
1. Obtenga los valores de Ra y de la ganancia diferencial del AI (1+2R2/R1) para que se cumpla
dicha condición.
2. Calcule el error introducido por las posibles variaciones relativas de Io y de Ra, respecto a su
valor nominal, indicando de qué tipo de error se trata (offset, sensibilidad o linealidad). Suponga
que el CMRR del AI es de 100dB.

Io
VCC
R3 R3

DATOS: Io=1mA, RTD=Ro(1+t) con =0.00385

+
U1
-

-VCC
-VCC ºC-1 y Ro=100.
R2 -
U3
V
RTD R1
+

R2 VCC Vo

-VCC

- R3 R3
U2
+

VCC -VCC

+ U4
Ra
-

VCC

Resultados:
1. Ra=5K, Gd=50.
2. Ra  Ro·Gd
Io  Error _ Offset (º C )  T ( Io); Error _ Sensibilidad (%)  T ( Io)
Ro·Gd ·
Ra·T ( Ra)
Ra  Error _ Offset (º C ) 
Ro·Gd ·
41. El circuito de la figura permite medir la resistencia de un RTD, eliminando en gran medida el
efecto de la resistencia de los cables. Para los datos indicados, obtenga la incertidumbre expresada
en ºC, para los errores de Offset y en ppm de la medida, para los errores de ganancia.
DATOS:
 RTD. Ro=100Ω, CT(Ro)=0.00385ºC-1.
T(Ro)=±0.2%
 RZ=100Ω.
 Resistencia de los cables: Rc=5±0.5Ω.
 Desacoplo entre las fuentes de corriente
de 100μA: I1=I2±1%. Suponga que I1
circula por el RTD e I2 circula por RZ.

18
Resultados:
T ( Ro)
T ( Ro)  Error _ Offset (º C )   0.52º C ; Error _ Sensibilidad (%)  T ( Ro)  0.2%

2 ·Rc
Rc  Error _ Offset (º C )   1.3· 2
Ro·
I2
I ·(Rc  Ro)(1  )
I1
I1  I 2  1%  Error _ Offset (º C )   2.72º C
I ·Ro·
42. Para medir la corriente en una de las fases de un sistema de alimentación trifásico se diseña el circuito de
la figura. Se pide:

1.- Describa la funcionalidad de los principales elementos del circuito: Power Resistor, INA110 e ISO102.
2.- Teniendo en cuenta las características de los amplificadores INA110 e ISO102 obtenga el error en la medida
debido a los siguientes parámetros:
 Coeficiente de temperatura de la ganancia del INA110 expresado en ppm de la medida.
 Coeficiente de temperatura de la tensión de offset del INA110 expresado en mA.
 IMR del ISO102 supuesto: VISO=1500Vrms, 50Hz. Exprese el error en mA.

DATOS:
‐ Rango de corriente a medir: 0 a 100 A
‐ Incremento de Tª sobre condiciones de ajuste:
∆T=±50oC.
‐ INA110AG: G=10; CT(G)=± 3 ppm/oC, CT(Vio)=
±(2+20/G) V/oC.
‐ ISO102: IMR=120dB a 50Hz.

Resultados:
1. Power Resistor: se intercala en la línea para conseguir entre sus terminales una tensión directamente
proporcional a la corriente que por esta circula.
INA110: Amplificador de instrumentación que incrementa la sensibilidad para reducir el efecto de los
errores de offset del ISO102.
ISO 102: Aislamiento galvánico del sistema electrónico respecto al sistema de red.
2.
S
CT (G )   CT (G )·T  150 ppm
S
CT (Vio )  Offset  CT (Vio )·T  200V  40mA
1.5mVRMS
IMR  120dB  10 6  Ruido   300mARMS
5mV / A
43. Con el circuito de la figura se pretende obtener una tensión proporcional a la diferencia de temperaturas
T1 y T2 utilizando el sensor de temperatura de unión semiconductora AD590L.

DATOS:

(T1-T2)MIN=0.
(T1-T2)MAX=100oC.

1.- Obtenga la expresión de la tensión a la salida del circuito

en función de la diferencia de temperaturas (T1-T2).
19
2.- Error en oC y en ppm FS debido a los siguientes parámetros del AD590L:
 Error absoluto supuesto que no se ha realizado calibración alguna.
 No linealidad.
 Repetibilidad.
 Rechazo a la fuente de alimentación supuesto ∆Vcc= ±1 V y que el circuito se alimenta a ±12 V.

Resultados:
1. Vo=10-2(T2-T1) Voltios.
2. Error absoluto AD590L=±3ºC→±3·√2ºC en la medida de (T2-T1) y →±3·√2·104ppm de FE.
No Linealidad AD590L=±0.4ºC→±0.4·√2ºC en la medida de (T2-T1) y →±0.4·√2·104ppm de FE.
Repetibilidad AD590L=±0.1ºC→±0.1·√2ºC en la medida de (T2-T1) y →±0.1·√2·104ppm de FE.
PSR=±0.2µA/V→±0.2·√2ºC en la medida de (T2-T1) y →±0.2·√2·104ppm de FE.

44. Para el circuito de la figura obtenga la expresión de la tensión de salida y el error en la medida
como consecuencia de las diferentes aportaciones indicadas. Exprese los errores de Offset en
unidades de “x” y los de ganancia en ppm de la medida. Vref
 Rx=Ro(1+x), R-x=Ro(1-x), Ro=1KΩ, T(Ro)=±0.2%,
0<x<0.01.
 Vref=5V, T(Vref)=±1%. Al calcular el error por tolerancia, Rx

considere que Vref y -Vref tienen siempre el mismo valor +

absoluto. -
V

 Vio del AO: ±0.5mV. R-x

Vo

 R1=10·R2. R1
-Vref R2

Resultados:
R1
Vo  Vref ·(1  )·x
R2
T ( Ro)
T ( Ro)  Offset (Unidades _ x)  2  10 3 · 2
2
T (Vref )  Sensibilidad  T (Vref )  10 4 ppm
Vio  Offset (Unidades _ x)  10 4

20
45. En la figura se representa el circuito de acondicionamiento de una galga extensométrica.
Obtenga la incertidumbre de ganancia, expresada en ppm de la medida, como consecuencia de los
parámetros indicados.
DATOS:
I1 Fuentes de corriente (I1, I2): de valor nominal 1mA y tolerancias ±0.5%.
Rx=Ro(1+Kl·l), con Kl=2 y l=1µ/Newton.
Tolerancia de Kl= ±2%.
Rx Ro de valor nominal 500Ω y tolerancia ±0.2%, tanto la de Rx como la del
+ AI resistor fijo.
- Corriente de polarización del AI ±10nA.
Ro Vo Resultado supuestas las aportaciones incorreladas:
S I1 2 Ro 2 I
I2  ( ) ( )  T ( K l ) 2  ( B ) 2  0.0207  2.07%
S I1 Ro I1

46. El amplificador de instrumentación de la figura presenta un CMR para fuente de señal ideal de
valor 80dB. Obtenga el CMR real mínimo para la fuente de señal indicada.
DATOS: Rd1=Rd2=1K con tolerancias ±10%. Impedancias de entrada en modo común del AI:
Zcm1=Zcm2=100M. Ganancia del AI de valor 50.
Resultado:
Rd1

AI T ( Rd1), T ( Rd 2)  GCM 1 MAX  104

CMR( AI )  80dB  GCM 2 MAX  5·103
Rd2
GD
CMR(Total )   9804  79.82dB
GCM 1  GCM 2
Vcm

47. Para un sistema de adquisición de datos multicanal de muestreo simultáneo con los datos indicados,
obtenga la frecuencia máxima de muestreo por canal y la frecuencia máxima de las señales de entrada para
que el error máximo por Jitter no supere el error del cuantificador para señales de entrada sinusoidales.

DATOS:
ADC: 16bits, Tc=5µs.
Multiplexor: 8 canales y TESTM=1µs.
S/H: TADQ=1µs, TESTH=0.2µs, JTap=20psMX.

Resultado:
Frecuencia de muestreo máxima por canal: 20.32Ks/s
Frecuencia de entrada máxima seno: 121.49KHz.

48. La figura presenta un circuito de medida basado en un puente de Wheatstone. Con este circuito se
pretende medir una variable genérica “x”, para lo que se dispone de dos sensores R1=Ro(1+x) y R2=Ro(1-x),
siendo Ro=100 . Las otras dos resistencias del puente son iguales y de valor Ro. Teniendo en cuenta que la
variable a medir (x) puede variar en el siguiente rango: 0  x  8 ·10-2
V

Iref

15
VD

RG INA101AM

21
-15
a) Determine la posición de los sensores en el puente de forma que la tensión a su salida (VD) sea lineal y la tensión
a la salida del INA101 positiva. Justifique la respuesta.
b) Calcule el valor de la intensidad de la fuente de corriente (Iref) para que la sensibilidad a la salida del puente sea
de 125 mV/unidad de x y realice el diseño de la misma sabiendo que para ello se dispone de una referencia de
tensión AD586J de 5 V., un amplificador operacional y resistencias de todos los valores que considere necesarios.
c) Calcule la regulación de línea (RL) en A/V y la de carga (RC) en A/ de la referencia de corriente diseñada
considerando únicamente los parámetros reales de la referencia de tensión (Amplificador operacional y resistencias
ideales).
Resultados:
a) Los dos sensores en la misma rama, por ejemplo la derecha, para que la salida sea lineal. Esto consigue que la
corriente por los sensores sea constante y de valor Iref/2. Arriba R2 y abajo R1, para que la salida sea positiva.
b) VD=0.5·Iref·Ro·x=0.125·x→Iref=2.5mA
El circuito de la referencia de corriente es el indicado con R=2K.

c)

RL(Vref ) 100V / V
RL( I ref )    5·10 8 ( A / V )
R 2K
I ref ·RL(Vref ) 100V / V
RC ( I ref )    1.25·10 10 ( A / )
R 2K

49. Para construir una balanza se dispone de la célula de carga mostrada en la siguiente figura. Se supone
que en reposo (sin peso) la plataforma sobre la que se colocan los objetos a medir no produce deformación
sobre la célula de carga.

La célula de carga se compone de cuatro galgas que se disponen en forma de

puente. La información proporcionada por la célula de carga se desea transmitir a
distancia mediante un bucle de corriente 4-20 mA. Para ello se utiliza el circuito
conversor V/I XTR101 tal y como se muestra en la siguiente figura:

2 mA
e1

Rs XTR101A

e2 24 V
RL

R2

Datos:


Superficie sobre la que se ejerce la fuerza: S=39.5 cm2.
 Módulo de Young del cilindro: E = 44·106 N/m2
 Coeficiente de Poisson: =0.32. (Suponga que este coeficiente relaciona las deformaciones longitudinales y
transversales de las galgas situadas en el cilindro).
 El rango de fuerzas a medir está comprendido entre 0 y 500 N.
 Con respecto a las galgas se conocen los siguientes datos: R0=120  y Factor de galga: Kl=2

22
 a) Suponiendo las galgas ideales indique sobre el puente una posible configuración válida de las galgas que
garantice una salida lineal y un correcto funcionamiento del XTR101AG. Determine la expresión de la
tensión a la salida del puente en función de la fuerza aplicada F.
b) Calcule el error típico en ppm FS debido a los siguientes parámetros del XTR101AG e indique en cada
caso el tipo de error (offset, sensibilidad, etc.):

 Coeficiente de temperatura de la corriente de Offset de salida.

 Coeficiente de temperatura de la tensión de Offset.

DATO: Incremento de temperatura sobre las condiciones de ajuste: T=±30oC.

c) Determine el error en ppm FS debido a la sensibilidad transversal Kt de las galgas e indique el tipo de error
(offset, ganancia, etc.).

DATO: Sensibilidad transversal de la galga: Kt=+0.5% de Kl.

Resultados:

a) Deben sumarse sus aportaciones. Dos posibilidades que ofrecen el mismo resultado:

2 1 4 3
3 4 1 2

La resistencia en las dos ramas del puente es la misma, por lo que la corriente por cada una es de 1mA.
I I 1
Vin  e2  e1   Ro·K l · l (1   )  Ro·K l · (1   ) F  1.82·10  6 ·F
2 2 S ·E
b) Se debe suponer que la sensibilidad del XTR se ajusta para cubrir todo el rango de medida, esto es,
para Io(F=0)=4mA y Io(F=500N)=20mA. Por lo tanto:
CT(Ioo)=±10.5ppm/ºC FS → ΔIoo=±315ppm FS Offset
CT(Vio)=±0.75µV/ºC → ΔVio=±22.5µV→ΔF=±12.36N→ΔF=±24725ppm FS Offset
I I 1
c) Vin  e2  e1   Ro·K l · l ·(1  K t · )(1   )  Ro·K l · (1   ) F  1.82·10  6 ·(1  K t · )·F
2 2 S ·E
El error se refleja en el factor (1-Kt·µ)=(1-3.2·10-3) y es un error de sensibilidad de -3200ppm de la
medida, normalizado al fondo de escala resulta:
 3.2·10 3 6
F  10 ·F ( ppm _ FS )
500

50. Se dispone de 4 galgas colocadas en una célula de carga y con leyes de variación:
Rg1=Rg2=Ro(1+Kl·l) y Rg3=Rg4=Ro(1-Kl·l).
 Coloque las galgas en un puente y obtenga la expresión de la tensión de salida.
 Si la sensibilidad longitudinal de las galgas presenta un coeficiente de temperatura de +1%/ºC,
obtenga la expresión del error en la tensión de salida, indicando si es de offset o de ganancia.
 Calcule el error en la tensión de salida medida producido por el autocalentamiento de las galgas
para l=0, si la resistencia térmica de cada galga es de 20ºC/W y Ro presenta un coeficiente de
temperatura de 500ppm/ºC. ¿Cómo cambiaría este error para l0?
DATOS: Kl=2, Alimentación del puente 5V, Ro=1K.
Resultados:

Por ejemplo:
Vo=Vref·Kl·εl
Rg2 Rg3
Rg4 Rg1 Vo=Vref·Kl(1+CT(Kl)·ΔT)·εl Se genera un coeficiente de temperatura en la
sensibilidad-ganancia de valor +1%/ºC.

23
Para εl=0, como todas las galgas presentan la misma resistencia y circula la misma corriente, el
calentamiento sería igual en todas ellas, por lo que al ser el CT(Ro) un valor fijo y no un rango, se
anularía su efecto sobre la tensión de salida. Para l0, la resistencia de las galgas serían distintas (dos a
dos) y por lo tanto el auto-calentamiento, generando derivas de distinta magnitud en las galgas, resultando
un error en la medida.
2
 Vref 
Rg1  Rg 2  Ro·CT ( Ro)·T  Ro·CT ( Ro)·PD ·Rth  Ro·CT ( Ro)·  Ro·(1  Kl · l )·Rth
 2·Ro 
2
 Vref 
Rg3  Rg 4  Ro·CT ( Ro)·T  Ro·CT ( Ro)·PD ·Rth  Ro·CT ( Ro)·  Ro·(1  Kl · l )·Rth
 2·Ro 
La parte constante de las variaciones se anularía sobre la tensión de salida, generando un error de
sensibilidad, esto es:
2
Vref Rg1 Rg 4 Rg 2 Rg3  Vref 
Vo  (    )  Vref ·CT ( Ro)·  ·Ro·Kl · l ·Rth
4 Rg1 Rg 4 Rg 2 Rg3  2·Ro 
51. Se dispone de dos galgas situadas en una pieza, tal y como se muestra en la figura. Indique la
posición de las dos galgas en un puente de Wheatstone para obtener máxima sensibilidad, anular el
efecto del coeficiente de temperatura de su resistencia de reposo y obtener tensión de salida nula
con las galgas en reposo. Obtenga el valor de la tensión de salida del puente para una deformación
longitudinal de la pieza l=-200 y el error de linealidad introducido por el puente en dicha
medida (expresado en ).
F DATOS: Sensibilidad longitudinal de las galgas Kl=2, módulo de
Poisson de la pieza =0.5, alimentación del puente 5V.
Rg1
Rg2

Resultados:
Por ejemplo: VoLineal (εl=-200µε) =0.25·Vref·Kl·εl·(1+µ)=-0.75mV

Ro Rg1 VoReal(εl=-200µε)=-0.750075mV
Ro Rg2
Error=7.5·10-8V→-0.02µε

52. Para el circuito de la siguiente figura calcule el error debido a:

- Tensión de offset a 25 oC.
- CMR y PSR del AI.
- Coeficiente de temperatura de RG.
- Coeficiente de temperatura de la ganancia del AI.
- Error en la expresión de la ganancia
+Vref del AI.

+Vcc -Vcc DATOS:

Ro Ro
Ro RG = 500 , CT(Rg)=±50ppm/ºC
Vd Tensión de entrada: Vemax = 50 mV y Vemin = 0 mV.
+
X=10-6·F con F en Newton.
RG
Vs Vref = 5 V.
Ro Ro(1+x Ve AD 620 A
Características del AD620 A.
T = 40oC, Vcc = 1 V.

-Vref 24
Resultados:

Rg=500Ω→GAI=99.8
Ve≈2·Vref·x/4=2·Vref·10-6·F/4=2.5·F(µV)

 Vio(AI)=±(30+400/G)=±34µV→±13.6N (Offset)
 La Vcm vista por el AI es prácticamente nula y podría despreciarse su efecto, en cualquier caso
(CMR=130dB):
Vcm=Ve/2=1.25·F(µV)→ΔVio=CMR·Vcm=±3.95·10-7·F(µV)→±0.158ppm de la medida (sensibilidad)
 PSR=140dB→10-7→ΔVio=±0.1µV→±0.04Newton (Offset)
 CT(Rg)=±50ppm/ºC:
GAI 1 dGD 1 49.4 K
 RG  ( 2
)·RG ·CT ( RG )·T  1980 ppm Incertidumbre de sensibilidad
GAI GAI dRG GAI RG
 CT(GAI)=-50ppm/ºC→±2000ppm Incertidumbre de sensibilidad.
 ΔGAI/GAI=±0.15% Incertidumbre de sensibilidad.

53. Se dispone de 4 galgas colocadas en una célula de carga con leyes de variación: RG1=
RG2=Ro(1+K·l) y RG3= RG4=Ro(1-K·l). Colóquelas correctamente en un puente alimentado a Vref
y obtenga la sensibilidad de la tensión de salida, y las incertidumbres por CT(Vref), CT(Ro) y
CT(K), expresadas en Newton, al medir una fuerza de 500N, supuesta una variación de
temperatura sobre el ajuste de +5ºC.
DATOS: Vref=5V, K=3, l=3µ/N, CT(Ro)=100±20ppm/ºC, CT(K)=50ppm/ºC, CT(Vref)=±50ppm/ºC.
Resultados:

Por ejemplo:
RG2 RG3
Vo=Vref·K·εl·F=45·F(µV)→Sensibilidad=45µV/Newton
RG4 RG1
 CT(Ro)→ΔVo=±125·√4(µV)→±5.55Newton (Offset)
 CT(Vref)→±250ppm de la medida→±0.125Newton
 CT(K)→+250ppm de la medida→+0.125Newton

54. Para el diseño de una balanza electrónica se utiliza una célula de carga que incorpora cuatro galgas
dispuestas tal y como se presenta en la figura:
F
DATOS: Soporte no
- Módulo de Young: E = 2·1011 N/m2 S=1 cm2 deformable de
- Factor de galga: K=2 superficie 10 cm2
- Coeficiente de Poisson: µ=0.2
- Resistencia nominal: Ro=350
- Rango de fuerzas a medir: 0 a 5000 N.
- Sensibilidad transversal de las galgas despreciable.
G3 G4

VREF VCC G1 G2

Célula de carga.

A.I.

25
 a) Indique de manera justificada la posición de cada galga sobre el puente de Wheatstone de la figura anterior.
b) Determine la condición de linealidad de la tensión a la salida del puente. Supuesto que se cumple la
condición de linealidad obtenida, determine la expresión de la tensión Vo a la salida del amplificador de
instrumentación en función de la fuerza aplicada F.
c) Calcule el máximo valor de tensión VREF con la que se puede alimentar el puente supuesto que la máxima
potencia que pueden disipar cada una de las galgas es de 20 mW.

Resultados:
a) Por ejemplo la configuración indicada que genera tensiones de salida positivas.

RG2 RG3
RG4 RG1

K · l ·(1   ) K · l ·(1   )
b) VeAI  VREF Condición de linealidad:(εl+εt)=εl(1-µ)<<1 Ve AI  VREF
2  K ( l   t ) 2
F V F
l    Ve AI  REF K (1   )  6·10 8 ·V REF ·F
S·E 2 S·E
c) Podemos despreciar, para el cálculo de la potencia disipada, las variaciones de la resistencia de las galgas. Por lo
que la potencia disipada es:
2
V  1
PD   REF   20·10  3W  VREF  5.29V
 2  Ro
55. Obtenga la regulación de línea en ppm/V y el coeficiente de temperatura de la referencia en ppm/C.
Vc
DATOS: CMRR=90 dB, PSRR=100 dB, VIO=±10 µV, CT(VIO)=±0.1 µV/C,
IB=±10 nA, CT(IB)= ±0.1 nA/C, Vz=6.3 V, CT(Vz)= ±1000ppm/C, rz= 1 ,
R1 Vcc
Vcc=10 V, R1=1K.

Vref

rz 1 rz
Vcc  Vref  Vcc  RL(Vref )   158.7 ppm / V
rz  R1 Vz rz  R1
CMR 1 CMR
Vcc  Vio  Vcc( PSR  )  RL(Vref )  ( PSR  )  2.97 ppm / V ([Link])
2 Vz 2
CT (Vio) CT ( I B )·(rz // R1 )
T  CT (Vref )  CT (Vz)    1000 ppm /º C
Vz Vz
56. Se dispone de un termopar tipo E para medir en un determinado proceso temperaturas comprendidas
entre -50 y 800oC, que se acondiciona según el circuito de la figura.
Vcc

10 V
Vref

R1 = 27 K R4
+ Vcc
- Vcc

R2 R7 = 1 M -

- RG INA 114 Vo
TIPO
+ +
To
R3 = 100  R5 26
R5 + R6100 Ω
R6
a) Calcule el valor de R2 y R4 para compensar la unión fría del termopar teniendo en cuenta que se desea que para
la temperatura mínima a medir (-50ºC), la tensión a la entrada del amplificador de instrumentación sea 0 V.
Obtenga la sensibilidad en V/oC a la entrada del amplificador de instrumentación.
DATOS:
- Sensibilidad del termopar: 70 V/ºC.
- Coeficiente de temperatura del diodo: CT(VD)= -2.1 mV/oC
- Tensión del diodo a 25oC: VD(25ºC)= 0.6 V

b) Determine el error en ºC y en ppm FS debido a la regulación de línea de la referencia de tensión de 10 V.

Indique el tipo de error (Offset, ganancia, NL) que produce en la medida de la temperatura.
DATOS:
-Variación de la tensión de alimentación: Vcc=±1V.
-Regulación de línea de la referencia de tensión: RL = ±200 ppm/V

Resultados:
R5  R6 R3
a) Ve(T )  Vref   (T  To)  (0.6V  2.1mV /º C (To  25))
R5  R6  R4 R3  R2 // R7
R2=2.91K, R4=39.5K, Sensibilidad=70µV/ºC

b) Error de offset ±0.068ºC → ±79ppm de FE.

R5  R6 R5  R6 Ve
Ve  Vref  RL(Vref )·Vref ·Vcc·  Error (º C ) 
R5  R6  R4 R5  R6  R4 

57. Una galga extensométrica es polarizada con una corriente de 2mA. Obtenga la incertidumbre
en la medida de la deformación, expresada en µ, como consecuencia de los siguientes parámetros
reales.

Datos. Tolerancia de Ro: T(Ro)=±0.2%; CT(Ro)=±100ppm/ºC; Tolerancia de la sensibilidad de la galga:

T(K)=±0.5%, Ro=200Ω, K=2; Resistencia térmica de la galga: Rth=50ºC/W.

Resultados:
Vo=I·Ro·(1+K·εl)→Sensibilidad=0.8µV/µε
T(Ro)→±1000µε Offset y ±2000ppm de la medida→Δε=±1000±2·10-3·ε (µε)
T(K)→Incertidumbre Sensibilidad=±5000ppm de la medida.
Auto-calentamiento:ΔT=Ro·I2·Rth→ΔVo=Ro·CT(Ro)·ΔT·I=±1.6µV→±2µε de offset.

58. Se dispone de una célula de carga formada por 4 galgas según la figura. La sensibilidad
longitudinal de dichas galgas es función de la temperatura y sigue la expresión Kl=K·(1+T), con
K=2 y =200ppm/ºC. Para reducir el error en la medida generado por las variaciones de
temperatura, se recurre al uso de un RTD y al circuito mostrado en la figura. Calcule el valor de Rx
para anular los efectos de la temperatura, y la sensibilidad obtenida a la salida del puente
expresada en V/.
DATOS: R=5K, Vref=1V, coeficiente de temperatura del RTD =0.00385ºC-1 y resistencia a 0ºC
Ro=100. +Rg=Ra(1+Kl·l) y -Rg=Ra(1-Kl·l).
NOTA: Se debe suponer que todo el circuito se encuentra a una misma temperatura.

27
 R

-Vre f Rx RT D
-

+
+Rg -Rg

Vo

-Rg +Rg

Vref ·R Vref ·R
Vo  K ·(1  T )· l  K ·(1  T )· l
Rx  Ro(1  T ) Ro·
( Rx  Ro)(1  T)
Rx  Ro
Ro·
  Rx  1825
Rx  Ro
Vref ·R
Vo  K · l  5.19· l
Rx  Ro

Sensibilidad a la salida 5.19µV/µε.

59. Dibuje el circuito de una referencia de tensión auto regulada basada en una referencia gap de
1.2V y que proporcione a su salida una tensión de 5V.
a) Calcule los valores de todas las resistencias para asegurar que la referencia gap se polariza con
una corriente de 100μA y que la corriente por las otras dos resistencias del circuito es también de
100μA.
b) Determine las tensiones mínimas de alimentación del AO y la resistencia de carga mínima (RL) si
la corriente máxima que puede proporcionar el AO es de 10mA. Suponga el AO ideal.
R1
R2 R2
Vo  VREF 1 (1  )  5V   3.167
REF1 R3 R3
+
Vo a)
Vo  VREF 1
-

R2 I REF 1   0.1mA  R1  38K

R1
Vo
I R 2, R 3   0.1mA  R 2  R3  50 K
R3 R 2  R3
R3  12 K ; R 2  38K

b) Debemos calcular las tensiones en las entradas y la salida del AO.

V+=V-=VREF1=1.2V
Vo=5V
Como el AO es ideal, podría alimentarse con tensión 5V en Vcc y 1.2V en Vss, de esta manera se cumple que todas
las tensiones se encuentran entre los límites de alimentación. En un caso real y según las características del AO,
puede ser necesario ampliar el margen de las alimentaciones para cumplir las limitaciones de sus características.

Vo Vo  VREF1 Vo
I oAO     10mA  RL  568
R 2  R3 R1 RL

28
60. En la figura se muestra el circuito de acondicionamiento de un RTD en salida de bucle 4-20mA.
a) Compruebe que las tensiones de entrada, alimentación (V8-V7) y la de los terminales de las fuentes de
corriente, se encuentran dentro de los límites indicados por el fabricante.
b) Calcule la longitud máxima de los cables y el error que se produce para esta longitud máxima como
consecuencia del PSR de entrada del XTR101, supuesto el circuito ajustado a error nulo cuando su corriente
de salida son 4mA.

Datos:
25ºC≤T≤150ºC; Sensibilidad eIN=0.385mV/ºC
RTD: Ro=100Ω, α=0.385Ω/ºC.
RL=100Ω; R4=109.62Ω; R2=2K5
Resistencia de los cables 0.2Ω/m, longitud 20 m.
Hojas de características del XTR101.

Solución:
a) De las hojas de características se obtienen las siguientes limitaciones:
11.6V≤V8-V7≤40V
4V≤V3-V7, V4-V7≤6V
0≤V10-V7, V11-V7≤V8-V7-3.5V

V8-V7=24V-Io(RL+2·Rc)→21.84≤V8-V7≤23.56 (Correcto)
V3=I·R4+2·I·R2=5.11V (Correcto)
V4=I·RRTD+2·I·R2 →5.11≤V4≤5.158 (Correcto)
V10=V3=5.11V<21.84-3.5=18.34 (Correcto)
V11=V4<5.158<21.84-3.5=18.34 (Correcto)

b) V8-V7=24V-Io(RL+2·Rc)=11.6V→Rc<260Ω→1300 metros de distancia.

Δ(V8-V7)=ΔIo·(RL+2·Rc)=16mA·620Ω=9.92V
PSR=125dB→ΔVIO=PSR·Δ(V8-V7)=±0.56µV/V·9.92V=±5.58µV→±0.0145ºC

29
61. Ejemplo uso tablas del termopar, cálculo de coeficiente Seebeck y de la no linealidad.

Margen de medida de temperatura: 10≤Tc≤200ºC.

Sensibilidad calculada respecto a puntos finales:
αJc=(10.779-0.507)/190=54.06µV/ºC
Expresión para interpretar la función de transferencia tras compensar unión fría:
Vo(Tc)=507µV+54.06·(Tc-10)(µV)→Tc=10+(Vo(Tc)-507µV)/54.06µV/ºC
No linealidad respecto a puntos finales: Tendríamos que buscar el error máximo, pero aquí suponemos
que se encuentra en el punto medio del rango ≈Error a 105ºC=5.541mV-Vo(105ºC)=-0.102mV≈-1.9ºC

Margen de temperatura unión fría: 0≤Ta≤50ºC

Sensibilidad calculada respecto a puntos finales:
αJa=2.585/50=51.7µV/ºC
Expresión para compensar unión fría:
Vo(Ta)= 51.7·Ta (µV)
Error compensación unión fría ≈Error a 25ºC=1.277mV-Vo(Ta=25ºC)=-15.5µV≈-0.3ºC

30