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Curso de Espectroscopia XPS: Análisis Avanzado

Este curso de 4 horas sobre espectroscopia de fotoelectrones por rayos X (XPS) cubre los principios físicos y aplicaciones de la técnica. El objetivo es comprender cómo XPS puede identificar y cuantificar especies elementales y químicas en una muestra, así como obtener información de resolución en profundidad y angular. El curso analiza conceptos básicos de XPS el primer día e introduce aspectos más avanzados como cuantificación, deconvolución de espectros y comparación con otras técnicas el segundo día.

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Curso de Espectroscopia XPS: Análisis Avanzado

Este curso de 4 horas sobre espectroscopia de fotoelectrones por rayos X (XPS) cubre los principios físicos y aplicaciones de la técnica. El objetivo es comprender cómo XPS puede identificar y cuantificar especies elementales y químicas en una muestra, así como obtener información de resolución en profundidad y angular. El curso analiza conceptos básicos de XPS el primer día e introduce aspectos más avanzados como cuantificación, deconvolución de espectros y comparación con otras técnicas el segundo día.

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Título del curso: Espectroscopia de fotoelectrones por rayos X (XPS): Conceptos,

Análisis y Aplicaciones.
4 horas, dos sesiones.
Objetivo. Comprender los principios físicos de XPS y de uso de la técnica para
identificación, cualitativa y cuantitativa de las especies elementales y químicas presentes en
una muestra. Comprender sobre sensibilidad de la superficie, aspectos microanalíticos de la
técnica y qué tipos de materiales y problemas pueden abordarse con XPS.
Conocer los aspectos más avanzados de la espectroscopia XPS que son útiles para el
análisis de espectros.
Estudiar XPS de resolución angular (ARXPS) y perfiles para obtener información de
resolución en profundidad. Obtener información acerca de las aplicaciones avanzadas de
XPS, utilizando historiales de casos como ejemplos. Relacionar XPS y comparar con otras
técnicas analíticas.

Descripción del curso.


Primer día. Aspectos teóricos básicos necesarios para comprender XPS como método
para determinar qué átomos están presentes, en qué estado químico y proporciones relativas
en una muestra. Se discuten los motivos y la extensión de su sensibilidad superficial,
límites generales, normas y problemas de resolución espacial. Se introducen formas de
obtener perfiles de profundidad y resolución angular. Se presentan los diversos tipos de
instrumentación comercial disponibles y se comparan. Ejemplos de uso para aplicaciones
en diversos tipos de materiales y diferentes problemas (por ejemplo, contaminación de la
superficie, corrosión, catálisis, análisis de fallas, nanoestructuras).
Segundo día. Se muestran aspectos más complejos de la espectroscopia para la
determinación del estado químico, con ejemplos ilustrativos. La cuantificación elemental se
trata en detalle, y se introduce al análisis de deconvolución con software especializado. Se
muestra un ejemplo de espectros de ARXPS y simulaciones de perfiles de profundidad en
películas ultradelgadas. XPS se pone en contexto con otras técnicas analíticas y en la
literatura especializada, revisando errores y omisiones. Finalmente se revisa la banda de
valencia en XPS y UPS.

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