Tipo de Documento: Tutorial
Soportado por NI: Sí
Fecha de Publicación: may 14, 2012
Ventajas de Diseño de Instrumentos Modulares NI PXI
Contenido
1. Información General
2. Instrumentos para Cualquier Aplicación
3. Rendimiento y Calidad de las Medidas
4. Opción de Entornos de Desarrollo de Software Flexibles
5. Verificación de Producción de Instrumentos Modulares
6. Otras Ventajas del Diseño NI PXI
Información General
Con instrumentos modulares definidos por software, los ingenieros pueden diseñar e implementar sistemas de pruebas flexibles a los que rápidamente se les puede dar otro tipo de uso. De los
más de 1,500 productos PXI en el mercado, más de 400 fueron diseñados por National Instruments. Con esta historia irrefutable, la instrumentación PXI diseñada por NI ofrece varias ventajas.
Este documento examina estas ventajas: Instrumentos para cualquier aplicación, rendimiento y calidad de las medidas, opción de arquitecturas de software y verificación de unidad de producto.
Instrumentos para Cualquier Aplicación
NI ofrece más de 450 instrumentos modulares basados en tecnología PXI y PXI Express. Estos instrumentos van desde DC a 26.5 GHz, incluyendo el digitalizador de la más alta resolución de la
industria con 24 bits de resolución y el multímetro digital (DMM) de 7 ½ dígitos más rápido y preciso de la industria.
Figura 1. Los instrumentos modulares abarcan desde la resolución más alta hasta la precisión más alta de la industria.
NI continuamente está ampliando las fronteras del rendimiento con sus instrumentos modulares PXI, todo en un espacio 3U más eficiente. Con la adición del analizador de señales vectoriales
(VSA) NI PXIe-5665 NI ofrece la mejor precisión y velocidad de pruebas de RF en la plataforma PXI, excediendo aquellas de los instrumentos de laboratorio estándares en la industria. Otro
ejemplo de la tecnología líder de medidas es el digitalizador NI PXIe-5186 desarrollado por National Instruments y Tektronix, el líder mundial como fabricante de osciloscopios. Es el digitalizador
PXI del más alto rendimiento en el mercado, con ancho de banda de 5 GHz y hasta 12.5 GS/s de velocidad de muestreo.n
Tabla 1. La variedad de la instrumentación modular de NI tiene productos para cada aplicación.
No solamente ofrece una vasta variedad de instrumentación modular sino también permite el uso de arreglos de compuertas programables en campo (FPGAs) con la plataforma PXI. Los FPGAs
presentan una solución para aplicaciones que requieren la habilidad de administrar grandes juegos de datos y que aún necesitan flexibilidad y personalización. NI FlexRIO ofrece E/S flexible y
personalizada para el Módulo NI LabVIEW FPGA, para ayudarle a crear instrumentos reconfigurables de alto rendimiento. LabVIEW FPGA extiende la plataforma de desarrollo gráfico LabVIEW
para concentrar FPGAs. LabVIEW es ideal para programación FPGA ya que representa paralelismo en flujo de datos, así los usuarios tanto experimentados como principiantes en el diseño
tradicional FPGA pueden aplicar de manera productiva la potencia del hardware reconfigurable. Con una parte frontal personalizada y abierta para señales, usted puede cubrir los requerimientos
exactos de una prueba o un sistema embebido.
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Figura 2. Aproveche NI FlexRIO para ayudar a conectar sus aplicaciones a FPGAs y ampliar las habilidades del sistema.
Rendimiento y Calidad de las Medidas
NI incorpora varias tecnologías patentadas en sus instrumentos modulares para asegurar que funcionan al más alto nivel y brinda medidas confiables para las aplicaciones más demandantes de
hoy en día. Estas tecnologías incluyen lo siguiente:
• The Synchronization and Memory Core (SMC)
• Tecnología NI-STC3 de temporización y sincronización para instrumentos modulares
• Tecnología NI-STC3 de temporización y sincronización para adquisición de datos multifunción
• Algoritmo de calibración NI-MCal para adquisición de datos
Synchronization and Memory Core (SMC)
Los últimos diseños electrónicos se caracterizan por su funcionalidad y el incremento en la tecnología analógica y digital aparentemente entrelazados. Diseñar, generar prototipos y probar estos
sistemas que involucran una combinación de video, audio y datos, como la última generación de auriculares inalámbricos y convertidores; requiere hardware para generación y adquisición digital y
analógica estrechamente integrado e igual en características de velocidad de muestreo, distorsión y temporización. La instrumentación analógica y digital ya no puede ser sistemas autónomos con
motores de temporización diferentes y rendimiento analógico desigual. Además, con la fabricación de ciertos dispositivos que se ejecutan a toda hora en varias ubicaciones en todo el mundo, es
obligatoria la necesidad de estabilidad y consistencia de las especificaciones de rendimiento en un amplio rango de temperatura para realizar pruebas funcionales, confiables y de alto
rendimiento.
NI diseñó el Synchronization and Memory Core (SMC) como la arquitectura común para un juego de instrumentos modulares de alta velocidad que responden ante el reto de probar los
dispositivos reunidos. El SMC presenta sistemas críticos e integrados de generación de prototipos y pruebas y son
• Transferencia flexible de datos de entrada y salida
• Memoria interna de mayor capacidad y alta velocidad escalable hasta 512 MB por canal
• Motor de temporización y sincronización precisos
Un controlador FPGA es fundamental para la arquitectura SMC, el DataStream FPGA (DSF), el cual es el CPU del instrumento. Procesa todas las instrucciones, escucha los disparos y relojes,
enruta las señales externamente y administra tráfico de forma de onda entre el instrumento y la PC principal.
Figura 3. Arquitectura SMC
Para leer más sobre el SMC y cómo funciona, consulte el documento de Sincronización y Memoria (SMC) de National Instruments -- una Arquitectura Moderna para Pruebas de Señales Mixtas.
Temporización y Sincronización con la Tecnología T-Clock de National Instruments para Instrumentos Modulares
Muchas aplicaciones de pruebas y medidas exigen la temporización y la sincronización de múltiples instrumentos debido al número limitado de canales de estímulo/respuesta en un solo
instrumento y/o debido a la necesidad de canales de estímulo/respuesta de señales mixtas. Por ejemplo, un osciloscopio puede tener hasta cuatro canales y un generador de señales en hasta
dos canales. Las aplicaciones que van desde pruebas de señales mixtas en la industria de electrónica hasta espectroscopia láser en ciencias, requieren temporización y sincronización para mayor
cantidad de canales y/o tienen la necesidad de correlacionar canales de entrada y salida digital con canales de entrada y salida analógica.
La plataforma PXI, específicamente el chasis, tiene habilidades integradas de temporización y sincronización, permitiendo coherencia entre módulos PXI. Aún así, distribuir los relojes y disparos
para alcanzar dispositivos sincronizados de alta velocidad tiene sus retos. Las latencias e incertidumbres de temporización al organizar dispositivos de múltiples medidas alcanzan un límite
significativo para sincronización, especialmente para sistemas de medidas de alta velocidad. A estos problemas, que generalmente no se les da la importancia debida durante el diseño inicial del
sistema, limitan la velocidad y precisión de los sistemas sincronizados. Dos problemas principales que se originan en la distribución de relojes y disparos son desfase y fluctuación.
NI ha desarrollado un método de sincronización de patente pendiente a través del cual es usado otro dominio de señales de reloj para habilitar la alineación de relojes de muestreo y la distribución
y recepción de disparos. Los objetivos de la tecnología NI T-Clock (NI-TClk) son:
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• Sus ajustes de relojes de muestreo que pueden no estar necesariamente alineados inicialmente, a pesar de ser cerrados al reloj de referencia de 10 MHz.
• Permite el disparo preciso de los dispositivos sincronizados.
Los chasis PXI Express son diseñados para alcanzar desfase entre ranuras de 100 ps máximo, lo cual es satisfactorio para la mayoría de las aplicaciones. Con la tecnología NI-TClk, usted puede
reducir esto a menos de 10 ps, permitiendo mayor coherencia de fase de múltiples canales para instrumentos modulares de alta velocidad.
La sincronización NI-TClk es flexible y variada; puede resolver los siguientes casos de uso:
• Ampliación de la sincronización de un solo chasis PXI hasta varios chasis PXI para dirigir sistemas de gran cantidad de canales usando los módulos de control y temporización del sistema
NI PXI-665x y NI PXIe-667x
• Dispositivos de sincronización homogénea y heterogénea que se ejecutan al mismo tiempo o a diferentes velocidades de muestreo, usando relojes de muestreo internos y externos
El propósito de la sincronización NI-TClk es hacer que los dispositivos respondan a disparos al mismo tiempo. El mismo tiempo medio en el mismo periodo de muestreo con alineamiento muy
estrecho para los relojes de muestreo. La sincronización NI-TClk se logra al tener cada dispositivo generando un reloj de disparo que se obtiene del reloj de muestreo. Los disparos son
sincronizados a un pulso TClk. Un dispositivo que recibe un disparo desde una fuente externa o lo genera internamente, entonces envía la señal a todos los dispositivos, incluyendo a sí mismo en
una caída de TClk. Todos los dispositivos reaccionan al disparo en la siguiente caída de TClk.
Para conocer más sobre NI-TClk y cómo funciona, consulte el documento La tecnología T-Clock de National Instruments para Temporización y Sincronización de Instrumentos Modulares .
Tecnología NI-STC3 de Temporización y Sincronización para Adquisición de Datos Multifunción
La tecnología NI-STC3 de temporización y sincronización ofrece un nuevo nivel de rendimiento a los dispositivos DAQ multifunción de la Serie X. Esta tecnología es el controlador detrás de las
características avanzadas digitales, de temporización, disparo, sincronización, contador/temporizador y de bus maestro.
Una tarea repetida es una tarea de medidas que ejecuta una operación específica cada vez que ocurre un evento de disparo específico. Las generaciones anteriores de la tecnología de
sincronización y temporización eran solamente capaces de repetir operaciones de contador, lo cual podía ofrecer relojes de muestreo repetidos para otras tareas pero creaba código algo
complejo. La tecnología NI-STC3 ahora equipa todas las tareas de adquisición y generación con habilidades repetidas inherentes.
La tecnología NI-STC3 también ofrece una base de tiempo más rápida de 100 MHz, reemplazando la base de tiempo de 80 MHz usada por los dispositivos anteriores para varias aplicaciones de
contador. La base de tiempo de 100 MHz también es usada para generar muestreo analógico y digital o razones de actualización, comparado con una base de tiempo de 20 MHz usado en
dispositivos anteriores. Para generar velocidades de muestreo arbitrarios, la razón de reloj generada ahora puede estar significativamente más cerca de la razón solicitada por el usuario, debido a
que la velocidad es 5 veces mayor. Además, la base de tiempo más rápida y un mejor frente del dispositivo, reducen el tiempo entre los disparos y el primer límite de reloj de muestreo, lo cual
mejora el grado de reacción del dispositivo ante los disparos.
La funcionalidad de entrada de contador a búfer, usando la tecnología NI-STC3, ha mejorado sus habilidades del procesador en áreas de medidas de periodo y frecuencia a búfer. Aunque usted
puede continuar seleccionado implícito como el tipo de temporización, ahora también puede seleccionar reloj de muestreo. Al usar un reloj de muestreo como el tipo de temporización, usted
realiza medidas de frecuencia y periodo a búfer al contar una base de tiempo (contado por el contador embebido), así como la señal conocida hasta el límite de incremento del reloj de muestreo.
Sin embargo, el reloj de muestreo es una señal que usted debe especificar y crear. Entonces usted divide la frecuencia ideal de la base de tiempo interna entre su cantidad para encontrar la
frecuencia efectiva hasta el siguiente límite del reloj de muestreo.
La tecnología NI-STC3 también ofrece varias características para E/S digital y líneas de entrada de función programable (PFI) en los dispositivos de la Serie X. Estos incluyen estados de
encendido programables, temporizadores tipo watchdog, detección de eventos y nuevos filtros PFI.
Con la tecnología NI-STC3, usted ahora puede lograr operaciones analógicas, digitales y de contador más avanzadas que nunca. Además, las aplicaciones que anteriormente requerían recursos
internos adicionales o que eran difíciles de programar, ahora pueden ejecutarse independientemente con menos código NI-DAQmx.
Para conocer más sobre NI-STC3 y cómo funciona, consulte el documento La Tecnología NI-STC3 de National Instruments para Temporización y Sincronización .
Algoritmo de Calibración para Adquisición de Datos con NI-MCal
NI-MCal es un algoritmo de calibración basado en software que genera un polinomio de tercer orden para corregir el error de medida de las tres fuentes de voltaje: desfase, ganancia y
no-linealidad. Al usar correcciones de medidas basadas en software, NI-MCal puede optimizar cada rango seleccionable con un polinomio de corrección único que no puede arreglar la calibración
basada en hardware.
El algoritmo NI-MCal se ejecuta cuando es llamada una función de auto-calibración desde el software como LabVIEW. En una PC típica moderna, NI-MCal toma menos de 10 segundos en
caracterizar no-linealidad, ganancia y desfase y para evitar los polinomios de corrección en el EEPROM interno. Las medidas subsecuentes son escaladas automáticamente por el software
controlador del dispositivo antes de ser regresado a través del software de aplicación. A diferencia de otros esquemas de auto-calibración, NI-MCal tiene la habilidad única de regresar datos
calibrados desde cada canal en un escaneo, aún si los canales están en diferentes rangos de entrada. Esto es porque NI-MCal determina, guarda y aplica los polinomios de corrección para cada
rango de entrada en el dispositivo. Otros mecanismos de auto-calibración usan componentes de hardware para corrección de datos y no pueden cargar de manera dinámica funciones de
corrección lo suficientemente rápido para ofrecer precisión cuando los rangos de entrada son usados en un solo escaneo. En cambio, NI-MCal utiliza software para corrección de datos, lo cual
puede cargar y aplicar fácilmente funciones de corrección específicas de canales, aún escaneando a las razones máximas del dispositivo.
A diferencia de otros, NI-MCal realiza técnicas de auto-calibración al corregir error de no-linealidad además de aplicar funciones de corrección de datos para todos los canales en una secuencia
de escaneo. Al eliminar las limitantes de los componentes de hardware usados tradicionalmente para corrección de error de dispositivos y al usar la potencia y la velocidad del software y
procesamiento de PC, NI-Cal eleva el nivel para la precisión de las medidas y redefine la auto-calibración del dispositivo.
Para conocer más sobre NI-MCal y cómo funciona, consulte el documento La Metodología de Calibración NI-MCal Mejora la Precisión de las Medidas .
Opción de Entornos de Desarrollo de Software Flexibles
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Figura 4. Reducir el tiempo de desarrollo con programación gráfica LabVIEW.
Los instrumentos modulares PXI de NI son compatibles con SOs Windows, Y los SOs en tiempo real para aplicaciones que requieren operación determinística y distribuciones Linux comunes.
Esto ofrece la flexibilidad que usted necesita para diseñar su sistema de instrumentación modular.
SOs Windows
El desarrollo y operación de un sistema PXI basado en Windows no es diferente a una PC estándar basada en Windows. Por lo tanto, usted no tiene que reescribir el software de aplicación
existente o aprender nuevas técnicas de programación al cambiar entre sistemas basados en PC y basados en PXI.
Si usted escoge PXI, puede reducir su tiempo de desarrollo y automatizar rápidamente sus instrumentos usando NI LabVIEW, un lenguaje intuitivo de programación gráfica que es un estándar en
la industria para pruebas o NI LabWindows™/CVI para desarrollo C. También puede usar otros lenguajes de programación comon Visual Studio .NET, Visual Basic, and C/C++.
Además, los controladores PXI pueden ejecutar aplicaciones desarrolladas con software de administración de pruebas como NI TestStand. Para más información sobre desarrollar arquitecturas
para PXI, lea esta nota técnica sobre desarrollar una arquitectura de software modular .
SOs en Tiempo Real
Como una alternativa a sistemas basados en Windows, usted puede utilizar una arquitectura de software en tiempo real para aplicaciones de tiempo crítico que requieren velocidad determinista y
operación sin interfaz (sin teclado, mouse o monitor). Los SOs en tiempo real le ayudan a priorizar tareas para que las tareas más críticas siempre tomen control del procesador, lo cual reduce la
fluctuación. Usted puede simplificar el desarrollo de sistemas en tiempo real al usar versiones en tiempo real de entornos de desarrollo estándares en la industria como los módulos LabVIEW
Real-Time y LabWindows/CVI Real-Time. Los ingenieros que construyen sistemas PXI de pruebas de control de hardware o dinámicos pueden usar software de pruebas en tiempo real como NI
VeriStand para reducir el tiempo de desarrollo. Visite el portal de medidas en tiempo real para aprender más sobre pruebas determinísticas.
SOs Linux
NI también soporta varios dispositivos de hardware, incluyendo instrumentos modulares en la plataforma PXI, en distribuciones comunes de Linux. Visite el Portal Linux de National Instruments
para obtener información sobre soporte para Linux.
Servicios de Medida y Control
Los instrumentos modulares de NI tienen interfaces de software robustas como NI Measurement & Automation Explorer (MAX), NI-DAQmx, Virtual Instrument Software Architecture (VISA),
controladores LabVIEW Plug & Play y controladores Interchangeable Virtual Instrument (IVI). Este software de servicios de medida y control ofrece interfaces modulares de hardware para
configurar y programar sus pruebas. La mayoría de los instrumentos modulares de NI se venden con paneles frontales (SFP), los cuales usted puede usar para depurar rápidamente su
instrumento. Estos paquetes de software de servicios de medida y control le ayudan a evitar el desarrollo de programas de pruebas que están permanentemente sujetos a hardware específico y a
canales en su sistema de pruebas, lo cual incrementa la facilidad de reutilización del código. Conozca cada uno de estos componentes.
Administrador de Configuración
Un administrador de configuración, como MAX, presenta una vista indefinida del hardware de medida. Con MAX, usted puede definir los nombres de los canales para organizar señales o
especificar funciones de escala para convertir señales digitalizadas para cantidades de medidas. El principal beneficio del administrador de configuración es la integración con los entornos de
desarrollo de aplicaciones (ADE). Esta integración le da la habilidad de integrar fácilmente múltiples medidas en una sola aplicación sin programación tediosa. Sin estas herramientas de
configuración, usted tiene que emplear tiempo configurando estas funciones de medidas.
Conectividad a Instrumentos
Al integrar instrumentos tradicionales existentes en la estructura del software de pruebas debe aprovechar las tecnologías, como controladores de instrumentos Plug-and-Play e IVI para facilitar la
comunicación con estos instrumentos y su capacidad de intercambio. Un controlador de instrumentos Plug-and-Play es un conjunto de funciones o VIs en el caso de LabVIEW, que controlan un
instrumento programable. Los controladores de instrumentos le ayudan a comenzar a trabajar usando el instrumento desde su PC y a ahorrar tiempo de desarrollo y costos, ya que no necesita
aprender el protocolo de programación para cada instrumento. Con opción abierta, los controladores de instrumentos bien documentados, usted puede personalizar su operación para mejor
rendimiento.
IVI implementa una estructura de controlador que facilita la capacidad de intercambio de los instrumentos. Un controlador IVI utiliza un API general para cada tipo de instrumento e implementa por
separado el controlador para comunicar con instrumentos particulares. Al separar la interfaz de programación de aplicaciones (API) de la implementación particular del controlador para cada
instrumento, usted puede diseñar un sistema usando un osciloscopio compatible con IVI; una vez que el sistema es desplegado, usted puede cambiar la marca y el modelo del instrumento sin
tener que reescribir la aplicación de prueba.
Herramientas de Programación
Los controladores pueden ir un paso adelante proporcionando un API fácil de usar al añadir herramientas para facilitar el desarrollo y para ahorrarle tiempo. Los asistentes de E/S son
herramientas interactivas para crear rápidamente una medida o aplicación de estímulo. Un ejemplo de un asistente de E/S es el DAQ Assistant, el cual es parte del controlador NI-DAQmx. El DAQ
Assistant le presenta un panel para configurar parámetros comunes de adquisición de datos sin programación. Es necesaria la combinación de los asistentes fáciles de usar y los entornos de
programación para ofrecer rápido desarrollo y habilidades para cumplir con una variedad de requerimientos de aplicación.
Programas Ejemplo
Además del software de servicios de medida y control del que se habló anteriormente, todos los instrumentos modulares de NI se venden con varios programas ejemplo. Por ejemplo,
NI-DCPower, un controlador de instrumentos compatible con IVI para fuentes DC de precisión de NI, incluye programas ejemplo que demuestran conceptos que van desde simple configuración
hasta barridos y monitoreo avanzados.
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Figura 5. Programas Ejemplo Incluidos con NI-DCPower
Verificación de Producción de Instrumentos Modulares
Después de que un diseño de instrumento modular NI PXI se manda a producción, NI se asegura que cada unidad de producción sea evaluada para cumplir con sus especificaciones. Cada
instrumento modular producido es sometido a horas de rigurosas pruebas para asegurarse de que opera de manera confiable, una vez desplegado en la aplicación deseada. Estas pruebas
incluyen inspección óptica automatizada (AOI), pruebas en circuito (ICT), prueba funcional inicial (IFT), diagnóstico de tensión ambiental (ESS) y prueba funcional de verificación (FVT).
La primera inspección realizada, AOI, compara en la memoria un boceto de un producto conocido con cada producto nuevo fabricado para ubicar errores de orientación de las partes o partes
faltantes. ICT verifica cortos, circuitos abiertos o componentes al revés, al evaluar la resistencia entre todos los puntos de prueba de la tarjeta. IFT asegura la funcionalidad básica del producto en
la que verifica una secuencia de encendido correcta. ESS consta de una prueba de acondicionamiento térmico (TCT) y un diagnóstico de tensión acelerada (HASS), durante los cuales las tarjetas
de producción se someten a una cierta temperatura y sus respuestas, no estimuladas y bajo estimulación, son monitoreadas. Esto puede durar varias horas hasta varios días. Finalmente, las
unidades de producción experimentan una FVT, durante la cual todos los instrumentos modulares son calibrados para asegurar que cumplen con las especificaciones. Para algunos instrumentos,
sus estaciones de pruebas FVT son calibradas cada semana para asegurar la precisión.
Figura 6. Cámara de Temperatura HASS en National Instruments
Otras Ventajas del Diseño NI PXI
Para más información sobre las ventajas de diseño PXI de National Instruments, vea las otras secciones de esta serie:
Ventajas de Diseño de la Plataforma NI PXI
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