Laboratorio 6

Difraccio´n de la luz

6.1 Objetivos
1. Estudiar el patr´on de difraccio´n dado por rendijas rectangulares
sencillas, dobles y mu´ltiples.
2. Medir las constantes correspondientes en cada caso

6.2 Preinforme
1. ¿En qu´e consiste el fen´omeno de difraccion de la luz?
2. ¿Qu´e condiciones debe cumplir una fuente de luz para que produzca
un patron de difracci´on observable?
3. ¿Cu´ales son las formulas que definen la posicion de los maximos y m
´ınimos en un patro´n de difraccio´n?
4. ¿Cu´al es la diferencia entre la difraccio´n de Fresnel y la difraccio´n de
Fraun- hofer?. ¿Est´an fundamentadas en principios f´ısicos diferentes?

6.3 Materiales
• Laser de Estado S´olido λ = 670 × 10−9 m
• Rendijas rectangulares sencillas.
• Rendijas rectangulares dobles y mu´ltiples.
• Xplorer GLX
• Sensor de luz

51
6.4. FUNDAMENTO
52 TEO LABORATORIO 6. DIFRACCIO´ N 52
DE LA
´ RICO LUZ
• Banco ´optico

• Sensor de traslaci´on

• Rejilla colimadora

6.4 Fundamento Te
´orico
En general el fen´omeno de la difracci´on se presenta cuando una onda
interactu´a con objetos cuyas dimensiones son comparables con su longitud de
onda. Desde el punto de vista de la teor´ıa, que considera la luz como un feno
´meno ondulatorio, el estudio de la ´optica se dividide en dos grandes campos: el
de la o´ptica geom´etrica
y el de la ptica f´ısica. Si el objeto con el cual interactu´a la luz posee
dimensiones
muy grandes comparadas con su longitud de onda, se estar´a en el campo de
la ptica geom´etrica; pero si las dimensiones del objeto son comparables con la
lon-
gitud de onda de la luz se estar en el campo de la o´ptica f´ısica. La longitud
de
onda de la luz visible esta´ en el rango entre 780 nm y 390 nm
aproximadamente. Para que la luz pueda producir un patro´n de difracci´on
observable, ´esta debe in- teractuar con objetos que posean dimensiones
comparables con estos valores; es por esta raz´on que el fen´omeno no es f
´acilmente apreciable a simple vista siendo necesarias ciertas condiciones de
laboratorio para ser observado.
A su vez el estudio de la difraccio´n puede dividirse en dos partes: la difraccio´n
de Fraunhofer y la difracci´on de Fresnel. En la difracci´on de Fraunhofer se
supone que las ondas incidentes al objeto son planas al igual que las ondas
emergentes del mismo. La distancia entre el objeto y la pantalla sobre la cual se
observa el patro´n, debe ser grande comparada con las dimensiones del objeto.
La difracci´on de Fresnel tiene lugar cuando la fuente puntual de las ondas
incidentes, o el punto de observaci´on desde el cual se las ve, o ambos, est´an a
una distancia finita del objeto. El dispositivo experimental que se utiliza en este
laboratorio coincide con la concepci´on de Fraunhofer de la difracci´on.

6.4.1 Difracci´on de Fraunhofer por una rendija

rectangular
La teor´ıa asociada con la difraccion por una rendija rectangular considera
una rendija muy angosta (de las dimensiones de la longitud de onda de la luz) y
muy larga. En concordancia con el principio de Huygens, cada punto del
6.4. FUNDAMENTO
53 TEO LABORATORIO 6. DIFRACCIO´ N 53 DE LA
´ RICO frente de onda plano se convierteLUZ en fuente de pequen˜as ondas esf´ericas
secundarias; estas ondas secundarias, llamadas ondas difractadas, luego se
recombinan constructiva o destructivamente en una pantalla sobre la cual es
posible observar un patro´n de difracci´on cuya distribuci´on de intensidad
luminosa a lo largo de ella, corresponde al dibujo de la figura 6.1.
Figura 6.1: Distribuci´on de intensidad en el diagrama de difraccio´n de una
rendija angosta y larga.

En la pr´actica lo que se observa en la pantalla es una zona muy brillante

central acompan˜ada de una serie de zonas brillantes y oscuras (las brillantes
cada vez de intensidad menor), alternadamente alrededor de dicho ma´ximo.
(Figura 6.2.) Puede demostrarse que la condici´on para que haya interferencia
destructiva en la pantalla se puede expresar mediante la ecuaci´on:
b Sen θ = mλ m = 1, 2, 3, ....
(6.1) Donde: b es el ancho de la rendija, θ es la separacio´n angular entre el
centro del
m´aximo central y el centro de los m´ınimos o regiones oscuras observados,
m
es el orden del patr´on de difraccio´n para los m´ınimos de intensidad (m
aumenta hacia los extremos del patr´on de difracci´on) y λ es la longitud de
onda de la luz incidente.

6.4.2 Difracci´on de Fraunhofer por una rendija

doble
El patro´n de difracci´on por dos rendijas paralelas iguales, resulta de la
interferencia de los dos patrones de difracci´on provenientes de cada una de las
rendijas. Lo que se observa en la pantalla es un patr´on de interferencia de Young
producido por dos rendijas rectangulares modulado por un patr´on de difraccion
de Fraunhofer por una rendija rectangular. En este caso los m´aximos de
interferencia est´an dados por la siguiente expresi´on:
 d Sen θ = mλ m = 1, 2, 3
(6.2) Donde: d es la distancia entre las dos rendijas, θ es la separaci´on angular
entre el
m´aximo de interferencia central y los m´aximos secundarios, m es el orden
del
Figura 6.2: Diagrama de difraccio´n de Fraunhofer producido por una rendija
an- gosta y larga.

Figura 6.3: Diagrama de difracci´on de Fraunhofer debido a dos rendijas

paralelas angostas y largas.

patron de difracci´on para los m´aximos de interferencia y λ la longitud de

onda de la luz.

6.4.3 Difracci´on por mu´ltiples rendijas -

Rejillas
La rejilla de difracci´on consiste en un gran nu´mero de rendijas paralelas id
´enticas de ancho b y separadas una distancia d. Cuando la rejilla es iluminada
conve- nientemente, el patron observado en la pantalla consiste en la
distribuci´on de interferencia producida por N rendijas, modulado por un patron
de difracci´on de una sola rendija. En la pr´actica lo que se observa es una forma
parecida al patron de difraccio´n para la rendija doble extendida al caso de N
rendijas. En este caso la condici´on para interferencia constructiva est´a dada
por la expresi´on:

d Sen θ = m λ. (6.3)
6.5. PROCEDIMIENTO
55 LABORATORIO 6. DIFRACCIO´ N DE
55 LA
LUZ

Figura 6.4: Distribuci´on de intensidad producida por una red de difraccio´n

sobre un plano normal a la luz incidente y paralelo a la red.

Donde: d es la distancia entre las rendijas o constante de la rejilla, θ es la separacio

´n angular entre los maximos secundarios y el maximo central, m es el orden
del patron de difracci´on para m´aximos de intensidad, λ es la longitud de onda
de la luz utilizada para obtener el patr´on de difracci´on.

6.5 Procedimiento
IMPORTANTE: MANIPULAR LAS RENDIJAS CON SUMO CUIDADO
Y SOLO GIRANDO LA RUEDA SELECTORA—NO TOCAR LAS
RENDIJAS DIRECTAMENTE.

6.5.1 Difracci´on por una rendija rectangular

1. Coloque el accesorio de rejillas simples en el banco o´ptico. Debe sujetarlo
lateralmente y hacer poca presi´on para que se acople al banco. No forze el
accesorio pues lo puede quebrar. Situ´elo a 1.00 m de distancia del sensor
de luz.
2. Encienda el diodo la´ser y asegurese que la luz incida sobre la primera y m
´as estrecha de las rejillas rectangulares.
3. Asegu´rese que el colimador situado en frente del sensor de luz est´e
colocado correctamente. Debe estar en la abertura ma´s estrecha (0,1 mm)
para mi- nimizar la luz ambiental incidente sobre el sensor. Adem´as asegu
´rese que el
 Figura 6.5: Montaje experimental.

patro´n de interferencia observado incida horizontalmente en la parte

blanca del colimador. Gu´ıese por la Figura 6.6
4. Conecte el Xplorer a los sensores de luz y traslacio´n. Utilize dos de las
cuatro conexiones superiores del Xplorer.
5. Asegu´rese del correcto posicionamiento del sensor de traslacio´n.
Encienda el Xplorer. Inicialmente el explorer mostrara´ una lista de sensores
a escojer. Busque y seleccione la opci´on LIGHT SENSOR.

6. Vaya a la pantalla HOME del explorer y luego seleccione DATA FILES.

Ah´ı encontrara´ el archivo difraccio´n. Selecci´onelo y oprima la opci´on
OPEN.
Ahora ya tendra cargadas las configuraciones necesarias para tomar sus
´
datos.
7. Vaya de nuevo al HOME y seleccione el ´ıcono GRAPH. Una vez ah
´ı observar´a unos ejes de voltaje vs posici´on. Este voltaje es proporcional
a la intensidad de la luz medida por el sensor y la posici´on dar´a el valor
relativo de la misma para cada m´aximo o m´ınimo del patr´on de difracci
´on.
8. El sensor de traslacion tiene un tope asegurado con tornillo. Mu´evalo de tal
forma que el sensor de luz se encuentre justo en uno de los extremos visibles
 Figura 6.6: Correcto alineamiento del patro´n de interferencia.

del patron de difracci´on. En ese punto asegure el tope con el tornillo.

Todas sus medidas para ese patr´on se har´an a partir de ese punto.
9. Para tomar la primera medida, un miembro del grupo deber rotar las poleas
del sensor de traslacio´n lentamente para mover todo el sistema desde el tope
pl´astico hasta el otro extremo del patron de difracci´on. Otro miembro
del equipo debera´ iniciar la medida presionando la tecla cuando
empieze la
traslacio´n del sistema y dar fin a la medida presionando de nuevo
debera´
la tecla cuando se llegue al extremo del patro´n. La forma sugerida
de trasladar el sistema se puede observar en la Figura 6.7

10. En la pantalla del Xplorer debera´ observarse un patro´n de difraccio´n

similar al de la Figura 6.2. Si no lo observa repita su medida. Intente
mover ma´s lentamente el sistema del sensor de luz. El recorrido total del
sensor no debe ser menor a 10 segundos ni mayor a un minuto.

11. Repita sus medidas ahora para la segunda rendija. Para localizarla afloje el
tornillo del accesorio y traslade suavemente la plaqueta con rendijas hasta
que la luz laser incida sobre la segunda.

12. Recuerde que cada vez que usted presiona la tecla para tomar nuevos
datos, el Xplorer crea un nuevo gra´fico con una nueva tabla de datos
asociada. Estos datos se salvan bajo el nombre de RUN 1, RUN 2, ... etc.
Si alguna toma de datos no es buena puede borrarla seleccionando el texto
run 1, run
2, ... etc. en la pantalla, lo cual se logra oprimiendo el boto´n
mientras se est´a observando el gr´afico.
 Figura 6.7: Forma recomendada para trasladar el sistema del sensor de luz.

6.5.2 Difracci´on por rendija doble

1. Monte el accesorio con mu´ltiples rendijas en lugar del accesorio de
rendijas simples.

2. Escoja en primer lugar una de las rendijas dobles disponibles en el accesorio.

Rote el accesorio para hacer incidir la luz l´aser sobre ella.

3. Repita la toma de datos de la misma forma que para la rendija sencilla.

Ahora su patr´on de difraccio´n ser parecido al de la Figura 6.3.
debera´
Recuerde que puede repetir su toma de datos hasta obtener el patron de
difraccio´n m´as claro posible. Puede que sea necesario modificar la
sensibili- dad del sensor de luz. Para hacer esto vaya a la pantalla HOME
y luego seleccione el ´ıcono SENSORS. Una vez ah´ı navegue por los menu
´s hasta en- contrar la opcio´n de LOW (1X), MEDIUM (10X) y HIGH
(100X). Modifique esta sensibilidad para intentar mejorar sus medidas.

4. Repita su toma de de datos para otra rendija doble con una separaci´on
entre rendijas diferente.

5. Recuerde de anotar qu´e medidas (run 1, run 2, ... etc.) corresponden a

cada rendija. Deben anotar tambi´en los par´ametros de las rendijas
anotados en
6.6. ANA´ LISIS
59 los accesorios de rendijas simples y mu´ltiples.

6. Recuerde ademas que usted puede escojer cualquier par de rendijas dobles del
conjunto disponible. Cada grupo escoger´a as´ı rendijas diferentes en
general.

6.5.3 Mu´ltiples rendijas de Difracci

´on
1. Con el mismo montaje utilizado en el numeral anterior haga incidir la luz del
la´ser sobre alguna de las posiciones del accesorio con m´as de dos rendijas.
2. Realize la toma de datos teniendo en cuenta los pasos seguidos anteriormente.

3. Recuerde siempre anotar qu´e medidas (run 1, run 2, ... etc.)

corresponden a cada rendija.

6.5.4 Transferencia de Datos

Para salvar sus datos de la pr´actica, el Xplorer se debe conectar al puerto
USB del computador. Una vez hecho esto encienda el computador y localize el
´ıcono de PASCO en la parte inferior derecha de windows. Haga click derecho
en ´este
´ıcono y seleccione abrir. Aparecera´ una ventana en donde debe seleccionar
abrir
DataStudio.
Una vez abierto el programa DataStudio seleccione el boto´n SETUP y aparecer
´a otra ventana. En esta ventana aparece un dibujo del Xplorer y al lado un
´ıcono de archivos. Seleccione este ´ıcono y cargue los datos del archivo
difracci´on. El programa abrir´a los datos y gra´ficos guardados en el Xplorer.
Ahora busque cada uno de sus gr´aficos obtenidos y haga click en el menu´
superior DISPLAY y luego EXPORT DATA (Exportar Datos). Esta opcio´n
le permite exportar sus datos en un archivo plano con extensi´on TXT, el cual
puede ser le´ıdo por un programa como el EXCEL. Salve as´ı todos sus datos de
gra´ficos en archivos diferentes y env´ıeselos por correo electronico o paselos a
una memoria flash.

6.6 An
´alisis
Utilizando un programa como el EXCEL, mida gr´aficamente las distancias
entre el m´aximo central y m´ınimos a cada lado en el caso de difraccio´n por
una sola rendija. Para dos o mas rendijas mida la distancia entre el maximo
central y los m´aximos y m´ınimos secundarios laterales.
• Con los datos obtenidos en el numeral 6.5.1 y con la ecuacio´n 6.1.
Encuentre el ancho de la rendija rectangular usada. Compare el valor
obtenido con el proporcionado por el fabricante. Estime el error en la
medida de b, teniendo en cuenta que b es funci´on de θ.
60 LABORATORIO 6. DIFRACCIO´ N DE LA
LUZ
• Con los datos obtenidos en el numeral 6.5.2 y con las ecuaciones 6.1 y 6.2,
encuentre la separacio´n d y el ancho b para cada una de las rendijas
dobles. Halle el error respectivo. Compare con los valores escritos en las
rendijas.
• Con los datos obtenidos en el numeral 6.5.3 y con la ecuaciones 6.1 y 6.3,
encuentre el nu´mero de rendijas y sus para´metros. Compare estos
resultados con los proporcionados por el fabricante.
BIBLIOGRAF´ıA

• ALONSO, Marcelo y FINN, Edward J. F´ısica. Campos y Ondas. Vol. 2.

M´exico : Fondo Educativo Interamericano, 1976.

• ALONSO, Marcelo y FINN, Edward J. F´ısica. Mec´anica. Vol. 1. M

´exico : Fondo Educativo Interamericano, 1976.

• Raymond A. Serway,F´ısica tomo II: McGraw-Hill,1997

• GOLDEMBERG, Jos´e. F´ısica general y experimental. Vol. 3. M

´exico : Interamericana, 1974.

• GOTTLIEB, Herbert H. Metrologic Instruments Inc. Experiments using a

helium-neon laser. 11 ed. New Jersey, 1984.

• HECHT, Eugene y ZAJAC, Alfred. O´ ptica. Wilmington, Delaware :

Addison- Wesley Iberoamericana, 1986.

• GRAFTON, Stephen y John W. Experiments in Nuclear Science.

Second. edition. Alpha Editions. USA. 1971.

58