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Informe de Difracción de Rayos X

El documento presenta un informe sobre la práctica de laboratorio de difracción de rayos X. Explica que la difracción de rayos X es una técnica para analizar cualitativa y cuantitativamente fases cristalinas en materiales naturales y sintéticos. Describe los servicios ofrecidos como preparación de muestras, análisis de minerales y arcillas, y cuantificación de fases mediante el método Rietveld. Presenta gráficas y tablas con los resultados del análisis por difracción de ray

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Juan Diego Tarazona
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Informe de Difracción de Rayos X

El documento presenta un informe sobre la práctica de laboratorio de difracción de rayos X. Explica que la difracción de rayos X es una técnica para analizar cualitativa y cuantitativamente fases cristalinas en materiales naturales y sintéticos. Describe los servicios ofrecidos como preparación de muestras, análisis de minerales y arcillas, y cuantificación de fases mediante el método Rietveld. Presenta gráficas y tablas con los resultados del análisis por difracción de ray

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INFORME DRX mineralogía de muestra total y el

método de agregados orientados para


DIFRACCION DE LOS RAYOS X análisis de arcillas.

 Obtención e interpretación de los


difracto gramas de polvo.
 Cálculo de parámetros
cristalográficos, tamaños de cristalito,
grado de orden, coeficientes de
dilatación térmica, descomposición y
deconvolución de perfiles de
difracción, simulación de perfiles de
difracción en arcillas, etc.
 Cuantificación de fases mediante el
Método Rietveld con el Programa
TOPAS.
 Integrantes: Henry Vega
Freddy Ortiz
Carlos Rodriguez
Juan Diego Tarazona

 Códigos: 1803677
1803597
1803719
1803752
 Materia: Materiales
 Docente: Erika Medina

INTRODUCCION:
GRAFICA:
La difracción de rayos X (DRX) es una de las
técnicas más eficaces para el análisis
cualitativo y cuantitativo de fases cristalinas
de cualquier tipo de material, tanto natural
como sintético.  Los servicios ofertados en
esta Unidad se resumen en los siguientes
puntos:

 Preparación de muestras de polvo y/o


agregado orientado para análisis por
DRX de materiales cristalinos,
fundamentalmente de muestras
geológicas utilizando el método de
polvo desorientado para análisis de la
ESTRUCTURA:

(2, 2,2)
1 1 1
, ,
2 2 2
1 1 1
, ,
2 2 2

(0, 2,2)
1 1 1
, ,
0 2 2
1 1
∞, ,
2 2

(0, 4,0)

1 1 1
, ,
0 4 0
1
∞, ,∞
4

(1, 3,1)
1 1 1
, ,
1 3 1
1
1 , ,1
3
(1, 3,1)
1 1 1
, ,
1 3 1
1
1 , ,1
3

(2, 4,2)
1 1 1
, , GRAFICA:
2 4 2
1 1 1
, ,
2 4 2

TABLA
(0, 4,2)
HKL 2θ θ D A
1 1 1 (nm) (nm)
, , 111 32 16 0.279 0.483
0 4 2
020 37 18.5 0.243 0.486
1 1 022 53.2 26.6 0.172 0.487
∞, ,
4 2 131 63.8 31.9 0.146 0.484
222 66.7 33.35 0.140 0.485
040 78.9 39.45 0.121 0.484
LISTA DE LOS PICOS: 133 87.4 43.7 0.112 0.488
042 90.1 45.05 0.109 0.487
242 101.8 50.9 0.099 0.485

D= nλ/2Sinθ; n = 1, λ = 0.1542nm.
A = d*(h²+k²+l²) ^ ½
D = distancia.
A = arista.
CONCLUSIONES
Luego de realizar la práctica de laboratorio
“Difracción de rayos X” se puedo observar
que al momento de las ondas (rayos x) las
cuales tenían una frecuencia de 60Hz
impactaron contra la muestra de cloruro de
sodio la cual con anterioridad ya se sabía qué
compuesto se estaba analizando, el
difractometro de RX arrojo una serie de
gráficas y datos con los cuales se pudieron

hallar la distancia interplanar ( D= 2 sinn λ θ ) y


el valor de arista ( √ D∗( h2 + k 2+ l2) ) también
se pudo graficar los planos cristalográficos
gracias a los índices de Miller proporcionados
por el difractometro de RX; este laboratorio
se realizó con el fin de poder determinar la
composición de un material gracias a la
obtención de sus planos cristalográficos.

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