¿CÓMO DETERMINAR LA LONGITUD DE ONDA DE

EMISIÓN DE UN LÁSER?; UN EXPERIMENTO DE

INTERFERENCIA
Eduardo C. Martínez*

Curso de Laboratorio de Óptica I. Maestría en Ciencias Ópticas INAOE

Luis Enrique Erro # 1, Tonantzintla, Puebla, México C.P. 72840
Teléfono: (222) 266.31.00

*e-mail: e_casas@[Link]

Resumen

La interferometría es una de las áreas de investigación más fascinantes de la óptica experimental; de

aquí se despliegan aplicaciones que dan origen a campos de desarrollo como la metrología. En este
trabajo mostramos un método para determinar la longitud de onda 𝜆 de un láser 𝐻𝑒 𝑁𝑒 a partir la
relación entre la diferencia de camino óptico respecto a la variación de la distancia del espejo móvil
del en un arreglo experimental basado en el interferómetro de Michelson – Morley. La principal
contribución de la técnica expuesta se emplea en la caracterización de cualquier fuente láser.
Encontramos que la 𝜆 característica del láser 𝐻𝑒 𝑁𝑒 es igual a: 637 ± 1.6 × 10−3 𝑛𝑚.

Palabras Clave: Interferómetro de Michelson – Morley, 𝜆 característica, 𝐻𝑒 𝑁𝑒, camino óptico.

I. INTRODUCCIÓN detectados en las diferencias en los caminos

ópticos (distancia recorrida) entre los dos
La aplicación más directa del fenómeno
haces (ya que las diferencias producen
de interferencia está dado en el campo de
cambios notables en el patrón de
investigación relacionado con la
interferencia generado). En consecuencia, el
interferometría, donde generalmente se
desarrollo de la interferometría óptica ha alto
trabaja con luz, radio u ondas de sonido.
impacto como técnica de medición durante
Estos estudios pueden incluir características
más de cien años. Cuya precisión ha
específicas de las ondas y de los materiales a
mejorado con el desarrollo del láser.
través del cual se propagan. Por otro lado, la
interferometría desarrolla técnicas que El experimento de Michelson-Morley es
emplean ondas de luz para determinar uno de los experimentos clásicos de física y
pequeños cambios de desplazamiento fue diseñado para tratar de detectar las
(mediciones muy precisas) por medio de dos variaciones del éter a partir del movimiento
o más haces de luz, formando un patrón de de la tierra a través del espacio. El éter era
interferencia donde los dos rayos se considerado por los físicos del siglo XIX
superponen. como un fluido invisible e incompresible,
que llenaba todo el espacio y se creía que a
Dado que la longitud de onda del haz es
muy corta, pequeños cambios pueden ser
través del éter las ondas de luz se • Las fuentes deben ser monocromáticas, es
propagaban hacia la tierra desde el Sol. decir, de una longitud de onda única. [1]

El experimento de Michelson-Morley fue Por otro lado, derivaremos las ecuaciones

diseñado para apreciar el efecto que la de interferencia básicas de forma vectorial.
velocidad de la tierra haría sobre el medio
De acuerdo con el principio de
cuando se moviera en la dirección opuesta a
superposición, la intensidad del campo
uno de los haces de luz; con esta propuesta se
eléctrico 𝐸⃗ , en un punto del espacio, que
creía que la luz el rayo se retrasaría por viajar
surge de los campos
contra el éter, pero en el experimento
demostró fue que el retraso no ocurrió y que 𝐸⃗ = 𝐸⃗1 + 𝐸⃗2 + ⋯ + 𝐸⃗𝑛 , (1)
los rayos llegaron al detector en el mismo
tiempo, independientemente de la dirección Por tanto, sin pérdida de generalidad,
en la que se colocara el interferómetro. considere dos fuentes puntuales, 𝑆1 y 𝑆2 , que
emiten ondas monocromáticas de la misma
Con este experimento fue posible frecuencia en un medio homogéneo,
determinar que el éter no existía y que la luz localizamos un punto de observación 𝑃 lo
viaja a la misma velocidad suficientemente lejos de las fuentes para que
independientemente del marco de referencia. en 𝑃 los frentes de onda formen planos
(considere solo ondas polarizadas
En el experimento realizado logramos
linealmente de la forma)
verificar que las bandas de interferencia
generadas a partir de un interferómetro de 𝐸⃗1 (𝑟, 𝑡) = 𝐸⃗01 cos(𝑘⃗1 ∙ 𝑟 − 𝜔𝑡 + 𝜙1 ), (2)
Michelson-Morley después de medir las
franjas generadas por la rotación del 𝐸⃗2 (𝑟, 𝑡) = 𝐸⃗02 cos(𝑘⃗2 ∙ 𝑟 − 𝜔𝑡 + 𝜙2 ). (3)
interferómetro 90° pudimos ver que los
Entonces la irradiancia en 𝑃 está dada por:
patrones de interferencia no sufren
variación, lo que demuestra que la luz viaja a 𝐼 = 〈𝐸⃗ 2 〉 𝑇 . (4)
la misma velocidad en cualquier dirección
Donde: 〈𝐸⃗ 2 〉 𝑇 , es el promedio temporal de
(por lo tanto, como lo demostraron
la magnitud respecto a la intensidad del
Michelson-Morley en 1887, no existe el éter).
campo eléctrico al cuadrado.

Sabemos que 𝐸⃗ 2 = 𝐸⃗ ∙ 𝐸⃗ , por lo tanto:

II. CONCEPTOS TEÓRICOS 2 2 2 2
𝐸⃗ 2 = 𝐸⃗1 + 𝐸⃗2 + 2𝐸⃗1 ∙ 𝐸⃗2 , (5)
Como primer concepto importante,
consideramos el fenómeno de interferencia, el Tomando el promedio temporal de ambos
cual se genera cuando dos ondas lados, encontramos que la irradiancia se
mutuamente coherentes se superponen en convierte en:
algún lugar del espacio; en este contexto, 𝐼 = 𝐼1 + 𝐼2 + 𝐼1,2 , (6)
para observar interferencia en ondas de luz,
se deben cumplir las siguientes condiciones: siempre que:
2
• Las fuentes deben ser coherentes, es decir, 𝐼1 = 〈𝐸⃗1 〉 𝑇 , (7𝑎)
deben mantener una fase constante una 2
con respecto de la otra. 𝐼1 = 〈𝐸⃗2 〉 𝑇 , (7𝑏)
 𝐼1,2 = 2〈𝐸⃗1 ∙ 𝐸⃗2 〉 𝑇 . (7𝑐) En varios puntos en el espacio, la
irradiancia resultante puede ser mayor,
La última expresión se conoce como el
menor o igual a 𝐼1 + 𝐼2 , dependiendo del
término de interferencia. Al evaluarlo para
valor de 𝐼1,2, es decir, dependiendo de 𝛿. Una
un caso particular, y tomando que el
irradiancia máxima se logra cuando cos 𝛿 =
promedio del momento de alguna función
1, por tanto:
𝑓 (𝑡), tomada en un intervalo 𝑇, es:
𝑡+𝑇 𝐼𝑚á𝑥 = 𝐼1 + 𝐼2 + 2√𝐼1 𝐼2 , (15)
1
〈𝑓(𝑡)〉 𝑇 = ∫ 𝑓(𝑡´) 𝑑𝑡´ , (8) cuando 𝛿 = 0, ±2𝜋, ±4𝜋, … .En este caso
𝑇
𝑡 tenemos interferencia total constructiva.
por tanto, de esta expresión [3], tenemos: Se produce una irradiancia mínima
1 2 cuando las ondas están fuera de fase, los
⃗ 1 ∙ 𝑟 + 𝜙1 − 𝑘
〈𝐸⃗1 ∙ 𝐸⃗2 〉 𝑇 = 𝐸⃗0 cos(𝑘 ⃗ 2 ∙ 𝑟 − 𝜙2 ),
2 valles se superponen a crestas donde, cos 𝛿 =
(9) −1 y

donde se hizo uso del hecho de que 𝐼𝑚í𝑛 = 𝐼1 + 𝐼2 − 2√𝐼1 𝐼2 . (16)

1 1
〈𝑐𝑜𝑠 2 (𝜔𝑡)〉 𝑇 = , 〈𝑠𝑖𝑛2 (𝜔𝑡)〉 𝑇 = y
2 2 Esto ocurre cuando 𝛿 = ±𝜋, ±3𝜋, ±5𝜋 …
〈cos(𝜔𝑡) sin(𝜔𝑡)〉 𝑇 = 0. donde la interferencia que se genera es
Entonces el término de interferencia se destructiva.
expresa como: II.1. Interferómetro de Michelson
𝐼1,2 = 𝐼𝑜 cos(𝛿), (10)
Un esquema del interferómetro de
donde 𝐼𝑜 = ⃗𝐸01 ∙ ⃗𝐸02 y 𝛿 es la diferencia de fase Michelson se muestra en la siguiente imagen
que surge de la diferencia de camino óptico, Fig. 1.
respecto a la longitud y diferencia de ángulo
La luz de una fuente incide en un divisor
de fase inicial.
semireflejante 𝑆 recubierto en una superficie
Estas expresiones se pueden escribir de de una placa de vidrio paralela al plano;
una manera más conveniente al notar que: Dividiendo el haz dos con amplitudes casi
2
iguales.
2 ⃗𝐸01
𝐼1 = 〈𝐸⃗1 〉 𝑇 = , (11) El par de haces producidos son reflejados
2
en dos espejos planos 𝑀1 ; 𝑀2 Para
y
posteriormente regresar al divisor 𝑆, donde
2 se recombinan antes de que emerjan en el
2 ⃗ 02
𝐸
𝐼2 = 〈𝐸⃗2 〉 𝑇 = . (12) detector o la pantalla de observación.
2
El término de interferencia se convierte La diferencia de camino óptico entre los
en: dos brazos del interferómetro viene dada por
la diferencia de dos sumatorias, tomado
𝐼1,2 = 2√𝐼1 𝐼2 cos(𝛿), (13) respectivamente sobre los dos brazos, los
con lo cual la irradiancia total es: productos del espesor de cada medio
atravesado y su índice de refracción [4],
𝐼 = 𝐼1 + 𝐼2 + 2√𝐼1 𝐼2 cos(𝛿). (14) tenemos:
 𝑃 = ∑ 𝑛𝑑 − ∑ 𝑛𝑑 . (17) Entonces, en el Interferómetro de Michelson,
2 1 un haz atraviesa el divisor de haz 𝑆 solo una
vez, mientras que el otro lo atraviesa tres
La diferencia de camino óptico definida
veces; a lámina compensadora del mismo
por la ecuación (17) normalmente depende
material y que tiene el mismo grosor que 𝑆.
de la longitud de onda, ya que todos los
medios tienen una dispersión finita 𝑑𝑛⁄𝑑𝜆 La reflexión en el divisor de haz 𝑆 produce
que también es función de la longitud de una imagen del espejo 𝑀1 , Produciendo una
onda. Si la diferencia de camino óptico 𝑃 imagen virtual en 𝑀2 .
debe ser estrictamente independiente de
El patrón de interferencia observado es
longitud de onda, es necesario que ambos
por lo tanto lo mismo que el producido en
brazos contengan el mismo espesor de vidrio
una capa de aire limitada por el espejo 𝑀1 y
que tiene la misma dispersión.
𝑀2 .

𝑴𝟐
II.2. Aplicación del Interferómetro de
Michelson

Se puede usar un Interferómetro de

Michelson para determinar la longitud de
onda de cualquier fuente mediante la
aplicación de la ecuación:

Se puede usar un Interferómetro de

Michelson para determinar la longitud de
𝑴𝟏 onda de cualquier fuente mediante la
aplicación de la ecuación:
2𝑑
𝜆= , (18)
𝑁
donde 𝑑 es la distancia de separación relativa
espejo móvil
entre el divisor de haz y los espejos y 𝑁 el
número de franjas que colapsan o se
espejo fijo expanden dentro o fuera de la pantalla
láser cuando se mueve uno espejo respecto a otro.

II.3. Franjas No Localizadas

divisor Una fuente puntual monocromática

ubicada a una distancia finita da lugar a dos
fuentes puntuales virtuales, 𝑆1 y 𝑆2 ,
pantalla correspondientes con las imágenes de la
fuente reflejadas en 𝑀1 y 𝑀2 . Las franjas no
Figura 1. Esquema del interferómetro Michelson
localizadas son observadas en una pantalla
colocada una distancia 𝑙 respecto del espejo II.5. Franjas de igual espesor. Fizeau
móvil, como se muestra en la Fig. 2, Fig. 3 (a).
Si 𝑀1 y 𝑀2 hacer un pequeño ángulo entre
El recorrido del haz es paralelo a 𝐴𝑂, por ellos y la separación es muy pequeña, se
tanto, las franjas son circulares si, 𝑀2 está en pueden ver franjas de igual grosor; con una
ángulo recto con AO. fuente extendida éstas franjas son
equidistantes, es decir líneas rectas paralelas
al vértice de la cuña y se localizan en 𝑀1 𝑀2.
II.4. Franjas de igual inclinación. Haidinger Fig. 3 (c).

Con una fuente monocromática

extendida, franjas circulares de igual
inclinación se forman cuando 𝑀1 y 𝑀2 son
paralelos

Estas franjas están localizadas en el

(a)
infinito y se pueden observar en 𝑂, ya sea con
un telescopio o directamente con el ojo
relajado.

Por otro lado, si 𝑀1 se acerca a 𝑀2 , las

franjas se contraen hacia el centro del patrón
donde, uno tras otro, se desvanecen; al
mismo tiempo, la escala del patrón aumenta
hasta que 𝑀1 y 𝑀2 coinciden; donde se
obtiene un campo uniforme Fig. 3 (b). (b)

(c)

Figura 3. (a) Patrón de interferencia.

Figura 2. Formación de franjas no Franjas no localizadas. (b) Patrón de
localizadas en un interferómetro de interferencia. Campo uniforme. (c) Patrón
Michelson. de interferencia. Franjas paralelas.
 III. DESARROLLO EXPERIMENTAL

Para montar el interferómetro, se

utilizaron los siguientes componentes
ópticos:

• Láser He-Ne
• Un divisor de haz 50/50
• 1 objetivo de microscopio (a)
• 2 espejos
• Soportes.
• Tornillos estándar.

III.1. Configuración del Interferómetro

Michelson - Morley

Colocamos el divisor de haz a 30 𝑐𝑚 de la

fuente láser. Posteriormente se montaron los
espejos a 11 𝑐𝑚 de separación del divisor de
(b)
haz. Finalmente ubicamos el objetivo de
microscopio, de 60𝑋, frente al láser. Fig. 4 (a). Figura 4. (a) Montaje experimental del
Interferómetro de Michelson. (b) Patrón
Obtuvimos un patrón de interferencia, de de interferencia obtenido para la fuente
anillos concéntricos, en la pantalla de láser 𝐻𝐸 𝑁𝑒.
observación Fig. 4 (b).

III.2. Configuración del interferómetro

profesional de Michelson - Morley

Empleamos un interferómetro profesional

de Michelson modelo LEOI-22 Fig. 5. para
determinar la longitud de onda de la fuente
láser. Alineamos los espejos hasta obtener un
patrón de franjas de interferencia, entonces
mediante el tornillo micrométrico instalado
en el dispositivo variamos las distancias de
los espejos a fin de observar el cambio en la
intensidad entre franjas negras a brillantes.

IV. ANÁLISIS Y RESULTADOS

Determinamos la cantidad de franjas que

se expandieron desde el centro de la pantalla
moviendo el espejo con el tornillo
micrométrico montado en el interferómetro. Figura 5. Interferómetro profesional
Lambda Scientific modelo LEOI-22
 Los datos respecto a la distancia recorrida IV.1. Análisis de Errores
del tornillo se muestran en la Tabla I.
Empleamos la teoría de propagación de
Tabla I: Conteo de franjas, respecto al errores como herramienta para determinar la
desplazamiento del tornillo micrométrico en el incertidumbre en nuestras mediciones. [5]
interferómetro profesional.
Para una función 𝐹(𝑥, 𝑦, 𝑧) conocida, la
No. de franjas [N] Pasos del tornillo incertidumbre de esta función se determina
50 63 como:
100 65 𝜕𝐹 𝜕𝐹 𝜕𝐹
150 65 𝑑𝑓 = 𝑑𝑥 + 𝑑𝑦 + 𝑑𝑧 , (19)
𝜕𝑥 𝜕𝑦 𝜕𝑧
200 64
250 62 Entonces:
300 63
350 65
400 63 𝜕𝐹 2
𝜕𝐹 2
𝜕𝐹 2

450 63 𝛿𝑓 = √( 𝛿𝑥) + ( 𝛿𝑦) + ( 𝛿𝑧) ,

𝜕𝑥 𝜕𝑦 𝜕𝑧
500 64
(20)

Se registraron mediciones para conteos de Por tanto, ésta última expresión es la

50 franjas. Posteriormente determinamos el fórmula básica para la propagación de
promedio de los pasos en el tornillo, por errores [6]. Entonces, para calcular el error de
tanto: propagación tomamos la ec. (18), escrita de
forma:
Franjas contadas Pasos promedio
4
50 63.7 𝛿𝜆 = 𝛿𝑑 , (21)
𝑁2
Con los resultados obtenidos y la relación donde únicamente tenemos incertidumbre
determinada por la ec. (18), determinamos la respecto a la distancia, por tanto:
longitud de onda de la fuente láser 𝐻𝑒 𝑁𝑒. De
𝛿𝜆 = 1.6 × 10−3 𝑛𝑚.
acuerdo con las especificaciones del
interferómetro, cada división en el tornillo Así el valor de la longitud de onda para el
corresponde a un desplazamiento de 250 nm, láser 𝐻𝑒 𝑁𝑒, es:
entonces:
𝜆 = 637 ± 1.6 × 10−3 𝑛𝑚.
𝑑 = 𝑁𝑜. Pasos promedio × (250 𝑛𝑚)
Así de la ec. (18), tenemos:
2𝑑 2(63.7 ∗ 250 𝑛𝑚)
𝜆= = ,
𝑁 50
𝜆 = 637 𝑛𝑚.
 V. CONCLUSIONES REFERENCIAS

[1] MALACARA DANIEL “Óptica básica”, 2015, 3era

Es posible generar franjas de interferencia
edición, capitulo IX.1
de Fizeau y Haidinger con el arreglo para el
interferómetro de Michelson – Morley. [2] HECHT EUGENE. Optics, 5th edition, ISBN
0133977226, pages 398-400.
Para el primer montaje experimental no se
[3] RAYMOND A. SERWAY,JOHN W. JEWETT,
empleó una placa compensadora, por tanto, "Physics for scientist and engineers", 6th edition, 2007,
no se logró un patrón de franjas de Haidinger page 1177.
perfectamente circulares
[4] [Link] Optical Interferometry second
Determinamos la longitud de onda de la edition, 2003.

fuente láser 𝐻𝑒 𝑁𝑒, con un margen de error [5] DARYL W. PRESTON. The Art of Experimental
suficientemente aceptable. Physics John Wiley and Sons, 1991.

Partiendo del mismo arreglo [6] Taylor J. R. An Introduction to error Analysis,

Second edition, University Science Books, EUA, 1997.
experimental y empleando la metodología
mostrada, es posible caracterizar cualquier
fuente láser respecto a su longitud de onda
de emisión.