Como probar componentes electrónicos
Prueba de capacitores
Capacitores de bajo valor
La prueba de capacitores de bajo valor se limita a saber si los mismos están o no en
cortocircuito.
Valores por debajo de 100nf en general no son detectados por el multímetro y con el mismo en
posición R×1k se puede saber si el capacitor esta en cortocircuito o no según muestra la figura.
Si el capacitor posee resistencia infinita significa que el componente no posee pérdidas excesivas
ni está en cortocircuito. Generalmente esta indicación es suficiente para considerar que el
capacitor está, en buen estado pero en algún caso podría ocurrir que el elemento estuviera
"abierto", o que un terminal en el interior del capacitor no hiciera contacto con la placa.
Para confirmar con seguridad el estado del capacitor e incluso conocer su valor, se puede
emplear el circuito de la figura.
Para conocer el valor de la capacidad se deben seguir los pasos que se describen a continuación:
1. Armado el circuito se mide la tensión V1 y se anota.
2. Se calcula la corriente por el resistor que será la misma que atraviesa el capacitor por
estar ambos elementos en serie I = V1 / R
3. Se mide la tensión V2 y se anota.
4. Se calcula la reactancia capacitiva del componente en medición XC = V2 / I
5. Se calcula el valor de la capacidad del capacitor con los valores obtenidos
C = 1 / [ XC . 6 , 28 . f ]
Observaciones
Se debe emplear un solo voltímetro.
La frecuencia será 50 ó 60Hz según el país donde estés ya que es la correspondiente a la red
eléctrica.
Elegir el valor de R según el valor del capacitor a medir:
Capacidad a medir Resistencia serie
0 , 01uf < Cx < 0 , 5uf 10K
Cx orden de los nanofarad 100K
Cx mayores hasta 10uf 1K
Con este método pueden medirse capacitores cuyos valores estén comprendidos entre 0 , 01uf y
0 , 5uf.
Si se desean medir capacidades menores debe tenerse en cuenta la resistencia que posee el
multímetro usado como voltímetro cuando se efectúe la medición.
Para medir capacidades mayores debe tenerse en cuenta que los capacitores sean no
polarizados, debido a que la prueba se realiza con corriente alterna.
Capacitores electrolíticos
Los capacitores electrolíticos pueden medirse directamente con el multímetro utilizado como
ohmetro. Cuando se conecta un capacitor entre los terminales del multímetro, este hará que el
componente se cargue con una constante de tiempo que depende de su capacidad y de la
resistencia del multímetro. Por lo tanto la aguja deflexionará por completo y luego descenderá
hasta cero indicando que el capacitor está cargado totalmente, ver figura.
El tiempo que tarda la aguja en descender hasta 0 dependerá del rango en que se encuentra el
multímetro y de la capacidad del capacitor. En la prueba es conveniente respetar la tabla I.
TABLA I
Valor del capacitor Rango
Hasta 5uf R×1k
Hasta 22uf R×100
Hasta 220uf R×10
Mas de 220uf R×1
Si la aguja no se mueve indica que el capacitor está abierto, si va hasta cero sin retornar indica
que está en cortocircuito y si retorna pero no a fondo de escala entonces el condensador tendrá
fugas.
En la medida que la capacidad del componente es mayor, es normal que sea menor la
resistencia que debe indicar el instrumento.
La tabla II indica la resistencia de pérdida que deberían tener los capacitores de buena calidad.
TABLA II
Capacitor Resistencia de pérdida
10uf Mayor que 5M
47uf Mayor que 1M
100uf Mayor que 700K
470uf Mayor que 400K
1000uf Mayor que 200K
4700uf Mayor que 50K
Se realizar la prueba dos veces, invirtiendo la conexión de las puntas de prueba del multímetro.
Para la medición de la resistencia de pérdida interesa la que resulta menor según muestra la
figura.
Prueba de diodos
Los diodos son componentes que conducen la corriente en un solo sentido, teniendo en cuenta
esto se pueden probar con un multímetro en la posición ohmetro. El funcionamiento de tal
aparato de medida se basa en la medición de la corriente que circula por el elemento bajo
prueba. Es muy importante conocer la polaridad de la batería interna del los multímetros
analógicos en los cuales la punta negra del multímetro corresponde al terminal positivo de la
batería interna y la punta roja corresponde al terminal negativo de la batería.
Se empleará un multímetro y las medidas se efectuarán colocando el instrumento en las escalas
de resistencia y preferiblemente en las escalas ohm x 1, ohm x 10 ó también ohm x 100. Así
cuando se intenta medir la resistencia de un diodo, se encontrarán dos valores totalmente
distintos, según el sentido de las puntas. Si la punta roja (negativo) se conecta a la zona N
(cátodo del diodo) y la punta negra a la P (ánodo), la unión se polariza en directo y se hace
conductora. El valor concreto indicado por el instrumento no tiene significado alguno, salvo el de
mostrar que por la unión circula corriente.
Por el contrario, cuando la punta roja se conecta a la zona P (ánodo), y la negra a la zona N
(cátodo), se esta aplicando una tensión inversa. La unión no conducirá, y esto será interpretado
por el instrumento como una resistencia muy elevada.
Prueba de transistores
Un transistor bipolar equivale a dos diodos en oposición (tiene dos uniones), por lo tanto las
medidas deben realizarse sobre cada una de ellas por separado, pensando que el electrodo base
es común a ambas direcciones.
Se empleará un multímetro analógico y las medidas se efectuarán colocando el instrumento en
las escalas de resistencia y preferiblemente en las escalas ohm x 1, ohm x 10 ó también ohm x
100. Antes de aplicar las puntas al transistor es conveniente cerciorarse del tipo de éste, ya que
si es NPN se procederá de forma contraria que si se trata de un PNP. Para el primer caso (NPN)
se situará la punta negra (negativo) del multímetro sobre el terminal de la base y se aplicará la
punta roja sobre las patitas correspondientes al emisor y colector. Con esto se habrá aplicado
entre la base y el emisor o colector, una polarización directa, lo que traerá como consecuencia la
entrada en conducción de ambas uniones, moviéndose la aguja del multímetro hasta indicar un
cierto valor de resistencia, generalmente baja (algunos ohm) y que depende de muchos
factores.
A continuación se invertirá la posición de las puntas del instrumento, colocando la punta roja
(positivo) sobre la base y la punta negra sobre el emisor y después sobre el colector. De esta
manera el transistor recibirá una tensión inversa sobre sus uniones con lo que circulará por él
una corriente muy débil, traduciéndose en un pequeño o incluso nulo movimiento de la aguja. Si
se tratara de un transistor PNP el método a seguir es justamente el opuesto al descripto, ya que
las polaridades directas e inversas de las uniones son las contrarias a las del tipo NPN.
Las comprobaciones anteriores se completan con una medida, situando el multímetro entre los
terminales de emisor y colector en las dos posibles combinaciones que puede existir; la
indicación del instrumento será muy similar a la que se obtuvo en el caso de aplicar polarización
inversa (alta resistencia), debido a que al dejar la base sin conexión el transistor estará
bloqueado. Esta comprobación no debe olvidarse, ya que se puede detectar un cortocircuito
entre emisor y colector y en muchas ocasiones no se descubre con las medidas anteriores.
COMO IDENTIFICAR Y MEDIR
ALGUNOS COMPONENTES
FIG. 1
Como se ve en la imágen superior FIG. 1 , el Tester Digital está seleccionado
para realizar mediciones de semiconductores ( simbolo del diodo ). Al
colocar las Puntas de Prueba, POSITIVOen uno de los pines
del TRANSISTOR y NEGATIVO en el otro extremo.....éste nos da un valor
que es de . 5 4 6 , a continuación veremos la siguiente imágen :
FIG. 2
Vemos que al mantener la Punta de Prueba Positiva en el mismo pin y
colocamos la Punta de Prueba Negativa en el pin central FIG. 2, el
instrumento nos da un valor distinto y menor que la medición anterior que
es de . 4 7 4.
Si nosotros invertimos las Puntas de Prueba y realizamos las mismas
acciones anteriores, como se ve en las figuras siguientes :
FIG. 3
Vemos que al colocar las Puntas de Prueba, NEGATIVO en uno de los pines
del TRANSISTOR y POSITIVO en el otro extremo el instrumento nos da un
valor infinito FIG. 3, a continuación veremos la siguiente imágen :
FIG. 4
Vemos que al mantener la Punta de Prueba Negativa en el mismo pin y
colocamos la Punta de Prueba Positiva en el pin central, el instrumento nos
sigue dando un valor infinito FIG. 4.
Los resultados de éstas pruebas nos están demostrando algo que es
primordial, especialmente en la medición de un TRANSISTOR de Silicio
Bipolar y es la identificación individual de cada uno de los pines. La imágen
que muestra la FIG. 1 y FIG. 2 tienen en común la Punta de
Prueba POSITIVA, y recordando que las junturas de
un TRANSISTOR tienen en común la BASE, ya tenemos identificado el
primer pin.
La FIG. 1 y FIG. 2 muestran que el instrumento da DOS valores diferentes
al usar la Punta de Prueba NEGATIVA . En la FIG. 1 el valor es superior al
de la FIG. 2 y por norma natural de las junturas la BASE
EMISOR es mayor FIG. 1 que la BASE COLECTOR FIG. 2, es decir que
el TRANSISTOR es del tipo ( N-P-N ), la P es la base ROJO
POSITIVO común y está polarizado directamente por el tester digital y para
ambas junturas, una juntura N-P es la EMISOR-BASE y la otra juntura P-
N es la BASE-COLECTOR.
La FIG. 3 y la FIG. 4 nos muestran que al medir con polarización inversa las
junturas del TRANSISTOR, éste se comporta como un aislante.
NOTA 1: El Tester Digital entrega en las Puntas de Prueba un voltaje suficiente
para hacer trabajar y polarizar directamente las junturas del transistor; el voltaje es
entregado por la batería interna y es un voltaje contínuo y no alterno.
FIG. 1 BASE - EMISOR MAYOR que FIG. 2 BASE - COLECTOR
Para un TRANSISTOR P-N-P el proceso es inverso.
MEDIDA DE UN DIODO DE SILICIO
FIG. 5
La FIG. 5 muestra las Puntas de Prueba midiendo la polarización directa de
un Diodo de Silicio, en donde vemos que la Punta de Prueba POSITIVA está
en el Ánodo y la Punta de Prueba NEGATIVA en el Cátodo, la juntura tine
un valor similar a la juntura de un TRANSISTOR.
FIG. 6
La FIG. 6 muestra las Puntas de Prueba midiendo la polarización inversa de
un Diodo de Silicio, en donde vemos que la Punta de Prueba POSITIVA está
en el Cátodo y la Punta de Prueba NEGATIVA en el Ánodo, la juntura tine
un valor infinito.
NOTA 2 : Cada Diodo sea de Germanio o de Silicio, presenta un valor diferente o
similar pero la idea primordial es la de identificar las polaridades de éste
( Ánodo y Cátodo )
IDENTIFICAR Y MEDIR
COMPONENTES DAÑADOS O QUEMADOS
Sabemos ya como se mide un Diodo y un Transistor que están buenos, pero
que pasa cuando están malos ?.?..?...... ántes que nada debemos tener las
siguientes herramientas aparte del TESTER DIGITAL :
FIG. 7b
FIG. 7a
La FIG. 7a corresponde a un extractor o removedor de Soldadura el cual
trabaja succionando el aire y llevándose consigo al interior la Soldadura ya
derretida por el calor aplicado por la punta del Cautín o Calentador FIG.
7b.
Para reconocer básicamente un Semiconductor dañado, debemos realizar
los siguientes pasos :
1.- Exploración Visual .
2.- Reconocer e Identificar los componentes ( RESISTENCIAS - CONDENSADORES -
SEMICONDUCTORES - BOBINAS - ETC.. )
3.- Extraer los componentes dudososo o defectuosos reconocidos visualmente .
4.- Medir componentes con el TESTER DIGITAL .
5.- Reemplazar el componente dañado .
IMÁGENES DE ALGUNOS
COMPONENTES DAÑADOS
FIG. 8
FIG. 9
FIG. 10
La FIG. 8 muestra una RESISTENCIA que visualmente está irreconocible y
al medir con el TESTER DIGITAL nos de un valor no real, pero ayudados
por una LUPA o LENTE de AUMENTO podemos observar más
detalladamente los posibles colores ( CAFE - NEGRO - CAFE o ROJO ), la
última banda de color es insegura además es la banda de multiplicación, si
fuera de color CAFE sería una RESISTENCIA de 100 OHM, y si fuera de
color ROJO sería una RESISTENCIA de 1000 OHM o 1K OHM ( K=
Kilo ). La FIG. 9 muestra una RESISTENCIA en condiciones similares al de
la FIG. 8, pero la FIG. 10 revela lo que sucede con una RESISTENCIA que
se quema y es ilegible su identificación, ésto es causado por una POTENCIA
que la resistencia no es capaz de soportar, generalmente están quemados
otros componentes que van conectados electricamente al circuito.
Para asegurarnos de colocar o reemplazar la RESISTENCIA adecuada FIG.
8 y FIG. 9, es mejor colocar la de 1K OHM y desde éste valor resistivo
comenzar a usar resistencias más pequeñas, bajando en la escala
resistiva( 910 OHM - 820 OHM - ....100 OHM ... 2 OHM. ) y haciendo las
pruebas de funcionamiento correspondientes para cada valor hasta que el
circuito funcione correctamente. Pero en el caso de la FIG. 10 se debe
analizar el circuito. En resúmen la idea es comenzar con un valor alto.
NOTA 3 : Tener presente la POTENCIA de la RESISTENCIA al reemplazarla.
FIG. 11
La FIG. 11 muestra un DIODO de SILICIO que está quebrado, producto de
una Sobre Tensión o Sobre Corriente mayor de la que es capaz de soportar
el SEMICONDUCTOR. Éste tipo de casos es identificable a simple vista,
pero si al medir un DIODO con el TESTER DIGITAL el resultado no es
similar como el de la FIG. 5 entonces es que está dañado.
NOTA 4 : Al medir con un TESTER DIGITAL un DIODO que está dañado éste
medirá en ambos sentidos (se dice técnicamente que está en corto circuito), o
simplemente no medirá ningún valor ( se dice técnicamente que está abierto ) .
