Análisis de patrones de difracción para el

TiO2 y Cu obtenidas por método Bragg-

Brentano
Rosales Fernández, Gilmer Daniel Andree
Aira Moreno, Renso
School of Science, Universidad Nacional de Ingeniería,
Lima
Escuela de Ingeniera Física
1 [email protected],2018716H
2

Abstract
En el presente informe se dará a conocer los patrones de difracción obtenidos para las muestras de
TiO2 (polvo) y para el Cu (película delgada), las cuales fueron obtenidas mediante el difractómetro
de rayos x de la marca BRUKER y serie D8 ADVANCE el cual se basa en el método Bragg-Brentano
en el laboratorio de la escuela de Ingeniería física. Se hará una simulación con el software Powder
Cell de los dos materiales analizados para contrastar los resultados obtenidos y además se comparará
con la base de datos existente mediante el software Match! Se obtendrá y analizará toda la
información que nos brinda el patrón de difracción.

Keywords: Rayos X — Ciencia de Materiales — XRD — oxido de titanio (IV) – Cobre -

Cristalografía

El fenómeno de difracción ocurre cuando una

I. Introducción onda interactúa por un borde o una rendija, las
condiciones para que esto suceda es que tanto la
El estudio de la estructura cristalina de los longitud de onda como la rendija deben ser del
materiales es de vital importancia para poder mismo orden. Justamente en los cristales
caracterizar las propiedades físicas de cada tomamos los espacios vacíos interatómicos
material, esto es debido a que precisamente cada como rendijas por las que pasan ondas de muy
propiedad de los materiales se encuentra pequeña longitud de onda (del orden de las
inherentemente relacionada a su estructura rendijas), por tanto, de muy alta frecuencia, es a
atómica. Para ello es necesario contar con partir de ahí que el uso de los rayos x son de
técnicas adecuadas que nos brinden una tanta utilidad para el estudio de las estructuras.
información precisa de estas estructuras. La El patrón de difracción obtenido nos da
dificultad se encuentra en que no es posible, con información de las rendijas las cuales describen
la tecnología actual, hacer una medición directa, los espacios interatómicos. Es a partir de este
o una visualización directa del comportamiento punto que los patrones de difracción no son de
de estos. Sin embargo, se opta por el tanta utilidad ya que en primera instancia nos da
aprovechamiento de fenómenos ondulatorios la información necesaria para poder caracterizar
que son capaces de interactuar con las diferentes un material estructuralmente.
estructuras, teniendo presente principalmente el
fenómeno de difracción, podemos tener el II. Fundamento Teórico
siguiente razonamiento para sustentar el método La difracción se produce cuando una onda se
utilizado. encuentra con una serie de obstáculos,
espaciados regularmente, que son capaces de
dispersar la onda y tienen separaciones interplanar dhkl. Un haz paralelo de rayos X, de
comparables, en magnitud, a la longitud de longitud de onda λ, incide sobre estos dos
onda. Así pues, la difracción es una planos en ángulo ϴ. La condición para que se
consecuencia de las relaciones de fases produzca difracción es:
específicas establecidas entre dos o más ondas
que han sido dispersadas por obstáculos. 𝑛𝜆 = 2𝜕ℎ𝑘𝑙 𝑆𝑒𝑛(𝜃) …(ec1)

Figura 2 Esquema de Ley de Bragg

La magnitud de la distancia entre dos planos

adyacentes y paralelos de átomos es función de
Figura 1. Esquema de ondas difractadas los índices de Miller y de los parámetros de red.
interferencia constructiva y destructiva Así, para estructuras cristalinas con simetría
cúbica,
En la figura 1 se consideran las ondas 1 y 2, que
tienen la misma longitud de onda (λ) y están en 𝑎
fase en el punto O-O’. Se supone que ambas 𝑑ℎ𝑘𝑙 = …(ec2)
√ℎ 2 +𝑘 2 +𝑙 2
ondas se dispersan de manera que atraviesan
diferentes caminos. La relación de fases entre Donde a es el parámetro de red.
las ondas dispersadas depende de la diferencia Esto nos permitirá calcular con facilidad el
de longitud de los caminos. Cuando la parámetro de red para el cobre.
diferencia entre longitudes de onda es un
múltiplo de numero entero de longitudes de III. Método y equipo
onda, las ondas dispersadas están en fase y se
refuerzan mutuamente, por otro lado, se puede Para la obtención de los datos se usó la técnica
dar el caso en que las relaciones de fase entre de difracción la cual analiza una muestra en
ondas dispersadas no conduzcan al refuerzo forma de polvo, basándose en que al tener en la
mutuo como se muestra en la figura 1.b, en este muestra de polvo muchas partículas pequeñas y
caso las ondas dispersadas no están en fase así orientadas al azar, al ser expuestas antes una
que se anulan entre sí. radiación monocromática, cada pequeña
partícula por individual actúa como un cristal.
Difracción de rayos X y Ley de Bragg Al haber una gran cantidad de estos pequeños
cristales con orientaciones aleatorias se puede
Los rayos X son un tipo de radiación tener la seguridad de que habría presencia de
electromagnética de alta energía y corta cristales que estén orientados de manera que los
longitud de onda. Cuando un haz de rayos X planos cristalográficos cumplan con las
incide sobre un material sólido, una parte del condiciones de difracción.
haz se dispersa en todas direcciones.
En la figura 2 se consideran dos planos paralelos Teniendo en cuenta lo previamente mencionado
de átomos (A-A’ y B-B’) con los índices de es que se hace uso del difractómetro, el cual su
Miller h, k y l, separados por una distancia trabajo es variar el Angulo de irradiación a la
muestra, la muestra se queda fija y la fuente de procedimiento, pero con una muestra de cobre,
radiación varia su posición, de manera que el que para este caso los analizamos como película
detector pueda muestrear durante el Angulo delgada en una pequeña cinta que de igual
barrido. manera nos aseguramos que se encuentre al
nivel del porta muestras.
Los resultados se muestran mediante la interfaz Para ambos casos guardamos los datos y los
del equipo en el pc al terminar el recorrido de la patrones en formato. RAW, para luego proceder
fuente dentro del rango de los ángulos a su respectivo análisis y contrastación con la
establecidos. base de datos existente mediante el Software
MATCH! Y con resultados obtenidos por
Equipo de medición simulación por los softwares PowderCELL
Para la obtención de los patrones de difracción (Patrón de dirección) y CaRiNe
se utiliza el difractómetro de la marca Crystallography (visualizar las estructuras).
BRUKER, de la serie D8 ADVANCE ECO
(Figura 3). IV. Resultados
Los resultados obtenidos se encuentran
anexados al final del documento con el
propósito de tener una mejor visualización. Aun
así, a continuación, damos una pequeña vista
previa.

a. Para el TiO2(Rutilo y Anatasa):

Figura 3 Imagen referencial de difractómetro

Preparamos la muestra de dióxido de titanio en

polvo e introducimos en el porta muestras, es
importante que la cantidad de polvo se
encuentre a nivel delportamuetras para tener
resultados coherentes.
Figura 5 Difracto grama de dióxido de
titanio(iv)
b. Para el Cu:

Figura 4 Fotografía del Difractómetro de

laboratorio de ingeniería física

Esperamos que el difractómetro termine de

tomar las lecturas durante un tiempo Figura 6. Difracto grama cobre
aproximado de 20 minutos para luego repetir el
 de los dos patrones, las imágenes se anexan al
V. Análisis de Datos final del documento para una mejor apreciación.

Una vez obtenido los patrones de difracción Determinaremos el parámetro de red para el
guardamos la data con el formato RAW e cubre ya que al pertenecer al sistema cubica
importamos los archivos a el software simple el calculo se simplifica
Match! considerablemente ya que en su caso a=b=c y
los ángulos son todos iguales a 90°.
Cargamos las imágenes y procedemos a
hacer Match! Obteniendo los siguientes Antes de hacer el analizar y aplicar las
Resultados. ecuaciones con las ecuaciones de la ley de bragg
debemos identificar adecuadamente el valor de
a. TiO2 longitud de onda de la fuente de rayos x, el cual
podemos encontrarlo en tanto la data, para una
información más completa del análisis de
match! se adjuntan en los anexos 3 y 4 los
reportes de TiO2 y Cu respectivamente.

Se identifica que
λx = 1.541874 𝐴̇

Con ayuda de las herramientas de Match

Indexamos los picos, y escogemos uno.

Fig7.Difractograma para oxido de titanio (IV)

b. Cu

Fig.9.Pico para el cobre en (111)

Identificamos para la distancia interplanar (111)

se tiene un valor de

𝑑111 = 2.0871 𝐴°

De aquí usamos la ecuación 2

Fig.8.Difractograma del cobre
𝑎
𝑑111 = 2.0871𝐴° =
Para el caso del TiO2 se encuentra un Match con √12 + 12 + 12
un mayor porcentaje de coincidencia con 𝑎
Anatasa y Rutilo, mediante las herramientas de 2.0871𝐴° =
Match! Podemos indexar con facilidad los picos √3
 Fig.11.Menu de creación de estructuras de
𝑎 =3.6149 CaRiNe

Teniendo este parámetro de red ya podemos

construir el cristal, ya que es sabido que
pertenece al sistema cubica simple, para Luego aceptamos y obtenemos el modelo en
modelar usamos el software CaRiNe, este tres dimensiones tal como se aprecia en la figura
software nos permite modelar las geometrías 12.
mediante sus herramientas podemos elegir el
sistema tal como se muestra en la figura 10

Fig.10 Menú de creación de estructuras de

CaRiNe

Luego seleccionamos el elemento cobre e

Fig.12.Celda unitaria para el Cobre en el
introducimos el valor del parámetro de red
sistema cubica simple.
calculado.
Teniendo este Modelo en CaRiNe es posible
analizar distancias Inter planares, visualizar los
planos cristalográficos, obtener la proyección
estereográfica, y simular el patrón de difracción.

Repetimos el procedimiento para TiO2 n en este

caso la estructura pertenece al sistema
tetraédrico y la determinación de los parámetros
de red varía con respecto a el sistema cubica
simple, sin embargo, el cálculo aun no es
engorroso.

Del Software Match Obtenemos las siguientes

coincidencias
Fig. 13. ¡Resultados coincidentes con la base de
datos Match!

Repetimos el mismo Procedimiento Fig14. b. Cristal – Rutilo

ayudándonos del software CaRiNe para el
Rutilo y PowderCell para la anatasa ya que estos
cuenta con modelos de estructuras típicas. b. Para el TiO2 - Anatasa:
a. Para el TiO2 - Rutilo: Para la anatasa usamos el PowderCell.

Fig14.a. Celda Unitaria para TiO2 – Rutilo

Fig.15.Celda TiO2 -Anatasa
 VI. Discusión

- El difractómetro de muestras de polvo

nos permite obtener resultado
rápidamente, debido a la
automatización del método.

- Es necesario asegurarnos de que el

nivel de la muestra se encuentre al Raz
indicado por el porta muestras.

- La base de datos del mismo

difractómetro reconoce mejor el
patrón obtenido con su registro, sin
embargo, ¡para los propósitos de este
informe solo se pudo analizar
mediante el software Match!

- Si bien el nos limita Match en la

Identificación, ya se tiene un
conocimiento a priori de la
composición del material, de esta
manera se facilita la elección de
coincidencia en la base de datos,
aunque no se tenga una coincidencia
del 100%.

- Existen diversos softwares de código

abierto o de licencia comercial que
nos permiten analizar con facilidad la
data de un patrón de difracción.
Además, estas cuentas con
herramientas que nos ayuda a
determinar los índices fácilmente y
mediante las leyes enunciadas en el
marco teórico poder determinar los
parámetros de red. La complejidad de
llegar a los parámetros de red
dependerá del material y el sistema al
Fig.16. Simulación para anatasa que pertenezca, podemos ver el claro
ejemplo del cobre el cual fue sencillo
debido a ser cubica simple y tanto solo
bastaba con hallar un a.

- Para el oxido de titanio (iba) se

presentan dos estructuras típicas,
según los resultados obtenidos del
mismo software, ¡esto sirvió de ayuda
para hacer el análisis con match!
 - Habiendo determinado los parámetros - [3]Eisberg, R. M., & Resnick, R. (1994). Física
de red es posible modelar las cuántica: Á tomos, moléculas, sólidos, núcleos y
estructuras mediante software. Para partículas. México: Editorial Limusa.
este trabajo de uso CaRiNe Powder
del que nos permite simular incluso el
patrón de difracción.

VII. Conclusiones

- La técnica de difracción es muy

eficiente para determinar la estructura
de un material mediante una medida
indirecta fundamentadas en la
interacción es de radiación materia y
los fenómenos ondulatorios de
difracción, sea por medio de
difracción de rayos x, electrones o
neutrones. Esto de penderá del
material a analizar.

- Existen diversos softwares de soporte

para el análisis de difracto gramas,
que están además avalados por una
base de datos en constante desarrollo.

- La complejidad de la determinación
de los parámetros de red dependerá
del material y del sistema cristalino
principalmente.

- El tener un conocimiento a priori de la

composición del material facilita
significativamente el analisis , ya que
se reducen las posibilidad a elegir en
caso no se tenga un conocimiento del
todo certero de la composición del
material.

VIII. Referencias bibliográficas

- [1]Callister, W. D., Rethwisch, D. G., Molera, . S.
P., & Salán, M. N. (2016). Ciencia e ingeniería de
materiales. Barcelona: Reverté.
- [2]Kittel, C., McEuen, P., & John Wiley & Sons.
(2019). Introduction to solid state physics. Hoboken,
NJ: John Wiley & Sons
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