UNIVERSIDAD NACIONAL SAN AGUSTÍN

FACULTAD DE PRODUCCIÓN Y SERVICIOS

ESCUELA PROFESIONAL DE INGENIERÍA ELECTRÓNICA

SISTEMAS DE CONTROL DIGITAL

LABORATORIO
MODULO:
MUESTREO Y RETENEDOR DE SEÑALES

SEMESTRE: 2017-A

DOCENTE: ING. OSCAR SALAZAR ALARCON

INTEGRANTES:

LEÓN RAMOS MARJORIE ANEL CUI: 20142299

RAMOS PARQUI WILSON OMAR CUI: 20123563

SULLCA MAMANI RUTH CUI: 20140493

Arequipa-Peru

2017

Página 1
 INDICE:

1. INTRODUCCIÓN…………………………………………………………………...3

2. OBJETIVOS…………..……………………………………………………………..3

3. FUNDAMENTO…………..…………………………………………………………5

4. ANTECEDENTES…………..……………………..…………….………………….4

5. DESARROLLO E IMPLEMENTACIÓN DEL MÓDULO……………...………….6

6. RESULTADOS Y CONCLUSIONES……………………………………………. 30

7. RECOMENDACIONES…….…………………………..………………………….35

8. BIBLIOGRAFIA………………………………………………………..…………….36

Página 2
 SISTEMAS DE CONTROL DIGITAL
LABORATORIO
MODULO:
MUESTREO Y RETENEDOR DE SEÑALES

1. INTRODUCCIÓN
En esta práctica se empezara a tratar con los conceptos del muestreo y retención de una señal
con la finalidad de entender dichos conceptos de forma práctica.
En esta ocasion podremos observer de forma mas clara el proceso de muestrear una señal y a
su vez despues de un tiempo de retención reconstruir la señal,estos principios son la base
para posteriormente poder realizar controles digitales completos.

2. OBJETIVOS

a. OBJETIVOS GENERALES:
Analizar la forma de respuesta de la señal, muestreada y luego reconstruida
evitando el menor ruido posible de las señales por el calentamiento de los
componentes.
b. OBJETIVOS ESPECIFICOS:
◦ Comprender el funcionamiento de los circuitos integrados utilizados por el
módulo
◦ Analizar el comportamiento de respuesta cuando se varían diversos parámetros
como la frecuencia de muestreo, la frecuencia de la señal, etc.
◦ Analizar el circuito que permite muestrear la señal
◦ Analizar el circuito que permite retener la señal

Página 3
3. FUNDAMENTO

En los sistemas discretos, en los sistemas de datos muestreados y en los sistemas de control
digital, por lo general una o varias de las señales que intervienen en el proceso son señales
analógicas que deben ser transformadas a señales discretas para poder ser empleadas de
forma adecuada dentro de este tipo de sistemas. Para lograr la discretización de las señales,
se debe aplicar primero el proceso de muestreo y obtener así una señal formada únicamente
por las muestras discretas en tiempo de la señal analógica.

El proceso de muestreo puede representarse a través de un interruptor que se cierra cada

t = kT segundos durante un tiempo de muestreo (p), generándose una señal de muestreo
como la mostrada en la figura 1.1.

 t = Instante de muestreo
k = 0, 1, 2, 3, … n
 T = Periodo de muestreo
 p = Tiempo de muestreo

Figura 1.1

La ecuación t = kT describe al muestreo periódico ya que las muestras están

equiespaciadas, es decir las muestras son tomadas en instantes de tiempo que son múltiplos
enteros del periodo de muestreo. También existen otros tipos de muestreo empleados para
diferentes propósitos, los cuales se describen con ecuaciones similares a la mostrada
anteriormente.

La entrada de este interruptor es una señal analógica y la salida es una señal muestreada
como se puede observar en la figura 1.2.

t=kT
x(t) x*(t)

Muestreador

Figura 1.2

Página 4
Otra forma de representar el proceso de muestreo es a través de un modulador en amplitud,
que realiza la modulación de un tren de impulsos unitarios discretos generados en los
instantes kT que se emplean como señal portadora y la señal analógica que se desea
muestrear que se emplea como señal moduladora, obteniéndose como salida los pulsos
discretos pero modulados en amplitud por la señal de entrada, a esta salida se le denomina la
señal muestreada, tal y como se observa en la figura 1.3.

Señal Analógica

Tren de impulsos Moduladora Señal Muestreada x*(t)

unitarios

Modulador en
Portadora Amplitud

Figura 1.3

Página 5
 La operación que realiza el modulador puede representarse matemáticamente a través del
producto del tren de impulsos unitarios y la señal analógica de entrada dando como
resultado la siguiente expresión que define a la señal muestreada.

x *(t)    (t  kT )  x(t)

Si a esta expresión se le aplica la transformada de Laplace y se toman las consideraciones

necesarias, se obtiene la transformada Z de la función x(t).


X (z)   x(kT )  z k
k 0

Otro dispositivo empleado en la digitalización de las señales analógicas para utilizarlas en

los sistemas de datos muestreados, es el retenedor, el cual tiene la función de reconstruir la
señal muestreada a partir de los valores de las muestras generadas por el muestreador,
empleando para ello, polinomios de diferentes grados. Entre los más empleados están los
retenedores de orden cero y de primer orden.

Este proceso también se emplea para que los cuantizadores tengan en su entrada una señal
constante que representa a la muestra actual y puedan tener el tiempo suficiente para
realizar la conversión de código ya que la muestra original que se obtiene del muestreador

Retenedor de
orden cero Zoh

tiene una duración muy corta.

Señal Muestreada Señal Retenida

Figura 1.4

En la figura 1.4 se presenta un retenedor de orden cero Zoh y las formas de onda de su entrada
y su salida.

En esta práctica se implementarán 2 circuitos que realizan las funciones de muestreo y

retención respectivamente. Estos circuitos se implementan a través de circuitos analógicos
y amplificadores operacionales para poder visualizar las funciones que se realizan en estos
2 procesos, pero haciendo la anotación de que en los sistemas de control digital estas
funciones se realizan a través de los convertidores analógico digitales que contienen de
manera intrínseca a dichas funciones de muestreo y retención (S/H, Sample and Hold).

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 .

4. ANTECEDENTES:

El silabo para la primera parte del curso de Sistemas de Control Digital es muy parecido en
muchas universidades a nivel Latinoamérica. El módulo muestreador/retenedor es realizado en
diversas universidades. La mayoría de ellas solo le da un análisis teórico de cómo es su
funcionamiento interno, como podemos observar en las siguiente imágenes
Estas pertenecen a las universidades “Universidad Nacional Abierta y a Distancia UNAD” y a
la “Universidad Popular del Cesar” respectivamente. Se pudo encontrar un análisis más
detallado del módulo en la “Universidad Nacional Autónoma de México” el cual es

básicamente igual al que la “Universidad Nacional de San Agustín” posee.

Figura 1. Muestreo y retención de una señal

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Figura 2. Diagrama de Proceso de Muestreo y retención pertenecientes a la Universidad
Popular del Cesar

Estas pertenecen a las universidades “Universidad Nacional Abierta y a Distancia

UNAD” y a la “Universidad Popular del Cesar” respectivamente. Se pudo encontrar un
análisis más detallado del módulo en la “Universidad Nacional Autónoma de México”
el cual es básicamente igual al que la “Universidad Nacional de San Agustín” posee.

Página 8
 5. DESARROLLO E IMPLEMENTACIÓN DEL MÓDULO:

-Material:
1 C.I. LM555
1 C.I. LM741
1 C.I. CD4016 (CMOS) Switch Bidireccional.
1 C.I. CD4069 (CMOS) Inversor Lógico.
2 Resistencias de 100 Ω a ½ W.
1 Resistencia de 0.27 k Ω a ½ W.
1 Resistencia de 1 k Ω a ½ W.
1 Resistencia de 2.2 k Ω a ½ W.
1 Potenciómetro de 50 k Ω.
1 Capacitor de 2.2 nF.
1 Capacitor de 1 nF.
1 Capacitor de 0.1 µF.
2 Capacitores de 100uF electrolíticos
1 C.I. LM555
1 C.I. LM741
1 C.I. CD4016 (CMOS) Switch Bidireccional.
1 C.I. CD4069 (CMOS) Inversor Lógico.
2 Resistencias de 100 Ω a ½ W.
1 Resistencia de 0.27 k Ω a ½ W.
1 Resistencia de 1 k Ω a ½ W.
1 Resistencia de 2.2 k Ω a ½ W.
1 Potenciómetro de 50 k Ω.
1 Capacitor de 2.2 nF.
1 Capacitor de 1 nF.
1 Capacitor de 0.1 µF.
2 Capacitores de 100uF electrolíticos

-Equipo:
1 Fuente bipolar.
1 Generador de
funciones.
1 Multímetro
1 Osciloscopio.

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1. El circuito de la figura 1.5, el cual realiza la operación de muestreo sobre la señal Ve(t) y genera
una señal muestreada Ve*(t), consta de las siguientes partes:

 Generador de pulsos de muestreo en configuración astable.

 INVERSOR LOGICO
 Interruptor analógico (interruptor bidireccional) controlado por pulsos.

MUESTREADOR DE SEÑAL.

Figura3. Muestreador.

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 Figura4. Circuito del muestreador

Figura5. Circuito del muestreador con el retenedor.

Página 11
GENERADOR DE PULSOS DE MUESTREO

Está conformado por un temporizador LM555 que funciona como multivibrador Astable.

LM555.
El temporizador IC 555 es un circuito integrado (chip) que se utiliza en la generación de
temporizadores, pulsos y oscilaciones. El 555 puede ser utilizado para proporcionar retardos de tiempo,
como un oscilador, y como un circuito integrado flip flop. Sus derivados proporcionan hasta cuatro
circuitos de sincronización en un solo paquete.

Voltaje de entrada (VCC) 4.5 a 15 V

Corriente de entrada (VCC = +5 V) 3 a 6 mA
Corriente de entrada (VCC = +15 V) 10 a 15 mA
Corriente de salida (maximum) 200 mA
Máxima disipación de potencia 600 mW
Consumo de potencia (minimum operating) 30 mW@5V, 225 mW@15V
Temperatura de operación 0°C hasta 70 °C

 GND (normalmente la 1): es el polo negativo de la alimentación, generalmente tierra (masa).

 Disparo (normalmente la 2): Es donde se establece el inicio del tiempo de retardo si el 555 es
configurado como monoestable. Este proceso de disparo ocurre cuando esta patilla tiene menos
de 1/3 del voltaje de alimentación. Este pulso debe ser de corta duración, pues si se mantiene
bajo por mucho tiempo la salida se quedará en alto hasta que la entrada de disparo pase a alto
otra vez.
 Salida (normalmente la 3): Aquí veremos el resultado de la operación del temporizador, ya sea
que esté conectado como monoestable, estable u otro. Cuando la salida es alta, el voltaje será el
voltaje de alimentación (Vcc) menos 1.7 V. Esta salida se puede obligar a estar en casi 0
voltios con la ayuda de la patilla de reinicio (normalmente la 4).
 Reinicio (normalmente la 4): Si se pone a un nivel por debajo de 0.7 Voltios, pone la patilla de
salida a nivel bajo. Si por algún motivo esta patilla no se utiliza hay que conectarla a
alimentación para evitar que el temporizador se reinicie.

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  Control de voltaje (normalmente la 5): Cuando el temporizador se utiliza en el modo de
controlador de voltaje, el voltaje en esta patilla puede variar casi desde Vcc (en la práctica
como Vcc -1.7 V) hasta casi 0 V (aprox. 2 V menos). Así es posible modificar los tiempos.
Puede también configurarse para, por ejemplo, generar pulsos en rampa.
 Umbral (normalmente la 6): Es una entrada a un comparador interno que se utiliza para poner
la salida a nivel bajo.
 Descarga (normalmente la 7): Utilizado para descargar con efectividad el condensador externo
utilizado por el temporizador para su funcionamiento.
 Voltaje de alimentación (VCC) (normalmente la 8): es la patilla donde se conecta el voltaje
de alimentación que va de 4.5 V hasta 16 V.

INTERRUPTOR ANALÓGICO CONTROLADO POR PULSOS.

Formado por :
CD 4016

El circuito integrado CD4016 posee en su interior 4 interruptores bilaterales, los cuales son controlados
digitalmente por 4 terminales de control.

El CD406 puede manejar señales análogas y digitales, además es compatible con el CD4016 pero se
diferencia en que sus interruptores poseen una menor resistencia.
Puede conmutar, multiplexar señales análogas y digitales.
Soporta el conmutado de señales de hasta 20v.
Maneja señales de hasta 40Mhz.
Temperatura: -65ºC a 150ºC
Voltaje de operación típico 3.3v a 18vdc
Tecnología: CMOS
Encapsulado: DIL 14 SOP 14
Fabricantes: Texas instruments, Philips, Intersil.

CD 4069

La UTC es un IC CMOS con seis circuitos inversores y diseñada para el uso de la amplia gama de
funcionamiento fuente de alimentación, bajo consumo de energía, alta inmunidad al ruido y la
elevación controlada simétrica y bajada. El CI es capaz de protección ESD por el diodo se sujeta a
VDD y VSS.

El rango de tensión de alimentación ancha: 15V.

La alta inmunidad al ruido: 0,45 VDD típ.
Baja Potencia compatibilidad TTL: Ventilador de 2 conducir o 1 74LS
conducción.

Página 13
2. Calibrando el generador de funciones con una señal Ve(t) = 2.5 Sen 6283.18 t.

Figura6. Retenedor.

Página 14
3. Probando el sistema por partes y verificando el correcto funcionamiento de cada una de ellas.

 Generador de pulsos de muestreo (terminal 3 del LM555)

 Interruptor analógico (interruptor bidireccional) controlado por pulsos.

(Terminal 3 del DG201)

Página 15
 SIMULACIÓN E IMPLEMENTACIÓN

4. Comprobación y explicación del funcionamiento del proceso de muestreo para

las señales de entrada triangular y cuadrada además de la señal senoidal del
punto anterior.

Este circuito integrado es

de tecnología CMOS y
deberá ser manejado con
las precauciones
necesarias para evitar que

Figura 1.5

El proceso de muestreo puede representarse a través de un switch que se cierra

cada t = kT segundos durante un tiempo de muestreo (p), la entrada de este switch
es una señal analógica y la salida es una señal muestreada como se muestra en la
figura.

Figura 7. Simulación en Proteus del sistema de muestreo

[Escriba texto] Página 16

PRUEBA CON LOS EQUIPOS:

Para el correcto funcionamiento del módulo es recomendable usar los instrumentos del
laboratorio de electrotecnia, puesto que tienen un manejo mucho más sencillo, a
continuación pasaremos a detallar las características de estos instrumentos.

Fuente de tensión continúa

Fuente de Poder DC de 195 watts con 3 Salidas: 2x(0-30V, 0-3A) 1x(5V Fija);
precisión de 0.5%; Display cuádruple de LEDs. Modelo GW Instek GPS-3303.

» Tres salidas independientes y aisladas.

» 0,01% Load and Line Regulación.
» Bajo nivel de ruido.
» Rastreo automático y operación automática en serie y paralelo.
» Configuración de voltaje y corriente de salida.
» Ventilador de velocidad ajustable por control para minimizar ruido.

FUENTE DE
ELECTROTECNIA
N°J

Figura 8. Fuente de tensión continúa.

[Escriba texto] Página 17

Generador de señales
Con ella generaremos señales de voltaje (Seno, Cuadrado, Triángulo, Rampa).
» La Frecuencia Se Extiende
» El 2Hz para 6MHz (FG 506)
» El 2Hz para 13MHz (FG 513)
» Las Frecuencias Síncronas del Reloj
» El 2Hz para 12MHz (FG 506)
» El 2Hz para 24MHz (FG 513)

GENERADOR DE SEÑALES
DE
ELECTROTECNIA

LETRA ‘’A’’

Figura 9. Generador de señales

[Escriba texto] Página 18

Osciloscopio tektronics 1002

» Ancho de banda: 40MHz 60MHz

» Frecuencia de muestreo: 1GS/s
» Nº. De canales: 2 + disparador externo
» Display: LCD 1/4 VGA monocromo, iluminación trasera
» Long. De registro: 2,5K puntos
» Tipo de disparo: De flanco (subida, bajada), vídeo, anch. De pulso, interferencia
» Modos de disparo: Auto, normal, único
» Captura de interferencias: 12ns
» Sensibilidad vertical: 2mV en 5V/div con ajuste fino calibrado
» Resolución /precisión vertical: 8 bits /±3%
» Escala de la base de tiempos: de 5ns a 50 s/div
» Precisión de la base de tiempos: 50ppm
» Impedancia de entrada: 1MΩ en paralelo con 20pF
» Modos de adquisición: Detección de pico, muestra, promedio, única
» Dimensiones: Alt. 151mm x Anch. 324mm x Prof. 124mm x Peso 2,0kg

OSCILOSCOPIO DE
ELECTROTECNIA :

N°16

Figura10. Osciloscopio.

Entonces dicho los instrumentos que se van a utilizar además de multímetro y

conectores cocodrilo procederemos a conectar a los equipos teniendo las correctas
calibraciones de los equipos establecidos en el punto 4.

[Escriba texto] Página 19

 Figura 11. Muestreo para la señal senoidal.(simulacion)

Figura 12. Muestreo para la señal senoidal (implementación)

Figura 13. Retenedor de señal senoidal.(implementacion)

[Escriba texto] Página 20

 Figura 14. Muestreo para una señal triangular (simulación)

Figura 15. Muestreador de señal triangular (implementación)

Figura 16. Retenedor de señal triangular (implementación)

[Escriba texto] Página 21

 Figura 17. Muestreo para la señal cuadrada (simulación)

Figura 18. Muestreador para la señal cuadrada (implementación)

Figura 19. Retención para la señal cuadrada (implementación)

[Escriba texto] Página 22

 5. Mida los valores de periodo de muestreo (T) y el tiempo de muestreo (p) mínimo y
máximo de la señal de salida del generador de pulsos variando el potenciómetro P1 a
su valor mínimo y a su valor máximo.
Medida cuando el potenciómetro es el valor máximo
T=189us, P= 38.57us, el resultado se muestra en las siguientes 2 imágenes:

Figura 20. Medida cuando T=189us

Figura 21. Muestreo para un P=38.57us

Medida cuando el potenciómetro tiene su menor valor

T=4.94us, P= 815.83us

[Escriba texto] Página 23

 Figura 22. Muestreo para un T=4.94us

Figura 23. Muestreo para un P=815.83us

6. La frecuencia de muestreo mínima y máxima que se puede obtener con este
circuito.
 Fmax=202.429KHz
 Fmin=5,291Hz
7. Empleando el teorema de Nyquist se determinó que la frecuencia máxima de la
señal de entrada Ve(t) que puede ser muestreada con este Sistema es 404.858Hz.

8. Variando la frecuencia de la señal senoidal a un valor en el rango de 30KHz a

50KHz y observe el comportamiento simultáneo de las señales de entrada Ve(t) y
de salida Ve*(t), ajuste el valor de frecuencia para obtener un proceso de
muestreo equivalente.(Aliasing o Señal de salida que no es muestreada
adecuadamente debido a que no se toman las muestras necesarias para
representarla). Grafique las señales para cada punto y anote los rangos de
funcionamiento de cada una de las etapas, es muy importante llegar a una
conclusión práctica de porque con este tipo de circuito no se puede llegar a
muestrear señales de cualquier frecuencia o amplitud.
[Escriba texto] Página 24
Usamos una frecuencia de 30KHz para la señal senoidal y la respuesta gráfica es la
siguiente:

Figura 24. Gráficas para una frecuencia de 30kHz

Existe una insuficiencia de la frecuencia de muestreo, razón por la cual la señal

muestreada no logra representar la forma de la señal de entrada ya que la máxima
frecuencia de entrada debería de ser de 4KHz si nuestra frecuencia de muestreo es de
8KHZ ya que debe de cumplir:

Fs > 2*4KHz = 8KHz

Por lo tanto se produce un Aliasing.

Utilizando el teorema de Nyquist la frecuencia mínima de muestreo para una señal de
30KHz es de >68KHz, pero el inconveniente para este circuito es que la máxima
frecuencia de muestreo posible es de 11936 Hz, por lo que es insuficiente.
Viendo en la simulación del circuito no se puede poner cualquier rango de frecuencia al
muestreado, ya que si este supera el periodo de muestreo simplemente habrá una o
pocas muestreadas lo que no nos ayuda para reconstruir la señal como se ve en las
siguientes muestras obtenidas a menores frecuencias aún se tiene muestras pero a
medida que se va aumentando la frecuencia la señal pierde información y no se sabe que
es lo que se envió.

[Escriba texto] Página 25

 Figura 25. Muestreo a una frecuencia de entrada de 30kHz

Figura 26. Muestreo a una frecuencia de entrada de 35 kHz

[Escriba texto] Página 26

 Figura 27. Muestreo a una frecuencia de entrada de 40 kHz

Figura 28. Muestreo a una frecuencia de entrada de 45 kHz

[Escriba texto] Página 27

 Figura 29. Muestreo a una frecuencia de entrada de 50 kHz
4. Retirando la resistencia R3 de 10 Kz que está conectada a la terminal 3 del
interruptor analógico, ya que afecta el comportamiento del circuito retenedor que
se adicionará a la salida del muestreador y regresando la señal de entrada a su
valor de amplitud y frecuencia original Ve(t) = 2.5 Sen 6283.18 t.

[Escriba texto] Página 28

 5. La relación que tiene cuando se agrega el retenedor es que esta tratara de
parecerse lo más posible a la señal de entrada, ya que esta representa la
reconstrucción de la señal muestreada, mientras más muestras se tenga mejor se
reconstruirá la señal
Tener en cuenta que en la simulación se utiliza un bloqueador de orden 0:
Senoidal

Triangular

Cuadrada:

[Escriba texto] Página 29

6. RESULTADOS Y CONCLUSIONES

1. El Teorema de Nyquist define a Fs como 2/T , donde T es el periodo de muestreo

y f como la componente de mayor frecuencia presente en la señal de tiempo continuo
x(t) y la x*(t) como la señal muestreada .Solo se podrá reconstruir completamente
x(t) a partir de x*(t) si durante el periodo de muestreo se cumple con la condición
de que Fs sea mayor a 2*f, esto es :

Fs > 2*f

El incumplimiento de este teorema al momento del muestreo introduce distorsiones a la

señal muestreada y utilizada de esta forma puede crear errores al momento de
reconstruir la señal o en el tratamiento de ella. Estos inconvenientes generalmente son el
doblamiento, traslape y oscilaciones escondidas de la señal original; comúnmente
llamados fenómenos de Aliasing.

Cuando la velocidad de muestreo es muy baja en relación con la frecuencia de la señal

muestreada, se produce un efecto conocido como señal fantasma (ghost signal) o
aliasing. Si la frecuencia de muestreo es muy baja y el tiempo de adquisición de la señal
muy corto, habrá problemas de resolución y la posible aparición de frecuencias
“fantasma” que los registros indicarán, pero que realmente no existen en el movimiento
vibratorio.

Para evitar este fenómeno de establecer una frecuencia de muestreo de cuando menos 2
a 2,5 veces la mayor frecuencia esperada del movimiento vibratorio. Tambien deben
utilizarse filtros (normalmente en el dispositivo acondicionador) que no permitan el
paso de frecuencias fuera del intervalo de interés, así como atenuadores de amplitud
para frecuencias altas.

[Escriba texto] Página 30

2. Obtenemos la función de transferencia del retenedor empleado en la práctica
(figura 1.6)

Se trata de un circuito retenedor de orden 0, que está conformado por un filtro pasa
bajos de primer orden para el circuito retenedor.

1
𝑉𝑜𝑢𝑡 𝑅𝐶
=
𝑉𝑒(𝐾𝑇) 𝑠 + 1
𝑅𝐶

Reemplazando con los valores del circuito tenemos:

𝑉𝑜𝑢𝑡 106
=
𝑉𝑒(𝐾𝑇) 𝑠 + 106

Resolviendo en el dominio en el tiempo tenemos:

𝑡
𝑉𝑜𝑢𝑡 = 𝑉𝑒(𝐾𝑇) ∗ (1 − 𝑒 −𝑅𝐶 )
𝑑𝑜𝑛𝑑𝑒 𝑅𝐶 = 10−6

3. Calculando el valor de la constante de tiempo del retenedor y el tiempo de carga

del capacitor al 98% de su valor de carga inicial.
Resolviendo en el dominio en el tiempo tenemos:
𝑡
𝑉𝑜𝑢𝑡 = 𝑉𝑒(𝐾𝑇) ∗ (1 − 𝑒 −𝑅𝐶 )
𝑑𝑜𝑛𝑑𝑒 𝑅𝐶 = 10−6

[Escriba texto] Página 31

Si la carga está al 98% entonces tenemos que:

98/100*C*V=C*V*
98/100=(1-exp(-t/0.1K*1nf)
(98/100) - 1 = - exp(-t/RC)
-2/100 = exp(-t/RC)
Ln(2/100) = ln (exp(-t/RC))
Ln (2/100) = - t / RC
-3.91 = - t / RC
t = 3.91*0.1K*1nf
t = 0.39 us

4. Verificamos que se cumple la relación de tiempos siguiente, para el

punto de máxima frecuencia de muestreo:
5t < p < T

Si P es mucho menor que T, entonces es adecuado el muestreo de nuestra señal.

Periodo de muestreo (T)mínimo y máximo

Frecuencia mínima 600Hz
Periodo(T) 1.36
Tiempo de muestreo (P) 7.5useg
Frecuencia máxima 12kHz
Periodo(T) 71.7mseg
Tiempo de muestreo(P) 7useg

[Escriba texto] Página 32

5. Si la frecuencia de muestreo es elevada y el tiempo RC es muy grande entonces el
tiempo de carga del condensador será tan grande que cuando empiece a descargar el
voltaje acumulado en el condensador será muy pequeño hasta el punto que tienda a
cero , por tanto la salida será de 0 voltios , esto lo podemos comprobar gráficar:

Cuando RC>T

La grafica muestra y se puede ver que la señal muestreada es buena ya que la frecuencia
de muestreo es elevada.

6. Los procesos de muestreo de orden múltiple, ritmo múltiple y aleatorio.

 Muestreo Periódico: es el más usual, los instantes de muestreo están igualmente

espaciados cada T segundos, sea T = KT, T: es el periodo de muestreo, con K
=0, 1, 2, 3,….

 Muestreo de Orden Múltiple: El patrón de tK`s se repite periódicamente: tK + r-

tK = constante, para todo tK.

 Muestreo Múltiple: Sistemas de múltiples lazos que debido a la dinámica de

cada lazo requieren diferentes periodos de muestreo.

 Muestreo Aleatorio: La variable tK es una variable aleatoria.

[Escriba texto] Página 33

7. Calculando los parámetros de tiempo del oscilador en modo astable
implementado con el circuito LM555 de la práctica y comparándolos con los
obtenidos prácticamente. (Referenciándonos de la hoja técnica del dispositivo
LM555 donde se especifican las ecuaciones de funcionamiento).

Utilizando la formula dada por el fabricante del dispositivo tenemos que:

LM555 .

𝟏. 𝟒𝟒
𝑭=
𝑪(𝟐𝑹𝑩 + 𝑹𝑨 )
Reemplazando estos valores
𝑅𝐴 = 1𝐾Ω
𝑅𝐵 = 0.1𝐾Ω
C=0.1uF;
Reemplazando tenemos:

1.44
𝐹=
0.1𝑢(2 ∗ 0.1𝐾 + 1𝐾)

F=12000Hz=12KHz.

Vemos que el resultado es el mismo al compararlos.

[Escriba texto] Página 34

7. OBSERVACIONES Y RECOMENDACIONES:

1. Para un correcto funcionamiento del módulo fue necesario modificar el

cableado ya existente debido a que en ciertos puntos se producía cortos y señales
de ruido que afectaban a nuestra señal de entrada.
2. Se cambiaron los integrados cd4016 y cd 4069 constantemente debido a que
estos integrados son muy sensibles y por ende más propensos a quemarse ante
un mal funcionamiento del módulo.
3. El mal estado del potenciómetro originaba ciertas fallas en la señal de salida del
muestreador , por lo que hubo la necesidad de cambiarlo.
4. Una mejora para este módulo sería implementarle un swich que nos permita
asegurar mejor la resistencia de forma que no se tenga que estar manipulando
manualmente este mismo para hacer el análisis de la señal muestreada, pues un
mal ajuste de este origina ciertas señales no deseadas.

[Escriba texto] Página 35

 8. BIBLIOGRAFIA:

 [Link]
discretos/[Link]

 [Link]

 [Link]

 [Link]

 [Link]
do-seales-primera-parte-10461

[Escriba texto] Página 36