Norma IRAM 15
Planes de muestreo pat
especiales de su aplicacion
inspeccién por atributos aspectos
Introduccién
El presente trabajo persue el bjetive de abordsr slgunos aspectes de los planes. para fa
fundamentales para la obtencién de un mayer
pleo,dandose por entendio que el lector conoce
los principios tric de os panes estadisticos de muestreo y el uso de la norma IRAM 15 para
1g ecepcion por aribuos,
Significado del AQL Nivel de Calidad Aceptable
ds cada plan, que pueden eer consuitadas en la Norma
lel mis.
1, vemos que, trabsjando con ese plan de muesto en ls
[No obstants, el usuario del plan debe tener en cuenta que loles 5% detectuoses, serén
‘sceptados 50 veces de cada 100 y que lotes 10.5% defectuoses serén aceptados 10 veces co
‘cada 100. Por elo, debe prestarse atoncién especial 2 estos riesgos eno! uso aislado de los
s Norma IRAM 15 nos muesir que. para el mismo AQL, pueden ser apcados distntes planes de
ruestreo,
Valores preferidos del AQL
‘crrespondon a una serie normal cuya razén ee la vale quinia de
Los AGL comprendios enre 0,010 y 10 pueden ser usados en base al porcentaje defectuoso 0
‘como defecios en 100 unidades. Los AGL mayores se usarén sélo como cafecies en 100
unidades,
Si para un dado producto se establece un AQL aferente a os Indicados, os planes de muesteo
no pueden ser usados.
‘aparece como muy justfeable, dado que
‘decuade,
Los valores muy altos, 100 y superiores, no son usados muy frecuentements. Ellos implican
Considerar salisfacoro a un produto en el que cada unidad puede tener uno o mas derectos,
Por supustto, esos defectos serdn de menor importancia y se ralard de unidades compleias,
‘como sar un vehioulo completo,
Como elegir el AGL
fen cuenta el uso que fen a! producto y las consecuencias que
puode ser tolerable en productos de gran sere,
respuesta calsfaciona aia fjacion del AQL. ue debe usarse siempre
lal especial $1, se produce la educcia del tama de la muestra para el mismo le Por ejemplo, para un lote de 10.000 unidades, los tamatios de muestra para un plan simple son
los siguientes:
ebie
Nivel denspeceion
ESPECIALES —GENERALES
5
jibe para T0000 nidados.
160 en cuenta que la relacién normal esté dada por el Nivel Il, vemos que para el Nivel Iy
eles especiales, la recuceién de! lamano de la muestra es coneiderabe, Esta recuosion
‘un aumento considerable de los reages de aceparlotes con porcentsjes defectuosos
mas elevades que el AQL.
uso de ls niveles especiales requiare del conocimiento y aceptacién de los mayores resgos
ue allo involura
Er nivel de inspeccién debe fYarse teniendo en cuenta cules el poroentale detectuoso para el
‘ual se desea toner una elevada chance de rechazo, en el caso que lles con esa calidad sean
ue establocen las curva caractersicas pare cada letra clave nos:
5 letras Aa J no curplen esta [Link] letra K esta muy
194% dafectunso tiene una Pa, = 25% (Tabla X-2.). ESO ef
Inspeccién Normal, Estricta y Simplificada
El ulo 4:3 de la Norma establoce fos crteros para el cambio del sistema de inepeceiin, en
funcién de los resuitados de los sucestios loles el mismo producto, reckidos de un
la proteccién del clenie y estableoe un incentive ecandimioa para el
fabricante, que se ve forzado a mejorar su proceso 81 no desea que cael todos Ins lates le sean
rechazades, con el peuico que elo sigaies, tran pate de la proteccion de estos planes
Defectos y Defectuosos
Es posible usar los planes en base al nimero de unidades defectuosae (AOL fado como un
Portentaje defectueeo, o en base al ndmara de defectas (AOL establecido como defectes por
{i ingpeceidn en base al porcenaje defectuoso aeume que si una unidad es defectuosa, et
humero de defects no bane mportancl,
{La unidad @s mala con un defecto, con dos @ con mas detectos y no coresponde hacer
lstncén alguna,
G
paricién de uno no trae aparejada la aparcén de oo.
Silos defecios no son indopensientes, es deci, existe correlacin entre ellos, el asunto debe ser
{enido en cuenta en la inspeccién por defects, dado que una causa proveca los dos defectos
correlacionados
Dresencia de un defecto que no reduce a Ulidag al producto y sbi le quia valor comercial. La Norma define tres caracterisicas de defects. Pe
‘rabslar con doe de ellos: defectos mayores y
‘erteos, el problema requiore su coneideracan por separado,
Cuando es necesario, las dos categorias mencionadas en primer lugar oueden abrise en sub-
ayoria de fos c3s08 68 suriente
fenores. Respecio a los defectos
Cconsecuercia mayor rigurosided de la nocesarla y las conseouentes difeulades on la
produccion,
Pr supuoso, a cada categoria de detectos se le asgnard un AQL diferente: el mas esto para
los defecios mis importantes y
Ja recepeien del producto
Defectos criticos
‘Se trata de una categoria especial da defactes. No olidemos que los defecios ertices son
luelv0s, la solucion que debe adoptarse os la inspeccién
100%, ws decir, de todas las unidades dal lote. Pero atencion, en este caso la inspeccién 100%
fo es la selection de buenos y melos, sino aue un solo defecto que aparezca provocaré
detencién de la produccién hasta soluconar el problema
Eni précice es un plan de muestieo donde el tamano de
Donde:
defoctuoso que se desea delectar,s ests presente.
El factor F depende del riesgo de no encontrar un defectuoso en la muestra, segin Ia tabla
siguiants: Riesgo Factor
resto 230.28
en 100 46052
‘ven 1000 coors
ten t0000 92.08
‘en 300000 0
+ en 1000000 6
Ejemplo: Para cierto producto es necesara la inspeccién de defectos critcos mediante ensayos
estrucvos. Se resueive que tel ate contiene, como maximo el 2% defectuose, el rieego do no
‘encontrar un dafectuosa en la muestra no dabe eer mayor ce 1 n 10,000,
Luegor n= 921,04 /2 = 460,52
Elplan de muestreo a apicar ser
n=461
70 dele muss)
A= 0 (nimero de aceptacién)
R= 1 (numero de rechazo)
La inspeccién inaiza cuando aparece un defectuoso en la muestra,
‘Cémo especificar el uso do los planes de la Norma RAM 15
El uso de fos planes de ls Norma IRAM 15 en
‘ser establonio en forma adecuada, para preci
‘de inspeccién, para todo el producto o para cada grupo de defects,
ct de os planes deseados.
© especticard el uso de inspeccién esticia@ partir y UE (ED
g inawtis
Dieiembre de 1979 *
cou saat
INSPECCION POR ATRIBUTOS
Planes de muestra unica,
doble y multiple, con rechazo
on su mismo titulo y INSTITUTO ARGENTINO
coPaNT szv-tora. memeneane DE RACIONALIZACION
DE MATERIALES
de las ediciones de abil de Norma Panamericana COPANT 227 Abel ge 1972
perme Panamericene COPANT 27 Atri ge 1972 |
‘son rechazo
DICE GENERA
1 Letra clave del
Planes de mu
Planes de
Curvas del tamato medio de las mucsiras
ETRAS CLAVE
Curvas y planes de misstras : EID 80
wapuzErxcrammooa> Norma Panamericana COPANT. 27, Abell de 1972
fy pratabilidad de ace,
yimenor para muestras menores,
2. 3 Los planes establecidos on
horma panamericana son Indicados, prin
cipatmente para la recapelin co
jade de later de mere:
2,4 Cuando se los emples en |
Blan que beinde Ia peotecci6n dewesdr (ver
‘de-emplear el
2.5 Los niveles ce
cana corresponden 9 hdmeros normals, Por AGL distintos,
fstos planes no pueden ser usadas,
tania de
3 DEFINICIONES
1a poreién de poso a volumen especificado, que
fl enso de mat
Unidades pueden ser cambiod
Ses ffaices
de sen considerada una unided a
tamafo de |
para el materi Norma panamesieana COPANT. 327 Abeii ge 1972
3.2. Muestra, E's un grupo de unidades extrafdas de un lote, que sirve pe
Fa obtener fa Informacion neces:
imiento de Inspeccién que con
2 que se recite, para determi
fasificar simp on
nimero de defectos de cada
peceian de los lates cuando se rec!
be desconoce ono a litne un conve!
teria!
3.9 Inspecclén simplificada, Es el procedimiento de inspecein que puede
auopinree para un proveedon
3. 10 Inspeccién estricte, Es el procedimiento de inspacclén que debe adop,
tarse para un peoveedor determi
3.11 Plan de muestreo
Ge recepeién que consiste
serecibe y, sobre ia base
clén'o rechazo, cH
Norma panamenicana COPANT 227 Abeil de 1972
3, 13 Plan de
, "sobre Ia base de los datos acumuladas de inspec
Yodefectuonss, proceder a a) acenlaclin o rechacon
‘segunas
Gefecto que puede ‘el narmal desempeso
Se uns funelbn importante de un products ‘depende la seguridad
jertinaaa 9 que produce w
"5, con pequetio efecto reductor sobre #! fUn~
lent de fa Unidad,
3:18 Unidad detectuosa, Es ta unidad que thene una @ mas defectos.
3.19 Unidas def
ibe erfitcos, Pu
sa crftlea, Es 1a unidad que contieneuno 9 mas defece
‘contener defectos mayores y menores,
3,20 Unidad datectuosa mayor. Es ta unidad que contlane une o mis defec-
mayores, Puede contonor defector menores pera no contiene dafectos
3.21 Unidad defectuosa menor, Es la unidad que contiene uno o més defes,
tos menores, No contiene efectos eriticos ni mayores.
fades insnecofona—
dos, ol rest lear por 100 a) Is cantigac de uni,
dades detectuosas y dicna cantidad de unidades inspeccionadas. —
a7 Alsi de 1972
|AQL). Eel miximo porcentje ct
‘eteetes en TOO unidades, que debe
uestreo dé por estado la
3.28 Nivel do inspeccidn, Es et nimera que identlics la rlacibn entre
ie la muestra
329
ra lave de tmatio de a muestra, Es, lox efector de esta norma panemeicans
ae tama de as muestra en func Ge los tamatos de lates para los
Deccion, Ung otra clave identifies un tarato de muss
3.30 Numero de aeeptacon. €s, a los electos de ests norma penarericana el nimara que expresa fa
‘mayor canted de unidades defetuossso de defects, admitida ene pon de muesteo adoptado, par
la aoeptacién de ote; para un ive aesptable de calidad dete
4 INSPECCION v RECEPCION
41 PLAN DE IMUESTRED. EI plon de muesteo roqverido srt earacterizado por el nivel de ealided
ceptable (AGL) estabircia y la ata elave dl tamaha dela mesa Iver 5)
© par subgrunor dentio de dicho grupo.
44.11 Los ADL manors 0 igusles a 10 26 expresirin en parcensie defectuoso o en del
100 undoces,segin corespanda. Los AOL mayors do 10 se expretarin en cfactos en 100,
4.12 Nive de inepecsin, oe
Norms pansraicans COPANT 221 Abi $e 1072
[Link] La raacion normal ante otto de fa muestra y
va lf que serdergleado en todos os cates condo no
44.2. Elnivel 1 cuando sa exe una mencr disc
se fqulera una mayor dierimincion
bn 6 nv se used cuando
Los niveles especies 5:1, $2, §-3 y 84 s ompleardn dnicamente cuando san neceatos tam:
fos de muestra rolativarnent pequers y pueden cabon
NOTA: Cuando se emploan los ivele de ingpeccin Sta
leo denivels de calidad acetabla (AQ! que no sson contra
4414 Obtencién dt plan de muestre,
43.4.1 En funcign del tomato del
Inia eta clave del tamaio
¥ dl nivel de inspecciénestbleido, se determina, en fa tabla
[Link] En funcién del AGL expecitcado y det»
ve del tamafo do Ia muestra, se determina
tablae
-Tespectivarante el plan de muerte ae
4.1.43 Cuando pare una combinacidn determinada de AQL y
clave no exits un pan de mes:
{10 8 obtendrd de a abt
fe munsteo a rar con un amas de muesteciterente,€ ue
4.1.44 5%, debido a ete proce
amas de muestra pars ditintos
bert empiears alta clave carespondient al mayor tamaso
Ipod efecto one! mismo i
Baa todos os grunos de wafctos
4.14.5 Como alternative para los planes de muestra simple con nimaro de aceptacién 0, pode em:
lear al plan inmediato para el mismo AL, con niimara de acoptacion | y waves tame oe ec,
42 muesta€o,
4.2.1 Lote El producto sa presentart»inspecsin on ote ident
stablecido en 33,
dos qu tatistagan el concepto
4.2.2 Obrencién dels musta. Norma panamericana COPANT 327 Abell de 1972
rrr ito 1972
4, 2.2.1 Las muestras se obtendeén emaleande sistemas adecuados de ox
Waccién ce mugsiras al azar, quo aegunen la repeesentativldad del love
on consideracl
4, 2. 2,2 Las muesiras so podrin extraer del total del lote 0, durante el
proceso de fabricacién, de laa unidaces que lo forman,
4. 2. 2,3 Cuando se empleen sistemas dobles o mi
Cha! de ing moesinas ae obtendea
4, 3 INSPECCIGN NORMAL,
Inspecciéa normal, Al comenzar Ia inspeccién para un material de
miniade #6 Us NSpeccién normal, 1a que proseguiracon los suce=
inspeceién normal sepodra paser » Inspeccién
sagan las siguientes condiciones:
fos presentados a Inepacclén han sido sceptados;
se rechaza
) 50 acepta un lote como consecuencia de la aplicacién de los pérra
fost. 8.1 y 44,8 2
€) la preduecién se
4, 3,3 Inspeceién estricta
a inspecelén normal se proceda al recha
vos, se imalantara la inepecclén estrie:
= lotes de cineo conser
Indo cinco lotes consecutivesy
. 3 Si 10 lotes consecutivos permanecen en inspeccién es
‘ramping la inspeccién del producto, haste tanto se
3 mejorar su ealldac,
selp
mod Nowa panamericane COPANT
327 Abi do 1972
5,4 PRESENTAGION AEITERADA DE LOTES
dss as deectuosas a corigéndose lor defector,
inspsceibn ea
or sobre todas is eaetore
55 ELECCION DEL SISTEMA DE MUESTREO,
5.6.2 Las euros para nivel de clad ace
Poisson y son apie
5.3 Las curves para
Oo inferires a BO estén
Je delectuoso
Flor 0 estin Bada
ribsen de
100 unidades o cel porcentajeaetectoro,
54.1 Los lotesrechazadospodén sr presntados nuevaments a inepeccién,debidamente identifcados
como tals, despues de que tods as uric Rayan sido nuevamantsinseccionedos,
54.2 En este caso, el compradorcetarminaré el vio de una inapesciin normal o estita y
planes de muestra nea com nimero de septation 1
5.64 Lascurvs pra niveles de calidd aceptable i
380 Unicamente sobre ls que originaron Norma porameviana COPANT 2 Abril de 1972
55 Para cade cura, a can los valores de ls probabil
‘ion con Inspecion normaly ertrct,
vd de aceptacién Pa (Of) on corel:
57 CURVAS DE TAMARO MEDIO DE LAS MUESTRAS.
Ls curva dl tame mado
les, indian los tumafios promedias
lat muestas dads en fa tabla are ls tomes dob
nuestra que se pueden presenta en funcin dela
ida de
151.2 Estas curves estin basaas an a cistibucin da Poisson yen que los traos del muesres on
fos Hntomae
proporcione una proteecion adecusda conta la
cantided de deeetucron,
ion de lots con
‘98.2 Estos planes puedan solecionarse en baz a a calidad
coneumidor.
(LO) y el eoerspondientecesgo del
10/0 y 5 0/020 estalecen
5.8.4 Pars ovos valores de riesgo dol consumidor, pueden empleara as curvasy ss valores tabulados
ara determiner ia eorespondiants calidad
5.8. La calidad limite puode ser empleada también para el establecimiento del AQL y e nivel de ine
peesisn, cuando se etableo un maxima de fects 0 defectuosos pare Gl
‘lon en cusiguier lots de una serie a inspecciona.
6. aPeNDICE
8.1, Esta Recomendacin tine como base la norma militar MIL: SIT - 105 D Sampling Procedures and
Tables for Inspaction by Atributes, publicada por el Departamento de Defensa de los Estados Unidos de
‘América, Los tables y ais, como as también el procedimientoy concepto generals reproduce sin
iaciones, no as as. deinciones ye texto que han sido maifcados, aa
‘TABLA | ~ LETRA CLAVE DEL TAMANO DE LA MUESTRA
2
0
280
1200 ‘waon
TABLA V ~ A FACTO!
INSPECCISN NORMAL (MUESTREO SIMPLE)
PARA EL LiMITE DEL PROMEDIO DE LA CALIDAD DE SALIDA PARA
5 fre [aefoorlacasfaoaooay one on] ars] oaefoms] so [re] asf] ~| w] = ]@ Ju Jw]mo]m al woes
e] 2 pe se] | os] 20] a fo foe |ri0| ro] a0
r |» By s2foo}or| se] 2] afar [oo
s| = a sslorfos]ul ala [ow
n |e a wafer] ae | ea] oo] ra] ia] a
u| = oe Jss|oar [xa | 22] aa] a [a
w | ae a oar] ova oge| 00 4 | 22 | a0 | ar
© | ae ns Jas|atr)oae| geo] ea] ae | 2 |
0 | 120 loa foer]o11|o1s} 225] oe] ona on |
a | 2potspon|ays|oz2|e2afowfar| | a
oxoiuusa
Soov
TAGLA V-8 ~ FACTO’
PARA EL LIMITE DEL PROMEDIO DE
LA INSPECCION ESTRICTA IMUESTRED SIMPLE)
CALIDAD DE SALIDA PARA
Ca Fe Tiara ata wie 4
om Jone souhorfisshooon[aro]oo[es[an]om [ale] |e] [= [=] =] Tw] mlos]a]aopad
= 3 a ga fin fas f 20) ao] or | as | 0 | 200
| oa ua fro] na] aa [oe foe fre
«| om a jon fur foe] ae] on [oa lan
cm ose 92|ge fos | tw | ne | ao [or
| ae 2 om] satfase le |e] 30 a0
+ | oe Jom fa |e oan oe | vw
a | zo] pen! | faoufan for) ozs arson ose oo
Isosonso3430101
TABLA VI ~ A - CALIDAD LIMITE (EN *S DE ELEMENTOS DEFECTUOSOS PARA LA QUE
Pg © 10 POR CIENTO [PARA INSPECCIGN NORMAL, MUESTREO SIMPLE
we Torte Nie aia septate
=| nae | oom | once] com [oom Paom Jan] av] os|.a fam] wo [= [a] | a |»
o| 2 se a fw [mo fm
a} Lo | ae ashe fafa fw] oo |»
«| ns ws ar faa | sa foe | oe fe | ow |
0 2 ar faa | as se | or fo | oe
| ae on 2 ar [as] ar [ae | oe | oe
«| ow ove a la ae] ar | ao | 50
+ | ow on ow op | na we] oas [as
| 0 | ow eat | a one | ae wl os
am | or | om | oes | ase | or 10 PPR CIENTO (PARA INSPECCION NORMAL 'UESTREO SIMPLE)
oo
ens [acrefomrooer ou] oass]a,o] ove] oas aro] ons] ve] vs] a5] sola To [@ [= [>] [om] wo] 0] mx] wo] om
° 2a sa [ar] cafe fe | w fo |
va . 31] a3] sa] aa] anf | ve 20
200 2 ae | 22) a3] 4s] 50] 22/0 |
a ans ta {sr [an] 2a | a7] 49] @) 90
mo nel oral vs [aa [oa] a4] ar] 9] ae
om | | azs| 48 foer] ose] 12 | ss] 12 | 25] 36|
rao | os | 043 Joss} 974] op4| 2] 10 | 2a]
2000 ‘20 o21| 933) 040] 00] 077 | 10] 4 5
(so1n2a3a) 01 wos
TABLA VIIA — CALIDAD LIMITE (EN % DE ELEMENTOS DEFECTUOSOS! PARA LA QUE
Py =5 POR GIENTO [PARA INSPECCIGN NORMAL MUESTREO SIMPLE)
Isosonsoaa3a) 04
vo] aes | one [acm [aces | aw [ow [om] oo] os] [um [a]
us as[ so] oz fae fn |
1s ra | a2] a9 | sa | oe | ae |
ons s [mw |as] aa] ae [se | ro} 96
oso ow [oa [oe [ar] ae [oe ot
%2 os | om | of va | ve ar | ar
one axe fos | om fom oy || ue | ae
axe | ose fom | oss | one | om] oy | as ee
(souaasaai 07
TABLA VII —
Py =5 POR CIENTO (PARA INSPECCIGN NORMAL, MUESTAEG SIMPLE)
— CALIDAD LIMITE [EN OEFECTOS POR CIEN UNIDADES PARA LA QUE
‘| monan | aaron oneeooeaaee ol on Lele] fee] = [x [=] =] om [9] m0 [oo] a] om
w]e oa os) va [oe | as| oe fae] ae] ot
«| 2 ae] aal | |
| s zal az] asl sal oe] wa) |
wf ow oa rs |20] 8] a9] aa] sal 20] 9
a | se os0| asf ra |r| ar] asl aa aa]
| ao] fay e4| 070] 097] sa | se] 24} 2a} al
| 0 | oz om |oso| ora] oat] sa | 1a sal 2
5 | a0 24] 032] 20] 033] 66] 085) 11 | ua aun
-3uaKON
TABLA Vill ~ NUMEROS LIMITE PARA INSPECCION SIMPLIFICADA
ae
eee:
eoafonea]are fos] ozs Joao] acs] so ]as]as [soles |] ]™ [© [a |] wo]a0] a [aolioo
|
wore] - [od] a of of 2{ «| 2] mf af an | ors foes |
Sa nae eco snr hs apr ns # Ig a ae
TABLA IX ~ CURVAS DEL TAMANO MEDIO OE LAS MUESTAAS DOBLE Y MULTIPLE
INSPECCION NORMAL Y ESTAICTA)
Mo} LF
>
“> CASE A LE SAS
mae
TABLA XA — LETRA CLAVE A
EEESEGET crArico a — CURVAS CARACTERISTICAS PARA PLANES OF MUESTREO SIMPLE
Eat Acero (Las cones para maestreo doble y mille con equivalents
3s) 00
TABLA X/A1 VALORES TAGULADOS OF LAS CURVAS CARACTERISTICAS PARA PLANES
De wuestaeo Simms
" s See |= S
< @ [<[ a
oy mcecorst cnn
FT
mT
sone [a [as [ os [mee [ace [0 [eto [vo [see [oe [as [as [ae [ore [on
see [ee [ese] me gee [aay [ota nein [ease [pee Doe [ane [a se [as
won [ee [aie [ae [ae [ee [te Da [er To [aes Jao oes
wa [ea tae os [ane | me [os fre | ee Ine oe [es [oe [ar sao
oy foe [a [oe [oe Pe a [0 cee [ee | wei [0
3 ara | os te [Pa [a vat [ee | er rose [i
a rae [ot [es [ota a0 [a wer fee [er [ee [asf [am
ele le tele ve mo [>< [= a aaa
TABLA X.C-2 ~ PLANES DE MUESTREO PARA LA LETRA CLAVE ¢
4 petra et ll
“ala P<] [ol [= fo [= [xX] [Xm DX] = Dx [om DX] ee PX] 190
Niel eid sept Uap ecte are
TABLA X.0 ~ LETRA CLAVE 0
GRAFICO 0 ~ CURVAS CARACTERISTICAS PARA PLANES DE MUESTREO SIMPLE
{Las curas para mussteo doble y maitiple son aquivalentes)
wo
ot an lowshetanas erpondon saa edn pais ROL oars ma
TABLA X-D:1 ~ VALORES TABULADOS DE LAS CURVAS CATACTERISTICAS PARA PLANES
DE MUESTREO SIMPLE
fn = Lele e Tey sys Le i (= S=
2 sean [me wa as aes | as as ea eee
260 vi [ome [sae wat er { eal ear] ma eel ae fs | oe | a | er | ae | ae
re wer at | a Rape wer oe] ee [ ew [ep ae ae ap
a wif aa Dee Beer toas} wep ear car sor}
oo aa | oe [i waa | ee epee era frp ae pe]
oo aa papa oa pee paar aa
5. ae a ae we SW
1 mz [ss | ae wae vee [200 [are _[ ase | ae [ee [eon | oea | eee | aa [| ae
TABLA X-0.2. LANES OE MUESTREO PARA LA LETRA LAVE 9
Tea a Gee co
J dee Xe EEE EXD X X=
BS [EES] acme acre acne| aca acrelsete al ace erence act lace|se nacre nena cme acne ace
Pets Xo [=f l= [=] = le d= bd = De P= Pq
in ci a me id
Pree TABLA X-E ~ LETRA CLAVE E
; GRAFICO £ — CURVAS CARACTERISTICAS PARA PLANES OE MUESTREO SIMPLE
u as curs para mueszco dobie y multiple son aquivaentes)
aes ae
i * is
| > *
i 7 3
i * >
one oN See a tc eS et”
TABLA XE1 ~ VALORES TABULADOS OE LAS CURVAS CARACTERISTICAS PARA PLANES
DE NUESTRED SIMPLE
. [a [eles >a Pelaye | *] = Del « Sle vor Bm
svo| eof v9] ang vo aos] a aa] wa[ oa] al mol a [xe] cs [me] mo] e[ won| oe
| ‘won| o.07| “ai6] sao] vez | apne) «00| aa] tae | m62[ sal aus] saa] ons | a2 | os | we | ves] wo] 2
i soo] a9 [as Pron [S| 9 [ea [row [ee [asl ol wr wet fs fia Poe var or
sof ei fons Poon [oer [oar [ay Dag Pa | or esl fee fom foe Pe Por ae
von[ ma [ace [ane [oar [ans [oon sie [ val os ior [on [rr [efron Pa [a [ a
so[ ma [ote [wo os [ap [es feet oie [wap berber fo po fa wa
ifaw [ais fos [oar |e faur fear ma [or [nfo fae eta ae
a Lele Leste Te f= blo D< fw De a
TABLA, 2 ~ PLANES DE MUESTREO PARA LA TRA CLAVE H
ie cad aeeple Ginspeon orm
ox] oo [ [om [oe [> Do [> Do
Bs ran rae ca te ace [face ea eae lac [cw
Blew Xo [o foe [oe [om |e XP DX» Selo BF}
Nivel de edn acptbie tgs etic TADLA XA — LETRA CLAVE N
ramoero. SAAFICO N— CU, 5 CARACTERISTICAS PARA PLANES 0. «UESTREO SIMPLE
see aesrenn {Ls curvas para muestreo doble y miltiple son equivalentes)
Trac
Ap as EE ee eas
TABLA X-N-1 ~ VALORES TABULADOS DE LAS CURVAS CARACTERISTICAS PARA PLANES.
DE MUESTREO SIMPLE
a
ae [ae oe ee [oo | ae a = a
me | amas [ame [ar [one [ase | as | ay | ome =
fea [aster | apr | ae [azn [ase [ ape [ass | is
en 2a
wee [ ame | over | one | ono | ome | vio [iar [ a as
aaa ae ae ae] sp ea at
ea [ om | ose [ar | "ae 7 ae
wae [ asst pare | ee [ ae 7 a a
3a] as ose [pe | ssa a3 a
ie [ ase | aan | wae aa | ase [aon
Pow [om oss 8 i a
TABLA XA-2 — PLANES DE MUESTAEO PARA LA LETRA CLAVE N
4 | PEE epee pga sero
Ta fom S< Teas [ooo] aoe] a0] a] eas] SC] avo
ah
00 | sors |X] onze] goto] aoc] 930] a6 | 92s ayo] a we “S
An eid oe ein oma errs
Az
TABLA X.A ~ LETRA CLAVE 8
GRAFICO A ~ CURVAS CARACTERISTICAS PARA PLANES DE MUESTREO SIMPLE
sorceye ne co (Las curs para muesteo doble y miliple son equivalents)
onas POPE a aS aR eB aa ae
TABLA X:A-1 ~ VALORES TABULADOS DE LAS CURVAS CARACTERISTICAS PARA PLANES
DE MUESTAEO
wos [ome [ae [oe [ee =
ao | omme [eaae| aan | oona | ove | ore | osm =,
a | can [apes apa | erat [ara [a aT
sa | cana [ase] aon | aaa [| ot oe
Seana oo a aoe aa
a | am [aya [one | ae [aa [oop
Sa} Cae [ame ose [canoer ser
eo ae | eae [ease [eat [na [naa
So] a9 | este eam [ome | eer | era | ao
eve [tao] oar | oss [eam [ ane |p =
TABLA %R.2 — PLANES DE MUESTREO PARA LA LETRA CLAVE A
Nl de ee nara
. 280% [SC [909]900 [Ts] SC] = SC] om
B act acs [ans |ene ac nu acm [ane [ana acnelane| cel none
em fom [omens a oe DX] om [fe] foe LE
Av de ale ee geste oe
TABLA XS ~ LETRA CLAVL
‘espe
‘romato | deeeeion arma
ie ie
sino a0 | 1 2
roo | 0 2
sooo | a
oo |e a
reo | # 2
20 | 0 2
owe | 200 | o a
wooo | 2
sooo | 2 a
Niclas clan
amped
