Sistemas de muestreo de aceptacion OBJETIVOS Se espera que al terminar este capitulo, el lector: © Determine el plan de muestreo usando la norma ANSUASQ Z1.4. © Conozca las reglas de cambio para la norma ANSI/ASQ Z1.4. © Clasifique los diversos sistemas de planes de muestreo en términos de lote por lote, produccién continua, atributos y variates. Describa los distintos sistemas de planes de muestreo, y conozca sus funciones (ventajas, desventajas, objetivo, etcétera). Determine el plan de muestreo usando las tablas de Dodge-Romig. Trace la curva de capacidad de operacién para un plan de muestreo en cadena. Determine el plan de muestreo usando la norma ANSVASQ SI Determine el plan de mucstreo para produccién continua.© Pueda usar el método de grifica de lote de Shainin, © Determine si se acepta o rechaza un lote usando ANSUVASQ Z1.9. “mam INTRODUCCION Este capitulo presenta tres tipos distintos de planes de muestreo dé aceptaci muestreo de aceptacién de lote por loie para atributos, (2) muestreo de aceptaci produccién continua por atributos y (3) muestreo de aceptacién para variables. capitulo sera util distinguir entre 1. Un plan individual de muestreo que indique ef tamafio de lote, tamaiio 0 t de muestra y los criterios de aceptacién. 2. Un esquema de muestreo que sea una combinacién de planes de muest reglas cambiantes y quiz un criterio para discontinuar. 3. Un sistema de muestreo que sea una caleccién de esquemas de muestreo. PLANES DE MUESTREO DE ACEPTACION DE LOTE POR LOTE PARA ATRIBUTOS ANSI/ASQ 21.4! Introduceic Un grupo de ingenieros de Bell Telephone Laboratories desarroll6, en 1942, de muestreo de aceptaciGn para inspeccién lote por ote por atributos, para gobierno estadounidense, Recibié el nombre de JAN-STD-105, Desde ent han hecho cinco modificaciones, y la ditima se amé MIL-STD-I05E. En adoptado por la Organizacién Internacional de Normalizaci6n (ISO), y Norma Internacional ISO/DIS-2859. Aunque la norma MIL-STD-10SE fue ada para adquisiciones gubernamentales, ha Iegado a ser la norma para i de atributos en la industria. Es el plan de muestreo de aceptacién de mayt el mundo, La American Society for Quality (ASQ) hizo modificaciones a la 10SE y se conocen como ANSV/ASQ Z1.4. Todas | sin cambio. Sin embargo hay tres cambios basic’ 1. Los términos no conformidad y unidad no conforme se sustituyen por defectuoso. "sta secci6n se extrajo de la norma ANSV/ASQ Z.1.4—2003, con autorizacion de American SociPorcentaje de lotes aceptados (100?) 4 6 8 Porcentaje de no conformes (100p,) FIGURA 10-1, Comparacién de inspecciones normal (N), estrecha (7) y reducida (2). 2. Una opcién es la regia de cambio que usaba un ntimero limite para uno de los criterios de inspeecidn reducida. 3. Se agregaron mas tablas para AOQL (nivel promedio de calidad de salida), 1-Q (calidad limitante), ASN (cantidad promedio de muestras) y curvas OC (caracteristica de operaci6n). Estas tablas reflejan el desempefio del sistema, que es la combinacién de cambios entre planes de muestreo normal, estrecho y reducido. Los das primeras cambios se incluyen en el material que sigue, no asf el tercero, Lanorma es aplicable, sin limitarse. a la inspeccién de atributos de lo siguiente: (1) artfeulos finales, (2) componentes y materias primas, (3) operaciones, (4) materia. Tes en praceso, (5) mercancfa en almacén, (6) operaciones de mantenimiento, (7) datos © registros y (8) procedimientos administrativos. Los planes de muestreo segtin esta norma pretenden ser usados para series continuas de lotes, pero se pueden disefar pla- nes para lotes aislados, consultando la curva de caracteristica de operacién (OC) para determinar el plan que produzca Ia proteccién deseada. La norma prevé tres tipos de muestreo: sencillo, doble y méltiple. Para cada tipo se consideran inspecciones normal, estrecha o reducida. La inspeccién estrecha ‘¢ usa cuando se deteriora el historial reciente de calidad del productor. Los requi- sites de aceptacién bajo inspecei6n estrecha son mis estrictos que para la inspeccién normal. La inspecci6n reducida se usa cuando el historial reciente de calidad del ‘Productor ha sido excepcionalmente bueno. La figura 10-1 ilustra las diferencias encry curvas de caracteristica de operacién para inspecciones normal (1V), estrecha ( reducida (R). La cantidad inspeceionada en tna inspeccién reducida es menor que en una’ n-de qué plan usar (sencillo, doble o miltiple} se deja. autoridad responsable (el consumidor), pera se debe basar en la informacién pr tada en el capitulo anterior. La inspeccién normal se usa cuando se inicia la cin, y se cambia a inspeccién reducida o estrecha en funcién del desempeno re en calidad. Las no conformidades y las unidades no conformes se clasifican en gi como A, B y C, o criticos, mayores y menores EI producto se presenta en lotes homogéneos, y la manera de presentat identificacién esté disefiada © aprobada por la autoridad responsable (el con: dor). Se seleccionan muestras al azar, sin fijarse en su calidad, Los lotes no tados vuelven a presentarse, después de que en todas las unidades no confor hayan eliminado 0 corregido las no conformidades. La autoridad responsable minard si la reinspeccién debe abarcar todos los tipos 0 clases de no conform © los tipos o clases particulares de no conformidades que causaron la no acept inicial, Limite de calidad de aceptacién (AQL). El limite de calidad aceptable (A acceptable quality level) es la parte mas importante de la norma, porque él y la lave del tamafio de la muestra determinan el plan de muestreo, El limite de c acepiable se define como el peor promedio tolerable de proceso cuando se pr una scrie continua de lotes para su muestreo de aceptaciéin. Cuando se aplica la norma para planes de porcentaje de no conform imtervalo de AQL va desde 0.010% hasta un méximo de 10%. Para planes conformidad por unidad, son posibles AQL. desde 0.010 no conformidades pi unidades, hasta 1000 no conformidades por 100 unidades. Los AQL estin en pr sién geometrica, y cada uno es aproximadamente 1.585 veces mayor que el ant El limite de calidad de acepiacién se indica en el contrato, o lo fija la aut responsable. Pueden indiearse AQL diferentes para grupos de no conformidades siderados colectivamente, 0 para no conformidades individuales, Los grupos conformidades 0 las unidades no conformes pueden tener distintos limites de ce aceptable; los valores menores para los que scan criticos, v mayores valores no conformidades menores. Los AQL se determinan a partir de: (1) datos hist (2) juicio empirico, (3) informacién técnica, como funcién, seguridad, manuf intercambiable, determinacién de duracién, etcétera; (4) experimentacién, prot lotes con diversos porcentajes de no conformes, © de no conformidades por uunidades, (5) capacidad del produetor y (6) en algunos casos, las necesidades del sumidor. La determinaci6n del limite de calidad aceptable es una decision de j La norma ayuda a determinarlo, porque sélo se cuenta con una cantidad finita forma. Es préctica frecuente usar valores de AOL de 0.10% 0 menos para las no formidades criticas, 1.00% para las mayores y 2.5% para las menores. El nim aceptacién para las criticas deberia ser 0. EIAQL es un punto de referencia en la curva caracteristica de operacién. No‘ ca que algtin porcentaje de no conformes, 0 de no conformidades por 100 uni capiTuLo 10SLA 10-1 Letras clave de tamafo de muestra (Tabla I de ANSUASQ Z14) NIVELES ESPECIALES, FRALES DE INSPECCION DE INSPECCION MANO DELOTEOCARGA — S-I $2 S3 S4 1 u m1 28 A A A A A A B os A A A A A B e 16-25 A A B B B € D 26-50 A B B 24 e D E 31-90 B B Cc Cc Cc E = ‘91-150 B B c D D F G 151-280 B ie D gE. E G H 281-500, B c D E F H J 501-1200 C. Cc Ez ¥F G J K 1201-3200 4: D Ez, G a K L 3201-10,000 Cc DB BR G J L M 10.001—35,000 Cc F H K M N 35,001-150,000 D G J L N 2 150,001-500,000 D 6 I M P Q 500,001 y més D H K N Q R inte: Reinapreso de ANSUASQ 214-2003, con autorizacién de la American Society of Quality sea tolerable. La nica forma en que el productor pucde tener la garantia de que se aceptard un lote es tener 0% de no conformes, o tener una cantidad de-unidades no conformes menor o igual que el niimero de aceptacién del plan. ‘Tamafo de muestra. El tamaiio de la muestra estd determinado por el tamaiio del ote y el nivel de inspeccién. E! nivel de inspeccidn que se usa pura determinado requi- sito sera indicado por la autoridad responsable. En la tabla 10-1 se presentan tres niveles generales de inspeccién (I, II y III). Los distintos niveles de inspeccién dan aproxi- madamente la misma proteccidn al productor, pero diferentes protecciones al con- sumidor. El nivel de inspeccién Il es la norma, y el nivel | proporciona aproximadamen- te la mitad de la inspeccién, y el nivel IIT proporciona aproximadamente el doble de la cantidad de inspecci6n. Asi, el nivel III produce una curva caracteristica de operacién méis pendiente, y en consecuencia mas ny mayores castos de inspec cién, La figura 10-2 ilustra las diferencias entre las curvas de operacién para niveles de inspecein I, Hy III. La decisiGn sobre el nivel de inspecciGn también esté funcién de Ia clase de producto. Para articulos poco costosos. para pruebas destructivas © para pruebas peligrosas, se debe considerar el nivel IT. Cuando los costos posteriores de produc- -ci6n son altos, o cuando los articulos son complejos y costosos se podrd aplicar el erimin: SISTEMIAS DF MUESTREO DE ACEPIACTONPorcentaje de lotes aceptados (100°,) 8 4 Porcentaje de no conformes (1009,) FIGURA 10-2 Comparacién de los niveles de inspeccién LI y IIL. nivel III de inspeccién, El consumidor debe cambiar el nivel de inspeccién dey do con lo que indiquen las condiciones. an [a tabla 10-1 se presentan cuatro niveles especiales mas (S-1, $-2, S- y se pueden usar cuando es necesario tener tamatios relativamente pequefios tra, y se pueden o se deben tolerar grandes riesgos de muestreo. La tabla 10-1 no indica de inmediato el tamaiio de muestra de acuerde tamatio del lote y el nivel de inspecci6n, pero proporciona una letra clave del de muestra. El limite de calidad aceptable y la letra clave del tamaiio de mus para localizar el plan de muestreo que se desee Implementacién Los pasos necesarios para usar el plan son los siguientes: 1. Determinar el tamaiio del lote (en general, responsabilidad de Administ materiales), 2. Determinar el nivel de inspeccién (en general, nivel Il; se puede cami requieren las condiciones), 3. En la tabla, determinar la letra clave del tamafio de muestra. 4. Determinar el limite de calidad aceptable (AQL). 5. Determinar el tipo de plan de muestrea (sencillo, doble o miiltiple). 6. En la tabla correspondiente, determinar el plan de muestreo. _—7. Comenzar con inspeceién normal y cambiar a estrecha 0 reducida, de acuerdo ss reglas de cambio. En las seeciones siguientes se presentarén problemas de ejemplo para planes de mues- treo sencillo. Planes de muestreo sencillo Los planes de muestreo sencillo que indica la norma se muestran en las tablas 10-2, 10-3 y 10-4 para inspeccién normal, estrecha y reducida, respectivamente. Para usar las tablas se necesitan el limite de calidad aceptable, el tamaio de lote, el nivel de inspeccién y el tipo de plan de muestreo. La técnica se ilustra con un problema de ejemplo. PROBLEMA DE EJEMPLO 10-1 Para un tamafio de lote de 2000, un limite AQL. de 0.65% y un nivel de inspec- cidn LL, determinar los planes de muestreo sencillo para inspeccién normal, estrecha y reducida, Normal. Con el tamaiio de lote N = 2000, y el nivel de inspecei6n TI, en la tabla 10-1 se obtiene Ia letra clave L para el tamafo de muestra. En la tabla 10-2 (Planes de muestreo sencillo para inspeccién normal) se obtiene el plan que se desea con la letra clave L y AQL 0.65%. Es n = 200, Ac = 3 y Re = 4. Asi, en un lote de 2000, se inspecciona una muestra aleatoria de 200. Si se encuen- tran 3 0 menos unidades no conformes, se acepta el lote, y si se encuentran 40 més unidades no conformes, no se acepta el lote. Estrecho. 1a letra clave del tamafio de muestra es L, igual que la de la ins- pecci6n normal. De la tabla 10-3 (Planes de muestreo sencillo para inspeceién estrecha), se obtiene el plan deseado de muestreo para la letra clave L, y el limite AQL de 0.65%. Es.n = 200, Ac = 2 y Re = 3. Asi, en un lote de 2000, se ins- pecciona una muestra aleatoria de 200. Si se encuentran 2 0 menos unidades no con formes, s¢ acepia el lote: si se encuentran 3 o més unidades no conformes, no se acepta el ote. Reducida. 1a letra clave del tamaio de muestra es L, la misma que para lainspeccién normal. En la tabla 10-4 (Planes de muestreo sencillo para inspec cién reducida) se obtiene el plan deseado para la letra clave L y nivel AQL 0.65%. Es n = 80, Ac = 1 y Re =4. Asi, de un lote de 2000 se inspecciona una muestra aleatoria de 80, Si se encuentra 1 © menos unidades no conformes, se acepia el lote. Si se encuentran 4 o mas unidades no conformes, el lote no se acepta. Si se encuentran 2 0 3 unidades no conformes, se acepta el lote, pero el tipo de inspeccién cambia de reducida a normal. También se requiere un cambio a inspecciGn normal si no se acepta el lote. Al comparar los tres planes, observe que los requisitos de aceptacién son mds estrictos para el plan estrecho que para la inspeccién normal, De hecho, en la inspecciGn mea SISTEMAS DE. MUESTREluoroendaoe ou 9p ciouiay = 29) \d902 9p cuoupy = ay ae te ‘ a4 de ele da 1 th de italy i ioe Ty t a slp cle rea * rae ete tite ° er 7 ¥ 1 | 4 | ie a won| es | ow ae | ar | or | se [st for | 0 | we |are [ate lost aimee neg eae (FEZ OSVASNY9P V-IL eIG4) ]euLI0U Wo}Do0dsUY wstd oI|!NRS OD.ySOHUN ap SUE TOT VIVE2112p Lez Nw 80> *gONe—F 12, OSWHISNY 9P osaxeDy onde yend900 OU 9p OLIN = S9h =v a war] asl cle ele 1 tof owe | rae eet wi | 8 eee if f| 4 ofa ealy [the o | s | ps a] te «| oo a 2 a ce a Ed ae ar [ET [aT A ay * an Los les Lwes [avy [ave fa ondsuy wrHd oypUDs oa.sySaMU ap SALE | E-01 WTAWL (PTZ OSV/ASNY °P ATL 81421) BHpa089“upiansdsut 9p 4500 492% ‘89 of 0 210g FAP oUDUM jp anb JOAYUN o yond; so wnson op owe F215 "EGON PL ap Oley ODN Op U “apeng) soy AwLa0g ww: (uno placed w ansauan asad “0 Po gsegar ass upoendooe ou 2p e1ouuny = 2 yoeadaoe op xu = 9Y Danson 9p ued Jowuuljasc1 = sound joes = b “wupag 21 9p | 1 dq] : ig ee ' i. T fae Eat : oS pear barf sesh ; oa = marten iss (P°1Z OSVASNY 9P D-IL BGEL) VETINGERE UPoadsuy eaed oyoUAs oa.ysonU ap some f-OT WTAVLnormal se acepta una muestra con 3 unidades no conformes, pero no se acepta con ins- peccién estrecha. El tamafio de muestra con inspeccién reducida es aproximadamente 40% del tamafio de muestra de la inspeccién normal o estrecha, lo cual representa un ahorro considerable en costos de muestreo.. Si se encuentra una flecha vertical, se adopta el primer plan de muestreo arriba © abajo de clla, Cuando eso sucede, cambia la letra clave del tamaiio de muestra, y el tamafo de muestra. Por ejemplo, si se localiza un plan de muestreo sencillo para inspeccidn reducida (tabla 10-3) con un AQL de 4.0% y una letra clave D, Ia letra clave cambia a F, y el tamafio de muestra cambia de 8 a 20. Si la flecha vertical apunta hacia abajo, quiere decir que el tamafo de muestra es demasiado pequeiio para tomar una decisi6n; si 1a flecha vertical apunta hacia arriba, quiere decir que se puede tomar una decisi6n con menor tamafio de muestra. En algunas casos, el tamafio de muestra seré mayor que el tamafio del lote, y en esos casos se requiere el 100% de inspeccién. Planes de muestreo doble y multiple La norma admite planes de muestreo doble y multiple (7 muestras). El uso de esas tablas es semejante a la técnica descrita para el muestreo sencillo, por lo que no se describird en este capitulo. Inspeccién normal, estrecha y reducida. A menos que 1a autoridad responsable indique otra cosa, la inspeceién comienza en la condicién de inspeccién normal. Continuarin las inspecciones normal, estrecha 0 reducida, sin cambiar, para cada clase de no conformidades 0 de unidades no confor- mes, 0 hasta que se requicra un cambio, de acuerdo con las reglas de cambio que se indican abajo. Normal a estrecha. Cuando esti vigente la inspecci6n normal, se deberd insti- tuir la inspecciGn estrecha cuando 2 de 5 lotes o cargas consecutivos no hayan sido aceptados en la inspeccién original (es decir, sin tener en cuenta los lotes presentados por segunda vez), Estrecha anormal. Cuando esté vigente la inspeccidn estrecha, se debe instituir Ia inspeccién normal cuando se acepten 5 lotes 0 cargas consecutivos en la inspeccién original, Normal a reducida. Cuando est4 vigente la inspeccién normal, debe insti- tuirse la inspeccién reducida siempre que se satisfagan (todas) las siguientes con ciones: 1. Los 10 lotes o cargas anteriores hayan tenido inspeceién normal, y todos ellos se ‘hayan aceptado en la inspeccién original. 2, La cantidad total de unidades no conformes (no conformidades) em fas muestras de los 10 lotes o cargas anteriores, es igual o menor que el atimero aplicable de SISTEMAS DE MUESTREO DE ACEPTACION a“180 10) Demos weaHaMrY ] ap uOKZHOINE wo9 {OOK —F1Z OS WASNY 2P 099 mong a opezeysos wry 29 ounugn ane 19 SrA © SO] ZONP 9p su zesN UpIpO su Se] up sapeptun ap pepo Harb ee 28 “ost o189 | “TOW 2189 HOD epgoNpar UOr>=2e su & T ‘ eeeeieeriaxet 3] x09] a prelzag|s (PZ OSWASNY °P TIA PIRI) PPMP Up}ooadsuy vawd a}fULyT SorDUEDN g-OT VTAV.LJa tabla 10.5. Por ejemplo, si la cantidad total inspeccionada en los Gitimes 10 lotes o cargas es 600, y el limite de calidad aceptable es 2.5%, el ntimero Limite es 7, En consecuencia, para calificar para la inspeccisn reducida, la cantidad de no conformes en las 600 inspeccionadas debe ser igual o menor que 7. En algunos casos se necesitan mas de 10 lotes 0 cargas para obtener una cantidad suficieate de unidades de muestra para determinado AQL, como indica la nota de la tabla 10-5. Esta condicién es opciona La produccién es Ia capacidad constante. En otras palabras, no han sucedido recientemente dificultades como descomposturas de maquinas, carencias de material © problemas laborales. La autoridad responsable (consumidor) considera deseable la inspeccisn reduci- da, El consumidor debe decidir si los ahorros por inspeccionar menos garantizan los gastos adicionales de elaboracion de registros y capacitacién de inspectores. Reducida a normal. Cuando est vigente la inspeccién reducida, debe implan- tarse la inspeccién normal siempre que en la inspecci6n original se satisfaga cual- quiera de las cuatro condiciones s Un lote 0 carga no sea aceptado. Cuando el procedimiento de muestreo determine que no se hayan satisfecho los criterias de aceptaci6n ni no aceptaciGn, se acepte ef lote 0 carga, pero a partir del siguiente lote se vuelva a implanta ién normal. La producci6n sea irregular o demorada. Otras condiciones, como deseos del cliente, que indiquen la re-instituci6n de la inspeccién normal. Si 5 lotes © cargas consecutivos permanecen en inspeccin estrecha, se debe imterrumpir la inspeccién hasta que haya una accién para mejorar la calidad del mate- rial presentada. La inspeceién reducida debe implantarse después de haber hecho la accién correctiva. Informacién suplementaria La norma contiene curvas caracteristicas de operacisn para planes de muestreo senci- Io, con inspeccién normal que indican el porcentaje de lotes 0 cargas que se espe- Fa que sea aceptado bajo los diversos planes de muestreo para determinada calidad de proceso, La norma no contiene curvas caracteristicas de opera muestreo doble y multiple, pero:se igualan tanto como sea practico. La tabla V (que no se reproduce en este libro) de la norma muestra el limite pro- medio de calidad de salida para planes de muestreo sencillo, con inspecciones normal y estrecha. sc reEn la tabla IX se presentan curyas de tamaio promedio de muestra para mue: treo doble y miltiple en funcién del tamaiio equivalente de muestra en muestreo set illo; se reproducen parcialmente en la figura 9-17. Muestran los tamaiios promedi de muestra que se esperar tener bajo los diversos planes de muestreo para determin: da calidad del proceso. Lanorma ANSI/ASQ Z1.4 esté disefiada, para usarse cuando Jas unidades se pr ducen y forman series continuas de lotes o cargas. Sin embargo, si se desea un plan muestreo para un lote 0 carga ajslado, debe escogerse con base én la calidad limi (LQ) y el riesgo del consumidor. La norma contiene tablas (que no se reproducen este libro) para riesgos de consumidor de 0.05 y 0.10. Por consiguiente, se puede ob ner un plan de muestreo para lotes aislados que se acerque a los criterios tanto Productor como del consumidor. Sin embargo, es mucho més fécil usar la not ANSVASQ Q3-1988, que se describird a continuacién. NORMA ANSI/ASQ Q3? Esta muestra debe usarse para inspeccionar lotes aislados por atributos. Complem a la ANSU/ASQ Z1.4, adecuada para us busca en tablas por valores de calidad limitante (LQ), y es aplicable para lotes 0 B25 lipo A 0 tipo B. Estos conceptos se describieron en el capitulo anterior, Los v: res de LQ se determinan con las mismas técnicas que con las que se determinaron valores de AQL Hay dos esquemas. Uno, que muestra la tabla 10-6, es para lotes que son ais dos 0 mezelados, o que tienen un historial desconocido hasta donde sabe tanto el dedor como el comprador. Para usar la tabla se deben conocer el tamaiio de muest el limite de calidad. PROBLEMA DE EJEMPLO 10-2 Para un tamafio de lote de 295 y un valor de LQ (limite de calidad) de 3.15% determinar el plan de muestreo, De acuerdo con la tabla 10-6, la solucién es: n= 80 Ac =0 Los valores nominales del limite de calidad se basan en B = 0.10. Com trabaja con ntimeros enteros, los valores reales de LQ pueden variar un poco res} al nominal. Observe que el LQ se maneja como porcentaje. El segundo esquema se usa cuando un vendedor produce una corriente cont de lotes, y manda uno 0 unos pocos a un cliente, que los considera como lotes ais! "Bsa seccin se extrajo de ASQC Q3—1988, con autorizacién dela American Society for Quality eye cariruLo 10U 0 uw ze o | 0 oe | ae 0 |e cioe tees a) su |e al ee st w 0 0 s wt str os 0 4001 vs 26001 sre 20 DOSY oP esaxdenog ‘anany 01 Key an stoop asornb Yeoswou gy] <— jap ouvureyj9 amb stow #9 1 opuen, Wy u 00008 < | | | 000'00S ¥ [O0'DSE | O00'ST ¥ 100°SE 00'SE ® 100°0L | ooc'e 107't | 02"1 ® 10s 0 na S01 sst_| 0s v 192 0 Coat $6 ot | 080 ¥ ISL 0 | 08 oo | Ost 16 0 Cia 05 001 | 06 15 veal zor | = ose sz es ee | scr 1 Oz | Set so | so ‘ALOTad ONVINVE i ~ (0) ALVINAOWOd Na TVNINON SLINVLIATT QVaTTV ui sopupriva swsa9ajp avd ojypues oamnsont 9p s9ue|a 9-01 VTHVELCon frecuencia, esta situacién se presentard en la compra de pequefias cantidades una materia prima, En las tablas se indican los valores para LQ de 0.5, 0.8, 1.25, 2. 3.15, 5.0, 8.0, 12.5, 20.0 y 32.0%. Sélo se reproduce la tabla para 3.15% en la tal 10-7. Las tablas muestran Ta calidad del proceso en funcién del nivel aceptable de c: dad (AQL, como se usa en ANSI/ASQ Z.L.4), que son equivalentes a Ia calidad limi para distintos tamafios de ote. PROBLEMA DE EJEMPLO 10-3 Determinar el plan de muestreo para un tamaiio de lote de 295, nivel de inspec~ cién Ty valor LQ de 3.15%, procediendo el lote aislado de un vendedor qu maneja una cortiente continua de producto. De acuerdo com Ia tabla 10-7, la soluci6n e = 05 =a Observe que se puede usar la informacién de las tltimas 5 columnas para tr las curvas caracteristicas de operacién. También observe que la informacién de la ti 10-7 proviene de ANSI/ASQ Z1.4. La tinica diferencia es la localizacién por medio valores de LQ, para facilitar el uso. Tablas de Dodge-Romig En la década de 1920, H. F. Dodge y H. G. Romig desarrollaron un conjunto de tal de inspecci6n para aceptacién lote por lote de producto mediante muestreo por bbutos. Esas tablas se basan en dos de los conceptos deseritos en el capitulo 9: cali limite (LQ)* y limite promedio de calidad a ta salida (AOQL). Pura cada uno de conceptos hay tablas para muestreo simple y doble. No se prevé muestreo miiltiple. este libro sélo se incluye el muestreo sencillo. La ventaja principal de las tablas de Dodge-Romig es que la cantidad de ins| cin es minima para determinado procedimiento de Jas tablas sean adecuadas para inspecciones intemas, 1. Calidad limite (LQ). Estas tablas se basan en la probabilidad de que det minado lote, que tenga un porcentaje de no conformes igual a LQ, sea aceptado. probabilidad es 8, el riesgo del consumidor, y es igual a 0.10. Los planes de LQ guran que raramente sean aceptados lotes individuales de mala calidad, Hay dos conjuntos de tablas LQ: uno para muestreo sencillo y uno para mt treo doble. Cada conjunto tiene tablas para valores de LQ de 0.5, 1.0, 2.0, 3.0, 4.0, 5. Dodge y Roming ussron cl témiing porcentae de defecnosas toleradas ex ef lote(LTPD, de for tolerance pes defective). En este libro se ha. sustituido por calidad linte (.Q), por ser el mine adectago en el presente 416 CAPITULO 10OE | ROE | Ere | OFT | Teel fee | HOT | ORT | O01 see ree | eT | ee | E990 ove | ire | ret | ger0 | reco GS OT OS 406 SO (SaWYOINOD ON ad ATVINADUOA NA avarty9) ,SVavoraNt saayartiyatona SVT NOO VOVEMHDY & VaVINASAREE ALVAITY aa SOUY"INAVA SAHOWVA aavD YuLaT £ oz | 90 stl | oro ov | ou | ay (IVIKHON No1ooa8N1) ornowas OMULSAAN Ad NV TA 25 $1°¢ ap wunuON ayn pe 00°01< 00°01 2 love once ® loc'l 00z' Ti NOLDOMASNI Id Si ez uonne wo> sol —EO OSV ap ossudiM.ay : Pp ads 30] [2 09.961 98 wosstou ep OO0'sES 00's 0 100" poo'0sI< ooo’ 00.081 loe'e loo'se ooze | On'se® | szl< | sszi< z El I el 1 I PS | ESV IS AIN Wald LOT SONVINVL jouas oauysoMU Op SOUMa —L-OF VIVE7.0, y 10.0%, haciendo un total de 16 tablas. Para fines explicatives, se presenta tabla 10-8 para muestreo sencillo, usando LQ = 1.0%, No se presentan tablas otros valores de LQ. Para usar las tablas se requiere una decisién inicial acerca de si se necesil muestreo sencillo 0 doble muesireo. Esta decisién se puede basar en la informact presentada en el capitulo 9. Ademés, debe determinarse la calidad limite, Io cual puede hacer en forma parecida a la que se us6 para el AQL, que se deseribi6 em capitulo 9. El tipo de muestreo (sencillo o doble) y el LQ indican Ia tabla que debe usar, Al conocer el tamafio del lote y el promedio del proceso se puede obtener facilidad el plan de muestreo. Por ejemplo, si el tamafio N del lote es 1500, y el medio del proceso es 0.25%, el plan de muestreo sencillo necesario, para LQ = 1 se determina en Ia tabla 10-8. La respuesta es: N= 1500 n= 490 =2 La tabla también muestra el AOQL (limite de calidad aceptable a la salida) para plan, que para este ejemplo es 0.21%. ‘Al analizar las tablas de LQ se observa lo siguiente: a) Al aumentar el tamafio del lote disminuye el tamaio relativo de la mt tra. Asi, para un promedio de proceso igual a 0.25%, un tamaiio de lote: 1000 tiene un tamafio de muestra de 335, mientras que un tamaiio de de 4000 tiene un tamafio de muestra de 645. BI tamafio del lote aumenté un factor de 4, mientras que el tamaiio de muestra aument6 aproxim: mente en un factor de 2. Por consiguiente, los costos de inspecci6n son econémicos con tamafios grandes de lote. b) Las tablas se extienden hasta que el promedio del proceso es la mitad LQ. No es necesario que se consideren més promedios de proceso, la inspeccién 100% se vuelve mas econémica que inspeccidn para muest cuando el promedio del proceso es mayor que la mitad del LQ. ©) Al aumentar el promedio del proceso, hay un aumento corespondieni la cantidad inspeccionada. Por consiguiente, una mejora en el promedio. proceso hace que haya menos inspecciones, y que el costo de inspeccién muesireo sea menor. 2. Limite de calidad promedio a la salida (AOQL). Se desarrollaron planes muestreo para el concepto de AOQL, como necesidad prictica en ciertos casos de nufactura. Cuando se especifica Ia cantidad del lote, como es el caso de los (homogéneos) del cliente, se puede aplicar el concepto de la calidad limite (LQ) embargo, si el lote inspeccionado es una subdivisién adecuada de un flujo de pr to, para fines de manejo de materiales (no homogéneos), se puede aplicar el con: AOQL. Los planes AOQL limitan la cantidad de mala calidad a la salida, en prom cariruro 10EO DDSV ap ossiupay :arueHg “futond) 40} sre}20g weouoUry ey 9p uOPHYZLOINE HOD "REG loys nw 2yqeidoou popes sp aut = “TOY tapivexlaze 9p ratNpL = 9!(2}0] op wza}d epee reMO|SAOUH] aq9p 95 onb FO} ,sepo,) MASERU] ap ouRLNEY = Oso €% OSI'€ LO SI OzI'c «IFO 6 OT 90 9 OHOT or £ OLO 06€ 000001 L00'0 BPO 61 OLS'Z FRO EI O68 6D BOOT s 0% 9 FOES O6€ 0000S" 10007 ero FI 0861 6£0 6 OOF SEO 9 OFOT [EO F SB 9D T Ses 06€ 0000-000! £0 O OST FeO L OST ceO S O16 80 € 099 seo T RS 0&% —OD0'0I 100 8 O91 te0 9 OCT OT F OB LD E so IO I SBE 0&% ——_000'L- 00'S L Ol «620 $ SR -BTO F OLL HOT OCS «= OTL OBE Siz ——_000°S-100"r 9 COT 8c0 $ OR STO E SO FeO c OFS —OTO_—“T—OBE 0 ste S 08 970 b She TOE OED §©= ELD SOSS OT SLE 0 oct £019 [v0 2 O6r 170 Z C6 = «GED TOE = STOO OLE aa 1 see LO «1 See = L.-T See HTD GO HID S0z 0 sae 1 oc «SO. « LOE «= SOT oe = PO. © 00 _~—FI'0 @ 007 0 one 1 soe e100 Oo «= EO 0 6 «= EHO © OGT =I O61 0 06 009-108 0 081 10 0 O81 «= eT0 0 8 «= EO © OB E10 O OBL 0 ost o0s-10F 0 scl wo 0 Sul tro 0 SLL tH Set at'0 OSL 0 Sut oor 108 0 sol oro 0 Sot =o © «SOF OF © Sot OL @ $9 0 sa OE- 107 0 OF! 800 0 OF 800 0 OF 800 0 Ori —-800 OOF 0 oF o0c-151 0 ott 900 0 OZ 900 0 OZI 900 0 OI ©«=— 9000: ZT. «HO OTL OsI-1z1 SEP, 0 0 sepaL 0 0 Sql 6 0 POL SMPOL 0 HPOL T= (%) 2 w (%) 2 wu (%) 9 (4) 9 (%) a (%) 9 0 ALOT aa “00v “OV ‘oov “100V Toy ov “ONVIAY, oso oro-1e0 oe 0-17'0 ozo-11'0 010-1100 0100-0 (35) OSAD 04a “14d O1GATONA 250°1 = O11 HUE PEPE Uy U9 UpEseg ‘9}o] ap LO]s0adsUy ap OT PUES oazIsoMET Kae FRUEOY-27%po ap VIAL $-01 VIAVL cabpero no dan seguridad para lotes individuales. Las tablas para AOQL tienen un con- Junto para muestreo sencillo y uno para doble muestreo. Cada conjunto tiene tablas para valores de AOQL de 0.1, 0.25, 0.5, 0.75, 1.0, 1.5, 2.0, 25, 3.0, 4.0, 5.0, 7.0 y 10.0%, lo que hace un total de 26 tablas. Para fines explicativos, se muestra una tabla para muestreo sencillo, la tabla 10-9, em la que AOQL = 3.0%. No se pres sentan tablas para otros valores de AOQL. Ademés de determinar si se va a usar muestreo sencillo 0 doble, se requien el AOQL. Se puede obtener con las mismas téenicas con las que se determind e AQL que se deseribieron en el capitulo 9. El tipo de muestreo (sencillo o doble) el AOQL indican cual tabla se debe usar, Al conocer el tamaiio del lote y el promedio del proceso, se puede obtener plan de muestreo de aceptacidn. Por ejemplo, si N, el tama del Lote es 1500 y el p medio del proceso es 1.60%, el plan de muestreo sencillo necesario para un AOQL 3.0% se encuentra en la tabla 10-9. La respuesta es: N= 1500 m, = 65 o=3 EI LQ correspondiente para este plan es 10.2%. ‘Al analizar las tablas de AOQL se nota lo siguiente: (a) Al aumentar el tamaiio de lote el tamaito relativo de muestra disminuye. (b) No se presentan planes para promedios de proceso mayores que cl AOQI Porque es antieconémico el muestreo cuando Ta calidad promedio de ent es menor que el AOL especificado. () Cuanto menor es el promedio del proceso, el tamaiio de la muestra menor, lo cual resulta en un costo de inspeccién menor, 3. Comentarios adicionales acerca de las tablas de Dodge-Romig, El pre medio del proceso, 100p, se obtiene con la misma técnica que la usada para grifica p. Al usar los primeros 25 lotes se obtiene el porcentaje promedio de conformes, Para el doble muestreo s6lo se incluye la primera muestra en el cil lo. Cualquier porcentaje de no conformes en el lote que sea mayor que el limite 100p + 3/100 (1 — 100pyiin se desecha (si tiene una causa asignable) y se cale un nuevo promedio del proceso. Sin embargo, hasta que sea posible obtener un pr medio de proceso con este método, se debe usar el maximo promedio de proceso pi ble. De este modo se usa la Gitima columna de las tablas, hasta que se pueda dete 1O0p. Las tablas de Dodge-Romig no prevén los tipas de inconformidades, aunque pueden usar diferentes valores de LQ 0 AOQL; los menores para no conformi eriticas, y los mayores para las no conformidades menores. No se prevén ins ciones estrecha 0 reducida, aunque también se pueden usar diferentes valores de © de AOQL. Para el promedio del proceso se pueden usar unidades de no confor dades/100, en vez de porcentaje de no conformes. Asi, un promedio de proceso 2.00% de no conformes es lo mismo que 2 no conformidades/100 unidades, CAPITULO 10,PS 62 069 cS pe o9s co dl OBE 89 El 087 TL Wl sez FL Ol Ole BL 8 Sor zs orl 16 001 86 08 oypoutoad pepyes 9p a4 i 79 s9 er OL vg 8 rs a +1 or = O71 mason ef em 8 ole sit Out Stl sz al oor 08 09 09 zr we Ir syer0) 109 Koos UeoEIOWY Bap LoI2ezHOINE NOS '¥S6I—ED DOSY TL Ol ste 9L 8 OLI 89 SEL se S$ col se $ col S6 Fb oe + ASB £9 £ 9 tof zt zt tw 9 orl 1 9% Vst 1 sz ost o 1 oor 0 Ol — 0 spay, uw OS T-17'T Pp ta epeseg ‘yoy op. 8 9 sl #8 6 SO ce or & col € $9 for ¢ so gor € 99 core 9 Ln sr tS Sit 2 by vet de cell ee Lele ie Lt 1 9% ort 9 ou 0 a ost oO TF ol oO oF — 0 sepey, (Gy 9 Ory 2s 01-190, ~(35) 0sad oud “Ta OIG ‘oro (di. nl00e ap o1aMUp = 9 (%0] Fp LzaNd wpe sNuO|DoadsHN Ogap a5 An kaIPLL sep s9 i 59 i or 1 oF 1 sp t 000°L- 100° 87 1 000°S-100'F 8 0 o00"P-100'E 4 0 00"-100'2 87 0 000'2-100"L Jig 0 ww 0 ira 0 a vir 0 a Lu oo tout 0 wt out 0 002- 1 oer 0 oor-is or or 0 ost ‘pel — 0 SPL. OTT uw (%) 9M ALOTSa OVW. - 21 09'0-20'0 90°0-0 0 = TOV PHS ee adsuy ap ojpouas oaysonuu vated BWMOY-oHPOC Op UI, 6-01 WIV0.50 0.50 Probabilidad de aceptacién (P.) c=1omas = 0 Porcontaje de no conformos (100p,) FIGURA 10-3 Forma general de las curvas caracteristicas de operacién para planes de muestreo sencillo [Reproducido con autorizacion de H. F. Dodge, “Chain Sampling Inspection Plan,” Industrial Quality Control, Vol. 11, Nim. 4, enero de 1955, p. 10-13.] Plan de inspeccién para cadena de muestreo* Un plan especial de muestreo- de aceptacién lote por lote, para atributos, fue de Hlado por H. F. Dodge. Ese plan se llamé “Plan de muestreo de cadena ChSP-1.” puede aplicar a caracteristicas de calidad que implican pruebas destructivas 0 cos Cuando las pruebas son destructivas 0 costosas, se usan planes de muestreo tamafio pequefio de muestra, por necesidad econémica. Los planes con tamafios muestra de 5, 10, 15, etc., suelen tener mimeros de aceptacién c = 0. Los planes de muestreo sencillo para c = 0 tienen una propiedad indeseable, es la forma desventajosa de la curva caracteristica de operaci6n, en el riesgo del ductor @. La figura 10-3 muestra la forma general de los planes de muestreo sencil para c = Oy ¢ = 10 més, La comparacién demuestra lo deseable que es (desde punte de vista del productor) tener planes con néimeros de aceptacién de 1 0 més. En los planes de cadena de muestreo se usan los resultados acumulados de ‘muestras anteriores, El procedimiento se muestra en la figura 10-4, y cs el siguiel 1. Para cada lote se selecciona un tamafio de muestra n y se prueba la conformi alas especificaciones. 2. Si la muestra tiene 0 unidades no conformes, se acepta el lotc; si la muestra tic 2.0 més unidades no conformes, no se acepta el lote, y si tiene | unidad no c forme, se puede aceptar, siempre y cuando haya habido 0 no conformidades Jas i muestras anteriores de tamafio m, “Para conocer mas informacién, yea H. F. Dodge, WoL. 11, Niim. 4, enero.de 1955, p. 10-13. “Chain Sampling Inspection Plan” Industrial Quality Co cariruLo 10iLotes anteriores Lote actual nS Uttimo Pentima |... 0 lote vo'e Acepiar si hay 0 Coro unidades no conformes unidades no contormes lots previos enn=5,osihay 1 unidad no conforme FIGURA 10-4 Diagrama de muestreo en cadena. Asi, para un plan de muestreo en cadena definido por n = 5, i = 3, el lote se aceptarfa: (I) si la muestra de 5 contiene 0) unidades no conformes, (2) si hay I unidad no conforme en la muestra de 3 y 0 unidades no-conformes en las 3 (= i) anteriores de tamatio 5 (=n), El valor de i, la cantidad de muestras anteriores, se determina analizando las cur- vvas caracteristicas de operaci6n (OC) para determinado tamafio de muestra. La figura 10-5 muestra la curva OC para el plan de muestreo sencillon = 5, ¢ = 0. y las curvas OC para los planes ChSP-I para i= 1, 2, 3 y 5. Las.curvas OC para los planes ChSP-1 se obtienen con la formula general: Pa = Po + P\(Poy' Se ilustrard el método con un ejemplo. Para el plan ChSP-1 con n = 5, ¢ i = 2, los célculos para un valor supuesto de py = 0.15 son: (0.85)> = 0.444 nt = daftd Hin — aie = npogi4 = 5(0.15)(0.85)>-! = 0,392 Pa= Py + PilPol’ = 0.444 + (0.392)(0.444)? = 0.521 Bl punto P, se muestra en la figura 10-5. Como aproximacion a la distribueién hiper- geométrica se usa la distribucién binomial, siempre que ¢ = 0.10. La curva para # = 1 se muestra interrumpida, porque no es una opcidn que se Prefieta. En la prictica, los valores mais usados de i serdn de 3 a 5, porque sus curvas caracteristicas de operaci6n se aproximan a la curva OC para el plan de muestreo sencillo, Cuando el porcentaje de no conformes es pequetio, los planes ChSP-1 aumentan la probabilidad de aceptar una muestra con | unidad no conforme. Eso coincide con la unidad no conforme ocasional que se espera tener de vez en cuando.0.60 (0.521) 0.40 10 (15) 20 Porcentaje de no contormes (100p,) FIGURA 10-5 Curvas OC para planes ChSP-1 con valores 1, 2,3, 5, y para el plan de muestreo sencillo nm = 5,¢ = 0, Para usar en forma adecuada el método de muestreo en cadena, se deben cut las siguientes condiciones 1. El lote debe ser de una serie continua de producto, que se muestrea sustan mente en su orden de produccién, 2, En el caso normal, el consumidor puede esperar que los lotes tengan set ‘mente la misma calidad. El consumidor tiene confianza en que el productor no mande en forma oca: un lote no aceptable que tendria Ia probabilidad 6ptima de ser aceptado. La caracteristica de calidad es una que implica pruebas destructivas 0 costo: con ello requiere menor tamafio de muestra. Es satisfactorio prever una no conformidad ocasional, para clasi menores, pero no para criticas. cartruro 10Muestreo secuencial El muestreo secuencial es parccido al muestreo miiltiple, pero el secuencial puede, en teoria, continuar indefinidamente. En la préctica el plan se interumpe cuando la can- tidad inspeccionada es igual a tres veces la cantidad inspeccionada por un plan de muestreo sencillo correspondiente. El muestreo secuencial, que se usa para pruebas costosas 0 destructivas suele tener un tamaiio de subgrupo = 1, lo que lo hace un plan de artfculo por articulo, El muestreo secuencial de articulo por articulo se basa en el concepto de Ta prue- ba de relacién de probabilidad secuencial (SPRT, de sequential probability ratio test). desarrollado por Abraham Wald®. La figura 10-6 ilustra el plan de muestreo con esta \6cnica. La linea “escalonada” muestra la cantidad de no conformes en Ia cantidad total inspeccionada, y se actualiza con los resultados de la inspeccién de cada ele- mento, Si los resultados acumulados son iguales 0 mayores que 1a linea superior, no se acepta el lote. Si los resultados acumulados son iguales o menores que Ia Tinea infe- rior, sé acepta el lote. Si no se puede legar a una decisién, se inspecciona otro ele mento. Asi, si se encuentra que Ia 20" muestra es no conforme, la cantidad acumulada de unidades no conformes sera 3. Ya que 3 es mayor que Ia linea de no aceptacién para 20 inspecciones, el lote no se acepta, El plan de muestreo secuencial se define con el riesgo a del productor y su cali- dad p, del proceso, y el riesgo B del consumidor y su calidad py de proceso. Para estas condiciones, se pueden deducir las ecuaciones (en su forma de pendiente-ordenada al origen) para la linea de aceptacién y la linea de no aceptaci6n, usando las siguientes formulas: oo) Teli) + 8] CSP) fw GE) + oe Pe) wo =F) Lil) + 8) = Whig + sn =h, + sn pendiente de las lineas ordenada al origen de la linea de no aceptacién hy = ordenada al origen de la linea de aceptacion Pg = fraceién de no conformes para riesgo del consumidor (Pq = fraceiGn de no conformes para el riesgo del productor Para conocer mis informaciGn, véase Abealsans Wald, Sequential Analysis, Nueva York, John Wiley & Sons. om.No aceptar Cantidad do elementas no contormes (ct) Cantidad de elementos inspeccionados (n) FIGURA 10-6 Presentacién grifica de un plan secuencial de articulo por articulo. B = riesgo del consumidor a = riesgo del productor , = cantidad de unidades no conformes para aceptacién d, = cantidad de unidades no conformes para no aceptacién cantidad de unidades inspeccionadas Asi, las ecuaciones para un plan secuencial definido por a = 0.05. pa = B = 0.10 y Dg = 0.06, se obtiene con los siguientes cAlculos: l-a 2 ha = log! : oo 6 )] a4 (oe (0 1 (22)| SePE\ 010 x 0.94 *)/beste) cariruo 10+= =) ol) m=) == 28) 8) =r) = 0.03 Al sustituir los valores de fi, = 1.22, h. = 1.57 y s = 0,03 en las formulas de d, y d,, resultan las siguientes ecuaciones: d, = -1.22 + 0.030 4, = 157 + 0.03n Estas ecuaciones son iguales a las que se usaron para las lineas de aceptacién y no aceptacién en la figura 10-6, Aunque se puede usar la presentacién grafica de la figura 10-6 como plan de muestreo, suele convenir més usar la forma tabular, Eso se hace con facilidad sustitu- yendo valores de nen las ecuaciones de las lineas de aceptacién y de no aceptacién, y calculando d, y d,. Por ejemplo, para n = 17, los cdlculos son: d, = —1.22 + 0.03 d, = 1.57 + 0.03n = =1.22 + 0.03017) = 1.57 + 0.03(17) =-071 = 2.08 "Ya que las cantidades de unidades no conformes (dy d,) son niimeros enteros, el niimero de no aceptacién es el siguiente entero mayor que d,, y el ntimero de acepta- cién es el siguiente entero menor que dj. Asi,n = 17, d, = Oy d, = 3. La tabla 10-10 ilustra el plan de muestreo para las 113 primeras muestras. A veces es preferible tomar la muestra en grupos, y no individualmente. Eso se hace usando miiltiplos del tamatio de muestra que se desea. Asi, si el tamailo de mues- tra es 5, los mlimeros de aceptacién y de no aceptacién se determinan para valores de n=5,10,15,.. El muestreo secuencial se usa para reducir la cantidad de articulos inspecciona- dos que requieren pruebas costosas 0 destructivas. También se aplica en cualquier situaci6n, ya que la cantidad promedio inspeccionada seré menor que para el muestreo sencillo, doble y mdltiple. Muestreo por salto de lote El muestreo por salto de lote, o de lotes salteados, fue desarrollado por H. F. Dodge en 1955°. Es un plan de muestreo sencillo para minimizar los costos de inspeccién cuando hay un suministro continuo de lotes de materia prima, componentes, suben- sambles y partes terminadas de la misma fuente. Se aplica especialmente a las carac- teristicas quimicas y fisicas que necesitan andlisis de laboratorio. A medida que las SH. F Dodge, “Skip-Lot Sampling Plans,” Industrial Quality Control, Vol. 11 Num. 5. febrero de 1955, pp. SISTEMAS DE MUESTREO DE ACEPTACION EbrTABLA 10-10 Plan de muestreo secuencial de unidad por unidad, = 0.08, p. 0.06, CANTIDAD DE UNIDADES NUMERO DE NUMERO DE INSPECCIONADAS. ACEPTACION NO ACEPTACION: n 4, ; ea Ds 16-40 4147 48-73, 74-80, 81-106, 107-113. 'No es posible la acepiacién, "No es posible la no aceptaeisn, empresas den importanci al control estadistico de proceso y al proceso de adqui ciones justo a tiempo (JIT), ese tipo de muestreo se aplicard cada vez mas. El plan de muestreo por salto de lote, designado por SkSP-1, se basa en el nil promedio de calidad a la salida (AOQL). Sin embargo, ese AOQL se refiere a uni des y no a lotes, como se explicd en el capitulo 9. Entonces, un AOQL de 1% quik decir que, en promedio, el plan aceptaré no mas que 1% de los lotes que son conformes en cuanto a la caracteristica bajo consideracién. El plan SkSP-1 comienza con Ia inspeccién de cada lote. Cuando se ha ac do una cantidad preestablecida de lotes, se hace un muestreo de lotes. La figura I describe el SKSP-1 en formato de diagrama de flujo. Cuando no se acepta un estando en el modo de muestreo, el plan regresa a inspeceionar cada lote. (Comenzar inspeccionando cada lote ‘Cuando se encuentren conformes {aceptables) ilotes. consecutives Tnterumpir ta inspocoién de cada lote @ inspeccionar una fracci6n de los ites, en forma aleatoria Cuando se encuentre que un lore inspeecionado és no conform (no aceptable) FIGURA 10-7 Procedimier para planes SkSP-1.Este plan es una modificacién de un plan de muestreo continuo, el CSP-1. que se describird més adelante en este capitulo. La diferencia principal es que SkSP-1 se refiere a lotes y el CSP-1 se refiere a unidades. La tabla 10-11 se usa para ambos pla- nes, para obtener una familia de valores i y f para cada valor de AOQL. Asf, para un AOQL de 1.22%, se podria usar cualquiera de los valores de i y J: ase ae eae] 59] 5 255 En general, los valores de f que se usan serdn los que estén en la parte superior de la tabla, $a 4, La mejor manera de seleccionar lotes para inspeccionar cuando se esté en el modo de muestreo es usar un método de muestreo con probabilidad conocida. Asi, si f = },al tirar una moneda se decidiria si el lote se inspecciona; si = }, si se obtie- ne 1 0 2al tirar un dado de 6 caras se sabrfa si se inspecciona el lote, o si f = }, espada tomada de una baraja determinarfa si el fote se inspeeciona En los planes se supone que los lotes no aceptados serén rectificados. ANSI/ASQ SI” El objeto de esta norma es contar con procedimientos para reducir las actividades de inspecei6n cuando la calidad del productor es superior. Es un esquema de salto de lote, que se usa en conjunto con los planes de atributos de lote por lote, descrito en ANSI/ASQZ1.4; no se debe confundir con el esquema de salto de lore de Dodge, que se describi6 en la secci6n anterior. El plan de muesteeo és una alternativa a la inspec- cién reducida de ANSUASQ Z1.4, que permite tamafios menores que la inspeccién normal. Para usar el plan, el proveedor debe: 1. Tener un sistema documentado para controlar la calidad y los cambios de disefo. 2. Haber instituido un sistema que sea capaz de detectar y corregir cambios que podrian afectar la calidad en forma adversa, 3. No haber tenido un cambio en la organizacién que pueda afectar adversamente la calidad. "Esta seccidn se extrajo de ANSVASQ S1—1996, con autorizacin de la American Society for Quality. SISTEMAS DE MUESTREO DE ACEPTACION 42990 we 8 v1 a ol 8 fe 9 5 € hr of 62 is 6 a €1 1 6 t s 81 st 1 Oo 9 FIL UL ter 06% OOT oa, ol o1 sol sel ol 8 OL is ur 8 ic st st see siz SLL vel sor 08. eL 8c or 8e & Ww oor ove oz ore out se en 16 9 6 98 60 eS"0 (%) Tov orn see ole ult zi ol +8 ec0 RLS O9L'T ozs‘'T s0e't Lepl OL8T bert Ost'L 0% 08 79 $96 £29 06 6p 0E9) Ozh Os Ize SOF vol SHE erro €1T0 ser 0189 sare 09's See's siz OLS‘ Oost o68't out alee soc’ ore't $95 asst ols ole'T 029 OvO'T set 009 L009 9F0'0 o0s'6 ors’ 00F'9 oL6'r o¢o'r one's o0L'z oot ozs" a6e' ars, El Jef) 203 Kio90$ uRaUDUU ¥| 2p NOIDEZ NOIRE UOdG6EI-1S DSW/ISNY 9p osasUlOy HON ocr'el oze'rl ge LL ome o6e'L oso'9 ose'y 096'€ ore’ oss'z TedS suupd uated zap saxo 1-01 VIEVLAdemés, las unidades deberin: ‘Tener un disefio estable, lo que significa que no haya habido cambios sustan- ciales en el disefto que puedan afectar la calidad en forma adversa. Haber sido producidas en forma continua durante al menos 6 meses, @ menos que el proveedor y Ia autoridad responsable convengan en un periodo mayor. La autoridad responsable es el comprador, 0 una agencia delegada de inspeccién. Haber estado en inspeccién normal y redueida en los niveles generales de inspec- cién I, TI o IH de la norma ANSVASQZ1.4 durante este periodo de calificacién. Haber mantenido un nivel de calidad igual o menor que el AQL durante al menos 6 meses, a menos que el comprador y 1a autoridad responsable convengan en un periodo mayor. . Reunir los siguientes requisitos de la tabla 10-12 y 10-13: (a) Los 10 Jotes consecutivos previos, 0 més, hayan sido aceptados. (b) Se haya cumplido con el tamafo de muestra minimo acumulado de fa tabla 10-12 durante los ltimos 10 lotes consecutivos o mis. (©) Se hayan satisfecho los mimeros de aceptacién de la tabla 10-13 durante los uiltimos 2 lotes. Cuando se usa muestreo doble o miltiple, sélo cuentan los resultados de la primera muestra. El problema de ejemplo 10-4 ilustra el uso de las tablas. PROBLEMA DE EJEMPLO 10-4 ‘Un fabricante de ornamentos para chimenea cumple con los requisitos del pro- -veedor, y con los primeros cuatro requisitos del producto. Ademés, la autoridad responsable establecié un AQL de 0.25. Se inspeccion6 un total de 6000 unidades de 12 lotes consecutivos, todos ellos aceptados. En los 12 lotes se encontraron nueve articulos no conformes, y en los tiltimos 2 lotes, con tamafio de lote de 500, hubo I y 0 unidades no conformes, respectivamente. Se usaron 12 lotes, porque no se cumplieron los requisitos en los lotes 10 y 11. Se cumple con Ios requisitos de la tabla 10-12 porque el tamafio minimo acumulado de muestra, para 9 elementos no conformes, es 5940, menor que los {6000 inspeccionados. También se cumple con los requisitos de Ia tabla 10-13, porque para un tamafio de muestra de 500, la cantidad admisible de elementos no conformes es 2, y los 2 tltimos lotes tuvieron 1 y 0, respectivamente. Por lo anterior, el producto califica para la inspeccién por salto de lote. El porcentaje de no conformes s6lo se aplica para valores de AQL de 10.0 0 menores en las tablas. Todos los valores de AQL son aplicables a no conformidades por 100 unidades. La tabla 10-12 se puede ampliar més alld de 20, sumando el valor del rai eae incezu 101 zol 36 £6 88 +8. 6h. +L 69 6s +S or oP 6 te 67 € ul ol ost 9st Bu lL x91 ssi opt ort It ect si zou 66 16 a fh so as ap RE 8c ul ost oor s9 (Stavaina QO] Hod SudVaIWOINOD ON a 0 SAINNOANOD ON HU HININGDAOA) TOV 62 869. 699 oro 119 cas ese wes Sr 9p cer zor i ore 08 Lue she ze 6LI PPL LOL i) or th Aut ouol cor 446 086 £88 98 88h Oe. 769, £19) ros ts bor oth 26E Ore 987 ose OL! f01 st 8b coe a LOLI Geo ass ctrl £6e1 eel eect est zLO1 066 06 re 6EL, £59 998 our eRe +80 Ful ST uu $647 919% 9ST ere 908T 80c7 6807 0161 sal 6zLI 8091 S8Fl 19EI ez ort 086 ors. Ie tis str 9c “OT ‘Aunty ny Se1o0g ogt Lezr Lup S68 SSL BLE LoEE PTE Te0e grec o99z pLre s8ce O07 Zool 9041 8081 90e1 3001 £88, rs9) oor so 062 0869 0699 org ong o7Es ozss ozs ag gor over oor ole oore. o60e ute oshe oe 06it orl ozor 089) oro oF OLTIT odor ovcor 0LL6 0086 ogg, oes ogg ore. 0769 ogr9 ores Obes oFer OFF zee ore o98z ooez ont oFol sco ose ozoxt OFSLI LOL 06291 onss1 OcetI og6e 1 ogtel oe oes ozLor 0066 0406 ozs 06h ogo 0995 our ogg OF OT sro :MUBMUY 2p UDIDEe OAT wo> 46 out or6Lz o9L97 oo9sz othe ogcez ogozz 06802 00261 sg! 06zL1 03091 ossrl o1sel 9EZI 06011 0086 0648 Orie ores ‘sey 0092. TO SOSVASNW 9p OsoKLUHEY puoroype epra, 0g ol sl ul ot st +1 1 a tr or Sram nenee SaMHOINOD ON SOTIOULY 9 saavanwoaNon ON IS OSVASNY 9P 1 8148-210] 9p os 10d upPaadsuy wy ABA ENA oLAUAUE OpE|MUINdE vAISIMUE 9p OMEN, ZI-OL YELVL0 ost oor So = ray un Ul leonnamnn le or st st es borcaman le ol loreamnn to s90 ro sco STO TO lomsan bo L s € t 1 I 0 1s) (SaAVGINA OT HOA SAAVATAOINGD ON O SANAOANOD ON AA AFVENADIOA) TOY (renprarpur 299] 2p aq419) 240] ap 98s 4od vooadsuy ey FUNUNHOD @ aNDIUL vaEd UO!E;Cos” op SHOWIN E-01 VIAVL “ISOSW/SNY *P TL PIRI. 00s sie 007 scr os YAULSAA aa ONVINNLEstado 4 +] Lote por ote (caliicacién) Descalificacion Estado 2 FIGURA 10-8 Diagrama de los tres estados. tiltimo rengl6n a cada amticulo no conforme. Asi, para un AQL de 1.5 y 24 articulos conformes, el tamaiio minimo acumulado de muestra es 2174 [= 1862 + 4(78)]. Hay tres estados basicos en la norma, El estado 1 es la inspeccién lote por k Cuando las unidades del proveedor califican para la inspeccién por salto de lote, se describi arriba, el esquema cambia al estado 2, que es el estado de salto de Lote. estado 3 es un estado temporal, en el que la inspeceisn por salto de lote se puede rrumpir mientras se hace Ia recalificacién bajo procedimientos menos estri Mientras se estd en el estado 2 0 3, la descalificacién puede suceder, y en ese caso programa cambia al estado 1. La figura 10-8 muestra los tres estados. No se permite muesireo miltiple durante los estados 2 y 3, y se recomie mucho no usar un mtimero de aceptacién de c = 0 mientras se esté en esos estad La inspeccién por salto de lote (estado 2) tiene cuatro frecuencias posibles: lote inspeccionado en 2 presentados, ! lote inspeccionado en 3 presentados, | lote i peccionado en 4 presentados y I lote inspeccionado en 5 presentados. Las tres pr ras frecuencias se aplican a la frecuencia inicial de inspeceién por salto de lote. figura 10-9 muestra el diagrama de decisiGn para ta frecuencia inicial, Se basa en resultados de inspeccin durante el estado 1. Si se necesitan més de 20 lotes para c ficar, la frecuencia es | de 2, que es Ia situacién del peor de los casos. $i para cali car se necesitan 20 o menos lotes, pero algunos de ellos no satisfacen la tabla 10- la frecuencia es 1 de 3. Sin embargo, si todos los 20 lotes 0 menos satisfacen la t 10-13, la frecuencia es | de 4. PROBLEMA DE EJEMPLO 10-5 Determinar la frecuencia inicial en el problema de ejemplo 10-4, el estado de calificaciGn (estado 1), La frecuencia inicial sera | de 4, porque se satis- fizo la tabla 10-12 en 20 lotes 0 menos, y los 20 lotes cumplieron con la. tabla 10-13 CAPITULO 10Frecuencia Frecuencia: Frecuencia 1dez ide 3 1de4 FIGURA 10-9 Diagrama de la frecuencia inicial. La frecuencia de inspeceién puede cambiar a la siguiente menor si se cumplen las siguientes condiciones: 1. Los 10 0 més lotes anteriores inspeceionados se aceptaron. 2. Las resultados acumulados satisfacen la tabla 10-12. 3. Cada uno de los titimos 2 Jotes satisface la tabla 10-13. 4. Aprobacién por la autoridad responsable. Las tres primeras condiciones son idénticas al punto S de los requisitos de cali- ficacién. Si la frecuencia inicial de un proveedor es 1 de cada 3, se podria reducir a 1 de cada cuatro, que podria ser un ahorro sustancial. Si se usa doble muestreo, s6lo se cuenta la primera muestra, PROBLEMA DE EJEMPLO 10-6 Después de una frecuencia inicial de 1 de 4, bajo un esquema con AQL= 0.65, se aceptaron los siguientes 10 lotes inspeccionados, con un tamaiio acumulado de muestra de 1625, y un total de 5 unidades no conformes. Si los resultados de Ta inspecei6n de cada uno de los titimos dos lotes fueron | unidad no conforme, con tamafios de muestra de 125 y 200 zes posible un cambio a la siguiente fre- cuencia menor? Como se cumplen los requisitos de las tablas 10-12 y 10-13, se autoriza un cambio a una frecuencia de 1 en 5, siempre que lo aprucbe la autoridad responsable. =paso 3, de interrumpir el salto de lote, se presenta siempre que el dltimo inspeccionado no cumple con los requisitos de la tabla 10-13. Cuando se da esta sit ci6n, la inspeccién es normal, de lote por lote, en niveles I, I 0 IIL. Si se acepi lotes consecutivos, y los diltimos 2 cumplen con los requisitos de la tabla 10-13, vuelve a establecer la inspeccién por salto de lote. Sin embargo, la frecuencia aut al siguiente valor mayor, a menos que el nivel anterior hubiera sido 1 de 2. Asi, frecuencia anterior era de 1 en 4, la siguiente mayor es 1 en 3. El producto debe desealificarse para inspeccién por salto de lote y se debe lar la de lote por lote cuando se cumpla cualquiera de los eriterios sighientes; 1. Un ote no se acepta en el estado 3. No se logra la recalificacisn en 10 lotes o menos, 3. No hay actividad durante un periado especificado por el proveedor y la aut responsable (si no se conviene un periodo, seri de 2 meses). 4. El proveedor se aparta apreciablemente de sus calificaciones, 0 de las cali ciones del producto, La autoridad responsable decide regresar a la inspeccién de lote por Io ANSI/ASQ Z1.4. La inspeceién por salto de lote deberia usarse cuando sea més econémica la inspeccién reducida de acuerdo con ANSVASQ Z.1.4. Las actividades de ad ciones justo a tiempo aumentan los costos de inspeccién, por los menores tat de lote; por consiguiente, 1a inspecci6n reducida y la inspecciGn por salto de Tote: alternativas atractivas a la inspeccién normal. Una propiedad del salto de tote es Sus curvas caracteristicas de operacién se aproximan mucho a los planes 101 correspondientes. PLANES DE MUESTREO DE ACEPTACION PARA PRODUCCION CONTINUA Introduccién Los planes de muestreo de aceptacin que se describieron en este capitulo son de! Por lote. Muchas operaciones manufactureras no forman lotes como parte no proceso de produeci6n porque la produecién es un proceso continuo en un trans; dor u otro sistema de linea recta. En esos casos se requieren planes de aceptacién produccién continua. Los planes para producci6n continua consisten en secuencias alterna muestreo de inspeccién y de inspeccién de cribado (100%). Esos planes st comenzar con 100% de inspeccién, y si determinada cantidad de unidades (nt de despeje u holgura) no contiene no conformidades, se instituye la inspecciém muestreo. El muestreo continiia hasta que se encuentre determinada cantidad de. dades no conformes, y en ese momento se vuelve a instaurar la inspeccién al 1 Los planes de muestreo para produccidn continua se pueden aplicar a inspec destructiva por atributos del producto en movimiento. La inspecciGn debe ser de tal raleza que sea relativamente fécil y epida, para que no haya “‘cuellos de botella” caviruro 10a las actividades de inspeccién. Ademés, el proceso debe ser capaz de fabricar producto homogéneo. El personal de producci6n suele manejar la inspeccién al 100%. y el per= sonal de calidad el muestreo. Las clasificaciones eriticas, mayor y menor en una unidad tendrén diferentes valores de AOQL e i, pero en general el mismo valor de f. El concepto de muestreo para produccién continua fue usado por primera vez por H. F. Dodge en 1943, con un plan de muestreo que se ha dado en lamar CSP-1, Ese plan y otros dos mis, el CSP-2 y CSP-3, se catalogan como planes de un solo nivel. En 1955, G, Licherman y H, Soloman presentaron la teoréu de planes continuos multinivel de inspeccién. Los planes multinivel proven de niveles reducidos de ins- peccidn por muestreo, cuando la calidad continiia siendo superior’, Gran parte de estos Primeros trabajos se incorpord a la norma MIL-STD-1235 (ORD), que fue sustituida por la MIL-STD-1235A (MU) el 28 de junio de 1974. El nombre de la norma cambio a MIL-STD-1235B, cuando la Marina de Estados Unidos adopt6 el plan el 10 de diciembre de 1981 Planes CSP-1° Estos planes comienzan con el 100% de inspeccién (cribado) del producto, en su orden de produccién, hasta que cierto niimero de unidades sucesivas no contiene no conformidades. Cuando se obtiene ese nimero se interrumpe Ia inspeccién de 100% y comienza la inspeecién por muestreo. La muestra es una fraccién del flujo del pro- ducto, y se selecciona de tal manera que se minimiza todo sesgo. Si se presenta una no conformidad, se interrumpe Ia inspeccién por muestreo y comienza la inspeccién de 100%. La figura 10-10 muestra el procedimiento para los planes CSP-1. El mtime- ro i de despeje cx ef numero de unidades conformes en la inspecciGn de 100%, y la frecuencia f de muestreo es la relacién de unidades inspeecionadas entre el total de unidades que pasan una estacién de inspeceién durante periodos de inspeccién por muestreo. Asi, un valor de f'de 1/20 quiere decir que se hace una inspeccién por mues- treo por cada 20 unidades del producto. Los planes CSP-1 se determinan con el AOQL. Para determinado AOQL hay distintas combinaciones de i y f, que muestra la tabla 10-11, Asi, un plan para AOQL = 0.79 esi = 59y f = }. Este plan especifica que se hace inspeccién por muestreo de 1 de cada 3 unidades, después de que 59 productos consecutivos no mos- ‘raron no conformidades. El muestreo contintia hasta que se encuentra una no conformi- dad, y en ese momento se reinstaura la inspecci6n de cribado. Algunos otros planes para AOQL = 0.79 son: i f=4 =m = Un andlisis de Ja tabla indica que cuando disminuye el valor de f, aumenta el valor de i. °G. Licherman y H. Soloman. “Multi-level Continuous Sampling Plans." Annals of Mathematical Statistics, No. 2b, dicignabre de 1955, pp. 686-70. “H, E Dodge, “A Sampling Inspecti 14, septiombre de 1943. pp, 264-279, n Plan for Continuous Production" Annals of Mathemasical Seatstcs, Vl SISTEMAS DE MUESTREO DE ACEPTACION ERst 1 [Erpernonal do eta inepoccion ol 100% de las unas, (Cuando se encuentran i unidades consecutivas in no conformidades afectadas, El personal de cribacio interrumpe la inspeccion al 190%, y el inspactor de muestreo inspeceiona Una fraccién f de las unidades, seleccionndolas en forma aleatoria. (Cuando el inspector de muestreo encuentra tuna de las no conformidades afectadas, jento para los planes CSP-1 y CSP-E. La eleccién de los valores de # y f para determinado AOQL se basa en con: raciones practicas. Cuando f se hace menor, disminuye la proteccidn contra cali momentineamente variable, en especial para valores menores que P €-4 SIG8L <{ eurany 6 ajqop upRayoadsa ap ayUM) ABpUB)SA WO!ELASAP oP ‘onpansa § younioW uppaadsuy eed wxysae EIA, I3iZ 0 mvoenionm—=sle Vasa aa ONVIWWL ad aay" 00" vay OL WTA20 50 100 0 50.00 30.00 50.00 50,00 50.00 0.10 46.44 46.16 46.08 46.04 46.03 0.20 42.90 42.35 42.19 11 42.09 0.30 39.37 38.60 38.37 38.27 38.24 0.40 35.88 34.93 34.65 34.53, 34.49 0.50 32.44 3137 31.06 30.93 30.89 0.60 29.05 27.94 27.63 27.50 27.46 0.70 25.14 24.67 24.38 24.26 24.23 0.80 251 21.57 2133 21.23 21.21 0.90 19.38, 18.67 18.50 18.42 1.00 16.36, 18.97 15.89 15.87 110 13.48, 13.50 13.52 13.55 1.20 10.76 11.24 1138 11.48 130 8.21 9.22 948 9.64 1.40 5.88 144 7.80 8.02 1.50 3.80 5.87 6.34 6.62 160. 2.03 454 5.09 sal 1.70 0.66 341 4.02 4.38 1.80 0.00 3.13 351 1.90 0.00 2.40 2.00 0.00 [81 2.10 0.00 134 2.20 0.00 0.968 2.30 0.00 0.685 2.40 0.00 0.473 2.50 0.00 0.317 2.60 0.00 0.207 2.70 0.00 0.130 2.80 0.00 0.079 2.90 0.00 0.086 3.00 0.00 0.025 ‘La tabla B-S de ANSVASQ 71.9 contiene mis tamaios de muestra, y unas 10 veces mas valores de Q, © Qe: ‘Aeente: Reimpreso de ANSUASQ Z1.0—2003, con autoriracin de la American Society for Qui El problema de ejemplo implicé una especificacion menor. Si la especificacién, sencilla hubiera implicado una especificacién superior, U, el método hubiera sido el mismo, pero Qy se habria calculade con la formu, u-x Op e SISTEMAS DE MUESTREO DE ACEPTACIONLaestimacién anterior del limite U de porcentaje py, de no conformes, se ol en la tabla 10-21, y se compara con M para tomar la decisién de aceplar 0 no ace Si el problema implica una especificacién superior y una inferior, entones calculan tanto py como p;, y se comparan con M. PROBLEMA DE EJEMPLO 10-8 Suponiendo que también haya una especificacién de limite superior de 209 para el problema de ejemplo anterior, determinar el estado del lote. {ndice de calidad superior: u-® _ 209 — 195 aa 8.30 = 1.59 (digamos que es 1.60) Estimacién de porcentaje de no conformes en el lote, mayores que U = De acuerdo con la tabla 10-21, pp = 2.03% El lote cumple con los criterios de aceptaci6n sip, + py = M Como (0.66 + 2.03)% = 3.32%, aceptar el lote. 4a formula de Q, el indice de cantidad, se parece mucho a la formula del Z, indicada en el capitulo 4. La tabla 10-21 se basa en Q y en el tamaiio de m mientras que la tabla A del apéndice se basa en el valor Z y en el caso infinito, El de p es Ia estimacién del porcentaje de no conformes, que esté arriba o abajo del te de especificaciGn como se ve en la figura 10-17. Mientras que p,. Pix ©P. + Pu menores que el porcentaje maximo permisible M de no conformes (para deter AQL y 2), se acepta el lote. Para la inspecci6n normal y estrecha se usa la misma tabla. Los limites de para la inspeccién normal se localizan desde Ia parte superior de la tabla, y p: inspeccién estrecha, desde la parte inferior. Las reglas de cambio son iguales 4) ANSU/ASQ Z1-4 La norma contiene un procedimiento especial para aplicar planes mixtos mi para variables y muestreo para atributos. Si el lote no cumple con el criterio de tacién para variables, en la norma ANSU/ASQ 21.4 se obtiene un plan de mu: =| / FIGURA 10-17 Porcentaje de no conformes abajo y arriba de las especificaciones. cantreio 10sencillo con inspeccién estrecha y el mismo AQL. Un lote puede aceptarse usando cualquiera de Ios planes. La no aceptacién de un lote requiere que ambos planes no lo acepten. Otros planes de muestreo de aceptacién para variables Hay otros tres tipos de planes de muestreo de aceptacién para variables, que se usan en ocasiones. Se relacionan con la calidad promedio 0 la variabilidad en Ia calidad dei producto, y no con el porcentaje de no conformes. Se pueden usar para muestrear material a granel que se mangje en costales, tambores, carros tanque, etc. En esta seccién se presentaré una breve descripcidn de ello. Las gréficas de control de aceptacién son un método para no aceptar o aceptar un Tote usando ¢l promedio muestral. Los limites de control de aceptacién y el tamaiio de muestra se determinan a partir de la desviaci6n esténdar conocida, los limites de especificaciGn, el AQL y los valores de los riesgos del consumidor y productor, El uso de una gréifica de control permite al personal observar las tendencias en la calidad.!* EI muestreo secuencial para variables se puede usar cuando la caracteristica de la calidad tiene distribucién normal, y cuando se conoce la desviacidn estindar. La técnica para este plan de muestreo es similar al plan secuencial para atributos que se describié antes. Sin embargo, en el plan para variables se grafica la suma acumulada 2X, yen el plan para atributos se grafica el niimero d de unidades ne conformes. El mucstreo secuencial puede requerir una menor inspeccién por muestreo." Un tercer tipo de muestreo para variables se llama prueba de hipétesis. Hay varias pruebas diferentes para evaluar el promedio muestral o la desviacién muestral, para tomar decisiones de aceptar 0 no aceptar.!” EJERCICIOS 1. Con Ia norma ANSI/ASQ Z1.4, un inspector de AdministraciGn de generales, necesita determinar planes de muestreo sencillo para la siguiente informacién: ___NIVEL DE INSPECCION —_INSPECCION _AQL__TAMAKO DE LOTE 1.400 115 160,000 2 “Para conocer mis informacién, vea R.A. Freand, “Acceptance Conteal Chants” Industrial Quality Consol, ‘ootubve de 1987. pp. "Para conocer més informacién, vea A. J. Duncan, Quality Control and Industrial Statistics, Hi Richard D. Irwin, 1987, pp. 346-360, "Pare conocer mas informacién, vea J M. Juran, Ed, Quatity Conirol Handbook ed, Nueva Book Company. 1988. sece. 23. pp. 60-812. Explique el significado del plan de muestreo determinado en el ejercicio 1( si (a) se encuentran 6 unidades no conformes en la muestra, (bh) se encuent 8 unidades no conformes, y (c) se encuentran 4 unidades no conformes. Unos resultados de inspeccién de los tltimos 8 lotes, usando la nor ANSI/ASQ Z1.4, y el plan de muestreo sencillo con n = 225, ¢ = 3, son: LL unidad ne conforme V. 3 unidades no conformes UL. 4 unidades no conformes VI Ounidades no conformes IIL $ unidades no conformes VIL. 2 unidades no conformes IV. Lunidad ne conforme VIII, 2 unidades no conformes, Si se usara inspeccién normal para el lote I, gqué inspeccién deberia usarse ellote IV? Con la informacién del ejercicio 3, {cual fue el estado después del lote Después del lote WII? Para un plan de muestreo sencillo: usando ANSUASQ Z.1.4, letra clave C, peccién normal y AQL. = 25 no conformidades/100 unidades, el numero insp cionado y la cuenta de no conformidades para los tltimos 10 lotes son: n a 1 VL 1 vi. vit Iv. Ix, v. x Si la produccién es continua y se autoriza la inspeccién reducida iniciar un cambio de inspeccién normal a reducida? Use la norma ANSI/ASQ Q3 para un tamaiio de lote de 3500 y LQ mitante) = 5.0% para determinar el plan de muestreo para un lote aislado. Se compran unos lotes de materia prima a un proveedor euyo proceso es una rriente continua de producto. Use la norma ANSI/ASQ Q3 para determinar cl pl de muestreo para nivel de inspecei6n II, LQ = 3.15% y tamafio de lote = 4000, . Un gerente de control de calidad de fabricacién de teléfonos usa las tablas Dodge-Romig, y desea determinar el plan de muestreo sencillo para no conf midades menores, con un AOQL = 3.0%, cuando el promedio del proceso 0.80% y el tamatio del lote es. 2500. ;Cudl es la LO? {{Cual serfa el plan de muestreo en el ejercicio 8 si el lote es de un produ nuevo y se desconoce el promedio del proceso? 10. Una aseguradora usa las tablas de Dodge-Romig de LQ, para determinar un pl de muesireo sencillo para una LQ = 1.0%, cuando el promedio del proceso oy N= 600. ,Cudl es cl AOQL? rer caPiruLo 10Si la aseguradora del ejereicio 10 ha iniciado una nueva forma, y no se dispone del promedio del proceso zqué plan se le recomienda? Si el promedio de proceso es 0.19% de no conformes {qué plan de muestreo sencillo se recomienda, usando tablas de Dodge-Romig (LQ)? LQ = 1.0% y el tamafio del lote es 8000, {Cudl es el AOQL? .. Determine la probabilidad de aceptar un producto que tiene 0.15% de no confor- midades, usando el plan de muestreo del ejercicio 10. . Determine la curva caracteristica de operacién para un ChSP-1, conn = 4,¢ = 0. ¢ {= 3, Use cinco puntos para determinar la curva, . Se esta usando un plan de muestreo en cadena, el ChSP-1, para inspeccionar lotes de 250 piezas. Se inspeccionan seis muestras. Si ninguna es no conforme, se acepta el lote: si se encuentra 1 unidad no conforme, se acepta el lote si las 3 muestras anteriores no contuvieron unidades no conformes. Determine la probabilidad de aceptar un lote que tenga 3% de no conformes. Un plan unitario de muestreo secuencial se define con p, = 0.08, a 0.18 y B = 0.10. Defina las ecuaciones de la linea de aceptacién/no trace el plan grafico. Para un plan unitario de muestreo secuencial definido por B= 0.15 y pg = 0.12, determine las ecuaciones de las lineas de aceptacién y no aceptacién, Con esas ccuaciones haga una tabla de ntimero de no aceptacién, niimero de aceptaciGn y ntimero de unidades inspeccionadas. Puede detener la tabla cuando el mimero de no aceptacién sea 6. Una bodega distribuidora de alimentos evalia el plan SkSP-1 de Dodge. usando un AOQL de 1.90%. Determine los valores dei para f =}. by 4 Para un plan SkSP-1, determine los valores dei para f y 4, usando un AOQL = 0.79% Un proveedor de termémetros desechables para hospitales cumple con los pri- meros cuatro requisitos para su producto. ¢Cumplen con las tablas 10-12 y 10-13 ce la norma ANSUASQ SI para un AQL de 25? El tamafio de muestra y los elementos no conformes en los primeros 10 lotes consecutivos son los siguientes: TAMAR, NUMERO DE TAMARO, NUMERO DE LOTE DE MUESTRA NO CONFORMES |LOTE DE MUESTRA NO CONFORMES 315 0 315 o 35 2 315 a 315 0 315 0 315, 0 315 1 315 1 315 0 ‘SISTEMAS DE MUESTREO DE ACEPTACION21. Los siguientes 14 Totes consecutivos al ejercicio 20 son como sigue: 7 Deseriba lo que ficar la frecuencia inicial y cualquier cambio. Observe que el plan de mues ANSI/ASQ Z1.4 para el caso normal de muestreo sencillo es n = 315 yc = 2 Los datos para un fabricante de capacitores son los siguientes: AQL = 0.65%, lotes consecutivos aceptados con un tamafio total de muestra de 2650, 11 unida no conformes, y los uiltimos lotes tienen 1 unidad no conforme con tamafio muestra de 200, cada uno. {£1 fabricante cumple con lo estipulado en las tabl 10-12 y 10-13, y por qui Si el producto cumple con los requisitos de las tablas 10-12 y 10-13 para condiciones del ejercicio 22, describa la frecuencia inicial de muestreo si: ( Jos 20 Jotes cumplen con los criterios individuales de lote, y si (b) 1 de los | no cumple can los criterios individuales de lote. {Qué estado hay si el lote 25 del ejercicio 21 tiene 3 unidades no conformes? Un fabricante de homos de microondas desea evaluar tres planes de muest para AOQL. = 0.143%, usando CSP-1, Determine los valores de i para f Y10: Para el plan CSP-2 de Dodge, determine el valor de i para un valor de AOQL. 4.94% y una frecuencia de 20%. 1 a Un fabricante de papel para computadora usa la norma MIL-STD-1235B con AOQL = 1.22%. Determine el valor de é para un plan CSP-T con una frecuen streo de js. {Cul es la frecuencia de muestreo para los niveles segundo Para el CSP-I, determine el valor de i para un AOQL = 0.1989 y una frecuen de 4. 29. Determine el valor de i para un plan CSP-F con AOQL = 0.33%, tamatio de | 3000 y frecuencia de }. ,Cual es la letra de clave? 30. Sil valor original de i para un plan CSP-V es 150, ;oudl es el valor una vez q pasaron las 150 unidades iniciales y se presenta una no conformidad? CAPEFULO 1031. Use la grifica de lote de Shainin, para calcular los limites de lote y trace la gré- fica del lote, Los resultados de inspecci6n de dureza Rockwell C, en SO unidades de muestra, son SUBGRUPO. paros PROMEDIO. 1 50, 49, 53, 49, 56 Sid 2 52, 50, 47, 50, 51 50.0 3 49, 49, $3, 51,48 50.0 4 49, 52, 50, 52, 51 S08 5 51, 53, 51, 52,53 52.0 6 54, 5, $4, 53, 52 52.6 7 53, SI, 52, 47, 50 50.6 8 46, 55, 54, 52, 52 518 9 49, 53, 51, 51, 50 50.8 10 SI, 48, 55, 51,52 si4 {Qué clase de grdfica de lote representa Ia distribucién de arriba? Si las especifi- caciones son de 41 a 60, se acepta el lote? 32. El didmetro de una rosca de 3 tiene las especificaciones de 9.78 y 9.65 mm. A continuacién se muestran los resultados de 50 inspeceiones aleatorias. Deter- mine los limites de lote y trace la gréfica del lote. 2 Qué tipo de gréfica representa la distribucién’? SUBGRUPO paros PROMEDIO RANGO, 1 9.77, 9.16, 9.95, 9.16, 9.76 9.760 0.02 2 9.73, 9.74, 9.77, 9.74, 9.77 9.750: 0.04 3 9.73, 9.77, 9.76, 9.77, 9.15 9.756 0.04 4 9.18, 9.77, 9.71, 9.16, 9.18 9772 0.02 5 9.72, 9.78, 9.77, 9.78, 9.14 9758 0.06 6 9.75, 9.77, 9:96, 9.17,.9.77 9.764 0.02 a 9.78, 9.76, 9.77, 9.76, 9.18 9.770 0.02 8 9.77, 9.77, 9.77, 9.78, 9.78 9.774 O01 S 9.78, 9.77. 9.96, 9.16, 9.77 9.768 0.02 10 9.75, 9.78, 9.77, 9.78. 9.76 978 0.03 33. Se presenta a inspeccién un lote de 480 articulos, con nivel de inspeccién IL. Determine Ia letra de clave y el tamaiio de muestra, en inspeccién para varia- bles, usando fa norma ANSI/ASQ Z1.9. 34. Suponiendo una inspeccién normal de acuerdo con ANSUASQ Z.1.9, variabilidad desconocida, con método de desviacién estindar, letra clave D, AQL = 2.50% y una sola especificaciGn inferior de 200 g, determine la decisién de aceptacién usando la Forma 2. Los resultados de inspeceiGn de las $ muestras son 204, 211, 199, 209 y 208 g. AS DE MURSTREO DE ACEPTACION35. Si la especificaci6n inferior del ejercicio 34 es 200.5 g, coudl es la decision aceptacién’? 36. Para una inspeccién estrecha de acuerdo con ANSI/ASQ Z1.9, vatiabilidad des conocida, con método de desviaciGn estandar, letra clave F, AQL = 0.65% y u sola especificacién superior de 4.15 mm, determine si se acepta el lote, Use forma 2. Los resultados de las 10 inspecciones de muestra fueron 3.90, 3.7 3.40, 4.20, 3.60, 3.50, 3.70, 3.60, 3.80 y 3.80 mm, Si el ejercicio 36 tiene inspeccién normal, :cudl es la decision? . Si el ejercicio 34 tiene inspeccién estrecha, {cull es la decision? . Si el ejercicio 34 también tiene una especificacién superior de 212 g. jeuil es decisin? Si el ejercicio 36 también tiene una especificacién inferior de 3.25 mm, jcudl ladecision? Use Excel para escribir un programa de cémputo para muestreo de cadena. . Use Excel para escribir un programa de cémputo para la gréfica de lote Shainin. 460 capiru.o 10