12 RELES DIGITALES
12.1 Introduccin
12.2 Muestreo de Seal
Sea y(t) una seal sinusoidal que tiene la informacin de inters que ser analizada por
el rel digital.
y( t ) A cos( 0t 0 )
donde:
y( t ) = Valor instantnea de una seal alterna
y k = Valor de la muestra k-sima de y( t )
0 = Frecuencia fundamental rad/seg
t = Intervalo fijo entre muestras, es decir:
y k y( kt )
= ngulo de la frecuencia fundamental entre muestras, es decir:
0 t
La seal y( t ) A cos(0 t 0 ) Yc cos 0 t Ys sen0 t
donde:
Yc y Ys son nmeros reales, incognitas.
Se asume muestras tomadas en t , 0 y t , las cuales son:
y 1 y( t ) Yc cos( o t ) Ys sen ( o t )
y 0 y(0) Yc cos(o 0) Ys sen (o 0)
y 1 y( t ) Yc cos(o t ) Ys sen (o t )
En forma matricial, la expresin queda:
y 1 cos
y 1
0
y 1 cos
sen
0
sen
Yc
Ys
Son suficientes dos muestras para determinar Yc y Ys .
y 1 cos sen Yc
y 1
0 Ys
0
Resolviendo el sistema de ecuaciones, se tiene:
y cos y 1
Yc y 0 ; Ys 0
sen
El uso de tres muestras es un intento para proveer alguna inmunidad a los trminos de
y( t ) (armnicas trminos aleatorios).
Estimacin lineal
Ax b
donde:
A no es una matriz cuadrada, es un sistema sobredefinido, es decir, el nmero de filas es
mayor al nmero de columnas.
Resolviendo el sistema, se tiene:
x A 1b
donde:
A 1 es una seudo inversa
Ejemplo
1
1
0
1
5/ 4
x1
x 1 / 4
2
3 / 4
Una solucin, es:
5
4
3
x2
4
x1
Pero, resulta que x1 x2
1
1
?
2
4
Un mtodo razonable para resolver, es considerar que existe un error e y se escribe
como:
b Ax e
e( 1 ) 0
e b Ax e( 2 ) 1 / 4 , pero este error se puede minimizar la suma de
e( 3 ) 0
errores:
eT e ( b Ax )T ( b Ax ) ( bT xT AT )( b Ax )
bT b xT AT b bT Ax xT AT Ax
El x que minimiza el error e, se puede derivar e igualar a cero:
( eT e )
AT Ax xT AT A AT b bT A 0
x
como: AT b bT A
se tiene:
2( AT Ax AT b ) 0
AT Ax AT b
x AT A
1 AT b
y 1 cos sen
Yc
y 1
0
0
Ys
y 1 cos sen
cos
donde A 1
cos
sen
0
sen
y 1
b y0
y 1
Yc
Ys
cos
A A
sen
T
(A A)
1
0
1 2 cos 2
cos
1
cos
sen
sen
0
cos
sen
1
1
2sen
1 2 cos
0
2sen 2
0
Yc
T 1 T
2
x (A A) A b
1 2 cos
Ys
0
2sen 2
cos
cos
2
Y
c
1 2 cos
1 2 cos 2
Y
sen
s sen
0
2sen 2
2sen 2
y 1
cos 1 cos
sen 0 sen y 0
y 1
y 1
y
0
y 1
y cos y 0 y 1 cos
Yc 1
1 2 cos 2
y y 1
Ys 1
2sen
Si se utiliza un algoritmo basado en las tres ltimas muestras, las ecuaciones quedan:
y cos y k y k 1 cos
Yc( k ) k 1
1 2 cos 2
y
y
Ys(k ) k 1 k 1 ; Constituyen una ventana de muestras (de tres muestras)
2sen
donde: k es un subndice, indica que los clculos estn centrados en la muestra de orden
k. Entonces para una sinusoide pura:
y( t ) A cos( 0t 0 )
y( t ) Yc cos 0 t Ys sen0 t
Las muestras, son:
c( k ) Yc cos k Ys senk
Y
s( k ) Ys cos k Yc senk
Y
Y (k )
(k )
(k )
Y
c
(k )
Y
s
s( k )
Y
arctg
k
c( k )
Y
El fasor estimado tiene la amplitud correcta pero rotado, es decir que el ngulo ( k )
decrese en un ngulo en cada punto de muestreo. Dependiendo de la aplicacin la fase
debe ser corregida.
Funcionamiento de la ventana de datos
La ventana de datos de tres muestras (est descrita por el algoritmo) cuando est
disponible una nueva muestra, descarta la muestra ms vieja y se incluye la nueva
muestra para el clculo. Cada muestra es utilizada tres veces en los clculos:
y k 1, y k , y k 1
Los clculos deben ser completados por el microprocesador antes de que la nueva
muestra sea tomada.
V1 Datos de prefalla
V2 Datos de pre y post falla
V3 Datos de postfalla
Las muestras de V2 no podrn ser ajustadas a una sinusoide pura por los que el clculo
de fasores no tendr sentido.
El nmero de muestras por ciclo determina t , el intervalo de muestreo, tiempo en el
ue el microprocesador debe completar los clculos. Los algoritmos existentes utilizan de
4 a 64 muestras por ciclo. Una frecuencia de muestreo alta requiere un microprocesador
muy rpido o un algoritmo de clculo ms sencillo.
Considerando que la ventana contenga solo un tipo de datos (falla pretalla), mientras
ms grande sea la ventana habr que esperar ms tiempo para tomar decisiones, lo que
implicar relees menos rpidos. Habr que balancear entre precisin y rapidez.
Fuente de Errores
Si existen errores, entonces la sinusoide se distorsiona, por lo que la seal queda
expresada, como:
y( t ) Yc cos 0 t Ys sen0 t ( t )
Las fuentes de errores, principalmente, son:
Armnicas por el comportamiento nolineal del arco de falla.
La tensiones y corrientes dejan de ser sinusoidadles puras
Transitorios
El convertidor A/D conlleva errores debido a las conversin del bit menos
significativo y a la temporizacin.
Filtro antialiasing
Teorema de muestreo de Nyquist
Procesamiento matemtico de la seal: estimacin de parmetros
N
Sea y( t ) Yn Sn ( t ) ( t ) expresado de otra forma:
n 1
N
yk
Yn Sn (kt ) (kt )
n 1
donde Sn ( t ) son conocidas
S1 ( t ) cos 0 t
Armnica fundamental
S2 ( t ) sen0 t
S3 ( t ) cos 20 t
Segunda armnica
S4 ( t ) sen 20 t
Otras armnicas
R
t
SN e L Termino exponencial
El algoritmo de ajuste por el mtodo de mnimos cuadrados:
y1 S1 (t ) S2 (t ) ... S N ( t ) Y1
y S (2t ) S (2t ) ... S ( 2t ) Y
2
N
2
2 1
:
:
:
:
:
:
y k S1 (kt ) S2 (kt ) ... S N ( kt ) Yk
