Discriminaci

on digital de perturbaciones en sucesivas capas y su detecci

on
mediante franjas multilocalizadas
Comastri SA, Simon JM y Echarri R
LO, DF, FCEyN, UBA, Bs As

Un prisma de Wollaston con aberraciones despreciables iluminado con una fuente incoherente y periodica
genera m
ultiples planos de localizaci
on. Es posible elegir el perodo de fuente tal que un plano de localizacion
no clasico coincida con el plano de las imagenes de una de las capas de una muestra gruesa y detectar
perturbaciones presentes en la capa en estudio borrando los defectos de otras capas. En este trabajo el
proceso de enfocar distintas capas y hacerlas coincidir con planos de localizacion se sintetiza digitalmente a
partir de un video capturado en un solo plano de observacion a medida que una fuente puntual se traslada.
Para tener m
as cuadros del video u
tiles y as lograr mejor discriminacion de las capas, se reduce el vigneteo
adaptando pupilas. Se muestran im
agenes adquiridas y los resultados del procesado digital.

Medici
on de tensiones residuales por calentamiento localizado combinado con
interferometra de speckle digital: resultados preliminares
Viotti MR1 , Suterio R2 , Albertazzi Goncalves A3 , Kaufmann GH1
1

IFIR (CONICET-UNR), Rosario

INPE, S
ao Jose dos Campos, Brasil
3
LMA, UFSC, Florian
opolis, Brasil

Usualmente, las tensiones residuales presentes en distintas componentes mecanicas se determinan a traves
de la medici
on del campo local de deformaciones generado por la introduccion de un peque
no agujero en
la muestra a ensayar (hole drilling). Si bien las deformaciones inducidas por la relajacion de las tensiones
residuales se pueden medir f
acilmente usando extensmetros electricos, esta tecnica presenta varias limitaciones. A fin de superar dichas limitaciones, en este trabajo se presenta un metodo alternativo para relajar
tensiones residuales mediante el calentamiento localizado con un laser de CO2 de alta potencia. El campo
de desplazamientos radiales producido por las tensiones residuales relajadas por el calentamiento se mide
mediante un sistema de interferometra de speckle digital basado en dos espejos conicos. Estos espejos se
desplazan mediante un transductor piezoelectrico, posibilitando la evaluaci
on de la distribuci
on de fase a
traves de la introducci
on de una diferencia de fase conocida en los interferogramas a ser adquiridos. Luego
de describir las caractersticas del interfer
ometro y la implementacion de los algoritmos utilizados para procesar autom
aticamente los datos, se presentan resultados preliminares que ilustran las ventajas de la tecnica
desarrollada.

Im
agenes y figuras de interferencia formadas por placas planoparalelas biaxiales
Simon MC, Garea MT
LO, DF, FCEyN, UBA, Bs As

En este trabajo se analiza una placa planoparalela biaxial con los ejes op ticos contenidos en la intefaz. El haz
incidente es convergente y no polariza do. En primer lugar se efect
uan los desarrollos mediante los cuales se
obtienen las f
ormulas que describen el desplazamiento del punto de convergencias del haz y el astigmatismo.
Luego se encuentran las figuras de interferencia finales, tomando las imagenes como fuentes coherentes.

Holodiagramas para rayos extraordinarios: ley de la reflexi

on.
Gottschalk KV1 , Simon MC1 , Cap N2 , Rabal H2
1

LO, DF, FCEyN, UBA, Bs As

2
CIOp, La Plata

La idea del holodiagrama desarrollado por N. Abramson resulto una ayuda significativa en la comprension de
los aspectos geometricos de diversos fen
omenos opticos. En este trabajo se desarrolla el holodiagrama para
1

los rayos extraordinarios de un cristal uniaxial cuando hay simetra de revoluci

on. Se efect
ua una descripcion
detallada del holodiagrama obtenido y se lo compara con el caso isotropo. De dicho holodiagrama se obtiene
la ley de la reflexi
on que es confirmada mediante los calculos correspondientes.

Significado y dependencia funcional del

angulo de Brewster en interfaces
cristal-cristal
Gottschalk KV, Simon MC
Lab. de Optica, DF, FCEyN, UBA, Bs As

Considerando una interfaz formada por dos cristales uniaxiales se efect

uan los caculos para las direcciones
de los rayos reflejados y de los coeficientes de reflexion. En este caso el angulo de Brewster representa la
extincion al menos de uno de los rayos reflejados. Se analiza su dependencia con los ndices principales y de
las direcciones de los ejes
opticos. Se encuentra que para ciertos valores de dichos par
ametros no existe el
angulo de Brewster. Tambien se da el caso que este angulo toma valores extremos obteniendose que el rayo
reflejado puede desaparecer incidencia normal o incidencia rasante.

C
alculo de la polarizaci
on el
ectrica efectiva en una interfaz cristal medio
is
otropo.
Simon MC, Gottschalk KV
LO, DF, FCEyN, UBA, Bs As

En este trabajo se muestra c

omo vara la direccion del vector polarizacion electrica efectiva cuando un rayo
ordinario incide sobre una interfaz cristal-medio isotropo y no hay separacion de modos. Se considera el caso
en que el eje
optico est
a contenido en la interfaz. Se efect
ua ademas una comparacion con la direccion de
los rayos reflejados cuando se cumple la condici
on de Brewster.

Reflexi
on total en una interfaz formada por dos cristales.
Simon MC, Gottschalk KV, Bastida KB
LO, DF, FCEyN, UBA, Bs As

En una interfaz formada por dos cristales uniaxiales pueden existir cuatro rayos refractados para una dada
direccion de incidencia. En este trabajo se analizan las condiciones de reflexi
on total para todos estos casos
y las posibles superposiciones de los mismos. Se presenta una descripcion detallada para distintos valores de
los ndices principales de refracci
on y las direcciones de los ejes opticos.

Extracci
on simult
anea de caractersticas por medio de transformadas wavelet
opticas

Mazzaferri JE, Ledesma SA, Iemmi CC

DF, FCEyN, UBA, Bs As

Una de la aplicaciones del procesado

optico de imagenes es la extraccion de caractersticas. Dentro de los
metodos para obtener esta informaci
on se encuentra la transformada wavelet, que consiste en la correlacion
de la funci
on a analizar con un conjunto de funciones llamadas wavelets. Estas funciones se obtienen a partir
de una funci
on, denominada madre, mediante operaciones de traslacion y dilataci
on. Dado que la operacion
basica involucrada es la correlaci
on,se puede recurrir a un correlador optico para obtener la transformada
wavelet.
En este trabajo proponemos utilizar una arquitectura basada en la implementada por Vander Lugt, para
obtener simult
aneamente la extraccion de varias caractersticas. Para esto se dise
naron filtros de fase que
2

contienen la informaci
on de todas las wavelets a correlacionar con la escena de entrada. Hemos utilizado
funciones capaces de extraer caractersticas tales como bordes, esquinas y la informaci
on correspondiente a
distintas frecuencias espaciales. Tanto la escena como los filtros se implementaron en pantallas de cristal
lquido (LCTV), lo cual permite procesar informaci
on a tiempo real. En particular, los filtros se implementaron en un LCTV trabajando en modo de fase. Se muestran simulaciones numericas y resultados
experimentales donde se puede observar una alta eficiencia de difracci
on.

Cuantificaci
on de Movilidad de Peque
nos Organismos por medio de Speckle
Din
amico.
Alvarez L1 r, Arizaga RA2 , Di Rocco HO3 , Lanusse C1 , Mottier L1 , Pomarico JA3 , Rabal HJ2 , Saumell C1 ,
Trivi M2
1

Fac. de Cs. Veterinarias, UNCPBA, Tandil

2
CIOp, La Plata
3
IFAS, UNCPBA, Tandil

Este trabajo presenta un metodo objetivo para cuantificar la movilidad de peque

nos organismos (par
asitos,
espermatozoides, etc.). Por lo general este tipo de determinacion se realiza por un operador humano observando el campo de un microscopio, con los consabidos problemas que ello implica (subjetividad, cansancio).
La tecnica presentada utiliza, como par
ametro de medida, un diagrama de speckle variable en el tiempo,
precisamente por la presencia de organismos moviles. El trabajo describe un algoritmo que permite evaluar
numericamente la evoluci
on temporal de dicho diagrama, cuantificando la velocidad de cambio del mismo y,
consecuentemente, el grado de movilidad de los organismos.

Resonancias de fase en redes compuestas altamente conductoras

Grosz SI1,2 , Fantino AN1 , Skigin DC1
1

CBC, UBA, Bs As
DF, FCEyN, UBA, Bs As

Se estudian las resonancias de fase que aparecen en redes metalicas compuestas altamente conductoras.
Cuando estas redes son iluminadas por una onda plana de polarizacion p, se producen resonancias para ciertas
relaciones entre la longitud de onda y la profundidad de los surcos. Estas resonancias estan relacionadas
con la distribuci
on de la fase del campo magnetico dentro de los surcos y se manifiestan como picos en la
curva de eficiencia reflejada y van acompa
nadas de una intensificacion del campo en el interior de los surcos.
El caso ideal de redes perfectamente conductoras ha sido estudiado previamente. En este trabajo se aplica
el metodo modal para resolver el problema de difracci
on por una red de conductividad finita. Para ello
se utiliza la condici
on de contorno de la impedancia superficial, lo cual lleva a una ecuacion trascendente
compleja que debe ser resuelta numericamente. Se comparan los resultados obtenidos para metales reales
(p. ej. oro) con los correspondientes al conductor perfecto. En el caso de metales reales se observa que si
bien aparecen resonancias que se pueden identificar con las resonancias de fase que aparecen en el caso ideal,
tanto la intensificacion del campo como la calidad de la resonancias disminuyen.

Correlador por transformada conjunta fotorrefractivo con informaci

on s
olo de
fase.
La Mela C, Iemmi C
FCEyN, UBA, Bs As

En este trabajo implementamos un correlador por transformada conjunta fotorrefractivo. En el mismo el

plano de entrada se representa por medio de una pantalla de TV de cristal lquido y el plano transformado
conjunto es registrado din
amicamente en un cristal BSO. La capacidad de discriminaci
on del sistema es
3

incrementada utilizando una entrada codificada en fase en combinaci

on con la informaci
on solo de fase
de la referencia. Para tal fin empleamos la pantalla de cristal lquido trabajando en un modo puro de fase.
Llevamos a cabo simulaciones numericas para mostrar que el metodo propuesto tambien aumenta el poder de
discriminaci
on en correladores donde se realiza una deteccion convencional del plano transformado conjunto.
Se muestran los resultados experimentales obtenidos con nuestro correlador y se comparan con los alcanzados
teoricamente.

Generaci
on de funciones de referencia mediante speckle
Perez Quinti
an F1 , Rebollo MA2 , Alonso Fern
andez J2 , Bernabeu E, Atencia J3
1

LAO, FI, UBA, Bs Aes

FCF, UCM, Madrid
3
FCF, UZ, Zaragoza

Se propone un metodo
optico para generar una se
nal de referencia para un sistema incremental de medicion
de desplazamientos. La se
nal de referencia se consigue al comparar dos figuras de speckle provenientes de
dos difusores simetricos, que son utilizados como codigos aleatorios naturales y son identicos solo cuando la
cabeza lectora se encuentra en la posici
on simetrica entre los dos difusores. La comparacion de las figuras de
speckles se realiza o bien por interferencia, como en un interfer
ometro de Michelson, o bien por correlaciones
de intensidad.

Sobre el uso de un medio absorbente anis

otropo para la simulaci
on num
erica
del problema de scattering por un alambre conductor
Depine, RA, Skigin, DC
GEA, Dep. de Fsica, FCEyN, UBA

Para simular el espacio abierto lateralmente, se introduce un medio absorbente anisotropo perfectamente
adaptado (PMAA) como un nuevo tipo de medio en el formalismo desarrollado previamente para investigar la
difracci
on por una abertura is
otropa inhomogenea en una pantalla metalica. El PMAA es un material ficticio
que no refleja (absorbe) las ondas incidentes propagantes, independientemente del angulo de incidencia, de la
frecuencia y de la polarizaci
on. Este tipo de medio es muy utilizado para resolver problemas en el campo de la
ingeniera electrica, y en los u
ltimos a
nos ha ido creciendo su uso en problemas de optica. En este trabajo se
considera que la abertura consiste de cinco regiones homogeneas: PMAA, dielectrico transparente, conductor
perfecto, dielectrico transparente y PMAA, en ese orden. Esta configuraci
on nos permite simular un alambre
conductor de seccion rectangular, y es fundamental para poder extender el metodo modal desarrollado a otras
geometras. Para poder evaluar si realmente el medio absorbente anis
otropo representa un medio abierto
lateralmente, se presentan resultados para el campo lejano y cercano para diferentes par
ametros geometricos
y constitutivos de las regiones de PMAA.

Refract
ometro interferom
etrico para lquidos basado en barrido por haz laser
Alans EE1 , Martinez CC1 , Romero GG2 , Alvarez L1 , Dominguez DO1
1
2

FCE, CIUNSa, UNSa, Salta

FI, CIUNSa, UNSa, Salta.

Se propone un metodo interferometrico para la determinacion del ndice de refraccion relativo de lquidos. Se
describe el dise
no de la celda utilizada para contener los lquidos, uno de los cuales se toma como referencia
(por ejemplo, agua). Un delgado haz l
aser efect
ua un barrido de la celda en la direccion del gradiente
de camino optico que se establece en el interior de la misma. Este haz interfiere con el haz de referencia
en un interfer
ometro de Mach-Zehnder y las variaciones de intensidad son registradas por un fotodetector,
digitalizadas y almacenadas en computadora para su posterior an
alisis. La fase modulo 2 de la funci
on
4

intensidad, es determinada aplicando el metodo de la Transformada de Fourier. La fase desenvuelta permite

determinar la diferencia de caminos
opticos y de allel ndice de refraccion relativo de las sustancias. Se
comparan los resultados obtenidos a diversas temperaturas con medidas realizadas en un refract
ometro
convencional.

Medici
on de los coeficientes de reflexi
on para redes unidimensionales en
montaje c
onico
Martnez Ricci ML, Ledesma S
DF, FCEN, UBA

Las tecnicas de scattering proveen un metodo no destructivo para conocer los par
ametros caracteristicos de
una red a traves de mediciones en el campo difractado.
En una red en montaje clasico (direcci
on de los surcos perpendicular al plano de incidencia) la polarizacion
de los ordenes sigue la polarizaci
on del haz incidente y basta conocer la amplitud reflejada para caracterizar
la estructura. Las estructuras peri
odicas exhiben propiedades de conversion de polarizacion para incidencia
fuera del plano o montaje conico. En particular para el caso de redes profundas, el orden cero de difracci
on
puede tener una eficiencia de conversi
on muy alta para determinados angulos entre la direccion de los surcos
y el plano de incidencia. En esta geometria es necesario conocer los coeficientes de reflexion complejos para
una completa caracterizacion de la estructura.
En este trabajo se presentan mediciones de la reflectividad en amplitud y fase para las componentes s y p
del orden cero difractado por una red comercial de 1200 l/mm con recubrimiento de aluminio. Las mediciones
se realizaron para una longitud de onda incidente de 633 nm. Se muestran resultados para distintos angulos
entre el plano de incidencia y la direcci
on de los surcos variando los angulos de incidencia.

Difraccion en la superficie corrugada de un medio PML: metodo de

transformacion de coordenadas
Inchaussandague ME, Depine RA
DF, FCEN, UBA

Los medios llamados PML (Perfectly Matched Layer) constituyen una herramienta muy u
til para resolver
problemas electromagneticos en regiones ilimitadas. En el esquema investigado por Sacks et al. (IEEE Trans.
Antennas Propag. 43, 1460-1463 (1995)), el PML es un medio anisotropo cuyos par
ametros constitutivos
son elegidos para que una interfase plana absorba completamente la radiaci
on incidente, independientemente
de su frecuencia,
angulo de incidencia y polarizacion. Tomando como punto de partida un medios PML con
estas caractersticas, en este trabajo estudiamos la difracci
on de ondas electromagneticas en la interfase
corrugada peri
odicamente entre un medio isotropo y un PML y se investigan los cambios en la potencia
absorbida debido al corrugado de la interfase de separacion entre los medios. El metodo empleado para el
calculo de los campos difractados se basa en el empleo de una transformaci
on de coordenadas muy sencilla
que simplifica el tratamiento de las condiciones de contorno y que conduce a la resolucion numerica de
un sistema de ecuaciones diferenciales con coeficientes constantes. Se presentan resultados para redes de
perfil sinusoidal y se investiga la dependencia de la potencia reflejada con el angulo de incidencia y con la
profundidad de los surcos de la red.

Conversi
on de polarizaci
on en redes trapezoidales
Inchaussandague ME, Depine RA
DF, FCEN, UBA

Una caracterstica de las redes de difracci

on con perfiles simetricos es la igualdad de las eficiencias de
conversion de polarizaciones (s-p y p-s) en el orden cero reflejado. Dado que la igualdad deja de cumplirse si
5

se introducen asimetras en el perfil de la red, el estudio de las diferencias entre las citadas eficiencias es de
interes por sus posibles aplicaciones pr
acticas en la deteccion no destructiva de asimetras. En este trabajo se
estudian las diferencias en las eficiencias de conversion en redes de difracci
on de perfil trapezoidal utilizando
un formalismo diferencial riguroso. Se presentan resultados en redes metalicas de diferentes conductividades,
considerando distintos grados de simetra del perfil y para distintos valores de la relacion profundidad-perodo.

Reflexi
on en la superficie corrugada de un medio PML: m
etodo de Rayleigh
Inchaussandague ME, Gigli ML, Depine RA
Dep de Fsica, FCEyN, UBA

Entre los medios llamados PML (Perfectly Matched Layer) se destaca el PML anisotropo introducido por
Sacks et al. (IEEE Trans. Antennas Propag. 43, 1460-1463 (1995)). En este trabajo presentamos un metodo
de Rayleigh para estudiar la reflexi
on de ondas electromagneticas en la interfase corrugada periodicamente
(perodo d) entre un medio is
otropo y un PML en el regimen no difractivo (/d 2). Se presentan resultados
para redes de perfil sinusoidal y se investiga la dependencia de la potencia reflejada con el angulo de incidencia
y con la profundidad de los surcos de la red. Nuestros resultados indican que la reflectividad del medio
anisotropo absorbente cerca de incidencia normal, sigue siendo muy baja (menos del 0.4% para un corrugado
del 10%) mientras que aumenta considerablemente cerca de incidencia rasante.

Nueva t
ecnica para incrementar la cantidad de informaci
on a ser procesada
simult
aneamente en un correlador
optico
Villarreal M1 , Iemmi C1 , Campos J2
1

DF, FCEyN, UBA, Bs As

GO, UAB, Barcelona, Espa
na

Presentamos una tecnica que nos permite incrementar el n

umero de objetos a ser detectados y clasificados
simult
aneamente en un proceso
optico de reconocimiento de formas. Basicamente consiste en el multiplexado
de muchos filtros s
olo de fase. La eliminaci
on de la se
nal de convolucion en el plano final del correlador, a
traves de la implementaci
on directa de filtros solo de fase, hace posible incrementar el n
umero de canales a
ser usados en un correlador de Vander Lugt. La diferencia entre estos filtros compuestos y otros propuestos
anteriormente yace en la forma en que estos estan sintetizados. Usualmente los filtros son implementados
fsicamente en medios sensibles solo a variaciones de amplitud y por ello es necesario recurrir a una codificacion de la informaci
on de fase. En el metodo propuesto no se emplea ninguna tecnica de codificacion de los
valores de fase en valores de amplitud. La implementacion de este tipo de filtros es llevada a cabo por medio
de pantallas de cristal lquido trabajando en modo solo de fase. Se presentan en este trabajo simulaciones
numericas y resultados experimentales obtenidos de la implementacion de dos tipos diferentes de filtros solo
de fase. Se analizan las respuestas al impulso y las se
nales de correlacion.

Difracci
on en la interfase corrugada de un medio giroelectromagn
etico uniaxial:
casos de adaptaci
on de ndices y de impedancias.
Depine RA, Gigli ML
DF, FCEyN, UBA

Se estudia la difracci
on de ondas electromagneticas en la interfase periodicamente corrugada de un medio
giroelectromagnetico uniaxial. Se consideran los casos de adaptaci
on de ndices y de impedancias, prestando
especial atenci
on a las anomalas asociadas con ordenes rasantes.