「test time」に関連した英語例文の一覧と使い方(7ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide a semiconductor storage device achieving leak test in a shorter time.例文帳に追加

より短時間にリークテストが可能な半導体記憶装置を提供する。 - 特許庁

MEMORY TEST SYSTEM/METHOD AT THE TIME OF STARTING SYSTEM BY CONTROL FIRMWARE例文帳に追加

制御ファームウェアによるシステム立ち上げ時のメモリ試験システム及び方法 - 特許庁

SEMICONDUCTOR MEMORY ELEMENT HAVING TEST MODE FOR MEASURING DATA-ACCESS TIME例文帳に追加

データアクセスタイムを測定するためのテストモードを有する半導体メモリ素子 - 特許庁

stand the test of time 例文帳に追加

時の試練に耐える、時間をかけて証明されている、長く記憶にとどまる - 日本語WordNet

To perform communication test to be performed between communication equipment, in a short time.例文帳に追加

通信装置相互間で行われる通信試験を短時間に行う。 - 特許庁

To improve process amount and process time in immunodiagnostic test.例文帳に追加

免疫診断検査における処理量および処理時間を改善する。 - 特許庁

To provide a physical layer device with a test circuit constituted, so as to be capable of performing tests by the physical layer device alone and capable of realizing shortening of the test time and the reduction of test cost.例文帳に追加

物理層デバイス単体でテストできるようにし、テスト時間の短縮化、テスト費用の低減化が実現できるテスト回路付き物理層デバイスの提供。 - 特許庁

To achieve reduction of time for calibration of an output and improvement of precision of a test device itself in a characteristics test method and the test device of a panel type display.例文帳に追加

パネル型表示器の特性検査方法および検査装置において、検査装置自身の出力校正の時間短縮と精度の向上を行う。 - 特許庁

To provide a test apparatus and a test method for discriminating between foreign substances and scars, capable of discriminating between minute foreign substances and scars without taking time in test work.例文帳に追加

検査作業に手間取ることなく微小な異物とキズ痕とを判別可能な異物とキズ痕との判別検査装置及び検査方法を提供する。 - 特許庁

To provide a radiation monitor device that greatly shorten a test time, and changes test items according to circumstances by automatically and sequentially optimizing the frequency of a test pulse.例文帳に追加

テスト時間を大幅に削減し、テストパルスの周波数を自動で逐次最適化してテスト項目を臨機応変に変更可能な放射線監視装置を得る。 - 特許庁

A communication tester is provided with a test item management section 11 which stores test items and the acceptance/rejection determination of the test items by associating the date and time of the acceptance/ rejection determination.例文帳に追加

通信テスタに、テスト項目と、そのテスト項目の合否判定と、その合否判定の日時とを対応付けて記憶するテスト項目管理部１１を設ける。 - 特許庁

Since a driven relative speed of the test pieces is doubled in comparison with immovably fixing the test piece S2, the test time is reduced by half.例文帳に追加

試験体Ｓ２を動かないよう固定する場合と比較して試験体の駆動される相対速度が２倍となるので試験時間が半減される。 - 特許庁

To provide a semiconductor test device, reducing entire test time and also obtaining the fail count for every test.例文帳に追加

全体的な試験時間を短縮することが可能であると共に、試験の各回数ごとのフェイルカウントを把握することが可能な半導体試験装置を提供する。 - 特許庁

Thereby, the self-test circuit 10B is started, this time, a test based on a clock signal CKB is performed by this self-test circuit 10B.例文帳に追加

これにより、自己試験回路１０Ｂが起動され、今度はこの自己試験回路１０Ｂによってクロック信号ＣＫＢに基づく試験が行われる。 - 特許庁

To provide a semiconductor test device achieving cost reduction by shortening the total test time to achieve the improvement of the efficiency of the whole test.例文帳に追加

トータルの試験時間を短縮して試験全体の効率の向上を図るとともに、コストの低減を実現した半導体試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide an apparatus for testing test plug, provided with such versatility as to adapt to various test modes and capable of reliably testing test plugs in a short time.例文帳に追加

様々な試験モードに対応可能な汎用性を備え、短時間で確実にテストプラグを試験することが可能なテストプラグ試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a leak test method for a gas supply inner pipe and a tool for leak test capable of efficiently conducting a leak test by shortening work time.例文帳に追加

作業時間の短縮を図って効率よく漏洩試験を行い得るガス供内管の漏洩試験方法および漏洩試験用工具を提供する。 - 特許庁

To provide a non-volatile semiconductor memory whose test cost can be reduced by shortening a test time after manufacturing and using an inexpensive test system.例文帳に追加

製造後のテスト時間を短縮し、また、安価なテストシステムを用いることにより、コストを低減できる不揮発性半導体メモリを提供すること。 - 特許庁

To provide a technique capable of shortening test time by shortening frequency switching duration of test signal in a test system for semiconductor integrated circuit.例文帳に追加

半導体集積回路のテストシステムにおいて、テスト信号の周波数切り替え時間を短縮してテスト時間を短縮することができる技術を提供する。 - 特許庁

To provide a lifetime prediction test method of a polymer membrane capable of carrying out in short time evaluation of the lifetime of a polymer membrane, a test device, and a test program.例文帳に追加

高分子膜の寿命評価を、短時間で行うことができる高分子膜の寿命予測試験方法、試験装置および試験プログラムを提供する。 - 特許庁

When test voting is started, ground stations AP1, AP2,..., transmit a test voting start signal to many terminal devices M11, M12,..., and each terminal device measures a time when the user of the self-device takes time in performing test voting operation and transmits the test voting operation time to its ground station.例文帳に追加

テスト投票を開始すると、地上局AP1,AP2,…から多数の端末装置M11,M12,…にテスト投票開始信号を送信し、各端末装置が自装置の使用者がテスト投票動作に要した時間を計測し、このテスト投票動作時間を地上局に送信する。 - 特許庁

When the execution time of the test vector is larger than the value of a preliminarily set designated holding time, the value of the execution time is forcedly replaced with the value of the designated holding time, and outputted as the test vector.例文帳に追加

テストベクタの実行時間があらかじめ設定された指定保持時間の値よりも大きい場合は、強制的に実行時間の値を指定保持時間の値に置き換えテストベクタとして出力する。 - 特許庁

To suppress increase in a test vector making time and increase in a test time, when an evaluation test of a DRAM core circuit incorporated in a DRAM mixed logic LSI is performed by unnecessitating an exclusive test vector for each DRAM core circuit being an object of evaluation.例文帳に追加

DRAM混載ロジックLSI に内蔵するDRAMコア回路の評価テストを行う場合に、評価対象となるDRAMコア回路毎に専用のテストベクタを必要としなくなり、テストベクタ作成時間の増大やテスト時間の増大を抑制する。 - 特許庁

The writing test of test pattern data on a track boundary is added besides the writing of a test pattern in a SAT test at the track center conventionally performed and the inspection of burst patterns (A, B patterns) by the writing test at that time.例文帳に追加

従来行っていたトラック中心へのＳＡＴ試験におけるテストパターンの書き込みとその際の書き込みテストによるバーストパターン（Ａ，Ｂパターン）の検査に加え、トラック境界へのテストパターンデータの書込みテストを追加する。 - 特許庁

To provide a macro test circuit that can reduce test cost by reducing a test pattern length, shortening a test time and effectively using scan flip-flop circuits in a SCAN test including a high function macro.例文帳に追加

高機能マクロを含むＳＣＡＮテストにおいて、テストパターン長を削減し且つテスト時間を短縮し、然もスキャンフリップフロップ回路を有効に利用し、その結果としてテストコストを下げることが可能なマクロテスト回路を提供すること。 - 特許庁

To preserve a test piece subjected to etching stably over a long period of time.例文帳に追加

エッチング処理を施した試験片を長期間に亘り安定に保存する。 - 特許庁

To realize stable operation by lightening a load for a measuring system at the time of a burn-in test or at the time of a stress test, and reducing a peak current, in a DRAM.例文帳に追加

ＤＲＡＭにおいて、バーンイン試験時又はストレス試験時での測定系の負荷を軽減し、ピーク電流を低減して、安定した動作を実現する。 - 特許庁

As a result, a testing time can be shortened by shortening a test pattern.例文帳に追加

この結果、テストパターンを短くしてテスト時間を短縮させることができる。 - 特許庁

To inhibit an increase in the number of test terminals of a semiconductor integrated circuit device at testing time.例文帳に追加

半導体集積回路装置のテスト時のテスト端子を抑制する。 - 特許庁

To shorten a test time for setting a threshold voltage of a reference memory cell.例文帳に追加

リファレンスメモリセルの閾値電圧を設定するための試験時間を短縮する。 - 特許庁

To locally and freely adjust cycle time in an arbitrary test cycle.例文帳に追加

任意のテストサイクルにおけるサイクル時間を局所的に自由に調整する。 - 特許庁

To provide a test device capable of shortening a processing time of a whole system.例文帳に追加

システム全体の処理時間を短縮できる試験装置を提供する。 - 特許庁

The test time can be shortened by simultaneously testing the memory part and the logic part.例文帳に追加

メモリ部とロジック部とを同時にテストすることでテスト時間を短縮する。 - 特許庁

To test plural logic circuits at the same time to shorten a test time, when the plural logic circuits having the same function in an integrated circuit are tested.例文帳に追加

集積回路内の同一機能を持った複数の論理回路をテストする際、これ等の複数の論理回路を同時にテストして、テスト時間を短縮する。 - 特許庁

The lid member 20 is mounted on the valve blocking member 10 at the non-using time of the test hole, and the plug member 40 is mounted on the valve blocking member 10 at the using time of the test hole.例文帳に追加

試験孔の非使用時に弁閉塞具１０に蓋具２０を取り付け、試験孔の使用時に弁閉塞具１０にプラグ具４０を取り付ける。 - 特許庁

To carry out a test on the flexibility of a flexible board easily in a short time.例文帳に追加

短時間に、且つ容易にフレキシブル基板の耐屈曲性の試験を行う。 - 特許庁

Return torque in which a temporary value of the recursion offset at the time of a test is zero is provided.例文帳に追加

テスト時に回帰オフセットの一時値がゼロの戻りトルクを提供する。 - 特許庁

To enable screening of a defective memory cell by a die sort test by shortening a RAS restore time of a random cycle time at a normal mode more than that at a test mode.例文帳に追加

テストモード時にランダムサイクルタイムのRASリストア時間を通常モード時よりも短縮してダイソートテストによる不良メモリセルをスクリーニングできるようにする。 - 特許庁

To shorten the time after a fire test is instructed until fire judgment is obtained and to shorten the time required for the fire test even when the number of lines is large.例文帳に追加

火災試験を指示して火災判定が得られるまでの時間を短縮して回線数が多くとも火災試験に要する時間を短くする。 - 特許庁

To obtain and report the current state of a residence alarm by a real time test by using a checking operation as a trigger for a self-test having a time lag.例文帳に追加

タイムラグを持つ自動試験に対し、点検操作などをトリガに現在の住警器の状態をリアルタイム試験により取得して報知可能とする。 - 特許庁

To shorten time of a test for quality discrimination of pixels of a TFT array.例文帳に追加

ＴＦＴアレイの画素の良否試験時間を短縮することができる - 特許庁

To shorten time of development and time of execution of a test in a static electric source current measuring test in a system LSI with a built-in processor.例文帳に追加

プロセッサーを内蔵するシステムＬＳＩにおいて、静止電源電流測定試験時の試験の開発時間と実施時間を短縮することを目的とする。 - 特許庁

The test condition is as follows: The ink is subjected to a lapse of time for 24 h under reflux.例文帳に追加

＜経時試験条件＞ インクを還流しながら75℃、24時間経時する。 - 特許庁

To make it possible to test visual acuity of every distance with ease and in a short time.例文帳に追加

距離別の視力を、簡単かつ短時間で検査できるようにする。 - 特許庁

To provide a mobile vehicle loaded with a high voltage test device capable of dispensing with time and labor required for the move of a specimen and reducing time and cost required for a test greatly.例文帳に追加

供試品の移動の手間がかからず、試験のための時間やコストを大幅に節約できる高電圧試験装置搭載移動車を提供する。 - 特許庁