「test time」に関連した英語例文の一覧と使い方(11ページ目) - Weblio英語例文検索

The scan test register 104-106 has a function for transferring the content of data processing in serial at the time of test, in addition to the function of normal data processing.例文帳に追加

スキャンテスト対応レジスタ１０４〜１０６は通常のデータ処理の他に、テスト時にその内容をシリアルに転送する機能を持つ。 - 特許庁

To provide a static semiconductor memory device capable of shortening the test time of a data retention test, thereby improving productivity.例文帳に追加

データリテンションテストのテスト時間を短縮して、生産性を向上させることができるスタティック型半導体記憶装置を提供する。 - 特許庁

To provide a ristocetin cofactor test reagent which is used in a blood coagulation test, stable for a long time and ready for immediate use例文帳に追加

血液凝固試験に使用するための、長期の安定性を有し、即時に使用可能なリストセチン補因子試験の試薬の提供。 - 特許庁

To conduct a test without requiring authoring of additional test software every time a message exchange pattern application is tested.例文帳に追加

メッセージ交換パターンアプリケーションがテストされるたびに、追加のテストソフトウェアのオーサリングを必要とすることなく、このテストを実施可能とする。 - 特許庁

To provide a semiconductor memory device in which memory tests of a plurality of test patterns are performed and its test time can be shortened.例文帳に追加

複数のテストパターンのメモリテストを実行するとともに、そのテスト時間を短縮することができる半導体記憶装置を提供する。 - 特許庁

When determining as the error in the second time, this device determines that the subject does not understand the balance test and performs +1D gradation test as substitute therefor.例文帳に追加

２度目のエラー判定が下された場合、被検者はバランステストを理解できないと判断し、代わりに＋１Ｄぼかしテストを行う。 - 特許庁

To obtain a semiconductor device performance test of which can be carried out in a short time with high efficiency regardless of the content of a test pattern or the circuit scale.例文帳に追加

テストパターンの内容、あるいは回路規模によらず、動作試験が短時間且つ高効率で行える半導体装置の実現。 - 特許庁

To reliably execute a subscriber test in an ISDN line in a short time.例文帳に追加

ＩＳＤＮ回線において加入者試験を短時間にしかも確実に実行する。 - 特許庁

To improve the cost effect and the time efficiency for a test of an IC component in DUT.例文帳に追加

ＤＵＴ内のＩＣ部品のテストのコスト効果及び時間効率を向上させる。 - 特許庁

To solve the problem that an inspection time required for scan test increases when a circuit scale of an LSI is increased.例文帳に追加

ＬＳＩの回路規模が増大すると、スキャンテストにかかる検査時間が増大する。 - 特許庁

To provide an IC socket capable of executing an IC test easily in a short time.例文帳に追加

ＩＣのテストを、短時間で容易に行うことができるＩＣソケットを提供すること。 - 特許庁

To provide a semiconductor memory device which has durability for disturb refresh and of which a test time is short.例文帳に追加

ディスターブリフレッシュに強く、テスト時間が短くて済む半導体記憶装置を提供する。 - 特許庁

To shorten a total time to be required for logic verification and test debugging.例文帳に追加

論理検証およびテストデバッグに要する総時間の短縮化を図ることを目的とする。 - 特許庁

To shorten a test time and to prevent contamination and a damage of an interior finish material.例文帳に追加

試験時間の短縮を図るとともに、内装仕上げ材の汚染や損傷を防止する。 - 特許庁

A failure memory circuit and a high speed link are provided to minimize test time.例文帳に追加

テスト時間を最小化するために、故障メモリ回路および高速リンクが設けられる。 - 特許庁

MOBILE COMMUNICATION TERMINAL TEST SYSTEM, BASE STATION SIMULATOR, AND DELAY TIME MEASUREMENT METHOD例文帳に追加

移動体通信端末試験システム、基地局模擬装置、及び遅延時間測定方法 - 特許庁

To provide a test device which inhibits an object to be tested from being damaged for a long period of time.例文帳に追加

試験対象物の損傷を長期に抑制する試験装置を提供すること。 - 特許庁

To shorten the processing time for ATPG, and to reduce the number of excessive test patterns.例文帳に追加

ＡＴＰＧの処理時間の短縮化および余分なテストパターン数の削減を図ること。 - 特許庁

To provide a deterioration tester capable of performing a deterioration test of high precision in a short time.例文帳に追加

短時間に高精度の劣化試験を実施できる劣化試験装置を提供する。 - 特許庁

To remove a useless consumption of power energy even in a long-time load test of a pulse power supply.例文帳に追加

パルス電源の長時間負荷試験にも電力エネルギーの無駄な消費を無くす。 - 特許庁

This is the second time in his career that Gatlin has failed a doping test. 例文帳に追加

ガトリン選手が薬物検査で失格となったのは彼の経歴上これが２回目である。 - 浜島書店 Catch a Wave

To provide a software test method and program, reduced in testing time.例文帳に追加

テスト時間を短縮することができるソフトウェアのテスト方法及びプログラムを提供する。 - 特許庁

To determine in real time whether a test condition of a semiconductor device is set correctly.例文帳に追加

半導体デバイスのテスト条件が正しく設定されているかをリアルタイムに判断する。 - 特許庁

To provide a technology for performing simulation of a BCI test in shorter time.例文帳に追加

ＢＣＩ試験のシミュレーションをより短時間に行えるようにする技術を提供する。 - 特許庁

At this time, the common data block, contained in two or more arbitrary test patterns, is searched.例文帳に追加

このとき、任意の２つ以上のテストパターンに含まれる共通のデータブロックを検索する。 - 特許庁

The data temporarily stored in the table are sorted in the order of high priority, and the test time of each record is added in the order of high priority, and records until the test time exceeds the test execution time received from the client 10 are acquired and output (S194 to S198).例文帳に追加

一時テーブルに格納されたデータは優先度の値が高い順にソートされた後、各レコードの試験時間を優先度の高い順から加算し、クライアント１０より受信した試験実施時間を超える前までのレコードを取得し、出力する（S１９４〜S１９８）。 - 特許庁

To provide a semiconductor testing device shortening a loading time of a test program.例文帳に追加

テストプログラムのロード時間を短くすることができる半導体試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor memory device in which the test time of a mounted memory can be shortened.例文帳に追加

搭載されたメモリのテスト時間を短縮できる半導体記憶装置を提供する。 - 特許庁

Hereby, the generation state of condensation on the fitting test body at each prescribed time is observed.例文帳に追加

これにより、所定時間ごとの建具試験体の結露の発生状況を観察する。 - 特許庁

To perform an operation test in a short time by varying no operation environment.例文帳に追加

動作環境を変えることなく、かつ、短時間で動作試験を行うことを可能にする。 - 特許庁

The microcomputer 32 controllably outputs a test current to the electromagnetic solenoid 22 after the time is counted.例文帳に追加

マイコン３２は、前記計時した後、試験電流を電磁ソレノイド２２に出力制御する。 - 特許庁

STANDARD MOLECULE USED FOR REAL-TIME PCR TEST AND METHOD FOR DETECTING THE STANDARD MOLECULE例文帳に追加

リアルタイムＰＣＲ検査に用いる標準分子及びその標準分子の検出法 - 特許庁

GENERATING DEVICE FOR TEST PATTERN AND STROBE SIGNAL AND INSERTING METHOD FOR DELAY TIME INTO TIMING DATA例文帳に追加

テストパターンやストローブ信号の発生装置及びタイミングデータへの遅延時間の挿入方法 - 特許庁

To stably test the state of a sensor in a short time without providing plural sets of electrodes.例文帳に追加

複数の電極を設けることなく、短時間で安定してセンサの状態を検査する。 - 特許庁

It was such a hard test that we did not have time to finish. 例文帳に追加

それはとても難しいテストだったので、私たちは最後まで終える時間がなかった。 - Tanaka Corpus

It was such a hard test that we did not have time to finish.例文帳に追加

それはとても難しいテストだったので、私たちは最後まで終える時間がなかった。 - Tatoeba例文

To provide a nonvolatile semiconductor memory device which can shorten test time.例文帳に追加

テスト時間を短縮することが可能な不揮発性半導体記憶装置を提供する。 - 特許庁

To reduce time of the performance test for a protective relay, and the cost of testing facilities.例文帳に追加

保護継電器の動作試験にかかる時間の短縮及び試験設備の経費節減。 - 特許庁

To provide a semiconductor integrated circuit, with which a measuring error is reduced and the test time is shortened.例文帳に追加

測定誤差を低減し、テスト時間を短縮する半導体集積回路を得ること。 - 特許庁

To provide a technology for shortening generation time of a test pattern in ATPG.例文帳に追加

ＡＴＰＧにおけるテストパタンの生成時間を短縮するための技術を提供する。 - 特許庁

To accurately test an assembled state of a tire and a wheel and moreover, in a short time.例文帳に追加

タイヤとホイールの組付け状態をより高精度で、かつ短時間に検査すること。 - 特許庁

To shorten a test time of a semiconductor device mounted with nonvolatile semiconductor memories.例文帳に追加

不揮発性半導体メモリを搭載した半導体装置の試験時間を短縮する。 - 特許庁

With test pieces different in stress conditions from each other being supported/fixed on the plurality of support mechanisms, fatigue test is performed at the same time on the plurality of test pieces by giving vibration to the support body.例文帳に追加

そして、複数の支持機構に互いに応力条件が異なる試験片を支持固定して、支持体に振動を与えて、複数の試験片について同時に疲労試験を行う。 - 特許庁

Next, this test pattern data are reproduced with rotation speed being lower than speed at the time of test writing of this test pattern data (e.g. 1/2 times), after it is amplified by ta pre-amplifier 4, it is supplied to a quality evaluating means 22.例文帳に追加

次に、このテストパターンデータを試し書き時よりも低い（例えば、１／２倍の）回転速度で再生し、プリアンプ４で増幅した後、品質評価手段２２に供給する。 - 特許庁

To attain shortening of a test time of a recording disk and high test reliability by more accurately predicting the number of defects on the basis of a test result about a portion of tracks in the recording disk.例文帳に追加

記録ディスクにおける一部トラックについてのテスト結果によってより正確な欠陥数を予想し、記録ディスクのテスト時間の短縮とより高いテスト信頼性とを実現する。 - 特許庁