「test point」に関連した英語例文の一覧と使い方 - Weblio英語例文検索

DESIGNING SYSTEM FOR TEST POINT ON PRINTED-CIRCUIT BOARD例文帳に追加

プリント基板のテストポイントの設計システム - 特許庁

Boiling Point and Distilling Range Test例文帳に追加

沸点測定法及び蒸留試験法 - 厚生労働省

In this test tube reaching the boiling point例文帳に追加

試験管の温度が沸点に近づくと - 映画・海外ドラマ英語字幕翻訳辞書

AUTOMATIC TEST POINT INSERTION METHOD AND PROGRAM例文帳に追加

テストポイント自動挿入方法及びプログラム - 特許庁

At some point may have had a pregnancy test.例文帳に追加

妊娠テストを受けた人もいるでしょう - 映画・海外ドラマ英語字幕翻訳辞書

I'd like to point out that that test pilot survived.例文帳に追加

言っておきますが、テストパイロットは無事でした - 映画・海外ドラマ英語字幕翻訳辞書

Test point list data and test log data are inputted, and a log data label test point list collation processing part 12 decides whether or not a test point recorded in the test log data is registered with the test point list data.例文帳に追加

試験ポイント一覧データと試験ログデータとを入力し、ログデータラベル・試験ポイント一覧照合処理部１２において、試験ログデータ中に記録された試験ポイントが試験ポイント一覧データに登録されているか否かを判断する。 - 特許庁

TEST POINT SETTING SYSTEM FOR SUBSTRATE EMBEDDED COMPONENT例文帳に追加

基板埋め込み部品のテストポイント設定方式 - 特許庁

SWEDISH SOUNDING TEST SCREW POINT LOOSENING TOOL例文帳に追加

スウェーデン式サウンディング試験スクリューポイント緩め治具。 - 特許庁

ELECTRONIC TEST APPARATUS AND METHOD FOR DISPLAYING DATA POINT VALUE OF ELECTRONIC TEST例文帳に追加

電子試験装置及び電子試験のデータポイント値を表示する方法 - 特許庁

When it is registered, a test to the test point concerned is considered as executed and the contents of the test point list data are updated.例文帳に追加

登録されている場合、当該試験ポイントに対する試験は実施済みとして試験ポイント一覧データの内容を更新する。 - 特許庁

A method for designing a semiconductor integrated circuit is based on a TPI (Test Point Insertion) method.例文帳に追加

本発明によれば、ＴＰＩ（Test Point Insertion）手法に基づく半導体集積回路の設計方法が提供される。 - 特許庁

METHOD FOR THREE-POINT BENDING TEST FOR SHEET-TYPE TEST PIECE AND APPARATUS USED FOR THE SAME例文帳に追加

シート状試験片の３点曲げ試験方法およびそれに使用する装置 - 特許庁

SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT DEVICE WITH TEST POINT INSERTED THERETO例文帳に追加

テストポイントを挿入した半導体集積回路装置 - 特許庁

REGISTER TRANSFER LEVEL (RTL) TEST POINT INSERTION METHOD TO REDUCE DELAY TEST VOLUME例文帳に追加

遅延試験量を減らすためのレジスタ転送レベル（ＲＴＬ）試験点挿入方法 - 特許庁

The master access point AP1 acquires a reception state of the test radio wave received by each access point 1 other than a transmission source access point every time transmission source access point transmits the test radio wave.例文帳に追加

アクセスポイント１からテスト用電波が発信される毎に、この発信元以外の各アクセスポイント１が受信したテスト用電波の受信状況を取得する。 - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR SELECTING TEST POINT NODE FOR CIRCUIT TEST WITH LIMITED ACCESS例文帳に追加

アクセスを制限した回路テストのためのテストポイントのノ—ドを選択する方法及び装置 - 特許庁

Therefore, the arrangement state in the circuit block does not change before and after insertion of the test point, namely, the test point can be inserted without changing the arrangement state in the circuit block.例文帳に追加

したがって、テストポイントを挿入する前後において回路ブロック内の配置の状態が変わることがない。 - 特許庁

The test will be called off at that point and considered a failure.例文帳に追加

そこで審査を打ち切り 不合格とさせていただきます - 映画・海外ドラマ英語字幕翻訳辞書

A node to be inserted is determined by comparing the failure detection rates in a test efficiency comparing step S111, and selecting the one with higher test efficiency of the test point for observation and the test point for control in a test point insertion node determining step S112.例文帳に追加

続いて、テスト効率比較ステップＳ１１１にて両者を比較し、テストポイント挿入ノード決定ステップＳ１１２において観測用テストポイント及び制御用テストポイントのうち、テスト効率がより高い方を選択し、挿入されるノードを決定する。 - 特許庁

We have misgivings as to whether there's any point in continuing the test.例文帳に追加

テストを継続する意味があるのかと 危惧しているところです - 映画・海外ドラマ英語字幕翻訳辞書

The exposed parts are used as parts abutting on a test piece when executing the four-point bending test.例文帳に追加

この露出部分が４点曲げ試験を実行する際に試験片に当接する部分となる。 - 特許庁

To provide a scan test circuit for inserting a test point for improving controllability, where not only a degeneration fault test but also a delay fault test are brought into view.例文帳に追加

縮退故障テストだけでなく遅延故障テストまでも視野に入れた、制御性向上の為のテストポイントを挿入するスキャンテスト回路を提供すること。 - 特許庁

A master access point AP1 instructs each access point 1 to individually transmit the test radio wave.例文帳に追加

マスタアクセスポイントＡＰ１は、各アクセスポイント１にテスト用電波を個別に発信すべきことの指示する。 - 特許庁

The high voltage terminal HVT is connected to a test point TP.例文帳に追加

高電圧端子ＨＶＴは、テストポイントＴＰに接続されている。 - 特許庁

The logic circuit test apparatus 10 performs a test for the logic circuit into which the test point is inserted by the insertion section 130.例文帳に追加

論理回路試験装置１０は、挿入部１３０によってテストポイントの挿入された論理回路に対してテストの実行を行う。 - 特許庁

A control point CP transmits a plurality of test indications to the server SV1.例文帳に追加

コントロールポイントＣＰは、複数のテスト指示をサーバＳＶ１に送信する。 - 特許庁

To attain a scan test point circuit by a single scan flip-flop.例文帳に追加

スキャンテストポイント回路を単一のスキャンフリップフロップによって実現すること。 - 特許庁

The reference pulse is supplied at a fixed time point to the test pattern.例文帳に追加

基準パルスをテストパターンに対して固定の時間位置で供給する。 - 特許庁

The fatigue test is carried out by supplying the load onto the force point 3 repeatedly.例文帳に追加

そして、力点３に繰り返し負荷を付与して疲労試験を行う。 - 特許庁

Then, the stored program modules are read, a test point extracting part 4 extracts test points, and test items are outputted from a test point list generating and outputting part 5 on the basis of the extracted results.例文帳に追加

そして、記憶されたこれらのプログラムモジュールを読み出して試験ポイント抽出部４で試験ポイントを抽出し、この抽出結果に基づいて試験項目を試験ポイント一覧生成・出力部５から出力する。 - 特許庁

To control weight loading speed, while balancing two-point loading, in a four-point bending creep test.例文帳に追加

４点曲げクリープ試験において、２点荷重のバランスを取りながら荷重負荷速度を制御すること。 - 特許庁

To provide a test apparatus of a fuel cell, which can improve response in comparison to a test apparatus using a dew point meter.例文帳に追加

露点計を用いた試験装置に比べて応答性を改善できる燃料電池の試験装置の提供。 - 特許庁

To provide a scan-test point circuit with a small area overhead, which can generate a desired test pattern easily.例文帳に追加

面積オーバーヘッドが小さく、容易に所望のテストパタンを生成することができるスキャンテストポイント回路を提供する。 - 特許庁

The tape library test device subsequently generates test data for the tape library device for transferring the extracted singular point.例文帳に追加

その後、テープライブラリ試験装置は、抽出した特異点を移動させる、テープライブラリ装置の試験データを生成する。 - 特許庁

MANUFACTURE AND TEST METHOD FOR INTEGRATED CIRCUIT USING HIGH DENSITY PROBE POINT例文帳に追加

高密度探触点を使用した集積回路の製作および試験方法 - 特許庁

The method includes (A) a step of inserting a test point into an object node in a designed circuit, (B) a step of specifying a delay time for a path (test point path) connecting with the test point, and (C) a step of laying out the designed circuit so that the delay time of the test point path is the specified delay time.例文帳に追加

その設計方法は、（Ａ）設計回路中の対象ノードに対してテストポイントを挿入するステップと、（Ｂ）そのテストポイントにつながるパス（テストポイントパス）に対して遅延時間を指定するステップと、（Ｃ）そのテストポイントパスの遅延時間が上記指定された遅延時間になるように、設計回路のレイアウトを行なうステップと、を有する。 - 特許庁

The second deciding means 20 decides the deemed standard deviation σ' of the second test based on the ratio (m'/m) of the average point (m) of the first test and the deemed average point (m') of the second test and on the standard deviation σ of the first test.例文帳に追加

第２決定手段２０は、第１試験の平均点ｍと、第２試験のみなし平均点ｍ’との比（ｍ’／ｍ）と、第１試験の標準偏差σとに基づき第２試験のみなし標準偏差σ’を決定する。 - 特許庁

To provide a debug support system for a semiconductor integrated circuit test program with a parameter change point as a break point.例文帳に追加

パラメータの変更点をブレークポイントとする半導体集積回路試験プログラムのデバッグ支援装置を提供する。 - 特許庁

A test result adjusting method comprises steps of assigning the identifier to the test result of first test execution, specifying the starting point, and assigning the identifier to the test result of second test execution.例文帳に追加

一実施形態に係るテスト結果調整方法は、第１のテスト実行のテスト結果に識別子を割り当てることと、開始点を指定することと、第２のテスト実行のテスト結果に識別子を割り当てることとを含みうる。 - 特許庁

A 4-points supporting and 1-point pressing test is carried out by using a test piece of a panel for a furnace wall of a boiler fire furnace to measure an actual deflection quantity at the center of the test piece (S1).例文帳に追加

ボイラ火炉の炉壁用のパネルの試験体を用いて４点支持１点押し試験を行い、その中央の撓み量を実測する（Ｓ１）。 - 特許庁

Based on a test method D102 specified from the outside, data of an unnecessary test point is deleted from the design data stored in the storage device 700 by a test point delete section K104, and design data D103 including no unnecessary test point is output by a data output section K105.例文帳に追加

そして、外部から指定されたテスト手法Ｄ１０２に基づいて、記憶装置７００に格納された設計データから、不要なテストポイントのデータがテストポイント削除部Ｋ１０４により削除され、不要なテストポイントを含まない設計データＤ１０３が、データ出力部Ｋ１０５により出力される。 - 特許庁

The reticle 1 is placed at the front focusing point of an optical system 2 which is under the test.例文帳に追加

レチクルには、複数の位置に計測パターン１ａ、１ｂが形成されている。 - 特許庁

To effectively insert a test point into a logic circuit of a tested object.例文帳に追加

テスト対象の論理回路に対してテストポイントを効果的に挿入すること - 特許庁

A second lighting unit 52 illuminates the test contact point 16 of the socket 18.例文帳に追加

第２の照明装置５２は、ソケット１８の試験用接点１６を照射する。 - 特許庁