「test frequency」に関連した英語例文の一覧と使い方 - Weblio英語例文検索

FREQUENCY ANALYSIS DEVICE, FREQUENCY ANALYSIS METHOD, FREQUENCY ANALYSIS PROGRAM, TAPPING TEST DEVICE AND TAPPING TEST METHOD例文帳に追加

周波数解析装置、周波数解析方法、周波数解析プログラム、打検装置及び打検方法 - 特許庁

OSCILLATOR, FREQUENCY MULTIPLIER AND TEST APPARATUS例文帳に追加

発振器、周波数逓倍器、及び試験装置 - 特許庁

TEST DEVICE OF SEMICONDUCTOR WAFER FOR HIGH FREQUENCY例文帳に追加

高周波用半導体ウェハのテスト装置 - 特許庁

TEST JIG AND PROBE FOR TEST APPARATUS OF DEVICE FOR HIGH FREQUENCY AND HIGH SPEED例文帳に追加

高周波・高速用デバイスの検査治具および検査用プローブ - 特許庁

To provide a test system and a test method which are simple and by which a test in high frequency is achieved.例文帳に追加

簡単で高周波数での試験を実現したテストシステム及びテスト方法を提供する。 - 特許庁

A signal source 1 has test power at a test frequency, and outputs a test signal obtained by removing a secondary harmonic component of a test frequency component.例文帳に追加

信号源１が試験用周波数で試験パワーを有し、かつ試験周波数成分の２次高調波成分を除去した試験信号を出力する。 - 特許庁

The clock for test is output to a frequency counter.例文帳に追加

試験用クロックを周波数カウンタに出力する。 - 特許庁

FREQUENCY TEST CIRCUIT OF SEMICONDUCTOR ELEMENT FOR ELECTRIC POWER例文帳に追加

電力用半導体素子の周波数試験回路 - 特許庁

METHOD FOR SETTING FREQUENCY SPAN, AND TEST MEASUREMENT DEVICE例文帳に追加

周波数スパン設定方法及び試験測定装置 - 特許庁

RADIO FREQUENCY INTEGRATED CIRCUIT FOR LOOP-BACK SELF-TEST例文帳に追加

ループバック自己検査用無線周波数集積回路 - 特許庁

EXTRACTION METHOD OF PEAK FREQUENCY IN HAMMERING TEST例文帳に追加

打音検査におけるピーク周波数の抽出方法 - 特許庁

TEST AND MEASUREMENT INSTRUMENT AND FREQUENCY DEVIATION TRIGGER METHOD例文帳に追加

試験測定装置及び周波数偏位トリガ方法 - 特許庁

A test mode controller 22 outputs a test signal TEST=H when the operation test in accordance with the maximum operation frequency is performed.例文帳に追加

最大動作周波数に応じた動作試験を行う際にテストモードコントローラ２２は、テスト信号ＴＥＳＴ１＝Ｈを出力する。 - 特許庁

TEST AND MEASUREMENT INSTRUMENT AND FREQUENCY BAND PROCESSING METHOD例文帳に追加

試験測定装置及び周波数帯域処理方法 - 特許庁

AUTOMATIC HIGH FREQUENCY TEST SYSTEM AND WAVEGUIDE CHANGEOVER SWITCH例文帳に追加

高周波自動試験システム及び導波管切替スィッチ - 特許庁

Thus, a test time is short even when the test is performed with a low frequency.例文帳に追加

したがって、低い周波数でテストを行なう場合でもテスト時間が短くて済む。 - 特許庁

To suppress consumption current in a memory test and increase the frequency during the memory test.例文帳に追加

メモリのテスト時の消費電流を抑え、メモリテスト時の周波数を高速化する。 - 特許庁

FREQUENCY MODULATION TESTER FOR CRYSTAL OSCILLATOR AND FREQUENCY MODULATION TEST METHOD例文帳に追加

水晶発振器の周波数変調試験装置および周波数変調試験方法 - 特許庁

To provide a test socket adapted to a high-frequency signal.例文帳に追加

高周波信号に対応した検査ソケットを提供する。 - 特許庁

It's time to test whether CPU frequency changing works. 例文帳に追加

ではCPU周波数の変更が動作するかを試してみましょう。 - Gentoo Linux

A running frequency calculation means 12 calculates average running frequency per test data until completing the test for every single body program based on the test execution information.例文帳に追加

ラン回数算出手段１２は、テスト実行情報をもとに、単体プログラムごとのテスト完了までのテストデータ１件あたりの平均ラン回数を算出する。 - 特許庁

To provide a test printed wiring board enabling to acquire many data relating to a test body under a test with less test pieces and to easily seize a frequency of durable bending test times and variations therein.例文帳に追加

少ない試験片数で被試験体に関する多くのデータが得られ、耐屈折回数とそのバラツキを容易に把握できる試験用プリント配線基板を提供する。 - 特許庁

The test is performed preferentially from the segment having small access frequency.例文帳に追加

また、アクセス頻度の低いセグメントから優先的に試験行う。 - 特許庁

To obtain a method for facilitating tests by a frequency divider circuit that verifies a timing, even at test operation by adding a test circuit to the frequency divider circuit so as to reduce a test pattern and to obtain the frequency divider circuit with the test circuit.例文帳に追加

分周回路にテスト回路を追加することによりテストパタンを短縮化し、且つテスト動作時でもタイミング検証を可能にする分周回路によるテスト容易化方法及びテスト回路付き分周回路を提供する点にある。 - 特許庁

To enable input inspection of a test signal of high frequency in a wafer test by a high-frequency receiving device 21 which is used to receive a high-frequency signal and having circuit integration.例文帳に追加

集積回路化され、高周波信号の受信に用いられる高周波受信装置２１において、ウェハテストでの高周波のテスト信号の入力検査を可能にする。 - 特許庁

The test circuit TC includes a transmission buffer TXB for test to accumulate transmission data signals from a test input terminal TPI at a frequency CF2 lower than at the frequency CF1, and a reception buffer RXB for test to output the reception data signals to a test output terminal TPO at the frequency CF3 lower than at the frequency CF1.例文帳に追加

テスト回路ＴＣは、テスト入力端子ＴＰＩからの送信データ信号をＣＦ１よりも遅い周波数ＣＦ２で蓄積するテスト用送信バッファＴＸＢと、受信データ信号をＣＦ１よりも遅い周波数ＣＦ３でテスト出力端子ＴＰＯに出力するテスト用受信バッファＲＸＢを含む。 - 特許庁

When it is confirmed with the frequency counter that a difference between the frequency of the clock for test and a target frequency is within a predetermined range, an in-test level when the clock for test is generated by the VCXO is stored as a reference level in the memory, and the frequency of the clock for test is stored as a reference frequency.例文帳に追加

試験用クロックの周波数と目標周波数との差が所定の範囲内であることが周波数カウンタによって確認できたら、メモリに、この試験用クロックがＶＣＸＯによって発生された際の試験時レベルを基準レベルとして記憶させ、この試験用クロックの周波数を基準周波数として記憶させる。 - 特許庁

Provided are a test signal source 39 which generates the test signal of high frequency and a test signal supply circuit 23 which performs input switching.例文帳に追加

高周波のテスト信号を発生するテスト信号源３９および入力切換えを行うテスト信号供給回路２３を設ける。 - 特許庁

The RF test signal has a frequency within an RF reception frequency band of a higher frequency than a frequency of an RF transmission signal within a peak frequency band of multiband wireless frequency communication.例文帳に追加

ＲＦテスト信号は、マルチバンド無線周波数通信の最高周波数バンドのＲＦ送信信号の周波数よりも高い周波数のＲＦ受信周波数バンド内の周波数を有する。 - 特許庁

A composite signal having the first test signal and a second test signal at a frequency that is twice the first frequency is generated and digitized.例文帳に追加

第１の試験信号と第１の周波数の２倍周波数にある第２の試験信号とを有する合成信号を生成しディジタル化される。 - 特許庁

This test control device sets a debug count including a flow count for expressing a redoing frequency of the test flow and a process count for expressing a redoing frequency of the test processes, and executes the respective test processes of the test flow including redoing while selecting the test condition in response to this debug count.例文帳に追加

テスト管理装置において、テストフローのやり直し回数を表すフローカウントと各テスト工程のやり直し回数を表す工程カウントとを含むデバッグカウントを設定し、このデバッグカウントに対応してテスト条件を選択しながら、やり直しを含むテストフローの各テスト工程を実行させる。 - 特許庁

To provide a vibration test device performing a sweep test with constant velocity amplitude and a sweep test with constant acceleration amplitude in a wide frequency band including a high frequency region.例文帳に追加

高周波域を含めた広い周波数帯において速度振幅一定スイープ試験及び加速度振幅一定スイープ試験を行うことのできる振動試験装置を提供する。 - 特許庁

TRACEABLE BUILT-IN PROGRAMMABLE FREQUENCY GENERATOR FOR COMPARING ALTERNATE TEST SITE WITH OPEN AREA TEST SITE例文帳に追加

代替テストサイト及びオ—プンエリアテストサイトの比較を実施するためのトレ—ス可能な内蔵式プログラマブル周波数発生源 - 特許庁

Thereafter, detection signals of the respective test pattern groups (A-E) are analyzed to obtain frequency characteristics of the respective test pattern groups (A-E).例文帳に追加

次に、各テストパターン群（A〜E）の検知信号を解析し、各テストパターン群（A〜E）の周波数特性を取得する。 - 特許庁

To unnecessitate an oscillating device for a test and easily perform a frequency fluctuation test with a simple configuration.例文帳に追加

試験用の発振装置を不要にでき、簡単な構成で容易に周波数変動試験を行えるようにする。 - 特許庁

To provide a semiconductor memory device in which an operation test by a frequency being higher than the maximum clock frequency which can be supplied by a test device can be performed.例文帳に追加

試験装置が供給できる最大クロック周波数より高い周波数での動作試験が行える半導体記憶装置を提供する。 - 特許庁

The test signal is transmitted to the facsimile machine as a receiver and the frequency characteristic of the test signal is measured by a frequency-measuring section 16.例文帳に追加

このテスト信号が被呼側のファクシミリ装置へと伝送され、このテスト信号の周波数特性が周波数測定部１６により測定される。 - 特許庁

A modulation frequency of the test light 11 is set on the outside of a signal band of communication light 10, and a frequency of a communication signal and that of a test signal are multiplexed.例文帳に追加

また、試験光１１の変調周波数を通信光１０の信号帯域外に配置し、通信信号と試験信号とを周波数多重する。 - 特許庁

To provide a radiation monitor device that greatly shorten a test time, and changes test items according to circumstances by automatically and sequentially optimizing the frequency of a test pulse.例文帳に追加

テスト時間を大幅に削減し、テストパルスの周波数を自動で逐次最適化してテスト項目を臨機応変に変更可能な放射線監視装置を得る。 - 特許庁

To provide a technique capable of shortening test time by shortening frequency switching duration of test signal in a test system for semiconductor integrated circuit.例文帳に追加

半導体集積回路のテストシステムにおいて、テスト信号の周波数切り替え時間を短縮してテスト時間を短縮することができる技術を提供する。 - 特許庁

By the use of oscillator of a DSS formula to generate test signal, frequency switching time of test signal is shortened to shorten the test time.例文帳に追加

テスト信号の生成にＤＤＳ方式の発振器を用いることにより、テスト信号の周波数切り替え時間が短縮し、テスト時間が短縮される。 - 特許庁

To provide a high frequency contact point sheet to conduct a performance test of IC elements of ultrahigh frequency with high accuracy.例文帳に追加

超高周波のＩＣ素子の性能検査を高精度に行うための高周波接点シートを提供する。 - 特許庁

A first measurement data set is acquired, while supplying the frequency analysis system 20 with a first test signal from the test signal source 10, and a second measurement data set is acquired, while supplying the frequency analysis system 20 with a second test signal obtained by shifting the first test signal by a known frequency value.例文帳に追加

試験信号供給源１０からの第１試験信号を周波数分析装置２０に供給して第１測定データを測定すると共に、第１試験信号を既知の周波数だけシフトした第２試験信号を周波数分析装置２０に供給して第２測定データを測定する。 - 特許庁

The frequency characteristics of the respective test pattern groups (A-E) are compared, and a test pattern group (C) for adjustment is then specified from among the respective test pattern groups (A-E) on the basis of an output value of a predetermined standard frequency.例文帳に追加

そして、各テストパターン群（A〜E）の周波数特性を比較し、予め定めた基準周波数の出力値に基づいて各テストパターン群（A〜E）の中から調整用テストパターン群（C）を特定する。 - 特許庁

The self test circuit device is provided with a test memory 12, a test result storage memory 13 of which the capacity is larger than the capacity of the test memory or is equal to the capacity, and a control circuit 15 constituted so that the test result is stored in the test result storage memory by performing a test of the test memory in the actual use frequency.例文帳に追加

自己試験回路装置は、テストメモリ１２と、前記テストメモリより容量が大きいかまたは等しいテスト結果格納メモリ１３と、実使用周波数において前記テストメモリのテストを行って、そのテスト結果を前記テスト結果格納メモリに格納するように構成された制御回路１５とを具備する。 - 特許庁